JPS60247143A - 接点の外観検査方法 - Google Patents
接点の外観検査方法Info
- Publication number
- JPS60247143A JPS60247143A JP60084479A JP8447985A JPS60247143A JP S60247143 A JPS60247143 A JP S60247143A JP 60084479 A JP60084479 A JP 60084479A JP 8447985 A JP8447985 A JP 8447985A JP S60247143 A JPS60247143 A JP S60247143A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- contact
- circuit
- frame
- outer frame
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/28—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring areas
- G01B11/285—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring areas using photoelectric detection means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/022—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of tv-camera scanning
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野」
本発明はリレー等接点の外観不良を自動的に検査する接
点の外観検査方法に関するものである。
点の外観検査方法に関するものである。
ここで対象となる接点において、外観不良は形状不良、
接点表面の傷、異物付着、側面から局員に広がる溶接ち
り、つぶれ等である。
接点表面の傷、異物付着、側面から局員に広がる溶接ち
り、つぶれ等である。
従来この種の外観検査は目視により行われているが、微
小な部品であるので長時間の安定した検査結果を得るこ
とは不可能であった。
小な部品であるので長時間の安定した検査結果を得るこ
とは不可能であった。
本発明の目的は従来の欠点をなくシ、接点の輪郭は欠陥
としてみないようにして傷、異物付着、溶接ちり、つぶ
れ等が存在するか否かを安定して検査するようにした接
点の外観検査方法を提供することにある。
としてみないようにして傷、異物付着、溶接ちり、つぶ
れ等が存在するか否かを安定して検査するようにした接
点の外観検査方法を提供することにある。
し発明の概要〕
ところで対象物体が接点である場合には接点が閉じた時
の電気的接触性ないし導通性を左右するのは、接点自身
の外形寸法の不足と接点表面にあるキズや異物である。
の電気的接触性ないし導通性を左右するのは、接点自身
の外形寸法の不足と接点表面にあるキズや異物である。
したがって接点表面としては最低限の面積を確保すれば
よく、さらにその面積内にキズや異物がなければよい。
よく、さらにその面積内にキズや異物がなければよい。
又一方、開いた時の絶縁性を疎外するのは、接点周囲に
ある溶接チリや接点のつぶれである。
ある溶接チリや接点のつぶれである。
溶接チリやつぶれは長さが短かければ絶縁性に影響を及
ぼさない。したがって接点周囲から一定値離れた場所ζ
こおいて、溶接チリやつぶれがあるか検査すればいい。
ぼさない。したがって接点周囲から一定値離れた場所ζ
こおいて、溶接チリやつぶれがあるか検査すればいい。
本発明はこのような観点から部材に溶着された接点な撮
像装置して映像信号に変換し、この映像信号を２値化回
路で２値化信号に変換し、この２値化信号にもとづいて
画面の縦及び横方向について頻度分布をめ、この頻度分
布をもとにして接点の領域を検出し、この領域座標にも
とづいて接点の大きさと異なる内枠信号と外枠信号を設
定してとの内枠信号と外枠信号との間を不感帯ψこして
内枠の内側及び外枠の外側について傷、異物付着、溶接
ちり、つぶれ等が存在するか否かをｒＬＸｒｒＬに切出
された絵素信号でもって検査することを特徴とする接点
の外観検査方法である。
像装置して映像信号に変換し、この映像信号を２値化回
路で２値化信号に変換し、この２値化信号にもとづいて
画面の縦及び横方向について頻度分布をめ、この頻度分
布をもとにして接点の領域を検出し、この領域座標にも
とづいて接点の大きさと異なる内枠信号と外枠信号を設
定してとの内枠信号と外枠信号との間を不感帯ψこして
内枠の内側及び外枠の外側について傷、異物付着、溶接
ちり、つぶれ等が存在するか否かをｒＬＸｒｒＬに切出
された絵素信号でもって検査することを特徴とする接点
の外観検査方法である。
〔発明の実施例〕
以下本発明を図に示す実施例にもとついて具体的に説明
する。第１図は本発明による接点の外観検査方法を実施
する装置の全体概略構成を示した図である。即ち接点バ
ネ２に溶接された接点１に光源３．集光レンズ４．ハー
フミラ−５により落射照明し、レンズ６によりＴＶ右カ
メラ１の撮像面に結像する。該ＴＶ左カメラ１で検出さ
れた映像信号を２値化回路７で２値化し、中心位置検出
回路８で上記接点１の輪郭１αから中心位置を検出する
。この中心位置検出回路８は第２図に示すように構成さ
れている。
する。第１図は本発明による接点の外観検査方法を実施
する装置の全体概略構成を示した図である。即ち接点バ
ネ２に溶接された接点１に光源３．集光レンズ４．ハー
フミラ−５により落射照明し、レンズ６によりＴＶ右カ
メラ１の撮像面に結像する。該ＴＶ左カメラ１で検出さ
れた映像信号を２値化回路７で２値化し、中心位置検出
回路８で上記接点１の輪郭１αから中心位置を検出する
。この中心位置検出回路８は第２図に示すように構成さ
れている。
即ちＴＶ右カメラ１からの映像信号を２値化回路７によ
り２値化し、この２値化信号をクロック信号２３と共に
ゲート２４に入力することにより分割してサンプリング
する。ところで第３図に示す如くサンプル数は横方向（
走査線方向）にｍ個とし、走査線数は縦方向にル本とす
る。そこでまず、縦方向の中心座標を検出するためには
、走査線方向に゛黒′の絵素数を計数して縦方向頻度分
布曲線をめることによって行なわれる０ 即ちカウンタ２５により一本の走査線についてサンプリ
ング部分の゛黒′の絵素の個数をカウントする。このカ
ウンタ２５の内容は水平同期信号Ｈｚｙｎｃによりクリ
アするようにし、クリアされる直前のカウンタの内容を
メモリ２６に入れる。
り２値化し、この２値化信号をクロック信号２３と共に
ゲート２４に入力することにより分割してサンプリング
する。ところで第３図に示す如くサンプル数は横方向（
走査線方向）にｍ個とし、走査線数は縦方向にル本とす
る。そこでまず、縦方向の中心座標を検出するためには
、走査線方向に゛黒′の絵素数を計数して縦方向頻度分
布曲線をめることによって行なわれる０ 即ちカウンタ２５により一本の走査線についてサンプリ
ング部分の゛黒′の絵素の個数をカウントする。このカ
ウンタ２５の内容は水平同期信号Ｈｚｙｎｃによりクリ
アするようにし、クリアされる直前のカウンタの内容を
メモリ２６に入れる。
−万態のカウンタ２７により水平同期信号Ｈｚｙｎｃの
数をカウントし、番地選択２８を通してメモリされる内
容と走査線の順゛番とを対応づける。このようにしてカ
ウンタ２５は一本の走査線中の゛黒′の絵素数をカウン
トし、その個数はその走査線の番号と対応づけられてメ
モリ２６に記憶される。
数をカウントし、番地選択２８を通してメモリされる内
容と走査線の順゛番とを対応づける。このようにしてカ
ウンタ２５は一本の走査線中の゛黒′の絵素数をカウン
トし、その個数はその走査線の番号と対応づけられてメ
モリ２６に記憶される。
一方カウンタ２５は水平同期信号Ｈｓｙｎｃによりクリ
アされ、つぎの走査線について新たなカウントを行う。
アされ、つぎの走査線について新たなカウントを行う。
従ってカウンタ２５のカウントする最大値は、一本の走
査線がすべて゛黒′の場合、すなわちｍ個であり、メモ
リ２６は最大ｍ個までの値を走査線の本数ル本分記憶で
きればいい。
査線がすべて゛黒′の場合、すなわちｍ個であり、メモ
リ２６は最大ｍ個までの値を走査線の本数ル本分記憶で
きればいい。
つぎに横方向の中心座標を検出するためには画面中の１
黒′の絵素数を縦方向に計数して横方向頻度分布曲線を
めることによって行なわれる。
黒′の絵素数を縦方向に計数して横方向頻度分布曲線を
めることによって行なわれる。
即ちクロック信号２３でサンプリングした信号をフルア
ダー６１の桁上がりに入れる。そしてフルアダー３１の
内容とたし合された後の値をただちにシフトレジスタ５
２４こ入れる。今、例えば、ｑ＝１．ｍ＝１すなわち第
１番目の走査線の最初のサンプリング値が゛黒’（＝１
）であるとすると、フルアダー６１は最初にクリアされ
ているので、たし合せ結果はそのまま１′がシフトレジ
スタ６２に入る。
ダー６１の桁上がりに入れる。そしてフルアダー３１の
内容とたし合された後の値をただちにシフトレジスタ５
２４こ入れる。今、例えば、ｑ＝１．ｍ＝１すなわち第
１番目の走査線の最初のサンプリング値が゛黒’（＝１
）であるとすると、フルアダー６１は最初にクリアされ
ているので、たし合せ結果はそのまま１′がシフトレジ
スタ６２に入る。
シフトレジスタ３２に入れられた内容はサンプリング周
期と同じクロック信号によりシフトされる。ここでフル
アダー６１は最大路側のカウントができる２進ビツト数
をもっていればよい。
期と同じクロック信号によりシフトされる。ここでフル
アダー６１は最大路側のカウントができる２進ビツト数
をもっていればよい。
同様にシフトレジスタ３２は最大ル個の数を同時に記憶
できるだけのものを並列に組み、シフト方向にはｍビッ
トとする。例えばサンプリング数ｍ＝１００．走査線数
ル＝１２８とするとフルアダー３１はにビット、例えば
に＝７、シフトレジスタ６２はシフト方向に１００ビッ
ト分つなげたものをｈ＝７個並列並列ればよい。このよ
うにしてフルアダー６１に新たなサンプリング結果が入
ると、加算後の値はシフトレジスタ６２に移され、同時
にそれまでのシフトレジスタ３２中の内容は１ビツト右
に送られる。順次この操作をくりかえすと、一本の走査
線が終了した時、最初のサンプリング結果（ｒｂ＝＝１
、 ｍ＝、ｊ ）はｍビットシフトされてシフトレジ
スタ３２の端末に出る。これを再びフルアダー３１にも
どすと 新たにフルアダー３１に入って来た信号とたし
合せることができる。ところでこの時折たに入って来た
信号は、ｎ＝２．ｍ＝１すなわち第２木目の走査線の最
初の番地のサンプリング結果である。
できるだけのものを並列に組み、シフト方向にはｍビッ
トとする。例えばサンプリング数ｍ＝１００．走査線数
ル＝１２８とするとフルアダー３１はにビット、例えば
に＝７、シフトレジスタ６２はシフト方向に１００ビッ
ト分つなげたものをｈ＝７個並列並列ればよい。このよ
うにしてフルアダー６１に新たなサンプリング結果が入
ると、加算後の値はシフトレジスタ６２に移され、同時
にそれまでのシフトレジスタ３２中の内容は１ビツト右
に送られる。順次この操作をくりかえすと、一本の走査
線が終了した時、最初のサンプリング結果（ｒｂ＝＝１
、 ｍ＝、ｊ ）はｍビットシフトされてシフトレジ
スタ３２の端末に出る。これを再びフルアダー３１にも
どすと 新たにフルアダー３１に入って来た信号とたし
合せることができる。ところでこの時折たに入って来た
信号は、ｎ＝２．ｍ＝１すなわち第２木目の走査線の最
初の番地のサンプリング結果である。
これが再び１′であれば、前記例では加算結果は２個、
Ｏ′であればそのまま１個になり、これに相当する２進
数がシフトレジスタ３２に入る。
Ｏ′であればそのまま１個になり、これに相当する２進
数がシフトレジスタ３２に入る。
このようにして縦方向に等しい番地同志のサンプリング
結果が順次たし合され、その結果がシフトレジスタ３２
に記憶されて行く。シフトレジスタ６２の内容はＶｚｙ
ｒＬｃ （垂直同期信号）＃こより１フレーム終了時ク
リアされるが、その直前の内容をメモリ６３に移し変え
る。なお、カウンタ６４によりクロック信号をカウント
し、番地選択３５を通してサンプリング番地とシフトレ
ジスタの内容を対応づける。
結果が順次たし合され、その結果がシフトレジスタ３２
に記憶されて行く。シフトレジスタ６２の内容はＶｚｙ
ｒＬｃ （垂直同期信号）＃こより１フレーム終了時ク
リアされるが、その直前の内容をメモリ６３に移し変え
る。なお、カウンタ６４によりクロック信号をカウント
し、番地選択３５を通してサンプリング番地とシフトレ
ジスタの内容を対応づける。
以上のようにして、メモリ２９．３５の中にそれぞれ縦
方向および横方向の゛黒′の絵素数の頻度分布がまった
。以後このメモリの内容を１つづつ読ｍし、コンパレー
タ（図示せず）ン用い両サイドの最大値を示す番地を検
出し、演算回路（図示せず）により両側の番地を平均し
て縦。
方向および横方向の゛黒′の絵素数の頻度分布がまった
。以後このメモリの内容を１つづつ読ｍし、コンパレー
タ（図示せず）ン用い両サイドの最大値を示す番地を検
出し、演算回路（図示せず）により両側の番地を平均し
て縦。
横の中心位置座標をめる。
次に枠発生回路９は第４図に示す如く、上記中心位置検
出回路８でめられた中心位置座標（Ｘ６．ＹＯ）を原点
にして、水平同期信号Ｈｚｙｎｃとサンプリングするク
ロック４Ｍ号にもとづいて各々の信号をカウンタ（図示
せず）によって計数して、接点表面に予め大きさを設定
した内枠１９の内側Ｑこおいて全てｆ′なるケート信号
６６及び接点周囲に予め大きさを設定した外枠の外側に
おいて全て１′なるゲート信号６７を出力するものであ
る。例えば第４図に示す如く上記中心位置座標（ｘｏ、
ｙｏ）を基準にして接点の周囲に設定された外枠２０（
縦方向についてはＸ、＝Ｘ、−ＨＩ、 Ｘ鵞＝Ｘｏ＋
Ｈｒ 、横方向ｌこついてはＹ＋ ＝ Ｙｏ Ｈｒ 。
出回路８でめられた中心位置座標（Ｘ６．ＹＯ）を原点
にして、水平同期信号Ｈｚｙｎｃとサンプリングするク
ロック４Ｍ号にもとづいて各々の信号をカウンタ（図示
せず）によって計数して、接点表面に予め大きさを設定
した内枠１９の内側Ｑこおいて全てｆ′なるケート信号
６６及び接点周囲に予め大きさを設定した外枠の外側に
おいて全て１′なるゲート信号６７を出力するものであ
る。例えば第４図に示す如く上記中心位置座標（ｘｏ、
ｙｏ）を基準にして接点の周囲に設定された外枠２０（
縦方向についてはＸ、＝Ｘ、−ＨＩ、 Ｘ鵞＝Ｘｏ＋
Ｈｒ 、横方向ｌこついてはＹ＋ ＝ Ｙｏ Ｈｒ 。
ＹＯ＝Ｙｏ ＋Ｈ！ ）については、水平同期信号ＨＩ
ｙｎＣの数（即ち走査線の数）を第１のカウンタにより
計数して該第１のカウンタの内容がＸＩになるまで走査
線全て１′なるゲート信号′５７を出力し、該第１のカ
ウンタの内容がＸ＋ｄ’らＸ！の間は、サンプリングす
るクロック信号を第２のカウンタにより計数して第２の
カウンタの内容がＹ、以前とＹ、以後について１′なる
ゲート信号５７を出力し、上記第１のカウンタの内容が
Ｘａ以後ｌこついては走査線全て１′なるゲート信号３
７を出力するようにしたフリップフロップ、（図示せず
）を有している。内枠１９についても上記外枠２０と同
様にゲート信号６６を形成するフリップフロップ（図示
せず）を備えている。内枠内側２値化回路１０は上記Ｔ
Ｖカメラ２１から得られる映像信号を所定の闇値で２値
化し、この２値化された信号と、枠発生回路９から得ら
れるゲート信号６６とをゲート（図示せず）においてＡ
ＮＤを取り、その信号３８を判定回路１２．に入力する
。この判定回路１２αは、第６図に示す如く一走査線の
サンプリングされた数だけ順次シフトして記憶するシフ
トレジスタ３９を７個並列に設置し、各々シフトレジス
タ３９から出力される絵素毎の信号を記憶する７Ｘ７の
絵素な有するメモリ４０と、各絵素の各列毎及び各行毎
に論理和否定をとる論理和否定回路４１．４２と、該論
理和否定回路４１．４２の出力信号の論理積否定をとる
論理積否定回路４５．４４と、該論理積否定回路４５
、４４の出力信号の論理和否定をとる論理和否定回路４
５と、上記メモリ４０の各全ての絵素に亘って０′なる
信号の数を計数し、その数が例えば１６未満のときは０
′なる信号を、１６以上のときは１′なる信号を出力す
るカウンタ回路４６と、該カウンタ回路４６の出力と論
理和否定回路４５と出力との論理積をとる論理積回路４
７とによって構成されている。また外枠外側２値化回路
１１は、上記ＴＶカメラ２１から得られる映像信号を所
定の閾値で２値化し、この２値化された信号と、枠発生
回路９から得られるゲート信号６７とをゲート（図示せ
ず）においてＡＮＤを取り、その信号４８を判定回路１
２．６に入力する。この判定回路１２．６は第５図に示
す如く、−走査線のサンプリングされた数だけ頴次シフ
トして記憶するシフトレジスタ４９を６個差列に設置し
、各々シフトレジスタ４９から出力される絵素毎の信号
を記憶する３×６の絵素を有するメモリ５０と、該メモ
リ５゜の全の絵素について信号を反転させるインバータ
５１と、該インバータ５１の全ての出力の論理積をとる
論理積回路５２とから構成されている。
ｙｎＣの数（即ち走査線の数）を第１のカウンタにより
計数して該第１のカウンタの内容がＸＩになるまで走査
線全て１′なるゲート信号′５７を出力し、該第１のカ
ウンタの内容がＸ＋ｄ’らＸ！の間は、サンプリングす
るクロック信号を第２のカウンタにより計数して第２の
カウンタの内容がＹ、以前とＹ、以後について１′なる
ゲート信号５７を出力し、上記第１のカウンタの内容が
Ｘａ以後ｌこついては走査線全て１′なるゲート信号３
７を出力するようにしたフリップフロップ、（図示せず
）を有している。内枠１９についても上記外枠２０と同
様にゲート信号６６を形成するフリップフロップ（図示
せず）を備えている。内枠内側２値化回路１０は上記Ｔ
Ｖカメラ２１から得られる映像信号を所定の闇値で２値
化し、この２値化された信号と、枠発生回路９から得ら
れるゲート信号６６とをゲート（図示せず）においてＡ
ＮＤを取り、その信号３８を判定回路１２．に入力する
。この判定回路１２αは、第６図に示す如く一走査線の
サンプリングされた数だけ順次シフトして記憶するシフ
トレジスタ３９を７個並列に設置し、各々シフトレジス
タ３９から出力される絵素毎の信号を記憶する７Ｘ７の
絵素な有するメモリ４０と、各絵素の各列毎及び各行毎
に論理和否定をとる論理和否定回路４１．４２と、該論
理和否定回路４１．４２の出力信号の論理積否定をとる
論理積否定回路４５．４４と、該論理積否定回路４５
、４４の出力信号の論理和否定をとる論理和否定回路４
５と、上記メモリ４０の各全ての絵素に亘って０′なる
信号の数を計数し、その数が例えば１６未満のときは０
′なる信号を、１６以上のときは１′なる信号を出力す
るカウンタ回路４６と、該カウンタ回路４６の出力と論
理和否定回路４５と出力との論理積をとる論理積回路４
７とによって構成されている。また外枠外側２値化回路
１１は、上記ＴＶカメラ２１から得られる映像信号を所
定の閾値で２値化し、この２値化された信号と、枠発生
回路９から得られるゲート信号６７とをゲート（図示せ
ず）においてＡＮＤを取り、その信号４８を判定回路１
２．６に入力する。この判定回路１２．６は第５図に示
す如く、−走査線のサンプリングされた数だけ頴次シフ
トして記憶するシフトレジスタ４９を６個差列に設置し
、各々シフトレジスタ４９から出力される絵素毎の信号
を記憶する３×６の絵素を有するメモリ５０と、該メモ
リ５゜の全の絵素について信号を反転させるインバータ
５１と、該インバータ５１の全ての出力の論理積をとる
論理積回路５２とから構成されている。
第４図には内枠内側２値化回路１０及び外枠外側２値化
回路１１により２値化した接点の映像と、枠発生回路９
により作成した内枠及び外枠との関係を示す２値化映像
画面２２の一例をあげる。
回路１１により２値化した接点の映像と、枠発生回路９
により作成した内枠及び外枠との関係を示す２値化映像
画面２２の一例をあげる。
この図に示す如く中心位置検出回路８は縦及び横の頻度
分布をめ、輪郭１４の黒の部分に生じる頻度分布の最小
値にもとづいてめられた中心位置１５のまわりに枠発生
回路９は内枠１９．外枠２０に相当するゲート信号５６
．５８を形成する。
分布をめ、輪郭１４の黒の部分に生じる頻度分布の最小
値にもとづいてめられた中心位置１５のまわりに枠発生
回路９は内枠１９．外枠２０に相当するゲート信号５６
．５８を形成する。
ところで接点１の２値化映像にはキズ１６．溶接チリ１
７．つぶれ１８が現われている。ここで判定回路１２α
により、内枠内側では検出したｂキズや異物の大きさに
あわせた例えば７Ｘ７絵素数のマス目で走査し、１６以
上黒の絵素数が存在し、且全ての行または列に亘って黒
の絵素がつながっている場合には不良として判定または
外枠外側でも検出したいチリやっぷれの大きさにあわせ
た例えば６×６の絵素数のマス目で走査し、この全ての
絵素が黒として存在したとき不良として判定を行う。な
お内枠内側は全面走査であるが、外枠外側では事情が許
せば外周沿いの走査でもいい。また上記実施例では内枠
内側２値化回路１０及び外枠外側２値化回路１１にＴＶ
カメラ２１から得られる映像信号を入力したが、２値化
回路７の出力をそのまま人力してもよい。
７．つぶれ１８が現われている。ここで判定回路１２α
により、内枠内側では検出したｂキズや異物の大きさに
あわせた例えば７Ｘ７絵素数のマス目で走査し、１６以
上黒の絵素数が存在し、且全ての行または列に亘って黒
の絵素がつながっている場合には不良として判定または
外枠外側でも検出したいチリやっぷれの大きさにあわせ
た例えば６×６の絵素数のマス目で走査し、この全ての
絵素が黒として存在したとき不良として判定を行う。な
お内枠内側は全面走査であるが、外枠外側では事情が許
せば外周沿いの走査でもいい。また上記実施例では内枠
内側２値化回路１０及び外枠外側２値化回路１１にＴＶ
カメラ２１から得られる映像信号を入力したが、２値化
回路７の出力をそのまま人力してもよい。
さらにノイズの影響を除去し、しかも接点表面と接点バ
ネとの明かるさ相異による影響、及びノイズの影響をで
きるだけ少くするため台こは、内枠内側と外枠外側で異
なる閾値で２値化処理を行うことが必要で、各々内枠内
側２値化回路１０及び外枠外側２値化回路１１で２値化
を行う方が良好な２値化映像信号を得ることができる。
ネとの明かるさ相異による影響、及びノイズの影響をで
きるだけ少くするため台こは、内枠内側と外枠外側で異
なる閾値で２値化処理を行うことが必要で、各々内枠内
側２値化回路１０及び外枠外側２値化回路１１で２値化
を行う方が良好な２値化映像信号を得ることができる。
以上説明したように本発明によれば、枠による判定法を
導入したことにより、接点の輪郭を欠陥とみなすことな
く、接点の位置ずれが生じても、接点の大きさが変動し
ても接点の輪郭を欠陥とみなすことなく、傷、異物の付
着、溶接ちり、つぶれ等の欠陥を安定して自動的に外観
検査できる効果を奏する。
導入したことにより、接点の輪郭を欠陥とみなすことな
く、接点の位置ずれが生じても、接点の大きさが変動し
ても接点の輪郭を欠陥とみなすことなく、傷、異物の付
着、溶接ちり、つぶれ等の欠陥を安定して自動的に外観
検査できる効果を奏する。
第１図は本発明の接点の外観検査方法を実施する装置の
概要構成を示す図、第２図は第１図に示す中心位置検出
回路を具体的に示したブロック図、第３図はＴＶカメラ
でモニタされた画面を示した図、第４図はＴＶカメラで
モニタされる画面に内枠及び外枠を設定した状態を示す
図、第５図は外枠外側を判定する判定回路を具体的に示
した構成図、第６図は内枠内側を判定する判定回路を具
体的に示した構成図である。 １・・・接点、 ２・・・接点バネ、 ６・・・光源、 ４・・・集光レンズ、６・・・レンズ
、 ７・・・２値化回路、８・・・中心位置検出回路、
９・・枠発生回路、１０・・・内枠内側２値化回路、 １１・・・外枠外側２値化回路、 １２α、１２ｂ・・・判定回路、２１・・・ＴＶカメラ
。 第 １ 図 第 ２ 図 尊う（］ 薬壬図 ／４− 第４ 図
概要構成を示す図、第２図は第１図に示す中心位置検出
回路を具体的に示したブロック図、第３図はＴＶカメラ
でモニタされた画面を示した図、第４図はＴＶカメラで
モニタされる画面に内枠及び外枠を設定した状態を示す
図、第５図は外枠外側を判定する判定回路を具体的に示
した構成図、第６図は内枠内側を判定する判定回路を具
体的に示した構成図である。 １・・・接点、 ２・・・接点バネ、 ６・・・光源、 ４・・・集光レンズ、６・・・レンズ
、 ７・・・２値化回路、８・・・中心位置検出回路、
９・・枠発生回路、１０・・・内枠内側２値化回路、 １１・・・外枠外側２値化回路、 １２α、１２ｂ・・・判定回路、２１・・・ＴＶカメラ
。 第 １ 図 第 ２ 図 尊う（］ 薬壬図 ／４− 第４ 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 部材に溶着された接点を撮像装置で撮像して映像信
号に変換し、この映像信号を２値化回路で２値化信号に
変換し、この２値化信号にもとづいて画面の縦方向及び
横方向の頻度分布をめ、この頻度分布に応じて接点の領
域座標をめ、この領域座標から゛接点の輪郭の内側と外
側とに枠信号を設定してこの内枠信号と外枠信号との間
を不感帯にして内枠の内側及び外枠の外側について傷、
異物付着。 溶接ちり、つぶれ等が存在するか否か検査することを特
徴とする接点の外観検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60084479A JPS60247143A (ja) | 1985-04-22 | 1985-04-22 | 接点の外観検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60084479A JPS60247143A (ja) | 1985-04-22 | 1985-04-22 | 接点の外観検査方法 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14332976A Division JPS5368847A (en) | 1976-12-01 | 1976-12-01 | Automatic appearance inspecting device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60247143A true JPS60247143A (ja) | 1985-12-06 |
| JPS6214775B2 JPS6214775B2 (ja) | 1987-04-03 |
Family
ID=13831775
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60084479A Granted JPS60247143A (ja) | 1985-04-22 | 1985-04-22 | 接点の外観検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60247143A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US12450712B2 (en) | 2022-03-04 | 2025-10-21 | Kikusui Seisakusho Ltd. | Inspection device and molded-product processing system |
-
1985
- 1985-04-22 JP JP60084479A patent/JPS60247143A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US12450712B2 (en) | 2022-03-04 | 2025-10-21 | Kikusui Seisakusho Ltd. | Inspection device and molded-product processing system |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6214775B2 (ja) | 1987-04-03 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3132565B2 (ja) | 欠陥検査方法及びその装置 | |
| JPS6130684B2 (ja) | ||
| JPH04166751A (ja) | びんの欠陥検査方法 | |
| JPS6113177B2 (ja) | ||
| JPS60247143A (ja) | 接点の外観検査方法 | |
| JPH03194454A (ja) | 容器内面検査装置 | |
| JPS60135707A (ja) | 凹凸欠陥検出方法 | |
| JPH0260265B2 (ja) | ||
| JPH06147855A (ja) | 画像検査方法 | |
| JPH0829357A (ja) | 自動化ライン外観検査装置 | |
| JPH0236896B2 (ja) | Jikutaishobutsutainoketsukankensasochi | |
| JPH0319990B2 (ja) | ||
| JPH0432340B2 (ja) | ||
| JPH0670794B2 (ja) | パターン検出装置 | |
| JPH0324671A (ja) | 欠陥検査装置 | |
| JPH02171640A (ja) | 容器検査方法 | |
| JPS6027064B2 (ja) | ラベルの表裏検査装置 | |
| JPS5950218B2 (ja) | パタ−ン検査装置 | |
| JPH0480427B2 (ja) | ||
| JPH04254745A (ja) | 良否検査装置 | |
| JPS60113988A (ja) | プリント回路板外観検査方法 | |
| JPH11166817A (ja) | 外観検査装置 | |
| JPH0210254A (ja) | 瓶外観検査装置 | |
| JPS61126437A (ja) | 画像処理装置 | |
| JPH079409B2 (ja) | ガラス壜の高速検査方法および装置 |