JPS60164334A - 半導体集積回路 - Google Patents

半導体集積回路

Info

Publication number
JPS60164334A
JPS60164334A JP59020288A JP2028884A JPS60164334A JP S60164334 A JPS60164334 A JP S60164334A JP 59020288 A JP59020288 A JP 59020288A JP 2028884 A JP2028884 A JP 2028884A JP S60164334 A JPS60164334 A JP S60164334A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
integrated circuit
single crystal
semiconductor integrated
type
island region
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP59020288A
Other languages
English (en)
Inventor
Masanori Yamamoto
山本 正徳
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp, Nippon Electric Co Ltd filed Critical NEC Corp
Priority to JP59020288A priority Critical patent/JPS60164334A/ja
Publication of JPS60164334A publication Critical patent/JPS60164334A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W10/00Isolation regions in semiconductor bodies between components of integrated devices
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W10/00Isolation regions in semiconductor bodies between components of integrated devices
    • H10W10/01Manufacture or treatment

Landscapes

  • Element Separation (AREA)
  • Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 イ、産業上の利用分野・ 本発明は、半導体集積回路、特に、素子部分離方式とし
て、絶縁分離型の半導体集積回路に関する。
口、従来技術 一般的な絶縁分離型の半導体集積回路は、第1図(a)
に示すように、−導電製、例えばN型の半導体単結晶基
板1の一つの面側に、フォトリングラフィ技術によシ溝
2を形成し、さらに分離用の絶縁膜3でもりて溝形成面
を覆い、つぎに、同図(b)のように、絶縁膜3の上に
支持体用多結晶シリコン4を成長させ、つぎ“に同図(
C)のように、同図(b)の状態から表、裏反転させて
基板1を溝3の底部、すなわち、絶縁膜3の凸出部まで
削ジ取シ、多結晶シリコン4により支持され、絶縁膜3
によυ島状に互いに分離された島領域5を形成し、この
島領域5内に横型のMO8)ランジスタを形成していた
このような従来の集積回路は、絶縁膜により島状に互い
に分離された島領域内に各素子があるため、素子間の寄
生効果が少く、リーク電流が少いという長所をもってい
るが、各素子は横型のMO−8FETであるため、パワ
ーを必要とする場合、縦型MO8F’ETに比べ面積効
率がよくないという欠点をもっていた。
ハ0発明の目的 本発明は、高出力のトランジスタ素子が面積効率よく形
成されると共に、!子間のデ互干渉による寄生効果など
が完全に防止された半導体集積回路を提供することを目
的としている。
二0発明の構成 本発明によtt 屯半導体基板の一面側において。
の島領域外部の単結晶層に形成された縦型素子とを含む
半導体集積回路が得られる。
ホ、実施例 つぎに本発明を実施例によシ説明する。
第2図(a)〜(d)は本発明の一実施例を製造工程に
ついて説明するための工程順の断面図である。まず、第
2図(a)のように、N型単結晶シリコン基板1にフォ
トリソグラフィ技術を用いて溝2,2゜・・・を形成し
たのち、島として侵す領域5の表面のみを絶縁膜3で覆
う。つぎに第2図(b)のように。
絶縁膜3を除去した部分のシリコン単結晶を種にして、
溝2,2.・・・・・・形成面に支持体用の単結晶シリ
コン11を成長させる。次に第2図(b)の状態から表
裏反転させて第2図(C)のように、N型基板1を絶縁
膜3に達するまで削シ取る。それから。
第2図(d)のように、絶縁膜3で島状に分離さ粘1ヒ
島領域5内には、P型ベース領域8.N型エミッタ領域
9、コレクタコンタクト層10をもつロジック用横壓バ
イポーラトランジスタ素子を形成し。
島領域の外部の単結晶層7には、N型基板1およびシリ
コン単結晶層11をドレインとし、P型領域12内に形
成されたN型領域13をソースとし1また。MOSゲー
ト14を有する縦型のMOS−Fl” E T素子を形
成する。
へ6発明の効果 このよう冠木発明の半導体集積回路では、パワーを必要
とするトランジスタ素子として、島領域外部の単結晶層
に、縦型構造のM OS −F E Tを形成するので
、全素子を各島領域内部に作る場合に比べ面積効率を上
げることができる。また、裏面をすべて単結晶としてい
るため、リーク電流が少く、かつ、パワーを必要としな
い多数の素子が島領域内に分離されているので、相互干
渉による宵生効果などは防止されている。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)〜(C)は従来の絶縁分離型半導体県す1
回路を製造工程禦よシ説明するための工程順の断面図、
第2隠1(a)〜(d)は本発明の一実施例を姓造工枳
について説明するための工程1i1flの断面図である
。 1・・・・・・N型単結晶半導体基板、2・・・・・・
籠、3・・・・・・絶縁膜、4・・・・・・支持体多結
晶シリコン、5・・・・・・島領域、6・・・・・・支
持体単結晶シリコン、7・・・・・・M+領域外部、8
・・・・・・P型ベース領域、9・・・・・・N型エミ
ッタ領域、10・・・・・・コレクタコンタクト層、1
1・・・・・・ドレイン、12・・・・・・pM、領域
、13・・・・・・ソース% 14・・・・・・M 0
8ゲート。 (2) (b) (c) 箔l 閏

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 一導電型半導体単結晶基板の一面側において。 絶縁膜によシ島秋に分離された島領域と、この島領域内
    に形成された4な型素子と、前記半導体基板の島領域外
    部の単結晶層に形成された縦型素子とを含むことを特徴
    とする半導体集積回路。
JP59020288A 1984-02-07 1984-02-07 半導体集積回路 Pending JPS60164334A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59020288A JPS60164334A (ja) 1984-02-07 1984-02-07 半導体集積回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59020288A JPS60164334A (ja) 1984-02-07 1984-02-07 半導体集積回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS60164334A true JPS60164334A (ja) 1985-08-27

Family

ID=12022977

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59020288A Pending JPS60164334A (ja) 1984-02-07 1984-02-07 半導体集積回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS60164334A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8602248B2 (en) 2011-03-02 2013-12-10 Bose Corporation Cooking utensil
US8796598B2 (en) 2007-09-07 2014-08-05 Bose Corporation Induction cookware

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5918654A (ja) * 1982-07-22 1984-01-31 Nec Corp 誘電体分離基板の製造方法

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5918654A (ja) * 1982-07-22 1984-01-31 Nec Corp 誘電体分離基板の製造方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8796598B2 (en) 2007-09-07 2014-08-05 Bose Corporation Induction cookware
US8602248B2 (en) 2011-03-02 2013-12-10 Bose Corporation Cooking utensil

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6098670A (ja) トランジスタ及び集積回路
JPH0586674B2 (ja)
JPS60164334A (ja) 半導体集積回路
JPS62229967A (ja) Npnトランジスタ−の固有降伏電圧より大きい降伏電圧を有するnpn等価構造
JP2647020B2 (ja) 相補型薄膜トランジスタ及びその製造方法
JPS6379373A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JP3153358B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JPS5943828B2 (ja) Mos形集積回路の製造方法
JPS61263257A (ja) 半導体装置
JPH0432763Y2 (ja)
JPS62244163A (ja) 半導体装置
JPS6214458A (ja) 半導体装置の製造方法
JPH03116774A (ja) 半導体装置の製造方法
JPS59124157A (ja) 相補型半導体集積回路
JPS6132824B2 (ja)
JPS632365A (ja) 半導体集積回路の製造方法
JP2926887B2 (ja) 半導体記憶装置
JPH01112763A (ja) 半導体装置
JPS63166257A (ja) 半導体装置
JPH03151669A (ja) 半導体装置の製造方法
JPS5972772A (ja) 半導体装置
JPS60119774A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JPS5819142B2 (ja) 半導体記憶装置
JPH04159721A (ja) 半導体装置
JPH05251653A (ja) 半導体集積回路装置およびその製造方法