JPS5964916A - 閾値可変論理回路 - Google Patents
閾値可変論理回路Info
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- JPS5964916A JPS5964916A JP57175609A JP17560982A JPS5964916A JP S5964916 A JPS5964916 A JP S5964916A JP 57175609 A JP57175609 A JP 57175609A JP 17560982 A JP17560982 A JP 17560982A JP S5964916 A JPS5964916 A JP S5964916A
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- JP
- Japan
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- circuit
- gate
- fet
- input signal
- inverter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/28—Modifications for introducing a time delay before switching
- H03K17/284—Modifications for introducing a time delay before switching in field effect transistor switches
Landscapes
- Logic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明はシュミット・トリガ回路などに用いられる閾値
可変論理回路に係シ、特にインバータ回路またはノンイ
ンバータ回路として機能を選択可能な論理回路に関する
ものである。
可変論理回路に係シ、特にインバータ回路またはノンイ
ンバータ回路として機能を選択可能な論理回路に関する
ものである。
従来、シュミット・トリガ回路は入力信号と出力信号と
の間にヒステリシス特性を有していることから雑音余裕
度が犬き〈、入力信号にきまれる雑音等に対して誤動作
しにくり、また入力信号の立上がり及び立下がりのゆる
やかなものを予め設定されたスレッシュホールド電圧で
急峻な立上がり及び立下がりをもつ波形に変換する時な
どに広く用いられている。ここで、良好なヒステリンス
特性をもつンユミット・トリガ回路として特公昭55−
90130号公報に開示されている従来のシュミット・
トリガ回路の一例を第1図に、その基本回路となる相補
形UOSインバータ(以下、CIJ OSインバータと
略称する)回路を第2図に、第2図で示しだCIJOS
インバータの入出力特性曲線を第3図に、第1図のシュ
ミット・トリガ回路の各信号のタイミングチャートを第
4図に示す。第1図においてI(B + IO2及びI
O3はPチャネルMOSトランジスタ及びNチャネルU
OS)ランジスタからなるcuosインバータ回路であ
る。
の間にヒステリシス特性を有していることから雑音余裕
度が犬き〈、入力信号にきまれる雑音等に対して誤動作
しにくり、また入力信号の立上がり及び立下がりのゆる
やかなものを予め設定されたスレッシュホールド電圧で
急峻な立上がり及び立下がりをもつ波形に変換する時な
どに広く用いられている。ここで、良好なヒステリンス
特性をもつンユミット・トリガ回路として特公昭55−
90130号公報に開示されている従来のシュミット・
トリガ回路の一例を第1図に、その基本回路となる相補
形UOSインバータ(以下、CIJ OSインバータと
略称する)回路を第2図に、第2図で示しだCIJOS
インバータの入出力特性曲線を第3図に、第1図のシュ
ミット・トリガ回路の各信号のタイミングチャートを第
4図に示す。第1図においてI(B + IO2及びI
O3はPチャネルMOSトランジスタ及びNチャネルU
OS)ランジスタからなるcuosインバータ回路であ
る。
N月及びN。2はPチャネル[08)ランジスタ及びI
−Jチャネル1vlOSトランジスタからなるCrA
OSナントゲートであり、それぞれの出力をクロス接続
してセット・リセット型フリップ・フロッグ回路を構成
している。入力信号INはCMOSインバータエ。1及
びMo2のゲート入力に接続され、CMOSインバータ
エ。2の出力はcuosインバータエ。8のゲート入力
に接続される。更にcuosインバータIO+及び工。
−Jチャネル1vlOSトランジスタからなるCrA
OSナントゲートであり、それぞれの出力をクロス接続
してセット・リセット型フリップ・フロッグ回路を構成
している。入力信号INはCMOSインバータエ。1及
びMo2のゲート入力に接続され、CMOSインバータ
エ。2の出力はcuosインバータエ。8のゲート入力
に接続される。更にcuosインバータIO+及び工。
3の出力はそれぞれCk40Sナンドゲー) Notの
セット入力及びリセット入力に接続されている。
セット入力及びリセット入力に接続されている。
TPはPチャンネルMOSトランジスタ、TNはNチャ
ンネルMO8)ランジスタ、VDDは電源電位、G N
Dは接地′電位を表わす。第21ン1のCMo5イン
バータの入力VIN対出力VOUTの特性は第3図のに
示す曲線となり、該入出力特性曲線とVIN == V
OUTとの交点を回路閾値電圧VTとすると、VTは次
式で表わされる。
ンネルMO8)ランジスタ、VDDは電源電位、G N
Dは接地′電位を表わす。第21ン1のCMo5イン
バータの入力VIN対出力VOUTの特性は第3図のに
示す曲線となり、該入出力特性曲線とVIN == V
OUTとの交点を回路閾値電圧VTとすると、VTは次
式で表わされる。
ここでVthN:NチャネルMO8)ランジスタの閾値
電圧、vthP:PチャネルVOSトランジスタ11句
値電圧、 βN:NチャネルMOSトランジスタの電流増幅率、β
P:Pチャネル[08)ランジスタの電流増幅率 上Me fi1式でβP〈βN−菌とするとVT =
VthN ・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・ (211だ(
1)式を変形して 一ヒ記(3)式でβi+(βP=ωとするとVT =
VDD −1vthp l ・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ (4)
り上のようにcuosインバータを構成する各トAOS
トランジスタの敵流増幅部βN、βPとの比によって回
路閾値VTを(2)式で得られたvthN(この陽合の
入出力特性曲線は第3図■)から(4)式で11斗られ
だVDD −lvt、bpl (この場合の入出力特
性曲線は第3図◎)−1で可変できる。
電圧、vthP:PチャネルVOSトランジスタ11句
値電圧、 βN:NチャネルMOSトランジスタの電流増幅率、β
P:Pチャネル[08)ランジスタの電流増幅率 上Me fi1式でβP〈βN−菌とするとVT =
VthN ・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・ (211だ(
1)式を変形して 一ヒ記(3)式でβi+(βP=ωとするとVT =
VDD −1vthp l ・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ (4)
り上のようにcuosインバータを構成する各トAOS
トランジスタの敵流増幅部βN、βPとの比によって回
路閾値VTを(2)式で得られたvthN(この陽合の
入出力特性曲線は第3図■)から(4)式で11斗られ
だVDD −lvt、bpl (この場合の入出力特
性曲線は第3図◎)−1で可変できる。
ここで前f1六゛Lに流増幅率βはMOS)ランジスタ
の寸決q素であるW/l、 (W :チャネル長、L:
チャネル幅)に比例する値として得られるこバークの回
路閾値’VTを可変させ1与る。次に、第1図のシュミ
ット・トリガ回路の動作を説明する。入力信号INが接
続されたC IJ OSインバータエ。1及び工。2は
、回Ivr閾値VTが上述したようにインバータを構成
する1、40S)ランジスタの電流増幅率βの比によっ
て可変し得ることに基づきC)JOSインバータ■。I
は高い閾値に、またI(12は低い閾値に設定されてい
るとするごユミット・トリガ1回路の入力信号IN、↓ 出力信OUT、CMOSナントゲートNotの入力信号
S、cMOSインバータ回路IO2の出力信号P及びC
M OEiテナントート1七2の入力信号Rの各信号の
タイミングチャートを第4図に示す。まず同図において
時間T1の状態を考える。入力信号I Nの′電位は充
分低い、従ってフリップ・フロップ回路のセット入力S
は”1゛1、リセット人力Rは0“となシ出力信号○U
T (rよ0”となる。次に入力信号INの′収斂が
上荷していき時間T2に達するとまず低い閾値に設定さ
れたC’1V4OSインバータエ。2が反転して”O1
′となる。しかし、この状態では出力信号OUTは変化
しない。更に入力信号INの電位が上昇するとやがて時
間T3に達し高い閾値をもつCM OSインバータIO
+も反転して0″になる。
の寸決q素であるW/l、 (W :チャネル長、L:
チャネル幅)に比例する値として得られるこバークの回
路閾値’VTを可変させ1与る。次に、第1図のシュミ
ット・トリガ回路の動作を説明する。入力信号INが接
続されたC IJ OSインバータエ。1及び工。2は
、回Ivr閾値VTが上述したようにインバータを構成
する1、40S)ランジスタの電流増幅率βの比によっ
て可変し得ることに基づきC)JOSインバータ■。I
は高い閾値に、またI(12は低い閾値に設定されてい
るとするごユミット・トリガ1回路の入力信号IN、↓ 出力信OUT、CMOSナントゲートNotの入力信号
S、cMOSインバータ回路IO2の出力信号P及びC
M OEiテナントート1七2の入力信号Rの各信号の
タイミングチャートを第4図に示す。まず同図において
時間T1の状態を考える。入力信号I Nの′電位は充
分低い、従ってフリップ・フロップ回路のセット入力S
は”1゛1、リセット人力Rは0“となシ出力信号○U
T (rよ0”となる。次に入力信号INの′収斂が
上荷していき時間T2に達するとまず低い閾値に設定さ
れたC’1V4OSインバータエ。2が反転して”O1
′となる。しかし、この状態では出力信号OUTは変化
しない。更に入力信号INの電位が上昇するとやがて時
間T3に達し高い閾値をもつCM OSインバータIO
+も反転して0″になる。
これにより出力13号OUTが反転し11′となる。
入力信号INは最も高い電位に達した後、次第に降下し
ていく。やがて時間T4に達するとまず高い閾値をもつ
Chaosインバータエ。1 が反転して61″となる
。しかし、この状態では出力信号OUTは変化しない。
ていく。やがて時間T4に達するとまず高い閾値をもつ
Chaosインバータエ。1 が反転して61″となる
。しかし、この状態では出力信号OUTは変化しない。
史に入力信号INの′は位が降下するとやがて時間T5
に達し低い閾値’4 rffをもつCMOSインバータ
l011も反転してn I I+になる。これによシ出
力信号OUTが反転して711となる。以上のようにセ
ット・リセット型フリップ・フロップ回路及びCMOS
インバータ回路で構成されるに21図の回路はそれぞれ
のCMOSインバータに設定された異なる回路1i値に
より入力信号INと出力信号OUTとの間にヒステリシ
ス特性をもつシュミット・トリガ回路として動作する。
に達し低い閾値’4 rffをもつCMOSインバータ
l011も反転してn I I+になる。これによシ出
力信号OUTが反転して711となる。以上のようにセ
ット・リセット型フリップ・フロップ回路及びCMOS
インバータ回路で構成されるに21図の回路はそれぞれ
のCMOSインバータに設定された異なる回路1i値に
より入力信号INと出力信号OUTとの間にヒステリシ
ス特性をもつシュミット・トリガ回路として動作する。
上述したようなシュミット・トリガ回路などに使用され
る第2図に示したような従来のCMOSインバータは、
その回路閾値を可変させるためには前述したようにVO
S)ランジスタのパラメータを変える必要があるので面
倒である。
る第2図に示したような従来のCMOSインバータは、
その回路閾値を可変させるためには前述したようにVO
S)ランジスタのパラメータを変える必要があるので面
倒である。
しかもuosトランジスタの製造後のインバータ使用段
階で回路閾値を変更させる必要が生じた場合には、これ
に応じることができなかった。
階で回路閾値を変更させる必要が生じた場合には、これ
に応じることができなかった。
本発明は上記の事情に鋺みてなされたもので、回路閾値
を簡単にかつ回路使用段1階でも自由に変更でき、しか
もインバータ寸たはノンインバータとしての機能を選択
し得る閾値可変論理回路全提供するものである。
を簡単にかつ回路使用段1階でも自由に変更でき、しか
もインバータ寸たはノンインバータとしての機能を選択
し得る閾値可変論理回路全提供するものである。
すなわち、本発明の閾値町f論理回路は、0MO8−F
F1T (相補型絶縁ゲート&界効果トランジスタ)を
用いて入力信号INを閾値設定用基準電圧Vre f
と電圧比較するものである。その構成は、第1電源と
第2屯源との間に、第14 ”h型の第1のPETと第
2導電型(上記第1導電型とは逆の導電型)の第2のF
ETとを直列に接続すると共に第14電型の第3のFE
Tと第2導電型の框4のFETとを直列に接続し、上記
第2のFgTのゲートとドレインおよび第4のFETの
ゲートを共通接続し、前記第1のFETのゲートおよび
第3のFETのゲートに入力信号INあるいは基準電圧
’Vre fの相異なる一方をそれぞれ入力させ、第3
のFIliiTと第4のFETとの接続点から出力を得
るようにしたものである。
F1T (相補型絶縁ゲート&界効果トランジスタ)を
用いて入力信号INを閾値設定用基準電圧Vre f
と電圧比較するものである。その構成は、第1電源と
第2屯源との間に、第14 ”h型の第1のPETと第
2導電型(上記第1導電型とは逆の導電型)の第2のF
ETとを直列に接続すると共に第14電型の第3のFE
Tと第2導電型の框4のFETとを直列に接続し、上記
第2のFgTのゲートとドレインおよび第4のFETの
ゲートを共通接続し、前記第1のFETのゲートおよび
第3のFETのゲートに入力信号INあるいは基準電圧
’Vre fの相異なる一方をそれぞれ入力させ、第3
のFIliiTと第4のFETとの接続点から出力を得
るようにしたものである。
したがって、入力信号INと基準電圧Vrefとの大き
さ関係に応じて第3のFETおよび第′4のFETの導
通・非導通状態が定まり、これによって出力の論理レベ
ルが定まるようになる。
さ関係に応じて第3のFETおよび第′4のFETの導
通・非導通状態が定まり、これによって出力の論理レベ
ルが定まるようになる。
この場合、嗅に基準電圧Vrefを可変するだけでI1
路・・Ij値を簡単に可変でき、しかも回路形成後にお
いて回路閾値を自由に可変できるようになる。
路・・Ij値を簡単に可変でき、しかも回路形成後にお
いて回路閾値を自由に可変できるようになる。
以下、1図面を参照して本発明の一実施例を詳紺IK説
明する。
明する。
第5図において、1〜4はそれぞれMOS−FET(以
下FETと略称する)であり、このうち第1、第3のF
ET1,3はPチャンネル、第2、第40FET’2.
4はNチャンネルである。そして、VDD電位の第1
’K rfFと接地(GND)電位の第2゛屯源との間
には、第1のFET1および第2のFET’;?が直t
i+]に接続されると共に第3のFET Jおよび第4
のFETMが匣何に接続されている。さらに、第2のF
g’r2のゲートとドレインおよび第4のFETEのゲ
ートは共通に接続されており、第2のFETJと第4の
FET4との接続点から出力が取り出されるようになっ
ている。
下FETと略称する)であり、このうち第1、第3のF
ET1,3はPチャンネル、第2、第40FET’2.
4はNチャンネルである。そして、VDD電位の第1
’K rfFと接地(GND)電位の第2゛屯源との間
には、第1のFET1および第2のFET’;?が直t
i+]に接続されると共に第3のFET Jおよび第4
のFETMが匣何に接続されている。さらに、第2のF
g’r2のゲートとドレインおよび第4のFETEのゲ
ートは共通に接続されており、第2のFETJと第4の
FET4との接続点から出力が取り出されるようになっ
ている。
而して、第5図(a)に示すように、帛1のFET1の
ゲート電極および第3のFETJのケ−ト電汐にそれぞ
れ対応して基準電圧Vre fおよび入力信号I 、N
が与えられ、あるいは上記とは11条に第5 lX1
(b)に示すように第1のFg’rzのゲート(・C入
力信号IN、第3のFET、?のゲートに病Lヲ軍圧V
refが与えられて1更用されるものであり、以下それ
ぞれの使用態様eておける動作を[牌1明する。
ゲート電極および第3のFETJのケ−ト電汐にそれぞ
れ対応して基準電圧Vre fおよび入力信号I 、N
が与えられ、あるいは上記とは11条に第5 lX1
(b)に示すように第1のFg’rzのゲート(・C入
力信号IN、第3のFET、?のゲートに病Lヲ軍圧V
refが与えられて1更用されるものであり、以下それ
ぞれの使用態様eておける動作を[牌1明する。
第51ffi(a)の回路において、久方信号INレベ
ルが基準電圧Vrefと等しいもしくはそれよシ商いと
きには、ん3のFET3はオフになるが、第1OFET
7および第2のFET2はオンになり、第4のFET4
もオンになる。したがって、棺4のFET 4のドレイ
ンは″0″レベル(GND電位)Kなる。上記とは逆に
、入力レベルが基準電圧Vrefより低いときには、第
3のFET3はオンレζなるが、第1のF ET 1.
第2のFET2、第4のFF、T4はオフになる。
ルが基準電圧Vrefと等しいもしくはそれよシ商いと
きには、ん3のFET3はオフになるが、第1OFET
7および第2のFET2はオンになり、第4のFET4
もオンになる。したがって、棺4のFET 4のドレイ
ンは″0″レベル(GND電位)Kなる。上記とは逆に
、入力レベルが基準電圧Vrefより低いときには、第
3のFET3はオンレζなるが、第1のF ET 1.
第2のFET2、第4のFF、T4はオフになる。
したがって、化3のFETMのドレインは11′ルベル
(VDD電位)になる。即ち、入力信号I Nは基準電
圧Vre fにより論理判定され、判定論理レベルとは
逆の論理レベルの出力○UTが得られるので、第5図(
a)の回路はインバータ機能を有する。
(VDD電位)になる。即ち、入力信号I Nは基準電
圧Vre fにより論理判定され、判定論理レベルとは
逆の論理レベルの出力○UTが得られるので、第5図(
a)の回路はインバータ機能を有する。
第5図(b)の回路において、入力信号■I4レベルが
基準電圧Vref と等しいあるいはそれよシ低いと
きには、第3のFET3はオフになるが、第110FE
Tおよび第20FET2はオンになシ、第4のFET4
もオンになる。しだがって、第4のFET 4のドレイ
ンは″0″レベル(f)ND正電位になる。上記とは逆
に、入力レベルが基準電圧Vref よシ高いときに
は、第3のFET3はオンになるが、第1のFET2、
第20FET2、第4のFET(はオフになる。
基準電圧Vref と等しいあるいはそれよシ低いと
きには、第3のFET3はオフになるが、第110FE
Tおよび第20FET2はオンになシ、第4のFET4
もオンになる。しだがって、第4のFET 4のドレイ
ンは″0″レベル(f)ND正電位になる。上記とは逆
に、入力レベルが基準電圧Vref よシ高いときに
は、第3のFET3はオンになるが、第1のFET2、
第20FET2、第4のFET(はオフになる。
したがって、第3のFET3のドレインは″1″レベル
(VDD 電6t )になる。即ち、入力信号I Nは
基準電圧Vref によシ論理判定され、判定論理レ
ベルと同じ論理レベルの出力OUTが得られるので、第
5図(b)の回路はノンインバータ機能を有する。
(VDD 電6t )になる。即ち、入力信号I Nは
基準電圧Vref によシ論理判定され、判定論理レ
ベルと同じ論理レベルの出力OUTが得られるので、第
5図(b)の回路はノンインバータ機能を有する。
上述した第5図(a) l (b)のいずれの回路にお
いても、椛準電圧Vref を単に変更するだけで回
路閾値を変更することができ、しかも使用するMOS−
FETの製造後において回路1ffi値を変更すること
ができるので、汎用性に富んでいる。
いても、椛準電圧Vref を単に変更するだけで回
路閾値を変更することができ、しかも使用するMOS−
FETの製造後において回路1ffi値を変更すること
ができるので、汎用性に富んでいる。
なお、本発明は上記実施例に限るものではなく、第5図
(a) 、 (b)の!fi F E Tの導電型を逆
にすると共に各は源の駐屯関係を逆にして第6図(a)
(b) K示すように変形実施することも可能である。
(a) 、 (b)の!fi F E Tの導電型を逆
にすると共に各は源の駐屯関係を逆にして第6図(a)
(b) K示すように変形実施することも可能である。
gg 6 rs+ (a)の回路においては、第1〜第
4のMOS −FET 1’ 〜4’により、前述し
た第5図(a)の回路の動作に準じてインバータとして
の動作がit+られる。寸だ、vJ61図(b)の回路
においては、犯1〜第4のMO8FETI’〜4′によ
り、前述した第515U (b)の回路の動作に準じて
ノンインバータとしての・助1乍が1外られる。
4のMOS −FET 1’ 〜4’により、前述し
た第5図(a)の回路の動作に準じてインバータとして
の動作がit+られる。寸だ、vJ61図(b)の回路
においては、犯1〜第4のMO8FETI’〜4′によ
り、前述した第515U (b)の回路の動作に準じて
ノンインバータとしての・助1乍が1外られる。
上述したように本発明の閾値可変論理回路によれ(−丁
、回路l−i値を簡単にかつ回路使用段階でも自由に疼
jPiでき、しかもインバータまたはノンイン・・−夕
としての機能を選択することができ、CMO8集積回路
などに使用して好適である。
、回路l−i値を簡単にかつ回路使用段階でも自由に疼
jPiでき、しかもインバータまたはノンイン・・−夕
としての機能を選択することができ、CMO8集積回路
などに使用して好適である。
第1図は従来のシュミット・トリガ回路を示す回路1メ
1、第2図は第1図のCM OSインバータを取り出し
、で示す回路1ぶ1、兎3図1fま第21.’c+のイ
ンバータの特性曲線図、第4図は第11ネ1の回路fi
l+作を示すタイミングチャート、第5図は本発明VC
5る閾値可変、倫理回路の一実施例を示すもので、同図
(1)はインバータ回路、同図(b)はノンインバータ
回路を示す回路図、第61囚は本発明の他の実施列を示
すもので、同図(a)はインバータ回路、同LJ (b
)はノンインバータ回路を示す回路図である。 1〜4,1′〜4′・・・MOS−FET 、 I N
・・・入力信号、Vref・・・基$電圧。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第1図
第2図 第3図 第4図 第5図 (a) (b) 第6図 (a) (b)
1、第2図は第1図のCM OSインバータを取り出し
、で示す回路1ぶ1、兎3図1fま第21.’c+のイ
ンバータの特性曲線図、第4図は第11ネ1の回路fi
l+作を示すタイミングチャート、第5図は本発明VC
5る閾値可変、倫理回路の一実施例を示すもので、同図
(1)はインバータ回路、同図(b)はノンインバータ
回路を示す回路図、第61囚は本発明の他の実施列を示
すもので、同図(a)はインバータ回路、同LJ (b
)はノンインバータ回路を示す回路図である。 1〜4,1′〜4′・・・MOS−FET 、 I N
・・・入力信号、Vref・・・基$電圧。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第1図
第2図 第3図 第4図 第5図 (a) (b) 第6図 (a) (b)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (11第1乃至楊4(0MO8−F’ET(eiゲート
型電界効泌トランジスタ)のうち、第11第30FET
/d第14電型であり、射2、第4のFETは上記第1
4ft型とは逆の導電型の第2導電型であって、第1電
源と第2電源との間に前記fjlのFE’l’と第2の
FE’rとが直列に接続されると共に第30FETと第
4のFgTとが直列に接続され、第20FE’I’のド
レインおよびゲートと第4のFETのゲートとが共3F
!i接続されてなシ、第1のFETのゲートおよび第3
のFETのゲートに入力信号あるいは閾値設定用基準@
圧の相異なる一方が与えられ、海!30FETと第4の
FETとの接続点から出力を取シ出すことを特徴とする
閾値i15]変論理回路。 +21前記第1のFBTのゲートに前記基準電圧が与え
られ、第3のFgTのゲートに前記入力信号が与えられ
ることによって、インバータ回路を形成することを特徴
とする特許 求の範囲第1項記載の閾値可変論理回路。 (3)前記第1のFETのゲートに前記入力信号が与え
られ、第3のFETのゲートに前記基準電圧が与えられ
ることによって、ノンインバータ回路を形成することを
特徴とする前記特許請求の範囲第1項記載の閾値可変論
理回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57175609A JPS5964916A (ja) | 1982-10-06 | 1982-10-06 | 閾値可変論理回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57175609A JPS5964916A (ja) | 1982-10-06 | 1982-10-06 | 閾値可変論理回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5964916A true JPS5964916A (ja) | 1984-04-13 |
Family
ID=15999081
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57175609A Pending JPS5964916A (ja) | 1982-10-06 | 1982-10-06 | 閾値可変論理回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5964916A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4782251A (en) * | 1986-01-09 | 1988-11-01 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Level conversion circuit |
| US5440242A (en) * | 1992-05-27 | 1995-08-08 | Consorzio Per La Ricerca Sulla Microelettronica Nel Mezzogiorno | CMOS pull-up input network |
| US5477170A (en) * | 1994-02-17 | 1995-12-19 | Nec Corporation | Comparator capable of preventing large noise voltage |
| FR2735301A1 (fr) * | 1995-06-09 | 1996-12-13 | Sgs Thomson Microelectronics | Inverseur cmos a charge active |
| US5675268A (en) * | 1995-10-03 | 1997-10-07 | Motorola, Inc. | Overcurrent detection circuit for a power MOSFET and method therefor |
-
1982
- 1982-10-06 JP JP57175609A patent/JPS5964916A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4782251A (en) * | 1986-01-09 | 1988-11-01 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Level conversion circuit |
| US5440242A (en) * | 1992-05-27 | 1995-08-08 | Consorzio Per La Ricerca Sulla Microelettronica Nel Mezzogiorno | CMOS pull-up input network |
| US5477170A (en) * | 1994-02-17 | 1995-12-19 | Nec Corporation | Comparator capable of preventing large noise voltage |
| FR2735301A1 (fr) * | 1995-06-09 | 1996-12-13 | Sgs Thomson Microelectronics | Inverseur cmos a charge active |
| US5675268A (en) * | 1995-10-03 | 1997-10-07 | Motorola, Inc. | Overcurrent detection circuit for a power MOSFET and method therefor |
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