JPS6036038A - 超音波診断装置 - Google Patents
超音波診断装置Info
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- JPS6036038A JPS6036038A JP14391883A JP14391883A JPS6036038A JP S6036038 A JPS6036038 A JP S6036038A JP 14391883 A JP14391883 A JP 14391883A JP 14391883 A JP14391883 A JP 14391883A JP S6036038 A JPS6036038 A JP S6036038A
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Landscapes
- Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は超音波診断装置、特に断層画像を表示する超音
波診断装置に関する。
波診断装置に関する。
背景技術
超音波診断装置においては、通常の場合、パルスエコー
法が採用され1、この種の超音波診断装置は被検体中に
超音波パルスビームを送受波する探触子を含み、被検体
からのエコー信号に基づいて断層画像を表示する。すな
わち、パルスエコー法においては、探触子から超音波パ
ルスビームを被検体内に発射し、種々の深をからの反射
波を検出して、その強度を深さの関数としてCRT上に
表示しており、超音波の反射は被検体中で音響インピー
ダンスの変化する部分で生じるため、パルスエコー法に
よれば、被検体内における臓器等の境界面を画像表示す
ることができる。従って、パルスエコー法によれば、被
検体の形態情′@ヲ得ることができるが、生体組織の質
的診断を行うことが困’Afであるという問題があった
。
法が採用され1、この種の超音波診断装置は被検体中に
超音波パルスビームを送受波する探触子を含み、被検体
からのエコー信号に基づいて断層画像を表示する。すな
わち、パルスエコー法においては、探触子から超音波パ
ルスビームを被検体内に発射し、種々の深をからの反射
波を検出して、その強度を深さの関数としてCRT上に
表示しており、超音波の反射は被検体中で音響インピー
ダンスの変化する部分で生じるため、パルスエコー法に
よれば、被検体内における臓器等の境界面を画像表示す
ることができる。従って、パルスエコー法によれば、被
検体の形態情′@ヲ得ることができるが、生体組織の質
的診断を行うことが困’Afであるという問題があった
。
そこで、生体組織の減衰係数全計測し、これを生体組織
の質的診断に利用しようという研究が行われており、こ
の代表的なものとして超計波CT(C,omputed
Tomography )が提案されている。この超
音波CTの原理は、多数の異なる方向から被検体内に超
音波を透過させ、これらの透過超晋波強度から再構成演
算を行い、生体組織の減衰係数をめようとするものであ
る。しかしながら、この超音波CTにおい−Cは、超音
波の透過波を検出するという原理を用いているため、被
検体内に超音波を透過させにくい物質、例えば骨、空気
等が存在する場合には、生体組織の減衰係数を計測する
ことができないという欠点があった。
の質的診断に利用しようという研究が行われており、こ
の代表的なものとして超計波CT(C,omputed
Tomography )が提案されている。この超
音波CTの原理は、多数の異なる方向から被検体内に超
音波を透過させ、これらの透過超晋波強度から再構成演
算を行い、生体組織の減衰係数をめようとするものであ
る。しかしながら、この超音波CTにおい−Cは、超音
波の透過波を検出するという原理を用いているため、被
検体内に超音波を透過させにくい物質、例えば骨、空気
等が存在する場合には、生体組織の減衰係数を計測する
ことができないという欠点があった。
発明の目的
本発明は前記従来の課題に鑑みなされたものであり、そ
の目的は、反射エコー信号から被検体の減衰係数を容易
に計測することができる超音波診断装置を提供すること
にある。
の目的は、反射エコー信号から被検体の減衰係数を容易
に計測することができる超音波診断装置を提供すること
にある。
発明の構成
前記目的を達成するために、本発明は、被検体に超音波
パルスビームを送受波し被検体からの反射エコー信号に
基づいて断層画像を表示する超音波診断装置において、
反射エコー信号から特定の周波数成分を取り出す帯域通
過フィルタ及び検波回路と、該帯域通過フィルタ及び検
波回路からの信号全対数変換する対数変換器と、該対数
変換器からの信号とこの信号を所定の時間間隔だけ遅延
させた遅延信号との差分全求める減算回路と、を含み、
前記特定の周波数成分に対する超旨波の減饅係倣を計測
することを特徴とする。
パルスビームを送受波し被検体からの反射エコー信号に
基づいて断層画像を表示する超音波診断装置において、
反射エコー信号から特定の周波数成分を取り出す帯域通
過フィルタ及び検波回路と、該帯域通過フィルタ及び検
波回路からの信号全対数変換する対数変換器と、該対数
変換器からの信号とこの信号を所定の時間間隔だけ遅延
させた遅延信号との差分全求める減算回路と、を含み、
前記特定の周波数成分に対する超旨波の減饅係倣を計測
することを特徴とする。
実施例
以下、図面に基づいて本発明の好適な実施例を説明する
。
。
寸ず本発明の原理について説明する。超音波の減衰係数
αは周波数rの関数であり、これをα(f)と表わす。
αは周波数rの関数であり、これをα(f)と表わす。
そして、被検体からの反射エコー信号のうち、探触子か
ら遠い部分で反射されたものは、被検体内での伝搬路が
長くなるため、探触子付近からのエコー信号と比較して
超音波の減衰が大きくなる。また減衰係数は、周波数の
関数であるため、超音波の強度が減少するだけでなく、
反射エコー信号のスペクトルも変化することとなる。本
発明は、この性質を利用したものであり、スペクトルの
うち特定の周波数に着目し、その変化から特定周波数に
対する減衰係数を計測するものである。
ら遠い部分で反射されたものは、被検体内での伝搬路が
長くなるため、探触子付近からのエコー信号と比較して
超音波の減衰が大きくなる。また減衰係数は、周波数の
関数であるため、超音波の強度が減少するだけでなく、
反射エコー信号のスペクトルも変化することとなる。本
発明は、この性質を利用したものであり、スペクトルの
うち特定の周波数に着目し、その変化から特定周波数に
対する減衰係数を計測するものである。
第1図には、本発明の原理によるブロック回路が示され
ている。
ている。
探触子10は、発振器12により励振されて超音波パル
スビームを被検体(図示せず)に発射し、被検体からの
反射エコーは、探触子10により受信される。探触子1
0には、帯域通過フィルタ14が接続され、該帯域通過
フィルタ14により、反射エコー信号から特定の周波数
成分を取り出すことができる。なおここで、反射エゴ=
信号は時刻tの関数としてめられ、超音波診断装置に使
用される超音波の周波数帯域においては、音速は周波数
にかかわらず一定であると考えら、11、この音速1c
で表わすと、反射エコーの発生した位置Xと探触子が反
射エコーを検出した時刻tとは次の関係を有する。
スビームを被検体(図示せず)に発射し、被検体からの
反射エコーは、探触子10により受信される。探触子1
0には、帯域通過フィルタ14が接続され、該帯域通過
フィルタ14により、反射エコー信号から特定の周波数
成分を取り出すことができる。なおここで、反射エゴ=
信号は時刻tの関数としてめられ、超音波診断装置に使
用される超音波の周波数帯域においては、音速は周波数
にかかわらず一定であると考えら、11、この音速1c
で表わすと、反射エコーの発生した位置Xと探触子が反
射エコーを検出した時刻tとは次の関係を有する。
x=Ct/2 ・・・(1)
従って、以下の説明においては、被検体内の位置Xと時
刻tとを同等に取り扱う場合がある。
刻tとを同等に取り扱う場合がある。
前記帯域通過フィルタ14のインパルス応$b(t)は
、次式で与えられるものとする。
、次式で与えられるものとする。
h (t) = a (t)咋(2πf、t ) ==
=j2)(2)式において、flは帯域通過フィルタ1
4の中心周波数であり、またa (t) lはインパル
ス応答の包絡線を意味する。そして、帯域通過フィルタ
14は因果性システムであり、 ・(t)−〇(t〈0) 。(、〉、。)°゛′°゛(3) とみなし得るものとする。
=j2)(2)式において、flは帯域通過フィルタ1
4の中心周波数であり、またa (t) lはインパル
ス応答の包絡線を意味する。そして、帯域通過フィルタ
14は因果性システムであり、 ・(t)−〇(t〈0) 。(、〉、。)°゛′°゛(3) とみなし得るものとする。
帯域通過フィルタ140入カとなるべき反射エコー信号
をp (t)で表イノすと、この帯域通過フィルタ14
の出力信号b(t)は(2)式を用いて次のように表わ
すことができる。
をp (t)で表イノすと、この帯域通過フィルタ14
の出力信号b(t)は(2)式を用いて次のように表わ
すことができる。
ここで、p(τ)Xa(を−τ)2τについてツー リ
工変換した結果をA(f、t)e”σ・1)と表ゎずと
、jv(f、t) A(f、t)e は次のようになる。
工変換した結果をA(f、t)e”σ・1)と表ゎずと
、jv(f、t) A(f、t)e は次のようになる。
従って、(5)式を用いると、(4)式は次のように変
形される。
形される。
b (t) =A (r+ 、t)低(2πf、j+ξ
DI、t)1 ・・・(6)ここで、ξ(r+、t、)
は位相項である。この(6)式の意味するところ1d次
のようになる。ずなゎぢ、帯域通過フィルタ14の出力
信号の包絡線A(f、t)は関数p(τ)Xa(を−τ
)のフーリエスペクトルの周波数「1における絶対値と
なり、換言すれば、帯域通過フィルタ14に接続された
検波回路16の出力信号A(f+、t)id反射エコー
信号P(τ)に窓関数a(t−τ)を掛けて取り出され
た信号に含°まhる周波数f、の成分の絶対値を与える
こととなる。
DI、t)1 ・・・(6)ここで、ξ(r+、t、)
は位相項である。この(6)式の意味するところ1d次
のようになる。ずなゎぢ、帯域通過フィルタ14の出力
信号の包絡線A(f、t)は関数p(τ)Xa(を−τ
)のフーリエスペクトルの周波数「1における絶対値と
なり、換言すれば、帯域通過フィルタ14に接続された
検波回路16の出力信号A(f+、t)id反射エコー
信号P(τ)に窓関数a(t−τ)を掛けて取り出され
た信号に含°まhる周波数f、の成分の絶対値を与える
こととなる。
次にA(f、、t)すなわち検波回路16の出力信号に
減衰係数α([)がどのように関係するかを述へ、A(
fl、t)から減衰係数α(f) 請求めるための手段
について説明する。
減衰係数α([)がどのように関係するかを述へ、A(
fl、t)から減衰係数α(f) 請求めるための手段
について説明する。
前述したように、減衰係数α(f)は周波数fの関数で
あるため、反射エコー信号の波形は反射体の深さに依存
する。そして、被検体内において位置Xの反射係1kr
(x)とすると、この位置Xから反射される反射エコー
信号PX(τ)は次のようになる。
あるため、反射エコー信号の波形は反射体の深さに依存
する。そして、被検体内において位置Xの反射係1kr
(x)とすると、この位置Xから反射される反射エコー
信号PX(τ)は次のようになる。
ここで、5(f)は被検体に入射する超音波パルス波形
のフーリエ変換である。この(7)式を用いると、被検
体からの反射エコー信号P(τ)は次のようにf!、Z
)。
のフーリエ変換である。この(7)式を用いると、被検
体からの反射エコー信号P(τ)は次のようにf!、Z
)。
次に窓関数a(を−τHr−+81式にかけて得られる
信号について考える。
信号について考える。
第2図には、本発明の原理による各種の波形が示されて
おり、第2図において、横軸は反射エコーを検出した時
刻τ(または被検体内の位置X)を示し、時刻τと位置
Xとは前述したように(1)式の関係がある。
おり、第2図において、横軸は反射エコーを検出した時
刻τ(または被検体内の位置X)を示し、時刻τと位置
Xとは前述したように(1)式の関係がある。
第2図(aJにおいては、被検体内の反射係数r(x)
が示され、反射係fir(x)は、被検体内で音響イン
ピーダンスの変化する境界面でのみ存在するため、イン
パルス列で示されている。また第2図(blにおいては
、(8)式で表わされる反射エコー信号P(τ)が示さ
れ、第2図tc)においては、k’、域通過フィルタ1
4のインパルス応答の包絡線ぼ(t−τ)が示されてお
り、更に第2図(d)においては、上記tblとtd)
との漬すなわち反射エコー信号P(τ)に窓関数a(を
−τ)を掛けた信号が示さ牙1ている。
が示され、反射係fir(x)は、被検体内で音響イン
ピーダンスの変化する境界面でのみ存在するため、イン
パルス列で示されている。また第2図(blにおいては
、(8)式で表わされる反射エコー信号P(τ)が示さ
れ、第2図tc)においては、k’、域通過フィルタ1
4のインパルス応答の包絡線ぼ(t−τ)が示されてお
り、更に第2図(d)においては、上記tblとtd)
との漬すなわち反射エコー信号P(τ)に窓関数a(を
−τ)を掛けた信号が示さ牙1ている。
纂2図から明らかなように、窓関数a(t−τ)が矩形
に近くなるように帯域通過フィルター4を選択すると
l) (τ)・a(を−τ)は、位置Xが凪土ヨ社<
X< Ctの範囲にある反射体からの反射2 エコーと近似することができる。すなわち、Ct となる。この(9)式をτについてフーリエ変換すると
1 、 S L r)e−affl tC−2”y”e が・侍られる。
に近くなるように帯域通過フィルター4を選択すると
l) (τ)・a(を−τ)は、位置Xが凪土ヨ社<
X< Ctの範囲にある反射体からの反射2 エコーと近似することができる。すなわち、Ct となる。この(9)式をτについてフーリエ変換すると
1 、 S L r)e−affl tC−2”y”e が・侍られる。
そして、検波回路16の出力信号は、On式においてf
=f、としたときの値の絶対値となる。従って、 ・・・・(l]J と表わされる。
=f、としたときの値の絶対値となる。従って、 ・・・・(l]J と表わされる。
検波回路16には、対数増幅器18が接続されており、
対数増幅器18により、検波回路16からの出力信号は
対数変換される。従って、対;13!増幅器18の出力
信号4(r、、t)は上記(1η式を対数変換したもの
となり、 %(fI、t)−ln A(f、、t)−An l s
(r、)l−α(f、)tC十ε(to、t、fI)
+・+ aaと表わすことができる。ただし、(ロ)式
において、01)式の積分項の対数をε(tO+ t、
r、 )で表わした。
対数増幅器18により、検波回路16からの出力信号は
対数変換される。従って、対;13!増幅器18の出力
信号4(r、、t)は上記(1η式を対数変換したもの
となり、 %(fI、t)−ln A(f、、t)−An l s
(r、)l−α(f、)tC十ε(to、t、fI)
+・+ aaと表わすことができる。ただし、(ロ)式
において、01)式の積分項の対数をε(tO+ t、
r、 )で表わした。
次に対数増幅器18からの出力信号とこの出力信号を遅
延時間dだけ遅延させた信号との差分を゛ 請求めるた
めに、遅延回路20及び減算回路2275玉設けられ、
この減算回路22の出力G。(I、、t)は、Go(f
I、t)−八z(r++t−d)−Ag([+、t)−
α(f、)−d、C−ε(to 、LJ+ >十ε(t
o、t−d、f、)・・・OJ となる。この04式により、Q′;4式における5(f
l)全消去することができ、誠痺回路22からの出力信
号G。(fI、t)は、周波数f1における減衰係数α
(fl)に遅延回路20の遅延時間dと音速Cとを掛け
、これに、誤差項として(−ε(to、t、L)+ε(
to、t−d山))が付加されている。
延時間dだけ遅延させた信号との差分を゛ 請求めるた
めに、遅延回路20及び減算回路2275玉設けられ、
この減算回路22の出力G。(I、、t)は、Go(f
I、t)−八z(r++t−d)−Ag([+、t)−
α(f、)−d、C−ε(to 、LJ+ >十ε(t
o、t−d、f、)・・・OJ となる。この04式により、Q′;4式における5(f
l)全消去することができ、誠痺回路22からの出力信
号G。(fI、t)は、周波数f1における減衰係数α
(fl)に遅延回路20の遅延時間dと音速Cとを掛け
、これに、誤差項として(−ε(to、t、L)+ε(
to、t−d山))が付加されている。
そこで、この誤差項(−ε(to、t、fI)+ε(t
o、t−d山))すなマつち、t1υ式の積分項に着目
する。積分項における反射係数r (x十虹)は確率袈
欲とみるべきである。すなわち、被検体内の反射係数r
(x)は、生体の呼吸性移動、脈はくによる移動、血
流による移動等により変動するため、確定値を待つとは
考えることができない。従って、被検体の統it的性質
が遅延時間dで示される範囲で均一とみなし得る場合f
f、考えると、ε(to、を山)及びε(tti+ ”
−+ fl)は同一の期待値μを持つこととなる。そこ
で、誤差項(−ε(to、t、fI)+6(to、t−
d、fl))の期待値をとると、E(−ε(tO+t+
”+)+ε(to、t−d、fl ))”Ef−ε(t
o t f、l+E(ε(tot−d fI)1=−μ
十μ =O となる。すなわち、誤差項(−ε(to、t、r+)+
ε(jo。
o、t−d山))すなマつち、t1υ式の積分項に着目
する。積分項における反射係数r (x十虹)は確率袈
欲とみるべきである。すなわち、被検体内の反射係数r
(x)は、生体の呼吸性移動、脈はくによる移動、血
流による移動等により変動するため、確定値を待つとは
考えることができない。従って、被検体の統it的性質
が遅延時間dで示される範囲で均一とみなし得る場合f
f、考えると、ε(to、を山)及びε(tti+ ”
−+ fl)は同一の期待値μを持つこととなる。そこ
で、誤差項(−ε(to、t、fI)+6(to、t−
d、fl))の期待値をとると、E(−ε(tO+t+
”+)+ε(to、t−d、fl ))”Ef−ε(t
o t f、l+E(ε(tot−d fI)1=−μ
十μ =O となる。すなわち、誤差項(−ε(to、t、r+)+
ε(jo。
t−d 、 f、 )) の平均値は0となる。
従って、上記04式において、両辺の期待値をとると、
すなわち、減算回1i22からの出力信号の平均値をめ
ると、誤差項(−ε(t、、、tJ、)+ε(to。
すなわち、減算回1i22からの出力信号の平均値をめ
ると、誤差項(−ε(t、、、tJ、)+ε(to。
”Lf+)lは0に近づくので、α(fl)・d−Cが
めらhることか理解をねる。
めらhることか理解をねる。
そこで、減算回路22からの出力信号全平均化し出力信
号GO(fI、t)の平均値をめるために、平均化回路
が設けられており、平均化回路は、加算回路24、減設
器26及び遅延回路28から成る。
号GO(fI、t)の平均値をめるために、平均化回路
が設けられており、平均化回路は、加算回路24、減設
器26及び遅延回路28から成る。
なお遅延回路28の遅延時間は発振器120碌り返し周
波数と等しく設定され、また減哀器26で決する重み全
変えることは、平均回数を変えることに相当する。
波数と等しく設定され、また減哀器26で決する重み全
変えることは、平均回数を変えることに相当する。
以−にのようにして、減算回路22からの出力信号G。
(f、 、 t )の平均値がめられ、また遅延時間d
及び音速Vは既知であるので、前記03式に基づいて減
衰係数α(fl)をめることができ、これを適宜補正す
ることにより、表示波ft30に被検体の周波数f1に
おける減衰係数α(fl)が表示されることとなる。
及び音速Vは既知であるので、前記03式に基づいて減
衰係数α(fl)をめることができ、これを適宜補正す
ることにより、表示波ft30に被検体の周波数f1に
おける減衰係数α(fl)が表示されることとなる。
なお以上の説明では、量率のために、減衰係数α(fl
)は被検体内で一定であるとしたが、上記の説明から容
易に埋填されるように、減衰係数α(f)は被検体内全
体にわたって均一である必要がなく、遅延回路20の遅
延時間dの範囲内で減衰係数α(f)が一定であると近
似できればよい。
)は被検体内で一定であるとしたが、上記の説明から容
易に埋填されるように、減衰係数α(f)は被検体内全
体にわたって均一である必要がなく、遅延回路20の遅
延時間dの範囲内で減衰係数α(f)が一定であると近
似できればよい。
以上のように、本発明の原理によれば、反射エコー信号
に基づいて被検体の減衰係数を容易にg−1測すること
ができ、これにより、被検体内の特定周波数に対する減
衰係数を画像表示することができる。
に基づいて被検体の減衰係数を容易にg−1測すること
ができ、これにより、被検体内の特定周波数に対する減
衰係数を画像表示することができる。
次に第3図には、本発明の実施例による。超音波診断装
置のブロック回路が示され、第3図のブロック回路にお
いては、2種の特定周(皮に!i、r、、r2に対する
減衰係数α(fl)、α(f2)乍覇1則することがで
きる。
置のブロック回路が示され、第3図のブロック回路にお
いては、2種の特定周(皮に!i、r、、r2に対する
減衰係数α(fl)、α(f2)乍覇1則することがで
きる。
ずなイクも、第3図ブロック回路においては、帯域通過
フィルタ14−1.14−2、検波回路16−4゜16
−2、対数増幅器18−1.18−2、遅延回路20−
1.20−2、減算回路22−1.22−2、加コJf
回路24−1.24−2、成長626−1,26−2、
及び遅延回路28−1.28−2は、特定周波紗f、
、 f2について、それぞれ、2系統設けらA1ており
、これにより、2独の特定周波醜r、 、 r2にメ→
する減衰係数α(fl)、α(f2)を51測すること
が可能となる。
フィルタ14−1.14−2、検波回路16−4゜16
−2、対数増幅器18−1.18−2、遅延回路20−
1.20−2、減算回路22−1.22−2、加コJf
回路24−1.24−2、成長626−1,26−2、
及び遅延回路28−1.28−2は、特定周波紗f、
、 f2について、それぞれ、2系統設けらA1ており
、これにより、2独の特定周波醜r、 、 r2にメ→
する減衰係数α(fl)、α(f2)を51測すること
が可能となる。
寸だ一般に、生体内組織においては、減衰係数α([)
は周波数に比例し、この周波縁に対する減衰係賎の比例
定数は組織診断に有力なパラメータとなる。そこで、こ
の比例定数をβとすると、比例定数βは、 β−(α(fI)−α(f2)l /(fl−f2 )
・・・9勺となり、比例定数βを周波数f、 、 f
2及び減衰係数α(fl)、α(f2)からめることが
できる。
は周波数に比例し、この周波縁に対する減衰係賎の比例
定数は組織診断に有力なパラメータとなる。そこで、こ
の比例定数をβとすると、比例定数βは、 β−(α(fI)−α(f2)l /(fl−f2 )
・・・9勺となり、比例定数βを周波数f、 、 f
2及び減衰係数α(fl)、α(f2)からめることが
できる。
従って、第3図のブロック回路によれば、減尺係数α(
fl)、α(f2)、比1+1]定数β及び通常のパル
スエコー画像を表示可能である。見、下、第3図ブロッ
ク回路について詳A1HK [明する。
fl)、α(f2)、比1+1]定数β及び通常のパル
スエコー画像を表示可能である。見、下、第3図ブロッ
ク回路について詳A1HK [明する。
第3図において、発振j指12がらの送信信号は、駆動
回路32を介して探触子1oに1共給さ、h、探触子1
0は超音波パルスビーム金波検体34に送波し、被検体
34からの反射エコーは、探触子10によって受波され
電気信号に変換される。探1リリミ子10かもの反射上
1−信−けは、高周波増幅器36、検波回路38及びビ
テオ壇輻器4oで所定の瑠幅作、用がなされた後、マル
チプレクサ42を介して表示装置(CRT)30に供給
さ」1、該表示装置t130により、通常のBモードあ
るいはIVノモードの断層画像表示が行われる。
回路32を介して探触子1oに1共給さ、h、探触子1
0は超音波パルスビーム金波検体34に送波し、被検体
34からの反射エコーは、探触子10によって受波され
電気信号に変換される。探1リリミ子10かもの反射上
1−信−けは、高周波増幅器36、検波回路38及びビ
テオ壇輻器4oで所定の瑠幅作、用がなされた後、マル
チプレクサ42を介して表示装置(CRT)30に供給
さ」1、該表示装置t130により、通常のBモードあ
るいはIVノモードの断層画像表示が行われる。
なお探触子10から発射される超音波パルスビームを機
械的にあるいは眠気的に走査するために、走査制呻回路
44が設けられ、また表示装置30の掃引制御卸を行う
ために、掃引回路46が設けられ、掃引回路46は走食
制fi111回路44からの走査位置信号100及び発
振器12からの同J41j信号1[12に基づいて、表
示装置30に掃引l・リガ信号104を供給する。また
発振器12からの同期信号102は、掃引回路46の同
期信号として使用されるだけで7z<、装置各部の同期
信号としても使用される。
械的にあるいは眠気的に走査するために、走査制呻回路
44が設けられ、また表示装置30の掃引制御卸を行う
ために、掃引回路46が設けられ、掃引回路46は走食
制fi111回路44からの走査位置信号100及び発
振器12からの同J41j信号1[12に基づいて、表
示装置30に掃引l・リガ信号104を供給する。また
発振器12からの同期信号102は、掃引回路46の同
期信号として使用されるだけで7z<、装置各部の同期
信号としても使用される。
実施1タリにおいては、周波数f、 、 f2に対する
減衰係数α(fI)、α(f2)を計測することを特徴
としており、このために、前記探触子10からの反射−
Lコー信号は、高周波増幅器48で所定の増幅作用を受
けた後、それぞh異なる中心周波数f、 、 f2を有
する帯域通過フィルタ14−1.14−2に供給される
。そして、前述した第1図ブロック回路と同様の作用に
より、周波数f、 、 f2に対する減技係Oα(r、
> 、α(f2)がめられることとなる。
減衰係数α(fI)、α(f2)を計測することを特徴
としており、このために、前記探触子10からの反射−
Lコー信号は、高周波増幅器48で所定の増幅作用を受
けた後、それぞh異なる中心周波数f、 、 f2を有
する帯域通過フィルタ14−1.14−2に供給される
。そして、前述した第1図ブロック回路と同様の作用に
より、周波数f、 、 f2に対する減技係Oα(r、
> 、α(f2)がめられることとなる。
なお反射エコー信号の振幅は、被検体34内の成長によ
り、時間とともに小さくなっていく。そこで、帯域通過
フィルタ14−1.14−2への入力信号の振幅が大き
く変動しないようにするために、高周波増幅器48の利
得ケ時1司とともに増大する必−安があり、このために
、信号発生器50が設けられ、該信号発生器50により
、高周波増幅器48 を制御することができる。
り、時間とともに小さくなっていく。そこで、帯域通過
フィルタ14−1.14−2への入力信号の振幅が大き
く変動しないようにするために、高周波増幅器48の利
得ケ時1司とともに増大する必−安があり、このために
、信号発生器50が設けられ、該信号発生器50により
、高周波増幅器48 を制御することができる。
また対数増幅器18−1と減帰回路22−1との間には
減算回路52−1が設けられ、同様にして、対数増幅器
18−2とIl、算回路22−2との間に7は減褒回1
塔52−2が設けられ、該減算回路52−1.52−2
にJ:9、高周波増幅器48の利得の変動を補正するこ
とができる。すなわち、対数増幅器1.8−1゜18−
2からの出力信号には、高周波増幅器48の利得の対数
が加算されており、信号発生器50からの利侍制側1惰
号を対V墳幅器54で対数変換しこJlを減算回路52
−1.52−2で減算することにより、高周波増幅器4
8の利得の変動全補正することが可能となる。
減算回路52−1が設けられ、同様にして、対数増幅器
18−2とIl、算回路22−2との間に7は減褒回1
塔52−2が設けられ、該減算回路52−1.52−2
にJ:9、高周波増幅器48の利得の変動を補正するこ
とができる。すなわち、対数増幅器1.8−1゜18−
2からの出力信号には、高周波増幅器48の利得の対数
が加算されており、信号発生器50からの利侍制側1惰
号を対V墳幅器54で対数変換しこJlを減算回路52
−1.52−2で減算することにより、高周波増幅器4
8の利得の変動全補正することが可能となる。
また遅延回路28−1.28−2の遅延時間は、発振器
12の繰返し周期と等しく設定されている。
12の繰返し周期と等しく設定されている。
そして、加算回路24−1.24−2からの出力信号は
、そ、)1ぞれ、増幅器56−1.56−2で所足の増
幅わるいは減衰作用全骨け、増幅器56−1からの減衰
係数信号106−1は減衰係数α([1)を示し、同様
に1−て、増幅器56−2からの減衰係数信号106−
2は減衰1糸数α(f2)を示すこととなる。該減衰係
数信号106− i、 106−2はマルチプレクサ4
2を介して表示装置30に供給さ」1、表示装置30に
より減衰係数α(r+)、α(f2)が表示゛される。
、そ、)1ぞれ、増幅器56−1.56−2で所足の増
幅わるいは減衰作用全骨け、増幅器56−1からの減衰
係数信号106−1は減衰係数α([1)を示し、同様
に1−て、増幅器56−2からの減衰係数信号106−
2は減衰1糸数α(f2)を示すこととなる。該減衰係
数信号106− i、 106−2はマルチプレクサ4
2を介して表示装置30に供給さ」1、表示装置30に
より減衰係数α(r+)、α(f2)が表示゛される。
また減衰係数信号106−1. H]6−2は、系統減
算回路58に供、恰さ」t1系統誠減口路58及び該系
統減や回路58に接続さ牙1だ増幅器に0により、周波
数に対する減衰係数の比例定数βがめられる。すなわち
、系統減算回路58によりα(r+)−α(f2)がめ
られ、更に増幅器60の第1」得が17(r、−r、)
と設定されているので、前記(14)式に基づいて比例
定数βをめることが可能となる。そして、系統減算回路
58及び増幅器60によりめられた比例定数βの信号は
、マルチプレクサ42を介して表示装置30に供給さ」
1、該表示装置30により比例定数βが表示をねる。
算回路58に供、恰さ」t1系統誠減口路58及び該系
統減や回路58に接続さ牙1だ増幅器に0により、周波
数に対する減衰係数の比例定数βがめられる。すなわち
、系統減算回路58によりα(r+)−α(f2)がめ
られ、更に増幅器60の第1」得が17(r、−r、)
と設定されているので、前記(14)式に基づいて比例
定数βをめることが可能となる。そして、系統減算回路
58及び増幅器60によりめられた比例定数βの信号は
、マルチプレクサ42を介して表示装置30に供給さ」
1、該表示装置30により比例定数βが表示をねる。
なお実施例においては、表示装置30の前段にマルチプ
レクサil 2が接続されているので、マルチプレクサ
42により、周波数[、に対する減衰係数α(fI)、
周波数f2に対する減衰係数α(f2)、比1タリ定数
β、及び通常のBモー ドあるいはMモードの断層画像
のいず牙1か1細首たは2個以上を適宜選択して同時に
表示装置30に表示することができる。
レクサil 2が接続されているので、マルチプレクサ
42により、周波数[、に対する減衰係数α(fI)、
周波数f2に対する減衰係数α(f2)、比1タリ定数
β、及び通常のBモー ドあるいはMモードの断層画像
のいず牙1か1細首たは2個以上を適宜選択して同時に
表示装置30に表示することができる。
以上のように、実施例によれば、2種の周波数すfx
bちf、 、 f2ViC文」スル減衰1糸数1fl)
、1f2)を51測することができ、史に周C皮数に対
する減衰係数の比例ポ峨βを51測することができる。
bちf、 、 f2ViC文」スル減衰1糸数1fl)
、1f2)を51測することができ、史に周C皮数に対
する減衰係数の比例ポ峨βを51測することができる。
従って、減衰係数分布及び減衰係数の周波数に対する傾
きの分布を表示することが可能となり、病変部の診断に
有効な情報全提供することかり能となる。
きの分布を表示することが可能となり、病変部の診断に
有効な情報全提供することかり能となる。
なお上記実施例においては、減衰係数を計測するための
ブロックを2系統設け、2棟の周波df、。
ブロックを2系統設け、2棟の周波df、。
f2に対する減衰係数α(r+)、α(f2)をめたが
、減衰係ムヲ計測するためのブロックを3系統以上設け
、3種以上の周波数に対する減衰係数を百↑測すること
も可能である。
、減衰係ムヲ計測するためのブロックを3系統以上設け
、3種以上の周波数に対する減衰係数を百↑測すること
も可能である。
発明の詳細
な説明したように、本発明によれは、反射エコー信号か
ら被検体の減衰係数を容易に計測することができる。従
って、被検体の減衰係数を計測し、これを生体組織の質
的診断に有効に利用することができる。
ら被検体の減衰係数を容易に計測することができる。従
って、被検体の減衰係数を計測し、これを生体組織の質
的診断に有効に利用することができる。
第1図は本発明の原理によるブロック回路図、第2図は
本発明の原理による波形図、 第3図(は本発明の実施例による超音波診断装置のブロ
ック回路図である。 14・・帯域通過フィルタ 16・・検波回路 18・・対数増幅器 20・・・遅延回路 22・・減算回路 24・・・加算回路 26・・・減衰器 28・・・遅延回路 34・・被検体 58・・・系統減算回路。 出願人 アロカ株式会社
本発明の原理による波形図、 第3図(は本発明の実施例による超音波診断装置のブロ
ック回路図である。 14・・帯域通過フィルタ 16・・検波回路 18・・対数増幅器 20・・・遅延回路 22・・減算回路 24・・・加算回路 26・・・減衰器 28・・・遅延回路 34・・被検体 58・・・系統減算回路。 出願人 アロカ株式会社
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)被検体に超音波パルスビームを送受波し被検体か
らの反射エコー信号に基づいて断層画像を表示する超音
波診断装置において、反射エコー信号から特定の周波数
成分金取り出す帯域通過フィルタ及び検波回路と、該帯
域通過フィルタ及び検波回路からの信号を対数変換する
対数変換器と、該対数変換器からの信号とこの信号を所
定の時間間隔だけ遅延させた遅延信号との差分をめる減
算回路と、を含魯、前記特定の周波数成分に対する超音
波の減衰係数を計測すること1%徴とする超音波診断装
M。 (2、特許請求の範囲(1)記載の装置において、前記
減算回路からの信号全平均化する平均化回路が設けられ
、該平均化回路により被検体内の反射係数の仇討的変動
を低減させることを特徴とする超音波診断装置。 (3)%許請求の範囲(1)または(2)記載の装置に
おいて、前記帯域通過フィルタ及び検波回路、対V変換
器、減算回路は、複数の特定周波数成分についてそれぞ
れ複倣系統設けられ、各系統からの信号の差分をめる系
統減算回路が設けられ、各系統により複数の特定周波数
成分に対する減衰係数を計測し、系統減算回路により周
波数成分に対する減衰係数の比例定数を苫1測すること
を特徴とする超音波診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14391883A JPS6036038A (ja) | 1983-08-08 | 1983-08-08 | 超音波診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14391883A JPS6036038A (ja) | 1983-08-08 | 1983-08-08 | 超音波診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6036038A true JPS6036038A (ja) | 1985-02-25 |
| JPH0221259B2 JPH0221259B2 (ja) | 1990-05-14 |
Family
ID=15350122
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14391883A Granted JPS6036038A (ja) | 1983-08-08 | 1983-08-08 | 超音波診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6036038A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6055260A (ja) * | 1983-09-06 | 1985-03-30 | Terumo Corp | 超音波測定方法およびその装置 |
| JPS60176629A (ja) * | 1984-02-23 | 1985-09-10 | テルモ株式会社 | 超音波測定装置 |
| JPH02167465A (ja) * | 1988-12-21 | 1990-06-27 | Ngk Insulators Ltd | 超音波探傷検査方法 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02225780A (ja) * | 1988-11-14 | 1990-09-07 | Naka Tech Lab | カード錠およびそのカード錠を備えたメールボックス |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4938490A (ja) * | 1972-08-16 | 1974-04-10 | ||
| JPS56147082A (en) * | 1980-04-17 | 1981-11-14 | Yoshinori Hayakawa | Method and device for quantitative ultrasonic inspection using plural frequencies |
-
1983
- 1983-08-08 JP JP14391883A patent/JPS6036038A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4938490A (ja) * | 1972-08-16 | 1974-04-10 | ||
| JPS56147082A (en) * | 1980-04-17 | 1981-11-14 | Yoshinori Hayakawa | Method and device for quantitative ultrasonic inspection using plural frequencies |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6055260A (ja) * | 1983-09-06 | 1985-03-30 | Terumo Corp | 超音波測定方法およびその装置 |
| JPS60176629A (ja) * | 1984-02-23 | 1985-09-10 | テルモ株式会社 | 超音波測定装置 |
| JPH02167465A (ja) * | 1988-12-21 | 1990-06-27 | Ngk Insulators Ltd | 超音波探傷検査方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0221259B2 (ja) | 1990-05-14 |
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