JPS6055110B2 - 低酸素容量に制御されたガス媒体中で、腐りやすい生産物を貯蔵するための設備 - Google Patents

低酸素容量に制御されたガス媒体中で、腐りやすい生産物を貯蔵するための設備

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JPS6055110B2
JPS6055110B2 JP57031823A JP3182382A JPS6055110B2 JP S6055110 B2 JPS6055110 B2 JP S6055110B2 JP 57031823 A JP57031823 A JP 57031823A JP 3182382 A JP3182382 A JP 3182382A JP S6055110 B2 JPS6055110 B2 JP S6055110B2
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ヴイクト−ル・ペトロ−ヴイツチ・ベリヤコフ
レオニ−ド・ニコラエヴイツチ・チエカロフ
オレグ・グレポヴイツチ・タラキン
ヴイクト−ル・イワノ−ヴイツチ・シロエドフ
ウラデイミ−ル・ドミトリエヴイツチ・ナデイクタ
イゴ−ル・ドミトリエヴイツチ・ミハイレツツ
ウラデイミ−ル・アレクサンドロヴイツチ・グドコフスキイ
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  • Food Preservation Except Freezing, Refrigeration, And Drying (AREA)
  • Storage Of Fruits Or Vegetables (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は冷蔵設備・装置に関するものであり、特に、低
酸素容量に制御されたガス媒体中で、新鮮な果物、野菜
、ふどう、花、肉、魚などのよう;な腐りやすい生産物
を貯蔵するための設備に関する。
低酸素容量のガス媒体中での生産物の貯蔵設備は既知で
ある(参照:フランス特許第1590579、Cl.A
23B5/00、197@)が、これはガス混合物こで
満たされた冷却室、バイブラインを経由して冷却室に通
じる選択膜を備えたガス交換機、及びガス混合物の循環
送風機から成るものである。
ガス交換機は、多岐管を通して結合されたシリコンポリ
マーフィルムのスリーブの一組を含んでいる。送風機に
よつて、冷却室からのガス混合物はスリーブを通り抜け
、そして冷却室へと再循環する。スリーブを通して大気
が吹き込まれる。分圧の違いの結果として、冷却室と大
気の中の二酸化炭素(CO2)と窒素(N2)と酸素(
02)がそのフィルムを通つて拡散する。
すなわち、果物のj呼吸によつて発生する二酸化炭素と
、窒素は冷却室から大気中へ拡散し、一方大気中からは
酸素が冷却室へ拡散する。ここでは酸素の果物の呼吸に
よつて消費される。しかしながら、このガス交換機を具
体化する場合、冷却室内のガス媒体の予定された組成へ
の到達は、まさに冷却室内ての酸素の吸収(果物の呼吸
という過程によつて)のために酸素濃度が低下するから
、非常にゆつくりしたものになる。
その吸収過程が非常にゆつくりと進むのは、酸素濃度が
一日にせいぜい0.5%だけしか変化しないためであり
、また果物の貯蔵能率を最終的に低下させる冷却室内の
酸素量の減少につれて酸素容量の減少速度がよソー層低
下するためである。ガス交換機は予定された組成のガス
媒体を生産せす、媒体は冷却室内の果物による酸素吸収
と膜を通してのガス交換機とを経由して生産されるから
、この設備においては冷却室の気密性に対する要求が非
常に厳しい。
さらに、上述のガス交換機を具体化する場合、冷却室内
のガス媒体組成を制御することは不可能である。
このことは、冷却室内のガス媒体組成が、その膜を通る
混合物成分の流出速度値と割合とによつて決定されるこ
とに主に関係している。これらのファクターは、一方で
はその膜の拡散特性に依存し、他方ではその膜の上下に
おける分圧の違いに依存する。膜上の空気は常に大気圧
以下てあるから、膜を通して大気から冷却室内へ動く酸
素の力は常に高い。この場合、冷却室内では、膜の拡散
特性にのみ依存する、媒体の平衡組成が形成される。こ
のために、ガス媒体組成を変えるためには膜を取り換え
ることが必要となる。腐りやすい生産物を貯蔵するため
の設備として他のものも既知である(参照:JOuma
l66KhOlOdilnayaTekhnika″(
RefrigeratiOnEngirleering
)、NO.elSp.7、198@)が、これは密閉さ
れた冷却室、及び2つのキャビティに分離する膜を有し
かつ大気に連絡しているガス分離装置からなるものであ
る。ガス分離装置の膜上キャビティはガス媒体の循環を
確実にする送風機を通して冷却室に接続され、一方、ガ
ス分離装置の膜下キャビティは真空ポンプに接続されて
いる。この設備によつて、膜下の特定の減圧の形成と、
装置の膜下キャビティ中の大気の必要とされる流速の選
択を通して、冷却室内のガス媒体組成を広い範囲で変化
されることが可能となる。しかしながら、この設備にお
けるガス分離装置の操作の能率は、もし冷却室に要求さ
れる気密性が保証されないならば、極端に悪くなる。こ
のことは、冷却室の気密性が不充分な場合には、酸素が
その中へ浸入するという事実に主に関係している。冷却
室内のガス混合物のゲージ圧の減少速度は、冷却室の気
密性の規準として役立ち得る。例えば、冷却室内のゲー
ジ圧が15?(水柱)から7.5w!t(水柱)へ5分
以内に減少したとき、冷却室内の酸素濃度は必要とされ
る3%ではなく6〜7%へと増加していることになる。
さらに、気密性冷却室内でさえ、酸素濃度を3%以下に
維持することは実質的に不可能であり、このような条件
の下で設備を充分に操作するためには、大面積の膜を有
するガス分離装置が必要となろう。というのは、膜の表
面面積が大きくなればなるほど、高濃度の窒素が多量に
生産され、故にガス媒体中の酸素容量が減少することに
なる。本発明は、大気を分離して低酸素容量にしたガス
媒体中で、腐りやすい生産物を貯蔵するための設備を提
供することを目的とするものであり、本発明によれば、
予定される酸素及び二酸化炭素濃度の範囲を広くとるこ
とができ、そして冷却室の気密性を余り厳しく要求しな
い条件下で予定される組成のガス媒体をす早く生成させ
ることができると共にその組成を制御する機会を与える
ものである。この目的の達成のために、冷却室、真空ポ
ンプに接続される膜下キャビティと冷却室に接続される
膜上キャビティとを有しかつ大気に通じる膜ガス分離装
置、及びガス媒体の強制循環手段から成る低酸素容量に
制御されたガス媒体中で腐りやすい生産物を貯蔵するた
めの設備であつて、本発明に従つて、一方でガス分離主
装置の膜上キャビティに通じかつ他方で出口バイブを介
して大気に通・じる膜上キャビティを有する、主装置類
似の膜ガス分離副装置を少なくとも一つ備えており、そ
して副装置の膜下キャビティは真空ポンプに接続され、
したがつてガス分離主装置はガス分離副装置の膜上キャ
ビティを介して大気に通じている設備が用いられる。
ガス分離副装置の使用によつて、ガス混合物の必要とさ
れる濃度をかなり早く生成することができる。
というのは、大気は冷却室へ動く際に必要とされる成分
濃度が2倍に濃くされるからである。このように、ガス
分離副装置から通つてきてすでに低い酸素濃度を含有す
るガス混合物は、ガス分離主装置内で窒素濃度がさらに
濃くされる。このために、冷却室内へ導入されるガス混
合物は高窒素濃度を有し、よつて気密性が余り厳密に要
求されない場合でさえも冷却室内の酸素濃度を3%にす
早く低下させそしてこの濃度に維持することができる。
さらに、ガス分離主装置のキャビティから排出されたガ
ス混合物は、ガス分離副装置から吸入される高濃度窒素
によつてすぐに補充される。このため、冷却室内の減圧
の存在と、非気密性壁接合部を介しての大気の吸入とは
、さけることができる。ガス媒体の所定の濃度の維持の
ための費用を節約しかつ設備の設計を簡単にするために
、ガス分離副装置の膜上キャビティは、ガス媒体の強制
循環手段を介してガス分離装置の膜上キャビティと連絡
していることが好ましい。
さらに、ガス分離副装置の膜上キャビティは、バルブを
備えたバイブによつて冷却室に接続されLることができ
る。
本発明の設備においては、ガス分離副装置の膜上キャビ
ティを大気に連絡する出口バイブは、バルブを備えたバ
イブを介して冷却室へ接続され得るが、これによつて、
冷却室に果物を入れた後、2台連結のガス分離装置の膜
上キャビティを通るガス混合物の循環のために冷却室内
の酸素濃度をす早く低下することが可能となる。
本発明の設備は、添付図面に関す発明の詳細な説明にお
いて一層よく明らかになろう。
本発明にかかる、低酸素容量に制御されたガス媒体中で
腐りやすい生産物を貯蔵する設備は、気密性のあるいは
密閉された冷却室1(第1図〜第3図)、膜ガス分離主
装置2と副装置3、真空ポンプ4及びガス媒体の強制循
環手段5から成るものであり、制御循環手段は従来の送
風機タイプのものであつてもよい。
低酸素容量を有するガス媒体で満たされた冷却室内には
、腐りやすい生産物が置かれる。ガス分離主装置2と副
装置3は、同タイプのものであり、各装置は、ハウジン
グの中に包含された1組の膜要素によつて1個のシステ
ムとして構成されており、各装置は2つのキャビティか
らなり、そのうち膜上キャビティは大気圧で循環するガ
ス媒体を有し、膜下キャビティはポンプて減圧されてお
り、このような主装置2と副装置3は互いに連続して設
置されている。冷却室1の容積によつて、本発明の設備
においては、数台の膜ガス分離副装置が使用され得る。
膜ガス分離主装置及び副装置としては、二酸化炭素、酸
素及び窒素に対して異なる貫通速度を有する選択的な膜
の一組から成り、そしてガス分離装置2と3をおのおの
複数のキャビティ、すなわち主装置2内の膜上キャビテ
ィ6と膜下キャビティ7及び副装置3内の膜上キャビテ
ィ8と膜下キャビティ9に仕切られるものであるが、既
知のガ.ス分離装置が用いられる。
副装置3の膜上キャビティ8は、一方では出口バイブ1
0によつて大気に接続され、他方ではバイブ11を介し
てガス分離主装置の膜上キャビティ6に接続されている
このために、ガス分離主.装置2は、膜ガス分離副装置
3の膜上キャビティ8を通つて大気と連絡している。膜
ガス分離主装置2(第1図)の膜上キャビティ6は2つ
のバイブ12と13によつて冷却室1と接続される。こ
れらのバイブ12と13は、ガース媒体の強制循環手段
5を備えている。ガス分離装置の膜下キャビティ7と9
(第1図〜第3図)は、ライン14,15及び16を通
して真空ポンプ4へ連絡している。
ライン14と15には、バルブ17と18が備えられて
おり、これによつて必要な時に、ライン14と15を閉
じて真空ポンプから膜下キャビティの1つを遮断するこ
とが可能である。主装置2の膜下キャビティ7はバルブ
20を有するバルブ19を備えることができ、必要な時
には、このキャビティ7を大気に連絡するように意図さ
れ得る。
第2図に示される、腐りやすい生産物を貯蔵するための
設備においては、第1図に示される設備とはちがつて、
膜ガス分離副装置3の膜上キャビティ8が、ガス媒体の
強制循環手段5を通して、膜ガス分離主装置2の膜上キ
ャビティと連絡している。
ガス分離副装置3の膜上キャビティ8はバルブ22を有
するバイブ21を通して冷却室1と接続される。一方、
ガス分離主装置2の膜上キャビティ6はバルブ24を備
えたバイブ23を通して冷却室1と連絡する。これによ
つて、必要な時には、装置2の膜上キャビティ6を冷却
室1から遮断することが可能となる。第3図に示される
、腐りやすい生産物を貯蔵するための設備においては、
第2図に示される設備とは異なつて、ガス分離副装置3
の膜上キャビティ8を大気に連絡するバイブ10が、バ
ルブ26を備えたバイブ25によつて冷却室1と連絡さ
れている。
このため、冷却室1内のガス混合物を、2台連結装置2
と3を通すかまたは装置3によつて高濃度にされた窒素
ガスを与える主装置だけを通すかのいずれかにより循環
させることが可能になる。冷却室1(第1図〜第3図)
内には、ガス混合物流の自動調整を監視しかつ全バルブ
の操作を制御するシステム中に挿入されるセンサー27
(ガス分析器又は時間リレー)が設置される。ガス流の
自動調整を監視するセンサー27とシステムとしては、
当業者にとつてよく知られた装置が用いられる。添付図
面の第1図に示された設備は、次のようにして操作され
る。
真空ポンプ4と送風機5のスイッチを入れると、ガス媒
体が冷却室1と膜ガス分離装置の間を反時計方向に循環
しはじめ、膜内圧力は01絶対気圧まで低下する。この
事実によつて、(膜下キャビティ中において)膜を横切
つて二酸化炭素、酸素及び窒素の分圧の低下が生じ、膜
を通してのガス混合物のこれら成分の拡散流が生じる。
冷却室1から吸引され、次いで膜を通して拡散されたガ
ス混合物の一部は、副装置3の膜上キャビティ8から主
装置2の膜上キャビティ6へ、さらに冷却室へと至る高
濃度窒素流によつて補充される。このために、冷却室1
内での減圧の生成と、非気密性密閉部を通しての冷却室
1内への空気・酸素の浸入は、全くあり得なくなつた。
高濃度窒素は、従来法によつて、副装置3中の膜の上に
、バイブ10を通して供給された空気を分離する間に得
られる。
装置2中に通すと、高濃度窒素流は、装置2の膜上キャ
ビティ中の窒素で、一層高濃度となる。それによつて、
冷却室壁の接合部が非気密性である場合でさえも、冷却
室内の酸素の低濃度が確実となる。副装置3から主装置
2へは、主装置の膜を通して排気されるガス混合物量と
同じ量のガスが常に通つている。それによつて、冷却室
1内での減圧の存在はさけられる。冷却室1内の酸素濃
度が設定値以下に低下すると、センサー27はバルブ2
0に信号を出し、バルブがわずかに開かれ、主装置2の
膜下キャビティ内に大気の流れが導入される。
膜を通して酸素が装置2の膜上空間6内に入り、そして
さらに冷却室1内に入る。このようにして、冷却室1内
の酸素濃度は上昇する。冷却室1内の酸素濃度が設定値
以上に上昇すると、センサー27は信号をバルブ20,
17及び18に出す。
バルブ20は閉じられ、主装置の膜下空間7からの大気
の流れを遮断する。一方、バルブ17と18においては
、通過断面が増大し、両装置の膜下キャビティ内の減圧
を発生する。このようにして、装置2と3の膜を通して
の拡散排気によつて、冷却室内の酸素濃度は低下する。
これをさらにわかりやすく説明すると、主装置と副装置
の膜を横切つて発生する分圧の低下によつて、膜を横切
つてガスが移送される。膜の上では圧力が形成され、こ
の圧力は膜下の圧力より高い。圧力降下が大きければ大
きいほど、膜を横切つてのガス拡散速度は大きくなる。
膜はポリビニルトリメチルシランを基剤とするシリコン
/有機ポリマー構造であつてよい。
等しい条件のもとで、二酸化炭素、酸素及び窒素の膜を
横切つての貫通速度はそれぞれ12:3:1である。二
酸化炭素及び酸素の貫通速度は窒素の場合よりそれぞれ
12、3倍大きく、膜は二酸化炭素及び酸素に対して選
択的であると言える。膜の上に大気圧の空気が供給され
、一方膜下の圧力を下げた場合、すなわち、本設備が動
作する方法そのものにおいて、酸素が濃縮された空気が
膜を貫通し、一方、酸素の選択的拡散によつて窒素が豊
富になつた空気が膜の上にたまる。同時に、二酸化炭素
はポンプによつて膜を通して排気され、二酸化炭素濃度
は膜上では低下する。膜の表面積が大きくなればなるほ
ど、また、膜上のガス移動距離が長くなればなるほど、
ガス混合物中の窒素含量は大きくなる。ガス混合物の一
部は、主装置の膜を通して冷却室から動作中に漏れる。
しかしながら、この条件によつて冷却室の圧力は低下し
ない。漏れ出る流れは、副装置のキャビティの膜を通つ
た濃縮窒素流で補われ、冷却室の壁が気密効率を失つて
いる場合でも、本設備の動作は安定に保たれる。第2図
に示される設備は、第1図の設備とほぼ同様に操作され
るが、異なつているのは、副装置3の膜上キャビティか
らの高濃度窒素が、ライン21を介して冷却室から供給
されるガス媒体と混合された後に、主装置2に入れられ
る点である。このことによつて、冷却室1内の減圧の生
成の可能性と、冷却室壁の非気密性接合部を通つて大気
が冷却室に浸入する可能性は、一層減少する。第3図に
示される設備は、第2図に示される設・備と本質的に同
じ様に操作されるが、異なつているのは、副装置3の膜
上空間に接続される。バルブ26を備えてなるバイブ2
5を設置したため、連結装置2と3を通してガス混合物
の循環をすることができる点であり、冷却室に果物を入
れた直.後が効果的である。このことにより、冷却室内
の酸素濃度を20.7%から10%へとす早く低下する
ことが可能となる。10%の酸素濃度に到達すると、バ
ルブ26は閉じられ、設備は上述の条件すなわちガス混
合物は主装置2を通して循環し、一方副ノ装置3を通し
ては高濃度窒素が系内に導入されるという条件て操作さ
れる。
したがつて、本発明の設備の冷却室においては、冷却室
1の気密性に対する緩やかな要求という条件のもとてガ
ス媒体組成の形成と制御が確実となる。
例えば、冷却室内において、ゲージ圧15T1n(水柱
)から7.5?(水柱)への変化(すなわち7.5m!
(水柱)の変化)が5分間で起こる。このことは、従来
技術の設備に比して、微生物学的及び生理学的病原に起
因する腐りやすい生産物の損失を1ゐ倍にまで低下する
ことを可能とする。
【図面の簡単な説明】
第1図は低酸素容量に制御されたガス媒体中で、腐りや
すいものを貯蔵するための設備の模式図である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 冷却室1、真空ポンプ4に接続される膜下キャビテ
    ィ7と冷却室1に接続される膜上キャビティ6とを有し
    かつ大気に通じる膜ガス分離装置2、及びガス媒体の強
    制循環手段から成る低酸素容量に制御されたガス媒体中
    で腐りやすい生産物を貯蔵するための設備であつて、一
    方でガス分離主装置2の膜上キャビティ6に通じかつ他
    方でパイプ10を経由して大気に通じる膜上キャビティ
    8を有する、主装置2類似の膜ガス分離副装置3を少な
    くとも一つ備えていること、副装置の膜下キャビティ9
    は真空ポンプ4に接続されていること、及びガス分離主
    装置2はガス分離副装置3の膜上キャビティ8を経由し
    て大気に通じていることを特徴とする設備。 2 ガス分離副装置3の膜上キャビティ8が、ガス媒体
    の強制循環手段5を通してガス分離主装置2の膜上キャ
    ビティ6に接続され、そしてバルブ22を備えたパイプ
    21を通して冷却室1に接続されていることを特徴とす
    る、特許請求の範囲第1項に記載された設備。 3 ガス分離副装置3の膜上キャビティ8を大気に連絡
    するパイプ10が、バルブ26を備えたライン25を通
    して冷却室1に接続されていることを特徴とする、特許
    請求の範囲第1項あるいは第2項のいずれかに記載され
    た設備。
JP57031823A 1982-03-02 1982-03-02 低酸素容量に制御されたガス媒体中で、腐りやすい生産物を貯蔵するための設備 Expired JPS6055110B2 (ja)

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JP2565537B2 (ja) * 1988-03-17 1996-12-18 株式会社日立製作所 保存庫

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