JPS6043010B2 - 電子部品のリ−ド線形状検出方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は段差切断された自立型電子部品のリード線
の形状検出方法に関するものである。

一般に、コンデンサのようにリード線に極性がある自
立型電子部品は第１図に示すように部品本体１から同一
方向に導出した２本のリード線２、３の長さを相異させ
ている。この電子部品４の部品本体１の表面にはリード
線２、３の極性を表示するマーク等が捺印されているが
、各リード線２、３の長さの相異によつても極性が容易
に判別できるように工夫されている。又、このリード線
２、３の長さの相異は電子部品４をプリント基板のスル
ーホールにリード線２、３を挿入して組付ける場合に、
まず長い方のリード線２を挿入してから次に短い方のリ
ード線３を挿入するようにして組付けを容易ならしめる
目的にも行われている。尚、リード線２、３は長い方が
プラス、短い方がマイナスである場合が一般的である。
上記電子部品４は例えば第２図に示すように複数の電
子部品４、４・・・の各リード線先端部を長尺な帯板５
に定ピッチで固定して一連に配列した帯状部品６として
製造されている。

そして、この帯状部品６の状態で各電子部品４の夫々の
リード線２、３は例えば第３図乃至第６図に示すリード
線段差切断装置７て順次に段差切断される。即ち第３図
及び第４図に於て、８は間歇移動するベルトコンベア等
の移送体、９は移送体８上に移送方向と直行する方向に
平行に複数個が等間隔て配置されたチャック体で、この
各々のチャック体９に帯状部品６の部品本体１、１・・
・がチャックされ、帯状部品６は移送体８と共に直立し
た状態て間歇送りされる。前記リード線段差切断装置７
は間歇送りされる帯状部品６が停止する１つのポジショ
ンＡに配置され、このポジションＡでの帯状部品６のリ
ード線２、３を段差切断する。つまり、りード線段差切
断装置７は第５図に示ように計４枚の回転刃１０ａ、１
０ｂ）１１ａ、ｌｌｂを有し、その内２枚の回転刃１０
ａ、ｌｌａは同形で、周面にＶ字状の切断溝１２ａ、１
３ａを定ピッチで複数個が形成されこの切断溝１２ａ、
１３ａの間は切断溝１２ａ、１３ａより深い逃げ溝１４
ａ、１５ａが形成されている。又、残りの２枚の回転刃
１０ａ、ｌｌｂは真円形の円板である。そして回転刃１
０ｂの外周面が切断溝１２ａ（７）溝元円１、に接し、
逃げ溝１４ａの溝元円１２から十分の距離をもつて離れ
るよう回転刃１０ｂと回転刃１０ａの一部が交叉し、こ
の両者は一体に同期して夫々反対方向に回転する。又、
同様に回転刃１１ａと回転刃１１ｂの一部が交叉して、
この両者も一体に同期して夫々反対方向に回転する。前
者一組の回転刃１０ａ，１０ｂはポジションＡに帯状部
品６がくると、この帯状部品６のリード線並ぴ方向に沿
つて例えば第６図に示す第１切断ラインｍの位置を回転
しながら移動し、後者一組の回転刃１１ａ，１１ｂは第
１切断ラインｍよソー段下の第２切断ラインｎの位置を
回転しながら移動して、次のようにリード線２，３を段
差切断する。即ち、各回転刃１０ａ，１１ａの切断溝１
２ａ，１３ａの配列ピッチは帯状部品６のリード線２，
３の配列ピッチに合わせてあり、一組の回転刃１０ａ，
１０ｂが回転移動すると回転刃１０ａの切断溝１２ａに
はプラス側リード線２だけが順次に嵌まり、回転刃１０
ｂとの交叉時に第１切断ラインｍの位置で切断される。
この時、マイナス側リード線３は回転刃１０ａの逃げ溝
１４ａに嵌まつて回転刃１０ｂから逃げるため切断され
ない。一方、他の一組の回転刃１１ａ，１１ｂが回転移
動すると回転刃１１ａの切断溝１３ａにはマイナス側リ
ード線３だけが順次に嵌まつて回転刃１１ｂで第２切断
ラインｎの位置で切断され、プラス側リード線２は逃げ
溝１５ａに嵌まつて切断されない。つまり、帯状部品６
がポジションＡにくるとリード線段差切断装置７が移送
体８と直交する方向に１回移動し、この間に帯状部品６
の各プラス側リード線２，２・・・が第１切断ラインｍ
の箇所で順次切断され、同時にマイナス側リード線３，
３・・・が第２切断ラインｎの箇所で順次に切断される
。このリード線切断が完了すると帯板５が除去され、個
々の電子部品４，４・・・はチャック体９でチャックさ
れたまま次のポジションＢへと送られていく。ところで
上記リード線２，３の段差切断にはリード線ピッチの若
干の狂いなどによつて次の切断不良品が発生する。

例えば上記回転刃１０ａの切断溝１２ａにマイナス側リ
ード線３が嵌まるとプラス側リード線２と同じ長さで切
断され、第７図の不良例イに示すものが製造される。同
様に上記回転刃１１ａの切断溝１３ａにプラス側リード
線２が嵌まるとマイナス側リード線３と同じ長さで切断
され、第７図の不良例口に示すものが得られる。更に回
転刃１０ａがマイナス側リード線３を切断し、回転刃１
１ａがプラス側リード線２を切断するミスも発生率は極
めて少ないも発生することがあり、この場合は第７図不
良例ハのように逆段差切断のものが得られる。このよう
な各不良例イ，口，ハはリード線２，３の極性が判別で
きなくなり、製造過程の途中で除去してやる必要がある
。又、そのためにはリード線切断後にリード線形状の良
否を検出する必要がある。そこで、このようなリード線
形状検出方法として、従来はポジションＡ以降の任意の
ポジション間、例えば第３図のポジションＢとポジショ
ンＣの間に第８図及び第９図に示すようなリード線形状
検出装置１６を配備して行つていた。

このリード線形状検出装置１６は移送体８と直交する方
向に支持板１７を配置し、支持板１７の下面に一定の間
隔をもつて複数の検出片１８を揺動自在に吊下げ、且つ
各検出片１８の裏面側に検出片１８の揺れを検出するマ
イクロスイッチ１９を配置したものである。そして、各
検出片１８の間をプラス側リード線２が通過し、各検出
片１８の下の近傍をマイナス側リード線３が通過するよ
う配置されている。このようにすると移送体８のチャッ
ク体９で支持された電子部品４のリード線２，３が正常
に段差切断されていると各リード線２，３は支持板１７
の下をそのまま通過するが、仮りにマイナス側リード線
３の長さがプラス側リード線２の正規の長さで切断され
ていると、この不良リード線３″が検出片１８に当つて
検出片１８が傾き、マイクロスイッチ１９がこ異常を検
出して不良リード線３″が検出される。しかし、この検
出方法には第７図の不良例イとハを検出するが不良例口
を検出することは不可能であつた。そこで本発明は発生
頻度の高い第７図の不良例イ，口を確実に検出し得る方
法についてなされたもので、光センサを用いた光学的検
出方法を提供する。

例えば上記移送体８でチャックされ、ポジションＡでリ
ード線切断が行われた電子部品４のリード線形状検出に
本発明を適用した例を説明すると、本発明はポジション
Ａ以降の任意のポジションＸに第１０図及び第１１図に
示すような２つの光センサ２０，２１を配備する。この
各光センサ２０，２１は夫々が投光素子２０ａ，２１ａ
と受光素子２０ｂ，２１ｂを対向させて配置したもので
、第１の光センサ２０はポジションＸにおける各電子部
品４，４・・・の第１切断ラインｍと第２切断ラインｎ
の間の高さに配置され、第２の光センサ２１は第２切断
ラインｎより少し下の高さに配置されている。そしてリ
ード線段差切断された電子部品４がポジションＸに移送
されてくると、各光センサ２０，２１が各切断ラインＭ
，ｎの方向に走査して、第１の光センサ２０が各電子部
品４，４・・・のプラス側リード線２，２・・・を順次
に検，出し、第２の光センサ２１がプラス側とマイナス
側の両リード線２，３，２，３・・・・・を順次検出す
る。いまポジションｘに配列された電子部品４の数をＮ
とすると、各電子部品４，４・・・のリード線２，３が
正常に段差切断されていると第１の光センサ２０はＮ本
のリード線を検出し、第２の光センサ２１はボ本のリー
ド線を検出する。

そこでこの両光センサ２０，２１の検出信号をカウント
して、夫々のカウント値Ｎａ（＝Ｎ），Ｎｂ（＝２Ｎ）
を演算すれぱリード線切断不良が検出できる。即ち、例
えば演算でＮａを２倍し、２Ｎａ＝Ｎｂの式が成立すれ
ば全ての電子部品４，４・・・は正常に切断されている
と判定される。又、仮りに１つの電子部品４のマイナス
側リード線３がプラス側リード線２の正規の長さと同じ
長さで切断されていると、第１の光センサ２０はこの不
良リード線３をも検出して、カウント値はＮ＋１となり
、２Ｎａ＝Ｎｂの式が成立せず２Ｎａ＞Ｎｂとなる。逆
に１つの電子部品４のプラス側リード線２がマイナス側
リード線３の正規の長さで切断されていると第１の光セ
ンサ２０で検出されたカウント値はＮ一１となり、やは
り２Ｎａ＝Ｎｂの式は成立せずに２Ｎａ〈Ｎｂとなる。
つまり第７図の不良例イ，口が検出される。このような
りウント値Ｎａ，Ｎｂの演算は任意の方式で行えばよい
が、次のようにマイクロコンピュータを使えば簡単に行
える。

例えば第１２図に示すように第１の光センサ２０の投光
素子２０ｂの出力を増幅回路２２で増幅してカウンター
２３に入力し、ここでカウント値Ｎａをホールしてから
Ｉ／０２４つまり外部機器結合装置を介してＣＰＵ（中
央処理装置）２５に入力して右シフトを行い、入力され
たＮａのデータを２倍した２Ｎａのデータをレジスタに
記憶させる。一方、第２の光センサ２１の投光素子２１
ｂの出力を増幅回路２６で増幅してカウンター２７に入
力し、ここてカウント値ＮｂをホールしてＩ／０２４を
介してＣＰＵ２５に入力する。そしてＣＰＵ２５でＮｂ
のデータとレジスタに記憶された２Ｎａのデータの差を
とつて２Ｎａ＝Ｎｂが成立するか否かを“０゛或は゜“
１゛゜の信号で取出すようにする。尚、上式２Ｎａ＝Ｎ
ｂは第７図の不良例１１のように逆段差の電子部品４が
ある場合には各光センサ２０，２１の検出と併用して第
８図に示したリード形状検出装置１６を組合せ使用する
ことが望ましい。

今らにセンサは光センサの他、磁気センサなどを使用す
ることもできる。以上説明したように、本発明によれば
リード線を共に短く切断した不良品をも確実に検出する
ことができ、而もセンサによる検出方式であるから、リ
ード線を傷付けることなく高速度て高精度の信頼性の良
い検出が可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は自立型電子部品の正面図、第２図は第１図の電
子部品を有する帯状部品の正面図、第３図及び第４図は
リード線段差切断装置を説明するための側面図及び平面
図、第５図は第４図一部の拡大動作図、第６図は第４図
の装置によるリード線切断動作側面図、第７図は電子部
品の各種不良）例を示す正面図、第８図及び第９図は従
来のリード線形状検出装置の側面図及びＴ−Ｔ線断面図
、第１０図及び第１１図は本発明の方法を実施する装置
の一例を示す概略側面図及び平面図、第１２図は本発明
て使用する光センサの出力でリード線夕形状の良否を判
別する回路（マイクロコンピュータ）のブロック図であ
る。 １・・・・・・部品本体、２，３・・・・・・リード線
、４・・・電子部品、２０・・・・・・第１のセンサ、
２１・・・・・第２のセンサ、ｍ・・・・・・第１の切
断ライン、ｎ・・・・・・第２０切断ライン。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 複数の自立型電子部品を一連に配列して各々のリー
   ド線を段差切断したものに於て、前記リード線を長く切
   断する位置の第１切断ラインと短く切断する位置の第２
   切断ラインの間を第１のセンサで、第２切断ラインの部
   品本体側近傍を第２のセンサで走査して、この各センサ
   の出力でリード線の本数をカウントし、この両カウント
   値の演算によつてリード線の形状を判別するようにした
   ことを特徴とする電子部品のリード線形状検出方法。