JPS5894071A - 座標検出装置 - Google Patents
座標検出装置Info
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- JPS5894071A JPS5894071A JP56192350A JP19235081A JPS5894071A JP S5894071 A JPS5894071 A JP S5894071A JP 56192350 A JP56192350 A JP 56192350A JP 19235081 A JP19235081 A JP 19235081A JP S5894071 A JPS5894071 A JP S5894071A
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- data
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
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- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
- G06F3/045—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means using resistive elements, e.g. a single continuous surface or two parallel surfaces put in contact
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
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- Human Computer Interaction (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、被抑圧体の押圧点位置を検出し、この押圧点
位置を示すX軸およびY軸の座標デー−を出力する座標
検出装置に関し、特に前記被抑圧体として所定間隔で縦
横に配置された点状のスペーサを挾んで対向配置された
2枚の抵抗膜を用いた座標検出装置に関するものである
。
位置を示すX軸およびY軸の座標デー−を出力する座標
検出装置に関し、特に前記被抑圧体として所定間隔で縦
横に配置された点状のスペーサを挾んで対向配置された
2枚の抵抗膜を用いた座標検出装置に関するものである
。
従来において、例えば特開昭56−11580号公報に
開示されているように、枠状のスペーサを挾んで対向配
置された2枚の抵抗膜の一方を押圧して両抵抗膜を接触
させ、この接触点における電位を検出することによりe
記具などの押圧体の押圧点座標を得、これにより手書き
文字や図形等を=ンビエータに入力するようにし九座標
検出装置が知られている。
開示されているように、枠状のスペーサを挾んで対向配
置された2枚の抵抗膜の一方を押圧して両抵抗膜を接触
させ、この接触点における電位を検出することによりe
記具などの押圧体の押圧点座標を得、これにより手書き
文字や図形等を=ンビエータに入力するようにし九座標
検出装置が知られている。
ところが、上述の座標検出装置においては2枚の抵抗膜
相互間の絶縁を枠状のスペーサによって行っているため
、抵抗膜の11j81tを広くとると抵抗膜が自重によ
り撓んでしまうという不都合がある。
相互間の絶縁を枠状のスペーサによって行っているため
、抵抗膜の11j81tを広くとると抵抗膜が自重によ
り撓んでしまうという不都合がある。
そこで、被抑圧体として第1図(1)に示すように2枚
の抵抗膜1および2を、所定間隔で縦横に配置された点
状のスペーサ3を介して対向配電し、一方の抵抗膜を押
圧することにより第1図(1+)の断面図に示すように
両抵抗膜をスペーサ3の不在部分で点接触させるように
した構造のものがある。
の抵抗膜1および2を、所定間隔で縦横に配置された点
状のスペーサ3を介して対向配電し、一方の抵抗膜を押
圧することにより第1図(1+)の断面図に示すように
両抵抗膜をスペーサ3の不在部分で点接触させるように
した構造のものがある。
そして、抑圧体の押圧点位置を検出し、その座標データ
を出力するに当っては、前述の特開昭56−11580
号会報に開示されている検出動作の原理と同様に、第1
の抵抗膜1のX軸方向に電極1ムおよび1Bを利用して
所定電圧を印加する動作と、第2の抵抗膜スのX軸方向
に電極2ムおよび2itを利用して所定電圧を印加する
動作とを交互に行い、両抵抗膜の接触点における電位を
電圧不印加側の抵抗膜の電極から交互に取り出し、これ
らの電位をディジタル値に変換してX軸およびY軸の座
標データとして出力するように構成される。従って、こ
のような被抑圧体を使用した座標検出装置においては、
被抑圧体の面積を広くとれ、特に手書き図面などをコン
ピュータに入力する場合に最適なものとなる。
を出力するに当っては、前述の特開昭56−11580
号会報に開示されている検出動作の原理と同様に、第1
の抵抗膜1のX軸方向に電極1ムおよび1Bを利用して
所定電圧を印加する動作と、第2の抵抗膜スのX軸方向
に電極2ムおよび2itを利用して所定電圧を印加する
動作とを交互に行い、両抵抗膜の接触点における電位を
電圧不印加側の抵抗膜の電極から交互に取り出し、これ
らの電位をディジタル値に変換してX軸およびY軸の座
標データとして出力するように構成される。従って、こ
のような被抑圧体を使用した座標検出装置においては、
被抑圧体の面積を広くとれ、特に手書き図面などをコン
ピュータに入力する場合に最適なものとなる。
しかし、スペーサが点状であるため、押圧点における点
接触面積が押圧強さの変動によシ第1図(0)または(
1りの断面図に示す如く種々変化し、これに伴って一方
の抵抗膜から取り出す接触点の電位が変動し、例えば押
圧点を第1図(・)の記号ムに示すように連続的に直線
状に移動させたとして本、点接触面積の大小に応じて接
触点の電位に変動が生じてX軸、!軸の座標データが不
連続なものとなり、コンピュータ側においては第1図(
・)の記号Bに示すような曲線の座標データとして認識
あるいは表示してしまうという欠点がある。
接触面積が押圧強さの変動によシ第1図(0)または(
1りの断面図に示す如く種々変化し、これに伴って一方
の抵抗膜から取り出す接触点の電位が変動し、例えば押
圧点を第1図(・)の記号ムに示すように連続的に直線
状に移動させたとして本、点接触面積の大小に応じて接
触点の電位に変動が生じてX軸、!軸の座標データが不
連続なものとなり、コンピュータ側においては第1図(
・)の記号Bに示すような曲線の座標データとして認識
あるいは表示してしまうという欠点がある。
本発明はこのような欠点を解決するためKなされたもの
で、その目的は抑圧強さの変動あるいは点接触状態の変
動があっても、押圧点の移動に追従した連続性のある座
標データを出方し得るようにした座標検出装置を提供す
ることにある。
で、その目的は抑圧強さの変動あるいは点接触状態の変
動があっても、押圧点の移動に追従した連続性のある座
標データを出方し得るようにした座標検出装置を提供す
ることにある。
このために本発明は、押圧点の移動に伴って順次取り出
される座標データ相互間の偏差を求め、その偏差が所定
値未満の座標データのみを連続性のある座標データとし
、他は不正常なものとして無視すると共に、接触点電位
のサンプリング速度と押圧点の移動方向および移動速度
との関連で前記偏差が所′定値以上となった場合、この
所定値以上の偏差の座標データがn個連続した時に第n
個目の座標データを連続性のある座標データとするよう
にし念ものである。
される座標データ相互間の偏差を求め、その偏差が所定
値未満の座標データのみを連続性のある座標データとし
、他は不正常なものとして無視すると共に、接触点電位
のサンプリング速度と押圧点の移動方向および移動速度
との関連で前記偏差が所′定値以上となった場合、この
所定値以上の偏差の座標データがn個連続した時に第n
個目の座標データを連続性のある座標データとするよう
にし念ものである。
なお、この明細書においては順次数シ出される座標デー
タ列のうち連続性があると判断した座標データは、座標
データの真値として定義して説明のために使用する。
タ列のうち連続性があると判断した座標データは、座標
データの真値として定義して説明のために使用する。
以下、図示する実施例に基づいて本発明の詳細な説明す
る。
る。
第2図は本発明の一実施例を示すブロック図である。同
図において、第1の抵抗膜1の電極1ムはトランジスタ
Qsを介して正の駆動電圧(+Vt)に接続され、一方
の電極1BはトランジスタQmを介してアース電位に接
続されている。また、第2の抵抗膜2の電極2ムはトラ
ンジスタQsを介して正の駆動電圧(+Ls)に接続さ
れ、一方の電極2Bはトランジ子りq4を介してアース
電位に接続されている。
図において、第1の抵抗膜1の電極1ムはトランジスタ
Qsを介して正の駆動電圧(+Vt)に接続され、一方
の電極1BはトランジスタQmを介してアース電位に接
続されている。また、第2の抵抗膜2の電極2ムはトラ
ンジスタQsを介して正の駆動電圧(+Ls)に接続さ
れ、一方の電極2Bはトランジ子りq4を介してアース
電位に接続されている。
これらのトランジスタ91〜q4は、フリップ70ツブ
夏11の出力端子(φおよび釦からそれぞれ出力される
駆動電圧交互印加用の信号YD、 XDIICより導通
および非導通が制御−されるように構成されている。
夏11の出力端子(φおよび釦からそれぞれ出力される
駆動電圧交互印加用の信号YD、 XDIICより導通
および非導通が制御−されるように構成されている。
フリップ70ツブxxiは2つの抵抗膜1,2に対する
駆動電圧の印加を交互に切換えるためのものであり、n
型フリップフロップによって構成すれている。そのデー
タ六方端子(9)にはプロセヅサ=ット■からチャンネ
ル切換信号OHMが入力され、またクロック入力端子(
OX)にはインバータl1iVlによってチップセレク
ト信号τiを反転した信号amが入力されている。
駆動電圧の印加を交互に切換えるためのものであり、n
型フリップフロップによって構成すれている。そのデー
タ六方端子(9)にはプロセヅサ=ット■からチャンネ
ル切換信号OHMが入力され、またクロック入力端子(
OX)にはインバータl1iVlによってチップセレク
ト信号τiを反転した信号amが入力されている。
従って、フリップ70ツブ1r1は論!’1’のチャン
ネル切換信号0NIIが入力されている時に、論理10
″のチップセレクト信号τiがプロセッサユニットPυ
から発生されると、このチップセレクト信号amの立下
りタインフグ後において論理“1#の信号!Dおよび論
理“Omの信号!Dを出力すゐ。
ネル切換信号0NIIが入力されている時に、論理10
″のチップセレクト信号τiがプロセッサユニットPυ
から発生されると、このチップセレクト信号amの立下
りタインフグ後において論理“1#の信号!Dおよび論
理“Omの信号!Dを出力すゐ。
すなわち、フリップフロップ11には論3!“1′のチ
ャンネル切換信号Oilが入力され、かつ論理1o”の
チップセレクト信号τiが発生すると、トランジスタQ
sおよびq4を導通させ、第2の抵抗膜2に駆動電圧(
マl)を印加し、矢印で示すy軸方向の電位勾配を生じ
させる信号を出力する。
ャンネル切換信号Oilが入力され、かつ論理1o”の
チップセレクト信号τiが発生すると、トランジスタQ
sおよびq4を導通させ、第2の抵抗膜2に駆動電圧(
マl)を印加し、矢印で示すy軸方向の電位勾配を生じ
させる信号を出力する。
一方、フリップフロップ1y1け論理“0”のチャンネ
ル切換信号0■が入力されていゐ時に1論理“Omのチ
ャンネルセレクト信号iがプロセッサユニットPhiか
ら発生されると、このチップセレクト信号iの立下シタ
イζング後において論理“0”の信号YDおよび論理′
1#の信号XDを出力する。すなわち、フリップフロッ
プL1は論理1o”のチャンネル切換信号OH8が入力
され、かつ論理“Omのチップセレクト信号iが発生す
ると、トランジスタQsおよびQmを導通させ、第1の
抵抗膜1に駆動電圧(Vs)を印加し、矢印で示すX軸
方向の電位勾配を生じさせる信号を出力する。
ル切換信号0■が入力されていゐ時に1論理“Omのチ
ャンネルセレクト信号iがプロセッサユニットPhiか
ら発生されると、このチップセレクト信号iの立下シタ
イζング後において論理“0”の信号YDおよび論理′
1#の信号XDを出力する。すなわち、フリップフロッ
プL1は論理1o”のチャンネル切換信号OH8が入力
され、かつ論理“Omのチップセレクト信号iが発生す
ると、トランジスタQsおよびQmを導通させ、第1の
抵抗膜1に駆動電圧(Vs)を印加し、矢印で示すX軸
方向の電位勾配を生じさせる信号を出力する。
従って、プロセッサユニットPuから送出するチャンネ
ル切換信号oiaを論理“11と論理′″0”とで交互
に切換えることにより、fpJlの抵抗膜1のX軸方向
および第2の抵抗膜のy軸方向に所定の電位勾配を交互
に生じさせることができる。これにより、一方の抵抗膜
の任意の座標位置を押圧して両抵抗膜を点接触畑せると
、y軸方向に電位勾配を生じさせている時には押圧点の
y軸方向の位置を両抵抗膜の接触点および一方の抵抗膜
1の電極1Bを介してそのy軸方向の押圧点位置に対応
したレベルの電位信号VYとして取り出すことができ、
逆にX軸方向に電位勾配を生じさせている時には押圧点
のX軸方向の位置を両抵抗膜の接触点および一方の抵抗
膜2の電極2Bを介してそのX軸方向の押圧点位置に対
応したレベルの電位信号Vlとして取シ出すことができ
る。
ル切換信号oiaを論理“11と論理′″0”とで交互
に切換えることにより、fpJlの抵抗膜1のX軸方向
および第2の抵抗膜のy軸方向に所定の電位勾配を交互
に生じさせることができる。これにより、一方の抵抗膜
の任意の座標位置を押圧して両抵抗膜を点接触畑せると
、y軸方向に電位勾配を生じさせている時には押圧点の
y軸方向の位置を両抵抗膜の接触点および一方の抵抗膜
1の電極1Bを介してそのy軸方向の押圧点位置に対応
したレベルの電位信号VYとして取り出すことができ、
逆にX軸方向に電位勾配を生じさせている時には押圧点
のX軸方向の位置を両抵抗膜の接触点および一方の抵抗
膜2の電極2Bを介してそのX軸方向の押圧点位置に対
応したレベルの電位信号Vlとして取シ出すことができ
る。
このようにして取シ出される押圧点のy軸およびX軸方
向の座標位置に対応したレベルの電位信号VY、 マ
Xけそれぞれスイッチawl、sw、を介して積分回路
I?G1.11G、に入力される。
向の座標位置に対応したレベルの電位信号VY、 マ
Xけそれぞれスイッチawl、sw、を介して積分回路
I?G1.11G、に入力される。
ここで、2つの抵抗膜1,2は、駆動電圧(vl)が交
互に印加されている関係上、積分回路I’!Gl。
互に印加されている関係上、積分回路I’!Gl。
!テGsKFiアース電位が直接印加されて積分動作が
遅くなり、ひいては電位信号マY、VXのディジタル値
への変換速度が遅くなる。これを防ぐためにスイッチ8
W鳳および8N、が設けられている。
遅くなり、ひいては電位信号マY、VXのディジタル値
への変換速度が遅くなる。これを防ぐためにスイッチ8
W鳳および8N、が設けられている。
すなわち、この種の座標検出装置では電位信号マ!、マ
Xに含まれるリップル成分やノイズ成分を除去し、電位
信号マY、7にの平均的な値をディジタル値に変換する
ようにムD変換器の入力段にコンデンサを含む積分回路
を付加するのが一般的に行なわれているが、このような
構成において駆動電圧印加側のアース電位が積分回路I
!Gl fたけztG=に直接入力されると、これらの
積分回路のコンデンサ0はアース電位の入力によシ放電
されてしまい、各抵抗膜から取抄出した電位信号’IF
Y。
Xに含まれるリップル成分やノイズ成分を除去し、電位
信号マY、7にの平均的な値をディジタル値に変換する
ようにムD変換器の入力段にコンデンサを含む積分回路
を付加するのが一般的に行なわれているが、このような
構成において駆動電圧印加側のアース電位が積分回路I
!Gl fたけztG=に直接入力されると、これらの
積分回路のコンデンサ0はアース電位の入力によシ放電
されてしまい、各抵抗膜から取抄出した電位信号’IF
Y。
VXを積分する動作時には、アース電位から光電を再び
開始させなければならない。このため、アース電位から
電位信号VY、VXのレベルに充電させるまでの時間だ
け和分動作が遅れてしまい、座標データへの変換速度が
遅くなる。
開始させなければならない。このため、アース電位から
電位信号VY、VXのレベルに充電させるまでの時間だ
け和分動作が遅れてしまい、座標データへの変換速度が
遅くなる。
このために、スイッチ8Wlは7リツプフロツプL1の
出力信号!Dが1”で、かつインバータXMv1から出
力されるチップセレクト信号CBが#1mの時のみアン
トゲ−トムG1の出力信号によジオン状態(閉成状態)
とされ、第1の抵抗膜1に駆動電圧(マ1)を印加して
いる時にはオフ状態とされ、アース電位は積分回路12
01の入力に直接加わらないように制御される。t−I
I:、、スイッチ8W=はフリップフロップOiの出力
信号!Dが1#で、かつチップセレクト信号08が′1
”の時のみアンドゲート五Glの出力信号によジオ/状
態(閉成状態)とされ、第2の抵抗膜2に駆動電圧(V
s)を印加している時にはオフ状態とされ、アース電位
は積分回路I!Gsの入力に直接加わらないように制御
される。
出力信号!Dが1”で、かつインバータXMv1から出
力されるチップセレクト信号CBが#1mの時のみアン
トゲ−トムG1の出力信号によジオン状態(閉成状態)
とされ、第1の抵抗膜1に駆動電圧(マ1)を印加して
いる時にはオフ状態とされ、アース電位は積分回路12
01の入力に直接加わらないように制御される。t−I
I:、、スイッチ8W=はフリップフロップOiの出力
信号!Dが1#で、かつチップセレクト信号08が′1
”の時のみアンドゲート五Glの出力信号によジオ/状
態(閉成状態)とされ、第2の抵抗膜2に駆動電圧(V
s)を印加している時にはオフ状態とされ、アース電位
は積分回路I!Gsの入力に直接加わらないように制御
される。
これにより、コンデンサCを含む積分回路I’ff1G
1゜I!Glは、チップセレクト信号08の発生期間だ
け電位信号v!、マXの積分動作を行なってその積分値
を次のチップセレクト信号C8の発生タイイングに新喪
な電位信号VY、VNが印加される壕で保持するように
なる。この場合、通常の抑圧操作においては電位信号V
Y、VXのレベルの変化率は比較的小さいため、積分回
路ITGI、 ITG。
1゜I!Glは、チップセレクト信号08の発生期間だ
け電位信号v!、マXの積分動作を行なってその積分値
を次のチップセレクト信号C8の発生タイイングに新喪
な電位信号VY、VNが印加される壕で保持するように
なる。この場合、通常の抑圧操作においては電位信号V
Y、VXのレベルの変化率は比較的小さいため、積分回
路ITGI、 ITG。
におけるコンデンサOは瞬時に新たな電位信号V!、マ
Xのレベルに充電されるようになシ、積分動作を極めて
迅速に終了させることができる。
Xのレベルに充電されるようになシ、積分動作を極めて
迅速に終了させることができる。
このようにして積分回路1!Glおよび!’!G、にお
いて積分された電位信号マY′およびVX’は、2チヤ
ンネルのムD変換入力OHI、 OH2を有するムD変
換器ムDOに入力される。
いて積分された電位信号マY′およびVX’は、2チヤ
ンネルのムD変換入力OHI、 OH2を有するムD変
換器ムDOに入力される。
ムD変換器五Doは、チャンネル切換信号ORBがθ′
の時には第1チヤンネルのムD変換入力Om1に入力さ
れている電位信号VY’を選択し、チップセレクト信号
iが“1m信号になった後にこの信号VY’を対応する
ディジタル値に変換する。
の時には第1チヤンネルのムD変換入力Om1に入力さ
れている電位信号VY’を選択し、チップセレクト信号
iが“1m信号になった後にこの信号VY’を対応する
ディジタル値に変換する。
そして、一定時間後にその変換動作が終了すると論理′
0”の変換終了信号200とともに、変換値をデータ構
成がシリアルなy軸の座標データIとして出力する。ま
た、チャンネル切換信号01Bが“1”の時には第2チ
ヤンネルのムD変換人力0112に入力されている電位
信号vx’を選択し、チップセレクト信号nが“1″信
号になった後にこの信号VX’を対応するディジタル値
に変換する。そして、その変換値を変換終了信号200
とともにX軸の座標データXとして出力する。
0”の変換終了信号200とともに、変換値をデータ構
成がシリアルなy軸の座標データIとして出力する。ま
た、チャンネル切換信号01Bが“1”の時には第2チ
ヤンネルのムD変換人力0112に入力されている電位
信号vx’を選択し、チップセレクト信号nが“1″信
号になった後にこの信号VX’を対応するディジタル値
に変換する。そして、その変換値を変換終了信号200
とともにX軸の座標データXとして出力する。
この場合の変換終了信号BooはインバータXWVmK
よって反転されてプロセッサユニットPUに送られる。
よって反転されてプロセッサユニットPUに送られる。
すると、プロセッサユニットPUは信号罵OCを受けた
ことによシ、シリアルなデータ構成のX軸およびy軸の
座標データX、 Yを読み込む。
ことによシ、シリアルなデータ構成のX軸およびy軸の
座標データX、 Yを読み込む。
さて、ブ?七ツサユニット■は演算処理装置OPUやプ
ログラムメモリ舅罵舅等によって構成され、ムp変換器
ムDOから入力される座標データの読込みやその連続性
の判別等の一連の制御を行つて押圧点の移動に正確に追
従した座標データとして出力するものであるが、仁のよ
うな制御を行うためのプログラムの起動はフリップフロ
ップ0゜の出力端子(φから論理“0”の押圧検出信号
1■が入力されることによって行う。
ログラムメモリ舅罵舅等によって構成され、ムp変換器
ムDOから入力される座標データの読込みやその連続性
の判別等の一連の制御を行つて押圧点の移動に正確に追
従した座標データとして出力するものであるが、仁のよ
うな制御を行うためのプログラムの起動はフリップフロ
ップ0゜の出力端子(φから論理“0”の押圧検出信号
1■が入力されることによって行う。
すなわち、2つの抵抗膜1および2に対して駆動電圧(
Vr)を交互に印加している時、任意のタイZングで抑
圧操作が開始されると、この押圧点位置に対応した電位
信号VY、 マXが取υ出されるが、このうち信号マX
はスイッチlll5を介して積分回路I!G、に入力さ
れる一方、抵抗11およびR,によって分圧されてトラ
ンジスタQiのペースに入力される。
Vr)を交互に印加している時、任意のタイZングで抑
圧操作が開始されると、この押圧点位置に対応した電位
信号VY、 マXが取υ出されるが、このうち信号マX
はスイッチlll5を介して積分回路I!G、に入力さ
れる一方、抵抗11およびR,によって分圧されてトラ
ンジスタQiのペースに入力される。
トランジスタQsは、抵抗膜に対する抑圧操作が開始さ
れて電位信号VXのレベルが所定値以上になると導通し
、そのコレクタ出力から押圧操作が開始された仁とを示
す′0″の検出信号1i1N8ムを出力する。このトラ
ンジスタQiから出力される0”の検出信号BMBムは
D型フリップフロップr!曹のデータ入力端子(D)へ
供給され、チップセレクト信号aSの立上シタイミング
で取り込まれて出力端子qから論理“θ′″の押圧検出
信号8■として出力される。従って、チップセレクト信
号nを比較的短い周期で発生させるようにしておけば、
抵抗膜に対する抑圧操作後ただちに抑圧検出信号■8を
得ることができ、座標データ!、Yの読込み処理やその
連続性の判別などの処理を行うプログラムを起動させる
ことができる。
れて電位信号VXのレベルが所定値以上になると導通し
、そのコレクタ出力から押圧操作が開始された仁とを示
す′0″の検出信号1i1N8ムを出力する。このトラ
ンジスタQiから出力される0”の検出信号BMBムは
D型フリップフロップr!曹のデータ入力端子(D)へ
供給され、チップセレクト信号aSの立上シタイミング
で取り込まれて出力端子qから論理“θ′″の押圧検出
信号8■として出力される。従って、チップセレクト信
号nを比較的短い周期で発生させるようにしておけば、
抵抗膜に対する抑圧操作後ただちに抑圧検出信号■8を
得ることができ、座標データ!、Yの読込み処理やその
連続性の判別などの処理を行うプログラムを起動させる
ことができる。
ところで、抵抗膜が押圧され九ことを検出するに際し、
抵抗膜1に駆動電圧(vl)の印加による比較的大きな
電流を流すようにしておくと、抵抗膜1における電位勾
配が急勾配となシ、押圧点の位置によっては電位信号V
Xのレベルが大幅に変化してしまう。その結果、トラン
ジスタQsにおける識別レベルの決め方によっては抑圧
操作が行なわれたことの識別が不可能となったシするこ
とがある。そこで、抑圧操作の検出前は抵抗膜1に対し
て微少電流を流し、その電位勾配をゆるやかとし、どの
位置を押圧しても高レベルの電位信号マXが得られるよ
うにする。すなわち、トランジスタQ1をトランジスタ
q・の出力信号(0”信号)によって非導通とし、抵抗
膜1にはトランジスタQlによって駆動電圧(Vs)の
正電位のみを印加してこの抵抗膜1の全体の電位を正電
位側にシフトする。
抵抗膜1に駆動電圧(vl)の印加による比較的大きな
電流を流すようにしておくと、抵抗膜1における電位勾
配が急勾配となシ、押圧点の位置によっては電位信号V
Xのレベルが大幅に変化してしまう。その結果、トラン
ジスタQsにおける識別レベルの決め方によっては抑圧
操作が行なわれたことの識別が不可能となったシするこ
とがある。そこで、抑圧操作の検出前は抵抗膜1に対し
て微少電流を流し、その電位勾配をゆるやかとし、どの
位置を押圧しても高レベルの電位信号マXが得られるよ
うにする。すなわち、トランジスタQ1をトランジスタ
q・の出力信号(0”信号)によって非導通とし、抵抗
膜1にはトランジスタQlによって駆動電圧(Vs)の
正電位のみを印加してこの抵抗膜1の全体の電位を正電
位側にシフトする。
これによって抵抗膜1にトランジスタQsおよび積分回
路l1G1の入力側のインピーダンスと抵抗膜1の抵抗
値とによって定まる微少電流を流すように構成されてい
る。この場合、トランジスタq6を導通させる信号とし
ては、ムD変換器ムpOの変換終了信号11が用いられ
ている。既に理解できるように、ムD変換器ムDOは変
換動作の終了後は新たな電位信号v!またはVXが入力
されるのを待機する状態となるため、この変換終了信号
罵00をインバータxiv、によって反転してトランジ
スタQ@を制御するようにしておけば、変換動作の終了
後において抵抗膜1は常に正電位側にシフトされる。従
って、この状態において抑圧操作751行なわれると、
どの位置を押圧しても高レベルの電位信号マlが得られ
、トランジスタQiにおける識別レベルを若干高目にし
ておいても確実にトランジスタQsが導通する。いい換
えれば、抑圧操作が行なわれたことを確実に検出するこ
とができる。
路l1G1の入力側のインピーダンスと抵抗膜1の抵抗
値とによって定まる微少電流を流すように構成されてい
る。この場合、トランジスタq6を導通させる信号とし
ては、ムD変換器ムpOの変換終了信号11が用いられ
ている。既に理解できるように、ムD変換器ムDOは変
換動作の終了後は新たな電位信号v!またはVXが入力
されるのを待機する状態となるため、この変換終了信号
罵00をインバータxiv、によって反転してトランジ
スタQ@を制御するようにしておけば、変換動作の終了
後において抵抗膜1は常に正電位側にシフトされる。従
って、この状態において抑圧操作751行なわれると、
どの位置を押圧しても高レベルの電位信号マlが得られ
、トランジスタQiにおける識別レベルを若干高目にし
ておいても確実にトランジスタQsが導通する。いい換
えれば、抑圧操作が行なわれたことを確実に検出するこ
とができる。
この結果、プロセッサユニットにおけるプログラムを抑
圧操作に追従して確実に起動できる。この場合、トラン
ジスタq、owk別レベルを高目に設定できるため、外
乱ノイズによって娯った押圧検出信号8■が発生するこ
とを防止で惠る効果もある。
圧操作に追従して確実に起動できる。この場合、トラン
ジスタq、owk別レベルを高目に設定できるため、外
乱ノイズによって娯った押圧検出信号8■が発生するこ
とを防止で惠る効果もある。
なお、押圧点の座標はX軸とy軸方向との1対で検出さ
れるものであるため、抑圧操作が行なわれたことを検出
するためのトランジスタQsはX軸方向の電位信号VX
側のみに設ければ足りる。これは、トランジスタQ−に
ついても同様である。
れるものであるため、抑圧操作が行なわれたことを検出
するためのトランジスタQsはX軸方向の電位信号VX
側のみに設ければ足りる。これは、トランジスタQ−に
ついても同様である。
ここで、第3図に示すタイムチャートを参照し、X軸お
よびy軸の座標データ!、Yがプロセッサユニッ)Pυ
に入力されるまでの動作を要約して説明する。
よびy軸の座標データ!、Yがプロセッサユニッ)Pυ
に入力されるまでの動作を要約して説明する。
まず、時刻t1において同図(亀)に示すチツブセレク
)信号iが“0”になると、この立下りタイミングで変
換終了信号200 (同図(b))は“1”信号に復帰
し、ムD変換器ムDOは待機状態となる。この時、チャ
ンネル切換信号oneが同図(0)に示すように“Om
に変化していると、フリップフロップ!y1の出力信号
YDは同図(d)に示すようにmOm信号となり、一方
の出力信号XDけ同図(・)に示すように818信号と
なる。これによシ、第1の抵抗膜1に駆動電圧(マ1)
が印加される状態となる。また、信号!Dが“1”信号
となる仁とによシ、チップセレクト信号nの発生期間中
にアントゲ−トムGlから1“信号が出力されてスイッ
チaweが同図(4)に示すようにオン状態となる。と
ころが、この時には未だ抑圧操作がなされていないため
、第2の抵抗膜2の電極2Bには電位信号VXは現われ
ない。
)信号iが“0”になると、この立下りタイミングで変
換終了信号200 (同図(b))は“1”信号に復帰
し、ムD変換器ムDOは待機状態となる。この時、チャ
ンネル切換信号oneが同図(0)に示すように“Om
に変化していると、フリップフロップ!y1の出力信号
YDは同図(d)に示すようにmOm信号となり、一方
の出力信号XDけ同図(・)に示すように818信号と
なる。これによシ、第1の抵抗膜1に駆動電圧(マ1)
が印加される状態となる。また、信号!Dが“1”信号
となる仁とによシ、チップセレクト信号nの発生期間中
にアントゲ−トムGlから1“信号が出力されてスイッ
チaweが同図(4)に示すようにオン状態となる。と
ころが、この時には未だ抑圧操作がなされていないため
、第2の抵抗膜2の電極2Bには電位信号VXは現われ
ない。
次に、時刻tlにな抄、チップセレクト信号iが1Om
に復帰すると、スイッチ811=はオフ状態となゐ。同
時に、ムD変換器ムDOは変換動作を開始するようKな
る。しかし、この時、変換対象の電位信号vx’は入力
されていないため、時刻t$において論理′0″の変換
終了信号1元を出力するとともに1オール“θ″の座標
データYを出力する。この時刻tlにおいて変換終了信
号が“0”となることによシ、トランジスタQ・が導通
し、信号XDによって導通していたトランジスタ(hを
非導通とする。
に復帰すると、スイッチ811=はオフ状態となゐ。同
時に、ムD変換器ムDOは変換動作を開始するようKな
る。しかし、この時、変換対象の電位信号vx’は入力
されていないため、時刻t$において論理′0″の変換
終了信号1元を出力するとともに1オール“θ″の座標
データYを出力する。この時刻tlにおいて変換終了信
号が“0”となることによシ、トランジスタQ・が導通
し、信号XDによって導通していたトランジスタ(hを
非導通とする。
これによシ、第1の抵抗膜1は全体の電位が正電位側ヘ
シフトされ、これに伴って電極IBから取シ出される信
号マ!も第3図(f)、に示すように変換終了信号1t
の発生期間中に正電位側ヘシフトされる。
シフトされ、これに伴って電極IBから取シ出される信
号マ!も第3図(f)、に示すように変換終了信号1t
の発生期間中に正電位側ヘシフトされる。
この状態で時刻ts4のタイミングで抑圧操作が開始さ
れると、電極2Bから第3図(mlに示すように高レベ
ルの電位信号VXが取り出されて抵抗R1を介してトラ
ンジスタQsのペースに印加される。
れると、電極2Bから第3図(mlに示すように高レベ
ルの電位信号VXが取り出されて抵抗R1を介してトラ
ンジスタQsのペースに印加される。
これによって、トランジスタQiのコレクタ出力から第
3図Ch)に示すような信号818ムが出力される。
3図Ch)に示すような信号818ムが出力される。
この後時刻t4においてチップセレクト信号1が10”
信号に変化すると、との立下シタイミングにおいて前記
信号8N8ムがフリップ70ツブ1hに取込まれ、その
出力から第3図(1)に示すような押圧検出信号■8と
して出力される。これによシ、プロセッサユニット■は
押圧点の座標を読込むためのプログラムを起動する。
信号に変化すると、との立下シタイミングにおいて前記
信号8N8ムがフリップ70ツブ1hに取込まれ、その
出力から第3図(1)に示すような押圧検出信号■8と
して出力される。これによシ、プロセッサユニット■は
押圧点の座標を読込むためのプログラムを起動する。
一方、時刻1口において抑圧操作が開始され、かつ時刻
t4〜Xsにおいてチップセレクト信号CBが発生され
ていることによシ、スイッチam。
t4〜Xsにおいてチップセレクト信号CBが発生され
ていることによシ、スイッチam。
を介して押圧点のX軸方向の位置に対応した電位信号マ
Xが積分回路!’!Glへ入力される。これによシ、積
分回路1’ff1G、け入力信号マXをt4〜tlにお
いて積分し、第3図(j)に示すような電位信号Vl′
を出力し、ムp変換器ムDOの第2チヤンネルの五p変
換入力012 K供給する。すると、ムD変換器五Do
はチャンネル切換信号cH8が“l”になっていること
を条件に、第2チヤンネルのムD変換入力に供給されて
いる電位信号vx’を選択し、チップセレクト信号万が
“1”信号に復帰した時刻tlのタイ電ングでこの電位
信号vx′のディジタル値への変換動作を開始する。そ
して、一定時間後の時刻t@において変換動作が終了す
ると、変換終了信号訳註を10″信号とし、プロセッサ
ユニットyuに対して変換動作が終了したことを知らせ
る。これによシ、プロセッサユニット■はデータXの読
込みを行う。
Xが積分回路!’!Glへ入力される。これによシ、積
分回路1’ff1G、け入力信号マXをt4〜tlにお
いて積分し、第3図(j)に示すような電位信号Vl′
を出力し、ムp変換器ムDOの第2チヤンネルの五p変
換入力012 K供給する。すると、ムD変換器五Do
はチャンネル切換信号cH8が“l”になっていること
を条件に、第2チヤンネルのムD変換入力に供給されて
いる電位信号vx’を選択し、チップセレクト信号万が
“1”信号に復帰した時刻tlのタイ電ングでこの電位
信号vx′のディジタル値への変換動作を開始する。そ
して、一定時間後の時刻t@において変換動作が終了す
ると、変換終了信号訳註を10″信号とし、プロセッサ
ユニットyuに対して変換動作が終了したことを知らせ
る。これによシ、プロセッサユニット■はデータXの読
込みを行う。
一方、プpセッサエニツ)PUFiz軸の座標データX
を読込みを行うに先立ち、時刻tgにおいてチャンネル
切換信号OH&を11”信号とする。これは、次の時刻
t1において駆動電圧(vl)の印加を第1の抵抗膜1
から第2の抵抗膜2へ切換えるためである。従って、時
刻tjにおいてチップセレクト信号iが“0”信号に変
化すると、この立下りタイiングにおいてフリップフロ
ップ1y1の出力信号!Dは11”信号に変化し、一方
の出方信号XDFi“0”信号に変化する。これにょシ
、今度は第2の抵抗膜2に駆動電圧(Vりが印加される
ようになる。同時に1チップセレクト信号nが発生して
いる時刻ty−t、においてスイッチallがオ/状態
となる。従って、第1の抵抗膜1の電極1Bから取シ出
されたy軸方向の押圧点に対応した電位信号7丁は、こ
のスイッチallを介して積分回路I!GMに入力され
る。すると、積分回路I!G凰はこの入力電位信号VY
をチップセレクト信号iが発生している間積分し、その
積分信号VY′を信号nの発生停止後も保、持してムD
変換器ムDOの第1チヤンネルのムD変換人力OHIに
供給する。これによシ、時刻t・〜を書において信号V
!′はディジタル値Kt′換される。そして、変換終了
イぎ号藪罰の発生により、プロセッサユニットPυに読
込まれる。
を読込みを行うに先立ち、時刻tgにおいてチャンネル
切換信号OH&を11”信号とする。これは、次の時刻
t1において駆動電圧(vl)の印加を第1の抵抗膜1
から第2の抵抗膜2へ切換えるためである。従って、時
刻tjにおいてチップセレクト信号iが“0”信号に変
化すると、この立下りタイiングにおいてフリップフロ
ップ1y1の出力信号!Dは11”信号に変化し、一方
の出方信号XDFi“0”信号に変化する。これにょシ
、今度は第2の抵抗膜2に駆動電圧(Vりが印加される
ようになる。同時に1チップセレクト信号nが発生して
いる時刻ty−t、においてスイッチallがオ/状態
となる。従って、第1の抵抗膜1の電極1Bから取シ出
されたy軸方向の押圧点に対応した電位信号7丁は、こ
のスイッチallを介して積分回路I!GMに入力され
る。すると、積分回路I!G凰はこの入力電位信号VY
をチップセレクト信号iが発生している間積分し、その
積分信号VY′を信号nの発生停止後も保、持してムD
変換器ムDOの第1チヤンネルのムD変換人力OHIに
供給する。これによシ、時刻t・〜を書において信号V
!′はディジタル値Kt′換される。そして、変換終了
イぎ号藪罰の発生により、プロセッサユニットPυに読
込まれる。
以上のような動作は抑圧操作が継続している量線シ返し
行なわれる。これによシ、押圧点の座標データをX軸お
よびy軸の1対で得ることができる。
行なわれる。これによシ、押圧点の座標データをX軸お
よびy軸の1対で得ることができる。
次に1ムD変換器ムDoから出力される座標データZD
の読込みやその連続性の判別を行って、押圧点の移動に
忠実に追従した座標データとして出力するプロセッサユ
ニツ)PUの動作を第4図に示すフローチャートを参照
して説明する。
の読込みやその連続性の判別を行って、押圧点の移動に
忠実に追従した座標データとして出力するプロセッサユ
ニツ)PUの動作を第4図に示すフローチャートを参照
して説明する。
なお、第4図に示すフローチャートは、最終的に得られ
た座標データに基づき押圧点の軌跡をディスプレイ装置
の画面に表示することを前提として構成されているため
、押圧点の軌跡が表示されるまでの動作を説明する。
た座標データに基づき押圧点の軌跡をディスプレイ装置
の画面に表示することを前提として構成されているため
、押圧点の軌跡が表示されるまでの動作を説明する。
第4図において、まず押圧点の軌跡の表示色およびその
背景色などの条件設定が終了したかどうかがステップ1
00において判断される。この表示のための各種条件の
設定が完了していれば、軌跡表示処理に移る。
背景色などの条件設定が終了したかどうかがステップ1
00において判断される。この表示のための各種条件の
設定が完了していれば、軌跡表示処理に移る。
軌跡表示処理においては、まずステップ101において
フラグffLGが10H2に設定される。7ラグrl、
Gは、ムD変換器ムDOから読込んだ座標データZDが
軌跡表示処理へ突入した段階の最初の4のであるかどう
かを判別するためのもので、軌跡表示処理に突入した段
階では“Qil’″に設定され、最初の座標データであ
ることが指示される。フラグrLGの設定が終ると、ス
テップ102に示す「0ムLL II罵M8嶌」ルーチ
ンへ進む。
フラグffLGが10H2に設定される。7ラグrl、
Gは、ムD変換器ムDOから読込んだ座標データZDが
軌跡表示処理へ突入した段階の最初の4のであるかどう
かを判別するためのもので、軌跡表示処理に突入した段
階では“Qil’″に設定され、最初の座標データであ
ることが指示される。フラグrLGの設定が終ると、ス
テップ102に示す「0ムLL II罵M8嶌」ルーチ
ンへ進む。
「0ALL 81旧I」ルーチンは、押圧検出信号ai
rsが“0#になっているかどうかを判別するもので、
まず次のステップ1020に示すように信号8MSが′
Omか否かが判別される。もし、抵抗膜に対する押圧操
作によって押圧検出信号5ntsが0”信号になってい
れば、次のステップ103の「CムLLDム!ムR1ム
D」ルーチンへ進み、ムD変換器ムDOからX軸および
y軸の座標データX、 Yを読込み、演算処理装置0
PtJに内蔵されている第1のレジスタに記憶させる。
rsが“0#になっているかどうかを判別するもので、
まず次のステップ1020に示すように信号8MSが′
Omか否かが判別される。もし、抵抗膜に対する押圧操
作によって押圧検出信号5ntsが0”信号になってい
れば、次のステップ103の「CムLLDム!ムR1ム
D」ルーチンへ進み、ムD変換器ムDOからX軸および
y軸の座標データX、 Yを読込み、演算処理装置0
PtJに内蔵されている第1のレジスタに記憶させる。
この後、ステップ1030および1031において現在
読込んだX軸およびy軸の座標データXおよび!を第2
のレジスタにも座標データX′およびY′として記憶さ
せる。これは、押。
読込んだX軸およびy軸の座標データXおよび!を第2
のレジスタにも座標データX′およびY′として記憶さ
せる。これは、押。
圧点の軌跡を前回読込んだ座標データX、 Yを基点
とし、新たに読込んだ現在の座標データX、 Yを目
標点とし、これらの基点と目標点とを直線で結ぶことに
よシ表示するようにしているためである。すなわち、最
初に読込んだ座標データX、 Yについては軌跡を表
示するための基点になるべきデータが無いので、この最
初の座標データが軌跡の基点と目標点とに設定される。
とし、新たに読込んだ現在の座標データX、 Yを目
標点とし、これらの基点と目標点とを直線で結ぶことに
よシ表示するようにしているためである。すなわち、最
初に読込んだ座標データX、 Yについては軌跡を表
示するための基点になるべきデータが無いので、この最
初の座標データが軌跡の基点と目標点とに設定される。
このようにして最初の座標デー212丁の読込みが終了
すると、次のステップ104の「0ムLLaxiom
」ルーチンへ移り、ステップ1040において抑圧検出
信号111Bが“0′になっているかどうかが再び判別
される。ここで、押圧検出信号aweが10”であれば
、次の押圧点の座標データX、 Yを読込むためにス
テップ105の「CムLL Dムテム R罵ムD」ルー
イる。そして、ステップ1050において新たなX軸の
座標デー、りXを読込み、次にステップ1051におい
てy軸の座標データYを読込み、これらの座標データX
、Yを第1のレジスタに記憶させる。
すると、次のステップ104の「0ムLLaxiom
」ルーチンへ移り、ステップ1040において抑圧検出
信号111Bが“0′になっているかどうかが再び判別
される。ここで、押圧検出信号aweが10”であれば
、次の押圧点の座標データX、 Yを読込むためにス
テップ105の「CムLL Dムテム R罵ムD」ルー
イる。そして、ステップ1050において新たなX軸の
座標デー、りXを読込み、次にステップ1051におい
てy軸の座標データYを読込み、これらの座標データX
、Yを第1のレジスタに記憶させる。
次に、この第2番目の座標データの読込みが終了すると
ステップ106へ進み、ここにおいてフラグIGが’O
H’であるかどうかを判別する。すなわち、ステップ1
03の「0ムLL Dム!ムR罵ムD」ルーチンにおい
て読込んだ座標データX、 Yが最初のものであった
かどうかをフラグYLGによって判別する。もし、フラ
グrLGが“OH−ならば、ステップ107へ進みこの
ステップにおいて第1番目に読込み第2のレジス、り、
に記憶されている座標データX′と第2番目に読込み第
1のレジスタに記憶されている座標データXとの偏差を
求め、その偏差が”5H”(16進表示)以上の値にな
っているかどうかを判別する。同様に、第1番目の座標
データτ′と第2番目の座標データ!との偏差を求め、
そられば、ステップ107からステップ102へ戻シ、
再び[OムLL 8118罵」ルーチンの処理を行う。
ステップ106へ進み、ここにおいてフラグIGが’O
H’であるかどうかを判別する。すなわち、ステップ1
03の「0ムLL Dム!ムR罵ムD」ルーチンにおい
て読込んだ座標データX、 Yが最初のものであった
かどうかをフラグYLGによって判別する。もし、フラ
グrLGが“OH−ならば、ステップ107へ進みこの
ステップにおいて第1番目に読込み第2のレジス、り、
に記憶されている座標データX′と第2番目に読込み第
1のレジスタに記憶されている座標データXとの偏差を
求め、その偏差が”5H”(16進表示)以上の値にな
っているかどうかを判別する。同様に、第1番目の座標
データτ′と第2番目の座標データ!との偏差を求め、
そられば、ステップ107からステップ102へ戻シ、
再び[OムLL 8118罵」ルーチンの処理を行う。
なお、この場合には第2のレジスタに記憶されている座
標データ11. y/は無効とされ、第2番目に読込み
第1のレジスタに記憶されている座標データx、!が第
1番目のものとして処理されるようになる。すなわち、
前回読込んだ座標データX / 。
標データ11. y/は無効とされ、第2番目に読込み
第1のレジスタに記憶されている座標データx、!が第
1番目のものとして処理されるようになる。すなわち、
前回読込んだ座標データX / 。
Y′と今回新たに読込んだ座標データX、Yとの同一座
標軸上での偏差が“5H″以上ならば、前回読込んだ座
標データz/、 y/は抑圧強さの変動等に起因する
不連続性のデータと見做され、ステップ1030におい
て第1のレジスタに記憶されている最新の座標データX
、 Yが前回読込んだ座標データ¥ Y/として第2
のレジスタに記憶される。
標軸上での偏差が“5H″以上ならば、前回読込んだ座
標データz/、 y/は抑圧強さの変動等に起因する
不連続性のデータと見做され、ステップ1030におい
て第1のレジスタに記憶されている最新の座標データX
、 Yが前回読込んだ座標データ¥ Y/として第2
のレジスタに記憶される。
しかし、ステップ107における判別の結果、第1番目
に読込んだ座標データ¥ y/ と第2番目に読込ん
だ座標データX、Yとの偏差が15H’未満ならば、こ
れらのデータは連続性があるものとされ、次のステップ
108へ進み、座標データ11゜Y′がディスプレイ装
置の画面上の画素座標に対応するように変換される。こ
の後、ステップ109においてフラグffLGを“80
H′に設定し、さらにステップ111にシいて座標デー
タX、 Y(第1のレジスタに記憶)がディスプレイ装
置の画面上の画素座標に対応するように変換される。そ
して、次のステップ112において画素座標に変換され
たデータOX’ 、 OY’およびOX、OYが出力
レジスタRG3およびRG4に転送される。この後、ス
テップ113へ進み、ここにおいて“0ムLL LIM
B−ルーチンが実行され、データON’、 OY’
とデータOX、OYとで示される座標位置の画素間が直
線によって結ばれて画面上に表示さ・れる。
に読込んだ座標データ¥ y/ と第2番目に読込ん
だ座標データX、Yとの偏差が15H’未満ならば、こ
れらのデータは連続性があるものとされ、次のステップ
108へ進み、座標データ11゜Y′がディスプレイ装
置の画面上の画素座標に対応するように変換される。こ
の後、ステップ109においてフラグffLGを“80
H′に設定し、さらにステップ111にシいて座標デー
タX、 Y(第1のレジスタに記憶)がディスプレイ装
置の画面上の画素座標に対応するように変換される。そ
して、次のステップ112において画素座標に変換され
たデータOX’ 、 OY’およびOX、OYが出力
レジスタRG3およびRG4に転送される。この後、ス
テップ113へ進み、ここにおいて“0ムLL LIM
B−ルーチンが実行され、データON’、 OY’
とデータOX、OYとで示される座標位置の画素間が直
線によって結ばれて画面上に表示さ・れる。
このようにして2つの押圧点に対応する画素間が直線で
結合されて押圧点の軌跡として表示されると、次にステ
ップ114においてレジスタllG4の記憶データOX
、OYがレジスタllG3へ転送される。これは、第3
番目の押圧点に対応する画素座標が指定された場合に、
第2番目の押圧点に対応する画素座標を軌跡表示のため
の新たな基点としておくためのものである。
結合されて押圧点の軌跡として表示されると、次にステ
ップ114においてレジスタllG4の記憶データOX
、OYがレジスタllG3へ転送される。これは、第3
番目の押圧点に対応する画素座標が指定された場合に、
第2番目の押圧点に対応する画素座標を軌跡表示のため
の新たな基点としておくためのものである。
ステップ114の処理が終了すると、次のステップ11
5においてフラグffLGが”8011”に設定された
後ステップ1030へ戻シ、第1のレジスタに記憶され
ている第2番目の座標データXが第2のレジスタヘデー
タX′として記憶される。そして、次のステップにおい
て第1のレジスタに記憶されている第2番目の座標デー
タ!が第2のレジスタヘデータ!′とじて記憶される。
5においてフラグffLGが”8011”に設定された
後ステップ1030へ戻シ、第1のレジスタに記憶され
ている第2番目の座標データXが第2のレジスタヘデー
タX′として記憶される。そして、次のステップにおい
て第1のレジスタに記憶されている第2番目の座標デー
タ!が第2のレジスタヘデータ!′とじて記憶される。
これにより、第3番目の座標データを読込む状態に移シ
、ステップ104の「0ムrjL 8118罵」ルーチ
ンが再度実行される。そして、抑圧検出信号aM8が’
o”テsれば、ステップ105の「GALLDム!ムR
NムD」ルーチンが実行されてステップ1050および
1051において第3番目の新たな座標データ!、
Yが読込まれる。
、ステップ104の「0ムrjL 8118罵」ルーチ
ンが再度実行される。そして、抑圧検出信号aM8が’
o”テsれば、ステップ105の「GALLDム!ムR
NムD」ルーチンが実行されてステップ1050および
1051において第3番目の新たな座標データ!、
Yが読込まれる。
この第3番目の新たな座標データは第1のレジスタに記
憶される。
憶される。
次に、ステップ106においてフラグffI、Gが“0
1に′であるかどうかが判別される。この時、フラグI
LGはステップ115において”8011’に設定され
ているため、次のステップ110へ進み、今度は第2番
目の座標データz/、 y/と第3番目の座標データ
X、Yとの偏差が′5H′以上であるかが判別される。
1に′であるかどうかが判別される。この時、フラグI
LGはステップ115において”8011’に設定され
ているため、次のステップ110へ進み、今度は第2番
目の座標データz/、 y/と第3番目の座標データ
X、Yとの偏差が′5H′以上であるかが判別される。
もし、偏差が“5H”未満であれば、これらの座標デー
タは連続性がある奄のとされる。
タは連続性がある奄のとされる。
そして、ステップ111において新たに読込んだ第3番
目の座標データX、 Yがディスプレイ装置の画面上
の画素座標に対応するように変換され、この後前述の場
合と同様にして第2番目の押圧点に対応する画素座標と
第3番目の押圧点に対応する画素座標とが直線で結ばれ
て表示される。
目の座標データX、 Yがディスプレイ装置の画面上
の画素座標に対応するように変換され、この後前述の場
合と同様にして第2番目の押圧点に対応する画素座標と
第3番目の押圧点に対応する画素座標とが直線で結ばれ
て表示される。
このようにして順次読込まれる座標データは前後の座標
データ同志で連続性が判別された後抑圧点の移動に追従
した軌跡として表示される。すなわち、偏差が15M”
未満の座標データは互に連続性がある正しいもの(座標
データの真値)とされてディスプレイ装置に出力される
。
データ同志で連続性が判別された後抑圧点の移動に追従
した軌跡として表示される。すなわち、偏差が15M”
未満の座標データは互に連続性がある正しいもの(座標
データの真値)とされてディスプレイ装置に出力される
。
しかし、ステップ110における判別の結果、第2番目
の座標データ12 y/と第3番目の座標データX、
Yとの同一座標軸上での偏差が“5H″以上ならば
、ステップ110からステップ116へ進み、ことにお
いてフラグILGが“8111”よシ大きいか否かが判
断される。この時、フラグrLGは“8011”である
ためにステップ11Tへ進み、こむにおいてこのフラグ
’I&Ckの内容がインクリメントされる。すなわち、
フラグffI、Gはステップ117において’sin”
に更新される。この後、ステップ1030を経由せずに
ステップ104へ戻って再び「0ムfaL Ill璽畠
罵」ルーチンが実行される。そして、さらにステップ1
05において第4番目の座標データ!、!が読゛込まれ
る。次いで、ステップ106を介してステップ110へ
進み、こζにおいて第2のレジスタに記憶されている座
標データX / 。
の座標データ12 y/と第3番目の座標データX、
Yとの同一座標軸上での偏差が“5H″以上ならば
、ステップ110からステップ116へ進み、ことにお
いてフラグILGが“8111”よシ大きいか否かが判
断される。この時、フラグrLGは“8011”である
ためにステップ11Tへ進み、こむにおいてこのフラグ
’I&Ckの内容がインクリメントされる。すなわち、
フラグffI、Gはステップ117において’sin”
に更新される。この後、ステップ1030を経由せずに
ステップ104へ戻って再び「0ムfaL Ill璽畠
罵」ルーチンが実行される。そして、さらにステップ1
05において第4番目の座標データ!、!が読゛込まれ
る。次いで、ステップ106を介してステップ110へ
進み、こζにおいて第2のレジスタに記憶されている座
標データX / 。
!′と第1のレジスタに記憶されている座標データ!、
!との偏差が“5N”以上か否かが判別される。
!との偏差が“5N”以上か否かが判別される。
すなわち、ここで社ステップ11Tかう「0ALI。
81H1l Jルーチンへ直接戻ったため、第2のレジ
スタの記憶内容は更新されておらず第2番目の座標デー
タが前回、胱込んだ座標データの真値として記憶されて
いる。このため、ステップ110においては第2番目に
読込んだ座標データ¥ y/と第4番目に新たに読込
んだ座標データ!、Yとの偏差が“5N”以上か否かが
判別されることになる。
スタの記憶内容は更新されておらず第2番目の座標デー
タが前回、胱込んだ座標データの真値として記憶されて
いる。このため、ステップ110においては第2番目に
読込んだ座標データ¥ y/と第4番目に新たに読込
んだ座標データ!、Yとの偏差が“5N”以上か否かが
判別されることになる。
この判別の結果、両者の偏差が’5 II’未満ならば
、ステップ110からステップ111へ進んで第4番目
の座標データX、 Yの画素座標への変換が実行され
て前述の場合と同様にして軌跡として表示される。従っ
て、この場合には第3番目の座標データは無効とされる
。
、ステップ110からステップ111へ進んで第4番目
の座標データX、 Yの画素座標への変換が実行され
て前述の場合と同様にして軌跡として表示される。従っ
て、この場合には第3番目の座標データは無効とされる
。
しかし、ステップ110の判別の結果、第2番目および
第4番目の座標データの偏差が再び’5 M”以上なら
ば、ステップ116へ再び進み、こむにおいてフラグr
LGが“8111″より大きいか否かが2判別される。
第4番目の座標データの偏差が再び’5 M”以上なら
ば、ステップ116へ再び進み、こむにおいてフラグr
LGが“8111″より大きいか否かが2判別される。
この時、フラグffLGは“811″であるため、ステ
ップ117へ進みここにおいてrxraa−=’821
1’ Jにインクリメントされる。この後、前述の場合
と同様に、ステップ104.105の処理が行なわれた
後、ステップ1050および1051において第5番目
の座標データX、 Yが読込まれて第1のレジスタに記
憶される。
ップ117へ進みここにおいてrxraa−=’821
1’ Jにインクリメントされる。この後、前述の場合
と同様に、ステップ104.105の処理が行なわれた
後、ステップ1050および1051において第5番目
の座標データX、 Yが読込まれて第1のレジスタに記
憶される。
ソシて、ステップ106を介してステップ110へ進み
、再び第1のレジスタに記憶されている座標データ!、
!(すなわち、第5番目の座標データ)と第2のレジス
タに記憶されている座標データX/、 !’(す々わ
ち、第2番目の座標データ)との偏差が“51”以上か
否かが判別される。
、再び第1のレジスタに記憶されている座標データ!、
!(すなわち、第5番目の座標データ)と第2のレジス
タに記憶されている座標データX/、 !’(す々わ
ち、第2番目の座標データ)との偏差が“51”以上か
否かが判別される。
この判別の結果、両者の偏差が’5 ml’以上ならば
、ステップ118へ進んで再びフラグIEsQの判別が
行なわれる。この時、フラグrLGは既に“82H”に
なっているため、ステップ118へ進んで今度は“80
に#に設定される。この後、今度はステップ1030お
よび1031へ戻り、第2のレジスタに第5番目の座標
データX、Yが新たな真値として記憶され、以後ステッ
プ104に続く各ステップの処理が奥行される。
、ステップ118へ進んで再びフラグIEsQの判別が
行なわれる。この時、フラグrLGは既に“82H”に
なっているため、ステップ118へ進んで今度は“80
に#に設定される。この後、今度はステップ1030お
よび1031へ戻り、第2のレジスタに第5番目の座標
データX、Yが新たな真値として記憶され、以後ステッ
プ104に続く各ステップの処理が奥行される。
すなわち、ステップ105〜1051において第6番目
の座標データX、 Yが新たに読込まれ、続いてステ
ップ110において第5番目の座標データX/。
の座標データX、 Yが新たに読込まれ、続いてステ
ップ110において第5番目の座標データX/。
y/と第6番目の座標データX、Yとの偏差が“5H”
以上か否かが判別される。この判別の結果、偏差が“5
H”未満ならばステップ111において第6番目に読込
んだ座標データ!、Yの画素座標への変換が行なわれて
前述の場合と同様にして軌跡の表示が行なわれる。この
場合、第3のレジスタRG3には第2番目の押圧点に対
応した画素座標が記憶されているため、第2番目の押圧
点に対応する画素座標と第6番目の押圧点に対応する画
素座標とが直線で結ばれることになる。すなわち、前回
に真値とした座標データに対して“5I[#以上の偏差
の座標データが3回連続した場合には次の座標データは
真値として判別されて軌跡の表示のために出力される。
以上か否かが判別される。この判別の結果、偏差が“5
H”未満ならばステップ111において第6番目に読込
んだ座標データ!、Yの画素座標への変換が行なわれて
前述の場合と同様にして軌跡の表示が行なわれる。この
場合、第3のレジスタRG3には第2番目の押圧点に対
応した画素座標が記憶されているため、第2番目の押圧
点に対応する画素座標と第6番目の押圧点に対応する画
素座標とが直線で結ばれることになる。すなわち、前回
に真値とした座標データに対して“5I[#以上の偏差
の座標データが3回連続した場合には次の座標データは
真値として判別されて軌跡の表示のために出力される。
このように、ステップ110において前回の座標データ
との連続性が否定され九ものであっても、これがn回連
続したならば第n+1番目の座標データは正しいものと
して出力することによシ、押圧点座標の変化幅が大きい
場合の座標データの脱落を防止することができ、押圧点
の移動に忠実に追従した軌跡を表示させるととができる
。
との連続性が否定され九ものであっても、これがn回連
続したならば第n+1番目の座標データは正しいものと
して出力することによシ、押圧点座標の変化幅が大きい
場合の座標データの脱落を防止することができ、押圧点
の移動に忠実に追従した軌跡を表示させるととができる
。
さて、抑圧操作は時間的に連続して行なわれるとは限ら
ず、ある一定の時間間隔をおいて行なわれることがある
。このような場合には最初の抑圧操作が連続しているの
か否かを識別しなければ、2つの独立した抑圧操作によ
る押圧点の軌跡が連続したものとなる。
ず、ある一定の時間間隔をおいて行なわれることがある
。このような場合には最初の抑圧操作が連続しているの
か否かを識別しなければ、2つの独立した抑圧操作によ
る押圧点の軌跡が連続したものとなる。
そこで、このフローチャートにけ押圧操作の時間間隔を
識別するためのソフトウェア的なタイマ手段が設けられ
ている。
識別するためのソフトウェア的なタイマ手段が設けられ
ている。
すなわち、ステップ1020において押圧検出信号aS
Sが0”か否かが判別されるが、信号8111が101
でなけれは押圧操作がなされていないものとしてステッ
プ1021へ進み、ここにおいてソフトタイiの値!M
Dが“11′″(16進表示)に設定される。この後、
ステップ1022において信号8M8が10”か否かを
再び判別し、′0”でなければ次のステップIQ2にへ
進み、ここにおいてソフトタイマの値!■が“Omにな
っているがどうが、すなわち所定時間経過したかどうか
を判別する。
Sが0”か否かが判別されるが、信号8111が101
でなけれは押圧操作がなされていないものとしてステッ
プ1021へ進み、ここにおいてソフトタイiの値!M
Dが“11′″(16進表示)に設定される。この後、
ステップ1022において信号8M8が10”か否かを
再び判別し、′0”でなければ次のステップIQ2にへ
進み、ここにおいてソフトタイマの値!■が“Omにな
っているがどうが、すなわち所定時間経過したかどうか
を判別する。
この判別の結果、!MDが“0”でなければステップ1
024においてソフトタイiの値をデクレメント(!M
D−1) L、ス? ラフ1022 ヘRル。ソシテ、
このステップ1022において再び信号81Bが“0−
か否かを判別する。そして、この段階においても信号s
maが“Omでなければ朱だ1押圧縁作がなされていな
いものとしてステップ1o23→1o24→1022の
処理を繰シ返し、この繰シ返しの中でソ7)/イマの値
!MDをl!ずつ減じて行く。この結果、ソフトタイi
の値テMDが10”Kなれば、所定時間の関抑圧操作が
°’4.−<れながったものとしてステップ100の初
期条件の判別ステップへ復帰させる。
024においてソフトタイiの値をデクレメント(!M
D−1) L、ス? ラフ1022 ヘRル。ソシテ、
このステップ1022において再び信号81Bが“0−
か否かを判別する。そして、この段階においても信号s
maが“Omでなければ朱だ1押圧縁作がなされていな
いものとしてステップ1o23→1o24→1022の
処理を繰シ返し、この繰シ返しの中でソ7)/イマの値
!MDをl!ずつ減じて行く。この結果、ソフトタイi
の値テMDが10”Kなれば、所定時間の関抑圧操作が
°’4.−<れながったものとしてステップ100の初
期条件の判別ステップへ復帰させる。
しかし、ソフトタイiの値TMDが“0”にならないう
ちに押圧操作が行なわれると、ステップ1o22からス
テップ103の(−0ALL DATA RNADJ
k −チンへ移シ、座標データX、Yの続込みを順次行
う。
ちに押圧操作が行なわれると、ステップ1o22からス
テップ103の(−0ALL DATA RNADJ
k −チンへ移シ、座標データX、Yの続込みを順次行
う。
従って、連続的な抑圧操作が行なわれた場合には前述の
ようにして座標データX、Yが連続して順次読込まれる
ようになる。しかし、所定時間隔てた2つの抑圧操作に
ついては、最初の抑圧操作が終った後ステップ100へ
復帰し、次の抑圧操作に対する座標データ!、 Yの
読込みが7ラグWLGを01’とした後始められるよう
になる。この結果、時間的に大きく離れた抑圧操作に対
する座標データX、 Yは互いに区別されてディスプ
レイ製電に出力されることにな如、全く独立した軌跡と
して表示することができる。
ようにして座標データX、Yが連続して順次読込まれる
ようになる。しかし、所定時間隔てた2つの抑圧操作に
ついては、最初の抑圧操作が終った後ステップ100へ
復帰し、次の抑圧操作に対する座標データ!、 Yの
読込みが7ラグWLGを01’とした後始められるよう
になる。この結果、時間的に大きく離れた抑圧操作に対
する座標データX、 Yは互いに区別されてディスプ
レイ製電に出力されることにな如、全く独立した軌跡と
して表示することができる。
これは、ステップ1040〜1044についても全く同
様である。
様である。
以上説明したように、押圧点の移動に伴って順次取り出
される座標データ相互間の偏差を求め、その偏差が所定
値未満の座標データのみを連続性のある座標データとし
、他は不正常なものとして無視すると共に、接触点電位
のサンプリング速度と押圧点の移動方向および移動速度
との関連で前記偏差が所定値以上となった場合、この所
定値以上の偏差の座標データがn個連続した時に第n個
目の座標データを連続性のある座標データとするように
したものである。。
される座標データ相互間の偏差を求め、その偏差が所定
値未満の座標データのみを連続性のある座標データとし
、他は不正常なものとして無視すると共に、接触点電位
のサンプリング速度と押圧点の移動方向および移動速度
との関連で前記偏差が所定値以上となった場合、この所
定値以上の偏差の座標データがn個連続した時に第n個
目の座標データを連続性のある座標データとするように
したものである。。
このため、抑圧強さの変動あるいは点接触状態の変動が
あっても、押圧点の移動に追従した連続性のある座標デ
ータを出力することができる。同時に、押圧点座標の変
化幅が大きい場合の座標データの脱落を防止することが
できる。
あっても、押圧点の移動に追従した連続性のある座標デ
ータを出力することができる。同時に、押圧点座標の変
化幅が大きい場合の座標データの脱落を防止することが
できる。
第1図(&)は被抑圧体の構造を示す図、第1図(b)
〜(・)は従来の欠点を説明するための図、第2図は本
発明の一実施例を示すブロック図、第3図は七−の動作
を説明するためのタイムチャート、第4図は座標データ
に基づく軌跡表示に到るまでの70−チャートである。 1.2・・・φ抵抗膜、yyl、 ffff、・・$!
フリップ70ツブ、ムGl eムG、・・拳・アンドゲ
ート、awl、 Bwl * −−拳スイッチ、Qs〜
Q*”拳・トランジスタ、ITGI、 I!Gl@・Φ
・積分回路、ムDO・−・・ムD変換器、PU・争・・
プロセツサユニツ)、0Ptl−−−・演算処理装置、
11−・・・メそり。 特許出願人 新日本電気株式会社 代 理 人 山 川 政 樹(ほか1名)−間内浄
書(内容に変更なし) 手続補正書(7表つ 特許庁長官殿 “1flTn @−、/
4.−1″1.1f件の表示 昭和5G年特 許願第(92ヲ50号2」トg目の名
称 □□□相聞美比笠置 装、補正をする者
〜(・)は従来の欠点を説明するための図、第2図は本
発明の一実施例を示すブロック図、第3図は七−の動作
を説明するためのタイムチャート、第4図は座標データ
に基づく軌跡表示に到るまでの70−チャートである。 1.2・・・φ抵抗膜、yyl、 ffff、・・$!
フリップ70ツブ、ムGl eムG、・・拳・アンドゲ
ート、awl、 Bwl * −−拳スイッチ、Qs〜
Q*”拳・トランジスタ、ITGI、 I!Gl@・Φ
・積分回路、ムDO・−・・ムD変換器、PU・争・・
プロセツサユニツ)、0Ptl−−−・演算処理装置、
11−・・・メそり。 特許出願人 新日本電気株式会社 代 理 人 山 川 政 樹(ほか1名)−間内浄
書(内容に変更なし) 手続補正書(7表つ 特許庁長官殿 “1flTn @−、/
4.−1″1.1f件の表示 昭和5G年特 許願第(92ヲ50号2」トg目の名
称 □□□相聞美比笠置 装、補正をする者
Claims (1)
- 所定間隔で縦横に配置された点状のスペーサを挾んで対
向配置された第1および第2の抵抗膜を有し、第1の抵
抗膜のX軸方向および第2の抵抗膜のYll11方向に
交互に電圧を加え、一方の抵抗膜の抑圧による両抵抗膜
の接触点における電位信号を電圧不印加側の抵抗膜の電
圧印加電極から交互に攻如出し、これらの電位信号をデ
ィジタル値に変換して抵抗膜の押圧点のX軸およびY軸
の座標データとして出力する座標検出装置において、押
圧点の連続的移動に伴って順次取シ出される座標データ
を入力とし、新たな時刻に取シ出した座標データとその
前に真値とした座標データとの偏差を求める演算手段と
、前記偏差が所定値以内か否かを検出する比較手段と、
この比較手段の比較結果により所定値以上の偏差の座標
データがn(n≧2の整It)個連続した仁とを検出す
る検出手段と、前記比較手段の比較結果によシ偏差が所
定値未満の座標データおよび前記検出手段の検出結果に
よ抄偏差が所定値以上の座標データのうち第n個目の座
標データを新良な座標データの真値として出力すゐ出力
手段とを具備して成る座標検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56192350A JPS5894071A (ja) | 1981-11-30 | 1981-11-30 | 座標検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56192350A JPS5894071A (ja) | 1981-11-30 | 1981-11-30 | 座標検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5894071A true JPS5894071A (ja) | 1983-06-04 |
| JPH0225532B2 JPH0225532B2 (ja) | 1990-06-04 |
Family
ID=16289809
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56192350A Granted JPS5894071A (ja) | 1981-11-30 | 1981-11-30 | 座標検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5894071A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0553715A (ja) * | 1991-08-27 | 1993-03-05 | Omron Corp | デジタイザ |
| WO2007148730A1 (ja) * | 2006-06-22 | 2007-12-27 | Konami Digital Entertainment Co., Ltd. | 線形状処理装置、線形状処理方法、情報記録媒体、ならびに、プログラム |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0544100U (ja) * | 1991-11-13 | 1993-06-15 | 神田商事株式会社 | パツチワークボード |
-
1981
- 1981-11-30 JP JP56192350A patent/JPS5894071A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0553715A (ja) * | 1991-08-27 | 1993-03-05 | Omron Corp | デジタイザ |
| WO2007148730A1 (ja) * | 2006-06-22 | 2007-12-27 | Konami Digital Entertainment Co., Ltd. | 線形状処理装置、線形状処理方法、情報記録媒体、ならびに、プログラム |
| US8164578B2 (en) | 2006-06-22 | 2012-04-24 | Konami Digital Entertainment Co., Ltd | Linear shape processing device, linear shape processing method, information recording medium, and program |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0225532B2 (ja) | 1990-06-04 |
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