JPS59117729A - 磁気ヘツドコアの製造方法 - Google Patents
磁気ヘツドコアの製造方法Info
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- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y25/00—Nanomagnetism, e.g. magnetoimpedance, anisotropic magnetoresistance, giant magnetoresistance or tunneling magnetoresistance
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/127—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明I−1′磁気へラドコアの製造方法に関するも
のであり、更に詳しく述べるならば非晶質合金全使用し
た磁気ヘッドコアの高周波特性を向上せしめる製造方法
に関するものである。
のであり、更に詳しく述べるならば非晶質合金全使用し
た磁気ヘッドコアの高周波特性を向上せしめる製造方法
に関するものである。
従来、磁気へラドコアは主としてフェライト焼結体から
切ジ出されに薄片を積層接合して形成されてい女。近年
遷移金属とガラス化元素を種々組み合わせた非晶質磁性
合金が軟磁性材料として通することが注目さね、その研
究が活発に行なわわている。そして磁気へラドコアとし
て従来のフェライト等にかえて非晶質磁性合金を使用す
るようになり、非晶質磁性合金の薄帯を積層した磁気ヘ
ッドコアが市販されている。従来の非晶質合金磁気へラ
ドコアは主として変圧器又は音響機器などへの使用を意
図しkものであり、比較的低い周波数で作動させるもの
であった。一方、高密度磁気記録再生用磁気ヘッドの要
求が高まり又ビデオテープとしてメガヘルツの高周波領
域で磁気へラドコアを費用することが多くなつfc。と
ころが従来の非晶質磁性合金は薄帯形態のものであった
ため■ に仮に薄帯をさらに薄片に加工したとしても厚さ10μ
mぐらい薄#が経済的に限度であり、高周波領域では渦
電流損が大きい欠点がある。
切ジ出されに薄片を積層接合して形成されてい女。近年
遷移金属とガラス化元素を種々組み合わせた非晶質磁性
合金が軟磁性材料として通することが注目さね、その研
究が活発に行なわわている。そして磁気へラドコアとし
て従来のフェライト等にかえて非晶質磁性合金を使用す
るようになり、非晶質磁性合金の薄帯を積層した磁気ヘ
ッドコアが市販されている。従来の非晶質合金磁気へラ
ドコアは主として変圧器又は音響機器などへの使用を意
図しkものであり、比較的低い周波数で作動させるもの
であった。一方、高密度磁気記録再生用磁気ヘッドの要
求が高まり又ビデオテープとしてメガヘルツの高周波領
域で磁気へラドコアを費用することが多くなつfc。と
ころが従来の非晶質磁性合金は薄帯形態のものであった
ため■ に仮に薄帯をさらに薄片に加工したとしても厚さ10μ
mぐらい薄#が経済的に限度であり、高周波領域では渦
電流損が大きい欠点がある。
更に従来の非晶質合金磁気へラドコアの製造方法には高
周波領域での磁気特性を劣化させるなど問題が多い。す
なわち従来法では非晶質合金母材を急冷にまり薄帯とじ
たのち、磁気合、/ドコアの形状に加工し、続いて30
〜50μmの厚さの薄片にラッピング等により加工眸し
たのち、積層接合、コアのギャップ絶縁部形成及びコア
片接合の諸工程を経て磁気へラドコアを完成するもので
あつ霞。この方法ではラッピング等の研磨による薄如化
の限界上高周波特性に限界があるほかに、加工精度の面
から個々の薄片に厚み及び表面粗さのばらつきが生じ、
ヘッドコアの特性に影響を与えていた。しかも薄帯をコ
ア形状に力U工するときのばらつきによってコアの内周
面及び外周面の寸法が積層薄片間で不揃いになり、磁気
へラドコアの特性に影響を与えていた。更に前述の工程
は全体として煩雑であるために磁気ヘッドコアの製造能
率が低下していた。
周波領域での磁気特性を劣化させるなど問題が多い。す
なわち従来法では非晶質合金母材を急冷にまり薄帯とじ
たのち、磁気合、/ドコアの形状に加工し、続いて30
〜50μmの厚さの薄片にラッピング等により加工眸し
たのち、積層接合、コアのギャップ絶縁部形成及びコア
片接合の諸工程を経て磁気へラドコアを完成するもので
あつ霞。この方法ではラッピング等の研磨による薄如化
の限界上高周波特性に限界があるほかに、加工精度の面
から個々の薄片に厚み及び表面粗さのばらつきが生じ、
ヘッドコアの特性に影響を与えていた。しかも薄帯をコ
ア形状に力U工するときのばらつきによってコアの内周
面及び外周面の寸法が積層薄片間で不揃いになり、磁気
へラドコアの特性に影響を与えていた。更に前述の工程
は全体として煩雑であるために磁気ヘッドコアの製造能
率が低下していた。
更に、非晶質合金磁気へラドコアの製造方岱として、非
晶質合金を薄膜の形態で得、こ62予め別途用意した非
磁性ブロックとの間に挟着した積層体を形成し、こh4
−コア状に加工し、そして以下ギヤツブ部絶縁及び接合
の工程を経て磁気−ラドコアにすることも公知である。
晶質合金を薄膜の形態で得、こ62予め別途用意した非
磁性ブロックとの間に挟着した積層体を形成し、こh4
−コア状に加工し、そして以下ギヤツブ部絶縁及び接合
の工程を経て磁気−ラドコアにすることも公知である。
しかしながらこの方法では非晶質合金薄膜はベースとな
る非磁性ブロック状に形成され、そしてこi、=4上述
のように接合して多層体とするので、せいぜい3層程度
の多層体磁気へラドコアしか製謹できない。この場合コ
アの磁化の強さが弱く特性が劣るという問題がある。さ
らに現状のへラドコア加工法においては磁壁運動に伴う
バルクハウゼン雑音の発生と周波数特性の劣化が防止し
難い欠点がある。
る非磁性ブロック状に形成され、そしてこi、=4上述
のように接合して多層体とするので、せいぜい3層程度
の多層体磁気へラドコアしか製謹できない。この場合コ
アの磁化の強さが弱く特性が劣るという問題がある。さ
らに現状のへラドコア加工法においては磁壁運動に伴う
バルクハウゼン雑音の発生と周波数特性の劣化が防止し
難い欠点がある。
本発明は以上のような技術の水準に鑑み、高周波領域で
の磁気特性に優わ、特にMHz領域での実′効透磁率の
減少が少なく、しかも加工工程に起因する磁気特性劣化
を防止しうる磁気へラドコアの製造方法を提供すること
を目的とする。
の磁気特性に優わ、特にMHz領域での実′効透磁率の
減少が少なく、しかも加工工程に起因する磁気特性劣化
を防止しうる磁気へラドコアの製造方法を提供すること
を目的とする。
本発明は、非磁性基板上に非晶質合金と絶縁物質の薄膜
を交互に沈着させて多層膜積層体となし。
を交互に沈着させて多層膜積層体となし。
ツブを介して接合することを特徴とする磁気へラドコア
の製造方法にある。以下本発明の詳細な説明する。本発
明に卦いてはコア用積層体を非晶質合金と絶縁物質の薄
膜を交互沈着にょ9形成しているために、従来の非晶質
合金薄帯積層方法と比較してコアの格段の薄型化が可能
になる。この場合非晶質合金の膜厚は2μm以下好捷し
くは1μm前物質の薄膜の総数は磁気ヘッドのトラック
幅に応じて決定さf1%VTRヘッドでハ38μm〜5
8μmに0 〜−である。本発明の非晶質磁性合金は高周波λ領域で
使用されるので、渦電流損失を少くして高周波領域にお
ける実効透磁率(μe)の、低下を防ぐために、厚さ数
ミクロン以下の薄膜を用いるのが有利である。しかし、
材料の厚さが薄くなると磁化の強さが小さくなるので多
層構造にして補う必要がある。次に沈着の方法としては
、真空蒸着、イオンビーム蒸着、イオンプレーティノブ
及びスパッタリングが考えらねるが、広範囲の組成に対
して適用が可能であり、薄膜相互間の密着性にも優わて
いる点で両者の薄膜ともスパッタリングで形成すること
が好ましい。
の製造方法にある。以下本発明の詳細な説明する。本発
明に卦いてはコア用積層体を非晶質合金と絶縁物質の薄
膜を交互沈着にょ9形成しているために、従来の非晶質
合金薄帯積層方法と比較してコアの格段の薄型化が可能
になる。この場合非晶質合金の膜厚は2μm以下好捷し
くは1μm前物質の薄膜の総数は磁気ヘッドのトラック
幅に応じて決定さf1%VTRヘッドでハ38μm〜5
8μmに0 〜−である。本発明の非晶質磁性合金は高周波λ領域で
使用されるので、渦電流損失を少くして高周波領域にお
ける実効透磁率(μe)の、低下を防ぐために、厚さ数
ミクロン以下の薄膜を用いるのが有利である。しかし、
材料の厚さが薄くなると磁化の強さが小さくなるので多
層構造にして補う必要がある。次に沈着の方法としては
、真空蒸着、イオンビーム蒸着、イオンプレーティノブ
及びスパッタリングが考えらねるが、広範囲の組成に対
して適用が可能であり、薄膜相互間の密着性にも優わて
いる点で両者の薄膜ともスパッタリングで形成すること
が好ましい。
基板としては非磁性を有する物質であれば特に制限はも
ないが、ガラス、セラミック、ポリイミドフィルムなど
の耐熱樹脂、等非晶質合金膜との反応性、mN性、熱膨
腸係数等の面から1強゛罰な積層構造となるものが好ま
しい。基板の厚さも特に制限はないが厚さコア寸法の小
型および加工上の便利さから0.05〜02咽が好まし
い。
ないが、ガラス、セラミック、ポリイミドフィルムなど
の耐熱樹脂、等非晶質合金膜との反応性、mN性、熱膨
腸係数等の面から1強゛罰な積層構造となるものが好ま
しい。基板の厚さも特に制限はないが厚さコア寸法の小
型および加工上の便利さから0.05〜02咽が好まし
い。
次に、本発明においては基板をあらかじめ半円形’J”
ftは馬蹄形の一対のへラドコア状に形成しておき、こ
のコア形状の基板上に非晶質合金薄膜と絶縁物質薄膜を
交互に沈着させ、沈着と同時にコア形状を有する多層膜
積層体を得るか、あるいけ捷斤、あらかじめ基板上に非
晶質合金の薄膜と絶縁物質の薄膜とを交互に沈着させて
多層膜積層体となし、しかる後に切削加工して一対のへ
ラドコア状に切削加工して、コア形状を有する多層膜積
層体を得ることができる。
ftは馬蹄形の一対のへラドコア状に形成しておき、こ
のコア形状の基板上に非晶質合金薄膜と絶縁物質薄膜を
交互に沈着させ、沈着と同時にコア形状を有する多層膜
積層体を得るか、あるいけ捷斤、あらかじめ基板上に非
晶質合金の薄膜と絶縁物質の薄膜とを交互に沈着させて
多層膜積層体となし、しかる後に切削加工して一対のへ
ラドコア状に切削加工して、コア形状を有する多層膜積
層体を得ることができる。
前者の場合は沈着と同時にコアの半体形状物が得らねる
ので加工応力による磁性劣化の問題がない。
ので加工応力による磁性劣化の問題がない。
1介加工法としてはダイヤモンドカッター、超音波加工
、レーザー加工、及び打抜きなどの加工法す持能である
。打抜加工は絶縁基板がポ1)イミドフィルムの場合に
高生産性を達成できる。
、レーザー加工、及び打抜きなどの加工法す持能である
。打抜加工は絶縁基板がポ1)イミドフィルムの場合に
高生産性を達成できる。
一般に各コア半休は対称形状であり、突合わせにより生
じる一対の突合わせ端のうち磁気記録媒体と接するコア
ギャップには5in2.スピネル(ン?203・Mg0
) 等の公知の絶縁材料をスパッタ等により配置充填
し、ニアギャップの反対側のギャップには公知のCu−
Ag等の導電性材料スペーサーを介挿することにより、
これらのギャップを介して各コア半片を接合し所定の磁
路を形成する。
じる一対の突合わせ端のうち磁気記録媒体と接するコア
ギャップには5in2.スピネル(ン?203・Mg0
) 等の公知の絶縁材料をスパッタ等により配置充填
し、ニアギャップの反対側のギャップには公知のCu−
Ag等の導電性材料スペーサーを介挿することにより、
これらのギャップを介して各コア半片を接合し所定の磁
路を形成する。
必要であわば、焼鈍をコア半片接合前又は後に行った後
に基板と同形状であり又好1しくは同質の非磁性材料を
ダミー基板として上面に接着すると、ニアの形状の安定
性を高めることができる。
に基板と同形状であり又好1しくは同質の非磁性材料を
ダミー基板として上面に接着すると、ニアの形状の安定
性を高めることができる。
この場合ダミー基板はあらかじめ孔明き円板上に加工し
て積層体の上面にエポキン樹脂等を使用して接着すハば
よい。
て積層体の上面にエポキン樹脂等を使用して接着すハば
よい。
本発明によりは高周波特性は、現状の10MHz以下か
ら500 Ml(zEで使用可能範囲が広がり、高密度
記録が達成さね、かつ磁気へラドコアの小型化及び軽量
化が達成される。
ら500 Ml(zEで使用可能範囲が広がり、高密度
記録が達成さね、かつ磁気へラドコアの小型化及び軽量
化が達成される。
非晶質合金は従来液体急冷法及びスパッター法すること
ができる。その例の組成として1ce−C。
ができる。その例の組成として1ce−C。
−8i−B系の遷移金属トロイダル系合金などミがが特
に優ねた高周波特性を奏するものである。
に優ねた高周波特性を奏するものである。
以下好ましい組成の非晶質合金について説明する。この
合金は組成式(T −M) + −x (Mr、 Mn
) xで表わさ力るものである。この組成式において
。
合金は組成式(T −M) + −x (Mr、 Mn
) xで表わさ力るものである。この組成式において
。
’1”−MはCo((主成分とする強磁性金属であり、
C。
C。
が全体の90a籐以上含有さねている。磁性を損なわな
い範囲でCo f 、Fe又はNiのうちの1釉以上の
金属で置換しkものでも良い。置換可能な限界は1゜の
うち少くとも1鍾以上を使用する。
い範囲でCo f 、Fe又はNiのうちの1釉以上の
金属で置換しkものでも良い。置換可能な限界は1゜の
うち少くとも1鍾以上を使用する。
Mrlは磁歪を負の成分にする元素でるV〜b、 Ta
、MOlWのうち少くとも1種以上を使用する。Mrと
Mu 〕割合(,1一般K M11/([4N−MII
)=0.3〜0.98度が良い。左とえばCoにNb
、Ta全添加した場合i/i−第1図に示すとおり磁歪
(入−、)は負を示す。
、MOlWのうち少くとも1種以上を使用する。Mrと
Mu 〕割合(,1一般K M11/([4N−MII
)=0.3〜0.98度が良い。左とえばCoにNb
、Ta全添加した場合i/i−第1図に示すとおり磁歪
(入−、)は負を示す。
MlおよびMuの割合は飽和磁化、磁歪、異方性磁界等
の磁気的性質を考慮して選択することができの割合を変
化させfr場合の磁歪(入S)の変化と磁界熱処理中に
誘起される異方性磁界(Hk) −i示したものである
。第2図ではNb/(Zr+Nb ) −0,65付近
で磁歪がほとんど零であり、異方性磁界も小さくなる。
の磁気的性質を考慮して選択することができの割合を変
化させfr場合の磁歪(入S)の変化と磁界熱処理中に
誘起される異方性磁界(Hk) −i示したものである
。第2図ではNb/(Zr+Nb ) −0,65付近
で磁歪がほとんど零であり、異方性磁界も小さくなる。
このようにして得らt1女非晶質合金は非晶質化が容易
で高飽和磁化特性を有し、零磁歪であり且つ誘導磁気異
方性が小さい、、、’Fjr、零磁歪とすることにより
高温に放置しRUの透磁率の低下が少なくなり、熱的安
定性を著しく改善することが可能となる。たとえば第3
図はCo−ZrとC)oB7Zrs Nb8の薄膜を高
温に放置した時の透磁率の低下を示しkものであるが、
Co−Zr′r:は透磁率の低さらに、本発明によねば
MIま女は■の合金成分造することができる。
で高飽和磁化特性を有し、零磁歪であり且つ誘導磁気異
方性が小さい、、、’Fjr、零磁歪とすることにより
高温に放置しRUの透磁率の低下が少なくなり、熱的安
定性を著しく改善することが可能となる。たとえば第3
図はCo−ZrとC)oB7Zrs Nb8の薄膜を高
温に放置した時の透磁率の低下を示しkものであるが、
Co−Zr′r:は透磁率の低さらに、本発明によねば
MIま女は■の合金成分造することができる。
スパック−法による非晶質合金の薄膜の製造はT−Mr
−x (ME、 Mn)x組成においてけX成分量が少
な(ても可能となる。したがってT−M成分をそれだけ
多く含有させることが可能となる利点を有する。
−x (ME、 Mn)x組成においてけX成分量が少
な(ても可能となる。したがってT−M成分をそれだけ
多く含有させることが可能となる利点を有する。
次に実施例をあげて説明する。
実施例 1
第4図に示すスパッタ装置を用いて多層膜積層体をスパ
ッター法により沈着させて形成した。図せしめられる基
板、5及び6は直流又は交流電源である。
ッター法により沈着させて形成した。図せしめられる基
板、5及び6は直流又は交流電源である。
充分平滑な表面を有するガラス基板4(寸法50H(g
B X 50m+n X 0.1 mm )の表面に、
C087ZI°5 N1)8 ノ組成を有する非晶質合
金2を薄膜8(第5図)として10μmの厚さにガラス
基板4上に沈着した。スパツタリング条件は 入力電力 500W Arカス圧力 3 X 10−” Torr膜厚
形成速度 05μtn/” であった。
B X 50m+n X 0.1 mm )の表面に、
C087ZI°5 N1)8 ノ組成を有する非晶質合
金2を薄膜8(第5図)として10μmの厚さにガラス
基板4上に沈着した。スパツタリング条件は 入力電力 500W Arカス圧力 3 X 10−” Torr膜厚
形成速度 05μtn/” であった。
次に同一装置を用いて絶縁物質3のスパツタリングを行
い、非晶質合金薄膜8(第5図)の上に高周波スパッタ
法により0.015μmの膜厚を有するSin、、絶縁
体9を形成した。この操作を交互に繰返し、非晶質合金
薄膜層を15層、絶縁物薄膜層を14層有寸る多層膜積
層体12を得た。
い、非晶質合金薄膜8(第5図)の上に高周波スパッタ
法により0.015μmの膜厚を有するSin、、絶縁
体9を形成した。この操作を交互に繰返し、非晶質合金
薄膜層を15層、絶縁物薄膜層を14層有寸る多層膜積
層体12を得た。
次いで該多層膜積層体たから超音波加工により所定寸法
の半環状のコア半体14(第6図)を切り出し、このコ
ア半休を回転磁場中で370℃、30分の熱処理をして
磁気異方性を除去した。
の半環状のコア半体14(第6図)を切り出し、このコ
ア半休を回転磁場中で370℃、30分の熱処理をして
磁気異方性を除去した。
このコア半体14の磁気特性を測定したところ次の結果
を得た。
を得た。
抗磁力 HC”” 0.020e
飽和磁束密1fBS=11,0OOG
初期透磁率 μi = 20,000
実効透磁率(IOMI−1z )μe f f = 2
000このようにして得らi”Ifrコアは実効透磁率
が高く特にMHz以上の高周波域における磁気特性にす
ぐねたものとなる。
000このようにして得らi”Ifrコアは実効透磁率
が高く特にMHz以上の高周波域における磁気特性にす
ぐねたものとなる。
次に一対のコア半体14を用意し、ギャップ面14aお
よびパックギャップ面14b ’iラッピノグ加工で平
滑に仕上げた後、ギャップ面14aに高周波スパッタ法
に二り、03%厚さのS1←)2皮膜月(第8図)を形
成したのち、一対のコア半体14を対向させてバックギ
ャップgB14bをAg−Cu合金スヘーサ−12で接
合1−斤、、最後に基板4と同質の0.1mm厚さのガ
ラス保獲板10i接着剤で接着して磁気ヘッドコア16
を得た。
よびパックギャップ面14b ’iラッピノグ加工で平
滑に仕上げた後、ギャップ面14aに高周波スパッタ法
に二り、03%厚さのS1←)2皮膜月(第8図)を形
成したのち、一対のコア半体14を対向させてバックギ
ャップgB14bをAg−Cu合金スヘーサ−12で接
合1−斤、、最後に基板4と同質の0.1mm厚さのガ
ラス保獲板10i接着剤で接着して磁気ヘッドコア16
を得た。
このようにして得られた多層膜構造の磁気へラドコアは
高周波域(Ml−1,z域)での磁気特性(特に実効導
磁率1te f f )が曖jだものが得られる。捷た
生産工程が従来に比しきわめて簡略化できるので経済的
である他に磁気特性の劣化も少ない。
高周波域(Ml−1,z域)での磁気特性(特に実効導
磁率1te f f )が曖jだものが得られる。捷た
生産工程が従来に比しきわめて簡略化できるので経済的
である他に磁気特性の劣化も少ない。
特に、□□□−ZrJ弗系磁性体を使用すると、磁歪常
数(入S)が零になりそして磁気異方性が減少するので
磁気ヘッドとして優fまた特性が得られる。さらに、磁
気特性の使用又は放置中の劣化が少ない、組成の多少の
変動にもかかわらす零磁歪特性が安定的に保frhる、
等の磁気ヘッドとして要求される性能が高度のレベルで
晶足さ力、る。
数(入S)が零になりそして磁気異方性が減少するので
磁気ヘッドとして優fまた特性が得られる。さらに、磁
気特性の使用又は放置中の劣化が少ない、組成の多少の
変動にもかかわらす零磁歪特性が安定的に保frhる、
等の磁気ヘッドとして要求される性能が高度のレベルで
晶足さ力、る。
第1図はCo−NL+、Co−Ta 合金(D磁歪’f
:示fクラフ、第2図1d Co 87 (Zr、 N
b WRハ磁歪と異方性磁界を示すグラフ、第3図は熱
処理による透磁率の変化を示すグラフ、第4図はスパッ
タ装置の概念図、第5図は多層膜積層体の断面図、第6
図はコア半休の斜視図、第7図はガラス保護基板を接着
した多層膜積層体の断面図、及び第8図は第6図のコア
半休を接着したー具体例1に係る磁気ヘッドコアの斜視
図である。 □ 1・・・真空槽、 2・・・非晶質合金、3・・・絶縁
物質、4・基板、 8・・・非晶質合金薄膜、 9
・・・絶縁体10・・・ガラス保護基板、14−・・コ
ア半休、]6磁気へラドコア 特許出願人 昭和電工株式会社 10” 帛1図 尾2図 Nb/(Zr+Nb) 第3因 熱処理時間(岨m) 馬7図 児6図
:示fクラフ、第2図1d Co 87 (Zr、 N
b WRハ磁歪と異方性磁界を示すグラフ、第3図は熱
処理による透磁率の変化を示すグラフ、第4図はスパッ
タ装置の概念図、第5図は多層膜積層体の断面図、第6
図はコア半休の斜視図、第7図はガラス保護基板を接着
した多層膜積層体の断面図、及び第8図は第6図のコア
半休を接着したー具体例1に係る磁気ヘッドコアの斜視
図である。 □ 1・・・真空槽、 2・・・非晶質合金、3・・・絶縁
物質、4・基板、 8・・・非晶質合金薄膜、 9
・・・絶縁体10・・・ガラス保護基板、14−・・コ
ア半休、]6磁気へラドコア 特許出願人 昭和電工株式会社 10” 帛1図 尾2図 Nb/(Zr+Nb) 第3因 熱処理時間(岨m) 馬7図 児6図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 非磁性基板上に非晶質合金と絶縁物質の薄膜を交互
に沈着させて多層膜積層体となし、該多層膜積層体を沈
着と同時に又は沈着後に一対のコア形状に形成し、この
一対のコア形状体をギヤツブ全弁し、て接合することを
特徴とする磁気へラドコアの製造方法。 2 非晶質合金が組成式(1゛・fVl)、、、、x(
Ml、MTI)Xで示されるもので、’]”−Mけ主と
してCoから成ジ、C。 の−MeiたはN1のうち少くとも1種により10チ」
ン、内で置換用能であジ、MTはZrJff、 Yのう
ち少くとも1種以上の金属元素から成9、rvlnは寅
′PへMo、 Wのうち少くとも1種以上の金属元素か
ら成す、0.05 ≦X ≦0.2ihYMn/(MI
−I−Mn )−0,3〜0.9 ff1ff+a足す
ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の磁気ヘ
ッドコアの製造方法。 3 非晶質合金と絶縁物質の薄膜を沈着させる方法がス
パンター法によることを特徴とする特許請求の範囲第1
項記載の磁気へラドコアの製造方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23298582A JPS59117729A (ja) | 1982-12-24 | 1982-12-24 | 磁気ヘツドコアの製造方法 |
| US06/734,827 US4608297A (en) | 1982-04-21 | 1985-05-17 | Multilayer composite soft magnetic material comprising amorphous and insulating layers and a method for manufacturing the core of a magnetic head and a reactor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23298582A JPS59117729A (ja) | 1982-12-24 | 1982-12-24 | 磁気ヘツドコアの製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59117729A true JPS59117729A (ja) | 1984-07-07 |
Family
ID=16947983
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23298582A Pending JPS59117729A (ja) | 1982-04-21 | 1982-12-24 | 磁気ヘツドコアの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59117729A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2698479A1 (fr) * | 1992-11-25 | 1994-05-27 | Commissariat Energie Atomique | Composite hyperfréquence anisotrope. |
| EP0780912A1 (en) * | 1995-12-19 | 1997-06-25 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Magnetoresistance element, magnetoresistive head and magnetoresistive memory |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5591106A (en) * | 1978-12-27 | 1980-07-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Magnetic substance-insulator multi-layer compound and production of the same |
| JPS58185742A (ja) * | 1982-04-21 | 1983-10-29 | Showa Denko Kk | 非晶質磁性合金および磁性材料 |
-
1982
- 1982-12-24 JP JP23298582A patent/JPS59117729A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5591106A (en) * | 1978-12-27 | 1980-07-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Magnetic substance-insulator multi-layer compound and production of the same |
| JPS58185742A (ja) * | 1982-04-21 | 1983-10-29 | Showa Denko Kk | 非晶質磁性合金および磁性材料 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2698479A1 (fr) * | 1992-11-25 | 1994-05-27 | Commissariat Energie Atomique | Composite hyperfréquence anisotrope. |
| WO1994012992A1 (fr) * | 1992-11-25 | 1994-06-09 | Commissariat A L'energie Atomique | Composite hyperfrequence anisotrope |
| EP0780912A1 (en) * | 1995-12-19 | 1997-06-25 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Magnetoresistance element, magnetoresistive head and magnetoresistive memory |
| US5715121A (en) * | 1995-12-19 | 1998-02-03 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Magnetoresistance element, magnetoresistive head and magnetoresistive memory |
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