JPS6049846B2 - ２周波数測光装置 - Google Patents
２周波数測光装置Info
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- JPS6049846B2 JPS6049846B2 JP4077777A JP4077777A JPS6049846B2 JP S6049846 B2 JPS6049846 B2 JP S6049846B2 JP 4077777 A JP4077777 A JP 4077777A JP 4077777 A JP4077777 A JP 4077777A JP S6049846 B2 JPS6049846 B2 JP S6049846B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- output
- circuit
- voltage
- reference light
- feedback
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
- G01N21/274—Calibration, base line adjustment, drift correction
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
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- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
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- Biochemistry (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は分光分析等で用いられる２周波数測光方式に
よる測光装置に関する。
よる測光装置に関する。
参照光と試料光とを異なる周波数として測光装置に入
射させ、周波数の違いによつて両光の測光値を分離検出
し、参照光の測光値が一定になるようにフィードバック
をかけて制御する測光方式においては従来次のような問
題があつた。
射させ、周波数の違いによつて両光の測光値を分離検出
し、参照光の測光値が一定になるようにフィードバック
をかけて制御する測光方式においては従来次のような問
題があつた。
第１図に従来の２周波数測光方式における回路を示す
。
。
ＰＭは光電子増倍管のような光検出器、ＰＡは前置増幅
器、ＡＣＡは交流増幅器でこれらの増幅器によつて検出
器ＰＭの出力は順次増幅され、２つの同期整流器ＣＤＩ
、ＣＤ２に入力される。光検出器ＰＭに入射するのは参
照光Ｉｒと試料、１’ ｉ１−−ヨＡΦ、ｉ、！’ｉ−
鳥Ｉｉ笥−に卜来に！、−ペー←Ｊ−４鼻江ワＡムＩｒ
は周波数ｆ２で継続されている。第２図のＩｓ、Ｉｒ
はこれらの光の変調波形を示す。同期整流器ＣＤ １
は周波数ｆｌのサンプリング信号が与えられてＡＣＡの
出力信号から試料光成分を取出し、同期整流尤ＣＤ２は
周波数ｆ２のサンプリング信号が与えられてＡＣＡの出
力信号から参照光成分を取出す。各同期整流器出力は平
滑回路Ｆ１、Ｆ２で平滑化される。この平滑化された信
号をｅｓ、ｅｒとする。ｅｓ、ｅｒは変換回路Ｌｉ、Ｌ
２て吸光度信号となり、引算目釘βＵに印加され、ＳＵ
の出力が表示される。他方参照光成分の平滑出力ｅｒは
比較回路ＨＣで基準電圧Ｅｒと比較され、両者の差によ
つて負高圧発生回路ＨＴが制御され、ＨＴの出力が検出
器ＰＭに与えられてＰＭの感度が制御され、ｅｒが一定
に保たれる。 上述した構成において、今何等かの原因
で参照光が途絶えたとする。
器、ＡＣＡは交流増幅器でこれらの増幅器によつて検出
器ＰＭの出力は順次増幅され、２つの同期整流器ＣＤＩ
、ＣＤ２に入力される。光検出器ＰＭに入射するのは参
照光Ｉｒと試料、１’ ｉ１−−ヨＡΦ、ｉ、！’ｉ−
鳥Ｉｉ笥−に卜来に！、−ペー←Ｊ−４鼻江ワＡムＩｒ
は周波数ｆ２で継続されている。第２図のＩｓ、Ｉｒ
はこれらの光の変調波形を示す。同期整流器ＣＤ １
は周波数ｆｌのサンプリング信号が与えられてＡＣＡの
出力信号から試料光成分を取出し、同期整流尤ＣＤ２は
周波数ｆ２のサンプリング信号が与えられてＡＣＡの出
力信号から参照光成分を取出す。各同期整流器出力は平
滑回路Ｆ１、Ｆ２で平滑化される。この平滑化された信
号をｅｓ、ｅｒとする。ｅｓ、ｅｒは変換回路Ｌｉ、Ｌ
２て吸光度信号となり、引算目釘βＵに印加され、ＳＵ
の出力が表示される。他方参照光成分の平滑出力ｅｒは
比較回路ＨＣで基準電圧Ｅｒと比較され、両者の差によ
つて負高圧発生回路ＨＴが制御され、ＨＴの出力が検出
器ＰＭに与えられてＰＭの感度が制御され、ｅｒが一定
に保たれる。 上述した構成において、今何等かの原因
で参照光が途絶えたとする。
このようなことは特殊な事態ではなく、フレームレス原
子吸光分析でグラフアイトチユーブヘの試料注入操作の
際には必ず起Ａこることである。このような場合第１図
の回路で参照光成分出力ｅｒが０になるが比較回路ＨＣ
から検出器ＰＭに至るフィードバック回路ではｅｒの値
を一定に保つように働くため負高圧発生回路ＨＴの出力
は最大値に達する。その後参照光が回復す・るとｅｒは
急に大きくなるが、前置増幅器ＰＡから平滑回路Ｆ２に
至る回路の応答より比較回路ＨＣからＰＭに至るフィー
ドバック回路の対応がおそいとフィードバック回路が参
照光の回復に応答する以前（検出器ＰＭの感度は非常に
高められている）にＰＭ出力が増大し、前置増幅器ＰＡ
の段或は交流増幅器ＡＣＡの段の出力は飽和してしまう
。第２図のＥ２は正常時のＡＣＡの出力波形（直流レベ
ルが異なるだけでＰＡの出力波形も同形）を示し、同Ｅ
２ｓはＰＡ又はＡＣＡが飽和しているときのＡＣＡの出
力波形を示す。飽和してしまつているので周波数Ｆ２の
成分は見掛上消失してしまいあたかも参照光が入射して
いない時のようであり、同期整流器ＣＤ２の出力は参照
光が途絶えた時以来０のま）であり、従つて第１図の回
路全体は参照光が回復した後も自動的には正常動作に戻
れないことになる。本発明は２周波数測光方式の上述し
た問題点を解決することを目的としたものてある。
子吸光分析でグラフアイトチユーブヘの試料注入操作の
際には必ず起Ａこることである。このような場合第１図
の回路で参照光成分出力ｅｒが０になるが比較回路ＨＣ
から検出器ＰＭに至るフィードバック回路ではｅｒの値
を一定に保つように働くため負高圧発生回路ＨＴの出力
は最大値に達する。その後参照光が回復す・るとｅｒは
急に大きくなるが、前置増幅器ＰＡから平滑回路Ｆ２に
至る回路の応答より比較回路ＨＣからＰＭに至るフィー
ドバック回路の対応がおそいとフィードバック回路が参
照光の回復に応答する以前（検出器ＰＭの感度は非常に
高められている）にＰＭ出力が増大し、前置増幅器ＰＡ
の段或は交流増幅器ＡＣＡの段の出力は飽和してしまう
。第２図のＥ２は正常時のＡＣＡの出力波形（直流レベ
ルが異なるだけでＰＡの出力波形も同形）を示し、同Ｅ
２ｓはＰＡ又はＡＣＡが飽和しているときのＡＣＡの出
力波形を示す。飽和してしまつているので周波数Ｆ２の
成分は見掛上消失してしまいあたかも参照光が入射して
いない時のようであり、同期整流器ＣＤ２の出力は参照
光が途絶えた時以来０のま）であり、従つて第１図の回
路全体は参照光が回復した後も自動的には正常動作に戻
れないことになる。本発明は２周波数測光方式の上述し
た問題点を解決することを目的としたものてある。
本発明はフィードバック回路の出力第１図で云えは負高
圧発生回路ＨＴの出力が検出器の感度を増大させる側て
或る限度を超えたことを検知してフィードバック回路の
基準電圧（第１図で云えばＥｒ）を０に切換え、フィー
ドバック回路の出力が検出器の感度を下ける側て或る限
度を超えたことを検知して上記基準電圧をもとの値に戻
すようにした２周波数測光方式を提供するものてある。
圧発生回路ＨＴの出力が検出器の感度を増大させる側て
或る限度を超えたことを検知してフィードバック回路の
基準電圧（第１図で云えばＥｒ）を０に切換え、フィー
ドバック回路の出力が検出器の感度を下ける側て或る限
度を超えたことを検知して上記基準電圧をもとの値に戻
すようにした２周波数測光方式を提供するものてある。
このようにすると、参照光１ｒが途絶えたような場合、
負高圧発生回路は自動的に或る出力範囲を上下するよう
になり、光検出器への入射光が回復した後、従来例のよ
うに光検出器の感度が最高の所！に固定されることなく
、感度が変動しているので必す参照光測光出力Ｅｒが基
準値と一致する所を経過し、その時以後測光回路は正常
動作に入ることになる。以下実施例によつて本発明を説
明する。第３図は本発明の一実施例を示すものて、光検
ｊ出器から平滑回路に至る測光回路は第１図に示したも
のと同じなので省略し、フィードバック回路のみが示し
てある。参照光成分の平滑回路Ｆ２の出力は比較回路Ｈ
Ｃに印加される。ＨＣに与えられる基準電圧はスイッチ
ＳによつてＥｒと０とに切り換えられるようになつてお
り、この切換えが前述したように負高圧発生回路ＨＴの
出力レベルによつて行われる。比較回路ＨＣの出力は負
高圧発生回路ＨＴに印加されてこれを制御し、ＨＴの出
力Ｈｖによつて光検出器ＰＭの感度を制御すると共にＨ
Ｔの出力Ｈｖは電圧比較回路ＥＣにおいて比較電圧Ｖｒ
と比較され、Ｈ■がＶｒを（絶対値で小から大へ）超え
るとＥＣの出力が反転する。ＥＣの出力の反転は遅延回
路Ｄ１によつて適宜時間遅れてスイッチング回路ＳＣに
送られ、ＳＣが動作してスイッチＳをＥｒ側から０側に
切換える。ＨＴの出力Ｅｖか絶対値において大から小（
上述とは逆の方向）に比較電任■ｒを超えると電圧比較
回路ＥＣは再ひ反フ転（もとに戻る）し遅延回路Ｄ１を
経てスイッチング回μＳＣを作動させてス，インチＳを
Ｅｒ側に戻すようになつている。以上の構成の動作を第
４図のタイムチャートによつて説明する。
負高圧発生回路は自動的に或る出力範囲を上下するよう
になり、光検出器への入射光が回復した後、従来例のよ
うに光検出器の感度が最高の所！に固定されることなく
、感度が変動しているので必す参照光測光出力Ｅｒが基
準値と一致する所を経過し、その時以後測光回路は正常
動作に入ることになる。以下実施例によつて本発明を説
明する。第３図は本発明の一実施例を示すものて、光検
ｊ出器から平滑回路に至る測光回路は第１図に示したも
のと同じなので省略し、フィードバック回路のみが示し
てある。参照光成分の平滑回路Ｆ２の出力は比較回路Ｈ
Ｃに印加される。ＨＣに与えられる基準電圧はスイッチ
ＳによつてＥｒと０とに切り換えられるようになつてお
り、この切換えが前述したように負高圧発生回路ＨＴの
出力レベルによつて行われる。比較回路ＨＣの出力は負
高圧発生回路ＨＴに印加されてこれを制御し、ＨＴの出
力Ｈｖによつて光検出器ＰＭの感度を制御すると共にＨ
Ｔの出力Ｈｖは電圧比較回路ＥＣにおいて比較電圧Ｖｒ
と比較され、Ｈ■がＶｒを（絶対値で小から大へ）超え
るとＥＣの出力が反転する。ＥＣの出力の反転は遅延回
路Ｄ１によつて適宜時間遅れてスイッチング回路ＳＣに
送られ、ＳＣが動作してスイッチＳをＥｒ側から０側に
切換える。ＨＴの出力Ｅｖか絶対値において大から小（
上述とは逆の方向）に比較電任■ｒを超えると電圧比較
回路ＥＣは再ひ反フ転（もとに戻る）し遅延回路Ｄ１を
経てスイッチング回μＳＣを作動させてス，インチＳを
Ｅｒ側に戻すようになつている。以上の構成の動作を第
４図のタイムチャートによつて説明する。
第４図１ｒは参照光光源の変化を・示す。ＴＯで発光が
停止しＴ６で発光が再開された。Ｈ■は負高圧発生回路
ＨＴの出力を示し、０は０ボルトラインであり、Ｈｖは
負側に出る。点線Ｖｒは比較回路ＨＣに設定されている
比較電圧■ｒを示す。時刻ｂまでは測光回路は正常に働
いていて″負高圧発生回路ＨＴの出力はＶてあつた。時
間ＴＯて参照光が途絶え平滑回路Ｆ２の出力は低下して
行く。負高圧発生回路ＨＴはこの低下を阻止すべく光検
出器ＰＭの感度を上げる方向即ち負の方向に■より増加
して行き比較電圧Ｖｒを超える。この時点をｔ１とする
。ｔ１において比較回路ＥＣの出力（第４図ＥＣ）は反
転し今まて上てあつたものが＋Ｅに変る。遅延回路Ｄ１
によつてＥＣの出力の反転よりΔｔたけおくれてＤ１の
出力はハイからローに変る（ｔ峙点）。Ｄｌの出力ハイ
に対してスイッチｓにＥｒに接しており、ローに変ると
Ｓは０に切換わる。従つてｙ寺点まてはＨＴの出力はＰ
Ｍの感度を上ける方向に変化を続けており、ｔ満点で比
較回路ＨＣの規準電圧が０になるので、ＨＴの出力は参
照光成分側の平滑出力Ｅｒが０になる方向即ち光検出器
ＰＭの感度を下ける方向に変化を始める。この過程てＨ
Ｔの出力がＶｒを超すＴ３Ａ点において比較回路ＥＣの
出力は再び上に反転し、遅延回路Ｄ１の出力はＴ３より
Δｔおくれた１時点にハイに復し、スイッチＳはＥｒ側
に切換えられる。そうするとＨＴの出力は再び負の方向
に増加し始めＴ５の時点にＶｒを超し比較回路ＥＣの出
力が＋Ｅに反転し、ΔｔおくれてスイッチＳが０側に切
換わる。以後上述動作が繰返し続けられＨＴの出力は■
ａと■ｂとの間を三角波状に変動することになる。即ち
負高圧発生回路ＨＴの出力Ｖａにおいて比較回路ＥＣの
基準電圧を０に切換えＶｂにおいてＥｒに戻す動作が繰
返される。このようにしてＴ６の時点で参照光が回復し
たとき、ＨＴの出力は■ｂから負の方向に増加しつ）あ
り、途中ｖのレベルを通る。それまでにＦ２の出力Ｅｒ
が基準電圧Ｅｒ付近まで回復しておればＨＴの出力がＶ
の付近において第１図の増幅器ＰＡ，ＡＣＡは能動域に
あるから測光回路全体は正常動作に移つて行く。仮にＨ
Ｔの出力が■を通過するときＦ２の出力が未だＥｒまで
回復していないときは一度はＨＴの出力はＶａまで達す
るが次に減少の過程で■のレベルを通るとき測光回路は
正常動作に入る。上述実施例から明かなようにＨＴの出
力が（絶対値て）或る上限に達したら参照光測光値の比
較規準値Ｅｒを０に切換え、或る下限を超えたらＥｒに
戻すと云う操作を行えばよいのであるから、ＨＴの出力
を２つのレベル比較器によつて上限或は下限を超えたこ
とを検知してキープリレーのようなものを操作して参照
光測光値の比較規準値をＥｒ又は０と切換えればよいの
てある。
停止しＴ６で発光が再開された。Ｈ■は負高圧発生回路
ＨＴの出力を示し、０は０ボルトラインであり、Ｈｖは
負側に出る。点線Ｖｒは比較回路ＨＣに設定されている
比較電圧■ｒを示す。時刻ｂまでは測光回路は正常に働
いていて″負高圧発生回路ＨＴの出力はＶてあつた。時
間ＴＯて参照光が途絶え平滑回路Ｆ２の出力は低下して
行く。負高圧発生回路ＨＴはこの低下を阻止すべく光検
出器ＰＭの感度を上げる方向即ち負の方向に■より増加
して行き比較電圧Ｖｒを超える。この時点をｔ１とする
。ｔ１において比較回路ＥＣの出力（第４図ＥＣ）は反
転し今まて上てあつたものが＋Ｅに変る。遅延回路Ｄ１
によつてＥＣの出力の反転よりΔｔたけおくれてＤ１の
出力はハイからローに変る（ｔ峙点）。Ｄｌの出力ハイ
に対してスイッチｓにＥｒに接しており、ローに変ると
Ｓは０に切換わる。従つてｙ寺点まてはＨＴの出力はＰ
Ｍの感度を上ける方向に変化を続けており、ｔ満点で比
較回路ＨＣの規準電圧が０になるので、ＨＴの出力は参
照光成分側の平滑出力Ｅｒが０になる方向即ち光検出器
ＰＭの感度を下ける方向に変化を始める。この過程てＨ
Ｔの出力がＶｒを超すＴ３Ａ点において比較回路ＥＣの
出力は再び上に反転し、遅延回路Ｄ１の出力はＴ３より
Δｔおくれた１時点にハイに復し、スイッチＳはＥｒ側
に切換えられる。そうするとＨＴの出力は再び負の方向
に増加し始めＴ５の時点にＶｒを超し比較回路ＥＣの出
力が＋Ｅに反転し、ΔｔおくれてスイッチＳが０側に切
換わる。以後上述動作が繰返し続けられＨＴの出力は■
ａと■ｂとの間を三角波状に変動することになる。即ち
負高圧発生回路ＨＴの出力Ｖａにおいて比較回路ＥＣの
基準電圧を０に切換えＶｂにおいてＥｒに戻す動作が繰
返される。このようにしてＴ６の時点で参照光が回復し
たとき、ＨＴの出力は■ｂから負の方向に増加しつ）あ
り、途中ｖのレベルを通る。それまでにＦ２の出力Ｅｒ
が基準電圧Ｅｒ付近まで回復しておればＨＴの出力がＶ
の付近において第１図の増幅器ＰＡ，ＡＣＡは能動域に
あるから測光回路全体は正常動作に移つて行く。仮にＨ
Ｔの出力が■を通過するときＦ２の出力が未だＥｒまで
回復していないときは一度はＨＴの出力はＶａまで達す
るが次に減少の過程で■のレベルを通るとき測光回路は
正常動作に入る。上述実施例から明かなようにＨＴの出
力が（絶対値て）或る上限に達したら参照光測光値の比
較規準値Ｅｒを０に切換え、或る下限を超えたらＥｒに
戻すと云う操作を行えばよいのであるから、ＨＴの出力
を２つのレベル比較器によつて上限或は下限を超えたこ
とを検知してキープリレーのようなものを操作して参照
光測光値の比較規準値をＥｒ又は０と切換えればよいの
てある。
第５図はこのような構成による本発明の他の実施例てあ
つて電圧比較回路ＥＣに第６図に示すようなヒステリシ
ス特性を与えて第３図における遅延回路ＤＩを省いたも
のてある。
つて電圧比較回路ＥＣに第６図に示すようなヒステリシ
ス特性を与えて第３図における遅延回路ＤＩを省いたも
のてある。
第６図て横軸はＨＴの出力Ｈｖであり、Ｈｖが小さい値
から大きな値に変化する間ＥＣの出力（縦軸）は上てス
イッチＳはＥｒ側にあり、Ｈｖが■ａに達するとＥＣの
出力は＋Ｅに反転してスイッチＳは０側に切換えられ、
Ｈｖが■ｂより小さくなるとＥＣの出力は再ひ上に反転
しスイツＳはＥｒ側に切換えられる。第７図は第５図に
おけるヒステリシス特性を持つた電圧比較回路の一例を
示す。
から大きな値に変化する間ＥＣの出力（縦軸）は上てス
イッチＳはＥｒ側にあり、Ｈｖが■ａに達するとＥＣの
出力は＋Ｅに反転してスイッチＳは０側に切換えられ、
Ｈｖが■ｂより小さくなるとＥＣの出力は再ひ上に反転
しスイツＳはＥｒ側に切換えられる。第７図は第５図に
おけるヒステリシス特性を持つた電圧比較回路の一例を
示す。
Ａは増幅率のきわめて大きい差動増幅器である。その反
転入力端子にＨＴの出力が印加される。今仮にＨＴの出
力がＡの非反転端子電圧より高いとするとＡの出力は負
てありその出力がＶ２（負）より低いとするとダイオー
ドＤは遮断方向にバイアスされることになり抵抗Ｒｌ，
Ｒ２には電流が流れないから非反転端子電圧は■２であ
り、有限な反転、非反転入力電圧の差に対しＡは飽和す
るからその出力は上である。ＨＴの出力が下つて■２を
切るとＡの出力は正に転じダイオードＤが導通して抵抗
Ｒｌ，Ｒ２に電流が流れ出し、Ａの非反転端子は■２よ
り高くなる。そのためＨＴの出力は非反転端子電圧より
ますます低くなり、Ａの出力は正の方向に飽和して＋Ｅ
となる。こ）でＶ２が前述第Ａ図のＶａに相当する。Ａ
の出力が＋Ｅのとき非反転端子電圧はでこれが第４図の
Ｖｂに相当し、ＨＴの出力が低い方からこの電圧を超す
とＡの出力は負になり、ダイオードＤが効いて非反転端
子は■２になりＡの出力は負の方向に飽和する。
転入力端子にＨＴの出力が印加される。今仮にＨＴの出
力がＡの非反転端子電圧より高いとするとＡの出力は負
てありその出力がＶ２（負）より低いとするとダイオー
ドＤは遮断方向にバイアスされることになり抵抗Ｒｌ，
Ｒ２には電流が流れないから非反転端子電圧は■２であ
り、有限な反転、非反転入力電圧の差に対しＡは飽和す
るからその出力は上である。ＨＴの出力が下つて■２を
切るとＡの出力は正に転じダイオードＤが導通して抵抗
Ｒｌ，Ｒ２に電流が流れ出し、Ａの非反転端子は■２よ
り高くなる。そのためＨＴの出力は非反転端子電圧より
ますます低くなり、Ａの出力は正の方向に飽和して＋Ｅ
となる。こ）でＶ２が前述第Ａ図のＶａに相当する。Ａ
の出力が＋Ｅのとき非反転端子電圧はでこれが第４図の
Ｖｂに相当し、ＨＴの出力が低い方からこの電圧を超す
とＡの出力は負になり、ダイオードＤが効いて非反転端
子は■２になりＡの出力は負の方向に飽和する。
本発明２周波数測光方式は上述したような構成で光検出
器への入射光が途絶えるとフィードバック回路の出力が
自動的に或る範囲を繰返し掃引し始めるので、入射光が
回復した後もこの掃引の過程で必ず測光回路の増幅器が
能動域に入るような光検出出力を与えるフィードバック
出力の点を通ることになり、測光回路は自動的に正常動
作に戻ることができるようになる。
器への入射光が途絶えるとフィードバック回路の出力が
自動的に或る範囲を繰返し掃引し始めるので、入射光が
回復した後もこの掃引の過程で必ず測光回路の増幅器が
能動域に入るような光検出出力を与えるフィードバック
出力の点を通ることになり、測光回路は自動的に正常動
作に戻ることができるようになる。
第１図は従来装置の構成を示すブロック図、第２図は第
１図の装置の動作を説明するタイムチャート、第３図は
本発明を装置化した一実施例の要ｊ部を示すブロック図
、第４図はその動作を説明するタイムチャート、第５図
は更に他の実施例の要部を示すブロック図、第６図は上
記実施例で用いられる電圧比較回路の特性図、第７図は
上記電圧比較回路の一例の回路図てある。 ＰＭ・・・・・・光検出器、ＰＡ・・・・・・前置増幅
器、ＡＣＡ・・・・交流増幅器、ＣＤｌ，ＣＤ２・・・
・・同期整流器、Ｆｌ，Ｆ２・・・・・平滑回路、ＨＣ
・・・・・・比較回路、Ｅｒ・・・・規準電圧、ＨＴ・
・・・・・負高圧発生回路、ＥＣ・・電圧比較回路、Ｄ
１・・・・・・遅延回路、ＳＣ・・・・・・スイツフチ
ング回路。
１図の装置の動作を説明するタイムチャート、第３図は
本発明を装置化した一実施例の要ｊ部を示すブロック図
、第４図はその動作を説明するタイムチャート、第５図
は更に他の実施例の要部を示すブロック図、第６図は上
記実施例で用いられる電圧比較回路の特性図、第７図は
上記電圧比較回路の一例の回路図てある。 ＰＭ・・・・・・光検出器、ＰＡ・・・・・・前置増幅
器、ＡＣＡ・・・・交流増幅器、ＣＤｌ，ＣＤ２・・・
・・同期整流器、Ｆｌ，Ｆ２・・・・・平滑回路、ＨＣ
・・・・・・比較回路、Ｅｒ・・・・規準電圧、ＨＴ・
・・・・・負高圧発生回路、ＥＣ・・電圧比較回路、Ｄ
１・・・・・・遅延回路、ＳＣ・・・・・・スイツフチ
ング回路。
Claims (1)
- １ ２つの異る周波数の光を弁別して測光し、その一方
の光の測光値が一定になるようにフィードバックをかけ
る測光方式において、上記フィードバックを行うフィー
ドバック回路の出力に上下両限を設定し、フィードバッ
ク回路の出力が上記限界を超える毎に切換スイッチを反
転させて、フィードバック回路における上記一方の光の
測光値が比較される規準電圧を正常値或は０に切換える
ようにした２周波数測光装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4077777A JPS6049846B2 (ja) | 1977-04-09 | 1977-04-09 | ２周波数測光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4077777A JPS6049846B2 (ja) | 1977-04-09 | 1977-04-09 | ２周波数測光装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS53125885A JPS53125885A (en) | 1978-11-02 |
| JPS6049846B2 true JPS6049846B2 (ja) | 1985-11-05 |
Family
ID=12590049
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4077777A Expired JPS6049846B2 (ja) | 1977-04-09 | 1977-04-09 | ２周波数測光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6049846B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59107221A (ja) * | 1982-12-11 | 1984-06-21 | Japan Spectroscopic Co | 分光光度計 |
-
1977
- 1977-04-09 JP JP4077777A patent/JPS6049846B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS53125885A (en) | 1978-11-02 |
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