JPH0225529B2 - - Google Patents
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- JPH0225529B2 JPH0225529B2 JP56192351A JP19235181A JPH0225529B2 JP H0225529 B2 JPH0225529 B2 JP H0225529B2 JP 56192351 A JP56192351 A JP 56192351A JP 19235181 A JP19235181 A JP 19235181A JP H0225529 B2 JPH0225529 B2 JP H0225529B2
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- coordinate data
- signal
- resistive film
- point
- pressing
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
- G06F3/045—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means using resistive elements, e.g. a single continuous surface or two parallel surfaces put in contact
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Human Computer Interaction (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、被押圧体の押圧点位置を検出し、こ
の押圧点位置を示すX軸およびY軸の座標データ
を出力する座標検出装置に関し、特に前記被押圧
体として所定間隔で縦横に配置された点状のスペ
ーサを挾んで対向配置された2枚の抵抗膜を用い
た座標検出装置に関するものである。
の押圧点位置を示すX軸およびY軸の座標データ
を出力する座標検出装置に関し、特に前記被押圧
体として所定間隔で縦横に配置された点状のスペ
ーサを挾んで対向配置された2枚の抵抗膜を用い
た座標検出装置に関するものである。
従来において、例えば特開昭56−11580号公報
に開示されているように、枠状のスペーサを挾ん
で対向配置された2枚の抵抗膜の一方を押圧して
両抵抗膜を接触させ、この接触点における電位を
検出することにより筆記具などの押圧体の押圧点
座標を得、これにより手書き文字や図形等をコン
ピユータに入力するようにした座標検出装置が知
られている。
に開示されているように、枠状のスペーサを挾ん
で対向配置された2枚の抵抗膜の一方を押圧して
両抵抗膜を接触させ、この接触点における電位を
検出することにより筆記具などの押圧体の押圧点
座標を得、これにより手書き文字や図形等をコン
ピユータに入力するようにした座標検出装置が知
られている。
ところが、上記の座標検出装置においては2枚
の抵抗膜相互間の絶縁を枠状のスペーサによつて
行つているため、抵抗膜の面積を広くとると抵抗
膜が自重により撓んでしまうという不都合があ
る。
の抵抗膜相互間の絶縁を枠状のスペーサによつて
行つているため、抵抗膜の面積を広くとると抵抗
膜が自重により撓んでしまうという不都合があ
る。
そこで、被押圧体として第1図aに示すように
2枚の抵抗膜1および2を、所定間隔で縦横に配
置された点状のスペーサ3を介して対向配置し、
一方の抵抗膜を押圧することにより第1図bの断
面図に示すように両抵抗膜をスペーサ3の不在部
分で点接触させるようにした構造のものがある。
そして、押圧体の押圧点位置を検出し、その座標
データを出力するに当つては、前述の特開昭56−
11580号公報に開示されている検出動作の原理と
同様に、第1の抵抗膜1のX軸方向に電極1Aお
よび1Bを利用して所定電圧を印加する動作と、
第2の抵抗膜2のY軸方向に電極2Aおよび2B
を利用して所定電圧を印加する動作とを交互に行
い、両抵抗膜の接触点における電位を電圧不印加
側の抵抗膜の電極から交互に取り出し、これらの
電位をデイジタル値に変換してX軸およびY軸の
座標データとして出力するように構成される。従
つて、このような被押圧体を使用した座標検出装
置においては、被押圧体の面積を広くとれ、特に
手書き図面などをコンピユータに入力する場合に
最適なものとなる。
2枚の抵抗膜1および2を、所定間隔で縦横に配
置された点状のスペーサ3を介して対向配置し、
一方の抵抗膜を押圧することにより第1図bの断
面図に示すように両抵抗膜をスペーサ3の不在部
分で点接触させるようにした構造のものがある。
そして、押圧体の押圧点位置を検出し、その座標
データを出力するに当つては、前述の特開昭56−
11580号公報に開示されている検出動作の原理と
同様に、第1の抵抗膜1のX軸方向に電極1Aお
よび1Bを利用して所定電圧を印加する動作と、
第2の抵抗膜2のY軸方向に電極2Aおよび2B
を利用して所定電圧を印加する動作とを交互に行
い、両抵抗膜の接触点における電位を電圧不印加
側の抵抗膜の電極から交互に取り出し、これらの
電位をデイジタル値に変換してX軸およびY軸の
座標データとして出力するように構成される。従
つて、このような被押圧体を使用した座標検出装
置においては、被押圧体の面積を広くとれ、特に
手書き図面などをコンピユータに入力する場合に
最適なものとなる。
この場合、スペーサが点状であるため、押圧点
を連続的に移動しても押圧点の座標データは押圧
点の移動速度に関連した時間間隔の時系列データ
となる。従つて、このような時系列の座標データ
列を用いて押圧点の軌跡を表示する場合、コンピ
ユータ側においては隣接する座標データに基づき
点状のスペーサ1個分に相当する間隙の座標を補
間演算によつて求め、この演算値と時系列の座標
データ列によつて押圧点の軌跡を連続的な軌跡と
して表示することが必要となる。
を連続的に移動しても押圧点の座標データは押圧
点の移動速度に関連した時間間隔の時系列データ
となる。従つて、このような時系列の座標データ
列を用いて押圧点の軌跡を表示する場合、コンピ
ユータ側においては隣接する座標データに基づき
点状のスペーサ1個分に相当する間隙の座標を補
間演算によつて求め、この演算値と時系列の座標
データ列によつて押圧点の軌跡を連続的な軌跡と
して表示することが必要となる。
ところで、このような座標検出装置においては
例えば互いに独立した2本の線を描く場合のよう
に、押圧操作自体を時間的に不連続で行う場合が
多い。
例えば互いに独立した2本の線を描く場合のよう
に、押圧操作自体を時間的に不連続で行う場合が
多い。
しかし、従来においては押圧点の移動によつて
取り出される座標データを単純に時系列で出力す
るようにしているため、互いに独出した2本の線
に対応した押圧操作を行つても、座標データ列に
おける座標データ相互間の時間間隔が点状のスペ
ーサ部分を移動する時の時間間隔なのか、あるい
は押圧操作自体の時間的不連続に起因するものな
のかを識別できず。1本の連続した線として表示
され、押圧操作に忠実に追従した軌跡を表示させ
ることができなくなるという欠点がある。
取り出される座標データを単純に時系列で出力す
るようにしているため、互いに独出した2本の線
に対応した押圧操作を行つても、座標データ列に
おける座標データ相互間の時間間隔が点状のスペ
ーサ部分を移動する時の時間間隔なのか、あるい
は押圧操作自体の時間的不連続に起因するものな
のかを識別できず。1本の連続した線として表示
され、押圧操作に忠実に追従した軌跡を表示させ
ることができなくなるという欠点がある。
一方、スペーサが点状であるため、押圧点にお
ける点接触面積が押圧強さの変動により第1図c
またはdの断面図に示す如く種々変化し、これに
伴つて一方の抵抗膜から取り出す接触点の電位が
変動し、例えば押圧点を第1図eの記号Aに示す
ように連続的に直線状に移動させたとしても、点
接触面積の大小に応じて接触点の電位に変動が生
じてX軸、Y軸の座標データが不連続なものとな
り、コンピユータ側においては第1図eの記号B
に示すような曲線の座標データとして認識あるい
は表示してしまうという欠点がある。
ける点接触面積が押圧強さの変動により第1図c
またはdの断面図に示す如く種々変化し、これに
伴つて一方の抵抗膜から取り出す接触点の電位が
変動し、例えば押圧点を第1図eの記号Aに示す
ように連続的に直線状に移動させたとしても、点
接触面積の大小に応じて接触点の電位に変動が生
じてX軸、Y軸の座標データが不連続なものとな
り、コンピユータ側においては第1図eの記号B
に示すような曲線の座標データとして認識あるい
は表示してしまうという欠点がある。
本発明はこのような欠点を解決するためになさ
れたもので、その目的は時間的に不連続な押圧操
作における座標データを識別し、さらに押圧強さ
の変動に起因する座標データの不連続現象を防止
し、押圧点の移動に忠実に追従した軌跡の座標デ
ータを出力し得るようにした座標検出装置を提供
することにある。
れたもので、その目的は時間的に不連続な押圧操
作における座標データを識別し、さらに押圧強さ
の変動に起因する座標データの不連続現象を防止
し、押圧点の移動に忠実に追従した軌跡の座標デ
ータを出力し得るようにした座標検出装置を提供
することにある。
このために本発明は、押圧点の移動に伴つて順
次取り出される座標データ相互間の偏差を求め、
その偏差が所定値未満の座標データのみを、連続
性のある座標データとし、他の不正常なものとし
て無視すると共に、抵抗膜の押圧によつて両抵抗
膜の接触点に生じる電位信号の発生時間間隔を監
視するタイマ手段を設け、前記電位信号の発生時
間間隔が所定値未満の状態で取り出される座標デ
ータは押圧点の不連続移動による座標データとし
て出力し、所定値以上の状態で取り出される座標
データは押圧点の不連続移動による座標データと
して出力するようにしたものである。
次取り出される座標データ相互間の偏差を求め、
その偏差が所定値未満の座標データのみを、連続
性のある座標データとし、他の不正常なものとし
て無視すると共に、抵抗膜の押圧によつて両抵抗
膜の接触点に生じる電位信号の発生時間間隔を監
視するタイマ手段を設け、前記電位信号の発生時
間間隔が所定値未満の状態で取り出される座標デ
ータは押圧点の不連続移動による座標データとし
て出力し、所定値以上の状態で取り出される座標
データは押圧点の不連続移動による座標データと
して出力するようにしたものである。
なお、この明細書においては順次取り出される
座標データ列のうち押圧点の移動に追従した正常
なものと判断された座標データは、座標データの
真値として定義して説明のために使用する。
座標データ列のうち押圧点の移動に追従した正常
なものと判断された座標データは、座標データの
真値として定義して説明のために使用する。
以下、本発明を図示する実施例に基づき詳細に
説明する。
説明する。
第2図は本発明の一実施例を示すブロツク図で
ある。同図において、第1の抵抗膜1の電極1A
はトランジスタQ1を介して正の駆動電圧+V1に
接続され、一方の電極1BはトランジスタQ2を
介してアース電位に接続されている。また、第2
の抵抗膜2の電極2AはトランジスタQ3を介し
て正の駆動電圧+V1に接続され、一方の電極2
BはトランジスタQ4を介してアース電位に接続
されている。
ある。同図において、第1の抵抗膜1の電極1A
はトランジスタQ1を介して正の駆動電圧+V1に
接続され、一方の電極1BはトランジスタQ2を
介してアース電位に接続されている。また、第2
の抵抗膜2の電極2AはトランジスタQ3を介し
て正の駆動電圧+V1に接続され、一方の電極2
BはトランジスタQ4を介してアース電位に接続
されている。
これらのトランジスタQ1〜Q4は、フリツプフ
ロツプFF1の出力端子Qおよびからそれぞれ出
力される駆動電圧交互印加用の信号YD,XDに
より導通および非導通が制御されるように構成さ
れている。
ロツプFF1の出力端子Qおよびからそれぞれ出
力される駆動電圧交互印加用の信号YD,XDに
より導通および非導通が制御されるように構成さ
れている。
フリツプフロツプFF1は2つの抵抗膜1,2に
対する駆動電圧の印加を交互に切換えるためのも
のであり、D型フリツプフロツプによつて構成さ
れている。そのデータ入力端子Dにはプロセツサ
ユニツトPUからチヤンネル切換信号CHSが入力
され、またクロツク入力端子CKにはインバータ
INV1によつてチツプセレクト信号を反転した
信号CSが入力されている。
対する駆動電圧の印加を交互に切換えるためのも
のであり、D型フリツプフロツプによつて構成さ
れている。そのデータ入力端子Dにはプロセツサ
ユニツトPUからチヤンネル切換信号CHSが入力
され、またクロツク入力端子CKにはインバータ
INV1によつてチツプセレクト信号を反転した
信号CSが入力されている。
従つて、フリツプフロツプFF1は論理“1”の
チヤンネル切換信号CHSが入力されている時に、
論理“0”のチツプセレクト信号がプロセツ
サユニツトPUから発生されると、このチツプセ
レクト信号の立下りタイミング後において論
理“1”の信号YDおよび論理“0”の信号XD
を出力する。すなわち、フリツプフロツプFF1は
論理“1”のチヤンネル切換信号CHSが入力さ
れ、かつ論理“0”のチツプセレクト信号が
発生すると、トランジスタQ3およびQ4を導通さ
せ、第2の抵抗膜2の駆動電圧V1を印加し、矢
印で示すy軸方向の電位勾配を生じさせる信号を
出力する。
チヤンネル切換信号CHSが入力されている時に、
論理“0”のチツプセレクト信号がプロセツ
サユニツトPUから発生されると、このチツプセ
レクト信号の立下りタイミング後において論
理“1”の信号YDおよび論理“0”の信号XD
を出力する。すなわち、フリツプフロツプFF1は
論理“1”のチヤンネル切換信号CHSが入力さ
れ、かつ論理“0”のチツプセレクト信号が
発生すると、トランジスタQ3およびQ4を導通さ
せ、第2の抵抗膜2の駆動電圧V1を印加し、矢
印で示すy軸方向の電位勾配を生じさせる信号を
出力する。
一方、フリツプフロツプFF1は論理“0”のチ
ヤンネル切換信号CHSが入力されている時に、
論理“0”のチヤンネルセレクト信号がプロ
セツサユニツトPUから発生されると、このチツ
プセレクト信号の立下りタイミング後におい
て論理“0”のの信号YDおよび論理“1”の信
号XDを出力する。すなわち、フリツプフロツプ
FF1は論理“0”のチヤンネル切換信号CHSが入
力され、かつ論理“0”のチツプセレクト信号
CSが発生すると、トランジスタQ1およびQ2を導
通させ、第1の抵抗膜1に駆動電圧V1を印加し、
矢印で示すx軸方向の電位勾配を生じさせる信号
を出力する。
ヤンネル切換信号CHSが入力されている時に、
論理“0”のチヤンネルセレクト信号がプロ
セツサユニツトPUから発生されると、このチツ
プセレクト信号の立下りタイミング後におい
て論理“0”のの信号YDおよび論理“1”の信
号XDを出力する。すなわち、フリツプフロツプ
FF1は論理“0”のチヤンネル切換信号CHSが入
力され、かつ論理“0”のチツプセレクト信号
CSが発生すると、トランジスタQ1およびQ2を導
通させ、第1の抵抗膜1に駆動電圧V1を印加し、
矢印で示すx軸方向の電位勾配を生じさせる信号
を出力する。
従つて、プロセツサユニツトPUから送出する
チヤンネル切換信号CHSを論理“1”と論理
“0”とで交互に切換えることにより、第1の抵
抗膜1のx軸方向および第2の抵抗膜のy軸方向
に所定の電位勾配を交互に生じさせることができ
る。これにより、一方の抵抗膜の任意の座標位置
を押圧して両抵抗膜を点接触させると、y軸方向
に電位勾配を生じさせている時には押圧点のy軸
方向の位置を両抵抗膜の接触点および一方の抵抗
膜1の電極1Bを介してそのy軸方向の押圧点位
置に対応したレベルの電位信号VYとして取り出
すことができ、逆にx軸方向に電位勾配を生じさ
せている時には押圧点のx軸方向の位置を両抵抗
膜の接触点および一方の抵抗膜2の電極2Bを介
してそのx軸方向の押圧点位置に対応したレベル
の電位信号VXとして取り出すことができる。
チヤンネル切換信号CHSを論理“1”と論理
“0”とで交互に切換えることにより、第1の抵
抗膜1のx軸方向および第2の抵抗膜のy軸方向
に所定の電位勾配を交互に生じさせることができ
る。これにより、一方の抵抗膜の任意の座標位置
を押圧して両抵抗膜を点接触させると、y軸方向
に電位勾配を生じさせている時には押圧点のy軸
方向の位置を両抵抗膜の接触点および一方の抵抗
膜1の電極1Bを介してそのy軸方向の押圧点位
置に対応したレベルの電位信号VYとして取り出
すことができ、逆にx軸方向に電位勾配を生じさ
せている時には押圧点のx軸方向の位置を両抵抗
膜の接触点および一方の抵抗膜2の電極2Bを介
してそのx軸方向の押圧点位置に対応したレベル
の電位信号VXとして取り出すことができる。
このようにして取り出される押圧点のy軸およ
びx軸方向の座標位置に対応したレベルの電位信
号VY,VXはそれぞれスイツチSW1,SW2を介
して積分回路ITG1,ITG2に入力される。
びx軸方向の座標位置に対応したレベルの電位信
号VY,VXはそれぞれスイツチSW1,SW2を介
して積分回路ITG1,ITG2に入力される。
ここで、2つの抵抗膜1,2は、駆動電圧V1
が交互に印加されている関係上、積分回路ITG1,
ITG2にはアース電位が直接印加されて積分動作
が遅くなり、ひいては電位信号VY,VXのデイ
ジタル値への変換速度が遅くなる。これを防ぐた
めにスイツチSW1およびSW2が設けられている。
すなわち、この種の座標検出装置では電位信号
VY,VXに含まれるリツプル成分やノイズ成分
を除去し、電位信号VY,VXの平均的な値をデ
イジタル値に変換するようにAD変換器の入力段
にコンデンサを含む積分回路を付加するのが一般
的に行なわれているが、このような構成において
駆動電圧印加側のアース電位が積分回路ITG1ま
たはITG2に直接入力されるとこれらの積分回路
のコンデンサCはアース電位の入力により放電さ
れてしまい、各抵抗膜から取り出した電位信号
VY,VXを積分する動作時には、アース電位か
ら充電を再び開始させなければならない。このた
め、アース電位から電位信号VY,VXのレベル
に充電させるまでの時間だけ積分動作が遅れてし
まい、座標データへの変換速度が遅くなる。
が交互に印加されている関係上、積分回路ITG1,
ITG2にはアース電位が直接印加されて積分動作
が遅くなり、ひいては電位信号VY,VXのデイ
ジタル値への変換速度が遅くなる。これを防ぐた
めにスイツチSW1およびSW2が設けられている。
すなわち、この種の座標検出装置では電位信号
VY,VXに含まれるリツプル成分やノイズ成分
を除去し、電位信号VY,VXの平均的な値をデ
イジタル値に変換するようにAD変換器の入力段
にコンデンサを含む積分回路を付加するのが一般
的に行なわれているが、このような構成において
駆動電圧印加側のアース電位が積分回路ITG1ま
たはITG2に直接入力されるとこれらの積分回路
のコンデンサCはアース電位の入力により放電さ
れてしまい、各抵抗膜から取り出した電位信号
VY,VXを積分する動作時には、アース電位か
ら充電を再び開始させなければならない。このた
め、アース電位から電位信号VY,VXのレベル
に充電させるまでの時間だけ積分動作が遅れてし
まい、座標データへの変換速度が遅くなる。
このために、スイツチSW1はフリツプフロツプ
FF1の出力信号YDが“1”で、かつインバータ
INV1から出力されるチツプセレクト信号CSが
“1”の時のみアンドゲートAG1の出力信号によ
りオン状態(閉成状態)とされ、第1の抵抗膜1
に駆動電圧V1を印加している時にはオフ状態と
され、アース電位は積分回路ITG1の入力に直接
加わらないように制御される。また、スイツチ
SW2はフリツプフロツプFF1の出力信号XDが
“1”で、チツプセレクト信号CSが“1”の時の
みアンドゲートAG1の出力信号によりオン状態
(閉成状態)とされ、第2の抵抗膜2に駆動電圧
V1を印加している時にはオフ状態とされ、アー
ス電位は積分回路ITG2の入力に直接加わらない
ように制御される。
FF1の出力信号YDが“1”で、かつインバータ
INV1から出力されるチツプセレクト信号CSが
“1”の時のみアンドゲートAG1の出力信号によ
りオン状態(閉成状態)とされ、第1の抵抗膜1
に駆動電圧V1を印加している時にはオフ状態と
され、アース電位は積分回路ITG1の入力に直接
加わらないように制御される。また、スイツチ
SW2はフリツプフロツプFF1の出力信号XDが
“1”で、チツプセレクト信号CSが“1”の時の
みアンドゲートAG1の出力信号によりオン状態
(閉成状態)とされ、第2の抵抗膜2に駆動電圧
V1を印加している時にはオフ状態とされ、アー
ス電位は積分回路ITG2の入力に直接加わらない
ように制御される。
これにより、コンデンサCを含む積分回路
ITG1,ITG2は、チツプセレクト信号CSの発生期
間だけ電位信号VY,VXの積分動作を行なつて
その積分値を次のチツプセレクト信号CSの発生
タイミングに新たな電位信号VY,VXが印加さ
れるまで保持するようになる。この場合、通常の
押圧操作においては電位信号VY,VXのレベル
の変化率は比較的小さいため、積分回路ITG1,
ITG2におけるコンデンサCは瞬時に新たな電位
信号VY,VXのレベルに充電されるようになり、
積分動作を極めて迅速に終了させることができ
る。
ITG1,ITG2は、チツプセレクト信号CSの発生期
間だけ電位信号VY,VXの積分動作を行なつて
その積分値を次のチツプセレクト信号CSの発生
タイミングに新たな電位信号VY,VXが印加さ
れるまで保持するようになる。この場合、通常の
押圧操作においては電位信号VY,VXのレベル
の変化率は比較的小さいため、積分回路ITG1,
ITG2におけるコンデンサCは瞬時に新たな電位
信号VY,VXのレベルに充電されるようになり、
積分動作を極めて迅速に終了させることができ
る。
このようにして積分回路ITG1およびITG2にお
いて積分された電位信号VY′およびVX′は2チヤ
ンネルのAD変換入力CH1,CH2を有するAD
変換器ADCに入力される。
いて積分された電位信号VY′およびVX′は2チヤ
ンネルのAD変換入力CH1,CH2を有するAD
変換器ADCに入力される。
AD変換器ADCは、チヤンネル切換信号CHS
が“0”の時には第1チヤンネルのAD変換入力
CH1に入力されている電位信号VY′を選択し、
チツプセレクト信号が“1”信号になつた後
にこの信号VY′を対応するデイジタル値に変換す
る。そして、一定時間後にその変換動作が終了す
ると論理“0”の変換終了信号とともに、
変換値をデータ構成がシリアルなy軸の座標デー
タYとして出力する。また、チヤンネル切換信号
CHSが“1”の時には第2チヤンネルのAD変換
入力CH2に入力されている電位信号VX′を選択
し、チツプセレクト信号が“1”信号になつ
た後にこの信号VX′を対応するデイジタル値に変
換する。そして、その変換値を変換終了信号
EOCとともにx軸の座標データXとして出力す
る。
が“0”の時には第1チヤンネルのAD変換入力
CH1に入力されている電位信号VY′を選択し、
チツプセレクト信号が“1”信号になつた後
にこの信号VY′を対応するデイジタル値に変換す
る。そして、一定時間後にその変換動作が終了す
ると論理“0”の変換終了信号とともに、
変換値をデータ構成がシリアルなy軸の座標デー
タYとして出力する。また、チヤンネル切換信号
CHSが“1”の時には第2チヤンネルのAD変換
入力CH2に入力されている電位信号VX′を選択
し、チツプセレクト信号が“1”信号になつ
た後にこの信号VX′を対応するデイジタル値に変
換する。そして、その変換値を変換終了信号
EOCとともにx軸の座標データXとして出力す
る。
この場合の変換終了信号はインバータ
INV2によつて反転されてプロセツサユニツトPU
に送られる。すると、プロセツサユニツトPUは
信号EOCを受けたことにより、シリアルなデー
タ構成のx軸およびy軸の座標データX,Yを読
み込む。
INV2によつて反転されてプロセツサユニツトPU
に送られる。すると、プロセツサユニツトPUは
信号EOCを受けたことにより、シリアルなデー
タ構成のx軸およびy軸の座標データX,Yを読
み込む。
さて、プロセツサユニツトPUは演算処理装置
CPUやプログラムメモリMEM等によつて構成さ
れAD変換器ADCから入力される座標データの読
込みやその連続性の判別等の一連の制御を行つて
押圧点の移動に正確に追従した座標データとして
出力するものであるが、このような制御を行うた
めのプログラムの起動はフリツプフロツプFF2の
出力端子Qから論理“0”の押圧検出信号SNS
が入力されることによつて行う。
CPUやプログラムメモリMEM等によつて構成さ
れAD変換器ADCから入力される座標データの読
込みやその連続性の判別等の一連の制御を行つて
押圧点の移動に正確に追従した座標データとして
出力するものであるが、このような制御を行うた
めのプログラムの起動はフリツプフロツプFF2の
出力端子Qから論理“0”の押圧検出信号SNS
が入力されることによつて行う。
すなわち、2つの抵抗膜1および2に対して駆
動電圧V1を交互に印加している時、任意のタイ
ミングに押圧操作が開始されると、この押圧点位
置に対応した電位信号VY,VXが取り出される
が、このうち信号VXはスイツチSW2を介して積
分回路ITG2に入力される一方、抵抗R1およびR2
によつて分圧されてトランジスタQ5のベースに
入力される。
動電圧V1を交互に印加している時、任意のタイ
ミングに押圧操作が開始されると、この押圧点位
置に対応した電位信号VY,VXが取り出される
が、このうち信号VXはスイツチSW2を介して積
分回路ITG2に入力される一方、抵抗R1およびR2
によつて分圧されてトランジスタQ5のベースに
入力される。
トランジスタQ5は、抵抗膜に対する押圧操作
が開始されて電位信号VXのレベルが所定値以上
になると導通し、そのコレクタ出力から押圧操作
が開始されたことを示す“0”の検出信号SNSA
を出力する。このトランジスタQ5から出力され
る“0”の検出信号SNSAはD型フリツプフロツ
プFF2のデータ入力端子Dへ供給され、チツプセ
レクト信号CSの立上りタイミングで取り込まれ
て出力端子Qから論理“0”の押圧検出信号
SNSとして出力される。従つて、チツプセレク
ト信号を比較的短い周期で発生させるように
しておけば、抵抗膜に対する押圧操作後ただちに
押圧検出信号SNSを得ることができ、座標デー
タX,Yの読込み処理やその連続性の判別などの
処理を行うプログラムを起動させることができ
る。ところで、抵抗膜が押圧されたことを検出す
るに際し、抵抗膜1に駆動電圧V1の印加による
比較的大きな電流を流すようにしておくと、抵抗
膜1における電位勾配が急勾配となり、押圧点の
位置によつては電流信号VXのレベルが大幅に変
化してしまう。その結果、トランジスタQ5にお
ける識別レベルの決め方によつては、押圧操作が
行なわれたことの識別が不可能となつたりするこ
とがある。そこで、押圧操作の検出前は抵抗膜1
に対して微少電流を流し、その電位勾配をゆるや
かとし、どの位置を押圧しても高レベルの電位信
号VXが得られるようにする。すなわち、トラン
ジスタQ2をトランジスタQ6の出力信号(“0”信
号)によつて非導通とし、抵抗膜1にはトランジ
スタQ1によつて駆動電圧V1の正電位のみを印加
してこの抵抗膜1の全体の電位を正電位側にシフ
トする。これによつて抵抗膜1にトランジスタ
Q5および積分回路ITG2の入力側のインピーダン
スと抵抗膜1の抵抗値とによつて定まる微少電流
を流すに構成されている。この場合、トランジス
タQ6を導通させる信号としては、AD変換器ADC
の変換終了信号が用いられている。既に理
解できるように、AD変換器ADCは変換動作の終
了後は新たな電位信号VYまたはVXが入力され
るのを待機する状態となるため、この変換終了信
号をインバータINV2によつて反転してトラ
ンジスタQ6を制御するようにしておけば、変換
動作の終了後において抵抗膜1は常に正電位側に
シフトされる。従つて、この状態において押圧操
作が行なわれると、どの位置を押圧しても高レベ
ルの電位信号VXが得られ、トランジスタQ5にお
ける識別レベルを若干高目にしておいても確実に
トランジスタQ5が導通する。いい換えれば、押
圧操作が行なわれたことを確実に検出することが
できる。この結果、プロセツサユニツトにおける
プログラムを押圧操作に追従して確実に起動でき
る。この場合、トランジスタQ5の識別レベルを
高目に設定できるため、外乱ノイズによつて誤つ
た押圧検出信号SNSが発生することを防止でき
る効果もある。
が開始されて電位信号VXのレベルが所定値以上
になると導通し、そのコレクタ出力から押圧操作
が開始されたことを示す“0”の検出信号SNSA
を出力する。このトランジスタQ5から出力され
る“0”の検出信号SNSAはD型フリツプフロツ
プFF2のデータ入力端子Dへ供給され、チツプセ
レクト信号CSの立上りタイミングで取り込まれ
て出力端子Qから論理“0”の押圧検出信号
SNSとして出力される。従つて、チツプセレク
ト信号を比較的短い周期で発生させるように
しておけば、抵抗膜に対する押圧操作後ただちに
押圧検出信号SNSを得ることができ、座標デー
タX,Yの読込み処理やその連続性の判別などの
処理を行うプログラムを起動させることができ
る。ところで、抵抗膜が押圧されたことを検出す
るに際し、抵抗膜1に駆動電圧V1の印加による
比較的大きな電流を流すようにしておくと、抵抗
膜1における電位勾配が急勾配となり、押圧点の
位置によつては電流信号VXのレベルが大幅に変
化してしまう。その結果、トランジスタQ5にお
ける識別レベルの決め方によつては、押圧操作が
行なわれたことの識別が不可能となつたりするこ
とがある。そこで、押圧操作の検出前は抵抗膜1
に対して微少電流を流し、その電位勾配をゆるや
かとし、どの位置を押圧しても高レベルの電位信
号VXが得られるようにする。すなわち、トラン
ジスタQ2をトランジスタQ6の出力信号(“0”信
号)によつて非導通とし、抵抗膜1にはトランジ
スタQ1によつて駆動電圧V1の正電位のみを印加
してこの抵抗膜1の全体の電位を正電位側にシフ
トする。これによつて抵抗膜1にトランジスタ
Q5および積分回路ITG2の入力側のインピーダン
スと抵抗膜1の抵抗値とによつて定まる微少電流
を流すに構成されている。この場合、トランジス
タQ6を導通させる信号としては、AD変換器ADC
の変換終了信号が用いられている。既に理
解できるように、AD変換器ADCは変換動作の終
了後は新たな電位信号VYまたはVXが入力され
るのを待機する状態となるため、この変換終了信
号をインバータINV2によつて反転してトラ
ンジスタQ6を制御するようにしておけば、変換
動作の終了後において抵抗膜1は常に正電位側に
シフトされる。従つて、この状態において押圧操
作が行なわれると、どの位置を押圧しても高レベ
ルの電位信号VXが得られ、トランジスタQ5にお
ける識別レベルを若干高目にしておいても確実に
トランジスタQ5が導通する。いい換えれば、押
圧操作が行なわれたことを確実に検出することが
できる。この結果、プロセツサユニツトにおける
プログラムを押圧操作に追従して確実に起動でき
る。この場合、トランジスタQ5の識別レベルを
高目に設定できるため、外乱ノイズによつて誤つ
た押圧検出信号SNSが発生することを防止でき
る効果もある。
なお、押圧点の座標はx軸とy軸方向との1対
で検出されるものであるため、押圧操作が行なわ
れたことを検出するためのトランジスタQ5はx
軸方向の電位信号VX側のみに設ければ足りる。
これは、トランジスタQ6についても同様である。
で検出されるものであるため、押圧操作が行なわ
れたことを検出するためのトランジスタQ5はx
軸方向の電位信号VX側のみに設ければ足りる。
これは、トランジスタQ6についても同様である。
ここで、第3図に示すタイムチヤートを参照
し、x軸およびy軸の座標データX,Yがプロセ
ツサユニツトPUに入力されるまでの動作を要約
して説明する。
し、x軸およびy軸の座標データX,Yがプロセ
ツサユニツトPUに入力されるまでの動作を要約
して説明する。
まず、時刻t1において同図aに示すチツプセレ
クト信号が“0”になると、この立下りタイ
ミングで変換終了信号(同図b)は“1”
信号に復帰し、AD変換器ADCは待機状態とな
る。この時、チヤンネル切換信号CHSが同図c
に示すように“0”に変化していると、フリツプ
フロツプFF1の出力信号YDは同図dに示すよう
に“0”信号となり、一方の出力信号XDは同図
eに示すように“1”信号となる。これにより、
第1の抵抗膜1に駆動電圧V1が印加される状態
となる。また、信号XDが“1”信号となること
により、チツプセレクト信号の発生期間中の
アンドゲートAG2から“1”信号が出力されてス
イツチSW2が同図lに示すようにオン状態とな
る。ところが、この時には未だ押圧操作がなされ
ていないため、第2の抵抗膜2の電極2Bには電
位信号VXは現われない。次に、時刻t2になり、
チツプセレクト信号が“0”に復帰すると、
スイツチSW2はオフ状態となる。同時に、AD変
換器ADCは変換動作を開始するようになる。し
かし、この時変換対象の電位信号VX′は入力され
ていないため、時刻t3において論理“0”の変換
終了信号を出力するとともに、オール“0”
の座標データYを出力する。この時刻t3において
変換終了信号が“0”となることにより、トラン
ジスタQ6が導通し、信号XDによつて導通してい
たトランジスタQ2を非導通とする。これにより、
第1の抵抗膜1は全体の電位が正電位側へシフト
され、これに伴つて電極1Bから取り出される信
号VYも第3図fに示すように変換終了信号
の発生期間中に正電位側へシフトされる。
クト信号が“0”になると、この立下りタイ
ミングで変換終了信号(同図b)は“1”
信号に復帰し、AD変換器ADCは待機状態とな
る。この時、チヤンネル切換信号CHSが同図c
に示すように“0”に変化していると、フリツプ
フロツプFF1の出力信号YDは同図dに示すよう
に“0”信号となり、一方の出力信号XDは同図
eに示すように“1”信号となる。これにより、
第1の抵抗膜1に駆動電圧V1が印加される状態
となる。また、信号XDが“1”信号となること
により、チツプセレクト信号の発生期間中の
アンドゲートAG2から“1”信号が出力されてス
イツチSW2が同図lに示すようにオン状態とな
る。ところが、この時には未だ押圧操作がなされ
ていないため、第2の抵抗膜2の電極2Bには電
位信号VXは現われない。次に、時刻t2になり、
チツプセレクト信号が“0”に復帰すると、
スイツチSW2はオフ状態となる。同時に、AD変
換器ADCは変換動作を開始するようになる。し
かし、この時変換対象の電位信号VX′は入力され
ていないため、時刻t3において論理“0”の変換
終了信号を出力するとともに、オール“0”
の座標データYを出力する。この時刻t3において
変換終了信号が“0”となることにより、トラン
ジスタQ6が導通し、信号XDによつて導通してい
たトランジスタQ2を非導通とする。これにより、
第1の抵抗膜1は全体の電位が正電位側へシフト
され、これに伴つて電極1Bから取り出される信
号VYも第3図fに示すように変換終了信号
の発生期間中に正電位側へシフトされる。
この状態で時刻t34のタイミングで押圧操作が
開始されると、電極2Bから第3図gに示すよう
に高レベルの電位信号VXが取り出されて抵抗R1
を介してトランジスタQ5のベースに印加される。
これによつて、トランジスタQ5のコレクタ出力
から第3図hに示すような信号SNSAが出力され
る。この後時刻t4においてチツプセレクト信号
CSが“0”信号に変化すると、この立下りタイ
ミングにおいて前記信号SNSAがフリツプフロツ
プFF2に取込まれ、その出力から第3図iに示す
ような押圧検出信号SNSとして出力される。こ
れにより、プロセツサユニツトPUは押圧点の座
標を読込むためのプログラムを起動する。
開始されると、電極2Bから第3図gに示すよう
に高レベルの電位信号VXが取り出されて抵抗R1
を介してトランジスタQ5のベースに印加される。
これによつて、トランジスタQ5のコレクタ出力
から第3図hに示すような信号SNSAが出力され
る。この後時刻t4においてチツプセレクト信号
CSが“0”信号に変化すると、この立下りタイ
ミングにおいて前記信号SNSAがフリツプフロツ
プFF2に取込まれ、その出力から第3図iに示す
ような押圧検出信号SNSとして出力される。こ
れにより、プロセツサユニツトPUは押圧点の座
標を読込むためのプログラムを起動する。
一方、時刻t34において押圧操作が開始され、
かつ時刻t4〜t5においてチツプセレクト信号が
発生されていることにより、スイツチSW2を介し
て押圧点のx軸方向の位置に対応した電位信号
VXが積分回路ITG2へ入力される。これにより、
積分回路ITG2は入力信号VXをt4〜t5において積
分し、第3図jに示すような電位信号VX′を出力
し、AD変換器ADCの第2チヤンネルのAD変換
入力CD2に供給する。すると、AD変換器ADCは
チヤンネル切換信号CHSが“1”になつている
ことを条件に、第2チヤンネルのAD変換入力に
供給されている電位信号VX′を選択し、チツプセ
レクト信号が“1”信号に復帰した時刻t5の
タイミングでこの電位信号VX′のデイジタル値へ
の変換動作を開始する。そして、一定時間後の時
刻t6において変換動作が終了すると、変換終了信
号を“0”信号とし、プロセツサユニツト
PUに対して変換動作が終了したことを知らせる。
これにより、プロセツサユニツトPUはAD変換
器ADCの変換出力、すなわちx軸の座標データ
Xの読込みを行う。
かつ時刻t4〜t5においてチツプセレクト信号が
発生されていることにより、スイツチSW2を介し
て押圧点のx軸方向の位置に対応した電位信号
VXが積分回路ITG2へ入力される。これにより、
積分回路ITG2は入力信号VXをt4〜t5において積
分し、第3図jに示すような電位信号VX′を出力
し、AD変換器ADCの第2チヤンネルのAD変換
入力CD2に供給する。すると、AD変換器ADCは
チヤンネル切換信号CHSが“1”になつている
ことを条件に、第2チヤンネルのAD変換入力に
供給されている電位信号VX′を選択し、チツプセ
レクト信号が“1”信号に復帰した時刻t5の
タイミングでこの電位信号VX′のデイジタル値へ
の変換動作を開始する。そして、一定時間後の時
刻t6において変換動作が終了すると、変換終了信
号を“0”信号とし、プロセツサユニツト
PUに対して変換動作が終了したことを知らせる。
これにより、プロセツサユニツトPUはAD変換
器ADCの変換出力、すなわちx軸の座標データ
Xの読込みを行う。
一方、プロセツサユニツトPUはx軸の座標デ
ータXを読込みを行うに先立ち、時刻t5において
チヤンネル切換信号CHSを“1”信号とする。
これは、次の時刻t7において駆動電圧V1の印加を
第1の抵抗膜1から第2の抵抗膜2へ切換えるた
めである。従つて、時刻t7においてチツプセレク
ト信号が“0”信号に変化すると、この立下
りタイミングにおいてフリツプフロツプFF1の出
力信号YDは“1”信号に変化し、一方の出力信
号XDは“0”信号に変化する。これにより、今
度は第2の抵抗膜2の駆動電圧V1が印加される
ようになる。同時に、チツプセレクト信号が
発生している時刻t7〜t8においてスイツチSW1が
オン状態となる。従つて、第1の抵抗膜1の電極
1Bから取り出されたy軸方向の押圧点に対応し
た電位信号VYは、このスイツチSW1を介して積
分回路ITG1に入力される。すると、積分回路
ITG1はこの入力電位信号VYをチツプセレクト信
号が発生している間積分し、その積分信号
VY′を信号の発生停止後も保持してAD変換器
ADCの第1チヤンネルのAD変換入力CH1に供
給する。これにより、時刻t8〜t9において信号
VY′はデイジタル値に変換される。そして、変換
終了信号の発生により、プロセツサユニツ
トPUに読込まれる。
ータXを読込みを行うに先立ち、時刻t5において
チヤンネル切換信号CHSを“1”信号とする。
これは、次の時刻t7において駆動電圧V1の印加を
第1の抵抗膜1から第2の抵抗膜2へ切換えるた
めである。従つて、時刻t7においてチツプセレク
ト信号が“0”信号に変化すると、この立下
りタイミングにおいてフリツプフロツプFF1の出
力信号YDは“1”信号に変化し、一方の出力信
号XDは“0”信号に変化する。これにより、今
度は第2の抵抗膜2の駆動電圧V1が印加される
ようになる。同時に、チツプセレクト信号が
発生している時刻t7〜t8においてスイツチSW1が
オン状態となる。従つて、第1の抵抗膜1の電極
1Bから取り出されたy軸方向の押圧点に対応し
た電位信号VYは、このスイツチSW1を介して積
分回路ITG1に入力される。すると、積分回路
ITG1はこの入力電位信号VYをチツプセレクト信
号が発生している間積分し、その積分信号
VY′を信号の発生停止後も保持してAD変換器
ADCの第1チヤンネルのAD変換入力CH1に供
給する。これにより、時刻t8〜t9において信号
VY′はデイジタル値に変換される。そして、変換
終了信号の発生により、プロセツサユニツ
トPUに読込まれる。
以上のような動作は押圧操作が継続している間
繰り返し行なわれる。これにより、押圧点の座標
データをx軸およびy軸の1対で得ることができ
る。
繰り返し行なわれる。これにより、押圧点の座標
データをx軸およびy軸の1対で得ることができ
る。
次に、AD変換器ADCから出力される座標デー
タZDの読込みやその連続性の判別を行つて、押
圧点の移動に忠実に追従した座標データとして出
力するプロセツサユニツトPUの動作を第4図に
示すフローチヤートを参照して説明する。
タZDの読込みやその連続性の判別を行つて、押
圧点の移動に忠実に追従した座標データとして出
力するプロセツサユニツトPUの動作を第4図に
示すフローチヤートを参照して説明する。
なお、第4図に示すフローチヤートは最終的に
得られた座標データに基づき押圧点の軌跡をデイ
スプレイ装置の画面に表示することを前提として
構成されているため、押圧点の軌跡が表示される
までの動作を説明する。
得られた座標データに基づき押圧点の軌跡をデイ
スプレイ装置の画面に表示することを前提として
構成されているため、押圧点の軌跡が表示される
までの動作を説明する。
第4図において、まず押圧点の軌跡の表示色お
よびその背景色などの条件設定が終了したかどう
かがステツプ100において判断される。この表
示のための各種条件の設定が完了していれば、軌
跡表示処理に移る。
よびその背景色などの条件設定が終了したかどう
かがステツプ100において判断される。この表
示のための各種条件の設定が完了していれば、軌
跡表示処理に移る。
軌跡表示処理においては、まずステツプ101
においてフラグFLGが“OH”に設定される。フ
ラグFLGは、AD変換器ADCから読込んだ座標デ
ータZDが軌跡表示処理へ突入した段階の最初の
ものであるかどうかを判別するためのもので、軌
跡表示処理に突入した段階では“OH”に設定さ
れ、最初の座標データであることが指示される。
フラグFLGの設定が終ると、ステツプ102に
示す「CALL SENSE」ルーチンへ進む。
においてフラグFLGが“OH”に設定される。フ
ラグFLGは、AD変換器ADCから読込んだ座標デ
ータZDが軌跡表示処理へ突入した段階の最初の
ものであるかどうかを判別するためのもので、軌
跡表示処理に突入した段階では“OH”に設定さ
れ、最初の座標データであることが指示される。
フラグFLGの設定が終ると、ステツプ102に
示す「CALL SENSE」ルーチンへ進む。
「CALL SENSE」ルーチンは、押圧検出信号
SNSが“0”になつているかどうかを判別する
もので、まず次のステツプ1020に示すように
信号SNSが“0”か否かが判別される。もし、
抵抗膜に対する押圧操作によつて押圧検出信号
SNSが“0”信号になつていれば、次のステツ
プ103の「CALL DATA READ」ルーチン
へ進み、AD変換器ADCからx軸およびy軸の座
標データX,Yを読込み、演算処理装置CPUに
内蔵されている第1のレジスタに記憶させる。こ
の後、ステツプ1030および1031において
現在読込んだx軸およびy軸の座標データXおよ
びYを第2のレジスタにも座標データX′および
Y′として記憶させる。これは、押圧点の軌跡を
前回読込んだ座標データX,Yを基点とし、新た
に読込んだ現在の座標データX,Yを目標点と
し、これらの基点と目標点とを直線で結ぶことに
より表示するようにしているためである。すなわ
ち、最初に読込んだ座標データX,Yについては
軌跡を表示するための基点になるべきデータが無
いので、この最初の座標データが軌跡の基点を目
標点とに設定される。
SNSが“0”になつているかどうかを判別する
もので、まず次のステツプ1020に示すように
信号SNSが“0”か否かが判別される。もし、
抵抗膜に対する押圧操作によつて押圧検出信号
SNSが“0”信号になつていれば、次のステツ
プ103の「CALL DATA READ」ルーチン
へ進み、AD変換器ADCからx軸およびy軸の座
標データX,Yを読込み、演算処理装置CPUに
内蔵されている第1のレジスタに記憶させる。こ
の後、ステツプ1030および1031において
現在読込んだx軸およびy軸の座標データXおよ
びYを第2のレジスタにも座標データX′および
Y′として記憶させる。これは、押圧点の軌跡を
前回読込んだ座標データX,Yを基点とし、新た
に読込んだ現在の座標データX,Yを目標点と
し、これらの基点と目標点とを直線で結ぶことに
より表示するようにしているためである。すなわ
ち、最初に読込んだ座標データX,Yについては
軌跡を表示するための基点になるべきデータが無
いので、この最初の座標データが軌跡の基点を目
標点とに設定される。
このようにして最初の座標データX,Yの読込
みが終了すると、次のステツプ104の「CALL
SENSE」ルーチンへ移り、ステツプ1040に
おいて押圧検出信号SNSが“0”になつている
かどうかが再び判別される。ここで、押圧検出信
号SNSが“0”であれば、次の押圧点の座標デ
ータX,Yを読込むためにステツプ105の
「CALL DATA READ」ルーチンへ移る。そし
て、ステツプ1050において新たなx軸の座標
データXを読込み、次にステツプ1051におい
てy軸の座標データYを読込み、これらの座標デ
ータX,Yを第1のレジスタに記憶させる。
みが終了すると、次のステツプ104の「CALL
SENSE」ルーチンへ移り、ステツプ1040に
おいて押圧検出信号SNSが“0”になつている
かどうかが再び判別される。ここで、押圧検出信
号SNSが“0”であれば、次の押圧点の座標デ
ータX,Yを読込むためにステツプ105の
「CALL DATA READ」ルーチンへ移る。そし
て、ステツプ1050において新たなx軸の座標
データXを読込み、次にステツプ1051におい
てy軸の座標データYを読込み、これらの座標デ
ータX,Yを第1のレジスタに記憶させる。
次に、この第2番目の座標データに読込みが終
了するとステツプ106へ進み、ここにおいてフ
ラグFLGが“0H”であるかどうかを判別する。
すなわち、ステツプ103の「CALL DATA
READ」ルーチンにおいて読込んだ座標データ
X,Yが最初のものであつたかどうかをフラグ
FLGによつて判別する。もし、フラグFLGが
“0H”ならば、ステツプ107へ進みこのステツ
プにおいて第1番目に読込み第2のレジスタに記
憶されている座標データX′と第2番目に読込み
第1のレジスタに記憶されている座標データXと
の偏差を求め、その偏差が“5H”(16進表示)以
上の値になつているかどうかを判別する。同様
に、第1番目の座標データY′と第2番目の座標
データYとの偏差を求め、その偏差が“5H”以
上の値になつているかどうかを判別する。この判
別の結果、偏差が“5H”以上であれば、ステツ
プ107からステツプ102へ戻り、再び
「CALL SENSE」ルーチンの処理を行う。なお、
この場合には第2のレジスタに記憶されている座
標データX′,Y′は無効とされ、第2番目に読込
み第1のレジスタに記憶されている座標データ
X,Yが第1番目のものとして処理されるように
なる。すなわち、前回読込んだ座標データX′,
Y′と今回新たに読込んだ座標データX,Yとの
同一座標軸上での偏差が“5H”以上ならば、前
回読込んだ座標データX′,Y′は押圧強さの変動
等に起因する不連続性のデータと見做され、ステ
ツプ1030において第1のレジスタに記憶され
ている最新の座標データX,Yが前回読込んだ座
標データX′,Y′として第2のレジスタに記憶さ
れる。
了するとステツプ106へ進み、ここにおいてフ
ラグFLGが“0H”であるかどうかを判別する。
すなわち、ステツプ103の「CALL DATA
READ」ルーチンにおいて読込んだ座標データ
X,Yが最初のものであつたかどうかをフラグ
FLGによつて判別する。もし、フラグFLGが
“0H”ならば、ステツプ107へ進みこのステツ
プにおいて第1番目に読込み第2のレジスタに記
憶されている座標データX′と第2番目に読込み
第1のレジスタに記憶されている座標データXと
の偏差を求め、その偏差が“5H”(16進表示)以
上の値になつているかどうかを判別する。同様
に、第1番目の座標データY′と第2番目の座標
データYとの偏差を求め、その偏差が“5H”以
上の値になつているかどうかを判別する。この判
別の結果、偏差が“5H”以上であれば、ステツ
プ107からステツプ102へ戻り、再び
「CALL SENSE」ルーチンの処理を行う。なお、
この場合には第2のレジスタに記憶されている座
標データX′,Y′は無効とされ、第2番目に読込
み第1のレジスタに記憶されている座標データ
X,Yが第1番目のものとして処理されるように
なる。すなわち、前回読込んだ座標データX′,
Y′と今回新たに読込んだ座標データX,Yとの
同一座標軸上での偏差が“5H”以上ならば、前
回読込んだ座標データX′,Y′は押圧強さの変動
等に起因する不連続性のデータと見做され、ステ
ツプ1030において第1のレジスタに記憶され
ている最新の座標データX,Yが前回読込んだ座
標データX′,Y′として第2のレジスタに記憶さ
れる。
しかし、ステツプ107における判別の結果、
第1番目に読込んだ座標データX′,Y′と第2番
目に読込んだ座標データX,Yとの偏差が“5H”
未満ならばこれらのデータは連続性があるものと
され、次のステツプ108へ進み、座標データ
X′,Y′がデイスプレイ装置の面画上の画素座標
に対応するように変換される。この後、ステツプ
109においてフラグFLGを“80H”に設定し、
さらにステツプ111において座標データX,Y
(第1のルジスタに記憶)がデイスプレイ装置の
画面上の画素座標に対応するように変換される。
そして、次のステツプ112において画素座標に
変換されたデータCX′,CY′およびCX,CYが出
力レジスタRG3およびRG4に転送される。こ
の後、ステツプ113へ進み、ここにおいて
“CALL LINE”ルーチンが実行され、データ
CX′,CY′とデータCX,CYとで示される座標位
置の画素間が直線によつて結ばれて画面上に表示
される。
第1番目に読込んだ座標データX′,Y′と第2番
目に読込んだ座標データX,Yとの偏差が“5H”
未満ならばこれらのデータは連続性があるものと
され、次のステツプ108へ進み、座標データ
X′,Y′がデイスプレイ装置の面画上の画素座標
に対応するように変換される。この後、ステツプ
109においてフラグFLGを“80H”に設定し、
さらにステツプ111において座標データX,Y
(第1のルジスタに記憶)がデイスプレイ装置の
画面上の画素座標に対応するように変換される。
そして、次のステツプ112において画素座標に
変換されたデータCX′,CY′およびCX,CYが出
力レジスタRG3およびRG4に転送される。こ
の後、ステツプ113へ進み、ここにおいて
“CALL LINE”ルーチンが実行され、データ
CX′,CY′とデータCX,CYとで示される座標位
置の画素間が直線によつて結ばれて画面上に表示
される。
このようにして2つの押圧点に対応する画素間
が直線で結合されて押圧点の軌跡として表示され
ると、次にステツプ114においてレジスタRG
4の記憶データCX,CYがレジスタRG3に転送
される。これは、第3番目の押圧点に対応する画
素座標が指定された場合に、第2番目の押圧点に
対応する画素座標を軌跡表示のための新たな基点
としておくためのものである。
が直線で結合されて押圧点の軌跡として表示され
ると、次にステツプ114においてレジスタRG
4の記憶データCX,CYがレジスタRG3に転送
される。これは、第3番目の押圧点に対応する画
素座標が指定された場合に、第2番目の押圧点に
対応する画素座標を軌跡表示のための新たな基点
としておくためのものである。
ステツプ114の処理が終了すると、次のステ
ツプ115においてフラグFLGが“80H”に設定
された後ステツプ1030へ戻り、第1のレジス
タに記憶されている第2番目の座標データXが第
2のレジスタへデータX′として記憶される。そ
して、次のステツプにおいて第1のレジスタに記
憶されている第2番目の座標データYが第2のレ
ジスタへデータY′として記憶される。
ツプ115においてフラグFLGが“80H”に設定
された後ステツプ1030へ戻り、第1のレジス
タに記憶されている第2番目の座標データXが第
2のレジスタへデータX′として記憶される。そ
して、次のステツプにおいて第1のレジスタに記
憶されている第2番目の座標データYが第2のレ
ジスタへデータY′として記憶される。
これにより、第3番目の座標データを読込む状
態に移り、ステツプ104の「CALL SENSE」
ルーチンが再度実行される。そして、押圧検出信
号SNSが“0”であれば、ステツプ105の
「CALL DATA READ」ルーチンが実行されて
ステツプ1050および1051において第3番
目の新たな座標データX,Yが読込まれる。
態に移り、ステツプ104の「CALL SENSE」
ルーチンが再度実行される。そして、押圧検出信
号SNSが“0”であれば、ステツプ105の
「CALL DATA READ」ルーチンが実行されて
ステツプ1050および1051において第3番
目の新たな座標データX,Yが読込まれる。
この第3番目の新たな座標データは第1のレジ
スタに記憶される。
スタに記憶される。
次に、ステツプ106においてフラグFLGが
“0H”であるかどうかが判別される。この時、フ
ラグFLGはステツプ115において“80H”に設
定されているため、次のステツプ110へ進み、
今度は第2番目の座標データX′,Y′と第3番目
の座標データX,Yとの偏差が“5H”以上であ
るかが判別される。もし、偏差が“5H”未満で
あれば、これらの座標データは連続性があるもの
とされる。そして、ステツプ111において新た
に読込んだ第3番目の座標データX,Yがデイス
プレイ装置の画面上の画素座標に対応するように
変換され、この後前述の場合と同様にして第2番
目の押圧点に対応する画素座標と第3番目の押圧
点に対応する画素座標とが直線で結ばれて表示さ
れる。
“0H”であるかどうかが判別される。この時、フ
ラグFLGはステツプ115において“80H”に設
定されているため、次のステツプ110へ進み、
今度は第2番目の座標データX′,Y′と第3番目
の座標データX,Yとの偏差が“5H”以上であ
るかが判別される。もし、偏差が“5H”未満で
あれば、これらの座標データは連続性があるもの
とされる。そして、ステツプ111において新た
に読込んだ第3番目の座標データX,Yがデイス
プレイ装置の画面上の画素座標に対応するように
変換され、この後前述の場合と同様にして第2番
目の押圧点に対応する画素座標と第3番目の押圧
点に対応する画素座標とが直線で結ばれて表示さ
れる。
このようにして順次読込まれる座標データは前
後の座標データ同志で連続性が判別された後押圧
点の移動に追従した軌跡として表示される。すな
わち、偏差が“5H”未満の座標データは互に連
続性がある正しいもの(座標データの真値)とさ
れてデイスプレイ装置に出力される。
後の座標データ同志で連続性が判別された後押圧
点の移動に追従した軌跡として表示される。すな
わち、偏差が“5H”未満の座標データは互に連
続性がある正しいもの(座標データの真値)とさ
れてデイスプレイ装置に出力される。
しかし、ステツプ110における判別の結果、
第2番目の座標データX′,Y′と第3番目の座標
データX,Yとの同一座標軸上での偏差が“5H”
以上ならば、ステツプ110からステツプ116
へ進み、ここにおいてフラグFLGが“81H”より
大きいか否かが判断される。この時、フラグ
FLGは“80H”であるためにステツプ117へ進
み、ここにおいてこのフラグFLGの内容がイン
クリメントされる。すなわち、フラグFLGはス
テツプ117において“81H”に更新される。こ
の後、ステツプ1030を経由せずにステツプ1
04へ戻つて再び「CALL・SENSE」ルーチン
が実行される。そして、さらにステツプ105に
おいて第4番目の座標データX,Yが読込まれ
る。次いで、ステツプ106を介してステツプ1
10へ進み、ここにおいて第2のレジスタに記憶
されている座標データX′,Y′と第1のレジスタ
に記憶されている座標データX,Yとの偏差が
“5H”以上か否かが判別される。すなわち、ここ
ではステツプ117から「CALL SENSE」ルー
チンへ直接戻つたため、第2のレジスタの記憶内
容は更新されておらず第2番目の座標データが前
回読込んだ座標データの真値として記憶されてい
る。このため、ステツプ110においては第2番
目に読込んだ座標データX′,Y′と第4番目に新
たに読込んだ座標データX,Yとの偏差が“5H”
以上か否かが判別されることになる。
第2番目の座標データX′,Y′と第3番目の座標
データX,Yとの同一座標軸上での偏差が“5H”
以上ならば、ステツプ110からステツプ116
へ進み、ここにおいてフラグFLGが“81H”より
大きいか否かが判断される。この時、フラグ
FLGは“80H”であるためにステツプ117へ進
み、ここにおいてこのフラグFLGの内容がイン
クリメントされる。すなわち、フラグFLGはス
テツプ117において“81H”に更新される。こ
の後、ステツプ1030を経由せずにステツプ1
04へ戻つて再び「CALL・SENSE」ルーチン
が実行される。そして、さらにステツプ105に
おいて第4番目の座標データX,Yが読込まれ
る。次いで、ステツプ106を介してステツプ1
10へ進み、ここにおいて第2のレジスタに記憶
されている座標データX′,Y′と第1のレジスタ
に記憶されている座標データX,Yとの偏差が
“5H”以上か否かが判別される。すなわち、ここ
ではステツプ117から「CALL SENSE」ルー
チンへ直接戻つたため、第2のレジスタの記憶内
容は更新されておらず第2番目の座標データが前
回読込んだ座標データの真値として記憶されてい
る。このため、ステツプ110においては第2番
目に読込んだ座標データX′,Y′と第4番目に新
たに読込んだ座標データX,Yとの偏差が“5H”
以上か否かが判別されることになる。
この判別の結果、両者の偏差が“5H”未満な
らば、ステツプ110からステツプ111へ進ん
で第4番目の座標データX,Yの画素座標への変
換が実行されて前述の場合と同様にして軌跡とし
て表示される。従つて、この場合には第3番目の
座標データは無効とされる。
らば、ステツプ110からステツプ111へ進ん
で第4番目の座標データX,Yの画素座標への変
換が実行されて前述の場合と同様にして軌跡とし
て表示される。従つて、この場合には第3番目の
座標データは無効とされる。
しかし、ステツプ110の判別の結果、第2番
目および第4番目の座標データの偏差が再び
“5H”以上ならば、ステツプ116へ再び進み、
ここにおいてフラグFLGが“81H”より大きいか
否かが判別される。この時、フラグFLGは
“81H”であるため、ステツプ117へ進みここ
において「FLG=“82H”」にインクリメントされ
る。この後、前述の場合と同様に、ステツプ10
4,105の処理が行なわれた後、ステツプ10
50および1051において第5番目の座標デー
タX,Yが読込まれて第1のレジスタに記憶され
る。
目および第4番目の座標データの偏差が再び
“5H”以上ならば、ステツプ116へ再び進み、
ここにおいてフラグFLGが“81H”より大きいか
否かが判別される。この時、フラグFLGは
“81H”であるため、ステツプ117へ進みここ
において「FLG=“82H”」にインクリメントされ
る。この後、前述の場合と同様に、ステツプ10
4,105の処理が行なわれた後、ステツプ10
50および1051において第5番目の座標デー
タX,Yが読込まれて第1のレジスタに記憶され
る。
そして、ステツプ106を介してステツプ11
0へ進み、再び第1のレジスタに記憶されている
座標データX,Y(すなわち、第5番目の座標デ
ータ)と第2のレジスタに記憶されている座標デ
ータX′,Y′(すなわち、第2番目の座標データ)
との偏差が“5H”以上か否かが判別される。
0へ進み、再び第1のレジスタに記憶されている
座標データX,Y(すなわち、第5番目の座標デ
ータ)と第2のレジスタに記憶されている座標デ
ータX′,Y′(すなわち、第2番目の座標データ)
との偏差が“5H”以上か否かが判別される。
この判別の結果、両者の偏差が“5H”以上な
らば、ステツプ116へ進んで再びフラグFLG
の判別が行なわれる。この時、フラグFLGは既
に“82H”になつているため、ステツプ118へ
進んで今度は“80H”に設定される。この後、今
度はステツプ1030および1031へ戻り、第
2のレジスタに第5番目の座標データX,Yが新
たな真値として記憶され、以後ステツプ104に
続く各ステツプの処理が実行される。
らば、ステツプ116へ進んで再びフラグFLG
の判別が行なわれる。この時、フラグFLGは既
に“82H”になつているため、ステツプ118へ
進んで今度は“80H”に設定される。この後、今
度はステツプ1030および1031へ戻り、第
2のレジスタに第5番目の座標データX,Yが新
たな真値として記憶され、以後ステツプ104に
続く各ステツプの処理が実行される。
すなわち、ステツプ105〜1051において
第6番目の座標データX,Yが新たに読込まれ続
いてステツプ110において第5番目の座標デー
タX′,Y′第6番目の座標データX,Yとの偏差
が“5H”以上か否かが判別される。この判別の
結果、偏差が“5H”未満ならばステツプ111
において第6番目に読込んだ座標データX,Yの
画素座標への変換が行なわれて前述の場合と同様
にして軌跡の表示が行なわれる。この場合、第3
のレジスタRG3には第2番目の押圧点に対応し
た画素座標が記憶されているため、第2番目の押
圧点に対応する画素座標と第6番目の押圧点に対
応する画素座標とが直線で結ばれることになる。
すなわち、前回に真値として座標データに対して
“5H”以上の偏差の座標データが3回連続した場
合には次の座標データは真値として判別されて軌
跡の表示のために出力される。
第6番目の座標データX,Yが新たに読込まれ続
いてステツプ110において第5番目の座標デー
タX′,Y′第6番目の座標データX,Yとの偏差
が“5H”以上か否かが判別される。この判別の
結果、偏差が“5H”未満ならばステツプ111
において第6番目に読込んだ座標データX,Yの
画素座標への変換が行なわれて前述の場合と同様
にして軌跡の表示が行なわれる。この場合、第3
のレジスタRG3には第2番目の押圧点に対応し
た画素座標が記憶されているため、第2番目の押
圧点に対応する画素座標と第6番目の押圧点に対
応する画素座標とが直線で結ばれることになる。
すなわち、前回に真値として座標データに対して
“5H”以上の偏差の座標データが3回連続した場
合には次の座標データは真値として判別されて軌
跡の表示のために出力される。
このように、ステツプ110において前回の座
標データとの連続性が否定されたものであつて
も、これがn回連続したならば第n+1番目の座
標データは正しいものとして出力することによ
り、押圧点座標の変化幅が大きい場合の座標デー
タの脱落を防止することができ、押圧点の移動に
忠実に追従した軌跡を表示させることができる。
標データとの連続性が否定されたものであつて
も、これがn回連続したならば第n+1番目の座
標データは正しいものとして出力することによ
り、押圧点座標の変化幅が大きい場合の座標デー
タの脱落を防止することができ、押圧点の移動に
忠実に追従した軌跡を表示させることができる。
さて、押圧操作は時間的に連続して行なわれる
とは限らず、ある一定の時間間隔をおいて行なわ
れることがある。このような場合には最初の押圧
操作が連続しているのか否かを識別しなければ、
2つの独立した押圧操作による押圧点の軌跡が連
続したものとなる。
とは限らず、ある一定の時間間隔をおいて行なわ
れることがある。このような場合には最初の押圧
操作が連続しているのか否かを識別しなければ、
2つの独立した押圧操作による押圧点の軌跡が連
続したものとなる。
そこで、このフローチヤートには押圧操作の時
間間隔を識別するためのソフトウエア的なタイマ
手段が設けられている。
間間隔を識別するためのソフトウエア的なタイマ
手段が設けられている。
すなわち、ステツプ1020において押圧検出
信号SNSが“0”か否かが判別されるが、信号
SNSが“0”でなければ押圧操作がなされてい
ないものとしてステツプ1021へ進み、ここに
おいてソフトタイマの値TMDが“FF”(16進表
示)に設定される。この後、ステツプ1022に
おいて信号SNSが“0”か否かを再び判別し、
“0”でなければ次のステツプ1023へ進み、
ここにおいてソフトタイマの値TMDが“0”に
なつているかどうか、すなわち所定時間経過した
かどうかを判別する。この判別の結果、TMDが
“0”でなければステツプ1024においてソフ
トタイマの値をデクレメント(TMD−1)し、
ステツプ1022へ戻る。そして、このステツプ
1022において再び信号SNSが“0”か否か
を判別する。そして、この段階においても信号
SNSが“0”でなければ未だ押圧操作がなされ
ていないものとしてステツプ1023→1024
→1022の処理を繰り返し、この繰り返しの中
でソフトタイマの値TMDが“1”ずつ減じて行
く。この結果、ソフトタイマの値TMDが“0”
になれば、所定時間の間押圧操作がなされなかつ
たものとしてステツプ100の初期条件の判別ス
テツプへ復帰させる。
信号SNSが“0”か否かが判別されるが、信号
SNSが“0”でなければ押圧操作がなされてい
ないものとしてステツプ1021へ進み、ここに
おいてソフトタイマの値TMDが“FF”(16進表
示)に設定される。この後、ステツプ1022に
おいて信号SNSが“0”か否かを再び判別し、
“0”でなければ次のステツプ1023へ進み、
ここにおいてソフトタイマの値TMDが“0”に
なつているかどうか、すなわち所定時間経過した
かどうかを判別する。この判別の結果、TMDが
“0”でなければステツプ1024においてソフ
トタイマの値をデクレメント(TMD−1)し、
ステツプ1022へ戻る。そして、このステツプ
1022において再び信号SNSが“0”か否か
を判別する。そして、この段階においても信号
SNSが“0”でなければ未だ押圧操作がなされ
ていないものとしてステツプ1023→1024
→1022の処理を繰り返し、この繰り返しの中
でソフトタイマの値TMDが“1”ずつ減じて行
く。この結果、ソフトタイマの値TMDが“0”
になれば、所定時間の間押圧操作がなされなかつ
たものとしてステツプ100の初期条件の判別ス
テツプへ復帰させる。
しかし、ソフトタイマの値TMDが“0”にな
らないうちに押圧操作が行なわれると、ステツプ
1022からステツプ103の「CALL DATA
READ」ルーチンへ移り、座標データX,Yの
読込みを順次行う。
らないうちに押圧操作が行なわれると、ステツプ
1022からステツプ103の「CALL DATA
READ」ルーチンへ移り、座標データX,Yの
読込みを順次行う。
従つて、連続的な押圧操作が行なわれた場合に
は前述のようにして座標データX,Yが連続して
順次読込まれるようになる。しかし、所定時間隔
てた2つの押圧操作については、最初の押圧操作
が終つた後ステツプ100へ復帰し、次の押圧操
作に対する座標データX,Yの読込みがフラグ
FLGを“0H”とした後始められるようになる。
この結果、時間的に大きく離れた押圧操作に対す
る座標データX,Yは互いに区別されてデイスプ
レイ装置に出力されることになり、全く独立した
軌跡として表示することができる。
は前述のようにして座標データX,Yが連続して
順次読込まれるようになる。しかし、所定時間隔
てた2つの押圧操作については、最初の押圧操作
が終つた後ステツプ100へ復帰し、次の押圧操
作に対する座標データX,Yの読込みがフラグ
FLGを“0H”とした後始められるようになる。
この結果、時間的に大きく離れた押圧操作に対す
る座標データX,Yは互いに区別されてデイスプ
レイ装置に出力されることになり、全く独立した
軌跡として表示することができる。
これは、ステツプ1040〜1044について
も全く同様である。
も全く同様である。
以上説明したように本発明は、押圧点の移動に
伴つて順次取り出される座標データ相互間の偏差
を求め、その偏差が所定値未満の座標データのみ
を、連続性のある座標データとし、他は不正常な
ものとして無視すると共に、抵抗膜の押圧によつ
て両抵抗膜の接触点に生じる電位信号の発生時間
間隔を監視するタイマ手段を設け、前記電位信号
の発生時間間隔が所定値未満の状態で取り出され
る座標データは押圧点の連続的移動による座標デ
ータとして出力し、所定値以上の状態で取り出さ
れる座標データは押圧点の不連続的移動による座
標データとして出力するようにしたものである。
伴つて順次取り出される座標データ相互間の偏差
を求め、その偏差が所定値未満の座標データのみ
を、連続性のある座標データとし、他は不正常な
ものとして無視すると共に、抵抗膜の押圧によつ
て両抵抗膜の接触点に生じる電位信号の発生時間
間隔を監視するタイマ手段を設け、前記電位信号
の発生時間間隔が所定値未満の状態で取り出され
る座標データは押圧点の連続的移動による座標デ
ータとして出力し、所定値以上の状態で取り出さ
れる座標データは押圧点の不連続的移動による座
標データとして出力するようにしたものである。
このため、時間的に不連続な押圧操作における
座標データを識別し、さらに押圧強さの変動に起
因する座標データの不連続現象を防止し、押圧点
の移動に忠実に追従した軌跡の座標データを出力
することができる。
座標データを識別し、さらに押圧強さの変動に起
因する座標データの不連続現象を防止し、押圧点
の移動に忠実に追従した軌跡の座標データを出力
することができる。
第1図aは被押圧体の構造を示す図、第1図b
〜eは従来の欠点を説明するための図、第2図は
本発明の一実施例を示すブロツク図、第3図はそ
の動作を説明するためのタイムチヤート、第4図
は座標データに基づく軌跡表示に到るまでのフロ
ーチヤートである。 1,2……抵抗膜、FF1,FF2……フリツプフ
ロツプ、AG1,AG2……アンドゲート、SW1,
SW2……スイツチ、Q1〜Q6……トランジスタ、
ITG1,ITG2……積分回路、ADC……AD変換
器、PU……プロセツサユニツト、CPU……演算
処理装置、MEM……メモリ。
〜eは従来の欠点を説明するための図、第2図は
本発明の一実施例を示すブロツク図、第3図はそ
の動作を説明するためのタイムチヤート、第4図
は座標データに基づく軌跡表示に到るまでのフロ
ーチヤートである。 1,2……抵抗膜、FF1,FF2……フリツプフ
ロツプ、AG1,AG2……アンドゲート、SW1,
SW2……スイツチ、Q1〜Q6……トランジスタ、
ITG1,ITG2……積分回路、ADC……AD変換
器、PU……プロセツサユニツト、CPU……演算
処理装置、MEM……メモリ。
Claims (1)
- 1 所定間隔で縦横に配置された点状のスペーサ
を挾んで対向配置された第1および第2の抵抗膜
を有し、第1の抵抗膜のX軸方向および第2の抵
抗膜のY軸方向に交互に電圧を加え、一方の抵抗
膜の押圧による両抵抗膜の接触点における電位信
号を電圧不印加側の抵抗膜の電圧印加電極から交
互に取り出し、これらの電位信号のデイジタル値
に交換して抵抗膜の押圧点のX軸およびY軸の座
標データとして出力する座標検出装置において、
抵抗膜の押圧操作の時間的不連続による座標デー
タ列の不連続を前記電位信号の発生時間間隔を監
視することにより識別する第1の識別手段と、抵
抗膜の押圧強さの変動に伴う座標データ列の座標
的不連続を順次取り出される座標データ相互間の
偏差と所定値との比較により識別する第2の識別
手段とを具備して成る座標検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56192351A JPS5894072A (ja) | 1981-11-30 | 1981-11-30 | 座標検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56192351A JPS5894072A (ja) | 1981-11-30 | 1981-11-30 | 座標検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5894072A JPS5894072A (ja) | 1983-06-04 |
| JPH0225529B2 true JPH0225529B2 (ja) | 1990-06-04 |
Family
ID=16289826
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56192351A Granted JPS5894072A (ja) | 1981-11-30 | 1981-11-30 | 座標検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5894072A (ja) |
-
1981
- 1981-11-30 JP JP56192351A patent/JPS5894072A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5894072A (ja) | 1983-06-04 |
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