JPS5969968A - 埋込ゲ−ト型ゲ−トタ−ンオフサイリスタ - Google Patents

埋込ゲ−ト型ゲ−トタ−ンオフサイリスタ

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Publication number
JPS5969968A
JPS5969968A JP57180488A JP18048882A JPS5969968A JP S5969968 A JPS5969968 A JP S5969968A JP 57180488 A JP57180488 A JP 57180488A JP 18048882 A JP18048882 A JP 18048882A JP S5969968 A JPS5969968 A JP S5969968A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
gate
thyristor
turn
region
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP57180488A
Other languages
English (en)
Inventor
Satoshi Ishibashi
石橋 聰
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Meidensha Corp
Meidensha Electric Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Meidensha Corp
Meidensha Electric Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Meidensha Corp, Meidensha Electric Manufacturing Co Ltd filed Critical Meidensha Corp
Priority to JP57180488A priority Critical patent/JPS5969968A/ja
Publication of JPS5969968A publication Critical patent/JPS5969968A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D62/00Semiconductor bodies, or regions thereof, of devices having potential barriers
    • H10D62/10Shapes, relative sizes or dispositions of the regions of the semiconductor bodies; Shapes of the semiconductor bodies
    • H10D62/13Semiconductor regions connected to electrodes carrying current to be rectified, amplified or switched, e.g. source or drain regions
    • H10D62/141Anode or cathode regions of thyristors; Collector or emitter regions of gated bipolar-mode devices, e.g. of IGBTs
    • H10D62/148Cathode regions of thyristors

Landscapes

  • Thyristors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は埋込ゲート型ゲートターンオフ(GTO)サイ
リスタに関する。
この種のGTOサイリスタは、通常のカンード分割型G
TOサイリスタに比べてゲート・カソード間の絶縁が容
易になるし1面積利用効率や熱抵抗特性の面で優れる等
の多くの利点を持っている( が1反面にはターンオンゲート電流の利用効率が劣るも
のであった。このターンオンゲート電流の利用効率につ
いて第1図及び第2図で説明する。
第1図(A)はカソード分割型GTOサイリスクの断面
図を示し1分割されたカソードN1層はp。
ベース層とは段差を持って構成され、N9層上の分割カ
ソード′Wf極Kd(!: P 、層上のゲート電極G
/とは段差絶縁にされる。図中、には分割カソード電極
Kdに一括接続されるカンード電り、Aはアノード電極
である。このGTOサイリスタは、ターンオンさせるだ
めのゲート電流が分割カソードN。
層を取り囲むゲート電極G/から夫々のカソードN1層
(エミッタ)へ流れ、分割カソードN1層の個々には第
19(B)に拡大図で示すように隣接境界部工、にピー
クを持って分布電流として流れ、N9エミンタ投影下の
” 1  + Ns  * Ps  r Nsサイリス
タ部分はこのゲート近傍部分工、からオンし始める〇 一万、第2図に示す埋込ゲート型GTOザイリスタは、
Pgベース層中に格子状や短冊状の高濃度不純物層p、
+全埋込形成し、該?を層をゲートとしてゲート電極G
、にオーム接続しでいる。このサイリスタにおけるオン
ゲート電流は、連結された埋込ゲートP*+層から単一
のエミッタ87層に向かって矢印で示すように流れる。
このとき。
ターンオンする実効的なサイリスタ部は埋込部P9+層
のない領域Sになり、この投影領域SでのN。
エミツタ層に流れ込むゲート電流成分のみがオンゲート
電流として有効なものになる。すなわち、分布ゲート電
流成分のうち、埋込ゲート上部のN。
領域に流れ込むゲート電流成分によってN、エミッタか
ら電子の注入があっても、これは高濃度埋込層P、+で
トラップされてP、ベース層からの注入を喚起しない無
効成分になる。従って、埋込ゲート型GTOサイリスタ
ではゲートターンオン電流が分割カソード型のそれに比
べて効率的に劣るものであった。
本発明の目的は埋込ゲート型GTOサイリスクのターン
オンゲート電流を効率良く供給できるサイリスタ構造全
提供するにある。
第3図は本発明の一実施例を示す埋込ゲー ト型GTO
サイリスタの断面図である。同図が第2図と異なる部分
は、高濃度不純物層になるP9+埋込ゲート層に対向す
るN、エミツタ層領域が浅く形成きれ、Pt層に対向し
ないN、領域が深く形成された点にある。Pt層は図示
のように21層中に選択的な不純物拡散で形成され、P
一層上には低濃度不純物層p、−が形成される。p、+
層は前述のように所定のパターンに形成されて端部でゲ
ー1−[伜G!がオーミンク接続で形成される。N。
層はp、″″層上設けられてNエミツタ層となる。
このN9層は分割されない単一の構造であるが。
選択的にその深さが選ばれ、P一層の投影域では浅く、
P、+層の投影域から外れた領域が深く形成される。こ
の非投影領域は深さが200μ〜400μに選ばれ、投
影領域は半分(100μ〜?00μ)以下に選ばれる。
こうしたN9層形成は第4必(A)に示すようにまずP
、一層上にリンの選択拡散で非投影領−域のN2層を形
成し、次いで第4図(B)に示すように全面にリン拡散
して投影領域を形成する。
こうした構造により、ターンオンゲート電流がP、領域
からN1層へ流れるとき、この電流分布はN2層の深い
領域(P、l+の非投影領域)の端部で電流密度が高く
、中央部(P−の投影領域)ではN2層が浅いために電
流密度が低くなる。従って、ターンオンする実効的なサ
イリスタ部での鳥層からの電子の注入を喚起し易くなシ
、ゲート電流の利用効率を高めて最小点弧電流の低減を
図ることができる。本実施例の実験では最小点弧電流が
従来の埋込ゲート型に比べて約1/1oに低減した。
以上のとおp1本発明によれば、埋込ゲート型GTOサ
イリスタの特徴を損なうことなく、夕一ンオンゲート電
流の利用効率を高め、最小点弧■流の低減ひいては電流
拡がり速度を上げてa i/a を耐量の改善全図るこ
とができる。
なお、実施例においてよ41層の浅い領域幅はp。
層の投影領域幅忙必ずしも一致させることを要するもの
でなく1幅の大小に差異がある場合にも同等の作用効果
を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の分割カソード型G、TOサイリスタの断
面図、第2図は従来の埋込ゲート型GTOサイリヌタの
断面図、第3図は本発明の一実施例を示す断面図、第4
図は第3図におけるN、カソード層の形成工程金示す断
Ifi図である。 K・・・カソード電極、A・・・アノード電極、G/1
−02・・・ゲート1M極、P9+・・・埋込ゲート層
、N、・・・カソード電極。 第1図(B) d 第2図 に 第3図 に 手続補正書(自発) 1.事イ′1の表示 昭和67年特許願第180488号 2、発明の名称 埋込ゲート型ゲートターンオフサイリスタ3゜補正をす
る者 事件との関係  出願人 (610)株式会社 明 電 舎 4、代理人〒104 東京都中央区明石町1番29号 液済会ビル(1)  
明細書「発明の詳細な説明」の欄a補正の内容 300−

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. j、N、P、N、の4層と、上記21層中に所定のパタ
    ーンで形成されてゲート電極に接続される高濃度不純物
    のP、中層を備える埋込ゲート型ゲートターンオフサイ
    リスタにおいて、上記89層は上記P、十中層投影され
    る領域を浅(P、中層が投影されない領域を深くした構
    造を特徴とする埋込ゲート型ゲートターンオフサイリス
    タ。
JP57180488A 1982-10-14 1982-10-14 埋込ゲ−ト型ゲ−トタ−ンオフサイリスタ Pending JPS5969968A (ja)

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JP57180488A JPS5969968A (ja) 1982-10-14 1982-10-14 埋込ゲ−ト型ゲ−トタ−ンオフサイリスタ

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JP57180488A JPS5969968A (ja) 1982-10-14 1982-10-14 埋込ゲ−ト型ゲ−トタ−ンオフサイリスタ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5969968A true JPS5969968A (ja) 1984-04-20

Family

ID=16084103

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57180488A Pending JPS5969968A (ja) 1982-10-14 1982-10-14 埋込ゲ−ト型ゲ−トタ−ンオフサイリスタ

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54131885A (en) * 1978-04-04 1979-10-13 Meidensha Electric Mfg Co Ltd Gate turn-off thyristor

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54131885A (en) * 1978-04-04 1979-10-13 Meidensha Electric Mfg Co Ltd Gate turn-off thyristor

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