JPS59204254A - 多層配線マスタスライスicの製造方法 - Google Patents
多層配線マスタスライスicの製造方法Info
- Publication number
- JPS59204254A JPS59204254A JP58079058A JP7905883A JPS59204254A JP S59204254 A JPS59204254 A JP S59204254A JP 58079058 A JP58079058 A JP 58079058A JP 7905883 A JP7905883 A JP 7905883A JP S59204254 A JPS59204254 A JP S59204254A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- manufacturing
- multilayer wiring
- wiring
- master slice
- layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D84/00—Integrated devices formed in or on semiconductor substrates that comprise only semiconducting layers, e.g. on Si wafers or on GaAs-on-Si wafers
- H10D84/90—Masterslice integrated circuits
Landscapes
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、多層配線マスクスライスICの製造方法に関
するものである。、 LSIの製造方法の一つとして、プロセスの拡散工程終
了までのパターンを固定し、配線パターンを品種に応じ
て変更するというマスクスライス方式が知られている。
するものである。、 LSIの製造方法の一つとして、プロセスの拡散工程終
了までのパターンを固定し、配線パターンを品種に応じ
て変更するというマスクスライス方式が知られている。
一方LSIにおいては、複数の配線パターンを素子上に
縦横に錯綜させて形成する必要上、層間絶i4層を介し
て複数のパターンを積層させると共に所定の箇所におい
てコンタクトホールな介して上下の配線パターンを電気
的に接続するという多層配線構造か採用されている。
縦横に錯綜させて形成する必要上、層間絶i4層を介し
て複数のパターンを積層させると共に所定の箇所におい
てコンタクトホールな介して上下の配線パターンを電気
的に接続するという多層配線構造か採用されている。
従来多層配線のマスタスライスICを製造する場合、固
定パターンによる拡散工程か終了したのち、品種に応じ
た第1層パターン、第2層パターンを順次形成していた
ため、各層パターンごとにホトマスクを準備しなければ
ならないという煩雑さがあった。
定パターンによる拡散工程か終了したのち、品種に応じ
た第1層パターン、第2層パターンを順次形成していた
ため、各層パターンごとにホトマスクを準備しなければ
ならないという煩雑さがあった。
本発明は上記従来の問題点に鑑みてなされたものであり
、その目的は配線パターン用フォトマスクの個数を低減
させた多層配線用マスクスライスICの製造方法を提供
することにある。
、その目的は配線パターン用フォトマスクの個数を低減
させた多層配線用マスクスライスICの製造方法を提供
することにある。
上記目的を達成する本発明は、第11醤配線パターンを
固定すると共に第2層以降の配線パターンを品種に応じ
て変更するように構成され、品種に応じて種々の第1層
配線パターン用ホトマスクン準備する手間が省かれる。
固定すると共に第2層以降の配線パターンを品種に応じ
て変更するように構成され、品種に応じて種々の第1層
配線パターン用ホトマスクン準備する手間が省かれる。
以下本発明の詳細を実施例によって説明する。
第1図乃至第2図は本発明の一実施例によってセットリ
セット何フリップ・フロップを製造する場合のテツゾ平
面図である。
セット何フリップ・フロップを製造する場合のテツゾ平
面図である。
まず第1図に示すように、適宜な公知手法によリシリコ
ンヂツプ1上にソース領域A、ドレイン領域Bを形成し
た後、チップ全面をゲート酸化膜で被覆する。引続き、
ソース領域Aとドレイン領域B内に電極形成用ホールを
開設した後ソース電極a、ドレイン電極す、ゲート電極
C及び固定の第1層配線パターンdを形成する。最後に
、チップ全面に層間絶縁層を形成する。なお図示の便宜
上各電極と配線パターンの幅を無視すると共に、酸化膜
と絶縁層が透明であるがのように示している。
ンヂツプ1上にソース領域A、ドレイン領域Bを形成し
た後、チップ全面をゲート酸化膜で被覆する。引続き、
ソース領域Aとドレイン領域B内に電極形成用ホールを
開設した後ソース電極a、ドレイン電極す、ゲート電極
C及び固定の第1層配線パターンdを形成する。最後に
、チップ全面に層間絶縁層を形成する。なお図示の便宜
上各電極と配線パターンの幅を無視すると共に、酸化膜
と絶縁層が透明であるがのように示している。
次に第2図に示すように当該フリップ・フロップを構成
するのに必要なコンタクトホールeを形成し、引続きこ
れらコンタクトホールを連ねるよ°子 うに第2層の配線バターダ)形成する。最後にチップ全
面をパッシベーション膜で被覆する。なお第2図に示さ
れているアルファベットは、通常のセットリセット付フ
リップ・フロップで使用される端子記号である。また上
述した箇々の製造工程は、すべて公知慣用のものである
から、これについての更に詳細な説明を要しないであろ
う。
するのに必要なコンタクトホールeを形成し、引続きこ
れらコンタクトホールを連ねるよ°子 うに第2層の配線バターダ)形成する。最後にチップ全
面をパッシベーション膜で被覆する。なお第2図に示さ
れているアルファベットは、通常のセットリセット付フ
リップ・フロップで使用される端子記号である。また上
述した箇々の製造工程は、すべて公知慣用のものである
から、これについての更に詳細な説明を要しないであろ
う。
以上2層配線構造の場合について本発明を例示したが、
3層以上の配線構造についても同様に本発明を適用でき
ることは明らかである。
3層以上の配線構造についても同様に本発明を適用でき
ることは明らかである。
以上説明したように、本発明は、第1層配線パターンを
固定すると共に第2層以降の配線パターンを品種に応じ
て変更する構成であるから、品種に応じて種々の第1層
配線パターン用ホトマスクを阜備する必要がなくなり、
ICの設計時間と費用が大幅に低減される。また製造工
程を節減できるという利点もある。
固定すると共に第2層以降の配線パターンを品種に応じ
て変更する構成であるから、品種に応じて種々の第1層
配線パターン用ホトマスクを阜備する必要がなくなり、
ICの設計時間と費用が大幅に低減される。また製造工
程を節減できるという利点もある。
第1図、第2図は本発明の一実施例を説明するためのチ
ップ平面図である。 A・・・ソース領域、B・・・ドレイン領域、a・・・
ソース電極、b・・・ドレイン電極、C・・・ゲート領
域、d・・・第1層配線パターン、e・・・コンタクト
ホール、f・・・第2層配線パターン。 特許出願人 住友電気工業株式会社 代 理 人 弁理士玉畠久五部 第2図 J
ップ平面図である。 A・・・ソース領域、B・・・ドレイン領域、a・・・
ソース電極、b・・・ドレイン電極、C・・・ゲート領
域、d・・・第1層配線パターン、e・・・コンタクト
ホール、f・・・第2層配線パターン。 特許出願人 住友電気工業株式会社 代 理 人 弁理士玉畠久五部 第2図 J
Claims (1)
- 固定の第1層配線パターンを形成し、引続き品種に応じ
て変更される第2層以降の配線パターンを順次形成する
ことを特徴とする多層配線マスクスライスICの製造方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58079058A JPS59204254A (ja) | 1983-05-06 | 1983-05-06 | 多層配線マスタスライスicの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58079058A JPS59204254A (ja) | 1983-05-06 | 1983-05-06 | 多層配線マスタスライスicの製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59204254A true JPS59204254A (ja) | 1984-11-19 |
Family
ID=13679292
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58079058A Pending JPS59204254A (ja) | 1983-05-06 | 1983-05-06 | 多層配線マスタスライスicの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59204254A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01175241A (ja) * | 1987-12-29 | 1989-07-11 | Fujitsu Ltd | 半導体装置のマスタスライス方法 |
| US5117277A (en) * | 1989-01-27 | 1992-05-26 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor integrated circuit device with improved connection pattern of signal wirings |
| EP0650196A3 (ja) * | 1988-04-22 | 1995-05-10 | Fujitsu Ltd |
-
1983
- 1983-05-06 JP JP58079058A patent/JPS59204254A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01175241A (ja) * | 1987-12-29 | 1989-07-11 | Fujitsu Ltd | 半導体装置のマスタスライス方法 |
| EP0650196A3 (ja) * | 1988-04-22 | 1995-05-10 | Fujitsu Ltd | |
| US5117277A (en) * | 1989-01-27 | 1992-05-26 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor integrated circuit device with improved connection pattern of signal wirings |
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