JPH0143576B2 - - Google Patents
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- JPH0143576B2 JPH0143576B2 JP57138701A JP13870182A JPH0143576B2 JP H0143576 B2 JPH0143576 B2 JP H0143576B2 JP 57138701 A JP57138701 A JP 57138701A JP 13870182 A JP13870182 A JP 13870182A JP H0143576 B2 JPH0143576 B2 JP H0143576B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- rice
- polishing
- friction
- rotation speed
- amount
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Adjustment And Processing Of Grains (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は精米機の精白度自動制御装置に関し特
に米粒からの反射光量と透過光量とを計測する、
精白度計の値に基づいて複数の摩擦式精米機の負
荷を自動的に制御して玄米を所定の精白度の飯用
白米に精白加工する装置である。
に米粒からの反射光量と透過光量とを計測する、
精白度計の値に基づいて複数の摩擦式精米機の負
荷を自動的に制御して玄米を所定の精白度の飯用
白米に精白加工する装置である。
玄米粒は中核部をなす澱粉層すなわち内胚乳部
とその外周を包被する糠層から成り、糠層は外糠
層と内糠層から成り、外糠層は外壁をなす果皮と
その内壁面にある種皮から成り、内糠層は外胚乳
と糊粉層から成る。糠層は成熟につれて薄くな
り、また成熟米では良質米になる程薄い。果皮は
成熟につれて薄くなり、糊粉層は厚くなる。外糠
層を剥いだ粉体を黒糠と称し、内糠層を剥いだ粉
体を白糠と通称する。外糠層は通常42〜48μ、内
糠層は25〜40μとされ、精白度は内糠層の糊粉層
の厚さで定まり白米の品位が評価される。糊粉層
の中に食味の成分になる蛋白質と油脂が含まれて
いるから糊粉層は飯用白米の重要成分となり、糊
粉層を完全に除去した白米は酒造用には好適して
も食飯用には適さない。
とその外周を包被する糠層から成り、糠層は外糠
層と内糠層から成り、外糠層は外壁をなす果皮と
その内壁面にある種皮から成り、内糠層は外胚乳
と糊粉層から成る。糠層は成熟につれて薄くな
り、また成熟米では良質米になる程薄い。果皮は
成熟につれて薄くなり、糊粉層は厚くなる。外糠
層を剥いだ粉体を黒糠と称し、内糠層を剥いだ粉
体を白糠と通称する。外糠層は通常42〜48μ、内
糠層は25〜40μとされ、精白度は内糠層の糊粉層
の厚さで定まり白米の品位が評価される。糊粉層
の中に食味の成分になる蛋白質と油脂が含まれて
いるから糊粉層は飯用白米の重要成分となり、糊
粉層を完全に除去した白米は酒造用には好適して
も食飯用には適さない。
従来、白米の白度を反射光量だけにより計測し
て精白の程度として用いていたが、この値は白米
粒面に生成した粗雑面の乱反射の光量を以つて精
白の程度となすもので、真の精白度とは全く無関
係の値である。例えば精米直後糠の付着した白米
からの反射光量は、これを充分除去琢磨した白米
の反射光量より遥かに高い値の白度が示される。
これは進行している精白度に対し逆の値であるか
ら、精白度に無関係の値であることを証明してい
る。すなわち白度は乱反射光量であり、米粒面に
光沢を帯びて密面になると面反射の傾向により乱
反射光量が減少するからである。このように従来
は照射光量に対する反射光量を計測する、いわゆ
る白度計を精米機に使用して精米の程度を調節す
ることが行われており、例えば特公昭47−32547
号公報、特公昭54−24941号公報にその技術が開
示されている。しかしながら前述のような問題が
あり本出願人は先に特願昭56−128194号（特開昭
58−30641号公報参照）として反射光量に加え透
過光量をも検出する精白度測定装置を発明した。
真の精白度は白米粒を通過する光線の光量と白米
表面の乱反射光線の光量と歩留りの三要素を関連
的に実験した統計曲線値によつて求めることがで
きる。なお、前記白米粒の透過光線の光量は、そ
の米粒密度（容積重）によつて影響されて変化す
るので、容積重を計測して前記光量を密度補正す
ることにより、正確な精白度を測定することがで
きる。
て精白の程度として用いていたが、この値は白米
粒面に生成した粗雑面の乱反射の光量を以つて精
白の程度となすもので、真の精白度とは全く無関
係の値である。例えば精米直後糠の付着した白米
からの反射光量は、これを充分除去琢磨した白米
の反射光量より遥かに高い値の白度が示される。
これは進行している精白度に対し逆の値であるか
ら、精白度に無関係の値であることを証明してい
る。すなわち白度は乱反射光量であり、米粒面に
光沢を帯びて密面になると面反射の傾向により乱
反射光量が減少するからである。このように従来
は照射光量に対する反射光量を計測する、いわゆ
る白度計を精米機に使用して精米の程度を調節す
ることが行われており、例えば特公昭47−32547
号公報、特公昭54−24941号公報にその技術が開
示されている。しかしながら前述のような問題が
あり本出願人は先に特願昭56−128194号（特開昭
58−30641号公報参照）として反射光量に加え透
過光量をも検出する精白度測定装置を発明した。
真の精白度は白米粒を通過する光線の光量と白米
表面の乱反射光線の光量と歩留りの三要素を関連
的に実験した統計曲線値によつて求めることがで
きる。なお、前記白米粒の透過光線の光量は、そ
の米粒密度（容積重）によつて影響されて変化す
るので、容積重を計測して前記光量を密度補正す
ることにより、正確な精白度を測定することがで
きる。
次に精白度は精米機の負荷と米の流量によつて
左右されるから、精白度計と精米機の負荷制御装
置とを連結し、所定の精白度に加工するように負
荷を自動制御することにより白米の精白度を一定
に保持管理することができる。
左右されるから、精白度計と精米機の負荷制御装
置とを連結し、所定の精白度に加工するように負
荷を自動制御することにより白米の精白度を一定
に保持管理することができる。
精米機の負荷は精白転子の回転力に対する抵抗
であるから、精白転子と米粒の摩擦力と精白転子
の周面速度との相乗積であり、従つて摩擦の法線
応力すなわち圧力と速度のいずれかを調節すれば
負荷が制御される。
であるから、精白転子と米粒の摩擦力と精白転子
の周面速度との相乗積であり、従つて摩擦の法線
応力すなわち圧力と速度のいずれかを調節すれば
負荷が制御される。
圧力は排出口か精白室壁の圧迫度により調節さ
れるが、外力を加えたとき精白転子の回転力に反
応を示すまでの時差があるので瞬間的な負荷調節
が困難で、この時差のためにハンチング現象を伴
う欠点がある。これに対し精白転子の回転数を調
節すれば調節の即応が現われ敏感な負荷調節がで
きる。
れるが、外力を加えたとき精白転子の回転力に反
応を示すまでの時差があるので瞬間的な負荷調節
が困難で、この時差のためにハンチング現象を伴
う欠点がある。これに対し精白転子の回転数を調
節すれば調節の即応が現われ敏感な負荷調節がで
きる。
圧力調節によるときは精白作用の特性を著しく
変調することがない代わりに、負荷に波動性のあ
る場合にはハンチングのために調整を誤る不便が
ある。また速度調節によるときは精白作用の特性
変化は大きいが、負荷に波動性があつても敏捷に
安定した調整が正確に行える便利がある。
変調することがない代わりに、負荷に波動性のあ
る場合にはハンチングのために調整を誤る不便が
ある。また速度調節によるときは精白作用の特性
変化は大きいが、負荷に波動性があつても敏捷に
安定した調整が正確に行える便利がある。
また、前記精白転子の回転数の適否は搗精作用
や米の流量に関係があり、一般に、研削式精米機
の研削作用は研削精白転子の周速度（円周×回転
数）に比例するが、回転数が高すぎると米粒が球
形になつたり、砕粒が増加したりし、また回転数
が小さいと搗精能率が極度に低下するので、多連
式精米装置（コンパス）の一番機の研削精白転子
は毎分1000回転程度である。これに対して摩擦式
精米機では、摩擦精白転子の回転数が基本的に小
さく、噴風式で550〜800程度である。したがつ
て、その回転数を多小増減しても前述の研削作用
における回転数の増減による弊害を生ずることが
ないので、本発明は従来なかつた精白度計を用
い、その測定値によつて精米機の摩擦精白転子の
回転数を回転数可変装置を介して変えるようにフ
イードバツクすることにより、常に、白米の精白
度を一定に保持管理すると共に、高精白度の良質
精白米の量産を達成する装置を開発して提供せん
とするものである。
や米の流量に関係があり、一般に、研削式精米機
の研削作用は研削精白転子の周速度（円周×回転
数）に比例するが、回転数が高すぎると米粒が球
形になつたり、砕粒が増加したりし、また回転数
が小さいと搗精能率が極度に低下するので、多連
式精米装置（コンパス）の一番機の研削精白転子
は毎分1000回転程度である。これに対して摩擦式
精米機では、摩擦精白転子の回転数が基本的に小
さく、噴風式で550〜800程度である。したがつ
て、その回転数を多小増減しても前述の研削作用
における回転数の増減による弊害を生ずることが
ないので、本発明は従来なかつた精白度計を用
い、その測定値によつて精米機の摩擦精白転子の
回転数を回転数可変装置を介して変えるようにフ
イードバツクすることにより、常に、白米の精白
度を一定に保持管理すると共に、高精白度の良質
精白米の量産を達成する装置を開発して提供せん
とするものである。
本発明を実施例図について説明する。第１図は
精白度計１の全体図であり、符号２は内面を鏡と
した積分球で、その一側を開口して試料流路３
が、その反対側も開口して集光レンズ４が設けら
れ、該集光レンズ４には、光源ランプ５、熱線吸
収フイルター６、単色光フイルター７が関連的に
設けられ、光源ランプ５、熱線吸集フイルター
６、単色光フイルター７および集光レンズ４によ
つて光源装置が形成される。８は前記試料流路３
内に設けた基準白板を備えた標柱であり、前記試
料流路３の下部には流路抵抗増減装置（図示して
ない）を設けて流路内の試料密度を適宜に調節す
るようにし、前記光源装置の光軸は傾斜自在とさ
れて試料流路３を通過する穀粒の種類や層高等に
よつて最適の透過光を付与できるように形成して
ある。また、前記試料流路３の光源装置とは反対
側に試料からの透過光を捕える透過光測定装置と
なる透過光受光素子９Ａを設けて増幅器１０Ａに
接続する。また、前記光源装置と透過光受光素子
９Ａとを結ぶ線を横切る方向である積分球２の内
部に、試料からの反射光を捕える反射光測定装置
となる反射光受光素子９Ｂを設けて増幅器１０Ｂ
に接続する。そして前記両増幅器１０Ａ，１０Ｂ
を各々アナログデジタル変換装置（以下Ａ−Ｄ変
換装置と略す）１１Ａ，１１Ｂを介して演算素子
から成る演算装置１２に接続すると共に、その出
力側を分岐して一方を精白度表示器１３に、また
他方を比較装置１４にそれぞれ接続し、該比較装
置１４は精白度設定器１５に連結されると共に、
その出力側を回転数可変装置１６を介して調節用
電動機１７に接続してある。なお、１８は積分球
に設けた入光シヤツターである。
精白度計１の全体図であり、符号２は内面を鏡と
した積分球で、その一側を開口して試料流路３
が、その反対側も開口して集光レンズ４が設けら
れ、該集光レンズ４には、光源ランプ５、熱線吸
収フイルター６、単色光フイルター７が関連的に
設けられ、光源ランプ５、熱線吸集フイルター
６、単色光フイルター７および集光レンズ４によ
つて光源装置が形成される。８は前記試料流路３
内に設けた基準白板を備えた標柱であり、前記試
料流路３の下部には流路抵抗増減装置（図示して
ない）を設けて流路内の試料密度を適宜に調節す
るようにし、前記光源装置の光軸は傾斜自在とさ
れて試料流路３を通過する穀粒の種類や層高等に
よつて最適の透過光を付与できるように形成して
ある。また、前記試料流路３の光源装置とは反対
側に試料からの透過光を捕える透過光測定装置と
なる透過光受光素子９Ａを設けて増幅器１０Ａに
接続する。また、前記光源装置と透過光受光素子
９Ａとを結ぶ線を横切る方向である積分球２の内
部に、試料からの反射光を捕える反射光測定装置
となる反射光受光素子９Ｂを設けて増幅器１０Ｂ
に接続する。そして前記両増幅器１０Ａ，１０Ｂ
を各々アナログデジタル変換装置（以下Ａ−Ｄ変
換装置と略す）１１Ａ，１１Ｂを介して演算素子
から成る演算装置１２に接続すると共に、その出
力側を分岐して一方を精白度表示器１３に、また
他方を比較装置１４にそれぞれ接続し、該比較装
置１４は精白度設定器１５に連結されると共に、
その出力側を回転数可変装置１６を介して調節用
電動機１７に接続してある。なお、１８は積分球
に設けた入光シヤツターである。
前記回転数可変装置１６には、インバーター装
置、うず電流継手方式装置などが使用されるが、
本実施例ではインバーター装置を使用した場合に
ついて説明する。
置、うず電流継手方式装置などが使用されるが、
本実施例ではインバーター装置を使用した場合に
ついて説明する。
以上の構成において、増幅器１０Ａからの反射
量と、増幅器１０Ｂからの透過量とによつて計算
される演算装置１２に設けた演算素子の計算値、
すなわち精白度は次の式によつて表わされる。
量と、増幅器１０Ｂからの透過量とによつて計算
される演算装置１２に設けた演算素子の計算値、
すなわち精白度は次の式によつて表わされる。
精白度＝反射量＋Ｋ・透過量、なおＫは透過度
を白度に換算するための係数（実験的に求めた数
値を用いる）である。
を白度に換算するための係数（実験的に求めた数
値を用いる）である。
したがつて、前記試料流路３に試料穀粒が流入
して適度の密度に調節されると、流路抵抗増減装
置からの信号で反射光受光素子９Ｂと透過光受光
素子９Ａとによつて精米の反射率、透過率がそれ
ぞれ測定されると共に、その信号は各増幅器１０
Ａ，１０ＢおよびＡ−Ｄ変換装置１１Ａ，１１Ｂ
を介して演算装置１２に入力され、該演算装置１
２において、前述した精白度の計算式によつて計
算され、その計算値が精白度表示器１３に表示さ
れると共に、その信号は比較装置１４に入力され
て精白度設定器１５に設定した任意の基準精白度
と比較されると共に、その過不足の比較信号を回
転数可変装置１６のインバーター装置に入力して
交流の周波数を増減して調節用電動機１７を変速
回転することになる。
して適度の密度に調節されると、流路抵抗増減装
置からの信号で反射光受光素子９Ｂと透過光受光
素子９Ａとによつて精米の反射率、透過率がそれ
ぞれ測定されると共に、その信号は各増幅器１０
Ａ，１０ＢおよびＡ−Ｄ変換装置１１Ａ，１１Ｂ
を介して演算装置１２に入力され、該演算装置１
２において、前述した精白度の計算式によつて計
算され、その計算値が精白度表示器１３に表示さ
れると共に、その信号は比較装置１４に入力され
て精白度設定器１５に設定した任意の基準精白度
と比較されると共に、その過不足の比較信号を回
転数可変装置１６のインバーター装置に入力して
交流の周波数を増減して調節用電動機１７を変速
回転することになる。
次に、第２図により摩擦式精米機について説明
する。摩擦式精白転子１９を多孔壁精白筒２０内
に軸装した精白室２１に供給口２２と排出口２３
を設け、その回転主軸２４に調車２５を軸着して
電動機２６の調車２７にベルト２８によつて連結
した摩擦式精米機２９であり、該精米機２９の機
枠上部の一側に、前記精白室２１の排出口２３に
設けた圧迫蓋３０の圧迫度を調節する負荷調節装
置３１を設ける。
する。摩擦式精白転子１９を多孔壁精白筒２０内
に軸装した精白室２１に供給口２２と排出口２３
を設け、その回転主軸２４に調車２５を軸着して
電動機２６の調車２７にベルト２８によつて連結
した摩擦式精米機２９であり、該精米機２９の機
枠上部の一側に、前記精白室２１の排出口２３に
設けた圧迫蓋３０の圧迫度を調節する負荷調節装
置３１を設ける。
第３図により複数の摩擦式精米機３６，３７，
３８を使用した多連式精米装置を説明する。一番
機の研削式精米機３５と二番機、三番機、四番機
の摩擦式精米機３６，３７，３８を直列状に組合
せると共に、最終工程である四番機の精米機３８
の排出口部に精白度計１Ａを設け、各摩擦式精米
機３６，３７，３８に回転数可変装置３９，４
０，４１をそれぞれ装着すると共に、前記各電動
機４２Ａ，４２Ｂ，４２Ｃおよび前記精白度計１
Ａに関連的に、かつ電気的にそれぞれ連結する。
また、研削式精米機３５には別個の電動機４３を
連結してある。そして、前記回転数可変装置が、
複数個の摩擦式精米機に負荷を分配する負荷分配
装置に連結してあり、（第４図参照）前記精白度
計１Ａに設けた比較装置１４の出力側を負荷分配
装置４４から各回転数可変装置３９，４０，４１
の各インバーター装置を介して各電動機４２Ａ，
４２Ｂ，４２Ｃにそれぞれ連結するので、精白度
計１Ａによつて計測した精白度と設定値との差が
大きい場合は、負荷分配装置４４によつて負荷を
分配して、四番機３８から三番機３７、二番機３
６の順に交流の周波数を変化して各精白転子の回
転数は段階的にそれぞれ調節され、各精白室内の
負荷は敏捷にかつ効率的に自動調節されるので、
常に白米の精白度を一定に保持管理することがで
きる。特定の摩擦式精米機の負荷だけを調節する
と調節範囲が大きくなり砕米が増加する危険があ
るが、複数の摩擦式精米機の負荷を調節するので
負荷変更の比率が小さくなり、高精白度の良質精
白米の量産を確実に、かつ円滑迅速に達成できる
等の顕著な効果を奏するものである。
３８を使用した多連式精米装置を説明する。一番
機の研削式精米機３５と二番機、三番機、四番機
の摩擦式精米機３６，３７，３８を直列状に組合
せると共に、最終工程である四番機の精米機３８
の排出口部に精白度計１Ａを設け、各摩擦式精米
機３６，３７，３８に回転数可変装置３９，４
０，４１をそれぞれ装着すると共に、前記各電動
機４２Ａ，４２Ｂ，４２Ｃおよび前記精白度計１
Ａに関連的に、かつ電気的にそれぞれ連結する。
また、研削式精米機３５には別個の電動機４３を
連結してある。そして、前記回転数可変装置が、
複数個の摩擦式精米機に負荷を分配する負荷分配
装置に連結してあり、（第４図参照）前記精白度
計１Ａに設けた比較装置１４の出力側を負荷分配
装置４４から各回転数可変装置３９，４０，４１
の各インバーター装置を介して各電動機４２Ａ，
４２Ｂ，４２Ｃにそれぞれ連結するので、精白度
計１Ａによつて計測した精白度と設定値との差が
大きい場合は、負荷分配装置４４によつて負荷を
分配して、四番機３８から三番機３７、二番機３
６の順に交流の周波数を変化して各精白転子の回
転数は段階的にそれぞれ調節され、各精白室内の
負荷は敏捷にかつ効率的に自動調節されるので、
常に白米の精白度を一定に保持管理することがで
きる。特定の摩擦式精米機の負荷だけを調節する
と調節範囲が大きくなり砕米が増加する危険があ
るが、複数の摩擦式精米機の負荷を調節するので
負荷変更の比率が小さくなり、高精白度の良質精
白米の量産を確実に、かつ円滑迅速に達成できる
等の顕著な効果を奏するものである。
図面は本発明の実施例図である。第１図は精白
度計の説明図、第２図は精白度計を備えた摩擦式
精米機の側断面図、第３図は多連式精米装置の正
面図、第４図は精白度計の一部電気回路のブロツ
ク図である。 １，１Ａ…精白度計、２…積分球、３…試料流
路、４…集光レンズ、５…光源ランプ、６…熱線
吸収フイルター、７…単色光フイルター、８…標
柱、９Ａ…透過光受光素子、９Ｂ…反射光受光素
子、１０Ａ，１０Ｂ…増幅器、１１Ａ，１１Ｂ…
アナログデジタル変換装置、１２…演算装置、１
３…精白度表示器、１４…比較装置、１５…精白
度設定器、１６…回転数可変装置、１７…調節用
電動機、１８…入光シヤツター、１９…摩擦精白
転子、２０…多孔壁精白筒、２１…精白室、２２
…供給口、２３…排出口、２４…回転主軸、２５
…調車、２６…電動機、２７…調車、２８…ベル
ト、２９…摩擦式精米機、３０…圧迫蓋、３１…
負荷調節装置、３２…流下樋、３３…試料排出
口、３４…回転数可変装置、３５…研削式精米
機、３６，３７，３８…摩擦式精米機、３９，４
０，４１…回転数可変装置、４２Ａ，４２Ｂ，４
２Ｃ…電動機、４３…電動機、４４…負荷分配装
置。
度計の説明図、第２図は精白度計を備えた摩擦式
精米機の側断面図、第３図は多連式精米装置の正
面図、第４図は精白度計の一部電気回路のブロツ
ク図である。 １，１Ａ…精白度計、２…積分球、３…試料流
路、４…集光レンズ、５…光源ランプ、６…熱線
吸収フイルター、７…単色光フイルター、８…標
柱、９Ａ…透過光受光素子、９Ｂ…反射光受光素
子、１０Ａ，１０Ｂ…増幅器、１１Ａ，１１Ｂ…
アナログデジタル変換装置、１２…演算装置、１
３…精白度表示器、１４…比較装置、１５…精白
度設定器、１６…回転数可変装置、１７…調節用
電動機、１８…入光シヤツター、１９…摩擦精白
転子、２０…多孔壁精白筒、２１…精白室、２２
…供給口、２３…排出口、２４…回転主軸、２５
…調車、２６…電動機、２７…調車、２８…ベル
ト、２９…摩擦式精米機、３０…圧迫蓋、３１…
負荷調節装置、３２…流下樋、３３…試料排出
口、３４…回転数可変装置、３５…研削式精米
機、３６，３７，３８…摩擦式精米機、３９，４
０，４１…回転数可変装置、４２Ａ，４２Ｂ，４
２Ｃ…電動機、４３…電動機、４４…負荷分配装
置。
Claims (1)
- １ 光源から米粒に可視光線を照射し、米粒から
反射する光量と米粒を透過する光量とを検出して
精白度を計測する精白度計を複数の摩擦式精米機
の最終工程の精米機の白米排出流路に設けると共
に前記複数の摩擦式精米機の精白転子を回転する
電動機に回転数可変装置を設け、前記精白度計か
らの信号により複数の摩擦式精米機の回転数を変
更する負荷分配装置を設けたことを特徴とする精
米機の精白度制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13870182A JPS5929045A (ja) | 1982-08-09 | 1982-08-09 | 精米装置の精白度自動制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13870182A JPS5929045A (ja) | 1982-08-09 | 1982-08-09 | 精米装置の精白度自動制御装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5929045A JPS5929045A (ja) | 1984-02-16 |
| JPH0143576B2 true JPH0143576B2 (ja) | 1989-09-21 |
Family
ID=15228102
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13870182A Granted JPS5929045A (ja) | 1982-08-09 | 1982-08-09 | 精米装置の精白度自動制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5929045A (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2733757A1 (de) * | 1977-07-27 | 1979-02-15 | Bayer Ag | Azofarbstoffe |
| JPS5884050A (ja) * | 1981-11-12 | 1983-05-20 | 株式会社 サタケ | 精米機の精白度制御装置 |
-
1982
- 1982-08-09 JP JP13870182A patent/JPS5929045A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5929045A (ja) | 1984-02-16 |
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