JPS60110852A - 磁気ディスク用円板の熱処理方法 - Google Patents

磁気ディスク用円板の熱処理方法

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JPS60110852A
JPS60110852A JP21899283A JP21899283A JPS60110852A JP S60110852 A JPS60110852 A JP S60110852A JP 21899283 A JP21899283 A JP 21899283A JP 21899283 A JP21899283 A JP 21899283A JP S60110852 A JPS60110852 A JP S60110852A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
disk
strain relief
temperature
heat treatment
magnetic
Prior art date
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Pending
Application number
JP21899283A
Other languages
English (en)
Inventor
Masaaki Shiga
正明 志賀
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPS60110852A publication Critical patent/JPS60110852A/ja
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  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の1文11;J分野」 こり尖り」は厭気円板V衣…14f4度を艮〈す々だめ
の歪取り焼鈍VC関するものである。
〔従来技術〕
アルミニュウム(以下、アルミと略記する0)を基材と
する商密匪記録蝋気円板の製作シま、大略。
図に示す工程で行われている〇 この工程における「焼鈍」及び「歪取り焼鈍」は、圧延
加工後の調質及び機械加工時の歪を取るだめのものであ
る。アルミの結晶粒は、加熱温度の上昇と共に粗大化し
、一度大きくなった結晶粒は1元の大きさVCは戻らな
いため、そして、大面粗度の良好な円板を得るeこは結
晶粒の太ささば小さい方が望ましいため、上記谷焼鈍の
温度は、それぞれの目的に応じたTEA[、例えば「歪
取り焼純゛」の温度は機械特性から220℃前後で行っ
ている。
この焼鈍温度で歪取りを行うことは歪忙とるのに十分な
温度であシ、歪取り焼鈍の効果はあがる。
#、純温度が上昇すると結晶粒は租〈な9.慎械的特性
も洛ちることとなるので、従来性われている焼鈍におけ
る温度条件そのものは歪取シ作業そりものとしては合理
的である。
ところで、このようにして製作した基板Vこアルマイト
加工を施し、磁性膜の塗布(スパッタ)。
磁性膜のr化史に安すれば、敗北工程(図示していない
)を経て磁気円板を得る場合に、往々にして膜面に亀裂
が生じることがめつ/ζ0このIJJ、JAの兜生原囚
を追死したところ、基板がr化工機あゐいは酸化工程に
2いて、ス・ミッタ工程までの温IAtよシも市い温度
、γ化工機においては300℃前後ccきらされること
によシ、基板の結晶粒が粗大化し、そのため粕晶間で移
動が生じ。
アルマイト族およびスパッタ1良に応力が元生じ膜面に
亀裂が生じることが判明した。
〔発明の概斐〕
この発明はかかる不具合を屏決するためになされたも(
/、)で、アルミ材への加熱温度の上昇tCつれて結晶
粒が111大化すめことに漸目し、磁気円板製造プロセ
ス中に加えられる最15石の温度とItiJ等又は。
それ以上の温度で歪取り焼鈍を行うようにし、歪取シ焼
純以汝での結晶粒の変化をなくシ、その後σ刀戻形成し
7こものに対し結晶粒の動きをlくし。
ノ1泉にtl!h’JI?r:生じさせないようにした
ものでるる。
〔実〃出1タロv)ハ兄明 〕 以上この発明の一天〃I!1例全図tこついて1兄明す
る〇磁気フーイスク円板の装造はアルミ全圧処しアルミ
板として熱処理をして調質する0アルミ板を機械加工を
行い9機械加工により加工歪が生じたものをなくすため
に歪取り焼鈍を行い機械加工による歪を除去する。この
歪取シ焼鈍に必賛な温度をま約220℃であシ、この程
度の温度では結晶粒は細かいオリ点がある。従来はこの
ようVこ処理されていたが、この先例では、佼工程のr
化で約300℃の加温がめシ、′!2だ、酸化工程(図
示していない)のめる場合も約300℃の加温があるの
で、焼鈍温度をこの温度と同等もしくはそれ以上にする
ことによシ、このプロセスの最高温度の結晶粒としてお
くことで、それ以Fの&1度の上下で結晶粒が変わらな
いことをオリ用したものである。すなわち温度が尚〈な
れはなるたけ結晶粒が太きくなり、その温度以下での温
度の上下では結晶粒が変わらないので、歪取シ焼鈍時e
こ結晶粒ケととのえておくことにより、アルマイト及び
スノζツタ時並びに後のr化工機において結晶粒の変化
による歪が発生しないようにしたものである。
尚酸化工程(図示せず)又はr化工機ではいずれもza
u’c;〜350℃が一般的であり、こ(/J温度より
高いI/!度の場曾は艮好な績釆が倚られない。
なお、lた圧蝙後の焼鈍に訃いで、歪取り焼鈍よ、!7
商い164度であらかじめカ15跳しておいても同じ効
果が1;tられ勾ことはいうまでもない。
〔96明り効果〕 このよう(/L ;lうらかじめプロセス中の最高温度
又はそれ以上の温度にして焼鈍することにより、焼鈍時
tC結晶)VかととのえらI’L /)ので、結晶粒の
変化tこよ/S止づ6生が除去されアルマイト、及び−
画性膜付1′[るスパッタ膜での亀裂が生じる一つの因
子がなくl/)。
以上述べたようtc磁気円板を製作す、6場合、峰性j
俣もしくシよ下地のアルマイトに@裂τ生じさせること
は信号誤まシを生じることとなジ、その原因の一つでめ
る結晶粒を一定として加工することは倣細な欠陥をなく
する意味で大きな効果が得られゐ。
【図面の簡単な説明】
図はこの発明を説明するための磁気円板製作プロセスを
示す図である。 代理人 大岩増雄

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、 アルミニュウムを基材とする磁気円板の製造工程
    において、歪14y、シ熱処理温度r、磁気円板製造プ
    ロセスにおけな最高yA展と同等ま/ヒはそれ以上の温
    度とず勾こと?l’pmとする磁気ティスフ用円板の熱
    処理力法。 2、 圧タル工程後の焼純でりらかじめ調質後 媛気円
    板製造プロセスにおける最高温度と同等またしまてれ以
    上の温度と′ノーること全特徴とする磁気ティスフ用円
    板の熱処理方法。
JP21899283A 1983-11-21 1983-11-21 磁気ディスク用円板の熱処理方法 Pending JPS60110852A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02121118A (ja) * 1988-10-28 1990-05-09 Kobe Steel Ltd 磁気ディスク用Al合金鏡面基板の製造方法

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JPS59110796A (ja) * 1982-12-16 1984-06-26 Nec Corp 磁気デイスク基板の製造方法

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