JPS5885998A - サンプルアンドホ−ルド回路およびスイツチコンデンサ積分回路およびサンプルアンドホ−ルド回路の自動ゼロ調節方法 - Google Patents
サンプルアンドホ−ルド回路およびスイツチコンデンサ積分回路およびサンプルアンドホ−ルド回路の自動ゼロ調節方法Info
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- JPS5885998A JPS5885998A JP57189353A JP18935382A JPS5885998A JP S5885998 A JPS5885998 A JP S5885998A JP 57189353 A JP57189353 A JP 57189353A JP 18935382 A JP18935382 A JP 18935382A JP S5885998 A JPS5885998 A JP S5885998A
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- 238000005070 sampling Methods 0.000 title claims description 10
- 230000010354 integration Effects 0.000 title claims description 4
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 73
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 17
- 239000002253 acid Substances 0.000 claims 1
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 16
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- FGUUSXIOTUKUDN-IBGZPJMESA-N C1(=CC=CC=C1)N1C2=C(NC([C@H](C1)NC=1OC(=NN=1)C1=CC=CC=C1)=O)C=CC=C2 Chemical compound C1(=CC=CC=C1)N1C2=C(NC([C@H](C1)NC=1OC(=NN=1)C1=CC=CC=C1)=O)C=CC=C2 FGUUSXIOTUKUDN-IBGZPJMESA-N 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 208000037516 chromosome inversion disease Diseases 0.000 description 1
- 230000008030 elimination Effects 0.000 description 1
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C27/00—Electric analogue stores, e.g. for storing instantaneous values
- G11C27/02—Sample-and-hold arrangements
- G11C27/024—Sample-and-hold arrangements using a capacitive memory element
- G11C27/026—Sample-and-hold arrangements using a capacitive memory element associated with an amplifier
Landscapes
- Amplifiers (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明はサンプルアンドホールド回路に係り、特にデジ
タル/アナログ変換器のような金属酸化半導体(MOS
)集積回路データ収集装置に用いられるサンプルアンド
ホールド回路に関する。
タル/アナログ変換器のような金属酸化半導体(MOS
)集積回路データ収集装置に用いられるサンプルアンド
ホールド回路に関する。
デジタル/アナレグ変換器のような高解掌度金属酸化半
導体(MOS)集積回路データ収集装置では、入力オフ
セット電圧がμVの小さな範囲で、利得の精度が0.O
1*より良いサンプルアンドホールド回路が必要とされ
る。そのようなサンプルアンドホールド回路は差動増幅
器で構成される。差動増幅器は、その正負入力間に必然
的にオフセットが発生し、これによシ出力にオフセット
電圧が必ずあられれる。この出力電圧は入力信号の危い
時でも発生するので、極めて好ましくない、従来、オフ
セット出力電圧を最小にするために1大容量の補償用コ
ンデンサをチ、プに外付けして所要の性能を得ている。
導体(MOS)集積回路データ収集装置では、入力オフ
セット電圧がμVの小さな範囲で、利得の精度が0.O
1*より良いサンプルアンドホールド回路が必要とされ
る。そのようなサンプルアンドホールド回路は差動増幅
器で構成される。差動増幅器は、その正負入力間に必然
的にオフセットが発生し、これによシ出力にオフセット
電圧が必ずあられれる。この出力電圧は入力信号の危い
時でも発生するので、極めて好ましくない、従来、オフ
セット出力電圧を最小にするために1大容量の補償用コ
ンデンサをチ、プに外付けして所要の性能を得ている。
差動増幅器のオフセット出力電圧を最小にする方法の1
つに、補償用コンデンサを差動増幅器の出力とアース間
に接続し、増幅器の初期オフセット出力電圧をコンデン
サに記憶する。そして、補償用−;ンデ、ンサは増幅器
の負入力と出力との間に接続され、オフセット出力電圧
と同じ大きさで極性が反対の電圧が負帰還として増幅器
に供給される。その結果、増幅器のオフセ、ト出力電圧
はほぼ相殺される。この方法け、自動ゼロ調整と称され
る。
つに、補償用コンデンサを差動増幅器の出力とアース間
に接続し、増幅器の初期オフセット出力電圧をコンデン
サに記憶する。そして、補償用−;ンデ、ンサは増幅器
の負入力と出力との間に接続され、オフセット出力電圧
と同じ大きさで極性が反対の電圧が負帰還として増幅器
に供給される。その結果、増幅器のオフセ、ト出力電圧
はほぼ相殺される。この方法け、自動ゼロ調整と称され
る。
しかし、従来の自動ゼロ調整法では、増幅器の負入力と
アース間の寄生容量が、補償;ンデンサを再接続する際
に充電されるので、寄生容量と補償用コンデンサの容量
との和で寄生容量を割った値に比例して増幅器の出力の
利得が不正確になる。したがって、利得を0.01%の
精度に保つためには、補償用コンデンサの容量を10.
00pF程度にしなければいけない、このオーダの容量
は、集積回路に組込むには大きすぎ、難点の一つになり
て°いた。
アース間の寄生容量が、補償;ンデンサを再接続する際
に充電されるので、寄生容量と補償用コンデンサの容量
との和で寄生容量を割った値に比例して増幅器の出力の
利得が不正確になる。したがって、利得を0.01%の
精度に保つためには、補償用コンデンサの容量を10.
00pF程度にしなければいけない、このオーダの容量
は、集積回路に組込むには大きすぎ、難点の一つになり
て°いた。
他の自動ゼロ調整法では、前述したように、まず補償用
コンデンサにオフセット電圧を記憶する。しかし、補償
用コンデンサを増幅器の負の帰還ループの要素として接
続するのではなく、増幅器の正の入力とアース間に接続
する。そして、入力信号が差動増幅器の負の入力に供給
され、増幅器は負の利得反転段として機能する。
コンデンサにオフセット電圧を記憶する。しかし、補償
用コンデンサを増幅器の負の帰還ループの要素として接
続するのではなく、増幅器の正の入力とアース間に接続
する。そして、入力信号が差動増幅器の負の入力に供給
され、増幅器は負の利得反転段として機能する。
しかし、この場合は、増幅器のオフセット出力電圧が零
になるとは限らず、増幅器の正入力部の寄生容量をこの
寄生容量と補償用コンデンサの容量の和で割りた値に比
例した量だけ減少するだけである。したがりて、初めの
方法ドおいて利得の精度を最高にするためには、iたけ
後の方法においてオフセット出力電圧を最小にするため
には、いずれの方法においても非常に容量の大きな補償
用コンデンサが必要とされる。
になるとは限らず、増幅器の正入力部の寄生容量をこの
寄生容量と補償用コンデンサの容量の和で割りた値に比
例した量だけ減少するだけである。したがりて、初めの
方法ドおいて利得の精度を最高にするためには、iたけ
後の方法においてオフセット出力電圧を最小にするため
には、いずれの方法においても非常に容量の大きな補償
用コンデンサが必要とされる。
本発明の目的は、寄生容量による利得誤差を除去でき、
かつ寄生容量の大きさに無関係にオフセット出力電圧を
精密にゼロ調節できるサンプルアンドホールド回路を提
供することである。
かつ寄生容量の大きさに無関係にオフセット出力電圧を
精密にゼロ調節できるサンプルアンドホールド回路を提
供することである。
第1mおよび第1b図は、差動増幅器10のオフセット
出力電圧を最小にするための第1の従来の自動ゼ″ロ調
節回路を示す、差動増幅器10は、正負入力端子10&
、10bと出力端子leeを有する。この差動増幅器J
Oを精密サンプルアンドホールド回路に用いると問題
が生じる。それは、正負入力端子2 (7a * J
(F b、の増幅器10内では、必ず電圧差が生じるの
で、入力端子10m、10bに電圧が印加されない場合
でも、出力端子10eに必ずオフセット電圧■。が生じ
ることである。従来の自動ゼロ調節では、増幅器10c
のオフセット出力電圧V。atを最小にすることが目的
なので、理想的には入力端子10 a m J obに
入力がない場合、出力端子10eのオフセット出力電圧
’outがゼロであることが望ましい。
出力電圧を最小にするための第1の従来の自動ゼ″ロ調
節回路を示す、差動増幅器10は、正負入力端子10&
、10bと出力端子leeを有する。この差動増幅器J
Oを精密サンプルアンドホールド回路に用いると問題
が生じる。それは、正負入力端子2 (7a * J
(F b、の増幅器10内では、必ず電圧差が生じるの
で、入力端子10m、10bに電圧が印加されない場合
でも、出力端子10eに必ずオフセット電圧■。が生じ
ることである。従来の自動ゼロ調節では、増幅器10c
のオフセット出力電圧V。atを最小にすることが目的
なので、理想的には入力端子10 a m J obに
入力がない場合、出力端子10eのオフセット出力電圧
’outがゼロであることが望ましい。
第1mおよび第1b図に示し九自動ゼロ調節回路では、
容量C0の補償用コンデンサ12が出力端10aに接続
されている。また出力端10eは短絡線14によって負
入力端子10bK直接に接続されている。正入力端子1
oaは接地されている。その結果、オフセット電圧V。
容量C0の補償用コンデンサ12が出力端10aに接続
されている。また出力端10eは短絡線14によって負
入力端子10bK直接に接続されている。正入力端子1
oaは接地されている。その結果、オフセット電圧V。
utは補償用コンデンサ12間に記憶される。その後、
第1b図に示したように、出力端子10eと入力端子1
0b間の短絡線を取除き、代わ〕に補償用コンデンサ1
2を接続する。ただし、第1b図に示し九ようにコンデ
ンtxzの極性は出力端10@?lC関して逆Knりて
いる。すなわち、;ンデンナ12の極板22&は第1a
図の出力端子10・に接続されているが、第1b図では
、コンデンサ12の反対の極板JJbが出力端子10@
に接続されている。したがりて、上記コンデンサは、最
初のオフセット電圧V、atと反対極性で同じ大きさの
電圧を有する負帰還電圧を負の入力端子10bに供給す
る。したがって、増幅器の出力端子10@の電圧は、第
1b図に示し九ステ、fの後、理想的にはゼロになる。
第1b図に示したように、出力端子10eと入力端子1
0b間の短絡線を取除き、代わ〕に補償用コンデンサ1
2を接続する。ただし、第1b図に示し九ようにコンデ
ンtxzの極性は出力端10@?lC関して逆Knりて
いる。すなわち、;ンデンナ12の極板22&は第1a
図の出力端子10・に接続されているが、第1b図では
、コンデンサ12の反対の極板JJbが出力端子10@
に接続されている。したがりて、上記コンデンサは、最
初のオフセット電圧V、atと反対極性で同じ大きさの
電圧を有する負帰還電圧を負の入力端子10bに供給す
る。したがって、増幅器の出力端子10@の電圧は、第
1b図に示し九ステ、fの後、理想的にはゼロになる。
しかし、負入力端子10bとアース間にある寄生容量が
、第1b図のステ、fでコンデンサ12が接続されると
すぐ充電される。したがつて、増幅器の正入力端子10
aがアースから切離され、サンプリングされる入力電圧
源18に接続されると、利得□誤差がC,/(C,+
Cp) のオー〆で、上記電圧源18の電圧vInに比
例した出力電圧v、utが増幅器10から出力される。
、第1b図のステ、fでコンデンサ12が接続されると
すぐ充電される。したがつて、増幅器の正入力端子10
aがアースから切離され、サンプリングされる入力電圧
源18に接続されると、利得□誤差がC,/(C,+
Cp) のオー〆で、上記電圧源18の電圧vInに比
例した出力電圧v、utが増幅器10から出力される。
この誤差は、コンデンサ12と16が分圧負帰還ループ
として働き、このルーフ”Kよりて差動増幅器10・の
利得が上記した弐に従って決定されることによって生じ
る。利得誤差C,/(C,+Cp)は、極めて大きな容
量の補償用コンデンサC,(1,000PF台の容量)
を用いることによって最小にすることができる。しかし
、このようにすると、補償用コンデンサ12を増幅器1
0と同じ集積回路に組込むことが難しくなるという欠点
がある。
として働き、このルーフ”Kよりて差動増幅器10・の
利得が上記した弐に従って決定されることによって生じ
る。利得誤差C,/(C,+Cp)は、極めて大きな容
量の補償用コンデンサC,(1,000PF台の容量)
を用いることによって最小にすることができる。しかし
、このようにすると、補償用コンデンサ12を増幅器1
0と同じ集積回路に組込むことが難しくなるという欠点
がある。
第2の自動ゼロ調節法では、利得誤差の除去は、補償コ
ンデンt12を増幅器の正入力端子10mとアース間に
1再接続し、そして入力電圧源18を負入力端子10b
に接続することによって行う、すなわち、第2の自動ゼ
ロ調節法は92 mおよび2b図に示した2つのステッ
プで行なわれる・第2a図に示した第1のステップは、
第1a図に示したステップと基本的には同一であり、出
力端子10eと負入力端子10bは短絡され、補償用コ
ンデンサ12は出力端子10cとアース間に接続され、
また正入力端子10aはアースに接続されている。それ
ぞれが固定インピーダンスZt * zlmを有する分
圧負帰還ルーfzo、xiを用いて増幅器10の利得を
決定できる。第2b図に示した第2のステップで、補償
用コンデン?12を正入力端子1o1訃よびアース間に
極性を反対にして再接続し、最初のオフセット電圧V、
utと反対極性で同じ大きさの電圧が第2b図に示した
正入力端子10%に印加されるようにし、出力端子10
ttのオフセット電圧を最小にする。この場合は、イン
ピーダンスZ、nS Z、を選択することによって利得
を設定できるので、利得誤差がなくなる。しかし、正入
力端子101とアース間に寄生容量1eがあシ、これが
、第2b図において補償用コンデンサ12が再接続され
るとすぐに充電される。
ンデンt12を増幅器の正入力端子10mとアース間に
1再接続し、そして入力電圧源18を負入力端子10b
に接続することによって行う、すなわち、第2の自動ゼ
ロ調節法は92 mおよび2b図に示した2つのステッ
プで行なわれる・第2a図に示した第1のステップは、
第1a図に示したステップと基本的には同一であり、出
力端子10eと負入力端子10bは短絡され、補償用コ
ンデンサ12は出力端子10cとアース間に接続され、
また正入力端子10aはアースに接続されている。それ
ぞれが固定インピーダンスZt * zlmを有する分
圧負帰還ルーfzo、xiを用いて増幅器10の利得を
決定できる。第2b図に示した第2のステップで、補償
用コンデン?12を正入力端子1o1訃よびアース間に
極性を反対にして再接続し、最初のオフセット電圧V、
utと反対極性で同じ大きさの電圧が第2b図に示した
正入力端子10%に印加されるようにし、出力端子10
ttのオフセット電圧を最小にする。この場合は、イン
ピーダンスZ、nS Z、を選択することによって利得
を設定できるので、利得誤差がなくなる。しかし、正入
力端子101とアース間に寄生容量1eがあシ、これが
、第2b図において補償用コンデンサ12が再接続され
るとすぐに充電される。
その結果、第2b図での出力端子10gに出力される新
しいオフセット電圧は、V)C,/(C0+C,)とな
る、したがって、出力端子10cのオフセット電圧は、
正確にはゼロにならない、このオフセット電圧は、極め
て大きな容量C0(1,000pF台の容量)を有する
補償用コンデンサ12を用いた場合のみ最小にすること
ができる。こ、のように大きな容量のコンデンサは、差
動増幅器が形成されている集積回路基板上に大きな面積
を占めるという欠点がある。
しいオフセット電圧は、V)C,/(C0+C,)とな
る、したがって、出力端子10cのオフセット電圧は、
正確にはゼロにならない、このオフセット電圧は、極め
て大きな容量C0(1,000pF台の容量)を有する
補償用コンデンサ12を用いた場合のみ最小にすること
ができる。こ、のように大きな容量のコンデンサは、差
動増幅器が形成されている集積回路基板上に大きな面積
を占めるという欠点がある。
本発明では、第31および第3b図に示す新規な自動ぜ
口調節によつて上述した欠点を除去している。第3a図
は、本発明の自動ゼロ調節のサンプリングのステップを
示している。このステ、fでは、入力電圧源18の電圧
v1nがサングルされる。第3&図に示されたサンプリ
ングステップ中に、増幅器10のオフセット電圧■。は
容量C1nの入力コンデンサ40と容量Cfの帰還コン
デンサ42との関に記憶される。入力コンデンサ40は
増幅器の負入力端子10bと入力電圧源18との間に!
I続されている。帰還コンデンサ42は増幅器の出力端
子10eとアース間に接続されている。同時に、出力端
子10oと負入力端子robが短絡線44によって接続
され、正入力端子10aは接地されている。第31図に
示されたステップ中では、出力端子10e1と入力端子
10bが短絡@44によりて短絡されているので、オフ
セット電圧V。
口調節によつて上述した欠点を除去している。第3a図
は、本発明の自動ゼロ調節のサンプリングのステップを
示している。このステ、fでは、入力電圧源18の電圧
v1nがサングルされる。第3&図に示されたサンプリ
ングステップ中に、増幅器10のオフセット電圧■。は
容量C1nの入力コンデンサ40と容量Cfの帰還コン
デンサ42との関に記憶される。入力コンデンサ40は
増幅器の負入力端子10bと入力電圧源18との間に!
I続されている。帰還コンデンサ42は増幅器の出力端
子10eとアース間に接続されている。同時に、出力端
子10oと負入力端子robが短絡線44によって接続
され、正入力端子10aは接地されている。第31図に
示されたステップ中では、出力端子10e1と入力端子
10bが短絡@44によりて短絡されているので、オフ
セット電圧V。
は両端子に出力されている。さらに、第31図のサンプ
リングのステップでは、オフセット電圧v0は帰還コン
デンサ42間に記憶される。
リングのステップでは、オフセット電圧v0は帰還コン
デンサ42間に記憶される。
次に、第3b図に示されたホールドステップが行なわれ
る。このステ、fでは、帰還コンデンサ42の極板4j
aは負入力端子10bFC接続されたiまであるが、こ
のコンデンサ420反対の極板42bはアースから切離
された後、増幅器の出力端子10@に再接続される。そ
の結果、帰還コンデンサ42は、出力端子le@から負
の入力端子への負帰還としてオフセット電圧を供給する
。したがりて、この時の増幅器の出力端子10cの電圧
は正確にゼロになる。
る。このステ、fでは、帰還コンデンサ42の極板4j
aは負入力端子10bFC接続されたiまであるが、こ
のコンデンサ420反対の極板42bはアースから切離
された後、増幅器の出力端子10@に再接続される。そ
の結果、帰還コンデンサ42は、出力端子le@から負
の入力端子への負帰還としてオフセット電圧を供給する
。したがりて、この時の増幅器の出力端子10cの電圧
は正確にゼロになる。
負入力端子10bに存在する寄生容量J〆は、はとんど
他に影響を与えない、これは、第3&図のサンプリング
のステップ中に入力端子10bに存在するオフセット電
圧が第3b図のホールドステ、グにおいても変化せず、
寄生容量1σは充電も放電もしないためである。寄生容
量16が充電も放電もしないのは、コンデンサの極板4
2aが負の入力端子10bから切離れることがないから
である。その結果、出力端子1011のオフセット電圧
がゼロにカる精度は、実質上、寄生容量に影響されない
、これは、本発明の大きな利点の一つである。
他に影響を与えない、これは、第3&図のサンプリング
のステップ中に入力端子10bに存在するオフセット電
圧が第3b図のホールドステ、グにおいても変化せず、
寄生容量1σは充電も放電もしないためである。寄生容
量16が充電も放電もしないのは、コンデンサの極板4
2aが負の入力端子10bから切離れることがないから
である。その結果、出力端子1011のオフセット電圧
がゼロにカる精度は、実質上、寄生容量に影響されない
、これは、本発明の大きな利点の一つである。
そして、スイッチ−50によって、入力コンデンサ40
が入力電圧源18から切離されて、次に入力コンデンサ
40はアースに再接続される。
が入力電圧源18から切離されて、次に入力コンデンサ
40はアースに再接続される。
入力コンデンサ40の電圧は、スイッチ50が作動した
時、入力電圧源18の電圧v1mによって決まる電圧−
vlmKよりて減少する。したがって、増幅器の出力端
子10eの出力電圧″V、1.はVsn (C1n/C
x ) となる、比C1,/cfは増幅器の利得であ
り、容量C1mおよび侍で決まる。容量CI、ctは、
分圧負帰還ループとして作用し、これは尚業者にとって
周知のことである。容量Cf1nと負とが同じ値に設定
された場合、スイッチ50が第3b図に実線で示された
位置に移動し走時、電圧’outは電圧V、nK it
は等しくなる0%に、増幅器の利得は容量C1mおよび
9を適切に選択することによりて、正確に設定すること
ができるので、第31および第3b図に示した本発明の
自動ゼロ調節によりて利得の誤差を効果的に最小にする
か、あるいは除去することができる。
時、入力電圧源18の電圧v1mによって決まる電圧−
vlmKよりて減少する。したがって、増幅器の出力端
子10eの出力電圧″V、1.はVsn (C1n/C
x ) となる、比C1,/cfは増幅器の利得であ
り、容量C1mおよび侍で決まる。容量CI、ctは、
分圧負帰還ループとして作用し、これは尚業者にとって
周知のことである。容量Cf1nと負とが同じ値に設定
された場合、スイッチ50が第3b図に実線で示された
位置に移動し走時、電圧’outは電圧V、nK it
は等しくなる0%に、増幅器の利得は容量C1mおよび
9を適切に選択することによりて、正確に設定すること
ができるので、第31および第3b図に示した本発明の
自動ゼロ調節によりて利得の誤差を効果的に最小にする
か、あるいは除去することができる。
したがって、本発明は2つの利点を有する。
すなわち、寄生容量による利得誤差の除去と、寄生容量
5の大きさに関係ないオフセット出力電圧v0の精密ゼ
ロ調節の2つである。
5の大きさに関係ないオフセット出力電圧v0の精密ゼ
ロ調節の2つである。
第4図は、本発明の一実施例の概略構成図である。仁の
回路は、半導体基体の上に形成された金属酸化半導体回
路からなシ、第31および第3b図に示されたサンプリ
ング・ステ、グとホールド・ステ、fを行うことができ
る。すなわち、スイッチ50は入力コンデンサ40を前
に述べ良ように、入力電圧源18とアースとに交互に接
続する。スイッチ52は増幅器の出力端子10mを増幅
器の負入力端子10oと負帰還コンデンサ42の極板4
1bとに交互に接続する。スイッチ64は、帰還コンデ
ンサ極板をアースに接続する。第3L図のサングリング
ステッゾでげ、スイッチ50は、入力電圧源18と入力
コンデンサ40との間に接続され、スイッチ52は出力
端子leeと負入力端子10bとの間に接続される。閉
じたスイッチ5省は帰還コンデンサ極板41bをアース
に接続する。
回路は、半導体基体の上に形成された金属酸化半導体回
路からなシ、第31および第3b図に示されたサンプリ
ング・ステ、グとホールド・ステ、fを行うことができ
る。すなわち、スイッチ50は入力コンデンサ40を前
に述べ良ように、入力電圧源18とアースとに交互に接
続する。スイッチ52は増幅器の出力端子10mを増幅
器の負入力端子10oと負帰還コンデンサ42の極板4
1bとに交互に接続する。スイッチ64は、帰還コンデ
ンサ極板をアースに接続する。第3L図のサングリング
ステッゾでげ、スイッチ50は、入力電圧源18と入力
コンデンサ40との間に接続され、スイッチ52は出力
端子leeと負入力端子10bとの間に接続される。閉
じたスイッチ5省は帰還コンデンサ極板41bをアース
に接続する。
第3b図のホールドステップ中、スイッチ50゜5−2
、54全ての位置が、反転されると、スイッチ50は
入力コンデンサ40をアースに接続し、スイッチ52は
増幅器の出力端10@を帰還コンデンサの極板に接続し
、スイッチ54は帰還コンデンサの極板4jbをアース
から切離すことになる。
、54全ての位置が、反転されると、スイッチ50は
入力コンデンサ40をアースに接続し、スイッチ52は
増幅器の出力端10@を帰還コンデンサの極板に接続し
、スイッチ54は帰還コンデンサの極板4jbをアース
から切離すことになる。
本発明の他の特徴は、スイッチ56と容量CIn’およ
びCf′のコンデンサ60.62とを有する点である。
びCf′のコンデンサ60.62とを有する点である。
スイッチ+ICは、第3b図のホールド・ステ、デで作
動し、増幅器の正入力端子10aをアースから切離し、
コンデノナ60.IIK接続する。容量CImおよびう
′ は、それぞれ入力および帰還コンデンサ40,41
の容量C1゜および(IIK比例し九億に選ばれる。コ
ンデンサtto、tinが設けられる理由は、第3b図
のホールド・ステップで、スイッチ56およびj2を介
して漏れる漏れ電流Iim−および!、1+を補償する
ためである。一般的には、スイッチ52゜5#は各々、
酸化金属半導体電界効果)ランジスタ(MO8FI?)
として形成される。このようなスイッチは、一般的に!
I會漏れがTo、a、漏れ電流”1m−および”1m+
が発生する。これはこの分野ではよく知られている問題
である。
動し、増幅器の正入力端子10aをアースから切離し、
コンデノナ60.IIK接続する。容量CImおよびう
′ は、それぞれ入力および帰還コンデンサ40,41
の容量C1゜および(IIK比例し九億に選ばれる。コ
ンデンサtto、tinが設けられる理由は、第3b図
のホールド・ステップで、スイッチ56およびj2を介
して漏れる漏れ電流Iim−および!、1+を補償する
ためである。一般的には、スイッチ52゜5#は各々、
酸化金属半導体電界効果)ランジスタ(MO8FI?)
として形成される。このようなスイッチは、一般的に!
I會漏れがTo、a、漏れ電流”1m−および”1m+
が発生する。これはこの分野ではよく知られている問題
である。
第4図に示した実施例で轢、増幅器の出力端子10・は
チャンネル電荷補償スイッチ10に接続されている。こ
れについては、La1u@yL。
チャンネル電荷補償スイッチ10に接続されている。こ
れについては、La1u@yL。
LvwpとCharles It、 Lv・錦によりて
米国特許出願された発1J1(出願費号は・不1J1)
で、名称が@独立−次fWセスを用いたチャンネル電荷
補償スイ、チ”に開示されている。この発明は一本発明
の譲受は人に譲渡されている。従来のスイッチの代シに
チャンネル電荷補償スイッチ70を用いると、第3b図
のホールド・ステップで増幅器の出力端子10eの電圧
v、utがスイッチングMO8FEτのソース−ドレイ
ンチャンネルに蓄積された電荷によりて歪まないように
することができる。勿論、L@wy!lとl、veas
による上記出願において開示され九チャンネル電荷補償
スイッチを、第4図に示した実施例の各スイッチio、
62゜54.56の代シに用いることができる。
米国特許出願された発1J1(出願費号は・不1J1)
で、名称が@独立−次fWセスを用いたチャンネル電荷
補償スイ、チ”に開示されている。この発明は一本発明
の譲受は人に譲渡されている。従来のスイッチの代シに
チャンネル電荷補償スイッチ70を用いると、第3b図
のホールド・ステップで増幅器の出力端子10eの電圧
v、utがスイッチングMO8FEτのソース−ドレイ
ンチャンネルに蓄積された電荷によりて歪まないように
することができる。勿論、L@wy!lとl、veas
による上記出願において開示され九チャンネル電荷補償
スイッチを、第4図に示した実施例の各スイッチio、
62゜54.56の代シに用いることができる。
スイ チコンデンナ 回
第4図のスイッチ64を除き、上述したようにスイッチ
50および52を動作させてもよい。
50および52を動作させてもよい。
ただし、この場合、クロック信号発生器80からの周波
数f6のクロック信号Φと同期して動作させる。この場
合、第4図の回路は、スイッチコンデンサ積分器すなわ
ち目盛係数τ−Cf/σ6・C1n)の一般的なフィル
タ要素を形成する。このスイ、チコンデンサ積分回路で
は、スイッチi o 、 sxはクロック信号Φに同期
して周波数九で作動する。第1の相(またはリセット相
)では、スイ、チ50は入力電圧源11に接続され、ス
イ。
数f6のクロック信号Φと同期して動作させる。この場
合、第4図の回路は、スイッチコンデンサ積分器すなわ
ち目盛係数τ−Cf/σ6・C1n)の一般的なフィル
タ要素を形成する。このスイ、チコンデンサ積分回路で
は、スイッチi o 、 sxはクロック信号Φに同期
して周波数九で作動する。第1の相(またはリセット相
)では、スイ、チ50は入力電圧源11に接続され、ス
イ。
チ52は負入力端子10bK接続されている。
第2の相(iたは出力相)では、スイッチ50はアース
に接続され、スイッチ52は帰還コンデンサ極板42b
K’ji絖される。増幅器の出力端子10@の出力電圧
V、utは、前記し喪ように定義された係数丁を有する
電圧源18の電圧v1m Kよって表わされる信号の時
間積分に比例する。数式を用いて表わすと、スイッチS
O。
に接続され、スイッチ52は帰還コンデンサ極板42b
K’ji絖される。増幅器の出力端子10@の出力電圧
V、utは、前記し喪ように定義された係数丁を有する
電圧源18の電圧v1m Kよって表わされる信号の時
間積分に比例する。数式を用いて表わすと、スイッチS
O。
52がクロック信号Φと同期して作動する場゛合、次式
のようになる。
のようになる。
九だし、τ−C1/(/e C1m)
本発明のスイッチコンデンサ積分回路では、〆イナミ、
り・レンジを制限する主な原因(たとえば271雑音)
を、・り四ツク周波数fcを増幅@10の1/f雑音ピ
一ク周波数の近傍ま九は以上に設定した時、大幅に減ら
すことができる。
り・レンジを制限する主な原因(たとえば271雑音)
を、・り四ツク周波数fcを増幅@10の1/f雑音ピ
一ク周波数の近傍ま九は以上に設定した時、大幅に減ら
すことができる。
” 1/f雑音”とは、周波数の逆数に比例した雑音の
種類を称する。増幅器10の出力電圧をリセット相で用
いることができないが(すなわち、上述の公式はリセッ
ト相では成立たない)、サンプルアンドホールド装置(
たとえば、本発明のサンプルアンドホールド回路)を増
幅器の出力端子JOeKii続することは簡単である。
種類を称する。増幅器10の出力電圧をリセット相で用
いることができないが(すなわち、上述の公式はリセッ
ト相では成立たない)、サンプルアンドホールド装置(
たとえば、本発明のサンプルアンドホールド回路)を増
幅器の出力端子JOeKii続することは簡単である。
このサンプルアンドホールド装置は、リセット相でスイ
ッチコンデンサ積分回路の前回の電゛圧■。、を保持す
る。しかし、応用例によりては、出力電圧v、utがリ
セット相中に必要とされないので、上記サンプルアンド
ホールド装置は必ずしも必要ではない。
ッチコンデンサ積分回路の前回の電゛圧■。、を保持す
る。しかし、応用例によりては、出力電圧v、utがリ
セット相中に必要とされないので、上記サンプルアンド
ホールド装置は必ずしも必要ではない。
要するに、本発明の自動ゼロ調節サン!ルアンドホール
、ド回路では、出力端子10@1gtングル電圧V を
記憶する。この電圧v、utは、電ut 圧源がサンダルされ九その時点で増幅器の利得(Cin
/Cρと入力電圧源vinとを掛は九fIiK正確に等
しい、出力端子10@の電圧′v、tstは入力電圧v
1nと比例しており、その正確さは増幅器の入力端子1
0hおよび10bの寄生容量によって実質的に影響され
ないもので6#)、かつオフセット電圧のゼロ調節が同
じ正確さで行なえる。
、ド回路では、出力端子10@1gtングル電圧V を
記憶する。この電圧v、utは、電ut 圧源がサンダルされ九その時点で増幅器の利得(Cin
/Cρと入力電圧源vinとを掛は九fIiK正確に等
しい、出力端子10@の電圧′v、tstは入力電圧v
1nと比例しており、その正確さは増幅器の入力端子1
0hおよび10bの寄生容量によって実質的に影響され
ないもので6#)、かつオフセット電圧のゼロ調節が同
じ正確さで行なえる。
その他事発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形実施で
きることは勿論である。
きることは勿論である。
第11および第1b図は、第1の従来の自動ゼロ調節法
を説明するための回路図、第2番および2b図は、第2
の従来の自動ゼasue法を説明するための回路図、第
3&および第3b図は、本発明の自動ゼロ調節法を説明
するための回路図、第4図は本発明の一実施例のサンプ
ルアンドホールド回路の回路図である。 10−・・差動増幅器、18・・・入力電圧源、10・
・・チャンネル電荷補償スイッチ、80・・・クロ、り
信号発生器。
を説明するための回路図、第2番および2b図は、第2
の従来の自動ゼasue法を説明するための回路図、第
3&および第3b図は、本発明の自動ゼロ調節法を説明
するための回路図、第4図は本発明の一実施例のサンプ
ルアンドホールド回路の回路図である。 10−・・差動増幅器、18・・・入力電圧源、10・
・・チャンネル電荷補償スイッチ、80・・・クロ、り
信号発生器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)正および負の入力端子と出力端子とを有する差動
増幅器と:サンプリングされる入力電圧源と:2つの極
板を有し、一方の極板が前記増幅器の負入力端子に接続
されている帰還用コンデンサと:前記増幅器の出力端子
を前記負入力端子に短絡した状態で、この帰還用コンデ
ンサの他方の極板を共通基準電位に接続し、そして前記
増幅器の出力端子を前記負入力端子から切離す一方で、
前記コンデンサの他方の極板を前記基準電位から切離し
、そしてこの極板を前記増幅器の出力端子Kl!絖する
手段七:前記帰還用コンデンサの他方の極板が前記基準
電位に接続されている場合は、前記増幅器の負入力端子
を前記入力電圧源に接続し、そして前記帰還用コンデン
サの他方の極板が前記増幅器の出力端子に接続されてい
る場合は、前記増幅器の負入力端子を前記入力電圧源か
ら切離すためのスイッチからなる前記入力電圧源をサン
プリングする九めの手段とから構成されたことを特徴と
するサングルアンドホールド回路。 (2)差動増幅器の正入力端子が前記基準電位に接続さ
れたことを特徴とする特許請求の範囲第(1)項記載の
サンプルアンドホールド回路。 (3)入力電圧源をサンプリングする手段け、前記帰還
用コンデンサの他方の極板が前記増幅器の出力端子に再
接続されている場合、前記増幅器の負入力端子をアース
に再接続することを特徴とする特許請求の範囲第(1)
項記載のサンプルアンドホールド回路。 (4)増幅器の負入力端子とサンプリングをする手段と
の間に接続され九人カコンデンサをさらに有することを
特徴とする特許請求の範囲第(1)項記載のサングルア
ンドホールド回路。 (5)接続する手段は、−万端が前記増幅器出力端子に
接続され、他方端が前記帰還コンデンサの他方の極板と
前記増幅器の負入力端子ともに交互に接続できる第1の
スイッチと;前記基準電位と前記帰還コンデンサの他方
の極板との間に接続できる第2のスイッチとからなるこ
とを特徴とする特許請求の範囲第(1)項記載のサンプ
ルアンドホールド回路。 (6)接続する手段を介して洩れる接合電流を補償する
ための手段をさらに有することを特徴とする特許請求の
範囲第(1)項記載のサングルアンドホールド回路。 (力 補償手段は、接合洩れ補償用コンデンサと:前記
コンデンサの他方の極板が前記増幅器の出力端子に接続
されている場合は、この補償用°コンデンサを前記増幅
器の入力端子に接続する手段とからなることを特徴とす
る特許請求の範囲第(6)項記載のサングルアンドホー
ルド回路。 (6)正および負の入力端子と出力端子とを有する差動
増幅器と;入力電圧端子と:容量がC2で、第1および
第2の端子を有し、第1の端子が前記増幅器の負入力端
子に接続されている帰還コンデンサと;前記増幅器の出
力端子を前記増幅器の負入力端子と前記帰還コンデンサ
の第2の端子とに交互に接続する第1のスイッチと;−
刃端が前記増幅器の負入力端子に接続され、他方端が前
記入力電圧端子と共通基準電位とに交互に接続される#
I2のスイッチと;前記第1と第2のスイッチを交互に
周波数fで動作させる手段とからなることを特徴とする
スイッチコンデンサ積分回路。 (9)容量Cinで、前記増幅器の負入力端子と前記第
2のスイッチとの間に接続された入力−コンデンサをさ
らに有することを特徴とする特許請求の範囲第(8)項
記載のスイッチコンデンサ積分回路。 (1G 差動増幅器の出力端子の電圧■。、は、前記
入力電圧端子の電圧vinによりて、ただし τ= (
1//り(c、/c、、)で決定されることを特徴とす
る特許請求の範囲第(9)項記載のスイッチコンデンサ
積分回路。 Qυ 正および負の入力端子と出力端子とを有する差動
増幅器と、サンプリングされる入力電圧節点と、2端子
を有する電圧保持手段とを有するサンプルアンドホール
ド回路の自動ゼロ調節法において、 1)前記電圧保持手段の端子の一方を前記増幅器の入力
端子に接続するステップと;b)l) 前記電圧保持
端子の他方を共通基準電位に接続するステップと、 2)前記増幅器の出力端子を前記増幅器の負入力端子に
接続するステップと、 3)前記入力電圧節点を前記増幅器の負入力端子に接続
するステップと、 からなる第1の処理ステップと; c)1)前記増幅器の出力端子と負入力端子を切離すス
テ、fと、 2)前記電圧保持端子の他方を前記共通基準電位から切
離すステ、デと、 3)前記電圧保持端子を前記増幅器の出力端子に接続す
るステップと、 4)前記入力電圧節点を前記増幅器の負入力端子から切
離すステップと、 5)前記増幅器の負入力端子を前記共通基準電位に接続
するステップと、 からなる第2の処理ステ、グとからなることを特徴とす
るサングルアンドホールド回路の自動ゼレ調節法。 (6)前記増幅器の正入力端子を共通基準電位に接続す
るステ、グをさらに有することを特徴とする特許請求の
範囲第α9項記載のサンプルアンドホールド回路の自動
ゼロ調節法。 (至) サンプルアンドホールド回路は、2端子を有し
、一方の端子が前記共通基準電位に接続されたII2の
電圧保持手段をさらに有し、このサンゾルアンドホール
ド回路の自動ゼロ調節、*は、前記増幅器の負入力端子
が出力端子に接続されている時、前記増幅器の正入力端
子を前記共通基準電位に直接接続するステツブと、前記
増幅器の”負入力端子が出力端子から切離されている時
は、前記増幅器の正入力端子を前記第2の電圧保持手段
の他方の端子に接続するステツブとをさらに有すること
を特徴とする特許請求の範囲第α)項記載のサンプルア
ンドホールド回路の自動ゼロ調節法。 (14b)3)の接続するステツブは、前記入力電圧節
点をコンデンサを介して前記増幅器の負入力端子に接続
することを特徴とする特許請求の範囲第αカ項記載のサ
ンプルアシドホールド回路の自動ゼロ調節法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US06/316,453 US4439693A (en) | 1981-10-30 | 1981-10-30 | Sample and hold circuit with improved offset compensation |
| US316453 | 1981-10-30 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5885998A true JPS5885998A (ja) | 1983-05-23 |
| JPH0222476B2 JPH0222476B2 (ja) | 1990-05-18 |
Family
ID=23229113
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57189353A Granted JPS5885998A (ja) | 1981-10-30 | 1982-10-29 | サンプルアンドホ−ルド回路およびスイツチコンデンサ積分回路およびサンプルアンドホ−ルド回路の自動ゼロ調節方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4439693A (ja) |
| EP (1) | EP0078601B1 (ja) |
| JP (1) | JPS5885998A (ja) |
| DE (1) | DE3279140D1 (ja) |
Cited By (3)
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| DE3279140D1 (en) | 1988-11-24 |
| EP0078601B1 (en) | 1988-10-19 |
| EP0078601A2 (en) | 1983-05-11 |
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