JPS58767A - 断線または短絡の検出装置 - Google Patents

断線または短絡の検出装置

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Publication number
JPS58767A
JPS58767A JP56098799A JP9879981A JPS58767A JP S58767 A JPS58767 A JP S58767A JP 56098799 A JP56098799 A JP 56098799A JP 9879981 A JP9879981 A JP 9879981A JP S58767 A JPS58767 A JP S58767A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test signal
terminal
circuit
test
detection
Prior art date
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Pending
Application number
JP56098799A
Other languages
English (en)
Inventor
Kiyoshi Yamamoto
清 山本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hokuto Seigyo KK
Original Assignee
Hokuto Seigyo KK
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Filing date
Publication date
Application filed by Hokuto Seigyo KK filed Critical Hokuto Seigyo KK
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Publication of JPS58767A publication Critical patent/JPS58767A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/54Testing for continuity
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/52Testing for short-circuits, leakage current or ground faults

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はプリント配線板等の断線または短絡。
または断線及び短絡の検出装置に関する。
近年、プリント配線板に対し信頼性向上の要請が高くな
り従来の目視検査だけでは応じられなくなってきている
。そこで各種の検査装置が実用化されてきているが、さ
まざまな問題を抱えている。
例えばコンピー−ターを使用し良品と検f′一対象物と
の検査結果の比較を行なって判定する方法はどうしても
装置が複雑化し高価になってしまい。
さらに大量のデーター処理を行なうため検査に時間がか
かり1000ポイントを調べるのに1f4〜10秒程度
を要しまたデーターの読みとりミス等の計′1動作の恐
れがある。また分岐方式と呼ばれる装置においてはマト
リックスを組んだりピンボートを使用したりするため検
出ビンと検出装置との配線が非常に複雑で一般ユーザー
では配線不可能な場合すらあり、治具の価格及び納期に
も問題のある事が多い。又いずれの方式にしても検出は
ポイント別に行なわれることが多く不良部の表示とが。
検出ビンと検出装置間の配線等が膨大な量となり煩雑に
なりがちである。
本発明は以上の諸間門を改良するものであり以下一実施
例を第−図及び第二図により説明する。
第1図において検査対象回路が正常な場合にはテスト信
号出力端子1よりローレベルのテスト信号を送出すると
信号はピン2を介して検査対象回路3に流れ、さらにピ
ン4を介してテスト信号検出端子5に達する。従がって
テスト信号送出端子とテスト信号検出端子はいずれもロ
ーレベルで一致する。もしこの検査対象回路が断線して
いたとするとテスト信号検出端子にはローレベルノテス
ト信号が達せず、送出端子と検出端子のレベルは一致し
ない。従ってテスト信号送出端子にローレベルのテスト
信号が送出されている時、対をなすテスト信号検出端子
のレベルを判定すれば断線を検出することができる。
又、複数のテスト信号出力端子に同時にはローレベルの
テスト信号を送出しないように制御してやれば、テスト
信号が送出されている検査対象回路以外は全てハイレベ
ルのはずである。もし検査対象回路と短絡している検査
対象外回路があったとすると、そのテスト信号検出端子
は当然ローレベルとなる。従ってテスト信号が送出され
ていないテスト信号検出端子すべてのレベルを調べ、ロ
ーレベルがあれば短絡とみなすことができる。
ひき続き、第2図により検査対象回路が分岐している場
合について説明する。
検査対象回路が正常な場合、テスト信号出方端子1より
ローレベルのテスト信号を送出するとピン2.検査対象
回路3a、 3b、ピン4a、4bを介してオワゲート
素子乙に達する。オワゲート入力はすべてローレベルな
のでオワゲート出力もローレベルとなりテスト信号検出
端子5はローレベルとなる。もし検査対象回路3a、ま
たは3b、または3a及び6b両方が断線していた時、
オワゲート入力には一つ以上のハイレベル信号が入力さ
れるのでオワゲート出力はハイレベルとなりテスト信号
検出端子もハイレベルとなり、第1図で説明したと同様
の原理で断線を検出することが出来る。
又、短絡についても第1図と同様の原理で検出出来る。
従って検査対象回路以上の検出回蕗の対を備え、テスト
信号を複数の検出回路に同時に送出することなく、すべ
ての検出回路に一度以上送出してやれば検査対象回路す
べてに対して断線または短絡の検査を行なうことが出来
る。
以上のように本発明は簡単な回路構成による検査装置で
すみ安価に製作することが可能である。
又、テスト信号送出数をカウントし、不良検出時に検査
を一時停止しカウンター内容を表示してやれば不良箇所
が明確に判別出来る。
なお本発明は、 TTLゲート素子を使用してテスト信
号の送出及び検出を行なうことが出来る。テスト信号検
出にヒステリシス特性を持つTTLゲート素子を使用し
た場合、正常か不良か判定される抵抗値は約3にΩと充
分実用になる値を示す。又静電破壊に対しても充分な耐
性があり、さらに検出速度が非常に高速で1,000回
路を100マイクロ秒程度で調べることが出来る。分岐
した検査対象回路に関しても検出ポイントを多入力オワ
素子に接続するだけでよいので、検査治具も簡単に製作
でき治具内に、オワ素子を設けた場合は治具と装置とを
接続するコネクター、配線が省略され少なくなるので安
価になる。多入力オワゲート素子は。
ワイヤードオワを利用してもよく、その場合配線はさら
に簡単になる。
テスト信号の制御は、フリップフロップを多段接続し直
列に入力、並列に出力してやれば簡単に実施できる。
検査結果の判定には、エツジトリガータイプのフリップ
フロップを使用することが出来るので。
外乱ノイズに対して強い回路設計を行なうことが可能で
、さらにテスト信号出力端子からテスト信号検出端子に
いたる全ての部分の断線または短絡事故等は不良と判定
されるので確実な検査が行なわれる。
この様に本発明による断線または短絡の検出装置はシン
プルな動作原理と回路構成により安価に信頼度の高い検
査を、きわめて高速で安定して行なうことが出来る特徴
を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図は本発明の一実施例を示す説明図である
。 1・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・テスト信号送出端子2.4.4a、 4
1)  ・・・・・・・・検出ピン3.3a、 3b 
 ・・・・・・検査対象回路5 ・・−・−・・・・・
・・・・・・・・・・ ・・・テスト信号検出端子6 
・・・・・・・・・・・・・・ オワゲート素子特許出
願人   北斗制御株式会社 代表取締役 山 本    清 図面の浄書(内容に変更なし) 欠 1 薗 手続補正書(方式) %式%[1 ( 1、事件の表示  昭和56年特許願第98799号2
、発明の名称  断線または短絡の検出装置3、補正を
する者 事件との関係特許出願人 住所(居所)

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 テスト信号送出端子一点と、テスト信号検出端子一点と
    からなる一対の検出回路を複数備えた。 断線または短絡の検出装置において、テスト信号を一個
    のテスト信号送出端子から送出し、対をなす一個のテス
    ト信号検出端子の状態、及び残り全てのテスト信号検出
    端子の状應を判別する回路を備え、また複数の検出ポイ
    ントからのテスト信号を論理演算する為のオワ機能を持
    ったゲート素子を備え、その出力をテスト信号検出端子
    に送る事により、検査対象物の断線及び短絡を検出する
    装置。
JP56098799A 1981-06-24 1981-06-24 断線または短絡の検出装置 Pending JPS58767A (ja)

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JP56098799A JPS58767A (ja) 1981-06-24 1981-06-24 断線または短絡の検出装置

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JPS58767A true JPS58767A (ja) 1983-01-05

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ID=14229393

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