JPS593831A - 真空しや断器 - Google Patents
真空しや断器Info
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- JPS593831A JPS593831A JP11291182A JP11291182A JPS593831A JP S593831 A JPS593831 A JP S593831A JP 11291182 A JP11291182 A JP 11291182A JP 11291182 A JP11291182 A JP 11291182A JP S593831 A JPS593831 A JP S593831A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、真空しゃ断器に係り、特に電極構成を改良し
た縦磁界型の真空しゃ断器に関する。
た縦磁界型の真空しゃ断器に関する。
一般に真空しゃ断器の主要部をなす真空パルプは、セラ
ミック等の絶縁材料からなるほぼ円筒状の容器の両端を
端板で閉塞してなる真空容器内に接離自在な一対の電極
を設けることにより構成されている。その電極部分とし
ては、一方の電極の平面図である第1図に示されるよう
に、中央に接点1を有し、周囲に螺旋状の溝を設けた電
極2を有する、いわゆるスパイラル電極構造が採用され
ている。このようなスパイラル電極構造は、大電流しゃ
断のしゃ断性能を高めるためにしゃ断時のアークを回転
磁気駆動させるために採用されたものであり、周知の如
く、接点間に生じたアークを磁気力によりスパイラル電
極に移行させ、移行したアークをスパイラル溝による回
転磁気力で電極の周囲を回転させ、それにより電極の局
部過熱を防止し、電流零点時の残存金属蒸気を少なくさ
せしゃ断性能の増加をはかつている。このような電極構
造でしゃ断性能を増加させるには接点間で発生したアー
クを電極に移行させることが絶対条件であり、そのため
には接点1と電極2にはアーク電圧の差の少ない材料を
使用する必要がある。このため、電極材料としては導電
率が高くしゃ断時性にも優れるという観点で銅材料が通
常使用されるということも相俟って、接点材料としては
C。
ミック等の絶縁材料からなるほぼ円筒状の容器の両端を
端板で閉塞してなる真空容器内に接離自在な一対の電極
を設けることにより構成されている。その電極部分とし
ては、一方の電極の平面図である第1図に示されるよう
に、中央に接点1を有し、周囲に螺旋状の溝を設けた電
極2を有する、いわゆるスパイラル電極構造が採用され
ている。このようなスパイラル電極構造は、大電流しゃ
断のしゃ断性能を高めるためにしゃ断時のアークを回転
磁気駆動させるために採用されたものであり、周知の如
く、接点間に生じたアークを磁気力によりスパイラル電
極に移行させ、移行したアークをスパイラル溝による回
転磁気力で電極の周囲を回転させ、それにより電極の局
部過熱を防止し、電流零点時の残存金属蒸気を少なくさ
せしゃ断性能の増加をはかつている。このような電極構
造でしゃ断性能を増加させるには接点間で発生したアー
クを電極に移行させることが絶対条件であり、そのため
には接点1と電極2にはアーク電圧の差の少ない材料を
使用する必要がある。このため、電極材料としては導電
率が高くしゃ断時性にも優れるという観点で銅材料が通
常使用されるということも相俟って、接点材料としては
C。
を主成分とし、溶着防止成分としてB1やTeを添加し
たCu−B1系あるいはC1I−T、系合金等のCI系
材料が好んで用いられている・。
たCu−B1系あるいはC1I−T、系合金等のCI系
材料が好んで用いられている・。
し力化ながら、最近の真空しゃ断器の用途の拡大により
上記したcu−系接点材料の使用には一つの問題点が生
じてきた。すなわち、上記のcu系接点材料は、電流開
閉時の高温アークにより、溶着防止成分として加えた。
上記したcu−系接点材料の使用には一つの問題点が生
じてきた。すなわち、上記のcu系接点材料は、電流開
閉時の高温アークにより、溶着防止成分として加えた。
B1やToが選択蒸発するという問題があり、これに伴
い、電流さい断レベルが使用中に高くなり、開閉サージ
が発生し易くなるという難点がある。このcu系接点材
料の電流さい断レベルが高くなるという欠点は、従来、
真空しゃ断器が一般にサージ・インピーダンスが低い系
統に使用されていただめ、特に問題となることは少なか
った。しかし、ながら、近年、系統が複雑化し、あるい
は真空しゃ断器でも大容量のモータなどの誘導性負荷を
開閉するケースが増加しており、適用する負荷により開
閉サージの問題を解決する必要が生じてきている。この
ような場合、真空しゃ断器の外部にサージ吸収器を付加
することにより有害なサージを抑制することは可能であ
る。し一方、低サージ接点材料として、Ag−WC系焼
結今合金が知られている。この接点材料は、低サージ特
性に優れておす、シゃ断性能をそれ程必要としない真空
コンタクタ−には多く使用されている。
い、電流さい断レベルが使用中に高くなり、開閉サージ
が発生し易くなるという難点がある。このcu系接点材
料の電流さい断レベルが高くなるという欠点は、従来、
真空しゃ断器が一般にサージ・インピーダンスが低い系
統に使用されていただめ、特に問題となることは少なか
った。しかし、ながら、近年、系統が複雑化し、あるい
は真空しゃ断器でも大容量のモータなどの誘導性負荷を
開閉するケースが増加しており、適用する負荷により開
閉サージの問題を解決する必要が生じてきている。この
ような場合、真空しゃ断器の外部にサージ吸収器を付加
することにより有害なサージを抑制することは可能であ
る。し一方、低サージ接点材料として、Ag−WC系焼
結今合金が知られている。この接点材料は、低サージ特
性に優れておす、シゃ断性能をそれ程必要としない真空
コンタクタ−には多く使用されている。
しかし、この利料L1、シゃ断特性が、上述したCU系
接点材料に比べてかなり劣るため、大電流しゃ断が必要
なしゃ断器用真空バルブに使用することについては問題
があった。Ag−WC系接点材料のしゃ断特性が劣るこ
との理由には、アーク電圧がcuより低く、接点間に発
生したアークを畢1極に移行させることができないこと
が挙げられる。斗た、もう一つの理由として、Ag−W
C系接点材料は、し2や新現象が従来のものと異ってい
て、これ才でのしゃ新理論が適用できないことも挙げら
れる。
接点材料に比べてかなり劣るため、大電流しゃ断が必要
なしゃ断器用真空バルブに使用することについては問題
があった。Ag−WC系接点材料のしゃ断特性が劣るこ
との理由には、アーク電圧がcuより低く、接点間に発
生したアークを畢1極に移行させることができないこと
が挙げられる。斗た、もう一つの理由として、Ag−W
C系接点材料は、し2や新現象が従来のものと異ってい
て、これ才でのしゃ新理論が適用できないことも挙げら
れる。
すなわち、周知の如く、真空しゃ断器のしゃ断現束は、
電流しゃ断時のアークで発生した金属蒸気の真空中での
拡散作用を利用したイ、のであり、アーク発生期間中に
電極から大1゛の金属蒸気が発生する。その金属蒸気は
発生と同時に周囲真空空間に拡散し、アークシールドや
電極の低温部分に付着し凝縮するが、アーク発生部分は
比較的高い蒸気圧になっている。電流零点時にはアーク
への供給エネルギーは零になるが真空しゃ断器のしゃ断
性能はこの電流零点時に残存する金属蒸気に大きく左右
される。電流零点以後は、残存金属蒸気が早い速度で拡
散し金属蒸気圧が下っていくが、この間に電極間に再起
電圧が加わるので、この再起電圧上昇に耐えるに充分な
程度まで蒸気圧が低められなければ電流しゃ断に成功し
ない。
電流しゃ断時のアークで発生した金属蒸気の真空中での
拡散作用を利用したイ、のであり、アーク発生期間中に
電極から大1゛の金属蒸気が発生する。その金属蒸気は
発生と同時に周囲真空空間に拡散し、アークシールドや
電極の低温部分に付着し凝縮するが、アーク発生部分は
比較的高い蒸気圧になっている。電流零点時にはアーク
への供給エネルギーは零になるが真空しゃ断器のしゃ断
性能はこの電流零点時に残存する金属蒸気に大きく左右
される。電流零点以後は、残存金属蒸気が早い速度で拡
散し金属蒸気圧が下っていくが、この間に電極間に再起
電圧が加わるので、この再起電圧上昇に耐えるに充分な
程度まで蒸気圧が低められなければ電流しゃ断に成功し
ない。
仁の場合、電流零点以後の金属蒸気密度nの変化を表わ
す関係式として電流零点時の初期密度をn()としだ下
記式が良く用いられる。
す関係式として電流零点時の初期密度をn()としだ下
記式が良く用いられる。
1 1 L 1
n=nO[:1−exp(−−2)’)erf[−(−
) −〕−−(1)α 2 Rα α=t−(21馬に ・・・・・・・・・・・・・
・・(2)M ここでR:電極半径、M:金属原子の質量、K:ボルツ
マン定数、T:金属原子の温度、L : ’(If、極
間々防長である。
) −〕−−(1)α 2 Rα α=t−(21馬に ・・・・・・・・・・・・・
・・(2)M ここでR:電極半径、M:金属原子の質量、K:ボルツ
マン定数、T:金属原子の温度、L : ’(If、極
間々防長である。
初期値n。は下式で与えられる。
ここで、ω==2πfS f:周波数、Irn++s
: Lや断電流値(実効値)E:蒸発係数。
: Lや断電流値(実効値)E:蒸発係数。
上記の理論式から明らかなように、真空しゃ断器のしゃ
断性能は、電極の幾何学的構成はもちろんであるが接点
材料の利料特性に大きく依存する。
断性能は、電極の幾何学的構成はもちろんであるが接点
材料の利料特性に大きく依存する。
しかし、各種接点拐料についての試験・研究結果によれ
ば、上記理論はAg−WC系接点月料にし1、適用でき
ないことが見出された。すなわち、A g −WC系接
点材料は、一般にWCの粉末をプレス成形し焼成を行い
空隙を有する焼結体を得だのち、これにAgを溶浸させ
る方法で製作された焼結合金であり、しゃ断性能は、1
トロ常、多厳成分となるWCよりも、より融点の低いA
g成分に犬きく依存しており電流零点時の残存金属蒸気
は合金全体を対像にできない。このことが前記理論の適
用が困難となる一つの理由である。このことはAg−W
C系接点の安定したアーク電圧が2O−30Vで、Cu
を主体にした溶解系接点(例えばCu−B+)のアーク
電圧40〜80vより低く、またアーク電圧の安定範囲
が狭いことにも関係している。またAg−WC系接点に
ついて、アークの観測調査を行ったところ、電流しゃ断
限界領域になるとアーク柱とは別に赤熱した金属粒子が
多量に飛散する現象も見出された。
ば、上記理論はAg−WC系接点月料にし1、適用でき
ないことが見出された。すなわち、A g −WC系接
点材料は、一般にWCの粉末をプレス成形し焼成を行い
空隙を有する焼結体を得だのち、これにAgを溶浸させ
る方法で製作された焼結合金であり、しゃ断性能は、1
トロ常、多厳成分となるWCよりも、より融点の低いA
g成分に犬きく依存しており電流零点時の残存金属蒸気
は合金全体を対像にできない。このことが前記理論の適
用が困難となる一つの理由である。このことはAg−W
C系接点の安定したアーク電圧が2O−30Vで、Cu
を主体にした溶解系接点(例えばCu−B+)のアーク
電圧40〜80vより低く、またアーク電圧の安定範囲
が狭いことにも関係している。またAg−WC系接点に
ついて、アークの観測調査を行ったところ、電流しゃ断
限界領域になるとアーク柱とは別に赤熱した金属粒子が
多量に飛散する現象も見出された。
これは、アークがAgを主体にした金属蒸気の電離した
ものであるのに対し、粒子間結合の破壊によりWCの粒
子が飛散したものであると考えられる。従ってしゃ断性
能の限界は、上述した従来の、残存金属蒸気の鰻とその
拡散だけを考慮した理論の適用により判断できるもので
なく、WCの粒子間結合の破壊をも考慮して判断する必
要がある。
ものであるのに対し、粒子間結合の破壊によりWCの粒
子が飛散したものであると考えられる。従ってしゃ断性
能の限界は、上述した従来の、残存金属蒸気の鰻とその
拡散だけを考慮した理論の適用により判断できるもので
なく、WCの粒子間結合の破壊をも考慮して判断する必
要がある。
いずれにしても上述したような理由により、Ag−WC
系接点材料のしゃ断特性を、Cu系接点材料のそれと比
較すると、第2図にしゃ断電流限界性能の比較を示すよ
うに、はるかに劣るものであった。
系接点材料のしゃ断特性を、Cu系接点材料のそれと比
較すると、第2図にしゃ断電流限界性能の比較を示すよ
うに、はるかに劣るものであった。
本発明は、Ag−WC系接点のしゃ断特性を向上し、外
部にサージ吸収器を必要としない大容量真空しゃ断器の
提供を可能にすることを目的とする。
部にサージ吸収器を必要としない大容量真空しゃ断器の
提供を可能にすることを目的とする。
本発明者らは、上述の目的を達成するために研究する過
程で、前述したようにAg−WC系接点材料はCu系接
点材料とは異なるしゃ断現象を伴うことに着目した。し
たがって、異なるしゃ断原理で機能する電極に用いれば
Ag−WC系接点材料も良好なしゃ断特性を発揮できる
可能性がある。そこで、この着想のもとに、最近実用化
されつつあるアークと並行に磁界を印加させたいわゆる
縦磁界電極についてAg−WC系接点材料を適用し、し
ゃ断電流限界性能を測定した。しかしながら、結果は、
第3図に示す通りであり、従来の平板電極に適用した。
程で、前述したようにAg−WC系接点材料はCu系接
点材料とは異なるしゃ断現象を伴うことに着目した。し
たがって、異なるしゃ断原理で機能する電極に用いれば
Ag−WC系接点材料も良好なしゃ断特性を発揮できる
可能性がある。そこで、この着想のもとに、最近実用化
されつつあるアークと並行に磁界を印加させたいわゆる
縦磁界電極についてAg−WC系接点材料を適用し、し
ゃ断電流限界性能を測定した。しかしながら、結果は、
第3図に示す通りであり、従来の平板電極に適用した。
鳴合と比べて若干の改善は得られるものの、従来のC6
系接点を用いる平板電極に比べても性能は依然としてか
なり劣るものであった。
系接点を用いる平板電極に比べても性能は依然としてか
なり劣るものであった。
しかし、その後、これは上記測定がCu又はCu系接点
材料についての適正磁界である加ガウス/IB(lBは
定格しゃ断電流の波高値で単位はKA)の電性で測定さ
れたものであり、この値がしゃ断現象の異なるAg−W
C系接点材料には適用できないことに原因していると考
えられた。そこで、磁界強度を変えて種々、実験を行っ
た結果、第3図に示したように磁界強度を関ガウス/K
A以上に選定することによシ縦磁界電極におけるAg−
WC系接点の電流しゃ断性能が飛躍的に向上し得、従来
のCu系接点よりも優れたしゃ断性能が得られる仁とを
見出した。これは、磁界強度を従来より強めたことによ
り、箭の粒子間結合部の破壊限定が高められたことによ
ると考えられる。
材料についての適正磁界である加ガウス/IB(lBは
定格しゃ断電流の波高値で単位はKA)の電性で測定さ
れたものであり、この値がしゃ断現象の異なるAg−W
C系接点材料には適用できないことに原因していると考
えられた。そこで、磁界強度を変えて種々、実験を行っ
た結果、第3図に示したように磁界強度を関ガウス/K
A以上に選定することによシ縦磁界電極におけるAg−
WC系接点の電流しゃ断性能が飛躍的に向上し得、従来
のCu系接点よりも優れたしゃ断性能が得られる仁とを
見出した。これは、磁界強度を従来より強めたことによ
り、箭の粒子間結合部の破壊限定が高められたことによ
ると考えられる。
本発明の真空しゃ断器は、上述の知見に基づくものであ
り、より詳しくは、アーク柱に対して軸方向に関ガウス
/IB(定格しゃ断電流の波高値。
り、より詳しくは、アーク柱に対して軸方向に関ガウス
/IB(定格しゃ断電流の波高値。
単位KA)以上の磁界を印加するコイル電極を備えた縦
磁界電極を有し、この縦磁界電極の接点をAg−WC系
焼結合金にて構成したことを特徴とするものである。
磁界電極を有し、この縦磁界電極の接点をAg−WC系
焼結合金にて構成したことを特徴とするものである。
以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。
第5図は、本発明の一実施例を示す真空しゃ断器の構造
図であり、第6図(、)はその要部である電極部分の平
面図、第6図(b)は第6図(、)のB−B線矢視方向
の断面図である。第5図および第6図を参照して、真空
パルプ3は、セラミック等の絶縁材料からなるほぼ円筒
状の容器4の両端を端板5a、5bで閉塞した真空容器
内に、接離自在な一対の電極6a、6bを配してなる。
図であり、第6図(、)はその要部である電極部分の平
面図、第6図(b)は第6図(、)のB−B線矢視方向
の断面図である。第5図および第6図を参照して、真空
パルプ3は、セラミック等の絶縁材料からなるほぼ円筒
状の容器4の両端を端板5a、5bで閉塞した真空容器
内に、接離自在な一対の電極6a、6bを配してなる。
一方の電極(固定電極)6aには固定軸7&が接続され
ており、この固定軸7aは端板5aを気密に貫通して外
部に突出している。他方の電極(可動電極)6bKは可
動軸7bが接続され、この可動軸7bはベローズ8を介
して端板5bに取付けられ、真空容器内の真空を保持し
た状態で前記一対の電極の開閉を可能にしている。一方
、電極6a、6bの周囲を包囲するように真空容器内に
アークシールド9を配置し、電流開閉時に電極6a、6
bから発生した金属蒸気により絶縁容器4の内壁が汚損
することを防止している。電極6m、6bは、接触面が
Ag−WC系焼結合金からなる接点10a、lObと、
その背後に設けたコイル電極11a、llbとから構成
してお°す、電流開閉時にアークと並行の磁界が加わる
ような構造、すなわち、いわゆる縦磁界電極構造になっ
ている。本発明にしたがい、このコイル電極11a、l
lbと、)じ゛ては、50ガウス/IB以上の磁界強度
を与える容量のものが用いられる。
ており、この固定軸7aは端板5aを気密に貫通して外
部に突出している。他方の電極(可動電極)6bKは可
動軸7bが接続され、この可動軸7bはベローズ8を介
して端板5bに取付けられ、真空容器内の真空を保持し
た状態で前記一対の電極の開閉を可能にしている。一方
、電極6a、6bの周囲を包囲するように真空容器内に
アークシールド9を配置し、電流開閉時に電極6a、6
bから発生した金属蒸気により絶縁容器4の内壁が汚損
することを防止している。電極6m、6bは、接触面が
Ag−WC系焼結合金からなる接点10a、lObと、
その背後に設けたコイル電極11a、llbとから構成
してお°す、電流開閉時にアークと並行の磁界が加わる
ような構造、すなわち、いわゆる縦磁界電極構造になっ
ている。本発明にしたがい、このコイル電極11a、l
lbと、)じ゛ては、50ガウス/IB以上の磁界強度
を与える容量のものが用いられる。
また接点10a、10bの裏面に接し且つコイル11a
。
。
11bの内側には、磁界発生強度に影響を与えにくい肖
やステンレス鋼などの材料によって構成された補強板1
2が配置され、電流開閉時の衝撃や機械応力によって接
点10 a * 10 bが変形したり割れたりするこ
とを防止している。
やステンレス鋼などの材料によって構成された補強板1
2が配置され、電流開閉時の衝撃や機械応力によって接
点10 a * 10 bが変形したり割れたりするこ
とを防止している。
前記の構成によれば、電流しゃ断時にアークと並行の磁
界が加わるのでアーク電圧を低く抑えることができ、且
つアークが接点10a、lOb間で一様に広がるため接
点10a、10bの局部過熱が防止でき、表面の電流密
度を小さく抑えることができることから大電流のしゃ断
が可能になる。特に接点10a、10bにAg−WC系
焼結合金を使用しているので、低サージ特性に優れ、ま
たコイル電極に大きな磁界強度を与えるものを用いてい
るため、Ag−WC系接点のしゃ断行性が著しく改善さ
れる。
界が加わるのでアーク電圧を低く抑えることができ、且
つアークが接点10a、lOb間で一様に広がるため接
点10a、10bの局部過熱が防止でき、表面の電流密
度を小さく抑えることができることから大電流のしゃ断
が可能になる。特に接点10a、10bにAg−WC系
焼結合金を使用しているので、低サージ特性に優れ、ま
たコイル電極に大きな磁界強度を与えるものを用いてい
るため、Ag−WC系接点のしゃ断行性が著しく改善さ
れる。
本発明の真空しゃ断器により得られるしゃ断性能の改善
は第4図にも示したが下表−1の結果よりもわかる。す
なわち、表−1は電極部分の外径寸法を同一にした場合
の接点材料と電極構成の違いによるしゃ断性能の比較検
証結果を示すものであり、従来のCu系接点である表中
の島1試料のしゃ断?<、流限界を100チとした場合
の比較値を示しである。なお、表中の値は、しゃ断試験
時の回復電圧を1.2 KV以下に設定したときの値で
ある。
は第4図にも示したが下表−1の結果よりもわかる。す
なわち、表−1は電極部分の外径寸法を同一にした場合
の接点材料と電極構成の違いによるしゃ断性能の比較検
証結果を示すものであり、従来のCu系接点である表中
の島1試料のしゃ断?<、流限界を100チとした場合
の比較値を示しである。なお、表中の値は、しゃ断試験
時の回復電圧を1.2 KV以下に設定したときの値で
ある。
また接点材料組成の欄における0中の数字は重量%を意
味する。
味する。
表1
上記表中における凋3が本発明の実施例であり、表中の
結果を見れば、Ag−WC焼結合金接点を、磁界強度間
ガウス/ KA以上の縦磁界電極に組み込むことにより
同一材料を有するスパイラル電極はもちろん、C11−
T@接点を組み込んだスパイラル接点よりも改善された
しゃ断性能が得られることがわかる。
結果を見れば、Ag−WC焼結合金接点を、磁界強度間
ガウス/ KA以上の縦磁界電極に組み込むことにより
同一材料を有するスパイラル電極はもちろん、C11−
T@接点を組み込んだスパイラル接点よりも改善された
しゃ断性能が得られることがわかる。
なお上述の例においてはAg30%−WC残の組成を有
するAg−WC焼結合金が用いられているが、本発明の
真空しゃ断器における接点材料としては、一般にAgが
5〜50重量%、必要に応じて、Fe1N1、Co5B
1. PbSSb、 To等の元素を5重量%以下加え
、残部が主要成分としてのWCからなるAg−WC系焼
結合金が一般に用いられる。
するAg−WC焼結合金が用いられているが、本発明の
真空しゃ断器における接点材料としては、一般にAgが
5〜50重量%、必要に応じて、Fe1N1、Co5B
1. PbSSb、 To等の元素を5重量%以下加え
、残部が主要成分としてのWCからなるAg−WC系焼
結合金が一般に用いられる。
また、第5図の実施例ではアークシールド7を絶縁容器
の中間で支持した場合で示しているが、電流しゃ断時の
縦磁界発生によるアークの制御効果で電極間に発生した
アークはアークシールドに触れにく〈々るのでアークシ
ールドの支持方法の相違によるしゃ断性能への影響は少
ない。そのためアークシールド7を端板5a、5bのい
ずれか一方に固定しても同様な効果が得られる。
の中間で支持した場合で示しているが、電流しゃ断時の
縦磁界発生によるアークの制御効果で電極間に発生した
アークはアークシールドに触れにく〈々るのでアークシ
ールドの支持方法の相違によるしゃ断性能への影響は少
ない。そのためアークシールド7を端板5a、5bのい
ずれか一方に固定しても同様な効果が得られる。
以上、詳述したように、本発明によれば、低サージ特性
を有するがしゃ断性能の劣るだめ大容量しゃ断器の接点
として用いられなかったAg−WC焼結合金接点を50
ガウス/I、という大なる磁界強度を発生する縦磁界電
極中に組み込むことにより飛躍的にしゃ断性能を改善す
ることができ、これにより外部サージ吸収器を必要とし
ないしゃ断容量の大なる真空しゃ断器を提供することが
可能となる。
を有するがしゃ断性能の劣るだめ大容量しゃ断器の接点
として用いられなかったAg−WC焼結合金接点を50
ガウス/I、という大なる磁界強度を発生する縦磁界電
極中に組み込むことにより飛躍的にしゃ断性能を改善す
ることができ、これにより外部サージ吸収器を必要とし
ないしゃ断容量の大なる真空しゃ断器を提供することが
可能となる。
第1図は従来のスバイ2ル電極の平面図、第2図〜第4
図は、各種電極構成および接点材料によるしゃ断電流限
界線図、第5図は本発明の一実施例にかかる真空しゃ断
器の正断面図、第6図(a)は本発明の一実施例に使用
される電極の平面(接点面)図、第6図(b)は第6図
(−)のB−B線矢視断面図である。 1・・・接点、2・・・電極、3・・・真空バルブ、4
・・・絶縁容器、5a、5b・・・端板、6a、6b・
・・縦磁界電極、7a、7b・・・導電軸、8・・・ベ
ローズ、9・・・アークシールド、10. loa、
lOb・・・接点、11 ! 11a+11b・・・コ
イル電極、12・・・補強板。 出願人代理人 猪 股 清第6図 (Q)
図は、各種電極構成および接点材料によるしゃ断電流限
界線図、第5図は本発明の一実施例にかかる真空しゃ断
器の正断面図、第6図(a)は本発明の一実施例に使用
される電極の平面(接点面)図、第6図(b)は第6図
(−)のB−B線矢視断面図である。 1・・・接点、2・・・電極、3・・・真空バルブ、4
・・・絶縁容器、5a、5b・・・端板、6a、6b・
・・縦磁界電極、7a、7b・・・導電軸、8・・・ベ
ローズ、9・・・アークシールド、10. loa、
lOb・・・接点、11 ! 11a+11b・・・コ
イル電極、12・・・補強板。 出願人代理人 猪 股 清第6図 (Q)
Claims (1)
- アーク柱に対して軸方向に(資)ガウス/IB(定格し
ゃ断電流の波高値、単位KA)以上の磁界を印加するコ
イル電極を備えた縦磁界電極を有し、この縦磁界電極の
接点をArWC系焼結合金にて構成したことを特徴とす
る真空しゃ断器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11291182A JPS593831A (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | 真空しや断器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11291182A JPS593831A (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | 真空しや断器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS593831A true JPS593831A (ja) | 1984-01-10 |
| JPS6359215B2 JPS6359215B2 (ja) | 1988-11-18 |
Family
ID=14598569
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11291182A Granted JPS593831A (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | 真空しや断器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS593831A (ja) |
-
1982
- 1982-06-30 JP JP11291182A patent/JPS593831A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6359215B2 (ja) | 1988-11-18 |
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