JPS59220607A - 計測装置 - Google Patents
計測装置Info
- Publication number
- JPS59220607A JPS59220607A JP9416583A JP9416583A JPS59220607A JP S59220607 A JPS59220607 A JP S59220607A JP 9416583 A JP9416583 A JP 9416583A JP 9416583 A JP9416583 A JP 9416583A JP S59220607 A JPS59220607 A JP S59220607A
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- JP
- Japan
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- detector
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- measured
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- Granted
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-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B19/00—Program-control systems
- G05B19/02—Program-control systems electric
- G05B19/18—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of program data in numerical form
- G05B19/19—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of program data in numerical form characterised by positioning or contouring control systems, e.g. to control position from one programmed point to another or to control movement along a programmed continuous path
- G05B19/21—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of program data in numerical form characterised by positioning or contouring control systems, e.g. to control position from one programmed point to another or to control movement along a programmed continuous path using an incremental digital measuring device
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/37—Measurements
- G05B2219/37345—Dimension of workpiece, diameter
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/37—Measurements
- G05B2219/37405—Contact detection between workpiece and tool, probe, feeler
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Human Computer Interaction (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、被測定物と接する検知手段の移動位置から例
えば被測定物の孔径等を計測する計測装置に関するもの
である。
えば被測定物の孔径等を計測する計測装置に関するもの
である。
従来の計測装置は、被測定物としてのワークに対して検
出器を接する方向へ移動させ、その検出器がワークに接
したときの信号で検出器の移動を停止させ、その停止し
た検出器の位置を計測値として読み取る方式であった。
出器を接する方向へ移動させ、その検出器がワークに接
したときの信号で検出器の移動を停止させ、その停止し
た検出器の位置を計測値として読み取る方式であった。
従って、検出器を比較的高速で移動させた場合、計測時
間が短縮される反面、検出器がワークに接してから停止
するまでの行きすぎ量が大きくなり、その結果計測誤差
が大きくなる欠点がある。そこで、検出器をワークに接
する手前の段階でその検出器の送シ速度を低速に落とす
方式が考えられた。
間が短縮される反面、検出器がワークに接してから停止
するまでの行きすぎ量が大きくなり、その結果計測誤差
が大きくなる欠点がある。そこで、検出器をワークに接
する手前の段階でその検出器の送シ速度を低速に落とす
方式が考えられた。
しかし、この方式では、ワークの計測位置に応じご検出
器の送シ速度を低速に落とす時点を予め設1.紐しなけ
ればならない上、その低速での移動距離;1長すぎると
計測時間がかがりすぎる問題がある。
器の送シ速度を低速に落とす時点を予め設1.紐しなけ
ればならない上、その低速での移動距離;1長すぎると
計測時間がかがりすぎる問題がある。
本発明の目的は、計測能率を維持しつつ計測精1庫を向
上させた計測装置を提供することにある。
上させた計測装置を提供することにある。
本発明は、被測定物と検出器とを相対移動させ、排出器
が被測定物と接した時点の信号で、検出器と被測定物と
の相対位置を読み取り、その位置を計測値とすることに
よシ、っまシ検出器が被測定物と接した時点で、検出器
と被測定物との相対位置を読み取ることにより、両者の
相対移動速度が比較的高速でも誤差を小さくできるよう
にし、これにより上記目的を達成しようとするものであ
る。
が被測定物と接した時点の信号で、検出器と被測定物と
の相対位置を読み取り、その位置を計測値とすることに
よシ、っまシ検出器が被測定物と接した時点で、検出器
と被測定物との相対位置を読み取ることにより、両者の
相対移動速度が比較的高速でも誤差を小さくできるよう
にし、これにより上記目的を達成しようとするものであ
る。
以下、本発明の一実施例を図面について説明する。
第1図は本実施例の全体のシステムを示している。同シ
ステムは、被測定物としての工作物Wの計測方向・つま
り本実施例では穴Hの直径方向(以下、X方向とす名。
ステムは、被測定物としての工作物Wの計測方向・つま
り本実施例では穴Hの直径方向(以下、X方向とす名。
)に対して、例えばマシニングセンタに装着された検知
手段としての圧電素子等からなる接触検出器1が駆動装
置2の作動によって往復移動できるようになっている。
手段としての圧電素子等からなる接触検出器1が駆動装
置2の作動によって往復移動できるようになっている。
検出器1には、先端に前記工作物Wと接するグローブI
Aが設けられているとともに、制御部3が接続翔れてい
る。制御部3は、前記検出器1のゾロー−?XAが工作
物Wと接しそれに伴う接触信号を認―シた時点で、NC
装置4に入力されている現在位置データを取込むように
なっている。NC装置i4は、前記検出器1の移動位置
を表わすところの駆動装置2に取付けられた位置検出装
置5がらの位置データ(Po5ition Feedb
ack Signal +以下PFSという)と指令値
データとの差に基づき前記−駆動装置2を駆動させる。
Aが設けられているとともに、制御部3が接続翔れてい
る。制御部3は、前記検出器1のゾロー−?XAが工作
物Wと接しそれに伴う接触信号を認―シた時点で、NC
装置4に入力されている現在位置データを取込むように
なっている。NC装置i4は、前記検出器1の移動位置
を表わすところの駆動装置2に取付けられた位置検出装
置5がらの位置データ(Po5ition Feedb
ack Signal +以下PFSという)と指令値
データとの差に基づき前記−駆動装置2を駆動させる。
第2図は前記制御部3とNC装置4との回路構成を示し
ている。前記NC装置4には、一定時間餐に移動指令値
(△X/△T)を出力するNC装置要部41、このNC
装置要部41から出力される移動指令値データを順次加
算、記憶する指令値カウンタ42、前記位置検出装置5
から逐次入力される位置データPIi”Sを記憶するフ
ィードバックカウンタ43、前記両カウンタ42.43
のデータを加算しその差(サー?エラー5VB)を出力
する減算部44およびそのサー?エラーSVEを前記駆
動装置2へ与えるだめの差レジスタ45等が含まれてい
る。ここで、前記減算部44および差レジスタ45は、
可逆カウンタにて構成することができる。
ている。前記NC装置4には、一定時間餐に移動指令値
(△X/△T)を出力するNC装置要部41、このNC
装置要部41から出力される移動指令値データを順次加
算、記憶する指令値カウンタ42、前記位置検出装置5
から逐次入力される位置データPIi”Sを記憶するフ
ィードバックカウンタ43、前記両カウンタ42.43
のデータを加算しその差(サー?エラー5VB)を出力
する減算部44およびそのサー?エラーSVEを前記駆
動装置2へ与えるだめの差レジスタ45等が含まれてい
る。ここで、前記減算部44および差レジスタ45は、
可逆カウンタにて構成することができる。
また、前記制御部3には、ラッチレジスタ31、P定時
間△を毎に前記検出器1の状態を監視しその、ト出器1
が工作物Wと接した状態のときHレベル引信号を出力す
る信号処理回路32および信号処理回路32からのHレ
ベルの信号を受けて開放、され前記フィードバックカウ
ンタ43のデータを前部ラッチレジスタ31へ取込むダ
ート回路33等が含まれている。
間△を毎に前記検出器1の状態を監視しその、ト出器1
が工作物Wと接した状態のときHレベル引信号を出力す
る信号処理回路32および信号処理回路32からのHレ
ベルの信号を受けて開放、され前記フィードバックカウ
ンタ43のデータを前部ラッチレジスタ31へ取込むダ
ート回路33等が含まれている。
次に、本実施例の作用を第3図をも参照して説明する。
まず、NC装置要部41がら一定時間△T毎に移・峨指
令値△Xが出力されると、その移動指令値デー△苓/△
Tは指令値カウンタ42に順次加算、記憶される。する
と、その指令値カウンタ42のデータとフィードバック
カウンタ43のデータとの差が差レジスタ45に転送さ
れ、その差レジスタ45のデータが零になるまで駆動装
置2が駆動される。いま、NC装置要部41からの指令
にょシ、駆動装置2を介して検出器1が測定開始点とな
る基準位置Poから速度V1で移動すると、駆動装置2
に取付けられた位置検出装置5がら位置データPFSが
逐次出力され、その位置データがフィードバックカウン
タ43に順次記憶されていく。
令値△Xが出力されると、その移動指令値デー△苓/△
Tは指令値カウンタ42に順次加算、記憶される。する
と、その指令値カウンタ42のデータとフィードバック
カウンタ43のデータとの差が差レジスタ45に転送さ
れ、その差レジスタ45のデータが零になるまで駆動装
置2が駆動される。いま、NC装置要部41からの指令
にょシ、駆動装置2を介して検出器1が測定開始点とな
る基準位置Poから速度V1で移動すると、駆動装置2
に取付けられた位置検出装置5がら位置データPFSが
逐次出力され、その位置データがフィードバックカウン
タ43に順次記憶されていく。
さて、検出器1が速度vlで移動する過程において、グ
ローブIAが工作物Wと接する位置Pに達すると、その
検出器1がオン状態となる。すると、制御部3の信号処
理回路32は、検出器1の立上シで・やルスを発生し、
r−ト回路33を瞬時開放する。これによシ、ダート回
路33を通じて、その一時点つまシ検出器1が工作物W
と接したことが認識された時点におけるフィードバック
カウンタ4.3のデータがラッチレジスタ31へ取込ま
れる。
ローブIAが工作物Wと接する位置Pに達すると、その
検出器1がオン状態となる。すると、制御部3の信号処
理回路32は、検出器1の立上シで・やルスを発生し、
r−ト回路33を瞬時開放する。これによシ、ダート回
路33を通じて、その一時点つまシ検出器1が工作物W
と接したことが認識された時点におけるフィードバック
カウンタ4.3のデータがラッチレジスタ31へ取込ま
れる。
プツチレジスタ31へ取込まれたデータは、その娠表示
器へ計測値として表示される。
器へ計測値として表示される。
一方、信号処理回路32において、検出器1が徂ン状態
であることが認識されると、NC装置要部41からの指
令値データ△X/△Tの分配が停止される。従って、検
出器1は、その時点における差レジスタ45の値っまシ
指令値カウンタ42のデータとフィードバックカウンタ
43のデータとの差(サーがエラー8VE)が零になる
位置P1まで移動されて停止される。ちなみに、移動速
度が大きくなるに従って、停止位置が接触位置から大き
くずれることになるが、本計測方法では、停止位置と測
定値とは関係がないので、十分に大きな移動速度にする
ことができる。この後、再びNC装置41からの指令に
よシ、駆動装置2を介して検出器lが逆方向へ移動され
る。
であることが認識されると、NC装置要部41からの指
令値データ△X/△Tの分配が停止される。従って、検
出器1は、その時点における差レジスタ45の値っまシ
指令値カウンタ42のデータとフィードバックカウンタ
43のデータとの差(サーがエラー8VE)が零になる
位置P1まで移動されて停止される。ちなみに、移動速
度が大きくなるに従って、停止位置が接触位置から大き
くずれることになるが、本計測方法では、停止位置と測
定値とは関係がないので、十分に大きな移動速度にする
ことができる。この後、再びNC装置41からの指令に
よシ、駆動装置2を介して検出器lが逆方向へ移動され
る。
なお、以上の説明では、グローブIAの接触端の径を無
視したが、実際にはその接触端の径を補正することが必
要である。また、上記実施例では、検出器1をマシニン
グセンタに装着するようKしたが、本発明はこれに限ら
れるものでなく、例えばNC横中ぐシ盤、更には工作機
械に限らず一般q計測装置、例えば座標測定装置等にも
適用できる;゛。また、計測対象としては、穴径の計測
のほか、!芯の測定、自動芯出し、同芯穴加工等にも利
用yることかできる。
視したが、実際にはその接触端の径を補正することが必
要である。また、上記実施例では、検出器1をマシニン
グセンタに装着するようKしたが、本発明はこれに限ら
れるものでなく、例えばNC横中ぐシ盤、更には工作機
械に限らず一般q計測装置、例えば座標測定装置等にも
適用できる;゛。また、計測対象としては、穴径の計測
のほか、!芯の測定、自動芯出し、同芯穴加工等にも利
用yることかできる。
’He上述のように、本発明によれば、計測能率およブ
計測精度の向上が可能な計測装置を提供できる。
計測精度の向上が可能な計測装置を提供できる。
図は本発明の一実施例を示すもので、第1図は全体のシ
ステムを示す説明図、第2図は制御部とNC装置の回路
構成を示す回路図、第3図は検出器の移動を示す説明図
である。 1・・・検知手段としての検出器、2・・・駆動手段と
しての駆動装置、3・・・制御手段としての制御部、5
・・・位置検出手段としての位置検出装置〇第1図 第2図 第3図 ・・ロケ1+”S 。
ステムを示す説明図、第2図は制御部とNC装置の回路
構成を示す回路図、第3図は検出器の移動を示す説明図
である。 1・・・検知手段としての検出器、2・・・駆動手段と
しての駆動装置、3・・・制御手段としての制御部、5
・・・位置検出手段としての位置検出装置〇第1図 第2図 第3図 ・・ロケ1+”S 。
Claims (1)
- (1) 被測定物との接離に伴い検知信号を発生す、
゛る゛・検知手段と、この検知手段と前記被測定物とを
1ビ 対移動させる駆動手段と、前記検知手段と前記1.6測
定物との相対位置を検知しその相対位置デーノを出力す
る位置検出手段と、前記検知手段から湛検知信号を受け
たとき前記位置検出手段の相対量データを計測値として
出力する制御手段とを備したことを特徴とする計測装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9416583A JPS59220607A (ja) | 1983-05-30 | 1983-05-30 | 計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9416583A JPS59220607A (ja) | 1983-05-30 | 1983-05-30 | 計測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59220607A true JPS59220607A (ja) | 1984-12-12 |
| JPH0217051B2 JPH0217051B2 (ja) | 1990-04-19 |
Family
ID=14102748
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9416583A Granted JPS59220607A (ja) | 1983-05-30 | 1983-05-30 | 計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59220607A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013195241A (ja) * | 2012-03-19 | 2013-09-30 | Mitsutoyo Corp | 表面性状測定機および表面性状測定方法 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0662665A (ja) * | 1992-08-10 | 1994-03-08 | Ohbayashi Corp | 鏡反射式バイオアート装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51149050A (en) * | 1975-05-13 | 1976-12-21 | Rolls Royce | Measuring device |
| JPS5494343U (ja) * | 1977-12-16 | 1979-07-04 |
-
1983
- 1983-05-30 JP JP9416583A patent/JPS59220607A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51149050A (en) * | 1975-05-13 | 1976-12-21 | Rolls Royce | Measuring device |
| JPS5494343U (ja) * | 1977-12-16 | 1979-07-04 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013195241A (ja) * | 2012-03-19 | 2013-09-30 | Mitsutoyo Corp | 表面性状測定機および表面性状測定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0217051B2 (ja) | 1990-04-19 |
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