JPS6049257A - 超音波探傷装置 - Google Patents
超音波探傷装置Info
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- JPS6049257A JPS6049257A JP58157317A JP15731783A JPS6049257A JP S6049257 A JPS6049257 A JP S6049257A JP 58157317 A JP58157317 A JP 58157317A JP 15731783 A JP15731783 A JP 15731783A JP S6049257 A JPS6049257 A JP S6049257A
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- JP
- Japan
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- flaw detection
- detection head
- centering
- roller
- center
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- Pending
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/22—Details, e.g. general constructional or apparatus details
- G01N29/26—Arrangements for orientation or scanning by relative movement of the head and the sensor
- G01N29/27—Arrangements for orientation or scanning by relative movement of the head and the sensor by moving the material relative to a stationary sensor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
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- G01N2291/028—Material parameters
- G01N2291/02854—Length, thickness
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- Analytical Chemistry (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は、角ビレットあるいは丸ビレットなど形状や
寸法の不揃いな棒状の被検材を自動的に超音波により検
査を行なう超音波探傷装置に関するものである。
寸法の不揃いな棒状の被検材を自動的に超音波により検
査を行なう超音波探傷装置に関するものである。
以下、被検材が角ビレットの場合の超音波探傷装置につ
いて説明する。７第１図（ｎ、）〜（θ）は角ビレット
（Ｉａ）〜（１θ）が幾何学的な角柱（１ｆ）に対しど
のように変形しているか示したもので第１図（ａ）〜（
θ）は断面形状を示している。（１ａ）は曲り、 （１
１））は捩り。
いて説明する。７第１図（ｎ、）〜（θ）は角ビレット
（Ｉａ）〜（１θ）が幾何学的な角柱（１ｆ）に対しど
のように変形しているか示したもので第１図（ａ）〜（
θ）は断面形状を示している。（１ａ）は曲り、 （１
１））は捩り。
（１Ｃ）は外形寸法が変動したもの、（ｉｄ）は隣り合
う２辺が直角でないもの、（１θ）は各辺が凸状Ｉｌ：
たは凹状に変形したもので、実際の角ビレットではこれ
らのいくつかの変形が複合している。第２図は角ビレッ
トを搬送しながら超音波探傷している状態を示すもので
ある。（２）は第１図で示すようないくつかの変形が複
合している実際の角ビレットで。
う２辺が直角でないもの、（１θ）は各辺が凸状Ｉｌ：
たは凹状に変形したもので、実際の角ビレットではこれ
らのいくつかの変形が複合している。第２図は角ビレッ
トを搬送しながら超音波探傷している状態を示すもので
ある。（２）は第１図で示すようないくつかの変形が複
合している実際の角ビレットで。
（３）は搬送ロール、 （４ａ）、（４ｂ）は上流側の
ピッチローラで被検材（２）をピンチした状態を示し、
（５ａ）、（５ｂ）は下流側のピンチローラで開放し
−Ｃいる状態を示す、（６）は超音波探傷装置、（力は
被検材（２）の搬送方向を示す。
ピッチローラで被検材（２）をピンチした状態を示し、
（５ａ）、（５ｂ）は下流側のピンチローラで開放し
−Ｃいる状態を示す、（６）は超音波探傷装置、（力は
被検材（２）の搬送方向を示す。
このような角ビレットに追従する従来の超音波探傷装置
としては第４〜７図に示すようなものがあった、第４図
は正面図、第５図は第４図の右側面図、第６図は左側面
図、第７図は一点鎖腺６Ｇでの断面図である。図におい
て（２）は被検材、ａｌ）は固定架台、 ｌ１３は、第
１の移動基板、０漕は搬送方向（７）（以ＦＺ方向と呼
ぶ）と直角で水平な方向（以下Ｘ方向と呼ぶ）に第１の
移動基板叫を摺動させる第１のスライダー、 （１４ａ
）、（１４ｂ）は被検材（２）の左右よりはさみつける
一対のセンタリングロール、 ０９は第１のセンタリン
グ機構、００は第１の接離材機構。
としては第４〜７図に示すようなものがあった、第４図
は正面図、第５図は第４図の右側面図、第６図は左側面
図、第７図は一点鎖腺６Ｇでの断面図である。図におい
て（２）は被検材、ａｌ）は固定架台、 ｌ１３は、第
１の移動基板、０漕は搬送方向（７）（以ＦＺ方向と呼
ぶ）と直角で水平な方向（以下Ｘ方向と呼ぶ）に第１の
移動基板叫を摺動させる第１のスライダー、 （１４ａ
）、（１４ｂ）は被検材（２）の左右よりはさみつける
一対のセンタリングロール、 ０９は第１のセンタリン
グ機構、００は第１の接離材機構。
（１ηは探傷ヘッド、 （１８ａ）、（１８ｂ）はＶ形
の溝をもち被検材（２）の左右より角をはさみつけるガ
イドローラ。
の溝をもち被検材（２）の左右より角をはさみつけるガ
イドローラ。
６９は第２のセンタリング機構、Ｈは、探傷ヘッド０ｎ
と第２のセンタリング機構＋１９を取付けているブロッ
ク、Ｑυは２方向を回転軸とするローリング機構である
。
と第２のセンタリング機構＋１９を取付けているブロッ
ク、Ｑυは２方向を回転軸とするローリング機構である
。
次に動作について説明する・搬送ロール（３）によって
矢印（７）の方向に送られてきた被検材（２）は上流９
ｔｌｌ ノピンチローラ（４ａ）、（４ｂ）によってピ
ンチされ超音波探傷装置（６）に送り込まれる。まず被
検材（２）の先端がセンタリングロール（１４ａ）、（
１４ｂ）を通過したら第１のセンタリング機構０りに取
付けられたセンタリングローラ（１４ａ）、（１４ｂ）
によって被検材（２）がはさみつけられ、第１の移動基
板α２はその中心と被検材（２）の中心が一致するよう
第１のスライダー０３で摺動して移動する。続いて被検
材（２）の先端が探傷ヘッドαηを通過すると第１の接
離材機構Ｏｅが上昇し探傷ヘッド０ηが被検材（２）に
液相する。次に第２のセンタリング機構ａ９に取付けら
れているガイドローラ（１８ａ）、（１８ｂ）が被検材
＋２）をはさみつける。またこのとき同じ信号によって
、センタリングロール（１４ａ）、（１４ｂ）が開放さ
れる。従って探傷ヘッドα力は、ガイドローラ（１８ａ
）、（１８ｂ）をガイドとして被検材（２）のＸ方向の
曲りに対しては第１のスライダーθＱにより、垂直な方
向（以下Ｙ方向という）の曲りに対しては第１の接離材
機構叫により、被検材（２）の捩れに対してはローリン
グ機構シυにより追従する。
矢印（７）の方向に送られてきた被検材（２）は上流９
ｔｌｌ ノピンチローラ（４ａ）、（４ｂ）によってピ
ンチされ超音波探傷装置（６）に送り込まれる。まず被
検材（２）の先端がセンタリングロール（１４ａ）、（
１４ｂ）を通過したら第１のセンタリング機構０りに取
付けられたセンタリングローラ（１４ａ）、（１４ｂ）
によって被検材（２）がはさみつけられ、第１の移動基
板α２はその中心と被検材（２）の中心が一致するよう
第１のスライダー０３で摺動して移動する。続いて被検
材（２）の先端が探傷ヘッドαηを通過すると第１の接
離材機構Ｏｅが上昇し探傷ヘッド０ηが被検材（２）に
液相する。次に第２のセンタリング機構ａ９に取付けら
れているガイドローラ（１８ａ）、（１８ｂ）が被検材
＋２）をはさみつける。またこのとき同じ信号によって
、センタリングロール（１４ａ）、（１４ｂ）が開放さ
れる。従って探傷ヘッドα力は、ガイドローラ（１８ａ
）、（１８ｂ）をガイドとして被検材（２）のＸ方向の
曲りに対しては第１のスライダーθＱにより、垂直な方
向（以下Ｙ方向という）の曲りに対しては第１の接離材
機構叫により、被検材（２）の捩れに対してはローリン
グ機構シυにより追従する。
従来の超音波探傷装置は、このように構成されているの
で１次のような欠点がある。
で１次のような欠点がある。
（イ）センタリングロール（１４ａ）、（１４ｂ）がら
探傷ヘッドαηまでの距離が長いため、探傷ヘッドαで
の追従範囲が大きい。
探傷ヘッドαηまでの距離が長いため、探傷ヘッドαで
の追従範囲が大きい。
仲） ガイドローラ（１８ａ）、（１８ｂ）がＶ溝Ｏ−
ラ、！１ すっているため、所定の回転トルクを得るた
めには。
ラ、！１ すっているため、所定の回転トルクを得るた
めには。
ローラ径を大きくする必要があり９そのために探傷ヘッ
ドαηとガイドローラ（１８ａ）、（１８ｂ）の間隔が
大きくなり、その距離分の曲り、捩れに対して、探傷ヘ
ッドαηはずれて探傷することになる。
ドαηとガイドローラ（１８ａ）、（１８ｂ）の間隔が
大きくなり、その距離分の曲り、捩れに対して、探傷ヘ
ッドαηはずれて探傷することになる。
（ハ）探傷ヘッドαηが接材後、ガイドローラ（１８ａ
）。
）。
（ｊ８ｂ″）ｂ′−センタリングするため、ガイじロー
ラ（１８ａ）。
ラ（１８ａ）。
（＋８ｂ）の動作に要する時間は、探傷ヘッド◇ηが正
確に探傷していることにならないため、探傷不能領域が
大きい。
確に探傷していることにならないため、探傷不能領域が
大きい。
この発明は１これらの欠点を改善するためになされたも
ので、探傷ヘッド直近の乎ローラによりセンタリングす
ることにより追従性がよく探傷不能領域の少い、超音波
自動探傷装置を提供しようとするものである。
ので、探傷ヘッド直近の乎ローラによりセンタリングす
ることにより追従性がよく探傷不能領域の少い、超音波
自動探傷装置を提供しようとするものである。
以下、第８．第９図に示すこの発明の一実施例について
説明するっ第８図は正面図、第９図は第８図の右側面図
である。第８図において（２）は被検材、ａｌは固定架
台、 Ｑ３は第１の移動基板、θＪは第１の移動基板０
３をＸ方向に摺動させる第１のスライダー、（ハ）は固
定架台αυと、第１の移動基板（ｌの間に取り付けられ
た第２の移動基板、（ハ）は第２の移動基板のをＹ方向
に摺動させる第２のスライダ−，Ｃ！４１は第３の移動
基板、（ハ）は第１の移動基板ｏ２と第３の移動基板Ｑ
４１の間に取り伺りられたローリング機構である。第９
図において、 （２６ａ）はＸ方向に摺動自由なＶ溝ロ
ーラ、 （１５ａ肘、 Ｖ溝ローラ（２６ａ）を動作さ
せるセンタリング機構、 （２６ｂ）は、センタリング
機構（１５ｂ）によってＹ方向にのみ移動するＶ溝ロー
ラ、０７１は探傷ヘッド、（ハ）は探傷ヘッドｏｎを支
持すると共に、被検材（２）の面をはさみつけろ平ロー
ラ、■は第２のセンタリング機構であると共に、 ｔ？
［−ノドａηヲ接離材するためのセンタＩＪ ７グ接離
材機構である。また四は固定架台◇υと第２の移動基板
（ハ）の間にあって、第２の移動基板（ハ）ではさまれ
た機構の自重をキャンセルするために取り付けられたス
プリングである。
説明するっ第８図は正面図、第９図は第８図の右側面図
である。第８図において（２）は被検材、ａｌは固定架
台、 Ｑ３は第１の移動基板、θＪは第１の移動基板０
３をＸ方向に摺動させる第１のスライダー、（ハ）は固
定架台αυと、第１の移動基板（ｌの間に取り付けられ
た第２の移動基板、（ハ）は第２の移動基板のをＹ方向
に摺動させる第２のスライダ−，Ｃ！４１は第３の移動
基板、（ハ）は第１の移動基板ｏ２と第３の移動基板Ｑ
４１の間に取り伺りられたローリング機構である。第９
図において、 （２６ａ）はＸ方向に摺動自由なＶ溝ロ
ーラ、 （１５ａ肘、 Ｖ溝ローラ（２６ａ）を動作さ
せるセンタリング機構、 （２６ｂ）は、センタリング
機構（１５ｂ）によってＹ方向にのみ移動するＶ溝ロー
ラ、０７１は探傷ヘッド、（ハ）は探傷ヘッドｏｎを支
持すると共に、被検材（２）の面をはさみつけろ平ロー
ラ、■は第２のセンタリング機構であると共に、 ｔ？
［−ノドａηヲ接離材するためのセンタＩＪ ７グ接離
材機構である。また四は固定架台◇υと第２の移動基板
（ハ）の間にあって、第２の移動基板（ハ）ではさまれ
た機構の自重をキャンセルするために取り付けられたス
プリングである。
次に動作について説明する。被検材（２）は、矢印（７
）の方向より搬送され、上流側のピンチローラ（４ａ）
（４ｂ）でピンチされる。次いで被検材（２）がＶ溝ロ
ーラ（２６ａ）を通過すると、センタリング機構（１５
ａ）が動作する。■溝ローラ（２６＆）は、第２の移動
基板＠と被検材（２）とのＹ方向の距離を一定に保ち、
被検材（２）の中心を、第３の移動基板＠の中心に一致
させる位置で固定される。またＶ溝ローラ（２６ａ）は
、Ｘ方向の移動が自由であり、センタリング機構（１５
ａ ）が動作すると同時に、センタリング機構（１５ｂ
）が動作し１ ｖ湾口〜う（２６ｂ）が接材すると、第
１の移動基板０ｚを介して、第３の移動基板Ｃ２４）の
中心が被検材（２）の中心と一致するように、第１のス
ライダー峙が動作する。このときＶ溝ローラ（２６ａ）
はＸ方向の所定の位置に移動を完了する、さらに２例え
ば。
）の方向より搬送され、上流側のピンチローラ（４ａ）
（４ｂ）でピンチされる。次いで被検材（２）がＶ溝ロ
ーラ（２６ａ）を通過すると、センタリング機構（１５
ａ）が動作する。■溝ローラ（２６＆）は、第２の移動
基板＠と被検材（２）とのＹ方向の距離を一定に保ち、
被検材（２）の中心を、第３の移動基板＠の中心に一致
させる位置で固定される。またＶ溝ローラ（２６ａ）は
、Ｘ方向の移動が自由であり、センタリング機構（１５
ａ ）が動作すると同時に、センタリング機構（１５ｂ
）が動作し１ ｖ湾口〜う（２６ｂ）が接材すると、第
１の移動基板０ｚを介して、第３の移動基板Ｃ２４）の
中心が被検材（２）の中心と一致するように、第１のス
ライダー峙が動作する。このときＶ溝ローラ（２６ａ）
はＸ方向の所定の位置に移動を完了する、さらに２例え
ば。
被検材（２）がＹ方向上へ曲がっており、■溝ローラ（
２６ａ）が被検材（２）に接材していない場合には、’
Ｂｆｉ７０−ラ（２６ｂ）が接材した時、第２の移動基
板Ｑ４が。
２６ａ）が被検材（２）に接材していない場合には、’
Ｂｆｉ７０−ラ（２６ｂ）が接材した時、第２の移動基
板Ｑ４が。
第２のスライダーのにより、Ｙ方向上へ移動シー。
第３．す８動基板Ｑ（の中心が被検材（２）の中心と一
致する。次に、被検材（２）が探傷ヘッドｔ１７）を通
過すると、セフ・タリ／グ接離材機構Ｑ沙が動作し、平
日−ラを接材させセンタリングすると共に、探傷ヘッド
０ηも接材し、探傷を開始する。これと同時に。
致する。次に、被検材（２）が探傷ヘッドｔ１７）を通
過すると、セフ・タリ／グ接離材機構Ｑ沙が動作し、平
日−ラを接材させセンタリングすると共に、探傷ヘッド
０ηも接材し、探傷を開始する。これと同時に。
第１のセンタリング機構（１５ａ）、（１５ｂ）が開放
され。
され。
以後はセンタリング接Ｎ１羽機構により、Ｘ方向。
Ｙ方向及びローリング機構（ハ）による回転追従する。
この発明による超音波自動探傷装置は、以北説明したよ
うに、探傷ヘッド直近の平ローラに、Ｌリセンタリング
するので。
うに、探傷ヘッド直近の平ローラに、Ｌリセンタリング
するので。
（イ）探傷ヘッドαηと、Ｘ方向、Ｙ方向の位置決めを
行なう第１のセンタリング機構部との距離を短かくする
ことができ、探傷ヘッド０１の追従範囲をせまくするこ
とができる。
行なう第１のセンタリング機構部との距離を短かくする
ことができ、探傷ヘッド０１の追従範囲をせまくするこ
とができる。
（ロ）回転追従に対し 千ローラ（５）を用いているの
で、従来のＶ溝ローラ（２６ａ）、（２６ｂ）に比して
探傷ヘッドαηと第２のセンタリング機構との距離を小
さくできなおかつ、大きな回転トルクを得ることができ
１回転追従性をよくすることができる。
で、従来のＶ溝ローラ（２６ａ）、（２６ｂ）に比して
探傷ヘッドαηと第２のセンタリング機構との距離を小
さくできなおかつ、大きな回転トルクを得ることができ
１回転追従性をよくすることができる。
（ハ）探傷ヘッドＯＤと、千ローラ（ハ）が同時に接材
するので１従来の装置の探傷ヘッド（Ｉ７）が接材した
後ガイドローラ（１８ａ）、（１８ｂ）が被検材をはさ
みつける時間をな（すことができ、探傷不能領域を少な
くすることができる。
するので１従来の装置の探傷ヘッド（Ｉ７）が接材した
後ガイドローラ（１８ａ）、（１８ｂ）が被検材をはさ
みつける時間をな（すことができ、探傷不能領域を少な
くすることができる。
という効果がある。
なお以上の説明は被検材が角ビレットの場合について説
明したが、この発明は丸ビレットや棒鋼。
明したが、この発明は丸ビレットや棒鋼。
鋼管などについても探傷ヘッドに円弧状のシューなどを
つけることにより適用可能である。
つけることにより適用可能である。
第１図は被検材の角ビレットがどのように変形している
かを説明した図、第２図は搬送ラインと超音波自動探傷
装置の関係を示す概念図、第３図は搬送ローラと角ビレ
ットの状態を示す搬送ラインの断面図、第４図は従来の
装置の正面図、第５図は第４図の右側面図、第６図は第
４図の左側面図、第７図は第４図のＯｆＲからの断面図
、第８図はこの発明の一実施例を示す正面図、第９図は
第８図の右側面図である。図中（２）は被検材、 （４
ａ）、（４ｂ）は上流側のピンチローラ、（１０は固定
架台、０力は第１の移動基板、０階は第１のスライダー
、 （１５ａ）、（＋５ｂ）は第１のセンタリング機構
、０７）は探傷ヘッド、グシは第２の移動基板、 Ｃ３
は第２のスライダー、Ｃ４）は第３の移動基板、 ＣＳ
はローリング機構、 （２６ａ）、（２６ｂ）はＶ溝ロ
ーラであり、０７）は千ローラである。 なお１図中同一あるいは相当部分には同一符号な伺して
説明しである。 代理人大岩増雄 第Ｌ １１ ” ２ ｒｖ 第３図 第４図 り 〆 ／ρ ／乙 第ｊ； 、’７：ｊ 第 ５１遍 第 ２１＝４ ％形形際畷形り 、’４＞ｉ；１．Ａ ２ヂ ／３２３ 第 ９ ｉＪ ３３
かを説明した図、第２図は搬送ラインと超音波自動探傷
装置の関係を示す概念図、第３図は搬送ローラと角ビレ
ットの状態を示す搬送ラインの断面図、第４図は従来の
装置の正面図、第５図は第４図の右側面図、第６図は第
４図の左側面図、第７図は第４図のＯｆＲからの断面図
、第８図はこの発明の一実施例を示す正面図、第９図は
第８図の右側面図である。図中（２）は被検材、 （４
ａ）、（４ｂ）は上流側のピンチローラ、（１０は固定
架台、０力は第１の移動基板、０階は第１のスライダー
、 （１５ａ）、（＋５ｂ）は第１のセンタリング機構
、０７）は探傷ヘッド、グシは第２の移動基板、 Ｃ３
は第２のスライダー、Ｃ４）は第３の移動基板、 ＣＳ
はローリング機構、 （２６ａ）、（２６ｂ）はＶ溝ロ
ーラであり、０７）は千ローラである。 なお１図中同一あるいは相当部分には同一符号な伺して
説明しである。 代理人大岩増雄 第Ｌ １１ ” ２ ｒｖ 第３図 第４図 り 〆 ／ρ ／乙 第ｊ； 、’７：ｊ 第 ５１遍 第 ２１＝４ ％形形際畷形り 、’４＞ｉ；１．Ａ ２ヂ ／３２３ 第 ９ ｉＪ ３３
Claims (1)
- 角ビレット、丸ビレットなどの棒状の被検材を長手方向
に直進させる搬送ライン上に設置された超音波探傷ヘッ
ドを有する超音波探傷装置において、上記搬送ラインに
固定された固定架台に対して、被検材の搬送方向に直角
な水平方向に移動する第１の移動基板と、搬送方向に直
角な垂直方向に移動する第２の移動基板と、上記第１の
移動基板に対して被検材の搬送方向を軸として回転する
第３の移動基板と、上記第３の移動基板に取り付けられ
被検材をはさんで対向しているセンタリング接離材機構
と、上記センタリング接離材機構に取り付けられた千ロ
ーラと、上記千ローラに取り付けられた探傷ヘッドによ
って構成したことを特徴とする超音波探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58157317A JPS6049257A (ja) | 1983-08-29 | 1983-08-29 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58157317A JPS6049257A (ja) | 1983-08-29 | 1983-08-29 | 超音波探傷装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6049257A true JPS6049257A (ja) | 1985-03-18 |
Family
ID=15647044
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58157317A Pending JPS6049257A (ja) | 1983-08-29 | 1983-08-29 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6049257A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002084274A3 (de) * | 2001-04-11 | 2003-01-03 | Krautkraemer Gmbh | Prüfvorrichtung für die ultraschallprüfung von stangenmaterial |
| JP2005037407A (ja) * | 2004-11-05 | 2005-02-10 | Jfe Steel Kk | 超音波探傷方法及び超音波探傷装置 |
-
1983
- 1983-08-29 JP JP58157317A patent/JPS6049257A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002084274A3 (de) * | 2001-04-11 | 2003-01-03 | Krautkraemer Gmbh | Prüfvorrichtung für die ultraschallprüfung von stangenmaterial |
| JP2005037407A (ja) * | 2004-11-05 | 2005-02-10 | Jfe Steel Kk | 超音波探傷方法及び超音波探傷装置 |
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