JPS584456A - 被試験体の布線系列障害解析方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は電子交換機における回路基板等の被試験体の端
子ピン間に配線された布線系列の断線、ショート等の障
害解析を行う布線系列の障害解析方式に関し、特に障害
解析を計算機を利用して処理できるようにしたものであ
る。

従来、被試験体の導通検査に際し、その各端子ピン間に
所定のパターンで配線された布線系列の障害解析を行う
場合は、布線試験装置により各端子ピンを第１番目のピ
ンと他の全てのビン、第２１１のビンと他の全てのビン
と奮うようにスキャニングし、これによりｅられえ各端
子ビン同志の区間データと導通検査用テストブーグラム
データとを比較してテスシ結果を取出す、このテスＦ結
果から得られる布−系列ｏｗ＠は、轟該布−系列に障害
があると言うだけで、布−系列のどのビン区間にトラブ
ル、例えば［１ｍが生じているのか直ＩＩＮ断てきない
。

したがって、この種の障書鱗析に際しては、作業者が紙
面上に書かれ九布線履序デーメを参照しながら障書布−
系列の全てのビン閤をたとえばブザーチェッカによル導
通チェックし、これによシ＊＊０不棗個所をみつけ出す
ようにしていえ。

しかし、このような障書解祈方弐には入閣の手作業およ
び判断が介在するため、障害個所０鱗析Ｋｌスが生じる
おそれがあるとともに、作業が煩雑とな夛、かつ多くの
人手を要するなどの欠点があった。

本実−は上記のような従来の問題を第決しえもので、そ
の目的は被試験体の布−系列の陣害餠析を計算機を利用
して行うことによ〉、人−の判断をほとんど必要とせず
に障害個所の判定指示を可能にし、併せて初心者等にお
いても容易に被試験体の不良個所の指摘を可能にした被
試験体０布−系列障害解析方式を提供するにある。

本発明にかかる布−系列の陣書解析方式は、布−試験装
置によ）被試験体の配線がなされている各端子ビンをス
キャニングし、これによｐ得られる各ビンの区間データ
と正規の布線馴序デーメに対応する導通検査用テストプ
ログラムデータとから注目しているテスト布−系列を中
心にしてこれＫｌｌ達するすべてのエラーデータを収録
し、該関連エラーデータと障害を発生している系列の陣
害幣析用布線馴序デーメとを中央ａｍ装置によ）照合処
理することで断−、シ冒−ト等の系列陣書個所を解析で
きるようにしえものである。

以下、本発明の実施例を図面について説明する。

第ｉｍｌは本発明にかかる被導通試験体の布−系列障害
解析方式の機能ブロック図を示すものである。同ｍにお
いて、１紘所定Ｏパメーンで端子ビン間にワイヤリング
されている導通検査用Ｏ被試験体、２拡布−試験装置で
あ〕、前記被試験体１に社、例えば第２ＩｌｌｌＫ示す
ように行１列方崗に整列した多数ｏｎ子ビン■、■、・
・・を有し、この任意ＷＬＯビン間に所定Ｏ層外で配線
を施すことによ）布−系列Ｌｉｅしｂ−が形ｌＥされて
−る。

このようにし九被試験体ＩＫ対する布−試験装置８紘−
示しないア〆プメ等を介して各ビン■。

■、−・と各別に電気的ＫＩＩ銃で１為構造になってシ
）、そして各ビン■、■、−・はその１！−書号からビ
ン■と働のすべてのビン、ビン■と働のすべてのビンと
言うように布−試験装置２によ）Ｉ［＆スキャンするこ
とで各す一チ区−〇デーメを亀出すようになっている。

を九、前記＊線試験ＩＩ置雪にはパスライン３を介して
導通検査用テストプ■グツムデーｌ皇納しえ記憶装置４
およびテスト終了端子ビンのデータを７フイルして重複
データ謙どＯ不用デーＩＯ消込みを行わせるテスト終了
錫子確ｖｘｐａｏファイル装置Ｓがそれぞれ＊＊され、
さらに前記布纏試験装置２には、これから得られる各ビ
ンａｔ−チ区−デーメと前記導通検査用テストプ醒グラ
ムデーメとの比較によ）得られる系列テスト結果（エラ
ーデーりはバスツインコを介して接続し九一連エラーデ
ーメツアイｋｔｌｋｆｌ＠にファイルされるようになり
てお〕、該ファイル装置６は１つのテスト布−系列を中
心にしてこれに一達するすべて０エラーデーメを収録記
録するもので、その駅集処曹は前配布線試験装置２、テ
スＦブーグラふデータの記憶装置４ｊｌＰよびファイル
装置Ｓでの論■演算処駕にｌｌ！ＩＩ４される中央魁理
装置（以下ＣＰマと言う）７によ）実行されるようＫｔ
りでいる。

まえ、前記関連エラーデータファイル装置６の出力社障
書第析蟲■羨置８０人力儒Ｋ１１ｌ！されてシ〕、該障
害第析処ｍ装置８の入力側に杜、さらに４）系列の配−
順序デーメＫ１ｍ幽する障害解析用テストプ蓼グラムデ
ーメを格納し大記憶装置９が接続され、そしてファイル
装置６かもの関連エラーデータと記憶装置−からのエラ
ーを発生している注１系列の布線原産デー！（解析用デ
ータ）とをｌ＆ＩＩＩＩ置８で隙装鶏運することにより
エラーを発生している注目系列の不良個所および不良の
種類を解析し、その解析結果を表示装置ｌＯに表示する
ようになっている。

次に上記のように構成された本発明の障書震析の動作に
ついて説明する。

まず、被試験体１のビンに対する布−系列ζ。

Ｌ、ＰＬ、のパターンが第２図に示すように配線されて
お〉、このうち集線て結ぶラインが被試験体ＩＫ対する
正規の布線系列であ）、そして輿−に対しｘ印を付した
ラインが断線していることを意味し、まえ、２重−は配
線の付は違いを意味し、さらＫ１１−はショートしてい
る仁とを意味している。を九、上記導通検壷用布−系列
Ｌ□、Ｌ、、Ｉ、。

に対すゐ導通検査用テストブーグラムデーＩＯ態様は次
に示す表−１０ようになってシ）、これらテストプログ
ラムデータ辻記憶装置４に格納されていゐ。

表−Ｉ 上記エラー個所を含む被試験体１の陣書欝祈に際して社
、被試験体１を右前試験装置！に−ｋｙ）し、布纏試験
装置２を動作させて各ビンをビン■とビン■参ビン■と
ビン■・・・と言うように１つのビンに対し！ｌｌ鋏ビ
ンと他のビンとの導通があふかないかをスキャンする。

ヒのスキャン操作＃ｃ拡ビン■以下のものにおいても一
様に行なわれ、全ビンについて実施される。會た、この
と亀、−変テストの終了しえビン区間データ社ファイル
装置４に記−され、これによシ１１［シてテスト終了端
子ビンの区間データが取ｍ畜れるのを鋳圧するようＫな
っている。これ線端子ピンデータの処理速度の向上およ
びデータメモリの小量化ｔＩｌｌ、！まためである。

こＯようにして順序取出されゐビンデーメ辻記憶装置４
からの導通検査用テストプログラムデータと比較処＠さ
れ、各布−系列Ｌ１．Ｌ、、Ｌ、に対応する未淋析デー
メ内からそれぞれＯテストプ璽グラムデータ（０００１
，０００２，０００３）Ｋ応じた系列テスト結果から得
られるエラーデータを取出す。こＯと自のエラーデーメ
Ｏ収録処１は有線試験装置２と記憶装置４とＣＰＵ７と
の閾で興行される。テスト結果によるエラーデータは次
のようＫｅる。

一０００１０■−■−■−ｔ＋−ｏ−ｅφ　　　　Ｕ■
十〇十〇＋［Ｆ］＋・ ・ＯＯＯ２Ｕ［有］−■ ＠ＯＯ０３ｗ（１７１＋・ 即ち、ビン■を代表ビンとして布−系列Ｌ１の系列テス
トを行つ九場合、ビン■とビン■、■の導通はとれ番が
、代表ビン■に対するビン■以障Ｏ導通はとれず、その
結果系列テスト時（これ〇種類と＋変テストされ良こと
をｍ、ｉｗするえめに−ｒ−ク「・」を付す）にかける
エラーデータは上記したように■−■−〇−〇−０−０
と１都、これが系列テスト時のエラーグーＩとして釈ａ
される。

こζで「−一」は代表ビン■に対しビン■飄降が導通さ
れていないことを示す、しかあに上記エラーデータは正
しい系列（０００１）ｔＪ代表ビン＠に対しビンの、■
、■、０．０は不足し、しかも！いに関連しているもの
である。したがって上記不足ビンがどのような関係にな
っているかを上記エラーデー！（・ｏｏｏｉ　）内の不
足ビンのを代表ビンに持つ！！麹子エツーデデーを未解
析のエラーデータ内から取出す。このときＯエラーデー
タは■十■十〇＋の十〇と＆ｊｌ、これは系列Ｌ１Ｋｊ
ｌ達するエラーデータとして収録する。ここで、該エラ
ーデータの先ＩＩＩＫ付されたマーク「す」は空端子テ
ストと、ビン■を代表として一度テストされたことを表
わし、を九、「十ノは各ビン間が接続されていることを
１表わす。

以下同様にして不足ピン■、＠−ＫｓＩ−いても上記の
同様の処理を行なうが、この場合、不足ビン０、■、■
、Ｏは配ｓｈｏｗ係上それ（れを代表ビンとしてエラー
グーｌを取出してもそｃ１＃Ｉ果はビン■を代表ビンと
するものと同一となるため、そのエラーデータの収集熟
層は必要とし１にい。

ｔえ、布−系列りよＫＴｈいては、！ｌ鋏系列の最も若
い書号のビンｅを代表ビンとしてそり系列テストをテス
トプ四グラムデー！（Ｇｏｏりに基づいて打つえ場合は
、ビン０とのが導通、ビン［相］と［株］が不導通とな
る丸め、系列テスト結果によるエラーデータ社−０００
２ＬＪ［株］−・と１）、これが系列り、に対するエラ
ーデータとして収集されゐ。このとき、正しい系列（０
０Ｇり０代表ビン・に対しビンのが不足ビンとなるが、
このビン・は断ＩＩＫより空端子となってい為丸め、上
記・０００２ＬＪ［相］−・内の不足ビン・を代表ビン
として空端子テストを行なっても空端子エラーデータ社
てない。即ち単に空端子として判定されるととに１に為
。

さらＫｔた、布−系列Ｌ５においては、画数系列の最も
若い番号のビンＯを代表ビンとしてその系列テスＦをテ
ストプーダッムデー！（０００Ｂ）に基づいて行った場
合、ビンＯとビン・、・、・が共に導通し、テストプ璽
グラムデーメと異なる結果、そのエラーデータは・０Ｏ
０３ＬＪＯ＋・とな）、該エラーデータが系列り、のエ
ラーデータとして収集されることになゐ。

上記のようＫして収集されえ各系列０エツーデータは関
連するエラーデーメ岡志侮Ｋｍとめて関連エラ、−チー
タフアイル装置６にファイルされ、このファイルされ九
一連エラーデータは障害解析用テストプログラムデータ
記憶装置９からの布線順序データとともに処１１ｍ１８
に導入することによ多系列の障害のｌ−およびその障害
個所の判定杷理を行い、その判定結果は表示装置１０に
人間０００２．０００３０布線願序デー！およびテスト
結果、判定結果を表−箇３表−璽８表−ＷＫ示す。

表−１（０００１系列） 表　−１（０００ｍ系列） 表　−Ｗ（０００ｍ系列） 上記表−璽〜表−Ｗにおいて、布１順序デー１０１［Ｉ
Ｋｌｅ叡し九端子ビン書号の配列は正しい各有線系列Ｌ
ｘｅＬ２ｅＬｓ　　Ｋ沿いビン■からＯ，ビンＯから［
株］、ビンＯから■へ一銀書きで表現され、モして○印
は導通を、ｘ印は不導通（断線）を表わしてい為。した
がって、これら壱表から明らかなように表示装置１０に
表示された判定結果を見れば、被試験体ＩＫおける各布
−系列のいずれのビン区間が断線あるいはシ璽−トして
ｉるかを容ＪＩＫ判断で自る０である。

′＆シ、上記実施例では第！ＩＩＫ示すパターンの布−
系列Ｏ障書鱗析にっいて述べ九が、本実−はかかるパタ
ーン系列方式６４０ＫＩＩＲされるものではなく、布−
系列同志の一部がシ冒−トされたもの等に％適用し得る
樫か、端子間の配線形態も単一に眼らず、ペア線、トリ
プル線、プリント配線であっても良い。ｔえ、エラーデ
ーＩＯ判定結果に１１ＩＩづ〈表示データは障害個所９
程鎖に＠らず、配線形態０８ｌＩＩＩ等を含むようにし
ても良いとと紘勿論である。

以上のように本実−によれば、布線試験装置によ）検出
される被試験体の各ビンの区間データと、正蜆の布−順
序データに対応する導通検査用テストプログラムデータ
とから注目しているテスト布−系列を中心にしてこれに
関連するすべてのエラーデータを収集し、該関連エラー
データと障害を発生している系列の障書解析用布−順序
データとを中央感１１１１ｔＫよ）照合＃！＆理して系
列障害個所およびそ０１ｍ１１等を解析できるようにし
えものであるから、従来のようにプず−チェツカ勢を用
にた人間の解析判定がほとんど不要となり、このため障
害の解析ミス、判定ミスもなくなるほか、熟練度を有し
ない初心者等においても容易に被試験体の導通検査が可
能になり、かつ導通検査作業も大幅に短縮できる特長が
ある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明にかかる布織系列障害解析方式の一例を
示す機能ブロック図、第２図は本発明の障害解析に適用
される被試験体の布線系列パターン例を示す説明図であ
る。 １・・・被試験体、２・・・布線試験装置、３・・・パ
スライン、４・・・導通検査用テストプログラムデータ
の記憶装置、５・・・テスト終了端子確認用ファイル装
置、６・・・関連エラーデータファイル装置、７・・・
ＣＰＵ、８・・・障害解析処理装置、９・・・障害解析
用テストプログラムデータの記憶装置、１０・・・表示
装置。 特許出願人　　富士通株式貴社

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）有線系列が形成されている被試験体の各端子ピン
   をスキャンすることにより各端子ピンの区間データを検
   出する有線試験装置と、正ｌ１０ｍ−順序デーメに対応
   する導通検査用テストプ璽グーラムデーメを格納する記
   憶装置と、前Ｉ！布布拭試験装置らの６区間データと前
   記□記憶装置からＯ導通検査用テストプ■グラムデータ
   とからｍａｓｓ系列に同一〇布線５スかも検出１れるナ
   ベてＯエラーデー！（以下、関連エラーデー！と呼ぶ）
   を収県する手段と、′前記手段からの関連エラーデータ
   と障害を発生している第八〇陣害鱗祈用布ｍ＊序データ
   とを照舎鶏■す石こと一系列の陣書を湊析する手段とを
   備えてなる被試験体の布−系列陣書拳析方式。
2. （２）注！Ｉ禽−系列の系列テストによ）調達するエラ
   ーデー！を取出し、かつ骸エラーデー！内０不昆ビン又
   は過剰ビンを代表ビンとして一連する空端子エラーデー
   タを取出し、これらエラーデータを収集することで注目
   布線系列の関連エラーデータとする特許請求の範囲第１
   項記載の被試験体の布線系列障害解析方式。