JPS5852576A - プリント基板の検査方法 - Google Patents
プリント基板の検査方法Info
- Publication number
- JPS5852576A JPS5852576A JP56149486A JP14948681A JPS5852576A JP S5852576 A JPS5852576 A JP S5852576A JP 56149486 A JP56149486 A JP 56149486A JP 14948681 A JP14948681 A JP 14948681A JP S5852576 A JPS5852576 A JP S5852576A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit board
- printed circuit
- probe
- camera
- inspection method
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/281—Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、集積回路等を塔載したプリント基板をプロー
ビングするプリント基板の検査方法に関する。
ビングするプリント基板の検査方法に関する。
従来のプロービング装置を第１図に示す。
工Ｃ４を載置したプリント基板３は、プリント基板固定
金具乙に取着されている。このプリント基板５の上方側
には、プリント基板３の面と平行方向（示矢で示すＸＹ
方向）に移動自在なＸＹテーブル１が配設されている。
金具乙に取着されている。このプリント基板５の上方側
には、プリント基板３の面と平行方向（示矢で示すＸＹ
方向）に移動自在なＸＹテーブル１が配設されている。
このＸＹテーブル１には検査用プローブ２（以下プロー
ブと略称する）が取着され、このプローブ２はプリント
基板３０面の直角方向（示矢の２方向）に移動しつるよ
うにされている。
ブと略称する）が取着され、このプローブ２はプリント
基板３０面の直角方向（示矢の２方向）に移動しつるよ
うにされている。
まづ、図示していないプロービング用Ｎｏデータにより
ＸＹテーブル１を所定の位置に位置決めしたのち、プロ
ーブ２を下降させる。次に、プリント基板３に載置され
た被検査物工Ｃ４のリード５にプローブ２の先端を接触
させ、工Ｃ４の信号解析および故障解析を行なうように
なっている。
ＸＹテーブル１を所定の位置に位置決めしたのち、プロ
ーブ２を下降させる。次に、プリント基板３に載置され
た被検査物工Ｃ４のリード５にプローブ２の先端を接触
させ、工Ｃ４の信号解析および故障解析を行なうように
なっている。
第２図はプローブ２と工Ｃ４のリードとの関係位置を詳
細に示したものである。すなわち、プリント基板３の上
面にはパターンバッド８を介して数多くのＩ ＯＩＪ−
ド５が配設されている。プローブ２は微少幅Ｈを有する
が、図示のごとく１つのＩＣＩＪ−ド５と対峙する位置
に位置決めされることが必要である。しかしながら、工
Ｃ４の放熱等により、プリント基板３が目標精度以上に
熱伸縮を生じ、第３図に示す△ｔだけ変化したとすると
、プローブ２は工Ｃ４のリード５のみならず隣接するリ
ード５′とも接触することになり、短絡が生ずる。その
結果、正しい検査ができないのみならず、塔載した工Ｃ
４を破損する欠点を有していた。
細に示したものである。すなわち、プリント基板３の上
面にはパターンバッド８を介して数多くのＩ ＯＩＪ−
ド５が配設されている。プローブ２は微少幅Ｈを有する
が、図示のごとく１つのＩＣＩＪ−ド５と対峙する位置
に位置決めされることが必要である。しかしながら、工
Ｃ４の放熱等により、プリント基板３が目標精度以上に
熱伸縮を生じ、第３図に示す△ｔだけ変化したとすると
、プローブ２は工Ｃ４のリード５のみならず隣接するリ
ード５′とも接触することになり、短絡が生ずる。その
結果、正しい検査ができないのみならず、塔載した工Ｃ
４を破損する欠点を有していた。
本発明は、この従来技術の欠点を解消するもので、その
目的は、プリント基板が熱伸縮しても、グローブを適正
位置に位置決めしうるプリント基板の検査方法を提供す
るにある。
目的は、プリント基板が熱伸縮しても、グローブを適正
位置に位置決めしうるプリント基板の検査方法を提供す
るにある。
本発明は、以上の目的を達成するために、プローブの取
着するＸＹテーブルにカメラを設置し、このカメラによ
って直接ＩＣリードの画像を取り込み、熱伸縮長を測定
し、この測定値によってＸＹテーブル位置を修正し、プ
ローブを適正位置に位置することにより正しいプルービ
ングができ、かつ、短絡等の生じないプリント基板の検
査方法を特徴としたものである。 ′□ 以下、本発明の実施例を図に基づいて説明する。
着するＸＹテーブルにカメラを設置し、このカメラによ
って直接ＩＣリードの画像を取り込み、熱伸縮長を測定
し、この測定値によってＸＹテーブル位置を修正し、プ
ローブを適正位置に位置することにより正しいプルービ
ングができ、かつ、短絡等の生じないプリント基板の検
査方法を特徴としたものである。 ′□ 以下、本発明の実施例を図に基づいて説明する。
第４図において、ＸＹテーブル１にはプローブ２に併設
してカメラ７が取着されている。カメラ７は、プリント
基板の画像を取り込み、第６図に示したパターンパッド
８および工Ｃ４のリード５を映し出すようになっている
。
してカメラ７が取着されている。カメラ７は、プリント
基板の画像を取り込み、第６図に示したパターンパッド
８および工Ｃ４のリード５を映し出すようになっている
。
第５図には、カメラ７で取り込んだ画像から、プリント
基板の伸縮長を算出する方法を示す。
基板の伸縮長を算出する方法を示す。
すなわち、図示していない制御装置により、プローブ位
置決め用のブロービング用Ｎｏデータを取出し、これに
よってＸＹテーブル１を動かし、カメラ７をブロービン
グすべき位置に合わせる。
置決め用のブロービング用Ｎｏデータを取出し、これに
よってＸＹテーブル１を動かし、カメラ７をブロービン
グすべき位置に合わせる。
次に、カメラ７によりプリント基板６の画像を取り込み
、ブロービングすべき工Ｃ４のリード５の位置を認識す
る。
、ブロービングすべき工Ｃ４のリード５の位置を認識す
る。
取り込んだ画像９から第５図（ａ）に示すように、何本
かの走査線１０を抽出し、第５図（ｂ）に示す走査線１
０を求める。次に、しきい値１１により、走査線１０の
レベルを確認し、大小を判定する。この大小の判定によ
って、２値化信号１２を作り、リード５′およびパター
ンパッド８＃の中心を算出し、ブロービングすべきリー
ド５”およびパターンパッド８Ｉの伸縮長△ｔを算出す
る。
かの走査線１０を抽出し、第５図（ｂ）に示す走査線１
０を求める。次に、しきい値１１により、走査線１０の
レベルを確認し、大小を判定する。この大小の判定によ
って、２値化信号１２を作り、リード５′およびパター
ンパッド８＃の中心を算出し、ブロービングすべきリー
ド５”およびパターンパッド８Ｉの伸縮長△ｔを算出す
る。
次に、前記したプロービング位置決め用Ｎｏデータに伸
縮長△ｔを加算又は減算し、その補正済のデータにより
ＸＹテーブル１を動かしプローブ２を位置決めする。プ
ローブ２の位置決め後、プローブ２を下降させれば、１
つのリード５のみに接触し、短絡を生ずることがなく、
正しい工Ｃ４の層号解析および故障解析を行うことがで
きる。
縮長△ｔを加算又は減算し、その補正済のデータにより
ＸＹテーブル１を動かしプローブ２を位置決めする。プ
ローブ２の位置決め後、プローブ２を下降させれば、１
つのリード５のみに接触し、短絡を生ずることがなく、
正しい工Ｃ４の層号解析および故障解析を行うことがで
きる。
以下、全Ｎｏデータを同様に補正し、プリント基板３を
検音完了する。なお、第６図は以上の動作ラフローチャ
ートにより説明したものである。
検音完了する。なお、第６図は以上の動作ラフローチャ
ートにより説明したものである。
以上の説明によって明らかのごとく、本発明によれば、
プリント基板に熱伸縮が生じても、それに対応してプロ
ーブを適正位置に修正位置決めでき、正しいプルービン
グを行い得る効果を上げることができる。
プリント基板に熱伸縮が生じても、それに対応してプロ
ーブを適正位置に修正位置決めでき、正しいプルービン
グを行い得る効果を上げることができる。
第１図は従来一般に使用されてるブロービング装置の側
面図、第２図はプローブを正しい位置に位置決めしたと
きの工０１Ｊ−ドとの関係を示す拡大側面図、第３図は
プリント基板が熱伸縮しだときの従来のブロービング装
置におけるプローブの位置を説明する拡大側面図、第４
図は本発明の実施例を示す側面図、第５図はプリント基
板の伸縮長を算出するだめの説明図、第６図は本発明方
法のフローチャートである。 １・・・ＸＹテーブル、２・・・プローブ、３・・・プ
リント基板、４−・・ＩＣ，５，５’、５’・・・リー
ド、７・・・カメラ、９・・・カメラ画像、１０・・・
走肴線、１１・・・しきい値、１２・・・２値化信号。 代理人 弁理士 秋 本 正 実 第１図 第２図 第３図 第４図 第５図（ａ） 第６凶
面図、第２図はプローブを正しい位置に位置決めしたと
きの工０１Ｊ−ドとの関係を示す拡大側面図、第３図は
プリント基板が熱伸縮しだときの従来のブロービング装
置におけるプローブの位置を説明する拡大側面図、第４
図は本発明の実施例を示す側面図、第５図はプリント基
板の伸縮長を算出するだめの説明図、第６図は本発明方
法のフローチャートである。 １・・・ＸＹテーブル、２・・・プローブ、３・・・プ
リント基板、４−・・ＩＣ，５，５’、５’・・・リー
ド、７・・・カメラ、９・・・カメラ画像、１０・・・
走肴線、１１・・・しきい値、１２・・・２値化信号。 代理人 弁理士 秋 本 正 実 第１図 第２図 第３図 第４図 第５図（ａ） 第６凶
Claims (1)
- プリント基板面に平行に移動するＸＹテーブルに取着す
る検査用プローブによりプリント基板を検査するプリン
ト基板検査方法におＡて、前記ＸＹテーブルにカメラを
設置し、該カメラによって、前記プリント基板のプロー
ビングする位置の画像を取込み、その熱膨張量を測定し
、該測定値により前記ＸＹテーブル位置を修正し、前記
検査用プローブを適正位置に位置決めしてプロービング
をすることを特徴とするプリント基板の検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56149486A JPS5852576A (ja) | 1981-09-24 | 1981-09-24 | プリント基板の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56149486A JPS5852576A (ja) | 1981-09-24 | 1981-09-24 | プリント基板の検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5852576A true JPS5852576A (ja) | 1983-03-28 |
Family
ID=15476200
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56149486A Pending JPS5852576A (ja) | 1981-09-24 | 1981-09-24 | プリント基板の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5852576A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01229947A (ja) * | 1988-03-10 | 1989-09-13 | Seiko Epson Corp | フレキシブル回路基板の位置決め方法 |
-
1981
- 1981-09-24 JP JP56149486A patent/JPS5852576A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01229947A (ja) * | 1988-03-10 | 1989-09-13 | Seiko Epson Corp | フレキシブル回路基板の位置決め方法 |
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