JPS5899735A - 米粒精白度測定装置 - Google Patents

米粒精白度測定装置

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JPS5899735A
JPS5899735A JP19795981A JP19795981A JPS5899735A JP S5899735 A JPS5899735 A JP S5899735A JP 19795981 A JP19795981 A JP 19795981A JP 19795981 A JP19795981 A JP 19795981A JP S5899735 A JPS5899735 A JP S5899735A
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Toshihiko Satake
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07CPOSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C5/00Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
    • B07C5/34Sorting according to other particular properties
    • B07C5/342Sorting according to other particular properties according to optical properties, e.g. colour
    • B07C5/3425Sorting according to other particular properties according to optical properties, e.g. colour of granular material, e.g. ore particles, grain

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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Adjustment And Processing Of Grains (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、穀粒、主として米粒の精白度を測定する装置
に関する。
一般に、米粒は精米機で搗精することKより、除糠され
て白くなるが、従来からその白さの度合を吃って搗精率
すなわち精白度として表示されていた。飯用米の精白度
は米粒を加工して米粒面に残留する糊粉層′の厚さを意
味し、そして玄米粒は中核部をなす澱粉層すなわち内胚
乳部とその外周を包被する糠層から成り、糠層は外糠層
と白糠層から成り、外糠層は外壁をなす果皮とその内壁
面にある種皮から成り、白糠層は外胚乳と粉□糊層から
成る。糠層は成熟につれて薄くなり、また成熟米では良
質来に々る程薄い。
果皮は成熟につれて薄くな抄、糊粉層は厚くなる。外1
糠層を剥いだ粉体を黒糖と称し、白糠層を剥いだ粉体を
白糠と通称する。外糠層は通常42〜′48μ、白糠層
は25〜40μとされ、精白度は白糠層の糊粉層の厚さ
で精白度が定まり白米の品位が評価される′。糊粉層の
中に食味の成分になる蛋白質と油脂が含まれているから
糊粉層は素板用の白米の重要成分となり、糊粉層を除去
した白米は澱粉白米となり酒造用には好適しても素板用
にはならない。
また、従来は、白米の白炭を計測して精白度に代用され
ていたが、この値は白米粒面すなわち糊粉層の表面に生
成した粗雑面の乱反射の光量を以って白炭となすもので
、精白度とは全く無関係の値である。例えば精米直後僅
かに白糠の付着した白米は2、これを充分除去琢磨した
白米より遥かに低い値の白炭が示される。これは進行し
ている精白度に対し逆の値であるから、精白度に無関係
の値であ志ことを証明している。
すカわち白炭は乱反射光量であり、米粒面に光沢を帯び
て密面になると面反射の傾向により乱反射光量が減少す
る牟うである。真の精白度を意味する糊粉層の厚さは、
その薄膜を透して内胚乳の周面の僅かな乱反射光量も糊
粉層外周面の乱反射光量と共に白炭になってはいるが、
真の精白度は白米粒を透過する光線の光量と白米表面の
乱反射光線の光量と歩留りの三要素を関連的に実験した
統計曲線値によって求めることができる。
そこで、本発明は、試料白米の反射光と透過光との光量
をそれぞれ測定すると共に、品種別補正または玄米透過
量との差によりて補正してその全光量を加算することに
より正確な精白度を測定すると共に、簡単な操作で穀粒
の精白度を次々に測定することができる米粒精白度測定
装置を開発して提供せんとするものである。
本発明を実施例図について説明する。第1図は精白変針
(1)の全体図であり、符号(2)は内面を鋺とした積
分球で、その右側には試料流路(8)が、その反対側に
は集光レンズ(4)が設けられ、また該集光レンズ(4
)の左方には、光源ランプ(5)、熱線吸収フィルター
(6)、単色光フィルター(7)が設けられ、光源ラン
プ(5)、熱線吸収フィルター(6)、単色光フィルタ
ー(7)および集光レンズ(4)によって光源装置が形
成される。(8)は前記試料流路(8)内に設は九基準
色板を備え°九標柱である。また前記試料流路(8)に
は、上部に投入シャッター(9)を、ま九下部に排出シ
ャッター(10)をそれぞれ設けると共に、その上部に
振動装置(1りを備えた振動送穀樋(12)を設け、試
料タンク(18)の穀粒を流路抵抗増減装置(図示し七
ない)の調節 。
によって定量的に1かつ連続的に前記流路(8)に流下
し供給するように形成され、(14)は排出路である。
また前記光源装置の光軸は傾斜自在とされて試料流路(
8)を通過する穀粒の種類や層高等によ;て最適の透過
光を付与できるようにし、前記試料通路(8)の、光源
装置の反対側に試料からの透過光を捕える透過光測定装
置となる透過光受光素子(15A)を設けて透過白変検
出回路(16)に接続し、また前記光源装置と透過光受
光素子(15A)とを結ぶ線を横切る方向である積分球
(2)の下部には、試料から反射光を捕える反射光測定
装置となる反射光受光素子(15B)を設けて反射白変
検出回路(17)に接続する。次に、第2図に示す演算
回路(4)では、前記反射光受光素子(16B)を前記
検出回路(17)の増幅器(18)を介して減算器(1
9)、A−D変換器(20) 、比較器(21)に連結
し、また該比較器(21)は標柱値設定器(22)に連
結されると共に、その出力側を増幅度調節器(28)を
介して前記増幅器(18)に連結し、該増幅器(18)
の出力側の分岐路は暗電流記憶回路(24)を介して前
記減算器(19)に連結すると共に、その(19)出力
側の分岐路を巣算器(25) 、A −D変換器(26
)を介して加算装置(27)に連結する。また前記透過
光受光素子(15A)は前記検出回路(16)の増幅器
(28)を介して乗算器(29)、A−D変換器(80
)を介して前記加算装置(司に連結し、また加算装置(
27)は品種別補正回路(81)に連結されると共に、
そ9出力側を精白度表示器(82) K連結する。々お
、前記反射白変検出回路(17)の減算回路(19)で
は、積分球(2)の暗電流を記憶した暗電流記憶回路(
24)の出力を減算回路(19) K入力してその暗電
流値を受光素子の受光量から減算すると共に、前記比較
器(21)では、標柱値設定器(22)の設定値と受光
素子嬰らの受光量とを比較し、その比較差社増幅度調節
器(28)を介して増幅器(18)の増幅度を変化して
標柱値と一致するように調節する。
以上の構成において、増幅器(18)からの反射量と増
幅器(28)からの透過量および品種別補正回路(31
)からの補正出力によりて計算される加算装置(27)
の計算値、すなわち精白度は次の式によって表わされる
精白度=α・反射量+β・透光量+H なおHは米粒の品種別補正値で、またα・βは自席に換
算するための係数(実験的に求めた数値)である。
したがって、前記試料タンク(18)から試料流路(3
)に試料穀粒が流入して適度の密度に調節されると、流
路抵抗増減装置からの信号によりて透過光受光素子(1
5A)と反射光受光素子(15B)とによって精米の透
過率、反射率がそれぞれ測定されると共に、その信号は
各検出回路(16) (17)を介して加算装置(27
)にそれぞれ入力される。
また該加算装置(27)では、品種別補正回路(31)
からの補正値を入力して前述し六精自席の計算式により
て計算すると共に、その計算値すなわち精白度は精白度
表示器(32)に表示される。
次に1第8図に示す演算回路(B)は、前記演算回路(
A)と全体的にほぼ同様の構成とすると共に、前記加算
装置(27)に入力する品種別補正回路(31)を排除
し、代りに、反射白変検出回路(17A) Kは、玄米
反射度記憶装置(8B)および減算器(84)を、ま九
透過白度検出回路(16A) Kは玄米透過度・記憶装
置(85)および減算器(36)をそれぞれ関連的に介
装して加算装置(27A) K連結すると共に、その出
力側を精白度表示器(82A)に連結する。
以上の構成において、増幅器(18)からの反射量と増
幅器(28)からの透過量によって計算される加算装置
(27A)の計算値、すなわち精白度は次の式で表わさ
れる。
精白度=a(白米反射量−玄米反射量)+β(白米透過
量−玄米透過量) α・βは自席に換算するための係数である。
したがって、試料流路(8)に流入した試料穀粒の透過
率、反射率は透過光受光素子(15A)と反射光受光素
子(15B)とによりてそれぞれ測定されると共に、そ
の白米の透過量は減算器(36)において、受光素子(
15A)からの受光量を玄米透過度記憶装置(85)か
ら−の記憶値(試料玄米を測定し記録した透過量)Kよ
って減算して出力すると共に、その白米の反射量は減算
器(84)において、受光素子(15B)からの受光量
を、玄米反射度記憶装置(88)からの記憶値(試料玄
米を測定し記録した反射量)によって減算してそれぞれ
加算装置(27A) K入力−するので、該加算装置(
27)において、前述した精白度の計算式にょうて計算
されると共に、そめ計算値すなわち精白度は精白度表示
器(82)に表示される。
このように本発明Ω米粒精白度測定装置は、白米粒を透
過する光源の透過量と、白米粒表面を反射する光線の反
射量および品種別補正またはその試料玄米の透過光量差
の補正によりて精白度を測定するので、従来の白米粒面
の乱反射の光量、を以って自席となしたものに比し、真
の精白度の重大要素となる糊粉層の厚さを対象にし、前
記補正値によりその反射光量、透過光量をそれぞれ補正
すると共に、その全光量を加算して算定するから、常に
正確な精白度を確保できると共に1簡単な操作で穀粒の
精白度を次々に測定でき、高品質の精白米を確実に量産
させ得る等のや果を奏するものである。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の実施例図である。第1図は精白度測定装
置の断面図、第2図はその電気回路図、第8図は別実施
例の電気回路図である。 l・・・精白度肝     2・・・積分球8・・・試
料流路     4・・・集光レンズ6・・・光源ラン
プ     6・・・熱線吸収フィルター7・・・単色
光フィルター   8・・・標 柱9・・・投入シャッ
ター    10・・・排出シャッター011・・・振
動装置     12・・・振動送穀樋18・・・試料
タンク    14・・・排出路15A・・・透過光受
光素子   15B・・・反射光受光素子16、16A
・・・透過白炭検出回路17.17A−・・反射白変検
出回路18・・・増幅器      19・・・減算器
20・・・A−D変換器  21・・・比較器22・・
・標柱値設定器   28・・・増幅度調節器24・・
・暗電流記憶回路   25・・・乗算器26・・・A
−、D変換器  27.27A・・・加算装置28・・
・増幅器      29・・・乗算器80・・・A−
D変換器   81・・・品種別補正回路82、82A
・・・精白度表示器  88・・・玄米透過度記憶装置
84・・・減算器       35・・・玄米透過度
記憶装置86・・・減算器 特許出願人 第1図 手続補正書(自発) 昭和57年8月9日 1、 事件の表示 昭和56年特許願第197969号 3、 補正をする者 4、 補正命令の日付  な し 5、 補正の対象 明細書の41許請求?範囲9発明の詳細な説明および図
面の簡単な説明の欄 6、補正の内奏 (A)、%許請求の範囲を下記のように補正する。 特許請求の範囲 (1)、積分球を挾んで光源装置の反対側に試料流路を
介して透過光測定装置を設け、前記積分球の他部に反射
光測定装置を設けて米粒の反射光線A透過光線の応用に
ょ−て精白度を計測する精白度計において、該精白度計
の演算回路に加算装置を設け、該加算装置に反射光直接
または間接にそれぞれ連結して加算し、米粒の精白度を
測定するようにした米粒精白度測定装置。 (2)、前記補正回路が、前記加算装置に直接連結した
品種別補正回路である特許請求の範囲第(1)項記載の
米粒精白度測定装置。 第(1)項記載の米粒精白度測定装置。 (B)、明細書を下記のように補正する。 (1)、明細書第8頁第9行目の「蓬かに低い値の8度
」を「遥かに高い値の8度」K補正する。 (2)、同第5頁第9行目の「前記試料通路」を「を 前記試料流路JK、また同頁第11行目の「透過白変検
出回路」を「透過光検出回路」に、また同頁第16〜1
7行目の「反射光検出回路を「反射光検出回路」にそれ
ぞれ補正する、。 (8)、同第6頁第12行目「前記反射内度検出回路」
を「前記反射光検出回路」に補正する。 (4)・同第8頁第4行目「反射白・度検出回路」を「
反射光検出回路」に、また同頁第5行目の「玄米透過光
記憶装置」を「玄米反射光記憶装置」に、また同頁第6
行目の「透過白変検出回路」を「透過光検出回路」に、
また同頁第11行目の「玄米透過度記憶装置」を[玄米
透過光記憶装置」Kそれぞれ補正する。 によりて」を「透過光量差および反射光量差の補正によ
りて」に補正する。 (6)、同第1O頁第18行目の「透過白変検出回路」
を「透過光検出回路」に、また「反射内度検出回路」を
「反射光検出回路」にそれぞれ補正する。 (7)、同第11頁第6行目の「玄米透過度記憶装置」
を「玄米反射光記憶装置」に、また同頁第4行目の「玄
米透過度記憶装置」を「玄米透過光記憶装置」にそれぞ
れ−正する。 以上

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)、積分球を挾んで光源装置の反対側に試料流路を
    介して透過光測定装置を設け、前記積分球の他部に反射
    光測定装置を設けて米粒の反射光線と透過光線の応用に
    ようて精白度を計測する精白度針において、該白度計の
    演算回路に加算装置を設け、該加算装置に反射内度検出
    回路、透過白変検出回路および補正回路を直接または間
    接にそれぞれ連結して加算し、米粒の精白度を測定する
    ようにした米粒精白度測定装置。
  2. (2)、前記補正回路が、前記加算装置に直接連結した
    品種別補正回路である特許請求の範囲第(1)項記載の
    米粒精白度測定装置。
  3. (3)、前記補正回路が、前記反射内度検出回路に連絡
    した補正用玄米白変記憶回路である特許請求の範囲第(
    1)項記載の米粒精白度測定装置。
JP19795981A 1981-12-08 1981-12-08 米粒精白度測定装置 Granted JPS5899735A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6384558U (ja) * 1986-11-21 1988-06-02

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6384558U (ja) * 1986-11-21 1988-06-02

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