JPS604831A - 温度検出回路 - Google Patents
温度検出回路Info
- Publication number
- JPS604831A JPS604831A JP11200183A JP11200183A JPS604831A JP S604831 A JPS604831 A JP S604831A JP 11200183 A JP11200183 A JP 11200183A JP 11200183 A JP11200183 A JP 11200183A JP S604831 A JPS604831 A JP S604831A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- terminal
- transistor
- temperature
- potential
- base
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K7/00—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
- G01K7/01—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using semiconducting elements having PN junctions
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（１ン 発明の属する技術分野
本発明は温度検出回路に係り、特に情報処理に用いられ
る２値論理回路に組み合せて用いるのに好適な温度検出
回路に関する。
る２値論理回路に組み合せて用いるのに好適な温度検出
回路に関する。
（２）従来技術の説明
従来、半導体のチップ温度はチップ外部か表面にて温度
計或いはそれに類するもので測定するか、又はチップ内
のトランジスタの接合電圧を測定してその温度特性から
チップ温度を推定する方法が一般に用いられでいる。し
かしながら、外部から温度計等で測定する方法は実装上
の制約、測定値の確度などの問題があり、またチップ内
のトランジスタの接合電圧を測定する方法は、動作が不
安定で外部雑音に弱いなどの欠点があった。
計或いはそれに類するもので測定するか、又はチップ内
のトランジスタの接合電圧を測定してその温度特性から
チップ温度を推定する方法が一般に用いられでいる。し
かしながら、外部から温度計等で測定する方法は実装上
の制約、測定値の確度などの問題があり、またチップ内
のトランジスタの接合電圧を測定する方法は、動作が不
安定で外部雑音に弱いなどの欠点があった。
（３）発明の目的
本発明は、かかる従来の欠点を除いた温度検出回路を提
供するとと會その目的とする。
供するとと會その目的とする。
（４）発明の特徴
本発明の特徴は、差動対全なす第１及び第２のトランジ
スタと、該第１及び第２のトランジスタの共通接続され
たエミッタに接続された定電流回路と、該第１及び第２
のトランジスタの各々のコレクタに接続された第１及び
第２の抵抗器とを含む温度検出回路において、第１の電
源と前記第１のトランジスタのベースとの間にダイオー
ドが接続され、第２の電源と前記第１のトランジスタの
ベースとの間に第３の抵抗器が接続され、前記第１の電
源と前記第２のトランジスタのベースとの間に第３のト
ランジスタが接続され、該第３のトランジスタのベース
は前記第１のトランジスタのコレクタに接続され、前記
第２の電源と前記第２のトランジスタのベースとの間に
第４の抵抗器が接続されている温度検出回路におる。
スタと、該第１及び第２のトランジスタの共通接続され
たエミッタに接続された定電流回路と、該第１及び第２
のトランジスタの各々のコレクタに接続された第１及び
第２の抵抗器とを含む温度検出回路において、第１の電
源と前記第１のトランジスタのベースとの間にダイオー
ドが接続され、第２の電源と前記第１のトランジスタの
ベースとの間に第３の抵抗器が接続され、前記第１の電
源と前記第２のトランジスタのベースとの間に第３のト
ランジスタが接続され、該第３のトランジスタのベース
は前記第１のトランジスタのコレクタに接続され、前記
第２の電源と前記第２のトランジスタのベースとの間に
第４の抵抗器が接続されている温度検出回路におる。
例えば、夫々のエミッタが互いに接続された２個の第１
．第２のトランジスタを有し、該第１及び第２のトラン
ジスタのベースに与えられる電圧の高低に応じて該第１
及び第２のトランジスタに選択的に電流を流すようにな
された所謂電流切換型スイッチ回路Ｕ１があり、Ｕｌの
第１及び第２のトランジスタのコレクタと電源端子１と
の間にそれぞれ抵抗器１．抵抗器２を接続し、一方、ダ
イオード１とダイオード２及び抵抗器３を全て直列に接
続し電源端子１と電源端子２との間に挿入し、該ダイオ
ード２と該抵抗器３との接続点を該第１のトランジスタ
のベースに接続し、第２ｖ）ランジスタのベースには、
コレクタが電源端子１に接続された第３のトランジスタ
のエミッタが接続され同時に該エミッタと電源端子２と
の間に抵抗器４が接続され、さらに、第１のトランジス
タのコレクタと該第３のトランジスタのベースが接続さ
れるとともに、定電流回路Ｕ２も接続される様な構成の
電流切換型回路に於て該第２のトランジスタのベースを
イニシャライズ用の入力信号印加端子とし、該第２のト
ランジスタのコレクタを検出信号の出力端子とするよう
な温度検出回路である。
．第２のトランジスタを有し、該第１及び第２のトラン
ジスタのベースに与えられる電圧の高低に応じて該第１
及び第２のトランジスタに選択的に電流を流すようにな
された所謂電流切換型スイッチ回路Ｕ１があり、Ｕｌの
第１及び第２のトランジスタのコレクタと電源端子１と
の間にそれぞれ抵抗器１．抵抗器２を接続し、一方、ダ
イオード１とダイオード２及び抵抗器３を全て直列に接
続し電源端子１と電源端子２との間に挿入し、該ダイオ
ード２と該抵抗器３との接続点を該第１のトランジスタ
のベースに接続し、第２ｖ）ランジスタのベースには、
コレクタが電源端子１に接続された第３のトランジスタ
のエミッタが接続され同時に該エミッタと電源端子２と
の間に抵抗器４が接続され、さらに、第１のトランジス
タのコレクタと該第３のトランジスタのベースが接続さ
れるとともに、定電流回路Ｕ２も接続される様な構成の
電流切換型回路に於て該第２のトランジスタのベースを
イニシャライズ用の入力信号印加端子とし、該第２のト
ランジスタのコレクタを検出信号の出力端子とするよう
な温度検出回路である。
そして、上記定電流回路Ｕ２の定電流源端子を、電源端
子２から切り離し、独立した入力端子とし、該温度検出
回路が正常に動作することを該入力端子に印加される入
力電圧を変えることによって確認できることが好ましい
。
子２から切り離し、独立した入力端子とし、該温度検出
回路が正常に動作することを該入力端子に印加される入
力電圧を変えることによって確認できることが好ましい
。
上記の様に構成された回路に於て、まず高電位なイニシ
ャライズ信号を該第２のトランジスタのベースに印加す
ることによりスイッチ回路Ｕ１では第２のトランジスタ
が導通状態となり、低電位な検出信号が出力される。第
１のトランジスタのベース電位も第２のトランジスタの
ベース電位もチップ温度の上昇に供ない、電位が上昇す
る特性を有するが、前者の変化率の方が大きく回路的に
設定されているので、設定温度に達すると両ベース電位
の関係が逆転し、第１のトランジスタが導通状態となり
、検出信号は高電位に変化する。
ャライズ信号を該第２のトランジスタのベースに印加す
ることによりスイッチ回路Ｕ１では第２のトランジスタ
が導通状態となり、低電位な検出信号が出力される。第
１のトランジスタのベース電位も第２のトランジスタの
ベース電位もチップ温度の上昇に供ない、電位が上昇す
る特性を有するが、前者の変化率の方が大きく回路的に
設定されているので、設定温度に達すると両ベース電位
の関係が逆転し、第１のトランジスタが導通状態となり
、検出信号は高電位に変化する。
（５）発明の原理と作用
上記構成のエミッタ結合型論理回路に於て、トランジス
タのベース・エミッタ間電圧（ＶＢ］、、）の温度係数
及び抵抗の温度係数を利用して、各々のエミッタが互い
に接続された２つのトランジスタのベース電位をチップ
の接合温度の変動に応じて変化させ、設定温度に達した
か否かを温度検出信号として出力するものである。
タのベース・エミッタ間電圧（ＶＢ］、、）の温度係数
及び抵抗の温度係数を利用して、各々のエミッタが互い
に接続された２つのトランジスタのベース電位をチップ
の接合温度の変動に応じて変化させ、設定温度に達した
か否かを温度検出信号として出力するものである。
（６）実施例
次に本発明の実施例である第１図について説明する。こ
の図に於て、Ｑｌ 、Ｑ２とＱ３で、定電流型のエミッ
タ結合型電流切換えスイッチ回路を形成しており、■ｃ
８は定電流源としての基準電圧である。ＤｌとＤ２はト
ランジスタ利用による順方向ダイオードであり、これら
の順方向電圧の和がトランジスタＱ１のベース電位を決
定している。
の図に於て、Ｑｌ 、Ｑ２とＱ３で、定電流型のエミッ
タ結合型電流切換えスイッチ回路を形成しており、■ｃ
８は定電流源としての基準電圧である。ＤｌとＤ２はト
ランジスタ利用による順方向ダイオードであり、これら
の順方向電圧の和がトランジスタＱ１のベース電位を決
定している。
Ｑ５は定電流源を形成するトランジスタであり、その定
電流値と抵抗Ｒ１の抵抗値の積がＱ４のベース電位とな
り、さらにＱ４のベース−エミッタ間電圧（ＶＢ、）を
シフトした電位がＱ２のベース電位となっている。Ｑ６
は端子６に印加されるイニシャライズ信号をレベルシフ
トするためのエミッタフォロアトランジスタである。こ
こで当該回路の動作を追ってみる。まず端子６にイニシ
ャライズ信号として低電位信号が印加されている期間で
は端子２に比べて端子３の電位の方が面位となるのでト
ランジスタＱ２が導通状態％Ｑ１が非導通状態となり、
出力端子５には低電位信号が出力される。
電流値と抵抗Ｒ１の抵抗値の積がＱ４のベース電位とな
り、さらにＱ４のベース−エミッタ間電圧（ＶＢ、）を
シフトした電位がＱ２のベース電位となっている。Ｑ６
は端子６に印加されるイニシャライズ信号をレベルシフ
トするためのエミッタフォロアトランジスタである。こ
こで当該回路の動作を追ってみる。まず端子６にイニシ
ャライズ信号として低電位信号が印加されている期間で
は端子２に比べて端子３の電位の方が面位となるのでト
ランジスタＱ２が導通状態％Ｑ１が非導通状態となり、
出力端子５には低電位信号が出力される。
第２図では当該回路内の電位に関する温度変化の概略を
示したものである。本例では検出温度としてチップ接合
温度（ＴＪ）が１００℃の場合を例に取り上げている。
示したものである。本例では検出温度としてチップ接合
温度（ＴＪ）が１００℃の場合を例に取り上げている。
端子３の電位はほぼＱ４の■Ｂ１．．の温度変動に供な
って上昇するのに対し、端子２の電位はＤＩ及びＤ２の
ＶＢＰ、の温度変動の和に供なって上昇するので、その
温度係数は端子３のそれよりも急岐岐である。そして’
［’ｊ＃１００°Ｃでは端子２と３は同電位となり、そ
れ以上の範囲では逆に端子２の電位の方が高位となる。
って上昇するのに対し、端子２の電位はＤＩ及びＤ２の
ＶＢＰ、の温度変動の和に供なって上昇するので、その
温度係数は端子３のそれよりも急岐岐である。そして’
［’ｊ＃１００°Ｃでは端子２と３は同電位となり、そ
れ以上の範囲では逆に端子２の電位の方が高位となる。
従がってＴｊ＝１００°Ｃで端子５の出力信号は低電位
から高電位に変化するとともに、チップの接合温度が１
００℃に達したことが出力信号の変化から知ることがで
きる。
から高電位に変化するとともに、チップの接合温度が１
００℃に達したことが出力信号の変化から知ることがで
きる。
一方、定電流源を構成するトランジスタＱ５と抵抗Ｒ８
のうち、電源■。８に接続されている抵抗８の端子１０
を■。。から切り離し、端子１０に印加される入力電圧
を可変することにより、検出設定温度（本例ではＴｊ＝
１ｔｌ）０℃）以下であっても本回路が正常に動作する
ことを確認することかできる。
のうち、電源■。８に接続されている抵抗８の端子１０
を■。。から切り離し、端子１０に印加される入力電圧
を可変することにより、検出設定温度（本例ではＴｊ＝
１ｔｌ）０℃）以下であっても本回路が正常に動作する
ことを確認することかできる。
（力 発明の効果
本発明は以上説明したように、トランジスタのベース・
エミッタ間電圧（■ＢＦ、）の温度特性及び抵抗の温度
特性をうまく組み合わせて、エミッタ結合型電流切換型
回路に接続することにより、チップ温度が回路的に設定
された温度を超えたか否かを温度検出信号として得られ
るものである。
エミッタ間電圧（■ＢＦ、）の温度特性及び抵抗の温度
特性をうまく組み合わせて、エミッタ結合型電流切換型
回路に接続することにより、チップ温度が回路的に設定
された温度を超えたか否かを温度検出信号として得られ
るものである。
第１図は本発明の実施例を示す。第２図は第１図に示さ
れた回路構成例での各点電位の温度変動を図示しだもの
である。 なお図において、Ｑｌ〜ＱＩＯ・・・・・・ＮＰＮ型ト
ランジスタ、Ｄｌ、、Ｄ２・・・・・・ＮＰＮ型トラン
ジスタによるダイオード構成、几１〜Ｒ１３・・・・・
・抵抗器、ＶＲＩ・・・・・・規準電圧印加端子、Ｖｃ
ｓ・・・・・・定電流源用設定電圧印加端子、である。 一□ｌ １６ 為 ｌ 図 柩 ？ 図
れた回路構成例での各点電位の温度変動を図示しだもの
である。 なお図において、Ｑｌ〜ＱＩＯ・・・・・・ＮＰＮ型ト
ランジスタ、Ｄｌ、、Ｄ２・・・・・・ＮＰＮ型トラン
ジスタによるダイオード構成、几１〜Ｒ１３・・・・・
・抵抗器、ＶＲＩ・・・・・・規準電圧印加端子、Ｖｃ
ｓ・・・・・・定電流源用設定電圧印加端子、である。 一□ｌ １６ 為 ｌ 図 柩 ？ 図
Claims (2)
- （１）差動対をなす第１及び第２のトランジスタと、該
第１及び第２のトランジスタの共通接続されたエミッタ
に接続された定電流回路と、該第１及び第２のトランジ
スタの各々のコレクタに接続された第１及び第２の抵抗
器とを含む温度検出回路において、第１の電源と前記第
１のトランジスタのベースとの間にダイオードが接続さ
れ、第２の電源と前記第１のトランジスタのベースとの
間に第３の抵抗器が接続され、前記第１の電源と前記第
２のトランジスタのベースとの間に第３のトランジスタ
が接続され、該第３のトランジスタのベースは前記第１
のトランジスタのコレクタに接続され、前記第２の電源
と前記第２のトランジスタのベースとの間に第４の抵抗
器が接続されていることを特徴とする温度検出回路。 - （２）第４の抵抗器にイニシャライズ回路が接続されて
いることを特徴とする特許請求の範囲第（１）項記載の
温度検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11200183A JPS604831A (ja) | 1983-06-22 | 1983-06-22 | 温度検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11200183A JPS604831A (ja) | 1983-06-22 | 1983-06-22 | 温度検出回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS604831A true JPS604831A (ja) | 1985-01-11 |
| JPH0146015B2 JPH0146015B2 (ja) | 1989-10-05 |
Family
ID=14575464
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11200183A Granted JPS604831A (ja) | 1983-06-22 | 1983-06-22 | 温度検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS604831A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001502435A (ja) * | 1997-08-08 | 2001-02-20 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 温度検出回路 |
-
1983
- 1983-06-22 JP JP11200183A patent/JPS604831A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001502435A (ja) * | 1997-08-08 | 2001-02-20 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 温度検出回路 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0146015B2 (ja) | 1989-10-05 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0473806B2 (ja) | ||
| EP0147584B1 (en) | A differential amplifier | |
| JPH0770935B2 (ja) | 差動電流増幅回路 | |
| US4485351A (en) | Circuit for deriving of signals and counter cycle signals from one sided input signal | |
| JPS604831A (ja) | 温度検出回路 | |
| US5028820A (en) | Series terminated ECL buffer circuit and method with an optimized temperature compensated output voltage swing | |
| US4004091A (en) | Bidirectional line driver | |
| JPH09105763A (ja) | コンパレータ回路 | |
| JPS58213521A (ja) | コンパレ−タ回路 | |
| JPS62247269A (ja) | ３−電圧レベル検出器 | |
| JPS60236509A (ja) | 差動可変増幅回路 | |
| JPH0347694B2 (ja) | ||
| JPH0666648B2 (ja) | ヒステリシスコンパレ−タ | |
| US4260955A (en) | Current amplifier with regenerative latch switch | |
| JPH07109979B2 (ja) | シュミット回路 | |
| JPS5855454Y2 (ja) | 定電流回路 | |
| JPH0468606A (ja) | 非線形可変利得回路 | |
| JPS593606Y2 (ja) | 相補差動増幅回路 | |
| JPH0588566B2 (ja) | ||
| JPH04127602A (ja) | オペアンプの出力回路 | |
| JPH03108912A (ja) | 電流切替形論理回路の出力回路 | |
| JPH0152976B2 (ja) | ||
| JPH06109678A (ja) | 湿度検出回路 | |
| JPH0363254B2 (ja) | ||
| JPS6123402A (ja) | 差動増幅回路 |