JPS5994010A - 検出器 - Google Patents
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- JPS5994010A JPS5994010A JP20418582A JP20418582A JPS5994010A JP S5994010 A JPS5994010 A JP S5994010A JP 20418582 A JP20418582 A JP 20418582A JP 20418582 A JP20418582 A JP 20418582A JP S5994010 A JPS5994010 A JP S5994010A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/12—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
- G01D5/244—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing characteristics of pulses or pulse trains; generating pulses or pulse trains
- G01D5/247—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing characteristics of pulses or pulse trains; generating pulses or pulse trains using time shifts of pulses
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、磁気センサと被測定体とにより主に長さを
検出する検出器に関するもので、とくに磁気センサの改
団に関するものである。
検出する検出器に関するもので、とくに磁気センサの改
団に関するものである。
従来のこの種の検出器を第1図以下の図面を用いて説明
する。
する。
第1図は検出器の概略説明図であり、第2図は従来の検
出器における磁気検出体を説明するための要部説明図で
あろう 第1図、第2図にお(・て、1は被測定体で、幅りより
なる磁性体1aが等間隔χで配列されている。
出器における磁気検出体を説明するための要部説明図で
あろう 第1図、第2図にお(・て、1は被測定体で、幅りより
なる磁性体1aが等間隔χで配列されている。
そして、この被測定体1の製作にあたっては、非磁性体
よりなる基板上に磁性体1aを固着するか、あるいは、
第1図に図示したように、磁性体よりなる基板をプレス
加工などによりパンチングしであるいはエツチング加工
などにより貫通穴ibを加工することによって残余の部
分を磁性体1aとして形成してやって尤よい。2は磁気
センサで、磁気検出体ろと、この磁気検出体乙の上側に
位置したバイアス用永久磁石4とを有している。
よりなる基板上に磁性体1aを固着するか、あるいは、
第1図に図示したように、磁性体よりなる基板をプレス
加工などによりパンチングしであるいはエツチング加工
などにより貫通穴ibを加工することによって残余の部
分を磁性体1aとして形成してやって尤よい。2は磁気
センサで、磁気検出体ろと、この磁気検出体乙の上側に
位置したバイアス用永久磁石4とを有している。
磁気検出体ろは第2図に拡大図示したように、InSb
、 QaAs などの化学式で表わされる物質を主成
分とする半導体の磁気抵抗効果を利用した2つの磁気抵
抗素子5a、5bを、上述した被測定体1の磁気体1a
の間隔χに対して17々χずらして差動接続した第1の
磁気検出体5と、同じく2つの磁気抵抗素子6a、6b
を1/2χずらして差動接続した第2の磁気検出体6と
からなり、第1の磁気検出体5と第2の磁気検出体6と
を互いに1/4χずらして一直線上にくし目状に、すな
わち、5a、6a、5b、61)の順に交互に位置する
ように形成されている。
、 QaAs などの化学式で表わされる物質を主成
分とする半導体の磁気抵抗効果を利用した2つの磁気抵
抗素子5a、5bを、上述した被測定体1の磁気体1a
の間隔χに対して17々χずらして差動接続した第1の
磁気検出体5と、同じく2つの磁気抵抗素子6a、6b
を1/2χずらして差動接続した第2の磁気検出体6と
からなり、第1の磁気検出体5と第2の磁気検出体6と
を互いに1/4χずらして一直線上にくし目状に、すな
わち、5a、6a、5b、61)の順に交互に位置する
ように形成されている。
7は第1及び第2の磁気検出体5.6の入力端子、8は
アース端子、9.10はそれぞれ第1及び第2の磁気検
出体5、乙の出力端子である。そして、いま入力端子7
に直流電圧を印加して、磁気センサ2を被測定体1に対
して移動させると、出力端子9.10から互いに1/4
χ(90°)位相のずルたほぼ正弦波状の信号が得られ
ることになる。つぎに、磁気センサ2と被測定体1とを
相対的に移動させたときに第1の磁気検出体5より生ず
る正弦波状の信号について第3図に図示した概略図を参
照しながら説明する。
アース端子、9.10はそれぞれ第1及び第2の磁気検
出体5、乙の出力端子である。そして、いま入力端子7
に直流電圧を印加して、磁気センサ2を被測定体1に対
して移動させると、出力端子9.10から互いに1/4
χ(90°)位相のずルたほぼ正弦波状の信号が得られ
ることになる。つぎに、磁気センサ2と被測定体1とを
相対的に移動させたときに第1の磁気検出体5より生ず
る正弦波状の信号について第3図に図示した概略図を参
照しながら説明する。
第6図(イ)の状態から同図(ニ)の状態まで、磁気セ
ンサ2と被測定体1の磁性体のうちあるひとつの磁性体
1aが相対的に移動するものとし、磁性体1aノ幅トハ
各磁気抵抗素子5a、6a、51)、6bの幅(/−1
)とこれら磁気抵抗素子同志のすき間tの2倍を加えた
長さ、すなわちI、= l +1とする。
ンサ2と被測定体1の磁性体のうちあるひとつの磁性体
1aが相対的に移動するものとし、磁性体1aノ幅トハ
各磁気抵抗素子5a、6a、51)、6bの幅(/−1
)とこれら磁気抵抗素子同志のすき間tの2倍を加えた
長さ、すなわちI、= l +1とする。
また、第6図(イ)〜同図(ニ)における相対的な移動
過程によって生ずる信号の波形状態を第4図の波形図に
示す。尚、第4図中縦軸は印加電圧レベルを、横軸に移
動距離をとり、第6図の(イ)に示すように磁気抵抗素
子5aの左端面と磁性体1aの右端面とが一致した状態
では、2つの磁気抵抗素子5a、51〕を差動接続した
ため出力端子9の出力電圧は印加電圧■の1//2の中
点レベル(1/2 V )に安定している。この状態か
ら第3図(ロ)に示す状態まで磁性体1aを図の矢印方
向(右方向)に徐々に移動する過程では、磁気抵抗素子
5aにバイアス磁石4(第1図に図示)からの磁束が多
くなり、抵抗値が増加するため、印加電圧Vレベルすな
わちピーク値Vまで電圧が増加していく。
過程によって生ずる信号の波形状態を第4図の波形図に
示す。尚、第4図中縦軸は印加電圧レベルを、横軸に移
動距離をとり、第6図の(イ)に示すように磁気抵抗素
子5aの左端面と磁性体1aの右端面とが一致した状態
では、2つの磁気抵抗素子5a、51〕を差動接続した
ため出力端子9の出力電圧は印加電圧■の1//2の中
点レベル(1/2 V )に安定している。この状態か
ら第3図(ロ)に示す状態まで磁性体1aを図の矢印方
向(右方向)に徐々に移動する過程では、磁気抵抗素子
5aにバイアス磁石4(第1図に図示)からの磁束が多
くなり、抵抗値が増加するため、印加電圧Vレベルすな
わちピーク値Vまで電圧が増加していく。
第3図(ロ)の状態から第6図(ハ)の状態まで磁性体
1aが距離2tだけ移動する過程においては、磁気抵抗
素子5aへの磁束は一定のため、すなわち抵抗値は変化
しないためピーク値Vはそのまま保持される。第3図(
ハ)の状態から第ろ図(ニ)の状態まで磁性体1aが移
動する過程においては、磁気抵抗素子5aへ作用する磁
石よりの磁束が低下されるため徐々に出力電圧が低下し
て行き、第6図(ニ)の状態では第6図(イ)の状態の
時と同じ位加電圧Vの1/2の中点レベル1/2Vに達
する。また、図示はしな(・が、以下同様に磁性体1a
を第6図(ニ)の状態からさらに矢印方向(右方向)に
移動していくと、今度は、磁気抵抗素子5aと差動接続
さ八たアース側の磁気抵抗素子51)ンよって、第4図
に図示したように電圧のゼロレベル側で波形が変化して
いくことになる。尚、と八までは第1の磁気検出体5に
ついてのみ説明してきたが、第1の磁気検出体5と1/
4χ(90°)位相をずらして2つの磁気抵抗素子6a
、6bを差動接続した第2の磁気検出体6の出力端子1
0からも同様に正弦波状の出力信号が得られる。この第
2の磁気検出体6の出力信号波形を第4図中破線で図示
する。そこで、つぎに第4図に示したピーク値■での波
形の平坦部分を解消すべ(、第5図に図示したように磁
性体1aの幅りを各磁気抵抗素子5a、6a、51)、
6+)の幅(l−1)と等しく、すなわち■ノー1−1
として第6図及び第4図で説明したと同様に磁性体1a
を第1の磁気検出体5の差動接続された磁気抵抗素子5
a、51)に対して第5図(イ)から(ニ)まで移動さ
せたとき、第6図の実線で示したような出力波形が得ら
れた。第6図に示した出力波形をみると、ピーク値■に
おける波形の平坦部分はなくなったが、今度は中点レベ
ルである1/2■において波形の平坦部分が現わnでし
まった。(尚、第6図中破線で示した波形は第2の磁気
検出体乙による出力波形を示す。)このことは、第5図
(ハ)の状態から同図(ニ)の状態までの移動距離であ
るすき間tの2倍の距離間において、入力端子7側に接
続された磁気抵抗素子5aとアース端子8側に接続され
た磁気抵抗素子51〕との不感帯域すなわち安定位置に
磁性体1aが位置しているためであることが分った。こ
のように、第2図に図示した従来の磁気検出体の配置構
造のように、第1と第2の磁気検出体5.6を同一直線
」二に交互に配着する構造では、それぞへの磁気抵抗素
子間にすき間tを設けてやらなければならず、どうして
も出力波形に平坦部分が生じてしまい、この平坦部分を
有した出力信号をゼロクロス点でコンパレータを通して
矩形波に波形整形してパルスを作り、これを計測信号と
して分割したとき、分割精度の悪化を起たし検出器と1
−ての粘度が低下するといった不都合を生じていた。
1aが距離2tだけ移動する過程においては、磁気抵抗
素子5aへの磁束は一定のため、すなわち抵抗値は変化
しないためピーク値Vはそのまま保持される。第3図(
ハ)の状態から第ろ図(ニ)の状態まで磁性体1aが移
動する過程においては、磁気抵抗素子5aへ作用する磁
石よりの磁束が低下されるため徐々に出力電圧が低下し
て行き、第6図(ニ)の状態では第6図(イ)の状態の
時と同じ位加電圧Vの1/2の中点レベル1/2Vに達
する。また、図示はしな(・が、以下同様に磁性体1a
を第6図(ニ)の状態からさらに矢印方向(右方向)に
移動していくと、今度は、磁気抵抗素子5aと差動接続
さ八たアース側の磁気抵抗素子51)ンよって、第4図
に図示したように電圧のゼロレベル側で波形が変化して
いくことになる。尚、と八までは第1の磁気検出体5に
ついてのみ説明してきたが、第1の磁気検出体5と1/
4χ(90°)位相をずらして2つの磁気抵抗素子6a
、6bを差動接続した第2の磁気検出体6の出力端子1
0からも同様に正弦波状の出力信号が得られる。この第
2の磁気検出体6の出力信号波形を第4図中破線で図示
する。そこで、つぎに第4図に示したピーク値■での波
形の平坦部分を解消すべ(、第5図に図示したように磁
性体1aの幅りを各磁気抵抗素子5a、6a、51)、
6+)の幅(l−1)と等しく、すなわち■ノー1−1
として第6図及び第4図で説明したと同様に磁性体1a
を第1の磁気検出体5の差動接続された磁気抵抗素子5
a、51)に対して第5図(イ)から(ニ)まで移動さ
せたとき、第6図の実線で示したような出力波形が得ら
れた。第6図に示した出力波形をみると、ピーク値■に
おける波形の平坦部分はなくなったが、今度は中点レベ
ルである1/2■において波形の平坦部分が現わnでし
まった。(尚、第6図中破線で示した波形は第2の磁気
検出体乙による出力波形を示す。)このことは、第5図
(ハ)の状態から同図(ニ)の状態までの移動距離であ
るすき間tの2倍の距離間において、入力端子7側に接
続された磁気抵抗素子5aとアース端子8側に接続され
た磁気抵抗素子51〕との不感帯域すなわち安定位置に
磁性体1aが位置しているためであることが分った。こ
のように、第2図に図示した従来の磁気検出体の配置構
造のように、第1と第2の磁気検出体5.6を同一直線
」二に交互に配着する構造では、それぞへの磁気抵抗素
子間にすき間tを設けてやらなければならず、どうして
も出力波形に平坦部分が生じてしまい、この平坦部分を
有した出力信号をゼロクロス点でコンパレータを通して
矩形波に波形整形してパルスを作り、これを計測信号と
して分割したとき、分割精度の悪化を起たし検出器と1
−ての粘度が低下するといった不都合を生じていた。
この発明は係る上記の欠点に鑑みなされたもので、出力
波形上の平坦部分を引きおこす要因である磁気抵抗素子
間のすき間tに着目して実験を重ね、このすき間tを無
(すことによって、波形上の平坦部分の全く生じない出
力信号が得ら九る精度の向上した検出器の補供をその目
的としたものである。
波形上の平坦部分を引きおこす要因である磁気抵抗素子
間のすき間tに着目して実験を重ね、このすき間tを無
(すことによって、波形上の平坦部分の全く生じない出
力信号が得ら九る精度の向上した検出器の補供をその目
的としたものである。
上記の目的を達成するための、この発明の要旨とすると
ころは、前掲の特許請求の範囲に掲記した通りである。
ころは、前掲の特許請求の範囲に掲記した通りである。
つぎに、この発明の好適な実施例につい・で、第7図以
下の図面を参照して詳細に説明する。尚、以下に説明す
る磁気検出体の配置構造以外は第1図に示した構造と同
一である、 第7図はこの発明の磁気検出体の配置構造を示した説明
図で、符号11はInch、GaA、s などの物質
を主成分とする半導体の磁気抵抗効果を利用した2つの
磁気抵抗素子t1a、111)を被測定体1の磁性体1
aの間隔χに対して1//2χずらして差動接続した第
1の磁気検出体であり、符号12は同じく半′導体の磁
気抵抗効果を利用した2つの磁気抵抗素子12a、12
bを磁性体1aの間隔χに対して1/2χずらして差動
接続した第2の磁気検出体である。
下の図面を参照して詳細に説明する。尚、以下に説明す
る磁気検出体の配置構造以外は第1図に示した構造と同
一である、 第7図はこの発明の磁気検出体の配置構造を示した説明
図で、符号11はInch、GaA、s などの物質
を主成分とする半導体の磁気抵抗効果を利用した2つの
磁気抵抗素子t1a、111)を被測定体1の磁性体1
aの間隔χに対して1//2χずらして差動接続した第
1の磁気検出体であり、符号12は同じく半′導体の磁
気抵抗効果を利用した2つの磁気抵抗素子12a、12
bを磁性体1aの間隔χに対して1/2χずらして差動
接続した第2の磁気検出体である。
これら第1及び第2の磁気検出体11及び12は、同一
平面上で、互いに1/4χ位相をずらして、しかも互い
に交わることがないように適宜なギャップGを隔てて平
行線上に平行配置さrている。そして、各磁気抵抗素子
11a、111)、12a、 12+) ノ幅lは等し
く、−シかも第2図に図示した従来例のように一直線上
にくし目状に配列したとき、各磁気抵抗素子間にはすき
間(第2図中符号tで示された部分)が生じることがな
いように形成されてぃる。16及び14は第1の磁気検
出体11の入力端子及び出力端子、15及び16は第2
の磁気検出体12の入力端子及び出力端子、17はアー
ス端子である。尚、第1及び第2の磁気検出体11及び
12にそれぞれ入力端子13.14を設けたのは、異な
る入力波形、たとえば交流のようにSIN波形とCO8
波形をそれぞれに入力できるようにしたものであり、直
流電圧を印加する場合には、第2図の従来例のように共
通入力端子としてやっても勿論よい。
平面上で、互いに1/4χ位相をずらして、しかも互い
に交わることがないように適宜なギャップGを隔てて平
行線上に平行配置さrている。そして、各磁気抵抗素子
11a、111)、12a、 12+) ノ幅lは等し
く、−シかも第2図に図示した従来例のように一直線上
にくし目状に配列したとき、各磁気抵抗素子間にはすき
間(第2図中符号tで示された部分)が生じることがな
いように形成されてぃる。16及び14は第1の磁気検
出体11の入力端子及び出力端子、15及び16は第2
の磁気検出体12の入力端子及び出力端子、17はアー
ス端子である。尚、第1及び第2の磁気検出体11及び
12にそれぞれ入力端子13.14を設けたのは、異な
る入力波形、たとえば交流のようにSIN波形とCO8
波形をそれぞれに入力できるようにしたものであり、直
流電圧を印加する場合には、第2図の従来例のように共
通入力端子としてやっても勿論よい。
このような構成において、入力端子13及び15に直流
電圧を印加し、磁気センサ2を被゛測定体1に対して移
動さぜたときの、第1の磁気検出体11の出力端子14
に得られる出力信号波形について、第8図及び第9図を
参照して説明する。尚、磁性体1aの幅[Jは各磁気抵
抗素子11a、111]、12a 、121)の幅eと
同一であるものとして説明する。
電圧を印加し、磁気センサ2を被゛測定体1に対して移
動さぜたときの、第1の磁気検出体11の出力端子14
に得られる出力信号波形について、第8図及び第9図を
参照して説明する。尚、磁性体1aの幅[Jは各磁気抵
抗素子11a、111]、12a 、121)の幅eと
同一であるものとして説明する。
第8図(イ)に示すように磁気抵抗素子11aの左端面
と磁性体1aの右端面とが一致した状態では、2つの磁
気抵抗素子11a、111〕を差動接続したため出力端
子14の出力電圧は印加電圧Vの1//2の中点レベル
< 1/2 V )で安定している。この状態から第8
図(ロ)に示す状態まで磁性体1aを図の矢印方向(右
方向)に徐々に移動する過程では、磁気抵抗素子11a
にバイアス磁石4からの磁束が多くなり、磁気抵抗素子
11aの抵抗値が増加するため、印加電圧Vレベルすな
わちピーク値■まで電圧が増加して行く。第8図(ロ)
の状態から第8図()・)の状態まで磁性体1aが移動
する過程においては、磁気抵抗素子11aへ作用する磁
束が徐々に低下するため、出力電圧も徐々に低下し、第
8図(・・)の状態では第8図(イ)の出力電圧と同様
中点レベルの電圧1/2Vとなる。第8図(・・)の状
態から第8図(ニ)の状態 まで移動する過程において
は、今度は磁気抵抗素子11aと差動接続さ九たアース
側の磁気抵抗素子111〕と磁性体1aとの関係になる
ため、出力端子14よりの出力電圧はアース、すなわち
ゼロレベル側に振られることになるため、出力波形は、
1//2vレベルからゼロレベルに向って徐々に低下し
ていき、第8図(ニ)の時点では、ゼロレベル点に達す
る。第8図(ニ)の状態から、さらに磁性体1aを移動
して第8図(ホ)、すなわち第8図(イ)の状態まで移
動する過程では、アース側の磁気抵抗素子111)の磁
束が低下するため、出力波形は1/2Vレベルに向って
徐々に増加していき、第8図(ホ)(第8図(イ))の
時点では1/2Vレベル点に達して、出力波形の1周期
すなわち磁性体1aの間隔χの1サイクルが終り、第8
図(ホ)の状態からさらに磁性体1aを移動すると第9
図に示した出力波形が周期的に出力されることになる。
と磁性体1aの右端面とが一致した状態では、2つの磁
気抵抗素子11a、111〕を差動接続したため出力端
子14の出力電圧は印加電圧Vの1//2の中点レベル
< 1/2 V )で安定している。この状態から第8
図(ロ)に示す状態まで磁性体1aを図の矢印方向(右
方向)に徐々に移動する過程では、磁気抵抗素子11a
にバイアス磁石4からの磁束が多くなり、磁気抵抗素子
11aの抵抗値が増加するため、印加電圧Vレベルすな
わちピーク値■まで電圧が増加して行く。第8図(ロ)
の状態から第8図()・)の状態まで磁性体1aが移動
する過程においては、磁気抵抗素子11aへ作用する磁
束が徐々に低下するため、出力電圧も徐々に低下し、第
8図(・・)の状態では第8図(イ)の出力電圧と同様
中点レベルの電圧1/2Vとなる。第8図(・・)の状
態から第8図(ニ)の状態 まで移動する過程において
は、今度は磁気抵抗素子11aと差動接続さ九たアース
側の磁気抵抗素子111〕と磁性体1aとの関係になる
ため、出力端子14よりの出力電圧はアース、すなわち
ゼロレベル側に振られることになるため、出力波形は、
1//2vレベルからゼロレベルに向って徐々に低下し
ていき、第8図(ニ)の時点では、ゼロレベル点に達す
る。第8図(ニ)の状態から、さらに磁性体1aを移動
して第8図(ホ)、すなわち第8図(イ)の状態まで移
動する過程では、アース側の磁気抵抗素子111)の磁
束が低下するため、出力波形は1/2Vレベルに向って
徐々に増加していき、第8図(ホ)(第8図(イ))の
時点では1/2Vレベル点に達して、出力波形の1周期
すなわち磁性体1aの間隔χの1サイクルが終り、第8
図(ホ)の状態からさらに磁性体1aを移動すると第9
図に示した出力波形が周期的に出力されることになる。
尚、この第1の磁気検出体11と1/4χ(90°)位
相をずらして配置された第2の磁気検出体12の差動接
続された2つの磁気抵抗素子12a、12bと磁性体1
aとの移動によって出力端子16より得ら汎る出力波形
については第9図中破線で図示さ扛るように第1の磁気
検出体11の出力端子14より得らする出力波形と90
°位相がずれた同一波形となることは容易に理解できよ
う。このように、この発明よりなる第7図図示の磁気検
出体配置構造をとることにより、その出力端子からの出
力波形は、従来の出力波形と比べ、ピーク値Vレベル、
ゼロレベルあるいは1/2Vレベル点を含む全ての時点
において平坦部分を生ずることがない連続した一様な出
力波形が得られ、後段の分割精度の向上が得られること
になろう また、上記実施例では、磁気検出体(11,12)は出
力端子の左右にひとつづつの磁気抵抗素子を直列接続し
て、一方に入力端子を、他方にアース端子を設けた差動
接続の場合について説明してきたが、磁気抵抗素子間の
配列ピッチの製作誤差、磁気抵抗素子における抵抗変化
特性のバラツキ、あるいは磁性体間隔のバラツキなど実
際の製作工程上で生ずる種々のバラツキを平均化して安
定した出力波形を得るため、および磁気抵抗素子による
消費電流の低減化な計るために、出力端子を中心にして
入力端子側とアース端子側に複数の等しい数の磁気抵抗
素子な差動接続した場合の磁気検出体について以下の図
面を参照しながら説明する。
相をずらして配置された第2の磁気検出体12の差動接
続された2つの磁気抵抗素子12a、12bと磁性体1
aとの移動によって出力端子16より得ら汎る出力波形
については第9図中破線で図示さ扛るように第1の磁気
検出体11の出力端子14より得らする出力波形と90
°位相がずれた同一波形となることは容易に理解できよ
う。このように、この発明よりなる第7図図示の磁気検
出体配置構造をとることにより、その出力端子からの出
力波形は、従来の出力波形と比べ、ピーク値Vレベル、
ゼロレベルあるいは1/2Vレベル点を含む全ての時点
において平坦部分を生ずることがない連続した一様な出
力波形が得られ、後段の分割精度の向上が得られること
になろう また、上記実施例では、磁気検出体(11,12)は出
力端子の左右にひとつづつの磁気抵抗素子を直列接続し
て、一方に入力端子を、他方にアース端子を設けた差動
接続の場合について説明してきたが、磁気抵抗素子間の
配列ピッチの製作誤差、磁気抵抗素子における抵抗変化
特性のバラツキ、あるいは磁性体間隔のバラツキなど実
際の製作工程上で生ずる種々のバラツキを平均化して安
定した出力波形を得るため、および磁気抵抗素子による
消費電流の低減化な計るために、出力端子を中心にして
入力端子側とアース端子側に複数の等しい数の磁気抵抗
素子な差動接続した場合の磁気検出体について以下の図
面を参照しながら説明する。
第10図はこの発明に係る検出器の磁気−検出体の他の
実施例を示した説明図である。
実施例を示した説明図である。
この実施例においては、先に第7図乃至第9図にお(°
て説明した第1実施例の第1及び第2の磁気検出体の場
合に比べ、出力端子を中心にして入力端子側とアース端
子側にそtぞれ2つ・づつの磁気抵抗素子を接続し、1
つの磁気検出体とし′でヲマ2n (n = 1.2.
4.6、・・・)における11−2、すなわち合芭14
つの磁気抵抗素子をイ史用して、差動接続した場合の例
が示され・て(・る、第10図において、符号20は第
1の磁気検出体で、4つの磁気抵抗素子20a 、 2
0b 、 20c、20dを有している。これら4つの
磁気抵抗素子20a・・・20dは出力端子2ろを中心
にして、入力端子224fA+1に2つの磁気抵抗素子
20a、20Cカ1前述の被氾11定体1の磁性体1a
の間隔χと等し噂間隔入で重々11接続されており、ま
たアース端子24側に2つの磁気抵抗素子201〕、2
0dが間隔χで直列接続されて℃・る。
て説明した第1実施例の第1及び第2の磁気検出体の場
合に比べ、出力端子を中心にして入力端子側とアース端
子側にそtぞれ2つ・づつの磁気抵抗素子を接続し、1
つの磁気検出体とし′でヲマ2n (n = 1.2.
4.6、・・・)における11−2、すなわち合芭14
つの磁気抵抗素子をイ史用して、差動接続した場合の例
が示され・て(・る、第10図において、符号20は第
1の磁気検出体で、4つの磁気抵抗素子20a 、 2
0b 、 20c、20dを有している。これら4つの
磁気抵抗素子20a・・・20dは出力端子2ろを中心
にして、入力端子224fA+1に2つの磁気抵抗素子
20a、20Cカ1前述の被氾11定体1の磁性体1a
の間隔χと等し噂間隔入で重々11接続されており、ま
たアース端子24側に2つの磁気抵抗素子201〕、2
0dが間隔χで直列接続されて℃・る。
そして、これら4つの磁気抵抗素子間家、幅l=1/4
χで、全体として20a、20b、20C520dの1
1@にそれぞれ1/2λ間隔で一直線上に配列され゛て
(・る。
χで、全体として20a、20b、20C520dの1
1@にそれぞれ1/2λ間隔で一直線上に配列され゛て
(・る。
符号21は第2の磁気検出体で、第1の磁気検出体20
と同様4つの磁気抵抗素子21a、21b、21C12
1dを有している。こrも4つのイa気抵抗素子21a
、・・・21dは出力端子26を11+ 41”にし゛
て、入力端子25側に2つの磁気抵抗素子21a、21
C力1間隔χで直列接続されており、アース端子244
111に2つの磁気抵抗211)、21dが間隔χで重
々11接続されている。これら4つの磁気抵抗素子&−
1Iff、 l = 1/4χで、全体として21a
、 21b、21C121(1の1順に、それぞれ1/
2λ間隔で一直線上に自己グ1jさn′で(・る。
と同様4つの磁気抵抗素子21a、21b、21C12
1dを有している。こrも4つのイa気抵抗素子21a
、・・・21dは出力端子26を11+ 41”にし゛
て、入力端子25側に2つの磁気抵抗素子21a、21
C力1間隔χで直列接続されており、アース端子244
111に2つの磁気抵抗211)、21dが間隔χで重
々11接続されている。これら4つの磁気抵抗素子&−
1Iff、 l = 1/4χで、全体として21a
、 21b、21C121(1の1順に、それぞれ1/
2λ間隔で一直線上に自己グ1jさn′で(・る。
そして、第1及び第2の磁気検出体20及び21(ま同
一平面上で、互いに1/4λ(1)Q相をすらし゛てじ
かも互いに交わることがな(・、Lうに適宜なギャップ
Gを隔てて平行線りに平行配置され・て(・る、このよ
うな構成におい゛て、入力す;動子22及び25にif
流雷電圧印加し、磁気センサ2を被泪11定体1に対し
て移動させたときの、第1の磁気検出体20の出力端子
26に得られる出力信号波形につ(・“て、第11図お
よび第12図を参照し゛て貢見明する。尚、磁性体1a
の幅りは各磁気抵抗素子20a、・・−2nd、21a
、・・・21dの幅lと1司−であるものとし′で説明
する。
一平面上で、互いに1/4λ(1)Q相をすらし゛てじ
かも互いに交わることがな(・、Lうに適宜なギャップ
Gを隔てて平行線りに平行配置され・て(・る、このよ
うな構成におい゛て、入力す;動子22及び25にif
流雷電圧印加し、磁気センサ2を被泪11定体1に対し
て移動させたときの、第1の磁気検出体20の出力端子
26に得られる出力信号波形につ(・“て、第11図お
よび第12図を参照し゛て貢見明する。尚、磁性体1a
の幅りは各磁気抵抗素子20a、・・−2nd、21a
、・・・21dの幅lと1司−であるものとし′で説明
する。
第11図(イ)に示すように磁気抵抗素子20aの左端
面とひとつの磁性体1aの右端面とが一致した状態では
磁気抵抗素子20Cは磁気抵抗素子20aと間隔χで配
置されているため、他の磁性体1aの右端面とこの磁気
抵抗素子20Cの左端面とが一致する。
面とひとつの磁性体1aの右端面とが一致した状態では
磁気抵抗素子20Cは磁気抵抗素子20aと間隔χで配
置されているため、他の磁性体1aの右端面とこの磁気
抵抗素子20Cの左端面とが一致する。
この状態では第1の磁気検出体20は出力端子26を中
心にして差動接続されているため、入力端子22側とア
ース端子24側の抵抗値が等しくなり、出力端子23は
入力端子22の印加電圧Vの1/2の中点レベルの電圧
、すなわち1/2Vが出力される。この状態から第11
図(ロ)に示す状態まで磁性体1aを図の矢印方向(右
Jj向)に徐々に移動する過程では磁気抵抗素子20a
と20cにバイアス磁石4からの磁束が多くなり、磁気
抵抗素子20aと20Cの抵抗値が増加するため、印加
電圧vレベルすなわちピーク値■まで電圧が増加して行
く。第11図(ロ)の状態から第11図(ハ)の状態ま
で磁性体1aが移動する過程においては、2つの磁気抵
抗素子20aと20cへ作用する磁束が徐々に低下する
ため出力電圧が徐々に低下し、第11図(ハ)の状態で
は第11図(イ)の出力電圧と同様中点レベルの電圧1
/2’Vとなる。第11図(ハ)の状態から第11図(
ニ)の状態まで移動する過程においては、今度は磁気抵
抗素子20a、20cと差動接続さtたアース側の磁気
抵抗素子20b、20dと磁性体1aとの関係になるた
め、出力端子23よりの出力電圧はアース、すなわち七
ロレベル側に振られることになり、出力電圧は1/2v
レベルからゼロレベルに向って徐々c低下していき、第
11図(ニ)の時点ではゼロレベルに達する。第11図
(ニ)の状態からさらに磁性体1aを移動して第11図
(ホ)、すなわち第11図(イ)の状態まで移動する過
程では、アース側の磁気抵抗素子201)、20dの磁
束が低下するため、出力電圧は1/2Vレベルに向って
徐々に増加して行き、第11図(ホ)(第11図(イ)
)の時点では1/2 Vレベル点に戻り、出力波形の1
周期、すなわち磁性体1aの間隔χの1サイクルが終り
、第11図(ホ)の状態からさらに磁性体1a(被測定
体1)を移動すると第12図に示した出力波形が周期的
に出力されることになる。
心にして差動接続されているため、入力端子22側とア
ース端子24側の抵抗値が等しくなり、出力端子23は
入力端子22の印加電圧Vの1/2の中点レベルの電圧
、すなわち1/2Vが出力される。この状態から第11
図(ロ)に示す状態まで磁性体1aを図の矢印方向(右
Jj向)に徐々に移動する過程では磁気抵抗素子20a
と20cにバイアス磁石4からの磁束が多くなり、磁気
抵抗素子20aと20Cの抵抗値が増加するため、印加
電圧vレベルすなわちピーク値■まで電圧が増加して行
く。第11図(ロ)の状態から第11図(ハ)の状態ま
で磁性体1aが移動する過程においては、2つの磁気抵
抗素子20aと20cへ作用する磁束が徐々に低下する
ため出力電圧が徐々に低下し、第11図(ハ)の状態で
は第11図(イ)の出力電圧と同様中点レベルの電圧1
/2’Vとなる。第11図(ハ)の状態から第11図(
ニ)の状態まで移動する過程においては、今度は磁気抵
抗素子20a、20cと差動接続さtたアース側の磁気
抵抗素子20b、20dと磁性体1aとの関係になるた
め、出力端子23よりの出力電圧はアース、すなわち七
ロレベル側に振られることになり、出力電圧は1/2v
レベルからゼロレベルに向って徐々c低下していき、第
11図(ニ)の時点ではゼロレベルに達する。第11図
(ニ)の状態からさらに磁性体1aを移動して第11図
(ホ)、すなわち第11図(イ)の状態まで移動する過
程では、アース側の磁気抵抗素子201)、20dの磁
束が低下するため、出力電圧は1/2Vレベルに向って
徐々に増加して行き、第11図(ホ)(第11図(イ)
)の時点では1/2 Vレベル点に戻り、出力波形の1
周期、すなわち磁性体1aの間隔χの1サイクルが終り
、第11図(ホ)の状態からさらに磁性体1a(被測定
体1)を移動すると第12図に示した出力波形が周期的
に出力されることになる。
また、この第1の磁気検出体20と1/4χ(90°)
位相をずらして差動接続された4つの磁気抵抗素子21
a、・・・21(1を有する第2の磁気検出体21の出
力端子26より得られる出力波形については第12図中
破線で図示されるように、第1の磁気検出体20の出力
端子2ろより得られる出力波形と90°位相がずれた同
一波形となることはこれまでの説明から容易に理解でき
よう。
位相をずらして差動接続された4つの磁気抵抗素子21
a、・・・21(1を有する第2の磁気検出体21の出
力端子26より得られる出力波形については第12図中
破線で図示されるように、第1の磁気検出体20の出力
端子2ろより得られる出力波形と90°位相がずれた同
一波形となることはこれまでの説明から容易に理解でき
よう。
・このように、第10図乃至第12図で説明した第2実
施例のように出力端子を中心に入力端子側及びアース端
子側に複数の同数よりなる磁気抵抗素子を配列して全体
として差動接続した磁気検出体を互いに1/4χずらし
て平行配置した構成をとることによって、平坦部分のな
い連続した一様な出力波形が得られ、後段の分割精度の
向上が得られることになる。
施例のように出力端子を中心に入力端子側及びアース端
子側に複数の同数よりなる磁気抵抗素子を配列して全体
として差動接続した磁気検出体を互いに1/4χずらし
て平行配置した構成をとることによって、平坦部分のな
い連続した一様な出力波形が得られ、後段の分割精度の
向上が得られることになる。
尚、これまでの説明においては、磁性体1aの幅りを磁
気抵抗素子の幅eと等しい場合について説明してきたが
、磁性体の幅りは、間隔χから磁気抵抗素子の幅lを差
し引いたL−(χ−l)であっても、第9図及び第12
図に示した連続した一様な出力波形を周期的に得ること
ができる。また、第1の磁気検出体の入力端子に交流の
Sin波、第2の検出体の入力端子に交流のCO8波を
入力し、磁気センサと被測定体とを相対的に移動させ第
1、第2の磁気検出体の出力端子より出力を得る場合、
従来例の素子パターンでは、第1、第2の磁気検出体が
同一平面上でかつ、同−右線一ヒに並んで、近接してい
る為、第1、第2の磁気検出体に入力したSin波、C
os波が、互いに影響し合い、出力端子より得られる出
力波形がひずんでしまうという現象が起き、分割精度を
低下させてしまうという不都合もあったが、この発明よ
りなる素子パターンでは、第1、第2の磁気検出体は互
いに交わることなく平行配置されているので入力するS
in波、Cos波相方での影響が少なくなり、出力波形
のひずみを押えることができ、精度を向上することもで
きる。
気抵抗素子の幅eと等しい場合について説明してきたが
、磁性体の幅りは、間隔χから磁気抵抗素子の幅lを差
し引いたL−(χ−l)であっても、第9図及び第12
図に示した連続した一様な出力波形を周期的に得ること
ができる。また、第1の磁気検出体の入力端子に交流の
Sin波、第2の検出体の入力端子に交流のCO8波を
入力し、磁気センサと被測定体とを相対的に移動させ第
1、第2の磁気検出体の出力端子より出力を得る場合、
従来例の素子パターンでは、第1、第2の磁気検出体が
同一平面上でかつ、同−右線一ヒに並んで、近接してい
る為、第1、第2の磁気検出体に入力したSin波、C
os波が、互いに影響し合い、出力端子より得られる出
力波形がひずんでしまうという現象が起き、分割精度を
低下させてしまうという不都合もあったが、この発明よ
りなる素子パターンでは、第1、第2の磁気検出体は互
いに交わることなく平行配置されているので入力するS
in波、Cos波相方での影響が少なくなり、出力波形
のひずみを押えることができ、精度を向上することもで
きる。
第1図は検出器の概略説明図、第2図は従来の検出器に
おける磁気検出体の配列構造説明図、第6図は第2図に
示した磁気検出体と被測定体とを相対的に移動した状態
を示した説明図、第4図は第ろ図に示した各状態におけ
る出力端子よりの出力波形図、第5図は第2図に示した
従来の磁気検出体の配列構造において被測定体の磁性体
の幅りを変化した場合における磁気検出体と被測定体と
を相対的に移動した状態を示した説明図、第6図は第5
図に示t〜だ各状態における出力端子よりの出力波形図
、第7図はこの発明よりなる検出器の磁気検出体の配列
構造説明図、第8図は第7図に示した磁気検出体と被側
定体とを相対的に移動した状態を示す説明図、第9図は
第8図に示した各状態における出力端子よりの出力波形
図、第10図はこの発明よりなる検出器の他の磁気検出
体の配列構造説明図、第11図は10図に示した磁気検
出体と被測定体とを相対的に移動した状態を示す説明図
、第12図は第11図に示した各状態における出力端子
よりの出力波形図である。 1・被測定体、1a・磁性体、L・・磁性体の幅、χ・
・磁性体の間隔、2 磁気センサ、3・・磁気検出体、
4 ・バイアス用永久磁石、5.11.2o・第1の磁
気検出体、6.12.21 ・第2の磁気検出体、5a
、5b、6a、61)、11a、 11b、12a、
12b、20a、20b、20C120d 、 2
1a 、 21b、2IC121d ・=磁気抵抗素子
、7.13.15.22.25 人力端子、8.17
.24・アース端子、9.10.14.16.23.2
6・・・出力端子。 手 続 補 正 書 (自 発−)特許庁長官
若杉 和夫 殿 〕事件の表示 昭和57年特許願第 204185 号2、発明の名
称 検 出 器 3、補正をする者 電話0555−3−1231 自 発 6、補正の対象 (1) 願 書 (2) 明 細 書 7補正の内容 (1) 別紙の通シ (2) 明細書の浄書(内容に変更なし)手 続
補 正 書 昭和 年 月 日 特許庁長官若杉和夫殿 ]事件の表示 昭和57年特許願第 204185 号2、発明の名
称 検 出 器 3、補正をする者 電話0555−3−123 :L 6、補正の対象 明細書の「発明の詳細な説明」の欄 7、補正の内容 (1)明細書2頁19行目「磁気体1aの」とあるを「
磁性体1aの」と訂正する。 (2)明細書4頁5行目「印加電圧しべ」とあ石を「出
力電圧レベ」と訂正する。 (3)明細書14頁5行目「磁気抵抗21b121(l
が」とあるを「磁頷抵抗素子21b121dが」と訂正
する。
おける磁気検出体の配列構造説明図、第6図は第2図に
示した磁気検出体と被測定体とを相対的に移動した状態
を示した説明図、第4図は第ろ図に示した各状態におけ
る出力端子よりの出力波形図、第5図は第2図に示した
従来の磁気検出体の配列構造において被測定体の磁性体
の幅りを変化した場合における磁気検出体と被測定体と
を相対的に移動した状態を示した説明図、第6図は第5
図に示t〜だ各状態における出力端子よりの出力波形図
、第7図はこの発明よりなる検出器の磁気検出体の配列
構造説明図、第8図は第7図に示した磁気検出体と被側
定体とを相対的に移動した状態を示す説明図、第9図は
第8図に示した各状態における出力端子よりの出力波形
図、第10図はこの発明よりなる検出器の他の磁気検出
体の配列構造説明図、第11図は10図に示した磁気検
出体と被測定体とを相対的に移動した状態を示す説明図
、第12図は第11図に示した各状態における出力端子
よりの出力波形図である。 1・被測定体、1a・磁性体、L・・磁性体の幅、χ・
・磁性体の間隔、2 磁気センサ、3・・磁気検出体、
4 ・バイアス用永久磁石、5.11.2o・第1の磁
気検出体、6.12.21 ・第2の磁気検出体、5a
、5b、6a、61)、11a、 11b、12a、
12b、20a、20b、20C120d 、 2
1a 、 21b、2IC121d ・=磁気抵抗素子
、7.13.15.22.25 人力端子、8.17
.24・アース端子、9.10.14.16.23.2
6・・・出力端子。 手 続 補 正 書 (自 発−)特許庁長官
若杉 和夫 殿 〕事件の表示 昭和57年特許願第 204185 号2、発明の名
称 検 出 器 3、補正をする者 電話0555−3−1231 自 発 6、補正の対象 (1) 願 書 (2) 明 細 書 7補正の内容 (1) 別紙の通シ (2) 明細書の浄書(内容に変更なし)手 続
補 正 書 昭和 年 月 日 特許庁長官若杉和夫殿 ]事件の表示 昭和57年特許願第 204185 号2、発明の名
称 検 出 器 3、補正をする者 電話0555−3−123 :L 6、補正の対象 明細書の「発明の詳細な説明」の欄 7、補正の内容 (1)明細書2頁19行目「磁気体1aの」とあるを「
磁性体1aの」と訂正する。 (2)明細書4頁5行目「印加電圧しべ」とあ石を「出
力電圧レベ」と訂正する。 (3)明細書14頁5行目「磁気抵抗21b121(l
が」とあるを「磁頷抵抗素子21b121dが」と訂正
する。
Claims (1)
- 複数の磁性体を等間隔χで配列した被測定体とこの被測
定体に対向配置で少なくとも2n(但し、11−1.2
.3.4.5、・・・)の磁気抵抗素子を1/2χ間隔
で差動接続した第1及び第2の磁気検出体と、この第1
及び第2の磁気検出体の上に近接配置されたバイアス用
永久磁石とを有した磁気センサとを備え、前記第1の磁
気検出体と第2の磁気検出体とは同一平面」二で互いに
1/4χ位相をずらして、しかも互いに交わることなく
平行配置してなる検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20418582A JPS5994010A (ja) | 1982-11-20 | 1982-11-20 | 検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20418582A JPS5994010A (ja) | 1982-11-20 | 1982-11-20 | 検出器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5994010A true JPS5994010A (ja) | 1984-05-30 |
Family
ID=16486238
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20418582A Pending JPS5994010A (ja) | 1982-11-20 | 1982-11-20 | 検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5994010A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01212313A (ja) * | 1988-02-19 | 1989-08-25 | Sankyo Seiki Mfg Co Ltd | 磁気検出装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52121356A (en) * | 1976-04-05 | 1977-10-12 | Ibm | Converter for displacement detection |
| JPS53120547A (en) * | 1977-03-30 | 1978-10-21 | Denki Onkyo Co Ltd | Mechanicallelectrical transducer applying magnetic resistance element |
-
1982
- 1982-11-20 JP JP20418582A patent/JPS5994010A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52121356A (en) * | 1976-04-05 | 1977-10-12 | Ibm | Converter for displacement detection |
| JPS53120547A (en) * | 1977-03-30 | 1978-10-21 | Denki Onkyo Co Ltd | Mechanicallelectrical transducer applying magnetic resistance element |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01212313A (ja) * | 1988-02-19 | 1989-08-25 | Sankyo Seiki Mfg Co Ltd | 磁気検出装置 |
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