JPS5943346A - 湿度検出装置 - Google Patents
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- JPS5943346A JPS5943346A JP15353782A JP15353782A JPS5943346A JP S5943346 A JPS5943346 A JP S5943346A JP 15353782 A JP15353782 A JP 15353782A JP 15353782 A JP15353782 A JP 15353782A JP S5943346 A JPS5943346 A JP S5943346A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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- G01N27/22—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating capacitance
- G01N27/223—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating capacitance for determining moisture content, e.g. humidity
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、相対湿度を検出するための相対湿度検出用素
子を有し、該検出用素子による検出結果をデジタル値の
データに変換して出力するための変換回路を備えて成る
湿度検出装置に関する。
子を有し、該検出用素子による検出結果をデジタル値の
データに変換して出力するための変換回路を備えて成る
湿度検出装置に関する。
近年においては、電子回路技術のみでなく温度、圧力、
湿度等に関するセンサー技術も著しく発展しつつあり、
いわゆる家庭用電気器具等の一部にもセンサー技術を応
用したものが実現されるに至っている。
湿度等に関するセンサー技術も著しく発展しつつあり、
いわゆる家庭用電気器具等の一部にもセンサー技術を応
用したものが実現されるに至っている。
しかし、従来の湿度検出装置は、一般にサイズが大きく
、しかも消費電力も大きいために、携帯サイズの電子卓
上計算機(以下、電卓と称する)やクロック、腕時計等
の如く、比較的小型で電池を電源としている機器等の一
部に内蔵するには不適当であった。
、しかも消費電力も大きいために、携帯サイズの電子卓
上計算機(以下、電卓と称する)やクロック、腕時計等
の如く、比較的小型で電池を電源としている機器等の一
部に内蔵するには不適当であった。
すなわち従来の湿度検出装置においては、一般に検出用
素子を用いてブリッジ回路を構成したり、さらには検出
結果をデジタル値に変換するのに旧来と同様なアナログ
・デジタル変換回路を用いたりしているために、サイズ
が大きくなるとともに、消費電力も大きくならざるを得
なかったというのが実情である。
素子を用いてブリッジ回路を構成したり、さらには検出
結果をデジタル値に変換するのに旧来と同様なアナログ
・デジタル変換回路を用いたりしているために、サイズ
が大きくなるとともに、消費電力も大きくならざるを得
なかったというのが実情である。
本発明の目的は、例えば携帯サイズの電卓やクロック、
腕時計等の如く、電池な電源としていてサイズも小型な
電子機器に内蔵するのに好適な湿度検出装置や、その他
の持ち運び可能なサイズの測定用機器等に装備するのに
適した小型かつ低消費電力型の湿度検出装置を提供する
ことにある。
腕時計等の如く、電池な電源としていてサイズも小型な
電子機器に内蔵するのに好適な湿度検出装置や、その他
の持ち運び可能なサイズの測定用機器等に装備するのに
適した小型かつ低消費電力型の湿度検出装置を提供する
ことにある。
以下、図に従って本発明の詳細を説明する。
第1図〜第7図は、本発明の一実施例を示す図で、第1
図は本発明の一実施例による湿度検出装置を備えた時計
付き電卓の外観を示す平面図である。本実施例の電卓は
、電子光学的表示装置として液晶表示装置1を有し、外
部操作部材としては計算用のキーボードスイッチ群2の
他にモード選択用のスライドスイッチSwを有している
。またケース3の前面側には、湿度検出用素子の収容部
4が設けられている。
図は本発明の一実施例による湿度検出装置を備えた時計
付き電卓の外観を示す平面図である。本実施例の電卓は
、電子光学的表示装置として液晶表示装置1を有し、外
部操作部材としては計算用のキーボードスイッチ群2の
他にモード選択用のスライドスイッチSwを有している
。またケース3の前面側には、湿度検出用素子の収容部
4が設けられている。
次に第2図は、前記湿度検出用素子の収容部4の内部構
造を示す断面図であり、ケース3の一部に設けられた凹
部3aには検出用素子支持板5が固定されていて、さら
に該支持板5上n相対湿度検出用素子6が取り付けられ
ている。
造を示す断面図であり、ケース3の一部に設けられた凹
部3aには検出用素子支持板5が固定されていて、さら
に該支持板5上n相対湿度検出用素子6が取り付けられ
ている。
すなわち該検出用素了6には、一対のリード電極6a、
6bが設けられていて、それぞれ前記支持板5に設けら
れた接続用電極5a、5bと電気的に接続された状態で
固定されている。
6bが設けられていて、それぞれ前記支持板5に設けら
れた接続用電極5a、5bと電気的に接続された状態で
固定されている。
なお前記接続用電極5a、5bの一部は、スルーホール
部を経由して前記支持板5の下面側まで達するように構
成されている。またケース3の凹部3aの開口部には、
貫通孔7aを備えた保護板7が取り付けられており、該
保護板7によって相対湿度検出用素子6を保護するとと
もに、該検出用素子6には貫通孔7aを介して外部の雰
囲気中の水蒸気の成分が導入されるように構成されてい
る。
部を経由して前記支持板5の下面側まで達するように構
成されている。またケース3の凹部3aの開口部には、
貫通孔7aを備えた保護板7が取り付けられており、該
保護板7によって相対湿度検出用素子6を保護するとと
もに、該検出用素子6には貫通孔7aを介して外部の雰
囲気中の水蒸気の成分が導入されるように構成されてい
る。
さらに8は回路基板、9は液晶表示装置支持部材、10
はコイルバネより成るコネクターで、該コネクター10
は回路基板8上の所定の配線パターン(図示しない)と
前記接続用電極5a、5bとを電気的に接続する役割を
果している。
はコイルバネより成るコネクターで、該コネクター10
は回路基板8上の所定の配線パターン(図示しない)と
前記接続用電極5a、5bとを電気的に接続する役割を
果している。
次に第3図は、本実施例の時計付き電卓の回路構成の概
略を示すブロック線図であり、11は時間基準となる水
晶発振回路、12は分周回路、13は計時カウンターで
ある。また前述のキーボードスイッチ群2は、入力制御
回路14に接続されており、該入力制御回路14から出
力される時刻修正用信号dおよび計算実行用信号cは、
それぞれ計時カウンター13および計算用回路15に入
力されるように構成されている。
略を示すブロック線図であり、11は時間基準となる水
晶発振回路、12は分周回路、13は計時カウンターで
ある。また前述のキーボードスイッチ群2は、入力制御
回路14に接続されており、該入力制御回路14から出
力される時刻修正用信号dおよび計算実行用信号cは、
それぞれ計時カウンター13および計算用回路15に入
力されるように構成されている。
さらに17は、前述の相対湿度検出用素子6を含む湿度
検出装置であり、16は、分周回路12および計時カウ
ンター13からの信号に基づいて湿度検出装置17匠供
給するためのサンプリンクタイミング制御用等の各クロ
ック信号φiを形成しているクロック信号形成回路であ
る。
検出装置であり、16は、分周回路12および計時カウ
ンター13からの信号に基づいて湿度検出装置17匠供
給するためのサンプリンクタイミング制御用等の各クロ
ック信号φiを形成しているクロック信号形成回路であ
る。
また計時カウンター13、計算用回路15からの各出力
信号および湿度検出装置17からの湿度演算出力信号h
は、表示制御回路18による選択制御を経てデコーダ・
ドライパー回路19に入力され、前述の液晶表示装置1
を駆動するように構成されている。
信号および湿度検出装置17からの湿度演算出力信号h
は、表示制御回路18による選択制御を経てデコーダ・
ドライパー回路19に入力され、前述の液晶表示装置1
を駆動するように構成されている。
一方、前述のスライドスイッチSwのスイッチ端子a、
b、cは、液晶表示装置1の表示選択状態を制御するた
めに表示制御回路18に接続されるとともに、端子aお
よびbについては入力制御回路14に、また端子cにつ
いては湿度検出装置17に、それぞれ接続されている。
b、cは、液晶表示装置1の表示選択状態を制御するた
めに表示制御回路18に接続されるとともに、端子aお
よびbについては入力制御回路14に、また端子cにつ
いては湿度検出装置17に、それぞれ接続されている。
すなわち本実施例の電卓においては、モード選択用のス
ライドスイッチSwが、スイッチ端子aとの間で閉じら
れているときには、液晶表示装置1は時刻表示モードに
制御され、この状態ではキーボードスイッチ群2の操作
に応じて、スイッチ入力制御回路14から時刻修正用信
号dが出力されて、計時カウンター13の内容が修正さ
れる。
ライドスイッチSwが、スイッチ端子aとの間で閉じら
れているときには、液晶表示装置1は時刻表示モードに
制御され、この状態ではキーボードスイッチ群2の操作
に応じて、スイッチ入力制御回路14から時刻修正用信
号dが出力されて、計時カウンター13の内容が修正さ
れる。
またスイッチSwが端子bとの間で閉じられているとき
には、液晶表示装置1は計算表示モードに制御され、こ
の状態ではキーボードスイッチ群2の操作に応じて、ス
イッチ入力制御回路14より計算実行用信号eが計算用
回路15に入力されることになる。
には、液晶表示装置1は計算表示モードに制御され、こ
の状態ではキーボードスイッチ群2の操作に応じて、ス
イッチ入力制御回路14より計算実行用信号eが計算用
回路15に入力されることになる。
さらにスイッチSwが端子cとの間で閉じられていると
きには、液晶表示装置1は湿度表示モードに制御され、
この状態では湿度検出装置16が湿度検出動作を行なっ
て、湿度演算出力信号hを出力することになる。
きには、液晶表示装置1は湿度表示モードに制御され、
この状態では湿度検出装置16が湿度検出動作を行なっ
て、湿度演算出力信号hを出力することになる。
なお定電圧回路Gは、温度等の環境の変化や経時等によ
る電源用電池Eの電圧の変動が水晶発振回路11の発振
周波数や湿度検出装置17内の後述のC−MOSリング
発振器21の発振周波数に与える影響を解消するために
設けられているもので、本実施例では少なくとも水晶発
振回路11と後述のC−MOSリング発振器21とが、
定電圧回路Gの出力電圧によって駆動されるように構成
されている。
る電源用電池Eの電圧の変動が水晶発振回路11の発振
周波数や湿度検出装置17内の後述のC−MOSリング
発振器21の発振周波数に与える影響を解消するために
設けられているもので、本実施例では少なくとも水晶発
振回路11と後述のC−MOSリング発振器21とが、
定電圧回路Gの出力電圧によって駆動されるように構成
されている。
ただし第3図では、図の簡素化のために定電圧回路Gか
らの電源の供給関係は破線で示しており、また水晶発振
回路11およびC−MOSリング発振器21を含む湿度
検出装置17以外の他要素への電源の供給関係は、図示
を省略しているが、実際上は上記の他要素に対しても定
電圧回路Gを介して電源を供給してもよいことは明らか
である。
らの電源の供給関係は破線で示しており、また水晶発振
回路11およびC−MOSリング発振器21を含む湿度
検出装置17以外の他要素への電源の供給関係は、図示
を省略しているが、実際上は上記の他要素に対しても定
電圧回路Gを介して電源を供給してもよいことは明らか
である。
次に第4図は、前述の相対湿度検出用素子6として、相
対湿度の増加に対して容量値が略直線的に変化する特性
を備えたガラス−セラミック系厚膜湿度検出用素子を用
いたときの湿度検出装置17の一具体例を示す回路図で
あり、第5図および第6図は、それぞれ上記ガラス−セ
ラミック系厚膜湿度検出用素子の概略構造を示す一部拡
大断面図および相対湿度・容量変換特性を示すグラフで
ある。
対湿度の増加に対して容量値が略直線的に変化する特性
を備えたガラス−セラミック系厚膜湿度検出用素子を用
いたときの湿度検出装置17の一具体例を示す回路図で
あり、第5図および第6図は、それぞれ上記ガラス−セ
ラミック系厚膜湿度検出用素子の概略構造を示す一部拡
大断面図および相対湿度・容量変換特性を示すグラフで
ある。
なお上記ガラス−セラミック系厚膜湿度検出用素子は、
第5図に示されるように、表面上に一対の電極6c、6
dを有するアルミナ等の絶縁基板6eと、該基板6e上
に形成された厚さ5〜15μm程度の不感湿誘電体層6
fと、さらに該誘電体層6f上に形成された厚さ30〜
50μm程度の感湿誘電体層6gより構成されており、
前記一対の電極6cと6dは、いわゆるくし歯状対向電
極として形成されている。
第5図に示されるように、表面上に一対の電極6c、6
dを有するアルミナ等の絶縁基板6eと、該基板6e上
に形成された厚さ5〜15μm程度の不感湿誘電体層6
fと、さらに該誘電体層6f上に形成された厚さ30〜
50μm程度の感湿誘電体層6gより構成されており、
前記一対の電極6cと6dは、いわゆるくし歯状対向電
極として形成されている。
また不感湿誘電体層6fは、アルミナ基板6eに誘電体
ペーストを印刷し焼成することで形成され、感湿誘電体
層6fは、非感湿誘電体層6f上にアルミナ粒子等の金
属酸化物とガラス微粒子等とを含む感湿誘電体ペースト
を多層にスクリーン印刷して焼成することにより形成さ
れる。この焼成時にはアルミナ等の金属酸化物の粒子は
融解しないために、感湿誘電体層6gは、アルミナ等の
金属酸化物粒子6jの表面をガラスセラミックフィルム
6kで包んだ状態の多孔質ガラス−セラミック系厚膜構
造となる。
ペーストを印刷し焼成することで形成され、感湿誘電体
層6fは、非感湿誘電体層6f上にアルミナ粒子等の金
属酸化物とガラス微粒子等とを含む感湿誘電体ペースト
を多層にスクリーン印刷して焼成することにより形成さ
れる。この焼成時にはアルミナ等の金属酸化物の粒子は
融解しないために、感湿誘電体層6gは、アルミナ等の
金属酸化物粒子6jの表面をガラスセラミックフィルム
6kで包んだ状態の多孔質ガラス−セラミック系厚膜構
造となる。
なお一対の電極6cと6dは、前述のリード電極6aと
6bにそれぞれ接続されている。また上記の金属酸化物
としては、アルミナの他にコバルト、インジウム、パラ
ジウム、ニッケル、マンガン、スズ、銅、鉄等の金属酸
化物を用いることが可能である。
6bにそれぞれ接続されている。また上記の金属酸化物
としては、アルミナの他にコバルト、インジウム、パラ
ジウム、ニッケル、マンガン、スズ、銅、鉄等の金属酸
化物を用いることが可能である。
以上のような構成のガラス−セラミック系厚膜湿度検出
用素子は、第6図に示されるように、相対湿度Hの増加
に応じて容量値Chが略直線的に増加する特性を有して
いる。また第7図は、クロック信号形成回路16より湿
度検出装置17に供給される各クロック信号φiのタイ
ムチャート図である。
用素子は、第6図に示されるように、相対湿度Hの増加
に応じて容量値Chが略直線的に増加する特性を有して
いる。また第7図は、クロック信号形成回路16より湿
度検出装置17に供給される各クロック信号φiのタイ
ムチャート図である。
本実施例においては湿度検出装置17は、上記ガラス−
セラミック系厚膜湿度検出用素子より成る相対湿度検出
用素子6を、CR型発振における充放電容量とするC−
MOSリング発振器21、分周回路23、アップカウン
ター24、ラッチ回路25、湿度演算回路26等によっ
て構成されている。
セラミック系厚膜湿度検出用素子より成る相対湿度検出
用素子6を、CR型発振における充放電容量とするC−
MOSリング発振器21、分周回路23、アップカウン
ター24、ラッチ回路25、湿度演算回路26等によっ
て構成されている。
また前記C−MOSリング発振器21は、相対湿度検出
用素子6の他に帰還抵抗27、限流抵抗28、C−MO
S・NAND回路29、およびC−MOS・インバータ
30、31より構成され、奇数段によるリング発振器に
コンデンサー変調をかけたタイプのCR型発振器となっ
ており、該発振器21の発振周波数fは、前記湿度検出
用素子6の容量値をCh、帰還抵抗27の抵抗値をRと
すると、次の(1)式で与えられる。
用素子6の他に帰還抵抗27、限流抵抗28、C−MO
S・NAND回路29、およびC−MOS・インバータ
30、31より構成され、奇数段によるリング発振器に
コンデンサー変調をかけたタイプのCR型発振器となっ
ており、該発振器21の発振周波数fは、前記湿度検出
用素子6の容量値をCh、帰還抵抗27の抵抗値をRと
すると、次の(1)式で与えられる。
f=1/(22ChR)・・・・・・(1)式なお第4
図においては、前記発振器21に供給される電源のライ
ンの図示は全く省略されているが、前述の如く電源用電
池Eの電圧変動が上記発振周波数fに与える影響を完全
に解消するために、定電圧回路Gを介して前記発振器2
1に電源が供給されるように構成されている。
図においては、前記発振器21に供給される電源のライ
ンの図示は全く省略されているが、前述の如く電源用電
池Eの電圧変動が上記発振周波数fに与える影響を完全
に解消するために、定電圧回路Gを介して前記発振器2
1に電源が供給されるように構成されている。
ここで本実施例における湿度検出装置17の動作につい
て説明する。
て説明する。
まずモード選択用のスライドスイッチSwを操作し、端
子Cとの間で閉じられた状態にすることにより湿度表示
モードを選択すると、AND回路20がON状態となる
。従って、この状態ではクロック信号形成回路16より
サンプリング用のクロックパルスφ1が入力されてくる
と、そのパルス幅に応じた間に渡ってNAND回路29
がON状態となり、C−MOSリング発振器21が発振
動作を行なうことになるが、一方では前記パルスφ1の
立上り付近のタイミングで与えられるクロックパルスφ
4によって分周回路23とカウンター24はりセットさ
れる。またクロックパルスφ2がAND回路22に入力
されるために、そのパルス幅1に応じた間に渡ってAN
D回路22がON状態となり、このtの間に渡ってリン
グ発振器21からの発振出力はAND回路22を介して
分周回路23に入力され、さらに該分周回路23からの
分周出力信号がカウンター24に入力されることになる
。さらに前記パルスφ1、φ2の立下りのタイミングで
与えられるラッチタイミング制御用のクロックパルスφ
3が、ラッチ回路25のラッチ制御信号入力端子25a
に入力されると、カウンター24の計数内容がラッチ回
路25にラッチされる。
子Cとの間で閉じられた状態にすることにより湿度表示
モードを選択すると、AND回路20がON状態となる
。従って、この状態ではクロック信号形成回路16より
サンプリング用のクロックパルスφ1が入力されてくる
と、そのパルス幅に応じた間に渡ってNAND回路29
がON状態となり、C−MOSリング発振器21が発振
動作を行なうことになるが、一方では前記パルスφ1の
立上り付近のタイミングで与えられるクロックパルスφ
4によって分周回路23とカウンター24はりセットさ
れる。またクロックパルスφ2がAND回路22に入力
されるために、そのパルス幅1に応じた間に渡ってAN
D回路22がON状態となり、このtの間に渡ってリン
グ発振器21からの発振出力はAND回路22を介して
分周回路23に入力され、さらに該分周回路23からの
分周出力信号がカウンター24に入力されることになる
。さらに前記パルスφ1、φ2の立下りのタイミングで
与えられるラッチタイミング制御用のクロックパルスφ
3が、ラッチ回路25のラッチ制御信号入力端子25a
に入力されると、カウンター24の計数内容がラッチ回
路25にラッチされる。
このラッチされた内容は、相対湿度検出用素子6の容量
値Ch、すなわち雰囲気中の相対湿度に応じて変化する
テジタル値であることは明らかである。
値Ch、すなわち雰囲気中の相対湿度に応じて変化する
テジタル値であることは明らかである。
ところで本実施例では上記の容量値Chは、第6図に示
されるように、相対湿度の増加に応じて略直線的に増加
する特性にあり、従って相対湿度H〔%〕における前記
検出用素子6の容量値Chは、基準の相対湿度H0〔%
〕における前記検出用素子6の容量値をC0とすると、
次の(2)式で与えられる。
されるように、相対湿度の増加に応じて略直線的に増加
する特性にあり、従って相対湿度H〔%〕における前記
検出用素子6の容量値Chは、基準の相対湿度H0〔%
〕における前記検出用素子6の容量値をC0とすると、
次の(2)式で与えられる。
Ch=C0+A(H−H0)・・・・・・(2)式ただ
しAは、第6図のグラフにおける直線の傾きであり、検
出用素子によって決定される定数である。この場合、相
対湿度0〔%〕に対応する前記検出用素子6の容量値を
C00とすると、Ch=AH+C00・・・・・・(2
)′式となる。同様に相対湿度100〔%〕に対応する
前記検出用素子6の容量値をC100とすると、C10
0=100A+C00・・・・・・(2)″である。一
方、前述の所定の時間tに渡ってAND回路22を介し
て前述発振器21より出力される発振出力信号に含まれ
るパルス数Nは、N=f・t・・・・・・(3)式 となる。上記の(1)式、(2)′式、および(3)式
より、Nの値から相対湿度の〔%〕値Hを求める式を導
くことができる。
しAは、第6図のグラフにおける直線の傾きであり、検
出用素子によって決定される定数である。この場合、相
対湿度0〔%〕に対応する前記検出用素子6の容量値を
C00とすると、Ch=AH+C00・・・・・・(2
)′式となる。同様に相対湿度100〔%〕に対応する
前記検出用素子6の容量値をC100とすると、C10
0=100A+C00・・・・・・(2)″である。一
方、前述の所定の時間tに渡ってAND回路22を介し
て前述発振器21より出力される発振出力信号に含まれ
るパルス数Nは、N=f・t・・・・・・(3)式 となる。上記の(1)式、(2)′式、および(3)式
より、Nの値から相対湿度の〔%〕値Hを求める式を導
くことができる。
第8図が、(4)式のNとHの値との関係を示すグラフ
であり、N00およびN100は、それぞれ相対湿度が
0〔%〕および100〔%〕のときにおける上記パルス
数Nの値である。
であり、N00およびN100は、それぞれ相対湿度が
0〔%〕および100〔%〕のときにおける上記パルス
数Nの値である。
N00=1/2.2C00R・・・・・・(3)′式た
だし第8図において、〔N100、N00〕以外の区間
のNの値、すなわちHが0以下あるいは100以上とな
るようなNの値の範囲は、理論的には出現しない範囲で
ある。
だし第8図において、〔N100、N00〕以外の区間
のNの値、すなわちHが0以下あるいは100以上とな
るようなNの値の範囲は、理論的には出現しない範囲で
ある。
ここで分周回路23が前記発振器21からの発振出力信
号を分周した後に出力する分周出力信号の周波数をFと
して、分周回路23の分周比XをF=fX・・・・・・
(5)式 で表わされるもので定義すると、前述の時間tに渡って
分周回路23より出力されてカウンター24に入力され
るパルス数Pは、 P=NX・・・・・・(6)式 となる。この(6)式を(4)式に代入すると本実施例
では、上記Pの値がラッチ回路25にラッチされる内容
となることは明らかであり、ラッチ回路25内のPの値
に基づいて、湿度演算プロック26で上記(7)式に従
った演算近似演算でもよい)を行なうことで、相対湿度
の〔%〕値Hが求められる。
号を分周した後に出力する分周出力信号の周波数をFと
して、分周回路23の分周比XをF=fX・・・・・・
(5)式 で表わされるもので定義すると、前述の時間tに渡って
分周回路23より出力されてカウンター24に入力され
るパルス数Pは、 P=NX・・・・・・(6)式 となる。この(6)式を(4)式に代入すると本実施例
では、上記Pの値がラッチ回路25にラッチされる内容
となることは明らかであり、ラッチ回路25内のPの値
に基づいて、湿度演算プロック26で上記(7)式に従
った演算近似演算でもよい)を行なうことで、相対湿度
の〔%〕値Hが求められる。
また湿度演算ブロック26から出力される前記Hの値を
示す湿度演算出力信号hに基づいて、液晶表示装置1に
よって相対湿度が〔%〕の単位で表示されることになる
。
示す湿度演算出力信号hに基づいて、液晶表示装置1に
よって相対湿度が〔%〕の単位で表示されることになる
。
なお前記検出用素子6の容量値Chは、(2)′式より
若干のずれがあり、またC−MOSリング発振器21の
発振周波数fも、(1)式からの若干のずれがあるため
に、乾燥あるいは湿潤の極限状態下で例えば相対湿度の
演算値Hが0以上になったり、あるいは100以上にな
ったりする可能性も僅かにあるが、その場合には演算ブ
ロック26より0〔%〕あるいは100〔%〕の値を示
す信号を出力するように構成することが好ましい。
若干のずれがあり、またC−MOSリング発振器21の
発振周波数fも、(1)式からの若干のずれがあるため
に、乾燥あるいは湿潤の極限状態下で例えば相対湿度の
演算値Hが0以上になったり、あるいは100以上にな
ったりする可能性も僅かにあるが、その場合には演算ブ
ロック26より0〔%〕あるいは100〔%〕の値を示
す信号を出力するように構成することが好ましい。
次に第9図は、湿度検出装置17の第2の実施例を示す
回路図である。本実施例は、第4図に示される実施例の
場合と同じく、ガラス−セラミック系厚膜湿度検出用素
子を用いながら、相対湿度の〔%〕単位の演算を比較的
簡単な構成で行なえるように考慮したものである。
回路図である。本実施例は、第4図に示される実施例の
場合と同じく、ガラス−セラミック系厚膜湿度検出用素
子を用いながら、相対湿度の〔%〕単位の演算を比較的
簡単な構成で行なえるように考慮したものである。
なお本実施例についても、前述の第1図〜第3図および
第5図〜第8図は、共通の説明図として適用されるもの
であり、また第9図において第4図と同一番号は同−要
素を示すものである。
第5図〜第8図は、共通の説明図として適用されるもの
であり、また第9図において第4図と同一番号は同−要
素を示すものである。
本実施例では湿度検出装置17は、C−MOSリング発
振器21、分周回路23、ダウンカウンター44、ラッ
チ回路45、限界値検出回路47等によって構成されて
おり、後述の如くラッチ回路45の内容値がそのまま〔
%〕単位の相対湿度値を近似するものとなるように考慮
された構成となっている。ただしC−MOSリング発振
器21の基本的構成や供給電源等については、前述C第
4図の場合と全く同様である。
振器21、分周回路23、ダウンカウンター44、ラッ
チ回路45、限界値検出回路47等によって構成されて
おり、後述の如くラッチ回路45の内容値がそのまま〔
%〕単位の相対湿度値を近似するものとなるように考慮
された構成となっている。ただしC−MOSリング発振
器21の基本的構成や供給電源等については、前述C第
4図の場合と全く同様である。
次に本実施例における湿度検出装置17の動作について
説明する。
説明する。
まずモード選択用のスライドスイッチSwを操作し、該
スイッチSwが端子Cとの間で閉じられた状態にするこ
とにより湿度表示モードを選択すると、AND回路20
がON状態となる。
スイッチSwが端子Cとの間で閉じられた状態にするこ
とにより湿度表示モードを選択すると、AND回路20
がON状態となる。
従って、この状態ではクロック信号形成回路16よりサ
ンプリング用のクロックパルスφ1が入力されてくると
、そのパルス幅に応じた間に渡ってNAND回路29が
ON状態となり、C−MOSリング発振器21が発振動
作を行なうことになるが、一方では前記パルスφ1の立
上り付近のタイミングで与えられるクロックパルスφ4
によって、分周回路23がリセットされるとともにダウ
ンカウンター44が所定の初期値Siにイニシャルセッ
トされ、同じくフリップフロップ回路(以下、FFと暗
記する)48、49もリセットされる。
ンプリング用のクロックパルスφ1が入力されてくると
、そのパルス幅に応じた間に渡ってNAND回路29が
ON状態となり、C−MOSリング発振器21が発振動
作を行なうことになるが、一方では前記パルスφ1の立
上り付近のタイミングで与えられるクロックパルスφ4
によって、分周回路23がリセットされるとともにダウ
ンカウンター44が所定の初期値Siにイニシャルセッ
トされ、同じくフリップフロップ回路(以下、FFと暗
記する)48、49もリセットされる。
またクロックパルスφ2がAND回路22に入力される
ために、そのパルス幅1に応じた間に渡ってAND回路
22がON状態となり、このtの間に渡って前記発振器
21からの発振出力信号はAND回路22を介して分周
回路23に入力され、さらに該分周回路23からの分周
出力信号がダウンカウンター44に入力されることにな
る。
ために、そのパルス幅1に応じた間に渡ってAND回路
22がON状態となり、このtの間に渡って前記発振器
21からの発振出力信号はAND回路22を介して分周
回路23に入力され、さらに該分周回路23からの分周
出力信号がダウンカウンター44に入力されることにな
る。
さらに前記パルスφ1、φ2の立下りのタイミングで与
えられるラッチタイミシグ制御用のクロックパルスφ3
が、ラッチ回路45のラッチ制御信号入力端子45aに
入力されると、ダウンカウンター44の計数内容値Sが
ラッチ回路45にラッチされる。このラッチされた内容
値Sは、相対湿度検出用素子6の容量値Ch、すなわち
雰囲気中の相対湿度に応じて略直線的に増加するデジタ
ル値であることは明らかである。
えられるラッチタイミシグ制御用のクロックパルスφ3
が、ラッチ回路45のラッチ制御信号入力端子45aに
入力されると、ダウンカウンター44の計数内容値Sが
ラッチ回路45にラッチされる。このラッチされた内容
値Sは、相対湿度検出用素子6の容量値Ch、すなわち
雰囲気中の相対湿度に応じて略直線的に増加するデジタ
ル値であることは明らかである。
ここで本実施例では、第4図の場合のように湿度演算ブ
ロック26を用いて(7)式に基づいた演算を行なう替
わりに、ダウンカウンター44を用いることにより、相
対湿度の〔%〕値Hを第10図で2点鎖線で示される直
線Sで近似して求め、その近似値をラッチ回路45に直
接ラッチするように構成しているわけである。
ロック26を用いて(7)式に基づいた演算を行なう替
わりに、ダウンカウンター44を用いることにより、相
対湿度の〔%〕値Hを第10図で2点鎖線で示される直
線Sで近似して求め、その近似値をラッチ回路45に直
接ラッチするように構成しているわけである。
すなわち第10図は、前述の第8図のグラフにおいて、
理論的に出現する範囲であるNの区間〔N100、N0
0〕の付近を拡大して示したグラフであり、直線Sは(
N100、100)と(N00、0)の2点を通る直線
である。従って直線Sの式は、 となる。すなわち本実施例では、前述の時間幅t内にA
ND回路22を介して前記発振器21より出力されてく
る発振出力信号に含まれるパルス数がNであるときに、
ダウンカウンター44の内容値Sが上記の(8)式で示
されるSの値となるようにするために、分周回路23の
分周比Xとダウンカウンター44の前述のイニシャルセ
ット価Siは、それぞれ となるように設定されているわけであり、このような構
成によれば、ラッチ回路45には相対湿度の〔%〕値H
を近似する上記のSの値が、そのままラッチされること
になるために、ラッチ回路45は上記のSの値を示す信
弓を、そのまま湿度演算出力信号hとして出力すればよ
いことになる。
理論的に出現する範囲であるNの区間〔N100、N0
0〕の付近を拡大して示したグラフであり、直線Sは(
N100、100)と(N00、0)の2点を通る直線
である。従って直線Sの式は、 となる。すなわち本実施例では、前述の時間幅t内にA
ND回路22を介して前記発振器21より出力されてく
る発振出力信号に含まれるパルス数がNであるときに、
ダウンカウンター44の内容値Sが上記の(8)式で示
されるSの値となるようにするために、分周回路23の
分周比Xとダウンカウンター44の前述のイニシャルセ
ット価Siは、それぞれ となるように設定されているわけであり、このような構
成によれば、ラッチ回路45には相対湿度の〔%〕値H
を近似する上記のSの値が、そのままラッチされること
になるために、ラッチ回路45は上記のSの値を示す信
弓を、そのまま湿度演算出力信号hとして出力すればよ
いことになる。
なお上記の分周比X(直線Sの傾き)とイニシャルセッ
ト値Siは、(9)式、(10)式に(3)′式、(3
)″式を代入すれば、C00およびC100の値に基づ
いて計算によって求めることもできるが、前記発振器2
1の発振周波数fは、実際には(1)式より若干ずれる
ことがあるために、Nの値の実測値に基づいて直線Sを
求めることにより、分周比Xとイニシャルセット値Si
を決定する方が実用的である。
ト値Siは、(9)式、(10)式に(3)′式、(3
)″式を代入すれば、C00およびC100の値に基づ
いて計算によって求めることもできるが、前記発振器2
1の発振周波数fは、実際には(1)式より若干ずれる
ことがあるために、Nの値の実測値に基づいて直線Sを
求めることにより、分周比Xとイニシャルセット値Si
を決定する方が実用的である。
また本実施例でも乾燥あるいは湿潤の極限状態下では、
Sの値が0未満あるいは100を越えるものとなる可能
性があるために、その場合には便宜的にラッチ回路45
に0または100がラッチされるようにするために、本
実施例では限界値検出回路47とFF48、49が設け
られている。
Sの値が0未満あるいは100を越えるものとなる可能
性があるために、その場合には便宜的にラッチ回路45
に0または100がラッチされるようにするために、本
実施例では限界値検出回路47とFF48、49が設け
られている。
すなわち分周回路23からの分周出力信号をダウンカウ
ンター44でダウンカウントするに従って、ダウンカウ
ンター44の内容値Sは、イニシャルセット値Siより
減少していくが、ダウンカウンター44の内容値Sが1
00に到達すると、まず限界値検出回路47の出力端4
7aより1個のパルス信号が出力されFF48をセット
状態に反転させ、さらに内容値Sが減少し続けて0にま
で到達すると、検出回路47の出力端47bより1個の
パルス信号が出力されFF49をセット状態に反転させ
るように構成されている。言いかえれば、FF48がリ
セット状態のままでいたとすれば、上記内容値Sが10
0以上の値にとどまったことを意味し、FF49までが
セット状態になったとすれば、上記内容値Sが0を通り
越して減少していったということを意味し、そのいずれ
の場合も理論的にはあり得ない状態ということになる。
ンター44でダウンカウントするに従って、ダウンカウ
ンター44の内容値Sは、イニシャルセット値Siより
減少していくが、ダウンカウンター44の内容値Sが1
00に到達すると、まず限界値検出回路47の出力端4
7aより1個のパルス信号が出力されFF48をセット
状態に反転させ、さらに内容値Sが減少し続けて0にま
で到達すると、検出回路47の出力端47bより1個の
パルス信号が出力されFF49をセット状態に反転させ
るように構成されている。言いかえれば、FF48がリ
セット状態のままでいたとすれば、上記内容値Sが10
0以上の値にとどまったことを意味し、FF49までが
セット状態になったとすれば、上記内容値Sが0を通り
越して減少していったということを意味し、そのいずれ
の場合も理論的にはあり得ない状態ということになる。
これに応じて本実施例では、ラッチ回路45にダウンカ
ウンター44の内容値Sをラッチするときに、FF48
がリセット状態にあるときは上記内容値Sの替わりに1
00を、またFF49がセット状態にあるときには上記
内容値Sの替わりに0をラッチするように構成して、0
未満あるいは100を越す値の表示が生じないように考
慮しているわけである。
ウンター44の内容値Sをラッチするときに、FF48
がリセット状態にあるときは上記内容値Sの替わりに1
00を、またFF49がセット状態にあるときには上記
内容値Sの替わりに0をラッチするように構成して、0
未満あるいは100を越す値の表示が生じないように考
慮しているわけである。
なお本実施例では、C−MOSリング発振器21を構成
する帰還抵抗27として可変抵抗が用いられているが、
このような構成によれば帰還抵抗27の抵抗値Rを調整
することにより、前記発振器21の発振周波数fを必要
に応じて調整することも可能となる。
する帰還抵抗27として可変抵抗が用いられているが、
このような構成によれば帰還抵抗27の抵抗値Rを調整
することにより、前記発振器21の発振周波数fを必要
に応じて調整することも可能となる。
次に第11図は、前述の第9図の実施例の場合よりも近
似精度の良好な湿度検出装置17の構成例を示す回路図
である。本実施例についても、前述の第1図〜第3図お
よび第5図〜第8図は、共通の説明図として適用され、
第11図において第4図あるいは第9図と同一番号は同
一要素を示すものである。
似精度の良好な湿度検出装置17の構成例を示す回路図
である。本実施例についても、前述の第1図〜第3図お
よび第5図〜第8図は、共通の説明図として適用され、
第11図において第4図あるいは第9図と同一番号は同
一要素を示すものである。
本実施例では湿度検出装置17は、C−MOSリング発
振器21、可変分周回路43、ダウンカウンター44、
ラッチ回路45、限界値検出回路47、分周比設定回路
50等によって構成されており、本実施例においてもラ
ッチ回路45の内容値がそのまま〔%〕単位の湿度値を
近似するように構成されている。
振器21、可変分周回路43、ダウンカウンター44、
ラッチ回路45、限界値検出回路47、分周比設定回路
50等によって構成されており、本実施例においてもラ
ッチ回路45の内容値がそのまま〔%〕単位の湿度値を
近似するように構成されている。
なお本実施例におけるC−MOSリング発振器21は、
第9図の場合の発振器21と全く同じ構成を有しており
、ガラス−セラミック系厚膜湿度検出用素子をCR型発
振における充放電容量として用いている。また本実施例
の湿度検出装置17の動作は、第9図の場合の動作と同
様なものがあるが、異なる点は、AND回路22を介し
て前記発振器21より出力される発振出力信号が、可変
分周回路43によって分周されるように構成されている
ことと、該可変分周回路43からの分周出力信号をダウ
ンカウントモードで計数するダウンカウンター44の内
容値Sに応じて、分周比設定回路50が可変分周回路4
3の分周比を適宜、制御していくように構成しているこ
とである。
第9図の場合の発振器21と全く同じ構成を有しており
、ガラス−セラミック系厚膜湿度検出用素子をCR型発
振における充放電容量として用いている。また本実施例
の湿度検出装置17の動作は、第9図の場合の動作と同
様なものがあるが、異なる点は、AND回路22を介し
て前記発振器21より出力される発振出力信号が、可変
分周回路43によって分周されるように構成されている
ことと、該可変分周回路43からの分周出力信号をダウ
ンカウントモードで計数するダウンカウンター44の内
容値Sに応じて、分周比設定回路50が可変分周回路4
3の分周比を適宜、制御していくように構成しているこ
とである。
この結果として、本実施例では第12図に示されるよう
に、第8図の相対湿度の〔%〕値Hを示す曲線を、いく
つかの直線S1〜S4によって近似して求めていくこと
になる。
に、第8図の相対湿度の〔%〕値Hを示す曲線を、いく
つかの直線S1〜S4によって近似して求めていくこと
になる。
次に、第9図の場合と異なる点に関しての動作の説明を
行なう。ただし以下の説明においてN75、N50、N
25は、相対湿度の〔%〕値が、それぞれ75、50、
25のときにおける前述の(3)式で示されるNの値で
ある。
行なう。ただし以下の説明においてN75、N50、N
25は、相対湿度の〔%〕値が、それぞれ75、50、
25のときにおける前述の(3)式で示されるNの値で
ある。
まず本実施例では、第12図に示されるように相対湿度
が75〔%〕以上のときには、相対湿度の〔%〕値Hを
、(N100、100)と(N75、75)の2点を通
る直線S1で近似して求めるように構成されている。
が75〔%〕以上のときには、相対湿度の〔%〕値Hを
、(N100、100)と(N75、75)の2点を通
る直線S1で近似して求めるように構成されている。
この直線S1の式は
であり、従って本実施例では、前述の時間幅t内にAN
D回路22を介して前記発振器21より出力されてくる
発振出力信号に含まれるパルス数がN75に至るまでは
、ダウンカウンター44の内容値Sが上記の(11)式
で示されるS1の値と等しくなるようにするために、可
変分周回路43の分周比X1とダウンカウンター44の
イニシャルセット値Siは、それぞれ となるように設定されている。
D回路22を介して前記発振器21より出力されてくる
発振出力信号に含まれるパルス数がN75に至るまでは
、ダウンカウンター44の内容値Sが上記の(11)式
で示されるS1の値と等しくなるようにするために、可
変分周回路43の分周比X1とダウンカウンター44の
イニシャルセット値Siは、それぞれ となるように設定されている。
すなわち本実施例では、Nの値がN75以下のとき、言
いかえればダウンカウンター44の内容値Sが75以下
のときには、分周比設定回路50は可変分周回路43の
分周比が、上記の(12)式で示されるX1(直線S1
の傾き)となるように制御しているわけである。
いかえればダウンカウンター44の内容値Sが75以下
のときには、分周比設定回路50は可変分周回路43の
分周比が、上記の(12)式で示されるX1(直線S1
の傾き)となるように制御しているわけである。
また同様に、相対湿度の〔%〕値が75〜50、50〜
25、および25〜0の範囲すなわちNの値がN75〜
N50、N50〜N25、およびN25〜N00の範囲
では、第12図に示されるように直線S2、S3、およ
びS4を用いることによって、それぞれHの値を近似し
て求めていくことになる。ただし直線S2、S3、およ
びS4は、それぞれ2点(N75、75)と(N50、
50)、(N50、50)と(N25、25)、あるい
は(N25、25)と(N00、0)を、それぞれ通る
直線である。
25、および25〜0の範囲すなわちNの値がN75〜
N50、N50〜N25、およびN25〜N00の範囲
では、第12図に示されるように直線S2、S3、およ
びS4を用いることによって、それぞれHの値を近似し
て求めていくことになる。ただし直線S2、S3、およ
びS4は、それぞれ2点(N75、75)と(N50、
50)、(N50、50)と(N25、25)、あるい
は(N25、25)と(N00、0)を、それぞれ通る
直線である。
すなわち本実施例では、Nの値がN75に到達すること
によりダウンカウンター44の内容値Sが75に到達す
ると、今度は可変分周回路43の分周比が、直線S2の
傾きで示されるX2となるように分周比設定回路50が
制御することになる。
によりダウンカウンター44の内容値Sが75に到達す
ると、今度は可変分周回路43の分周比が、直線S2の
傾きで示されるX2となるように分周比設定回路50が
制御することになる。
ここに
である。
以下、同様にNの値がN50に到達してダウンカウンタ
ー44の内容値Sが50に至ると、分周比設定回路50
は可変分周回路43の分周比を、直線S3の傾きに等し
いX3に設定する。
ー44の内容値Sが50に至ると、分周比設定回路50
は可変分周回路43の分周比を、直線S3の傾きに等し
いX3に設定する。
ここに
である。
さらに同様にNの値がN25に到達してダウン力ウンタ
ー44の内容値Sが25に到達すると、可変分周回路4
3の分周比は、直線S4の傾きと等しい値X4となるよ
うに制御される。
ー44の内容値Sが25に到達すると、可変分周回路4
3の分周比は、直線S4の傾きと等しい値X4となるよ
うに制御される。
ここに
である。
以上のように本実施例においては、ダウンカウンター4
4の内容値Sに応じて分周比設定回路50が可変分周回
路43の分周比を適宜、制御していくように構成するこ
とにより、第8図に示される相対湿度の〔%〕値Hを示
す曲線を、第12図に示されるS1〜S4の4つの直線
で近似して求めていくことが可能となっているわけであ
り、この結果、第9図の場合よりもさらに近似精度の良
好なHの近似値が、ラッチ回路45にラッチされること
になる。
4の内容値Sに応じて分周比設定回路50が可変分周回
路43の分周比を適宜、制御していくように構成するこ
とにより、第8図に示される相対湿度の〔%〕値Hを示
す曲線を、第12図に示されるS1〜S4の4つの直線
で近似して求めていくことが可能となっているわけであ
り、この結果、第9図の場合よりもさらに近似精度の良
好なHの近似値が、ラッチ回路45にラッチされること
になる。
なお上記の(12)、(14)、(15)、(16)式
内のN100、N75、N50、N25、N00の各値
は計算によって求められるために、結局、各範囲の分周
比を示すX1〜X4の値も計算によって求めることがで
きるわけであるが、実際には前記発振器21の発振周波
数fは(1)式からのずれもあるために、Nの値の実測
値に基づいて、分周比X1〜X4を求める方が実用的で
ある。
内のN100、N75、N50、N25、N00の各値
は計算によって求められるために、結局、各範囲の分周
比を示すX1〜X4の値も計算によって求めることがで
きるわけであるが、実際には前記発振器21の発振周波
数fは(1)式からのずれもあるために、Nの値の実測
値に基づいて、分周比X1〜X4を求める方が実用的で
ある。
また上記の実施例ではHの値0〜100の範囲を4つの
直線S1〜S4で分割して近似するように構成されてい
るが、4つ以下あるいは4つ以上の直線に分割して近似
することもーできることは明らかであり、その分割数が
多くなるほど近似精度も高くなっていくことになる。
直線S1〜S4で分割して近似するように構成されてい
るが、4つ以下あるいは4つ以上の直線に分割して近似
することもーできることは明らかであり、その分割数が
多くなるほど近似精度も高くなっていくことになる。
さらには上記の実施例では、ダウン力ウンター44の内
容値に従って分周比設定回路50が可変分周回路43の
分周比を制御するように構成しているが、第13図に示
されるように、可変分周回路43からの分周出力信号を
計数する別のカウンター51を設け、そのカウンター5
1の計数値に従って分周比設定回路50が可変分周回路
43の分周比を設定するように構成してもよいことは明
らかである。なお第13図において、第11図と同一の
要素を示すものである。
容値に従って分周比設定回路50が可変分周回路43の
分周比を制御するように構成しているが、第13図に示
されるように、可変分周回路43からの分周出力信号を
計数する別のカウンター51を設け、そのカウンター5
1の計数値に従って分周比設定回路50が可変分周回路
43の分周比を設定するように構成してもよいことは明
らかである。なお第13図において、第11図と同一の
要素を示すものである。
以上に述べたように本発明によれば、相対湿度・容量変
換特性を有する相対湿度検出用素子をCR型発振におけ
る充放電容量として用いたC−MOSリング発振器を利
用して、相対湿度をデジタル値に変換するように構成し
ているために、従来の如くにブリッジ回路を構成したり
、一般的なアナログ・デジタル変換回路を用いたりする
ことなく、相対湿度値の変化に応じたデジタル値を得る
ことが可能となり、小型かつ低消費電力型の湿度検出装
置が実現されることになる。
換特性を有する相対湿度検出用素子をCR型発振におけ
る充放電容量として用いたC−MOSリング発振器を利
用して、相対湿度をデジタル値に変換するように構成し
ているために、従来の如くにブリッジ回路を構成したり
、一般的なアナログ・デジタル変換回路を用いたりする
ことなく、相対湿度値の変化に応じたデジタル値を得る
ことが可能となり、小型かつ低消費電力型の湿度検出装
置が実現されることになる。
なお前述の実施例では、いずれも定電圧回路を介して電
源用電池よりC−MOSリング発振器に電源を供給する
ように構成しているが、このような構成によれば、温度
等の環境の変化や経時等による電源用電池の起電圧の変
動がC−MOSリング発振器に与える影響を解消するこ
とが可能となる。
源用電池よりC−MOSリング発振器に電源を供給する
ように構成しているが、このような構成によれば、温度
等の環境の変化や経時等による電源用電池の起電圧の変
動がC−MOSリング発振器に与える影響を解消するこ
とが可能となる。
すなわちC−MOSリング発振器を構成するC−MOS
インバータ(あるいはNAND回路)の内部抵抗は、供
給電圧によって少し変化する特性を有しているために、
供給電圧が変動すると発振周波数もそれに応じて変動す
ることになるが、上記のように定電圧回路を設ければ発
振器への供給電圧は安定しかものとなり、測定精度が向
上することになる。
インバータ(あるいはNAND回路)の内部抵抗は、供
給電圧によって少し変化する特性を有しているために、
供給電圧が変動すると発振周波数もそれに応じて変動す
ることになるが、上記のように定電圧回路を設ければ発
振器への供給電圧は安定しかものとなり、測定精度が向
上することになる。
また前述の実施例では、時計機能用の水晶発振回路に対
しても、上記の定電圧回路より電源を供給するように構
成しているか、このような構成によれば、サンプリング
制御のクロック信号の周波数やパルス幅の変動も抑えら
れる。
しても、上記の定電圧回路より電源を供給するように構
成しているか、このような構成によれば、サンプリング
制御のクロック信号の周波数やパルス幅の変動も抑えら
れる。
すなわち上記クロック信号は、水晶発据回路の発振出カ
信号に基づいて形成されているが、この水晶発振回路の
発振周波数も供給電圧の変動に応じて僅かに変動する特
性を有しているが、定電圧回路の介在により発振周波数
も安定化され、その結果、発振出カ信号に基づいて形成
されるクロック信号も安定したものとなる。
信号に基づいて形成されているが、この水晶発振回路の
発振周波数も供給電圧の変動に応じて僅かに変動する特
性を有しているが、定電圧回路の介在により発振周波数
も安定化され、その結果、発振出カ信号に基づいて形成
されるクロック信号も安定したものとなる。
従って、例えば前述のサンプリング制御用のクロック信
号φ2のパルス幅1で与えられるサンプリング時間幅も
、一定値に安定したものとなり、湿度検出精度をさらに
向上させることが可能となっている。これに対して、電
源用電池の起電圧の変動の影響を受けて、上記の時間幅
も変動するような構成の場合は、それだけ測定精度も低
下することになるわけである。
号φ2のパルス幅1で与えられるサンプリング時間幅も
、一定値に安定したものとなり、湿度検出精度をさらに
向上させることが可能となっている。これに対して、電
源用電池の起電圧の変動の影響を受けて、上記の時間幅
も変動するような構成の場合は、それだけ測定精度も低
下することになるわけである。
また前述の実施例の場合のように、ガラス−セラミック
系厚膜湿度検出用素子の如く相対湿度の増加に対して容
量値が減少していく特性にある検出用素子を用いるとき
には、ダウンカウント手段によって、C−MOSリング
発振器および分周回路からの信号を計数するように構成
すれば、相対湿度の増加に応じてダウンカウント手段の
計数内容値も増加することになるために、相対湿度値へ
の変換も比較的簡単に行なうことが可能となる。
系厚膜湿度検出用素子の如く相対湿度の増加に対して容
量値が減少していく特性にある検出用素子を用いるとき
には、ダウンカウント手段によって、C−MOSリング
発振器および分周回路からの信号を計数するように構成
すれば、相対湿度の増加に応じてダウンカウント手段の
計数内容値も増加することになるために、相対湿度値へ
の変換も比較的簡単に行なうことが可能となる。
また、その場合には湿度検出用素子が温度の影響を受け
て特性が変化するような素子てあるときには、環境の温
度を検出し、その検出結果に従ってダウンカウント手段
のイ二シャルセット値を適当に変化させてやる等の手段
で、比較的簡単に温度補償を行なうことが可能である。
て特性が変化するような素子てあるときには、環境の温
度を検出し、その検出結果に従ってダウンカウント手段
のイ二シャルセット値を適当に変化させてやる等の手段
で、比較的簡単に温度補償を行なうことが可能である。
なお前述の実施例において湿度検出位置17が相対湿度
を検出するサンプリング動作の周期、すなわちC−MO
Sリング発振器21にサンプリング動作を行なわせるた
めのクロックパルスφ1の周期Tは、種々の必要性等に
応じて適当に決定することが可能であり、さらにはサン
プリング動作の周期も外部操作スイッチによって選択で
きるように構成したり、あるいはモード選択スイッチ等
の外部操作スイッチの操作ごとに1度のサンプリング動
作が行なわれるように構成すること等も可能である。
を検出するサンプリング動作の周期、すなわちC−MO
Sリング発振器21にサンプリング動作を行なわせるた
めのクロックパルスφ1の周期Tは、種々の必要性等に
応じて適当に決定することが可能であり、さらにはサン
プリング動作の周期も外部操作スイッチによって選択で
きるように構成したり、あるいはモード選択スイッチ等
の外部操作スイッチの操作ごとに1度のサンプリング動
作が行なわれるように構成すること等も可能である。
第1図〜第8図は、本発明の1実施例による湿度検出装
置を備えた時計付き電卓を示す図で、第1図はその外観
を示す平面図、第2図は湿度検出用素子の収容部を示す
断面図、第3図は回路構成の概略を示すブロック線図、
第4図は湿度検出装置を示す回路図、第5図および第6
図はガラス−セラミック系厚膜湿度検出用素子の概略構
造を示す平面図および相対湿度・容量変換特性を示すグ
ラフ、第7図は湿度検出装置に供給される各クロック信
号を示すタイムチャート図、第8図は本実施例を説明す
るためのグラフ。 第9図および第10図は、本発明における第2の実施例
を示すもので、第9図は湿度検出装置の構成を示す回路
図、第10図は本実施例を説明するためのグラフ。 第11図および第12図は、本発明における第3の実施
例を示す図で、第11図は湿度検出装置の構成を示す回
路図、第12図は本実施例を説明するためのグラフ。第
13図は、第11図の湿度検出装置の一部の変形例を示
すブロック線図である。 1・・・・・・液晶表示装置、 4・・・・・・湿度検出用素子の収容部、6・・・・・
・湿度検出用素子、 11・・・・・・水晶発振回路、12・・・・・・分周
回路、13・・・・・・計時カウンター、 16・・・・・・クロック信号形成回路、17・・・・
・・湿度検出装置、 18・・・・・・表示制御回路、 21・・・・・・C−MOSリング発振器、23・・・
・・・分周回路、 24・・・・・・アップカウンター、 25・・・・・・ラッチ回路、 26・・・・・・湿度演算ブロック、 43・・・・・・可変分周回路、 44・・・・・・ダウンカウンター、 45・・・・・・ラッチ回路、 50・・・・・・分周比設定回路、 E・・・・・・電源用電池、 G・・・・・・定電圧回路、 Sw・・・・・・モード選択用スライドスイッチ。 ・(1・゛、“−・\ ’FA” a’l出ノ如人 ンヂ〜仁−・11、實、1
株式会社(、’):、、、’−□11 第1図 第2図 第3図 第514 第6図 第7図
置を備えた時計付き電卓を示す図で、第1図はその外観
を示す平面図、第2図は湿度検出用素子の収容部を示す
断面図、第3図は回路構成の概略を示すブロック線図、
第4図は湿度検出装置を示す回路図、第5図および第6
図はガラス−セラミック系厚膜湿度検出用素子の概略構
造を示す平面図および相対湿度・容量変換特性を示すグ
ラフ、第7図は湿度検出装置に供給される各クロック信
号を示すタイムチャート図、第8図は本実施例を説明す
るためのグラフ。 第9図および第10図は、本発明における第2の実施例
を示すもので、第9図は湿度検出装置の構成を示す回路
図、第10図は本実施例を説明するためのグラフ。 第11図および第12図は、本発明における第3の実施
例を示す図で、第11図は湿度検出装置の構成を示す回
路図、第12図は本実施例を説明するためのグラフ。第
13図は、第11図の湿度検出装置の一部の変形例を示
すブロック線図である。 1・・・・・・液晶表示装置、 4・・・・・・湿度検出用素子の収容部、6・・・・・
・湿度検出用素子、 11・・・・・・水晶発振回路、12・・・・・・分周
回路、13・・・・・・計時カウンター、 16・・・・・・クロック信号形成回路、17・・・・
・・湿度検出装置、 18・・・・・・表示制御回路、 21・・・・・・C−MOSリング発振器、23・・・
・・・分周回路、 24・・・・・・アップカウンター、 25・・・・・・ラッチ回路、 26・・・・・・湿度演算ブロック、 43・・・・・・可変分周回路、 44・・・・・・ダウンカウンター、 45・・・・・・ラッチ回路、 50・・・・・・分周比設定回路、 E・・・・・・電源用電池、 G・・・・・・定電圧回路、 Sw・・・・・・モード選択用スライドスイッチ。 ・(1・゛、“−・\ ’FA” a’l出ノ如人 ンヂ〜仁−・11、實、1
株式会社(、’):、、、’−□11 第1図 第2図 第3図 第514 第6図 第7図
Claims (3)
- (1)相対湿度を検出するための相対湿度検出用素子を
有し、該検出用素子による検出結果をデジタル値のデー
タに変換して出力するための変換回路を備えて成る湿度
検出装置において、前記検出用素子は、雰囲気中の相対
湿度に応じて容量値の変化する相対湿度・容量変換特性
を有する素子より構成され、前記変換回路は前記検出用
素子をCR型発振における充放電容量とするC−MOS
リング発振器を少なくとも含んでいることを特徴とする
湿度検出装置。 - (2)相対湿度検出用素子が、相対湿度の増加に応じて
容量値が略直線的に増加する特性を有する素子より成り
、かつ変換回路が、C−MOSリング発振器から出力さ
れる信号を入力とする分周回路と、該分周回路から出力
される信号を入力とするダウンカウント手段とを含み、
サンプリング信号形成手段からのサンプリング信号によ
って定められる一定時間内に、前記C−MOSリング発
振器から出力される信号を、前記分周回路と前記ダウン
カウント手段によって分周、ダウンカウントするように
構成されていることを特徴とする特許請求の範囲第1項
記載の湿度検出装置。 - (3)相対湿度検出用素子が、ガラス−セラミック系厚
膜湿度検出用素子より成ることを特徴とする特許請求の
範囲第2項記載の湿度検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15353782A JPS5943346A (ja) | 1982-09-03 | 1982-09-03 | 湿度検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15353782A JPS5943346A (ja) | 1982-09-03 | 1982-09-03 | 湿度検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5943346A true JPS5943346A (ja) | 1984-03-10 |
Family
ID=15564678
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15353782A Pending JPS5943346A (ja) | 1982-09-03 | 1982-09-03 | 湿度検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5943346A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63149553A (ja) * | 1986-12-12 | 1988-06-22 | Nippon Mining Co Ltd | 電子湿度計 |
| US5065625A (en) * | 1989-05-12 | 1991-11-19 | Tdk Corporation | Humidity meter |
| EP3654028A1 (en) * | 2018-11-14 | 2020-05-20 | MEAS France | Relative humidity sensor device |
-
1982
- 1982-09-03 JP JP15353782A patent/JPS5943346A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63149553A (ja) * | 1986-12-12 | 1988-06-22 | Nippon Mining Co Ltd | 電子湿度計 |
| US5065625A (en) * | 1989-05-12 | 1991-11-19 | Tdk Corporation | Humidity meter |
| EP3654028A1 (en) * | 2018-11-14 | 2020-05-20 | MEAS France | Relative humidity sensor device |
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