JPS6022824B2 - 電子部品の製造方法 - Google Patents

電子部品の製造方法

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JPS6022824B2
JPS6022824B2 JP54095236A JP9523679A JPS6022824B2 JP S6022824 B2 JPS6022824 B2 JP S6022824B2 JP 54095236 A JP54095236 A JP 54095236A JP 9523679 A JP9523679 A JP 9523679A JP S6022824 B2 JPS6022824 B2 JP S6022824B2
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JP
Japan
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jig
component
solder
lead wires
diode
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JP54095236A
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English (en)
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JPS5619647A (en
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宗也 田口
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NEC Home Electronics Ltd
Original Assignee
NEC Home Electronics Ltd
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Publication date
Application filed by NEC Home Electronics Ltd filed Critical NEC Home Electronics Ltd
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Publication of JPS6022824B2 publication Critical patent/JPS6022824B2/ja
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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10PGENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10P72/00Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
    • H10P72/04Apparatus for manufacture or treatment
    • H10P72/0438Apparatus for making assemblies not otherwise provided for, e.g. package constructions

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はダイオード等の電子部品の熱処理や半田メッキ
処理などの製造方法に関するものである。
例えば、ガラス封止型ダイオードは第1図に示すような
構造が一般的である。
この第1図に於て、1はダイオード素子、2,3は素子
1の両側の電極に電気的接続された口出導体、4,5は
各口出導体2,3の外側に端面溶接した外部導出リード
線、6はダイオード素子1を気密封止するガラスで、各
リード線4,5は互に反対方向に導出される。そして、
このようなダイオードは従釆次の各工程で製造していた
。まず部品本体7を熱処理するのに第2図に示すような
ヒータ治具8が用いられていた。
即ち、この治具8は上面に多数配設した部品収納穴9と
、各部品収納穴9の底面中央より治具下面まで貫通した
りード穴10を有し、各部品収納穴9にはガラス管6′
と口出導体2と素子1、そして口出導体3とが順次に挿
入される。この時、一方の口出導体2に端面溶接された
りード線4はリード穴10を貫通して治具8の下面に突
出し、他方の口出導体3に端面溶接されたりード線5は
治具8の上面より突出する。そして、上に突出した各リ
ード線5の上端部を押え板11でもつて下方に押圧して
、各□出導体2,3を素子1に強圧させておいて、袷具
3に電流を流し、加熱し、ガラス管6′を溶融させる。
すると、ガラス管6′が各□出導体2,3に落着して、
封止ガラス6が形成される。尚、このガラス封止時は真
空や窒素ガス雰囲気中で行う。このように部品本体7の
熱処理が完了すると、次は俗臭8から各ダイオードを取
出し、各リード線4,5酸化防止のためにリード線4,
5の半田メッキをする。
この半田メッキ処理はリード線4,5が鉄等の磁性体の
場合は第3図に示すように、磁石12の下面に一方のリ
ード線4又は5の端面を吸着して、ダイオードを多数一
括して垂直に吊下保持しておき、この状態で磁石12を
半田槽13の半田液14へと降下させて、下方のIJ−
ド線5又は4を半田液14に浸潰させて行っていた。そ
して、一方のリード線5又は4の半田メッキが終ると、
磁石12を引き上げて、磁石12からダイオードを外し
、次はメッキ熱処理したり一ド線5又は4を磁石12に
吸着させて、上記動作を行い、他方のリード線4又は5
に半田メッキする。この半田メッキが完了すると、磁石
12から各ダイオードを手勲等で外し、次工程の特性チ
ェック工程で再び磁石を利用して整列ごておいて、各ダ
イオードに電流を流して特性チェックを行う。
以後、極性マーキング工程などへ順次送られて製品化さ
れていた。ところがこのような従来製造方法には次の欠
点があった。
まず熱処理工程や、半田メッキ処理工程、特性チェック
工程などの各工程に於けるダイオード整列形態が異なり
、従って、工程間でダイオードの整列詰め換えが必要で
あり、作業性が悪かった。又、そのためにバッチ単位の
品質管理や歩留管理、数量管理などが難しかった。又、
半田メッキ処理工程の場合、磁石12でダイオードを整
列させるにはリード線4,5を磁性体で構成しておく必
要があり、このリード線4,5が銅等の非磁性体であれ
ば特別なチャック機構等を使ってダイオードを整列した
り、バレルメッキ半田処理が必要となり不便であった。
又、磁石12にダイオードを吊下保持して半田メッキ処
理する場合、部品本体7まで半田が付かなようにするた
めには、半田浸債機構がかなり複雑、且つ精密なもので
ある必要があった。更に、この半田浸贋時、ダイオード
の保持は不安定であるため、磁石12を上昇させてリー
ド線4又は5を半田液14から引き上げる際、隣接する
りード線同志が接触して、両者が半田付けされるトラブ
ルが多発していた。本発明は上記従釆の欠点に鑑み、こ
れを改良・除去したもので、熱処理工程から半田メッキ
処理工程、及びそれ以後の工程まで一貫して同じ治臭で
電子部品の整列保持して製造する方法を提供する。いま
本発明を上記ダイオードの製造に適用した場合、例えば
第4図及び第5図に示すような部品整列拾具15を使用
する。
この部品整列治具15はヒーターを兼用するもので、治
具本体16と、上下2枚の薄板17,18で構成される
。治具本体16にはダイオードの部品本体7を鞍挿する
形状大の貫通穴19が多数穿段され、上下の薄板17,
18には貫通穴19に対応する位置に、リード線4,5
を挿適するリード穴20,21が夫々に穿穀されている
。そして、治具本体16の上下面に各薄板17,18が
ネジ止め等の手段でもつて密着して固定される。以下、
この部品整列治具15を用いた本発明の製造方法を順次
説明する。まず拾具本体16の下面に薄板18を固定し
ておく。而して、拾具本体16の貫通穴19にガラス管
6′を鉄挿し、続いてガラス管6′内にリード線4と一
体の口出導体2を、リード線4を薄板18のリード穴2
1から下に突出させて隊挿し、更に口出導体2上から素
子1と、他の口出導体3を順次に挿入していく。そして
俗臭本体16の上面に突出したりード線5を薄板17の
リード穴20に挿通して、薄板17を治具本体16の上
面に固定する。これが第5図に示す状態で、この時、各
リード線4,5は半田メッキが不要な根元から外が各簿
板17,18より突出するようにしておく。以後、この
第5図の状態のまま各工程に送られ、次のように処理さ
れる。即ち、熱処理工程の場合、第6図に示すように、
部品整列治具16を固定しておき、上方に突出した各リ
ード線5を押え板22で押圧しておいて、部品整列拾具
15に電流を流して加熱し、貫通穴19内のガラス管6
′を溶融させる。
この加熱は必要に応じて真空や窒素ガス雰囲気内で行う
。又、この加熱時、ガラス管6′への加熱温度分布をよ
り均一化させるために、部品整列格具16の上下に第6
図鎖線で示すようなヒータ23を付加してもよい。又、
溶融したガラス管6′は口出導体2,3に溶着して封止
ガラス6が形成されるが、その際、溶融ガラスが治臭側
に溶着しないように、治具側をガラスとなじみの悪いも
ので形成しておく。次に熱処理による封止が完了すると
、各ダイオードを整列したままの部品整列治具15を取
出し、そのまま次工程の半田メッキ処理工程へ運ぶ。
半田メッキ処理工程では、第7図に示すように、まず部
品整列治具15の下面から突出したりード線4を半田槽
24内の半田液25に浸潰して半田メッキし、次に部品
整列治具15を上下に180qC反転させて、他のIJ
ード線5を半田液25に浸潰して半田メッキする。この
半田メッキはリード線4,5の根元近傍まで行うため、
部品整列治具15の上下面を形成する薄板17,18は
半田になじみにくいもので構成することが望ましし・。
又、この半田メッキ処理時はリード線4,5を子熱して
行うのが通常であるが、前の熱処理工程で高温に加熱さ
れたりード線4,5を適当に徐冷して、半田メッキ時に
適温になるようにすれば子熱の手間が不要となる。この
ようにして半田メッキ処理が完了すれば、そのままの状
態で部品整列治具15を後工程、例えば特性チェック工
程や極性判別工程、極性マーキング工程などへ順次送り
込む。
そして適当な時点でもつて部品整列拾具15を分解すれ
ば、各ダイオードが個々に取出される。上記部品整列治
具15は拾臭本体16の上下面に夫々薄板17,18を
重合させる構造にしたが、この2枚の薄板17,18の
少くとも一方は必ずしも必要でなく、例えば第8図に示
す部品整列拾具15′を使用することも可能である。
この部品整列拾具15′の治具本体16′は第4図の拾
具本体16と1枚の薄板18とを始めから一体物で構成
した形状を有するもので、その使用要領は上記例と同様
である。尚、本発明はダイオードの製造に限らず、抵抗
等の電子部品の製造にも適用できる。
以上説明したように、本発明によれば1つの治具に多数
の電子部品を整列保持させたまま熱処理や半田メッキ処
理などの各種処理を行うため、工程間に於ける電子部品
の整列詰め換えなどの手間がなくなり、又、パッチ単位
の品質管理や歩留管理、数量管理が容易にでき、更に製
造途中で特性の全く異なる異品種の電子部品が混入する
危険性も解消される。
又、特に半田メッキ処理工程に於ては、リード線の支持
が安定しているため、隣接するりード線同志が半田付け
されるようなトラブルの心配がなく、又、リード線が非
磁性体であっても簡単に半田浸濃ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はダイオードの断面図、第2図はダイオードの熱
処理装置の従釆例を示す概略断面図、第3図はダイオー
ドの半田メッキ処理装置の従来例を示す概略断面図、第
4図は本発明の方法で使用する部品整列治具の実施例を
示す分解斜視図、第5図は第4図拾具の絹付時の断面図
、第6図は本発明による熱処理時の説明図、第7図は本
発明による半田メッキ処理時の説明図、第8図は本発明
の方法で使用する部品整列治具の他の実施例を示す断面
図である。 4,5・・・リード線、7・・・部品本体、15,15
′・・・部品整列拾具、16,16′・・・治具本体、
17,18・・・薄板、19・・・貫通穴。 第1図 第2図 第3図 第4図 第5図 第6図 第了図 第8図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 部品本体からリード線に互に反対方向に導出した電
    子部品の製造方法に於て、多数配設した貫通穴に部品本
    体を嵌挿した治具本体と、前記貫通穴から突出するリー
    ド線を挿通して治具本体に重合して貫通穴からの部品本
    体の抜け防止をする薄板とを具備した多数の電子部品を
    整列支持する部品整列治具を使用し、この部品整列治具
    を加熱して貫通穴内の部品本体を熱処理すると共にこの
    部品整列治具で整列させた状態で、突出するリード線の
    メツキ処理の各工程を行なうことを特徴とする電子部品
    の製造方法。
JP54095236A 1979-07-25 1979-07-25 電子部品の製造方法 Expired JPS6022824B2 (ja)

Priority Applications (1)

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JP54095236A JPS6022824B2 (ja) 1979-07-25 1979-07-25 電子部品の製造方法

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JP54095236A JPS6022824B2 (ja) 1979-07-25 1979-07-25 電子部品の製造方法

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JPS5619647A JPS5619647A (en) 1981-02-24
JPS6022824B2 true JPS6022824B2 (ja) 1985-06-04

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ID=14132118

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61256619A (ja) * 1985-05-09 1986-11-14 松下電器産業株式会社 多素子型チツプ状固体電解コンデンサ

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61256619A (ja) * 1985-05-09 1986-11-14 松下電器産業株式会社 多素子型チツプ状固体電解コンデンサ

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JPS5619647A (en) 1981-02-24

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