JPS58100751A - 米粒精白度測定装置 - Google Patents

米粒精白度測定装置

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JPS58100751A
JPS58100751A JP20057481A JP20057481A JPS58100751A JP S58100751 A JPS58100751 A JP S58100751A JP 20057481 A JP20057481 A JP 20057481A JP 20057481 A JP20057481 A JP 20057481A JP S58100751 A JPS58100751 A JP S58100751A
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Toshihiko Satake
佐竹 利彦
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Satake Engineering Co Ltd
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/02Food
    • G01N33/10Starch-containing substances, e.g. dough

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  • Analytical Chemistry (AREA)
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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は穀粒、主として米粒の精白度を測定する装置に
関する。
一般に、米粒は精米機で搗精することにより、除糠され
て白く表るが、従来からその白さの度合をもりて搗精率
すなわち精白度として表示されていた。飯用米の精白度
は米粒を加工して米粒面に残留する糊粉層の厚さを意味
し、そして玄米粒は中核部をなす澱粉層すなわち内胚乳
部とその外周を包被する糠層から成り、糠層は外糠層と
内糠層から成抄、外糠層は外壁をなす果皮とその内壁面
にある種皮から成り、内糠層は外胚乳と糊粉層から成る
。糠層は成熟につれて薄くな抄、また成熟米では良質米
になる程薄い。
果皮は成熟するKつれて薄くな抄、糊粉層は厚くなる。
外糠層を剥いだ粉体を黒糖と称し、内糠層を剥いだ粉体
を白糠と通称する。外糠層は通常42〜48μ、内糠層
は25〜40μとされ、精白度は内糠層の糊粉層の厚さ
で定まり、白米の品位が評価される。糊粉層の中に食味
の成分になる蛋白質と油脂が含まれているから糊粉層は
置板用の白米の重要成分となり、糊粉層を除去した白米
は澱粉白米となり酒造用には好適しても置板用にはなら
ない。
また、従来は、白米の白変を計測して精白度に代用され
ていたが、この値は白米粒面すなわち糊粉層の表面に生
成した粗雑面の乱反射の光量を以って白変となすもので
、精白度とは全く無関係の値である。例えば精米直後僅
かに白糠の付着した白米は、これを充分除去琢磨した白
米より遥かに低い値の白変が示される。これは進行して
いる精白度に対し逆の値であるから、精白度に無関係の
値であることを証明している。
すなわち白変は乱反射光量であり、米粒面に光沢を帯び
て密面になると面反射の傾向により乱反射光量が減少す
るからである。真の精白度を意味する糊粉層の厚さは、
その薄膜を透して内胚乳の周回の僅かな乱反射光量も糊
粉層外周面の乱反射光量と共に白変になってはいるが、
真の精白度は白米粒を透過する光線の光量と白米表面の
乱反射光線の光量と歩留りの三要素を関連的に実験した
統計曲線値によって求めることができる。また前記白米
粒を透過する光線の光量は、その米粒密度(容積重)に
よって影響されて変化するので、その容積重を計測して
光量を密度補正することにより正確な精白度を測定でき
る。
そこで、本発明は、試料白米の反射光と透過光との光量
をそれぞれ測定し、また前記透過光の光量を容積重によ
りて密度補正すると共に1品種別補正または玄米透過量
との差によって補正してその全光量を加算することによ
り、正確な精白度を測定すると共に、簡単な操作で穀粒
の精白度を次々に測定することができる米粒精白度測定
装置を開発して提供せんとするもので   “ある。
本発明を実施例図について説明する。第1図は精白変針
(1)の全体図であり、符号(2)は内面を鏡とした積
分球で、その右側には試料流路(3)が、その反対側に
は集光レンズ(4)が設けられ、また該集光レンズ(4
)の左方には、光源ランプ(5)、熱線吸収フィルター
(6)、単色光フィルター(7)が設けられ、光源ラン
プ(5)、熱線吸収フィルター(6X単色光フィルター
(7)および集光レンズ(4)によって光源装置が形成
される。(8)は前記試料流路(3)内に設けた基準色
板を備えた標柱である。また前記試料流路(3)には、
上部に投入シャッター(9)を、また下部に排出シャッ
ター(10)をそれぞれ設けると共に、その上部に振動
装置(11)を備えた振動送穀樋(12)を設け、該送
穀樋(12)の上部に設けた計量タンク(18)から流
下する穀粒を流路抵抗増減装置(図示してない)の調節
によって定量的に、かつ連続的に前記流路(8)に流下
し供給するように形成され、(14)は排出路である。
また前記光源装置の光軸は傾斜自在とされて試料流路(
3)を通過する穀粒の種類や層高等によって最適の透過
光を付与できるようにし、前記試料流路(8)の光源装
置の反対側に試料からの透過光を捕える透過光測定装置
となる透過光受光素子(15A)を設けて透過度検出回
路(16)に接続しまた前記光源装置と透過光受光素子
(15A)とを結ぶ線を横切る方向である積分球(2)
の下部には、試料から反射光を捕える反射光測定装置と
なる反射光受光素子(15B)を設けて反射度検出回路
(17)に接続する。次に前記計量タンク(13)には
、その上部に排出シャッター(18)を備えた供給タン
ク(19)を設けると共に、該タンク(13)の外周に
溢流する穀粒を流下し排出する外側タンク(2o)を設
け、該タンク(20)には静電容量の近接スイッチ(2
1)を設けて計量タンク(18) K供給された穀粒が
タンク上部に累積して安息角を形成した状態(所定容量
の穀粒が供給されたことを確認する)を前記スイッチ(
21)が検出し、その検出信号を容積重検出回路(22
)に設けた調節器(28)に送信するようにし、また計
量タンク(18)は、その下部に排出シャッター(24
)を設けると共に、その筒体をロードセル(25) (
25) K上載して重量を測定し、その測定信号を調節
器(28)を介して前記構出回路(茨)に入力する。ま
た前記調節器(28)には、各排出シャッター(1g)
 (24)の作動装置がそれぞれ連結されると共に、近
接スイッチ(21)に連結されて各機部を関連的にそれ
ぞれ作動し、前記計量タンク(18)に所定容量の穀粒
を供給すると共に、その容積重を計測して送信し、また
その計量作用は連続的に行われるように形成しである。
次に、第2図に示す演算回路00では、前記積分球(2
)の反射光受光素子(15B)を反射度検出回路(17
)の増幅器(26)に連結すると共に、減算器(27)
、A−D変換器(28)、比較器(29)を直列状に連
結し、また該比較器(29)は標柱値設定器(80)に
連結されると共に1その出力側を増幅度調節器(81)
を介して前記増幅器(26) K連結し、また増幅器(
26)の出力側の分岐路を暗電流記憶回路(82)を介
して前記減算器(27)に連結すると共に、その(訂)
出力側の分岐路を乗算器(8B)、A−D′   変換
器(84)を介して加算装置(85)に連結する。
また前記透過光受光素子(15A)  は透過度検出回
路(16)の増幅器(86)から乗算器(87) 、積
算器(88)、A−D変換器(89)を介して前記加算
装置(851K連結され、また加算装置(85) Kは
品種別補正回路(40)を連結すると共に、その出力側
を精白度表示器(41) K連結する。ま大前記計量タ
ンク(18)側に設けた容積重検出回路(22)の調節
器(28)は、増幅器(42) 、乗算器(48)を介
して透過度検出回路(16)の乗算器(87)に連結し
である。
なお、前記反射度検出回路(17)の減算器(27)で
は、積分球(2)の暗電流を記憶し六暗電流記憶回路(
82)の出力を減算器(27)に入力してその暗電流値
を受光素子の受光量から減算すると共へ前記比較器(2
9)では、標柱値設定器(30)の設定値と受光素子か
らの受光量とを比較し、その比較差により増幅度調節器
(31)を介して増幅器(26)の増幅度を変化して標
柱値と一致するように調節する。
以上の構成において、増幅器(26)からの反射量と増
幅器(36)からの透過量(密度補正する)および品種
別補正回路(40)からのそれぞれの出力によりて計算
される加算装置(85)の計算値、すなわち精白度は次
の式にょワて表わされる。
精白度=α(反射量)十β(透過量)(容積重)K+ 
1( なお、α、βおよびXは自席に換算するための係数(実
験的に求めた数値)、Hは米粒の品種別補正値である。
したがって、前記供給タンク(19)の排出シャッター
(18)は調節器(28)からの信号に上って開放して
所定時間後に閉成するので、該夕/り(19)内の米粒
は下部の計量タンク(13)に流下して充満すると共に
、タンク(18)上部に山形状に累積して安息角を形成
し、また該安息角を清流する所定容量以上の米粒は外側
タンク(20)内を流下して機外に排出される。そして
前記計量タンク(18)の山形状穀層の上端部分(所定
容量の穀粒を意味する)を静電容量の前記近接スイッチ
(21)が検出すると、その検出信号によって直ちにタ
ンク重責をロードセル(25) (25)が測定し、そ
の測定信号を調節器(28)に入力して容積重を算定す
ると共に、その信号は容積重検出回路(22)に導入さ
れる。また、前記近接スイッチ(21)が検出信号を発
した数秒後に調節器(23)からの信号によって計量タ
ンク(18)下部に設は九排出シャッター(24)が開
成するので、タンク(18)内の穀粒は排出されて振動
送穀樋(12)を介して試料流路(8)K流下し、該流
路(8)内に供給された試料穀粒が適度の密度に調節さ
れると、流路抵抗増減装置からの信号によって透過光受
光素子(15A)と反射光受光素子(15B)とKより
て精米の透過率、反射率がそれぞれ測定されると共に、
その信号は各検出回路(16) (17)を介して加算
装置(85)にそれぞれ入力される。その間、前記調節
器(28)からの容積重の信号(個は乗算器(43)に
おいて乗算(3)されると共に、その信号(B−K)は
透過光検出回路(16)の乗算器(87) K入力され
、該乗算器(87)では受光素子(15A)からの信号
(、A)と乗算されてその信号(A−BIC)を次の乗
算器(88)に入力する。ま九該乗算器(88)で唸、
前記信号をさらに乗算@して透過光の光量を容積重によ
りて密度補正してその信号を加算装置(35) K入力
し、また加算装置(85)は、品種別補正回路(40)
からの補正値の信号を入力し、前述した精白度の計算式
によって計算すると共に、その計算値すなわち精白度は
精白度表示器(41)に表示される。
次に、第8図に示す演算回路(y)は、前記演算回路(
X)と全体的にほぼ同様に構成されると共に、前記加算
装置(85) K入力した品種別補正回路(40)を排
除し、代りに反射度検出回路(17A)に玄米反射度記
憶装置(44)および減算器(45)を、オた透過度検
出回路(16A)には玄米透過度記憶装置(46)およ
び減算器(47)をそれぞれ関連的に介装して加算装置
(85A)に連絡すると共に、その出力側を精白度表示
器(41A)に連結する。
以上の構成において、増幅器(26)からの反射量と増
幅器(36)からの透過量(密度補正する)によって計
算される加算装置(85A)の計算値、すなわち精白度
は次の式で表わされる。
精白度=a(白米反射量−玄米反射量)+β〔(白米透
過量)(白米容積重)K−(玄米透過f)(玄米答積重
) 〕 α・βおよびKは白変に換算するための係数(実験的に
求めた数値)である。
したがって、前記供給タンク(19)の排出シーツター
(18)は調節器(28)からの信号にようて開成して
所定時間後に閉成するので、該タンク内の穀粒(試料白
米)は計量タンク(13)に流下して充満すると共に、
タンク(13)上部に山形状に累積して安息角を形成し
、その所定容量の穀粒を静電容量の前記近接スイッチ(
21)が検出すると、その検出信号にようて直ちにタン
ク重量をロードセル(25) (25)が測定し、その
測定信号を調節器(2B) K入力して容積重を算定し
てその信号は容積重検出回路(22)に導入される。マ
九前記近接スイッチ(21)が検出信号を発した数秒後
に調節器(28)からの信号によって計量タンク(13
)下部に設は光排出シャッター(24)が開成するので
、タンク(13)内の穀粒は排出されて振動送穀樋(1
2)を介して試料流路(8)に流下して供給さ汰積分球
(2)において前述したと同様の反射率と透過率の測定
が実施されると共に1その各検出信号は反射度検出回路
(17A)および透過度検出回路(16a)に導入され
る。なお、この試料白米の反射率と透過率の測定作業の
事前に試料玄米の反射率と透過率を測定して玄米反射度
記憶装置(44)と玄米透過度記憶装置(46)にそれ
ぞれ数値を記憶させであるから、反射度検出回路(17
A)の減算器(45)において、受光素子(15B)か
らの白米の受光量を玄米反射度記憶装置(44)からの
記憶値によりて減算すると共に、透過度検出回路(16
A)の減算器(47ンにおいて、受光素子(15A)か
らの白米の受光量を玄米透過度記憶装置(46)からの
記憶値によって減算してそれぞれ加算装置(85A)に
入力するので、該加算装置(85A)において、前述し
た精白度の計算式によって計算されると共に、その計算
値すなわち精白度は精白度表示器(41A)に表示され
る。
このように本発明の米粒精白度測定装置は、白米粒を透
過する光線の透過量と、白米粒表面を反射する光線の反
射量をそれぞれ測定し、また前記白米粒の透過量を容積
重によって密度補正すると共に、品種別補正または試料
玄米の反射・透過光量差にようて補正して精白度を測定
するので、従来の白米粒面の乱反射の光量を以りて白変
となしたものに比し、真の精白度の重大要素となる糊粉
層の厚さを対象にし、前述の容積重による密度補正およ
び各補正値によりその反射光量・透過光量をそれぞれ補
正してその全光量を加算して算定するから、常に正確な
真の精白度を確保できると共に、簡単な操作で穀粒の精
白度を次々に測定でき、高品質の精白米を確実に貴意さ
せ得る等の効果を奏するものである。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の実施例図である。第1図は精白度測定装
置の断面図、第2図はその電気回路図、第8図は別実施
例の電気回路図である。 l・・・精白直針     2・・・積分球8・・・試
料流路     4・・・集光レンズ5・・・光源ラン
プ     6・・・熱線吸収フィルター7・・・単色
光フィルター   8・・・標 柱9・・・投入シャッ
ター  lO・・・排出シャッター11・・・振動装置
     12・・・振動送穀樋18・・・計量タンク
    14・・・排出路15A−・・透過光受光素子
  15B・・・反射光受光素子16.16A・・・透
過度検出回路 17.17A・・・反射度検出回路18
・・・排出シャッター  19・・・供給タンク20・
・・外側タンク    21・・・近接スイッチ22・
・・容積重検出回路   23・・・調節器24・・・
排出シャッター  25・・・ロードセル26・・・増
幅器     27・・・減算器28・・・交換器  
    29・・・比較器30・・・標柱値設定器  
 81・・・増幅度調節器82・・・暗電流記憶回路 
  38・・・乗算器84・・・A−D変換器   8
5.85A・・・加算装置86・・・増幅器     
 87・・・乗算器88・・・乗算器      89
・・・A−D変換器40・・・品種別補正回路 41.
41ム・・・精白度表示器42・・・増幅器     
48・・・乗算器44・・・玄米透過度記憶装置 45
・・・減算器46・・・玄米透過度記憶装置 47・・
・減算器特許出願人

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (1)、積分球を挾んで光源装置の反対側に試料流路を
    介して透過光測定装置を設け、前記積分球の他部に反射
    光測定装置を設けて米粒の反射光線と透過光線の応用に
    よって精白度を計測する精白変針において、前記試料流
    路の供給側に計量タンクを設けると共に、前記白度計の
    演算回路に加算装置をを設け、該加算装置に反射度検出
    回路と透過度検出回路を連結すると共に、前記計量タン
    クの容積重検出回路と補正回路を関連的に連結して加算
    するようにし、米粒の精白度を611定する仁とを特徴
    とした米粒精白度測定装置。 (答前、記補正回路が、前記加算装置に直接連結した品
    種別補正回路である特許請求の範囲第(1)項記載の米
    粒精白度測定装置。 (8)、前記補正回路が、前記反射度検出回路に連結し
    た玄米°反射度検出回路と透過度検出回路に連結した玄
    米透過度記憶回路である特許請求の範囲第(1)項記載
    の米粒精白度測定装置。
JP20057481A 1981-12-11 1981-12-11 米粒精白度測定装置 Granted JPS58100751A (ja)

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JP20057481A JPS58100751A (ja) 1981-12-11 1981-12-11 米粒精白度測定装置

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JPS6332131B2 JPS6332131B2 (ja) 1988-06-28

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4587841A (en) * 1984-02-22 1986-05-13 Etat Francais Hydrodynamic test apparatus

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4587841A (en) * 1984-02-22 1986-05-13 Etat Francais Hydrodynamic test apparatus

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