JPS595679A - 光電変換装置 - Google Patents

光電変換装置

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JPS595679A
JPS595679A JP57114838A JP11483882A JPS595679A JP S595679 A JPS595679 A JP S595679A JP 57114838 A JP57114838 A JP 57114838A JP 11483882 A JP11483882 A JP 11483882A JP S595679 A JPS595679 A JP S595679A
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JP
Japan
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type
silicon film
film
photoelectric conversion
conversion device
Prior art date
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Pending
Application number
JP57114838A
Other languages
English (en)
Inventor
Takashi Hirao
孝 平尾
Masatoshi Kitagawa
雅俊 北川
Koshiro Mori
森 幸四郎
Shinichiro Ishihara
伸一郎 石原
Masaharu Ono
大野 雅晴
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP57114838A priority Critical patent/JPS595679A/ja
Publication of JPS595679A publication Critical patent/JPS595679A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F71/00Manufacture or treatment of devices covered by this subclass
    • H10F71/10Manufacture or treatment of devices covered by this subclass the devices comprising amorphous semiconductor material
    • H10F71/103Manufacture or treatment of devices covered by this subclass the devices comprising amorphous semiconductor material including only Group IV materials
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

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  • Photovoltaic Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は非晶質シリコン(以下a−8i)太陽電池及び
透明導電膜上にa−8iを形成する光電変換装置に関す
る。
従来、I T O(Indium Tin 0xide
 )をSnO2のような透明導電膜上にアモルファスS
i膜を形成した太陽電池がある。第1図はその一実施例
を示すものであり、1はガラス基板、2はITOのみ、
5nOzあるいはITOとSnO2の二層膜からなる透
明導電膜である。透明導電膜2上に100人程鹿のp形
のアモルファスSi膜を形成する。このp形層3はSi
H4とB2H6の混合ガスのグロー放電法で形成する。
しかる後を型あるいはt型に近いa−8i膜4を形成し
、n型のa −Si膜6を形成する。i型のa −Si
膜4はSiH4のグロー放電で形成され、膜6はSiH
4とPH,の混合ガスのグロー放電で形成される。6は
金属電極であり、例えばアルミニウムを真空蒸着するこ
とによって形成する。
このような構成の太陽電池においては光はガラス1側か
ら入射させる。ところが9層3はよく知られているよう
に直列抵抗を下げる為にボロン濃度を大きくすると光学
的禁止帯幅が小さく々り光吸収損失が犬きくなる。その
為にボロン濃度を少なくして光学的禁止帯幅を大きく維
持するようにしている。しかしこれによってポロンの活
性化工ネルギーが大きくなり開放電圧の減少、直列抵抗
の増大による損失等が生ずるがボロン濃度が大のときよ
りもまだ特性がよい為妥協的に低濃度のボロンドーピン
グを用いている。1 最近カーボン(例えばCH4)をSiH4やB2H6と
ともに導入し、光学的禁止帯幅を大きくしだp形層を用
いて高効率の太陽電池を開発した例が報告されている。
すなわち、第1図における3をp形のa−8iC:Hに
しだものである。このように光学的禁止帯幅の大きいa
 −SiC: Hを用いてp層での光吸収率を大幅に減
らすことにより高効率化を達成している。またカーボン
添加によるものと同様にp層の光学的禁止帯幅の増大は
酸素原子の添加によっても達成できる。
しかしながら、これら不純物の添加によ−〕てp形とし
ての価電子制御は可能であり、しかも光学的禁止帯幅の
増大による光吸収ロスの減少という効果が大きいが、や
はり抵抗として相対的に大きくあまり厚くすると直列抵
抗となり太陽電池特性を劣下させる。またITOや5n
02のような基板1−に特開口a59−5679  (
2) 例えばH2で稀釈されたSiH4を高周波グロー放電法
で形成すると、I TOあるいはSnO2とp形a−8
i界面付近にSiOあるいはSiO2の組成をもつ物質
が形成され、さらにIn ’p Snがpi及びpi界
面まであられれる事が見出だされている(1982年春
季応物:松下)。SiQあるいはS102  は素子の
直列抵抗になると考えられ、またInやSnはpあるい
はpL  界面でキャリヤの再結合準位になり好1しく
ないものと考えられる。オージェ分析により前記SiO
あるいはSin、、の形成、InやSnの移動は堆積温
度160〜300’Cでも見出される事が示された。
本発明は上記問題点を解決した高効率な光電変換装置を
提供する事を目的とするものである。
以下本発明に基づく太陽電池の一実施例を第2図に従っ
て説明する。第2図において、7はガラス、8は例えば
I T O、SnO2の一層構造あるいはITOと5n
02  の二層構造の導電層である。9は酸素原子を導
入したp形のa−8iであり、次のようにして形成する
。すなわち、H2ベースで稀釈した20%Si亀置p形
装するための82H6をSiH4に対し0.05〜1%
の濃度とし、02 をSiH4に対し2〜10v01%
にしたガスを温度200’Cの基板に作用させ60人の
p型a−8i層を形成する。
このとき酸素を混入する事によって前述のSiOあるい
はSi02 の抑制効果が顕著で、従って太陽電池を作
ったときその直列抵抗の増大が防げる。
1oは酸素原子を導入しない通常のp形>−8iであり
その厚さは50人とする。つまりp形層の厚みとしては
合計100人となる。このようにする事により光吸収ロ
スとしては通常のp形a−5iのみを用いる場合に比べ
半分程度にする事ができるとともにpi  界面は通常
素子と変らず抵抗も単独の酸素ドープp形a−8iより
も小さくすることができ直列抵抗の増大を避けることも
可能となる。
(この場合のB2H6濃度を仮定している)。
11は真性あるいは真性に近いt形a−8iで通常価電
子制御不純物を導入しないかしても極めての 僅久量導入した高抵抗層である。たとえばH2稀釈の2
0%SiH4を高周波グロー放電法で形成する。
厚みとしては例えば5ooo〜1σ000人とする。1
2はn形のa−8iである。14は重鎖で例えばAノ 
を真空蒸着する。
なお、上記実施例においては、ITO−?5n02の上
にまずp形a−5iを堆積する例について述べたが、ま
ず酸素を含むn形のWb−8iを堆積しその後酸素を含
まないn形孔−8i 、 i形a −8i 、 p形a
−8iという順に形成した素子を作ってもよいことはい
うまでもない1 以上のように本発明はITOあるいはSnO2上に形成
すべき最初のドーピング層に酸素原子を含ませたa−5
iを形成し、その後酸素を含まない同−導電形h−3i
を形成する所に大きな特長を有するものである。すなわ
ち、本発明はITOや5n02のような基板上にSiH
4とB2H6の混合ガスに加えて酸素あるいは少なくと
も酸素を含む化合物を混合レトSiを堆積する事によシ
、SiOやSin、、のような物質の発生を抑制すると
共に酸素により光学的禁止帯幅の増大しだp層を用いる
ことにより光吸収ロスを減少させ、続いて酸素を導入し
ないp形a−8i、i形a−8i、n形a−5iを形成
することにより高性能な太陽電池を形成できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の一実施例の光電変換装置の構成図、第2
図は本発明の一実施例の光電変換装置の構成図である。 7・・・・・・ガラス、8・・・・・・光導電層、9・
・・・・・p型a −8i 、 10 ・−−−−−p
型L−8i、11・・川・1型a−5i、12・山・・
電極。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 はが1名第1
図 第2図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基板上に透明導電膜を配し、前記透明導電膜上に
    酸素原子を導入した非晶質シリコン膜、酸素を導入しな
    い非晶質シリコン膜を順次形成した光電変換装置。
  2. (2)前記透明導電膜上に酸素原子を導入した前記導電
    形弁晶質シリコン膜、酸素原子を導入しない前記導電形
    弁晶質シリコン膜、真性もしくは真性に近い非晶質シリ
    コン膜、前記導電形と反対の導電形弁晶質シリコン膜、
    電極を順次配した特許請求の範囲第1項に記載の光電変
    換装置。
JP57114838A 1982-07-01 1982-07-01 光電変換装置 Pending JPS595679A (ja)

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