JPS5950108B2 - トランジスタ - Google Patents
トランジスタInfo
- Publication number
- JPS5950108B2 JPS5950108B2 JP51024528A JP2452876A JPS5950108B2 JP S5950108 B2 JPS5950108 B2 JP S5950108B2 JP 51024528 A JP51024528 A JP 51024528A JP 2452876 A JP2452876 A JP 2452876A JP S5950108 B2 JPS5950108 B2 JP S5950108B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- region
- transistor
- type
- emitter
- collector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Bipolar Integrated Circuits (AREA)
- Bipolar Transistors (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はトランジスタの構造に関するものである。
最近、I″Lと称される集積回路(以下、ICという)
が話題を呼んでいる。
が話題を呼んでいる。
その理由はすでに確立されているバイポーラ技術だけで
作ることができ、そのチップ構造の特殊性からこのチッ
プは非常に小さく作ることができ、したがつて安価にで
き、機能設計にも広い自由度があるからである。しかし
ながら、よく吟味してみると、確かに見かけ上は従来の
製造方法、従来の構造でI″Lと称されるICを実現す
ることは可能であるが、所望の特性を実現でき、しかも
小型に、安価にという目標を達成するにはきわめて不十
分である。したがつて、このI″LについてもI″Lに
最適な製造方法、不純物分布、チップ内の構造が必要と
なる。まず、本発明を説明する前に、従来技術について
述べる。第1図はI″Lと呼ばれている回路の一部を示
し、同図においてPNPトランジスタTR、が定電流源
(あるいは負荷)で、NPNトランジスタTR。
作ることができ、そのチップ構造の特殊性からこのチッ
プは非常に小さく作ることができ、したがつて安価にで
き、機能設計にも広い自由度があるからである。しかし
ながら、よく吟味してみると、確かに見かけ上は従来の
製造方法、従来の構造でI″Lと称されるICを実現す
ることは可能であるが、所望の特性を実現でき、しかも
小型に、安価にという目標を達成するにはきわめて不十
分である。したがつて、このI″LについてもI″Lに
最適な製造方法、不純物分布、チップ内の構造が必要と
なる。まず、本発明を説明する前に、従来技術について
述べる。第1図はI″Lと呼ばれている回路の一部を示
し、同図においてPNPトランジスタTR、が定電流源
(あるいは負荷)で、NPNトランジスタTR。
がインバータである。なお1〜3は端子、Gは接地端子
である。第2図は第1図回路を従来公知の方法によつて
実現したチップ構造の断面図であり、このチップ構造は
次のようにして実現される。
である。第2図は第1図回路を従来公知の方法によつて
実現したチップ構造の断面図であり、このチップ構造は
次のようにして実現される。
すなわち、N”型基板11の上にエピタキシャル法を用
いて同一導電型の薄層12を設け、この薄層12の表面
領域に通常の不純物拡散法によリ互いに離れた2つのP
型領域13、14を同時に作り、一方のP型領域14の
中に二重拡散法によりN型領域15を設ける。
いて同一導電型の薄層12を設け、この薄層12の表面
領域に通常の不純物拡散法によリ互いに離れた2つのP
型領域13、14を同時に作り、一方のP型領域14の
中に二重拡散法によりN型領域15を設ける。
そしてP型領域13をエミッタ、薄層12をベース、他
のP型領域14をコレクタとしてPNPトランジスタT
RIを構成し、一方N゛型基板11およびN型薄層12
をエミッタ、P型領域14をベース、N型領域15を″
コレクタとしてNPNトランジスタTR2を構成する。
このような構成にすると、I″Lのチップは非常に小型
に実現できることは自明である。
のP型領域14をコレクタとしてPNPトランジスタT
RIを構成し、一方N゛型基板11およびN型薄層12
をエミッタ、P型領域14をベース、N型領域15を″
コレクタとしてNPNトランジスタTR2を構成する。
このような構成にすると、I″Lのチップは非常に小型
に実現できることは自明である。
インバータとしてのNPNトランジスタTR。は増幅作
用も丁する訳であるので電流増幅率れ、eが大きいこと
が望ましい。ところが、第2図のNPNトランジスタT
R2は薄板の表面からの二重拡散によつて形成している
から、必然的にエミッタ・ベース接合16の面積Beが
ベース・コレクタ接合17の面積θScより大きい。こ
のため大きい電流増幅率れ、eを得たい場合にはその大
きな電流増幅率hfeが得られず、きわめて望ましくな
い。本発明はこのような問題を解決し、所望の特性、特
に所望の大きな電流増幅率を得ることがで■5き、かつ
小型にして安価にできるトランジスタを提供することに
ある。
用も丁する訳であるので電流増幅率れ、eが大きいこと
が望ましい。ところが、第2図のNPNトランジスタT
R2は薄板の表面からの二重拡散によつて形成している
から、必然的にエミッタ・ベース接合16の面積Beが
ベース・コレクタ接合17の面積θScより大きい。こ
のため大きい電流増幅率れ、eを得たい場合にはその大
きな電流増幅率hfeが得られず、きわめて望ましくな
い。本発明はこのような問題を解決し、所望の特性、特
に所望の大きな電流増幅率を得ることがで■5き、かつ
小型にして安価にできるトランジスタを提供することに
ある。
本発明は、半導体薄板の表面付近に不純物拡散によつて
形成されたコレクタ領域が配置され、そのコレクタ領域
の下側、すなわちコレクタ領域よりも薄板の深部に同じ
く不純物拡散によつて形成されたベース領域をはさんで
エミツタが配置されているトランジスタにおいて、電流
増幅率Hfeを大きくするためにエミツタ接合の有効面
積がコレクタ接合面積よりも充分小さくなるように、前
記コレクタ領域の中央部分に対応するエミツタ領域の不
純物濃度が、その周囲のエミツタ領域の不純物濃度より
も低いことを特徴とするトランジスタを提供するもので
ある。
形成されたコレクタ領域が配置され、そのコレクタ領域
の下側、すなわちコレクタ領域よりも薄板の深部に同じ
く不純物拡散によつて形成されたベース領域をはさんで
エミツタが配置されているトランジスタにおいて、電流
増幅率Hfeを大きくするためにエミツタ接合の有効面
積がコレクタ接合面積よりも充分小さくなるように、前
記コレクタ領域の中央部分に対応するエミツタ領域の不
純物濃度が、その周囲のエミツタ領域の不純物濃度より
も低いことを特徴とするトランジスタを提供するもので
ある。
次に本発明の実施例について図面を参照して説明する。
第3図は第1図回路を実現した本発明によるチツプ構造
の一実施例を示し、このチツプ構造は通常の技術の組合
わせによつて実現できる。
の一実施例を示し、このチツプ構造は通常の技術の組合
わせによつて実現できる。
たとえばN゛基板11の表面の一部にN型不純物を拡散
して通称、埋込層19を形成し、次に基板の全表面にN
型薄層12をエピタキシヤル法によつて形成する。あと
は、通常の方法によつて、すなわち前述したと同様に通
常の不純物拡散法によりP型領域13および14を同時
に形成し、次に一方のP型領域14の中に2重拡散法に
よりN型領域15を形成する。このようにしてPNPト
ランジスタTR.,およびNPNトランジスタTR,が
前述の.ように構成される。第3図ではPNPトランジ
スタTR,のエミツタおよびNPNトランジスタTR2
のベースとコレクタは前述と同様に2重拡散法でつ<る
が、NPNトランジスタTR2のエミツタ・ベース接合
16が.均一には動作しないようにエミツタ領域の不純
物濃度を不均一にしようとするものである。
して通称、埋込層19を形成し、次に基板の全表面にN
型薄層12をエピタキシヤル法によつて形成する。あと
は、通常の方法によつて、すなわち前述したと同様に通
常の不純物拡散法によりP型領域13および14を同時
に形成し、次に一方のP型領域14の中に2重拡散法に
よりN型領域15を形成する。このようにしてPNPト
ランジスタTR.,およびNPNトランジスタTR,が
前述の.ように構成される。第3図ではPNPトランジ
スタTR,のエミツタおよびNPNトランジスタTR2
のベースとコレクタは前述と同様に2重拡散法でつ<る
が、NPNトランジスタTR2のエミツタ・ベース接合
16が.均一には動作しないようにエミツタ領域の不純
物濃度を不均一にしようとするものである。
すなわち、NPNトランジスタTR2のベース・コレク
タ接合17の中央付近の真下のエミツタ領域18の不純
物濃度は低く、その周辺部分のエミツタ領域.19の不
純物濃度は高くしようとするものであこのようにすると
、いまエミツタ領域とベース領域に順方向の電圧をかけ
ると、立上り電圧の差から電子の注入はまずエミツタ領
域のうち領域18から起り、領域19からはほとんど起
らない。元来、このI″Lというのは、低電流動作とい
うことに特徴があるので、この中央付近からの僅かの注
入電流で充分なのである。第3図の如き構成にしておく
と、注入の起るエミツタ面積よりもそれに対応するコレ
クタ面積の方がはるかに広いので、通常のトランジスタ
の如く、注入されたキヤリアはすべてコレクタに集めら
れるので、大きい電流増幅率H,eを得ることができる
のは明らかである。本発明は本実施例に限定されること
なく種々の応用および変形が考えられる。
タ接合17の中央付近の真下のエミツタ領域18の不純
物濃度は低く、その周辺部分のエミツタ領域.19の不
純物濃度は高くしようとするものであこのようにすると
、いまエミツタ領域とベース領域に順方向の電圧をかけ
ると、立上り電圧の差から電子の注入はまずエミツタ領
域のうち領域18から起り、領域19からはほとんど起
らない。元来、このI″Lというのは、低電流動作とい
うことに特徴があるので、この中央付近からの僅かの注
入電流で充分なのである。第3図の如き構成にしておく
と、注入の起るエミツタ面積よりもそれに対応するコレ
クタ面積の方がはるかに広いので、通常のトランジスタ
の如く、注入されたキヤリアはすべてコレクタに集めら
れるので、大きい電流増幅率H,eを得ることができる
のは明らかである。本発明は本実施例に限定されること
なく種々の応用および変形が考えられる。
たとえば本実施例第3図においては、図示の如き導電型
について述べたが、本発明はこれに限定されることな<
設計上の要求で任意に変更することはもちろん可能であ
る。すなわちP,N型は逆にしても良いし、また基板は
N゛型でなくP型であつてもよい。また本発明は第3図
に示す如くN゛領域20を設けて領域19と同じ効果を
もたせるのも有効である。以上説明した本発明によるト
ランジスタを用いれば、所望の特性、特に大きな電流増
幅率を得ることができるとともに、小型にして安価にす
ることができるなどの効果を’有する。
について述べたが、本発明はこれに限定されることな<
設計上の要求で任意に変更することはもちろん可能であ
る。すなわちP,N型は逆にしても良いし、また基板は
N゛型でなくP型であつてもよい。また本発明は第3図
に示す如くN゛領域20を設けて領域19と同じ効果を
もたせるのも有効である。以上説明した本発明によるト
ランジスタを用いれば、所望の特性、特に大きな電流増
幅率を得ることができるとともに、小型にして安価にす
ることができるなどの効果を’有する。
第1図はI″Lの一単位回路を示す図、第2図は従来構
造によつて第1図回路を実現したチツプ構造の断面図、
第3図は本発明によるチツプ構造の断面図である。 11・・・・・・N″′基板、12・・・・・・N型薄
層、14・・・・・・P型領域、15・・・・・・N型
領域、16・・・・・・エミツタ・ベース接合、17・
・・・・・ベース・コレクタ接合、18・・・・・・エ
ミツタ領域、19・・・・・・理込層、20・・・・・
・N゛領域。
造によつて第1図回路を実現したチツプ構造の断面図、
第3図は本発明によるチツプ構造の断面図である。 11・・・・・・N″′基板、12・・・・・・N型薄
層、14・・・・・・P型領域、15・・・・・・N型
領域、16・・・・・・エミツタ・ベース接合、17・
・・・・・ベース・コレクタ接合、18・・・・・・エ
ミツタ領域、19・・・・・・理込層、20・・・・・
・N゛領域。
Claims (1)
- 1 エミッタ領域内にベース領域が刑成されたトランジ
スタにおいて、前記エミッタ領域には不純物濃度が異な
る少なくとも二つの領域部分が設けられ、不純物濃度が
低い領域部分上にベース・コレクタ接合の少なくとも一
部が位置していることを特徴とするトランジスタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51024528A JPS5950108B2 (ja) | 1976-03-05 | 1976-03-05 | トランジスタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51024528A JPS5950108B2 (ja) | 1976-03-05 | 1976-03-05 | トランジスタ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS52107776A JPS52107776A (en) | 1977-09-09 |
| JPS5950108B2 true JPS5950108B2 (ja) | 1984-12-06 |
Family
ID=12140643
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP51024528A Expired JPS5950108B2 (ja) | 1976-03-05 | 1976-03-05 | トランジスタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5950108B2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5546046B2 (ja) * | 1973-06-20 | 1980-11-21 |
-
1976
- 1976-03-05 JP JP51024528A patent/JPS5950108B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS52107776A (en) | 1977-09-09 |
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