JPS59220708A - 自動焦点検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は結像光学系の焦点の検出を自動的に行なう自動
焦点検出装置の改良に関する。

従来、結像光学系の自動焦点検出装置として第１図に示
す如く対象ＯＢに向けて投光素子Ｉ、Ｔから投光スポッ
ト像を投射し、その反射光を２分割された感光領域ＰＡ
；ＰＢを有する受光素子ＰＤで受け、その受光位置から
対象物ＯＢまでの距離を検出したシ、或いは、上記結像
光学系の焦点調節状態を検出する様にしたものがある。

即ち、第１図に於いて、対象物ＯＢ、が位置Ｓ１にある
時、投光素子ＬＴから対象物ＯＢ、に向けて投射された
投光スポット像が対象物ＯＢ１に轟たって反射され、そ
の反射投光スポット像が受光素子ＦＤの感光領域ＦＡと
ＰＢとのちょうど中間位置に形成されたとする。すると
位置Ｓ１よシ、より遠い位置Ｓ２にある対象物ＯＢ２に
対して゛は、投光スポット像の反射光は位置Ｓ１と位置
８２との距離が大きいほど、受光素子ＦＤの感光領域Ｐ
Ａ側に寄った状態（第１図では矢印Ａの上方向）に形成
される。一方、位置Ｓ１よシ、よ）近い位置Ｓ３にある
対象物ＯＢ３に対しては、投光スポット像の反射光は位
置８１と位置Ｓｓとの距離が大きいほど受光素子ＦＤの
感光領域ＦＢ側に寄った状態（第１図では矢印Ａの下方
向）に形成される。従って、上記受光素子ＦＢ上に形成
される反射投光スポット像の位置を検出することによシ
、対象物が現在どの様な距離状態にあるかを知ることが
できる。具体的には、受光素子ＦＤの感光領域ＦＡとＦ
Ｂの出力を比較すれば、感光領域ＦＡ、ＦＢ＃′ｉその
受光量に応じた大きさの出力がされるので、反射投光ス
ポット像の形成される位置がわかる。さらに、第１図に
示す如く、対象物を予定焦点面７Ｍ上に結像させる結像
光学系りを有したものでは、上述の様に対象物の距離状
態がわかれば、その距離状態に応じて結像光学系の焦点
調節が行なえるので、受光素子ＦＤを感光領域ＦＡとＦ
Ｂの出力の大きい方に矢印ムの如く動かし、反射投光ス
ポット像が受光素子ＦＤの感光領域ＦＡとＦＢとのちょ
うど中間位置に来た時、結像光学系りが合焦状態となる
様に焦点調節されるべく受光素子ＦＤの移動に連動して
結像光学系りを矢印Ｂ方向、即ち光軸Ｘ方向に移動させ
る様にすれば結像光学系りの焦点調節が行なえる。これ
は看い換えれば、上記受光素子ＦＤの感光領域ＦＡとＦ
Ｂとの出力の差がゼロであれは合焦であシ、感光領域Ｆ
Ｂの出力の方が感光領域Ｐムの出力よシも大きければ前
ピン（予定焦点面よル前側に結像光学系のピント位置が
ある状態）、感光領域Ｐムの出力の方が感光領域ＰＢの
出力よシも大きければ後ビン（予定焦点面よル後側に結
像光学系のピント位置がある状態）であることを示して
おシ、前ピンの場合は結像光学系りを予定焦点面７Ｍ方
向（矢印Ｂの右方向）に、後ピ／の場合は結像光学系り
を予定焦点面ＦＭとは逆方向（矢印Ｂの左方向）に手動
又は自動で動かせば、結像光学系を合焦状態にすること
ができるのである。

ところで上述の装置の様に受光素子の出力状態によって
前ピン、合焦、後ビンを判定するものでは、一般に該光
学素子の出力の積分値がある一定レベルに達しないと上
記合焦検出は精度良く行なえないことが一般に知られて
いる。これは上記装置に例をとると、投光スポット像が
受光素子ＰＤＫ当たった瞬間は感光部ＦＡ、ＦＢの出力
はいずれもノイズレベルに近く、受光素子ＰＤのどの位
置に投光スポット像が形成されているのかわからない。

それが受光素子ＦＤの出力を積分することによって信号
レベルが増加しノイズレベ）ｗＨに対する信号レベルＳ
の比Ｓ／Ｎが増加するので感光部ＦＡ、ＦＢの出力レベ
ルの比較ができる様になシ、これによってはじめて焦点
位置検出を精度良く行なうのが可能となるのである。即
ち、ある時間受光素子ＦＤ上に投光スポット像を投射し
続け、受光信号を積分した後でなければ上述の如き受光
素子ＦＤの出力に応じて行なわれる焦点検出は精度良く
行なえないのである。

この為、従来この種の自動焦点検出装置では一般に上記
投光スポット像をある所定時間投射し続け、その受光量
を積分した後にその出力を比較し焦点検出を行なってい
た。

しかしながら、対象物の遠近並びに反射率によって受光
素子に入射す４る投光スポット像の光の強さは大きく変
化する為、上述の様に投光スポット像の投射時間が一定
であると、受光素子の出力の積分値が焦点検出可能なレ
ベルに達しているにもかかわらず、上記所定時間は投光
スポット像を投射し続けることになる。

従って、無駄な電力が大量に消費されると共に焦点検出
の為に要する時間も長くなシ、小型化の為に容量の小さ
な電源しか組み入れられず、さらに−瞬のシャッターチ
ャンスに対する追従性の為に合焦検出速度の向上が求め
られている、カメラ等の装置に於いてはきわめて大きな
問題であった。

本発明は上述の問題を解決する為に成されたもので、消
費電力忙無駄がなく、かつ検出速度の速い自動焦点検出
装置を提供しようとするものである。

そしてその特徴とする処は、対象物に投射される投光ス
ポット像の反射光を受光し、その受光位置に応じた信号
を出力する受光素子の出力の積分値によル上記対象物の
像を予定焦点面上に結像させる結像光学系の自動焦点検
出装置であって、上記投光スポット像の投光時間が所定
時間に達したことを検知する時間検知手段と上記受光素
子の出力の積分値が所定レベルに達した仁とを検知する
レベル検知手段とを有し、更に、上記時間検知手段又は
レベル検知手段のいずれかが、上記所定時間又は上記所
定レベルを検知した際Ｋ、上記受光素子の出力の積分値
に基づいて、上記結像光学系の焦点調節状態を判定する
判定手段を設ける自動焦点検出装置とすることによって
受光素子の出力の積分値が焦点検出可能なレベルとなっ
た際には速やかに合焦判定が行なわれる様にして消費電
力の節約並びに焦点検出速度の向上を図るものである。

以下本発明の実施例を図面を参照しながら説明する。

第２図は、自動焦点検出装置（以下、ＡＦ装置と呼ぶ）
の全体の”構成を模式的に示したものである。図中１は
結像光学系としての撮影レンズ中、合焦動作に関与する
結像レンズ群、２は撮像素子の結像面であって、ここで
は撮像管の結像面を示しているが、固体撮像素子の結像
面、あるいはフィルム面であってもよい。５は被写界（
一般的には被測距区域）に光線を投射するだめの投光素
子で、レーザダイオード又は赤外光発光ダイオード等で
構成される。４は投光レンズであって、対象物としての
被写体５（一般的には被測距物体）上に投光素子３の投
光スポット像を形成する。６は受光素子であって、２つ
の感光領域６Ａ及び６Ｂに分けて出力をとり出すことが
できるものであシ、領域６Ａは投光素子６側に、領域６
Ｂはその反対側になる様装置されている。尚、この受光
素子６は例えば２領域のＰ工Ｎフォトダイオード又は電
荷結合素子等で構成される。ＰＬは可視光カットフィル
ターであ）、赤外発光ダイオード６の光を極力通過させ
、外光成分を抑圧するためのものである。

７は受光レンズであって、被写体５上の投光スポット像
を受光素子６上に結像させる。８は撮影光学系駆動用モ
ータであって、カム等を介してレンズ群１、投光素子６
及び受光素子６と連動している。９は自動焦点検出回路
（以下、ＡＦ回路と呼ぶ）で受光素子の出力に応じてモ
ータ７を動かし、レンズ群１を合焦位置に移動させるも
のである。

次に、第２図の装置の作動を説明すると、被写体５が結
像面から１２の距離にあるとき、第３図（ａ）の如く投
光スポット像Ｐの反射光が光センサ上で、２つの領域６
Ａと６Ｂに等しい光量で受光されるようになっていると
する。この場合受光素子６に於いては領域６Ａからの出
力の積分値ＶＡと領域６Ｂからの出力の積分値ｖＢとの
差ＶＡ−ＶＢが０になる。光路でいうと、投光素子６か
ら発射された光は光路ｂ１を通って被写体に当たって乱
反射し、さらに光路ｂ２を通って受光素子６上に結像す
る。そこでこの時レンズ群１が合焦位置にあるとして被
写体５が１１の距離へ移動したと仮定する。すると当然
のことながらレンズ群１のピント位置は後ろにずれ、後
ピン状態になる。一方、投光素子６及び受光素子６がそ
のままの位置にあるとすると、光路はｂｌから被写体に
当たって乱反射され、光路ａ（を通って受光素子６に結
像するが、第６図（ｂ）に示す如くその結像位置は大き
く領域６Ｂ側へずれて、前記のＶＡ　−ＶＢは０になら
ない。

そこでこのずれ量を被写体５の移動量、即ちｌｘ　　＃
に対応させてレンズ群１を合焦位置に移動させる。即ち
前記■ム−ｖＢの符号（場合によってはその大きさを含
む。）に従ってＡＦ７回路がモータ８を正又は逆回転さ
せ、これによシ投光素子３、受光素子６とレンズ群１を
カム等によシ連動して移動させ、ＶＡ　−ＶＢ　二〇即
ち投光スポット像が受光素子６上の領域６Ａ、　６Ｂの
中間位置にきた際、ノ１の距Ｉにある被写体の像が結像
面２上で鮮鋭に結像するようにする。その結果投光素子
３は３′の位置へ、受光素子６については領域５Ａ及び
領域５Ｂの境界線が６′の位置へ、またレンズ群１は１
′の位置へ移動することになる。この場合の投射光路ｂ
１、反射光路はａ２／で示される。一方被写体５が１５
の位置へ移動すれば、レンズ群１等は上記と逆の向きに
移動し、ＶＡ　−７Ｂ＝Ｑになるようにして合焦動作を
行う。この場合の投射光路はｃｌ、反射光路は０２で示
される。

第４図乃至第７図は第２図の装置と同一の原理で測距を
行なう自動焦点検出装置の他の実施例を示すもので、第
２図の装置とは投、受光系の形態を異にしている。以下
、第２図の装置と同一の部材には同一の番号を付し、簡
単に説明する。

第４図は、投光素子からの投光スポット像の投射を、撮
影レンズを通して行ない、その受光をカメラ外部に設け
られた受光素子で行なう、所謂中’Ｌ’ＴＬ測距のタイ
プのものである。１ｏは、コールドミ２−として構成さ
れた反射面１０ａを有するハーフミラ−であシ、撮影し
／ズの、特に焦点調節のために移動するレンズ群１と結
像面２の間に配置されている。４′は投光レンズ、３は
投光素子であシ、投光素子６は結像面２と光学的に共役
な位置に配置されていることが望ましい。撮影レンズ１
の移動とは、受光素子６と機械的に連動して行なわれる
。

第５図は投光素子からの投光並びに受光素子による受光
を共に撮影レンズを通して行なう、いわゆるＴＴＬ測距
のタイプの自動焦点検出装置である。１０′は第５図り
１０と同様の位置に配置されたハーフミラ−１４′は投
光レンズ、５＃−ｉ、、撮影レンズ１の焦点面２と光学
的に共役な位置に配置された投光素子であシ、その投光
スポット像は撮影レンズ１の瞳の外周付近を通過するよ
うになされている。７′は受光レンズ、６は撮影レンズ
１の結像面２と光学的に共役な位置に配置された受光素
子であシ、その光束は撮影レンズ１の瞳の外周付近で、
かつ、投光光束とへたたった位置を通過するようになさ
れている。

なお、投光素子３、受光素子６は固設されており、撮影
レンズとの機械的連動はない。

第６図は、第５図の変形例で、投光光束を撮影光軸と一
致させたものである。

第７図は、投光系に第４図と同一のものを使い、受光素
子として焦点面に設けられた撮像素子１６を、焦点調節
用と撮像用に共用する自動焦点検出装置を示したもので
ある。そして撮像素子１３で受光した像信号は分配回路
１１によｐｈＦ回路７と撮像回路１２とに分割される。

第８図は、第７図の装置の撮像素子１３の感光面を示す
もので、焦点検出用として使用する場合はｉｌＡ、１３
Ｂの２ゾーンからの信号を、分配回路１１を介してＡＰ
回路７に送る。又、第７図のものにあっては、測距中は
撮像素子１３上に赤外光を通過させ、撮像中はその赤外
光を除去する工夫が必要である。

ところで、上記実施例中、第２図のタイプのものは、投
光レンズ４、受光レンズ７が撮影レンズ１の外部にある
ため、投・受光レンズ４，７の大きさを大きくすること
が可能であシ、到達距離の面で有利であるが、反面、全
体がコンパクトにまとまらない欠点を有している。一方
、第４図のタイプのものは第２図のタイプのものと逆の
長所、短所を有する。さらに、撮像レンズ１と投・受光
系との精度を要する機械的連動を必要としないため、構
造が簡単になるというメリットも有する。第４図のタイ
プのものは第２図と第５図の中間的性質を有する。

第５図のタイプのものは、第４図に比べて、投・受光系
の基線長が短かくなシ、測距精度上不利であるが、第６
図のものと共に、非合焦時も投光光束がファインダーの
中心にあるという利点を有する。ちなみに、上記タイプ
のものはいずれも投光素子６による被写体５上にできる
投光スポット像は、合焦時には撮影レンズ光軸上に形成
される。すなわち、上記いずれの装置も測距ゾーンは、
ファインダーの中央にあシ、パララックスのない自動焦
点検出装置となる。　　。

又、第７図のものは、受光素子１３の受光アパーチャー
が、撮影レンズのＦナンバーとほぼ等しくなる為、その
他のタイプの装置に比べて、一般に受光アパーチャーの
面積を大きくとれ、到達距離の点で有利となる。又、第
６図の装置では撮像素子１３からの信号をＡＰ回路９と
撮像回路１２に分配するが、これは時分割で分配するの
が実際的である為、このタイプのものは撮影に先立ち測
距を完了させるスチルビデオカメ２等のシステムに好的
である。

次に、上記装置に於ける電気回路の構成を第９図を基に
説明する。上述の様に受光素子６の各領域６Ａ、　６Ｂ
で受光される反射投光スポット像この増幅器１０１ａ、
１０１ｂは投光スポット像となる赤外光の変調周波数に
対して十分な増幅度を持ち、不要な太陽光や商用電源に
よる変調光の周波数に対しては増幅度を極力おさえた周
波数特性を持つ増幅回路が望ましい。この増幅器の出力
は同期検波回路１０２ａ、　１０２ｂにかけられ、同期
検波される。この際同期信号は投光素子３の発光駆動信
号と同じ周波数であル、一定の位相関係を保っている。

この同期検波回路の出方は積分回路１０３ａ、１０３ｂ
で積分され、反射投光スポット像の信号強度に比例した
増加率を持って時々刻々増力口する。以上の信号処理に
よって積分回路１０３ａ、１０３ｂがら独立に得られる
積分電圧Ｖム。

ｖＢは以下で説明する演算回路によって処理、判定され
幾ビットかのディジタル情報に変換される。

即ち、積分電圧ｖＡ、ｖＢは、一方で減算器１０４によ
って差信号−−−となシ、他方、加算器１０５によって
和信号ｖＡ＋ｖＢとなる。差信号ＶＡ−ｖＢは絶対値回
路１０６に加えらレテ、［ｖＡ−ｖＢｌを得る。この値
Ｉ　ＶＡｖＢｌは比較手段としての比較器１０７に於い
て比較値−ｖＤ＆比較され、その大小関係が出力される
。一方、和信号ｖＡ＋ｖＢｔ／′ｉレベル検知手段とし
ての比較器１０８，１０９においてそれぞれ比較値−＋
　ＶＢと比較され、各々の大小関係が出力される。さら
に、比較器１１０では積分電圧ｖＡとＶＢとがそのまま
大小関係を比較される。以上から得られる４つのディジ
タル情報、即ち、比較器１０７，１０８，１０９，１１
０の出力は判定手段としての順序制御回路１１１に加え
られ、システム全体の動作が決定される。

１１２は発光駆動回路であシ、制御回路１１１からの同
期信号に同期して投光素子乙に電流を供給し、投光素子
２の発光を制御する。

１１３はモータ駆動回路であり、制御回路１１１からの
信号によって撮影光学系駆動用モータ８の回転方向及び
回転速度を制御する。

第１０図は、第９図で示した回路の構成をさらに具現化
したものである。

第１０図は第９図の回路の（Ａ）の部分を示すもので、
増幅器１０１ａ、１０１ｂの初段に低雑音の演算増幅５
２０１ａ、２０１ｂを用い、フィードバック回路２０２
ａ、　２０２ｂの設定によってバイパス特性を持たせて
いる。実際に投光素子６から投光される赤外光のエネル
ギー中、外光成分は受光索子６に戻ってくるエネルギー
に比較し、かなシ大きな値となシ得る。可視光カットフ
ィルターＰＬとこの回路は、相対的に外光成分を抑圧す
る効果があシ、設定しだいで大抵の被写体条件に対して
実用可能である。さらにコンデンサ２０３ａ。

２０３ｂによって太陽光等の直流成分はほとんどカット
される。２０４ａ、　２０４ｂは交流増幅器であシ、変
調周波数付近の成分を十分増幅した後、次段の同期検波
回路に信号を供給する。

第９図図示の同期検波回路１０２ａ、１０２ｂは反転器
２０５ａ、　２０５ｂとアナログスイッチ２０６ａ、　
２０６ｂ及び２０７ａ、２０７ｂによって構成され、ア
ナログスイッチ２０６ａ、　２０６ｂ、　２０７ａ、　
２０７ｂを同期信号５ＹＮＯによてスイッチングし、非
反転信号と反転信号を交互に選択することによシ実現し
ている。

又、他の実施例としては、４現象アナログ乗算器を用い
、入力信号と、同期信号ＢＹＮＯの交流成分の積を求め
る方法もある（不図示）。

同期検波された信号は直流（脈流）成分となル、次段の
積分回路１０３ａ、１０３ｂに供給される。

この積分回路１０３ａ、　１０３ｂは、演算増幅器２０
８ａ。

２０８ｂ　、抵抗２０９ａ、２０９ｂ　、コンデ、ンサ
２１０ａ、２１０ｂによって構成されている。そして同
期検波出力電圧に比例した電流が同期検波回路１０２ａ
、１０２ｂからそれぞれ抵抗２０９ａ、　２０９ｂを通
して、コンデンサ２１０ａ、２１０ｂに流れ込み、蓄積
され、積分電圧となって演算増幅器２０８ａ、　２０８
ｂから出力される。この電圧が各々前記ｖＡ、ＶＢであ
る。尚、２１１ａ、２１１ｂはコンデンサ２１０ａ、２
１０ｂに蓄積された電荷を初期化するためのアナログス
イッチで、コンデンサ２１０ａ、　２１０ｂに蓄積され
た電荷を次の蓄積に備えて制御回路１１１からのＣＬＲ
信号によってクリアさせる。

第１１図は、積分電圧ｖＡ　ｌ　ＶＢから１ｖＡ−ｖＢ
ｌを作シ、これと比較電圧’Ｖｐを比較する第９図の回
路の（Ｂ）部分を示すものである。積分回路１０５ａ、
１０５ｂから出力された積分電圧ｖＡ、　ｖＢは演算増
幅器２１２と各等しい抵抗値Ｒの抵抗２１３〜２１６に
よって構成される減算回路１０４によって減算され、−
ｖＡ＋ｖＢを得る。この値は次段の絶対値回路１０６に
加えられる。絶対値回路１０６は演算増幅器２１７、ダ
イオード２１８，２１９　、抵抗値２Ｒの抵抗２２０〜
２２２、抵抗値只の抵抗２２３によって構成されている
。演算増幅器２１７、ダイオード２１８，２１９　、抵
抗２２０．２２１の構成によりダイオード２１９のカン
ードは、負入力時に高インピーダンス、正入力時に入力
電圧の一１倍の電位となる。その結果、コンパレータ２
２４の負入力には−０，５ｌ　ｖＡ−ｖＢｌの電圧が加
わる。この正人力に一〇、５ｖＤ（Ｄ電圧を加えておく
ことによ、り　、ｌ　ｖＡ−ｖＢＩとｖＤの比較がなさ
れる。この比較値をＤＤとする。

又、第１２図は第９図の回路の（０）部分を示すもので
、ＶＡ　ｅ　ｖＢが抵抗値Ｒの抵抗２２５．２２６によ
ってカロ算されｏ、ｓ　（ｖＡ＋ｖＢ）がコンパレータ
２２７．２２Ｂの正入力に加えられる。各々のコンパレ
ータの負人力にはｏ、５　ｖＬ、　０．５　ｖＨが加え
られておシ、（ｖＡ＋ＶＢ）：ｖイ（ｖＡ＋ＶＢ）：ｖ
Ｈの比較が行なわれ、比較値ＬＬ、ＨＥを出力する。

さらに、第１３図は第９図の回路（Ｄ）部分を示すもの
で、−と−はコンパレータ２２９によりて直接比較され
、比較値ＡＢを出力する。

第１３図は一２ＶＢから比較値ｊ）Ｄを得るための別の
実施例である。ｖＡ、ＶＢはコンパレータ２３０、２５
１の正入力に加えられている。また抵抗値Ｒの抵抗２５
２．２３５を介して負入力に加えられている。また、そ
の負入力には定電流源２３４゜２５５も接続されておシ
、結果として負入力にはｖＢ十ｉＲ、ｖＡ＋　ｉＲの電
圧が加わる。ただし１は２５４．２５５の電流値、コン
パレータ２３０及び２３１の出力ＦｉＯＲ回路２６６に
加えられ、出力ＤＤが得られる。出力ＤＤはｖＡ−ＶＢ
〉１Ｒ＝ＶＤ又はＶＢ−ｖＡ＞１Ｒ＝−の時に真論理に
な）、ｌ　ＶＡ　　ｖＢｌ＞　ＶＤの論理を表わす。

第１５図は順序制御回路１１１の一部をハードウェアで
具現化したものである。クロック０は順序制御回路１１
１の最小の周期を決定し、投光素子４の発光変調と同期
検波回路１０２ａ、１０２ｂの同期信号５ｙｂｙｃの源
となる。２６６はｎカウンタであシ、この出力Ｏｎの周
期は測距の周期、および最大積分時間を決定する。７リ
ツプフロツプ２５７．２３８は各々、信号ＤＤ、　ＨＨ
によってセットされ、信号Ｏｎによって毎測距周期リセ
ットされる。

フリップフロップ２５７，２５８の各々の出力ＤＤＱ。

ＨＨＱは積分打切シ信号であり、ＯＲ回路２５９を介し
てクリップ７０ツブ２４０に入力され信号Ｏｕの周期で
保持される。クリップ７０ツブ２４０の反転出力Ｑは無
限信号ＦＡＲとなる。信号ＦＡＲとＤＤＱはＯＲ回路２
４１を介してクリップフロップ２４２をセットし、モー
タ回転信号ＭＯを出力させる。この７リツプフロツプ２
４２はまた合焦信号ＨＨＩＩ（信号によってリセットさ
れ、合焦時のモータ回転信号ＭＯの出力を禁止しモータ
８を停止させる。信号ＡＢはノリツブフロップ２４３に
おいて、非合焦を表わす信号ＤＤＱによって更新されＡ
ＢＱ、となる。ここでは前ピン、すなわチｖＡ〉−の時
、真論理となっている。信号ＡＢＱと信号ＩＦＡＲはＯ
Ｒ回路２４４を介して、モータの回転方向を表わす信号
ＦＮとなる。最終的なモータ駆動信号ＦＦ（無限方向へ
）、ＮＮ（至近方向　　。

へ）は信号ＦＮと信号ＭＯを入力とするＡＮＤ回路２４
５の出力又は信号ＦＮをＮＯＴ回路２４６を介して得ら
れる出力と信号ＭＯとを入力とするＡＮＤ回路２４７の
出力によって選択される。

同期信号５ＹＮＯは、信号ＤＤＱ、　、！：信号ＨＨＱ
、が共に疑論理の時にその信号がＯＲ回路２３９、ＮＯ
Ｔ回路２４８を介してＡＮＤ　＠　路２４９に入力され
ることにより、ＡＮＤ回路２４９に入力てれる。クロッ
クＣの出力ＯＬＫに同期して出力される。ＯＲ回路２５
０から出力される積分初期化信号ＣＬＲは、ＯＲ回路２
５０に入力されるＯＲ回路２３９の出力と信号Ｃｎによ
って積分終了を判断してから、次の積分の開始時まで真
論理となる。

第１６図は前ピン→後ビン→合焦→無限の状態変化があ
った時に鎖１５図の各１６号として観察される波形であ
る。

前ピンではＤＤが最初に立上シ、この時ＡＢは高レベル
である。後ビンでほやはシＤＤが最初に立上るがＡＢは
低レベルである。合焦ではＨｌ（が立上る。無限の時は
どれも、立上らないうちに最大積分時間に達する。

第１７図は順序制御回路１１１として、マイクロコンピ
ュータを用い、ソフトウェアによって制御する場合の本
装置の一部を具現化して示しである。この図では投光素
子６の発光駆動回路１１２とモータ駆動回路１１６の例
も合わせて示している。２５１はマイクロコンピュータ
であシ（例として第１８図に示すような内部構造をして
いる）、入力端子には前述の各信号ＤＤ、ＡＢ。

ＬＬ　、Ｈ）１が入力され、出力端子からはこれも前述
の各信号ＢＹＮＯ，ＯＬＲ，ＦＦ、　ＩＮが出力される
。また、モータの回転速度制御のための信号ＬＯＷ等の
追加も容易である。

投光素子２に流れる電流は、トランジスタ２５２、２５
５を介して信号８ＹＮＣによってスイッチングされる。

モータ８に流れる電流はトランジスタ２５４〜２５７を
介して信号ＦＦ及び信号ＮＮによってスイッチングされ
、正転又は逆転の方向に流れる。

トランジスタ２５８，２５９、ダイオード２６０による
回路構成は電圧制御回路であシ、ＬＯＷ信号によシモー
タに加えられる電圧が２段階に切シ換わる。２６１　、
２６２はそれぞれ至近スイッチ、無限スイッチであシ、
撮影光学系が至近端、無限端につき肖った際に閉じ、限
界以上の駆動を防止している。

給１９図は第９図の回路の各部の電気信号波形である。

同期信号５ＹＮＯは同期検波回路１［＋２ａ。

１０２ｂに加えられるが、投光素子６の電流駆動にも用
いられ、発光出カニＲＥＤが得られる。受光素子６ａ、
　６ｂよシ得られる電気信号は、投光した赤外光の反射
光成分と、太陽や人工光の外光成分が重畳した形で得ら
れ信号ｓｐａのような波形になる。この信号を高域通過
特性の増幅器１０１ａ。

１０１ｂにかけて得られるのが信号Ａｍｐである。発光
を開始するのとほぼ同時にＧＬＲ信号を解除すると、同
期検波回路１０２ａ、１０２ｂの出力が積分され、積分
回路Ｉ　Ｄ３ａ、　１０３ｂの出力に信号比ｔのような
積分波形が現われる。この潰分波形増加率は投光赤外光
の発射光成分量に比例する。非常に微弱な入力に対して
も十分な回数（時間）の積分によって、大きなＳＮ比を
得ることができる。

次に本装置の動作を第９図を基に第２０図〜第２４図に
示される流れ図の番号に従って説明する。ここでは制御
回路１１１としてマイクロコンピュータ（以下マイコン
と呼ぶ）２５１を用いるものとする。

■　不図示のＡＦ作動スイッチを閉成すると制御回路１
１１が動作を開始する。

■　まず制御回路１１１のＢＥＮＢ入カ端入社端子ベル
の状態であるか否かの判定を行なう。５ｆｆｉＮ８入力
端子が高レベルの時は第２３図に示される調整モードで
の作動となシ、測距は行なわれない。調整モードでは赤
外発光ダイオード３のＯＮ　−ＯＦＦと受光素＋６の出
方をＴ。時間積分し１工Ｃのオフセット％整増幅回路１
０１ａ。

１０１ｂ　ｓ同期検波回路１０２ａ、　１０２ｂ　ｓ積
分回路１０３ａ、１０５ｂの調整、又は不図示の調整機
構に　“よシ、赤外発光ダイオード３又は投光レンズ４
、受光素子６、受光レンズ７等の位置関係調整が行なわ
れる。従って、通常制御回路１１１のＳＥＭＳ入力端子
は低レベル状態にあル、上記ＡＰ作動スイッチを閉成す
ると、本装置はまず以下の通常測距モードで作動する。

■　通常測距のモードにはいるとます、■フラグをリセ
ットする。尚、この囚フラグの内容については後述する
。又、このｃｏ７ラグ用のメモリとしては、マイコン２
５１　ＲＡＭ領域中のメモリＭ（１）を用いるものとす
る。

■　この後、制御回路１１１は、測距動作を開始する。

即ち制御回路１１１は、まず、発光駆動回路１１２並び
に同期検波回路ＩＤ２ａ、１０２ｂを同期信号ＥＩＹＮ
Ｏに同期して駆動させると共に積分回路１０３ａ、　１
０３ｂのクリア状態を解除する。これによって投光素子
３から同期信号ＢＹＮＯに同期して赤外光による投光ス
ポット像が被写界に向って投射され、その反射光が受光
素子６に検矧される。受光素子６では２つの感光領域６
Ａ、６Ｂから反射投光スポット像の受光位置に応じてそ
の受光法に応じた電気信号が出力され、これが増幅器１
０１ａ、１０１ｂによって増幅されて同期検波回路１０
２ａ、　１０２ｂで同期検波される。そしてこの様にし
て得られた光情報はそれぞれ積分回路１０５ａ、１０５
ｂ　ｊ順次積分されていきその出力が積分′電圧−１Ｖ
Ｂとなる。

この積分電圧−９■Ｂは前述した様に以下に示す■〜■
の４つのデジタル情報に演算処理され制御回路１１１に
入力される。即ち、■　減算器１０４によって差信号ｖ
Ａ−ｖＢとなシ絶対値回路１０６に加えられて、その絶
対値１ｖＡ−ｖＢｌと比較値ＶＤとの大小関係を比較し
た比較器１０７からのデジタル出力、ＤＤ■　加算器１
０５による和信号−＋ｖＢと比較値ｖＩ、との大小関係
を比較した比較器１０８からのデジタル出力、ＬＬ ■　加算器１０５による和信号−十ｖＢと比較値ｖＨ（
ｖＨ＞ｖＩ、）との大小関係を比較した比較器１０９か
らのデジタル出力、ＨＨ ■　信号−とｖＢの大小関係を比較した比較器１１０か
らのデジタル出力、ＡＢ 一方、制御回路１１１に於いてはマイコン内の時間検知
手段によって積分回路１０３ａ、１０５’ｂに於ける信
号の積分時間、即ち投光素子の投射時間が測定され、こ
れをｔとすると、最大積分時間Ｔ。との大小関係が比較
される。そこでこれらの情報が与えられると制御回路１
１１では、信号がｌ　ＶＡ　　ＶＢ　ｌ≧■９又は−＋
ｖＢ≧ｖＨ又はｔ≧Ｔ、となっているかどうかの判定を
行なう。この６つの榮件のうちいずれか１つの条件がみ
たされると制御回路１１１は測距完了と判定する。第２
５図は、合焦時の反射投光スポット像Ｐと積分信号ｖＡ
、　ｖＢの状態を示すもので、第２５図■に示す様に合
焦状態では反射投光スポット像Ｐは受光素＋６の感光領
域６Ａと６Ｂとのほぼ中間位置に形成されるので、受光
素子６の感光領域６に、　６Ｂからは共にほぼ等しい大
きな値の出力が得られる。この為、積分信号ｖＡ、ＶＢ
の値は第２５図■番て示される如く共にほぼ等しい状態
で急激に増加する。この為、第２５図■に示す如く信号
ＶＡ十−も時間ｔと共に急激に増加する一方、信号１ｖ
Ａ−ｖＢｌは第２５図■に示す如くほとんど増加しない
。従って、比較値ＶＨＩ　ＶＤ　ｓ最大積分時間Ｔ、に
対してｖＡ＋ＶＢ≧ＶＨｌ　ＶＡ　　ＶＢ　ｌ　＜　Ｖ
Ｄかつｔ（Ｔｏであれば合焦状態であることが判定され
る。一方、第２６図は非合焦時の反射投光スポット像と
積分信号ｖＡ、■Ｂの状態を示すものでレンズ群１が前
ピン或いは後ビンの状態の時は反射投光スポット像Ｐは
第２６図■に示される如く受光素子６の感光領域６Ａ又
は６Ｂのどちらかへ片寄るので受光素子６の感光領域６
Ａと６Ｂとの出力信号は一般にどちらかが大きな値とな
る。この為、積分信号ｖＡ、ＶＢは第２６図■に示す如
く、どちらか一方が時間ｔと共に急激に増加するがもう
一方の積分値はほとんど増加しない。従って第２６図■
、■に示す如く信号ｖＡ＋ｖＢが、比較値ＶＨよシ大き
くなる迄に、又、積分時間ｔが最大積分時間Ｔ。に達す
る迄に信号Ｉ　ＶＡ　　ＶＢ　ｌは１ｖＡ−ｖＢｌ≧Ｖ
Ｄとなる。従ってｌｖ、−ｖＢ１≧ＶＤが検知され、Ｖ
Ａ＋　ＶＢ　＜　ＶＨかつｔ＜Ｔｏであれば前ピン又は
後ビン状態であることが判定される。第２７図は被写体
５が遠方にあるか又は被写体５０反射率が極めて低い場
合の反射投光スポット像Ｐと積分信号ｖＡ、ｖＢの状態
を示すもので、この場合反射投光スポット像Ｐは、受光
素子６上には形成されないか、又は形成されてもその受
光量はきわめて微弱な状態にある。この為、受光素＋６
の感光領域６Ａ及び６Ｂの出力信号は共に小さな値とな
シ、第２７図■に示す如く積分信号ＶＡ　ｒマ３は共に
あまシ増加しない。この為、積分時間ｔが最大積分時間
Ｔ。になっても信号ｖＡ＋ＶＢ。

ｌ　ｖ、−ｖＢｌνま共に第２７図■■に示す如く一十
ｖ、Ｂ≧Ｖ□ｌ　ｖＡＶＢ　ｌ≧ｖＤとはならない。従
ってｔ　≧葛、　ｖＡ＋ｖＢ＜ｖＨｌ　ｖＡ−ｖＢｌ　
＜ＶＤであれは、被写体５は遠方又は測距困難な状態と
なっていると判定される。

以上の如く、ｖＡ＋ＶＢ≧ｖＨ又はｌ　ｖＡ−、ｖＢｌ
≧ＶＤ又はｔ≧Ｔｏを測距完了の判定条件とするととに
よって積分信号ｖＡ、ＶＢの値が測距可能なレベルに達
した際には、速やかに自動焦点検出動作が開始できると
共に電荷の無駄な消費が防止される。特に本装置は後述
する如く、測距が最大積分時間Ｔ。以内で終了していた
場合、１回の測距サイクルの時間を一定にするためにマ
イコン内で最大積分時間Ｔ。に達するまでの時間をカウ
ントしＴ。時間経過後再び測距を行なうべく次の測距サ
イクルにはいる様にしているので測距完了からＴ。時間
経過までの無駄な電荷の消費が全く無くなシ、省電とし
ての効果が極めて高い。

第２４図は■の内容をサブルーチンとして具体的に示し
たものである。以下順を追って説明する。

■　投光素子３その他の測距回路が上述の如く作動を開
始する。

＠　積分回路１０３ａ、　１０３ｂのクリア状態を解除
する。

の　投光素子３の発光を行なう。

Ｏその後同期信号ＢＹＮＯを停止することによ）発光駆
動回路１１２を停止させ、従って投光素子３の発光を停
止する。又同時に同期検波回路１０２ａ、　１０２ｂの
駆動も停止させる。

■　上記測距完了の判定条件に従って測距が完了したか
どうかの判定を行なう。

θ　上記測距完了の条件が満されていない時再び投光素
子６を発光して測距をくシ返す。

［Ｆ］　測距完了の条件が満たされた場合、信号ＤＤ、
ＡＢ、ＬＬ、ＨＨ（即ち比較器１０７，１０８，１０９
゜１１０の出カンがマイコンのＲＡＭ領域内のメモ９　
Ｍ　（０）に記憶される。その後同期信号５ＹＮＯを停
止することによシ発光駆動回路１１２を停止させ、従っ
て投光素子６０発光が停止する。又同時に同期検波回路
１０２ａ。

１０２ｂの駆動も停止させる。

■　そして、制御回路１１１の０ＩＪＡＲ出力を高レベ
ルとすることによシ、積分回路１０３ａ。

１０３ｂをクリア状態とし、次の測距動作にそなえる。

以上の一連の制御を行なった後メモＩＪ　Ｍ　（０）に
記憶された４ビツトのデータによシ自動焦点検出動作及
び後述する他の測距モードへの移動が行なわれる。尚、
第２４図のサブルーチンは、■に於ける測距完了の判定
条件を変えて、後述する他の測距モードに於いても使わ
れる。

■　再び第２０図に戻って、％　＋　ＶＢ≧ＶＨが検出
されると前述の如く、合焦と判定される。

■　合焦の判定が行なわれると制御回路１１１よシ停止
信号（ＦＦ：ＩＮＮＯ３）がモータ駆動回路１１３に供
給されモータ８を停止させる。

■　そして積分時間ｔが最大積分時間Ｔ。に達した後、
後述する通常合焦時に適した通常合焦測距モードに移行
し、再び測距が行なわれる。

■　一方、ｖＡ＋ＶＢ≧ＶＨでない時は非合焦又は積分
信号−９ｖＢの値が小さい時でちゃ、そのいずれかであ
るかの判別をここで行なう。ｌ　ｖＡ−ｖＢｌ≧−でな
い時はｔ≧Ｔｏで測距が完了し　。

ているので、前述した如くこの場合は、積分信号−９Ｖ
Ｂのレベルが低い状態にあるので、レベルの低い積分信
号ｖＡ、ＶＢに適した測距を行なう。後述する低レベル
時測距モードへ移行する。

■　１ｖＡ−ｖＢｌ≧ＶＤである時は、レンズ群１は非
合焦状態にあることが判定され、次に前ビンか後ピンか
の判別が行なわれる。ｖＡ＞　ｖＢのときは後ピンで必
シ、レンズ群１を至近の側へくシ出すべくモータ８を駆
動する必要がある事が判定される。

［相］　次にモータ８を駆動すべき速度の決定が行なわ
れる。本実施例に於いてはモータ速度は２段に制御され
ておシ、非合焦状態から合焦状態に近づいた時速度を低
速に切シ換えることによシ、レンズ群１が合焦位置をオ
ーバーランする事を防止し、なめらかに停止する様にな
っている。尚このモータ速度は必要に応じて何段に切シ
換える様にしても良い。ここで合焦状態に近いか、又は
太きくずれているかの判定を行なうために比較値ＶＬの
レベルを判定基準として用いる。非合焦時は測距光、了
時つまＪ）　ｌ　ｖＡ−ｖＢｌ　＝　ｖＤに達した時点
に於いて信号−＋ｖＢがｖＡ＋　ＶＢ≧ｖＬの時は低速
、ｖＡ＋ｖＢ＜ｖＴＪの時は原則として高速とする。こ
の様子を示したのが第２６図、第２８図であシ第２６図
は高速、第２８図は低速の時である。

第２６図、第２８図からもわかる様に合焦状、　態に近
くなるｔｌど、反射投光スポット像Ｐは受光素子６の感
光領域６Ａと６Ｂとの中間位置に近づくので、積分信号
−とｖＢとのレベルの差は小さくなる。従ってレンズ群
１が合焦位置に近いほど１ｖＡ−ｖ、ｌ≧ＶＤとなるま
での時間ｔは長ぐなシ、その長くなる分だけｖＡ＋ｖＢ
の値は大きくなる。従ってｖＡ＋ＶＢの大小によってピ
ントのずれの程度がわかるのである。

以上述べたモータ８の速度制御と反射投光スポット像Ｐ
の受光素子６上での位置の関係を示したのが第２９図■
■である。これによシ反射投光像ＰがＰｌの位置（後ピ
ン）からＰ２（合ピン）を経てＰ５の位置（前ビン）ま
で移動した時の感光領域６Ａ、　６Ｂで受光される受光
量の大きさがわかる。第２９図■中りの部分　Ｃが低速
範門内であシ で表わされる。ｋｏの値はモータの速腿及び系の持つ慣
性等の条件にょシ適当な値に設定さ　Ｇれる。これによ
） となる。

ここで本装置に於いては非合焦時に測距完了を判定する
のは１ｖＡ−ｖＢ１＝ｖＤ＝一定電圧制御が行なわれる
。本願の実施例ではｖｘ、二ｖＬ′とじているが、他の
値を設定してもよい。

さてζζで再び第２０図の流れ図に戻る。

非合焦状態であって後ピンと判定された後−十ｖＢ≧Ｖ
Ｌの判定を行なう。

・　−＋−≧ＶＬＯ時は前述のごとく低速でモータ８を
駆動すべく制御回路１１１よシ信号が出力され、レンズ
群１は至近側に制御される。

ｉ；＝’ｌ”ｏに達するまでの時間経過の後■に戻シ再
び通常測距モードに於いて測距が行なわれる。

一方第２０図［相］に於いて一＋ｖＢ＜ｖＬの時、先に
述べた如く原則的には高速でモータ８を回転させるべき
であるが、ここでさらにこの高速で至近側に駆動ず欠）
判定がｎ２回回通側距モードをくシ返えす間連続してｎ
２回されているかどうかの判別を行なう。ｎ２回以下の
時は＠に移）、モータ８は低速で至近側に駆動される。

ｎ２回以上連続して高速で至近側に駆動すべき判定がさ
れると以降はモータ８は高速で至近側に駆動される。一
方、高速で至近側に駆動すべき判定がｎ２回連続して行
なわれず、例えば途中で合焦等判定がされた場合は再び
ｎ２回連続して高速で至近側に駆動すべき判定がされる
まではモータ８は高速にならない。

以上述べた如くモータ８の速度を制御する理由はモータ
８の始動時は必ず低速で動く様にする事によシ、始動時
の感触を改良すると共に秋分信号ＶＡ　ｔ　Ｖｎにノイ
ズがのったことによシ、レンズ群１がハンチング等の動
作をする事を軽減するためである。

＠〜［相］　の動作に関しては＠〜■とそ一夕８の駆動
方向が逆になる以外の動作は全く同様であるので説明は
省略する。

次に通常合焦測距モードについて説明する。

■　■に於いて合焦状態であることが判定され、積分時
間ｔが最大−分時間Ｔ。に達すると合焦状態からの測距
に適した通常合焦測距モードに於いて再び測距が行なわ
れる。これは、合焦後に於いても被写体は一般に時々刻
々と距離を変化させる可能性がある為、一定時間（ここ
では最大積分時間Ｔ。）おきに測距し直してレンズ群１
が合焦状態にあるかどうかの確認をする必要がある為で
ある。通常合焦測距モードに於いては測距を完了する為
の判定条件へとして、合焦状態を判定する為の条件が通
常測距モードのｖＡ＋ＶＢ≧ＶＨからｖＡ＋ＶＢ≧ｖＬ
（ｖｘ、　＜　ｖｎ　）に変化する。この様に測距完了
の判定条件を一十ｖＢ≧−からｖＡ十ｖＢ≧ＶＬに変更
するのは、合焦状態と判定される範囲が広げる為である
。つまシ、非合焦状態にあると判定できない範囲、つま
シネ感帯を広げ、レンズ群１を前回合焦と判定された位
置から動きにくくする。例えばｖ、＝％ｖＨと設定すれ
ば第３０図に示される如く、実質的に比較値ＶＤが２倍
となったのと同等の効果を得ることができ、１ｖＡ−ｖ
Ｂｌ≧ＶＤが判定されにくくなシ、なかなか非合焦状態
となシ得ない。従って積分信号ｖＡ、ＶＢに重畳された
ノイズによる誤動作を減少する事が可能となる。又比較
値を下げる事によシ積分時間つ−Ｕ）投光素子５０発光
している時間を短縮する事ができ、本装置のごとく、１
回の測距サイクルを一定時間とするものに於いては電力
の消費の面でも有利である事はｄうまでもない。

尚、その他の測距完了の判定条件は通常測距モードの場
合と同じであり、又その後の作動も通常測距モードの場
合と同様に進行する。

つまシ測距を開始し、１ｖＡ−ｖＢｌ≧Ｖｐ又は−＋ｖ
Ｂ≧ｖＬ又はｔ≧Ｔｏの３つの条件のうち１つの条件が
満たされると制御回路１１１は測距を完了し、その時の
比較信号ＤＤ、ＡＢ、ＬＬ、ＨＨがメモリＭ（０）に再
び記憶する。

［相］　ここで■に於いてメモｊｊ　Ｍ　（０）に記憶
されたデータに基づいてｌ　ｖＡ−ｖＢｌ≧ｖＤかどう
か、つまル非合焦かどうかの判定を行なう。１ｖＡ−ｖ
Ｂｌ≧ＶＤと判定された場合、非合焦であ夛、再び通常
測距モードにて測距が行なわれる。

＠　　１ｖＡ−ｖＢｌ≧−でない時、合焦又は、物体が
遠方にあるか物体の反射率が低いため十分な信号が得ら
れない時であシ、ｖＡ＋ＶＢ≧ｖＬであるかどうかによ
って積分信号ＶＡ　ｒ　ＶＢのレベル状態を判定しその
状態によって合焦であるかどうかの判別を行なう。ｖＡ
＋ＶＢ≧’ＦＬでない時、測距完了はｔ≧Ｔｏで行なわ
れ、積分信号ｖＡ、ＶＢがきわめて低いことから物体が
遠方にあるか又は物体の反射率が低いものであると判定
して低レベル時測距モードに移行し、再び測距を行なう
。

〇　一方ｖＡ＋ＶＢ≧ｖ１の時合焦であると判定し、次
に■に述べたのと同様に最大積分時間Ｔ。までカウント
する。

［相］　続いて通常合焦測距モードを何回〈シ返えした
かの判定を行なう。く）返えし回数ｎ〈ｎ、のときは再
び通常合焦測距モードに戻）、ｎ＝−に達するか又は［
相］又は■で他の測距モードに移るまで通常合焦測距モ
ードで測距を行なう。通常合焦測距モードをｎ。回くシ
返えし、ｎ　＝　ｎｏとなると再び通常測距モードに戻
ル、次の測距は通常測距モード、つ″！！′シ正規の不
感帯にて測距が行なわれる。

以上述べた如く、〜回目ごとに不感帯を正　　、規の状
態に戻すことによって測距精度の低下が防止できる。先
に■で述べた如く不感帯を広げることによシ、安定性は
増すが、その分反作用として測距精度の低下をまねく。

そこでｎ。回目ごとに通常測距モードに戻すことによシ
正規の不感帯で合焦、非曾焦の判定を行ない、測距精度
の低下を補っている。従ってこの様にすることによシ合
焦時の安定化と、測距１１　Ｊ、ｉの両立を図っている
。尚、ｎｏ及びＶＬは以上の目的のために適切な値に設
定する事が必要である。

次に第２１図に基づいて低レベル時測距モードでの動作
について述べる。

■　上述の様に通常測距モード又は通常合焦測距モード
に於いて積分信号ＶＡ　＋　ＶＢが共に低いレベルであ
ると判定されるか又は後述する■時測距モードに於いて
積分信号ｖＡ、−のレベルがある程度高くなって測距可
能になったと判定されると、積分信号−２■Ｂのレベル
が低い場合の測距に適する低レベル時測距モードに於い
て測距が行なわれる。低レベル時測距モードでは通常測
距モードの場合と同様にして積分信号ＶＡ　＋　ＶＢが
得られるとｖＡ＋ｖＢ≧ＶＨ又はｔ≧Ｔ、によって測距
完了を判定する。尚、ここで測距完了の判定条件として
−−ｖＢ≧ｖＨが通常測距モードの場合と異なシ除かれ
ている。これは、低レベル時測距モードに於いては被写
体５の距離が遠方にあるか又は被写体５の反射率が低い
ために受光系子６上にて検知される信号のレベルが低く
、従って積分信号ｖＡ、　ｖＢのＳ　／　Ｎが余り良く
なく、例えば積分信号ｖＡ、ＶＢのレベルの大小関係が
本来の値と逆になることがあシ、これによって誤測距が
生じない様にする為である。即ち、至近方向と無限方向
との信号がくシ返えし出力された場合、これらをそのま
−１，検出してしまうと交互に異なる方向の非合焦信号
が出力され、動作が不安定になる恐れがある。第６１図
はこの様なＳ　／　Ｎの悪い積分信号の例であｐ、第３
１図■に示すごとく一信号とＶＢ伯号とが交互にいれか
わっている為、第６１図中■■に示すごとく（Ｉ）の点
で１ｖＡ−ｖＢｌ≧ＶＤＶＢ〉■となったとすると、前
ピン状態であると判Ａ 定し、モータ８を無限方向に駆動すべき制御信号を制御
回路１１１よ多出力する。又、偶然（確率的に）（１）
の点ではＶＢ＞−ではあるが（Ｉ）′に示すととく１ｖ
Ａ−ｖＢｌ〈ｖＤであったとすると（Ｉ）の点では測距
の判定は行なわれず（ＩＩ）の点で−＞　ｖＢ、　ｌ　
ｖＡ−ｖＢｌ　＞−の判定を行なう事になる。これは前
述の場合と全く逆の方向の非合焦信号をモータ８に出力
することになる。以上述べたごとき不安定さを極力減少
するために低レベル時測距モードでは測距完了の判定条
件としてｌ　ＶＡ　　ＶＢ　ｌ≧■９を用いずｖＡ＋Ｖ
Ｂ≧ＶＨが判定されない時はｔ　＝、　Ｔ、まで積分を
継続した後に１ｖＡ−ｖＢｌ≧ＶＤの判定を行なう事と
している。この様に複数のモードを切シ換えることによ
シ、通常測距モードの持つ利点（省電力等）と低レベル
時測距モードの持つ安定性を両立させることが可能とな
る。

■　再び第２１図の低レベル時測距モードの流れ図に戻
ると■にて測距が完了すると次に測距完了が一＋−≧ｖ
Ｈによシ行なわれたかどうかの判定を行なう。ｖＡ＋Ｖ
Ｂ≧Ｖ□の時は信号７戸ｖＥが十分大きいことを意味し
、低レベル時測距モードにて測距を行なう必要がなくな
ったと判定して、通常測距モードに戻る。第６２図に低
レベルモードから通常測距モードに戻る時の信号’７Ａ
　ｌ信号ＶＢ、信号−＋ｖＢ、信号ｌｖ、−ｖＢｌの状
態を示した。■に示すごとく１ｖ、−ｖＢｌ＞ちとなっ
ても測距は完了せず継続して測距が行なわれる。■に示
すごとくｔ〈Ｔｏ　ｌ　ＶＡ　＋　ｖＢ≧ＶＨの条件を
満たした時に測距を児了し、通常測距モードに戻ること
となる。

［株］　−十ＶＢ≧ｖＨでなかった時は測距完了はｔ＝
Ｔｏの糸件で行なわれた事を意味する。引き続き一十ｖ
Ｂのレベル判定を行ない、無限と判定すべきか有限距離
内でＩＩＩ距可能領域であるかどうかの判定を行なう。

ｖＡ＋ＶＢ≧ＶＬ　（Ｖｘ、　＜ＶＨ）でない時は積分
信号ＶＡ　ｔ　”ＩＢのレベルがきわめて低いので物体
は無限状態であると判定されるし、そしてその後の測距
は後述する無限時測距モードにて行なわれる。第３３図
は無限時測距モードにはいる時の信号ｖＡ、ｖＢ１信号
ｖＡ＋　ｖＢの状態を示した図である。ｊ；＝’ｌ’ｏ
まで測距を行なった結果ｖＡ十ｖＢ＜　ＶＬであること
は積分信号ｖＡ、ＶＢの値が共にきわめて低いのである
から、物体が無限状態にあると判定してもよく、その際
１　ｖＡＶＢ　ｌの値はｌ　ＶＡ　　ＶＢ　１≧ＶＤで
あってもｌ　ｖ、−ｖＢｌ　＜　ｖＤであっても、この
ことは無視される。尚、物体が遠方にあるのではなく、
物体の反射率が低い時にも受光素子６は十分な反射光を
得られないのでこの場合もこの様な状態が生ずるが、本
装置の如く投・受光系によって測距を行なうものでは、
物体が遠方にあるか反射率が低いかの区別をつけること
は非電に困難である。この為総て前者であるとして無限
時測距モード８を駆動すべく制御回路１１１よシ制却信
号（ＦＦ＝ｌ　、ＮＮ：０　）をモータ駆動回路１１３
へ出力する。当然の事ながら、撮影レンズ１がω端に行
きつく前に他の測距信号が得られればその時点でモータ
駆動回路１１５へ停止又は反転の信号が加えられる。

＠　　ｖＡ＋　ＶＢ≧ＶＬＯ時、っま、！７Ｔ０時間積
分した後の一＋ｖＢ信号がｖＬ≦ｖＡ＋ＶＢ＜ｖＨのと
きは次に１ｖＡ−ｖＢｌ≧ちかどぅかの判定を行ない、
ＩＶＡ　　ＶＢ　ｌ　＜　ＶＤの時は原則として低レベ
ルでの合焦と判定する。第３４図に示す如＜ＩＶＡ−Ｖ
Ｂ　ｌ≧ＶＤの時は低レベルでの非合焦であると判定し
、原則として低速にてモータを合焦方向に回転すること
となる。

［相］　さて以上述べた如く、１ｖＡ＋ｖＢ１≦ＶＤ時
は低レベル合焦として制御回路１１１よシモータ停止信
号が出力されることになるが、例外として■フラグ＝１
の時はこの停止信号を出方しない。００７９グは上記（
３）時測距モードに移行した際１にセットされるもので
、通常測距モードに於いて前述した様に０にリセットさ
れる。■フラグ＝１にセットされると制御回路１１１か
らは前回のままの制御信号がモータ駆動回路１１６へ出
力される。低レベル時測距モードに於いてｏｏ７ラグ＝
１となっている場合は、■待モードから低レベル時測距
モードへ移行してきた時だけであって、閃時モードから
低レベル時測距レベルモードへ移行した際には後述する
如く無限方向ヘモータを駆動すべき信号が出力されてい
る。この為、■フラグ＝１の場合は低レベルでの合焦で
あると判定されてもモータ８はレンズ群１を無限方向に
移動させ続ける。

この様に■フラグエ１０例外を設けた理由は、低レベル
合焦信号が出力される程度遠く離れた距離又は反射率の
被写体に焦点を合わせる場合、合焦状態から至近側に大
きくはずれた位置から測距を開始するとまだ非合焦の過
程にある状態で受光素子６のもれ′電流等が影響して合
焦信号が出力される事が実験的に確認されている。この
為この様な偽合焦信号でモータ８を停止させた場合、大
きくピントのはずれた状態で止まってしまうこととなる
。

このためωフラグを用いて偽合焦信号を見分け、前述し
たごと＜　００７２グ＝１の場合は制御回路１１１は無
限方向信号を出力したまま低レベル時測距モードにて測
距を継続することとしている。

［相］　ｏｏ７ラグ＝０のときは原則通シモータ停止信
号が制御回路１１１よ多出力され、モータ８は停止する
。

［相］　一方、Ｏに於いて１ｖＡ−ｖＢ１≧ＶＤの時は
低レベルでの非合焦であると判定する。この時の低レベ
ルでの非合焦と判定された後にピントのずれ方向の判定
つまシ■□〉ＶＢであるかどうかの判定を行なう。

ＯｖＡ＞ＶＢの時は後ピン状態であシ、制御回路１１１
によってレンズ群１を至近の側へく）出すべくモータ８
を駆動する必要のあることが判定される。低レベル時測
距モードでは、原則としてモータ速度は低速で回転する
。理由　゛は低レベル時測距モードでは積分信号ｖＡｔ
　ＶＢの値が共に小さい為、Ｓ／Ｎが低く、十分に信頼
性のある方向信号が得られないので、レンズ群１がハン
チング等の不安定な動作をする事を軽減する為である。

■　次に低レベルでの非合焦の後ピン状態が連続してｎ
４回判定されたかどうかの判別を行なう。ｎ４回遅続し
て一定の方向信号が得られていた時は信号ｖＡ、ＶＢの
ε／Ｎが十分高くなったものと判断し、通常測距モード
に戻る。この様にして通常測距モードによる省電力（Ｉ
ＶＡ　　ＶＢ　ｌ≧ＶＤで測距完了しＴ。まで休む）と
低レベル時測距モードの安定性（Ｔｏまで積分した後判
定を行なう）を両立させることができるのである。

■　再び■に戻シ、ｖＡ＞ｖＢでない時っま）前ピンの
時は前述した低レベル合焦時と同じく■フラグ：＝＝１
かの判定を行なう。

０　ω７シグ＝１の時はレンズ群１を至近側に移動させ
るべくモータ８を高速で回転させる。

ここで高速にする理由は低レベルでの合焦と同様、偽合
焦信号によシ、非合焦状態にあシながらモータ８がその
偽合焦信号の付近で一旦低速になってしまうことを防止
する為である。

■　一方、（３）フラグ＝０の時はモータ７の速度は先
に述べた原則通夛低速にて駆動する。

■　次に＠と同様の理由にょシュ５回以上連続して方向
信号が出力されれば通常測距に戻し、そうでない場合は
低レベル時測距モードにて再び測距を行なう。

■　一方、■に於いて低レベルでの合焦状態が判定され
モータ８の回転を停止させる信号が出力されると、低レ
ベル時合焦測距モードに移行し再び測距が行なわれる。

低レベル時合焦測距モードでは測距完了の判定条件がｖ
Ａ＋ＶＢ≧ｖＩＪ（”ｌｘ、　＜　ＶＨ）又はｔ≧Ｔ、
（Ｔ、＜Ｔｏ）であシ低しベル時測距モードでの測距完
了の判定条件−＋ｖＢ≧−又はｔ≧Ｔ、とは異なる。こ
れは第２０図にて説明した通常合焦測距モードと同様に
Ｔ、をＴｏよシ短くすることにょシ、第３５図に示す如
く不感帯を広げ、レンズ群１を合焦状態と判定された位
置に安定して停止させる様にするものである。特に、低
レベルでの合焦状態では信号−ｔ　ＶＢのレベルが低り
＜日／Ｎが悪いため不感帯を広げることによる合焦状態
安定化は、きわめて有効なものである。

尚、ｖＡ＋　ＶＢ≧ｖＬ（ｖＬ＜ｖｌＫ）としているの
は最大積分時間Ｔ、に対応して通常測距モードでも合焦
判定ができる様にする為である。

［相］　測距を完了するとまず、ｖＡ＋ｖＢ≧Ｖ、の判
定を行なう。ｖＡ＋ＶＢ≧ｖＩ、の時は積分時間が短く
なったにもかかわらず積分信号が所定レベル以上になっ
ているので通常測距モードにて測距可能なほど信号が十
分大きくなったと判断し、通常測距モードに戻シ測距を
行なう。

＠　　ＶＡ＋　ＶＢ≧■１で永い時１ｖＡ−ｖＢｌ≧−
かどうかの判定を行なう。ＩＶＡ−ＶＢＩ≧ＶＤの時は
■と同じく信号が十分大きくなったと判断し通常測距モ
ードに戻る。

＠　　ｖＡ＋ｖＢ＜ｖｌ［、かつＩ　Ｎ’に’Ｂ　ｌ　
〈ｖＤの時は合焦と判定し、ｔＷＴＯに達するまでカウ
ントする。

■　低レベル時合焦測距モードでの測距をｎ５回くシ返
えしたかどうかを判定し、ｎ３回ならば低レベル時測距
モードに戻ｐ％ｎ、回よ）少なければ低レベル時合焦測
距モードをくり返えす。これは通常合焦測距モードの場
合と同様にｎ３回目ごとに低レベル時測距モードに戻シ
、測距完了の判定条件を一＋ｖＢ≧ｖＨ又はｔ≧Ｔ０と
することによって不感帯をもとの状態に戻し、測距精度
の低下を防止する。以上の如く低レベル時合焦測距モー
ドから低レベル時測距モードに測距モードを変更する事
により、低レベルでの合焦の安定性、省電力化、精度の
維持を同時に確保する事が可能となる。

次に第２２図を参照して■待モードについて説明する。

ψ時測距モードに移行する場合は、前述した様に第２０
図［相］に於いてｖＡ＋ｖＢ〈ｖＬと判定された場合で
ある。即ち、第２０図、第２１図の流れ図にて説明した
如く測距の結集積分信号ＶＡ　ｅ　ＶＢが共にきわめて
低い場合国であると判定し、被写体５が無限状態にある
場合の測距に適した閃時側距モードにはいる。

＠　閃時側距モードでは（３）被写体５が無限にある事
はすでに判定されているため、まず初めに無限方向へ高
速でモータ８を駆動することとなる。

＠　続いて無限信号が発生した事を示すべく■フラグが
１にセットされる。前述、第２０図、第２１図の流れ図
にて説明した如くωフラグは偽合焦信号を区別するため
に用いられ、通常測距モードにてＯにリセットされる。

＠　次に所定回数ｎ６回をカウントするためのカクンタ
用としてマイコン中のＲＡＭ領域からＭ（６）を用いる
ためｎ６をセットする。

＠　（１）時測距モードでｖｉ　ｖ、　＋　ｖＢ≧ＶＨ
又はｉ；＝＝Ｔ２によって測距完了が判定場れる。ここ
で通常測距モードでの測距完了の判定条件の１り１ｖＡ
−ｖＢｌ≧ＶＤが無いのは低レベル時測距モードの場合
と同様に■時測距モードに於いても積分信号Ｖ□、ｖＢ
が共にきわめて低い値である為＋ｖＡ−ｖＢ＋　の値は
信用できないからである。

さらに、■時測距モードにおいて最大測距時間Ｔ２（Ｔ
、　＜Ｔ、　）として低レベル時測距モードよシも最大
積分時間を短くするのは後述する様にｖＡ＋　ｖ、　＝
−を境としてｖＡ＋　ｖｎ　＞　ｖｒ、ならば”Ａ　Ｉ
　ｖＢの大小関係による方向判定を行ないｖＡ＋　ｖＢ
＜　ｖｌならば一９ＶＢの大小関係に無関係に無限方向
であると判定するために、ＶＡ　＋　ＶＢ中ｖＬＯ時信
号ｖＡ、ＶＢに重畳されたノイズ等の影響によシ、全く
逆の方向判定を行ないハンチングが生じることを防止す
４為である。そして本装置では第３６図に示す如（ｖｌ
、の値を変更するかわシに積分時間Ｔ。をＴ２に変更す
る事によ）同様の効果を得ている。

＠ＶＡ＋−≧−の時は通常測距モードにて測距可能であ
ると判断し、通常測距上−ドにて測距が行なわれる。

＠−＋−≧−でない時、測距完了はｔ　＝　Ｔ２４（よ
って行なわれている為、Ｔｏ−Ｔ２時間のカウントを行
なう。

ＯＶ、＋ＶＢ≧ｖ１かどうかの判定を行なう。４＋ＶＢ
≧ＶＬの時は第２１図にて述べたごとく低レベル時測距
モードにて測距を行なうべきであるため、低レベル時測
距モードに戻シ、次の測距サイクルにはいる。

■　ここでψ時測距モードが始まってから連続してｎ６
回経過したかの判定を行なう。ｎ６回目に達していなけ
れば再び＠に戻多最大積分時間Ｔ２にて測距を行なう。

即ち、これはψモードにて測距を始めてからの所定時間
（所定回数ｎ６回）は最大積分時間をＴｚ　（Ｔｚ＜Ｔ
Ｏ）　Ｋ変更はするが、後述の如＜　Ｔ３（Ｔｓ＜Ｔｚ
＜Ｔｏ　）への変更は行なわない事である。

その理由は無限が判定されるのは、１つには前述したご
とく物体が実際に遠方にあるか又は反射率が低いために
信号が小さいため、無限と判断してもよいか、又は物体
の反射率が低くやむを得ないもの、もう１つは物体は測
距可能な距離にあるが、物体の大きさが有限のため、物
体の距離と現在の測距系の位置が大きくずれているため
スポット像Ｐ又は受光素子６が被写体５からはずれてお
シ、初めのうちは無限判定により無限方向に駆動され、
反射投光スポット像Ｐが受光素子６上に正しくでき始め
ると測距可能になシ、ＶＡ　ｔ　ＶＢ倍信号大小関係に
よシ合焦位置に駆動される場合である。

この様な場合、最大積分時間をＴ、　（’ｒ３（Ｔｚ＜
Ｔｏ）にすると不感帯が広がることになシ、応答が遅れ
、結果としてモータ８に正しい制御のかかるのが遅れ、
合焦位置をオーバーランすることとなる。この様な欠点
を除去するために真の無限状態であるのか、今述べたご
とく、合焦の過程での短期間の無限状態であるかの区別
をするためにｎ６回の間は最大積分時間をＴｓには変更
せずにＴｚ　（Ｔｚ＜　ＴＯ）のままで測距を行なうの
である。なお、閃時測距モードにて測距を行なっている
限シ、常に制御回路１１１よシ、モータ８を無限方向に
駆動すべき信号が出力されている。ただし、レンズ１が
無限端にいきつくと無限スイッチ２６２がＯＮＬ、モー
タ８は停止される。

Ｏｎ６回目を越えると最大積分時間Ｔｓ　（Ｔ３　＜Ｔ
ｚ）にて測距を行なう。測距完了の判定はｖＡ十ｖＢ≧
ＶＬ又はｔ≧Ｔ５にて行なう。これは、前述した低レベ
ル時合焦測距モードと同様に最大積分時間をＴ３　（Ｔ
３＜　Ｔｚ　）にする事によシ、不感帯を広げ、安定性
及び省電力の両立を計っている。

ｏ　ｖＡ＋ＶＢ≧ｖＩ、の場合、最大積分時間Ｔｓ　（
Ｔｓ　＜７２　）を短くしたにもかかわらず比較値ｖＬ
Ｋ達したため、信号ｖＡ、ｖＢは通常測距モードにても
十分測距可能なほど太きいと判定し、通常測距モードに
戻る。

［株］　ｖＡ＋ＶＢ＜ｖＬの時は測距結果は積分信号ｖ
Ａ。

Ｖｎのレベルが依然としてきわめて低いので被写体５は
また無限状態にあると判定し、Ｔｏ−１５時間をカウン
トする。

０　次に、最大積分時間Ｔ５にてｎ７回」り距を行なっ
たかどうかの判定を行ないｎ７回に達していなければ再
度［相］に戻る。

Ｏｎ７回目の測距が終了すると次には再び最大積分時間
をＴｚにして１度測距を行なう。

こζで、所定回数ｎ７回目ごとに積分時間をＴｚに戻す
ことは前述の低レベル時合焦測距モードと同じく測距精
夏の低下を防ぐためである。尚、＠にてはｎ６回連続し
て最大積分時間Ｔ２にて測距を行なうためにＭ　（６）
　＝：　ｎｂとしたが、ζこでは１度だけのため、Ｍ　
（６）　＝　１とする。

以上にて１１通常測距モード Ｚ通常合焦時澗距モード ３、低レベル時針ｊ距モード ４低しベル時合焦測距モード ５、ｏｏ時測距モード の５つの測距モードについて主に第２０図〜第２２図の
流れ図に基づいて詳細な説明を行なった訳である。この
説明にて明らかな如く、本発明に係る自動焦点検出装置
は、上記１〜５の測距モードを適当に切シ換えて測距を
行なう事によシ、信頼性の高い安定した動作を得、又、
省電力をも両立させることが可能となったのである。

尚、上記実施例では合焦、非合焦の判定を投光スポット
像Ｐの受光位置を示す積分信号’ＶＡ　）ＶＢの差の絶
対値１ｖＡ’Ｂｌの大小関係から求めているが、これは
ＶＡ／　ＶＢの如き比から求めても良いことは賞うまで
も無い。即ち、信号ＶＡ　ｓ　’ＶＢの大小関係がわか
シさえすればどんなものであっても本発明は適用できる
。又、上記実施例の如きｖＡ＋ＶＢから信号レベルを判
定しなくとも、ＶＡまたはＶＢどちらか一方で信号レベ
ルを判定してもよい。即ち、信号ｖＡ、ＶＢのレベル状
態がわかるものであればどんなものであっても本発明は
適用できる。さらに、受光素子が３つ以上の感光領域を
有していても本発明が適用できることは言うまでもない
。

以上の様に本発明によれば、対象物に投射される投光ス
ポット像の反射光を受光し、その受光位置に応じた信号
を出力する受光素子の出力の積分値よシ上記対象物の像
を予定焦点面上に結像させる結像光学系の自動焦点検出
装置であって、上記投光スポット像の投光時間が所定時
間に達したことを検知する時間検知手段と上記受光素子
の出力の積分値が所定レベルに達したことを検知するレ
ベル検知手段とを有し、更に上記時間検知手段又はレベ
ル検知手段のいずれかが、上記所定時間又は上記所定レ
ベルを検知した際に、上記受光素子の出力の積分値に基
づいて、上記結像光学系の焦点調定状態を判定する判定
手段とを設けたものであるから受光素子の出力の積分値
が焦点位置検出可能なレベルに達した際に速やかに焦点
位置の検出が行なわれることとなシ、消費電力並びに焦
点検出時間に全く無駄が無く、節電効果の高い、そして
検出速度の速い自動焦点検出装置が提供できるものであ
る。従って、本発明は特に小型化の為に大容量の電源が
組み込めず、また合焦検出速度の　　“良否が一瞬のシ
ャッターチャンスを逃がすことにもなルかねないカメラ
等の自動焦点検出装置にとって・甑めて有効である。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来例を示す模式図、 第２図〜第８図は本発明に係る自動焦点検出装置の光学
系を示す模式図、 第９図〜第１９図は本発明に係る自動焦点検出装置の電
気回路の説明図、 第２０図〜第２４図は本発明に係る自動焦点検出装置の
動作流れ図、 第２５図〜第６６図は第２０図〜第２４図に示される動
作流れ図の補足説明図。 １・・・撮影レンズ ２・・・予定焦点面 ３・・・投光素子 ４・・・投光レンズ ５・・・被写体 ６・・・受光素子 ７・・・受光レンズ ８・・・モータ ？・・・ＡＰ回路 第７図 ｔΔ） と＝１ブ リ　　　　　− ＹＮＣ 第３０口 ■ Ｏｔ 手　　続　　補　　正　　書（自発） 特許庁長官　若　杉　和　夫　殿 昭和５８年５月３０日付提出の特許願（１）２、発明の
名称 自動焦点検出装置 ３、補正をする者 事件との関係　　　　　特許出願人 住所　東京都大田区下丸子３−３０−２名称　（１００
）キャノン株式会社 代表者　賀　　来　　龍　三　部 ４、代理人 居所　〒１４６東京都大田区下丸子３−３０−２キャノ
ン株式会社内（電話７５Ｂ−２１１１）５、　補正の対
象 明細書 ６、補正の内容 （１）明細書第２９頁第５行中「はいるとまず、（資）
フラ」を「はいるとまず、禁止手段としての■フラ」に
訂正する。 （２）明細書第３１頁第４行中「分時間Ｔｏとの」を「
分時間Ｔｏ　　（例えば２８　ｍ５ｅｃ）との」に訂正
する。 （３）明細書第４２頁第６行中「範囲が広」を「範囲を
広」に訂正する。 （４）明細書第４２頁第８行中「つまり不感帯を広げ」
を「所謂不感帯を広げ」に訂正する。 （５）明細書第５４頁第１５行中ｒ　（ＴＩ　＜　Ｔｏ
　）　Ｊをｒ　（ＴＩ　＜　Ｔｏ　、例えばＴｌ　＝　
１．７８　　ｍ５ｅｃＪに訂正する。 （６）明細書第５５頁第２行中「る様にするものである
。」を「る様にすると共に電力の消費な少　６なくする
ものである。」に訂正する。 （７）明細書第５８頁第３行中’（Ｔ２＜Ｔｏ）Ｊをｒ
　Ｔ２　＜　Ｔｏ　＋例えば　Ｔ２　＝　１９．３ｍ５
ｅｃ）　Ｊに訂正する。 （８）明細書第６１頁第３行中ｒ　（Ｔ３　＜　Ｔ２　
）　Ｊをｒ　（Ｔ３＜　Ｔ、　、例−えばＴ３＝　１．
７８ｍ５ｅｃ）　Ｊに訂正する。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 （１）対象物に投光スポット像を投射し、その反射光の
   受光位置に応じて少なくとも２種類の信号を出力する受
   光素子の出力の積分値の大小関係により上記対象物の像
   を予定焦点面上に結像させる結像光学系の自動焦点検出
   装置であって上記受光素子の出力の積分値が所定レベル
   に達したことを検知するレベル検知手段と、上記受光素
   子の出力の積分値相互間の大小関係が所定レベル以上に
   なったことを検知する比較手段とを設け、上記レベル検
   知手段又は上記比較手段の少なくともいずれか１つが上
   記所定レベルを検知した際に上記受光素子の出力の積分
   値に基づいて、上記結像光学系の焦点調節状態を判定す
   る判定手段を備えたことを特徴とする自動焦点検出装置
   。 Ｑ）特許請求の範囲第（１）項記載の装置において。 上記レベル検知手段は、上記受光手段の各出力の積分値
   の総和が所定レベルに達したかどうかを検知する検知手
   段であることを特徴とする自動焦点検出装置。 （６）特許請求の範囲第（１）項記載の装置において上
   記比較手段は、上記受光手段の各出力の積分値ノ差が所
   定レベル以上になったかどうかを検知する比較手段であ
   ることを特徴とする自動焦点検出装置。 （４）特許請求の範囲第（１）項又は第■項又は第（５
   ）項記載の装置において。 上記判定手段の出力に一基づいて上記結像光学系を合焦
   位置に移動させる駆動手段を有することを特徴とする自
   動焦点検出装置。 （５）特許請求の範囲第（４）項記載の装置において。 上記受光素子の出力の積分値のレベル状態を検知する状
   態検知手段を有し、上記判定手段は該状態検知手段によ
   って検知された上記積分値のレベルが低い場合は上記駆
   動手段を低速で作動させ、上記積分値のレベルが高い場
   合は上記駆動子段を高速で作動させることを特徴とする
   自動焦点検出装置。 （６）特許請求の範囲第（４）項記載の装置において。 上記判定手段は上記駆動手段を作動させる際、その開始
   から一定期間は低速で作動させ、その後は高速にて作動
   させることを特徴とする自動焦点検出装置。 σ）特許請求の範囲第（６）項記載の装置において。 上記判定手段はマイクロコンピュータであることを特徴
   とする自動焦点検出装置。