JPS6059386A - 模様線の描画方式とその装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は輝度もしくは色のコードで定められた２次元格
子状の基本パターンを巡回的に用いた模様を有するディ
ジタル的な模様線の描画方式とその装置に関するもので
ある。

ディジタル的なベクトルをディスプレイ装置に表示した
りあるいはハードコピー装置に出力したシする場合には
、ベクトルの始点とベクトル成分からそれぞれの装置に
出力すべき点列を発生するベクトル発生手段を用いる。

これらの点列は基本単位の大きさと輝度もしくは色を持
つ画素の連続として各装置上で実現され、この輝度もし
くは色を規則的に変化させることにより様々の線パター
ンを有するベクトルが得られる。

一方、ワードプロセッサ等で文書や図面等を作成する際
には、これらのベクトルだけではなく、地図における鉄
道の線路模様あるいはまた文書中の飾り罫などの模様線
が必要とされている。第１図は本発明の対象とする模様
線の一例を示した図であり、（ａ）は模様線、（ｂ）は
それぞれの基本パターンを示している。（ａ）の模様線
は（ｂｌの基本パターンを連続的につないで用いること
で実現されている。

第２図は従来の模様線の実現方法を説明するための図で
あり、（ａ）は線の傾きが水平の場合、（ｂ）は斜めに
傾いている場合を示している。基本パターンから模様線
を実現する方法で最も簡便なものは、（ａ）に示すよう
に矩形状の基本パターンを水平あるいは垂直に連続的に
配置する方法である。１つの基本パターンを水平、垂直
の模様線の両方に利用するには、基本パターンに対して
９０°　回転したパターンを作成して用いれば尺い。こ
の方法は簡便ではあるが、模様線の伸きは水平あるいは
垂直に制限され、任意の傾きのものは実現できない欠点
がある。一方、任意の傾きの模様線は（（））に示すよ
うに基本パターンから所望の傾きに対応して平行四辺形
状に変換したパターンを作成して連続的につながるよう
に配置することで実現できる。この方法によればある程
度自由な（ｌｊ′Ｉきの模様線が得られるが、図で明ら
かなように模様が斜めに変形しており、模様線の線幅は
見かけ上本来の線幅より狭くなるという欠点がある。さ
らに模様線を従来のベクトルと同じように全く任意の傾
きで任意の長さを持つように扱うためには非電に複雑な
処理を要するという欠点があった。

本発明の目的は、上記欠点を解消し、任意の傾きで、模
様が斜めに変形したり線幅が狭くなるということのない
模様線を、ベクトルと同様に容易に描画できる、模様線
の描画方式とその装置を提供することにある。

本発明によれば、輝度もしくは色のコードで定められた
２次元格子状の基本パターンを巡回的に用いた模様を有
するディジタル的な模様線の描画方式において、Ｘ　１
１　ｙ座標系における模様線の始点と、成分と、基本パ
ターンとが与えられたときに、模様線とＸ軸とのなす角
度および基本パターンの線幅からめた補正線幅と、基本
パターンでの線幅方向の位置に対応した模様の位相ずれ
量とを用いて修正パターンを作成し、この修正パターン
の行部分パターンを巡回的に用いた線パターンを有する
単位線幅のベクトルの始点を角度に応じてＸ軸またはＸ
軸に平行に単位画素分ずらしながら補正線幅本数分だけ
顔に重ねて描画する方法による模様線の描画方式が得ら
れる。

さらに本発明によれば、輝度もしくは色のコードで定め
られた２次元格子状の基本パターンを巡回的に用いた模
様を有するディジタル的な模様線の描画装置において、
基本パターンＰを記憶する基本パターンメモリと、ｘ　
１１　）Ｉ座標系における模様線の始点ｘ、ｙと成分ｄ
ｘ、ｄｙと前記基本パターンＰ−（Ｃ１ｊ）（ｉ＝１．
２、・・・、ｍ、ｊ：１．２１０１０、ｎ）とが与えら
れたときに、基本パターンの線幅ｍと模様線の成分ｄｘ
、ｄｙを入力して補正線幅ｍ゛を出力する補正線幅演算
部と、前記基本パターンメモリよりパターンコードＣ１
ｊを入力し、前記補正線幅ｍ°と模様線の成分ｄｘ、　
ｄｙとを用いて修正バタ７　Ｐ’＝＝（Ｃ’、ｊｌ　（
ｉ−１，２、・−・、ｍｌ、ｊ＝１．２、・・・、ｎ）
に変換し出力するパターン変換部と、前記パターン変換
部の出力する修正パターンＰ１を一時記憶する修正パタ
ーンメモリと、前記補正線幅ｍ１と模様線の始点ｘ、　
ｙ、成分ｄｘ、ｄｙを入力してｍ°組の始点Ｘｉ、　Ｙ
Ｈ（ｉ　＝　１．２、・・・、ｍ゛）を出力する始点演
算部と、前記始点Ｘｉ、Ｙｉと模様線の成分ｄｘ、ｄｙ
と前記修正パターンの行部分パターン”　ｉ””１ｊ（
Ｊ＝１．２、−・・、ｎ）を入力して該行部分パターン
Ｔｌｉを巡回的に用いた線パターンを有するベクトルを
表わす点列の座標Ｘｉｖ、Ｙｉｖと各点での輝度もしく
は色のコードＣ１ｖ（ｖ＝１．２、・・−１ＭＡＸ（ｄ
、ｘ、　ｄ、ｙ　）　）を出力するベクトル発生部と、
前記点列の座標Ｘｉｖ、Ｙｉｖに対応するアドレスにコ
ードＣ１ｖ　を書込み記憶するイメージメモリと、装置
の動作を制御する制御部とから構成される模様線の描画
装置が得られる。

以下本発明について実施例を示す図面を参照して説明す
るが、４４体溌朔つ彷橘■つ栖（セ用ヰ４４−まず本発
明の方式について説明する。

第３図は本発明の詳細な説明するための概念図であシ、
第３図（ａ）は模様線の基本パターン、（ｂ）は修正パ
ターン、（Ｃ）は部分パターン、第４図（ａ）はＸ・ｙ
平面上でＸ軸と角度θをなす模様線、第４図（ｂ）は模
様線の一部の拡大図をそれぞれ示している。

同図（ａ）に示す基本パターンは線方向にｎ、線幅方向
にｍに区分された格子状をなし、ある小区割の輝度もし
くは色のコードをＣ１ｊ　とするときＰ−（ＣＩＪ）（
ｉ＝１．２ｓ　３＋　”’＊　ｍｉ　Ｊ＝１＋　２．３
、・・・、ｎ）で表わされる。同図（ｂ）に示す修正パ
ターンは同様にして、　Ｐ　’−（Ｃ’＋　Ｊ　）　（
＋　＝１−２．３、・・１ｍｌ、ｊ＝１．２，３、ハｎ
）で表わされ、同図（Ｃ）に示す修正パターンの１行分
の部分パターンをＴｌ１−（釦・　）（ｊ＝１．２．３
．・・・、ｎ）で表わす。第１」 ４図（ａ）において、　ＡＢとＥＦとで囲まれる平行四
辺形ＡＢＦＢが線幅ｍの模様線を表わしており、実際に
は単位線幅を有するベクトルＡＢ、・・・、ＣＤ。

、ＥＦがｍ’本平行に重ねられている０　本発明ではそ
れぞれのベクトルの始点Ａ１・・・ＩＣＩ・・・、Ｅは
角度θによシＯ０≦θ〈４５°または３１５°≦θ〈３
６０゜の場合にはＡＥがｙ軸止方向と平行に定め、４５
°≦θ〈１３５°の場合にはＡＥがＸ軸負方向と平行に
定め、１３５°≦θ〈２２５°の場合にはｌがｙ軸負方
向と平行に定め、２２５°≦θく３１５゜の場合にはＡ
ＥがＸ軸止方向と平行に定める。ここでは０°≦０〈４
５°の場合を示している。

模様線の線幅すなわち基本パターンの線幅ｍと単位線幅
のベクトルを重ねる本数すなわち修正パターンの線幅ｍ
’（以後補正線幅と呼ぶ）との関係は（１）式で表わさ
れる。

ｍ’　＝　（ｍ　−ｓｅｃθ）−−（１）（１）式中の
記号〔〕は値を例えば四捨五入等によシ整数化すること
を意味する。角度θに応じてｍからｍ’に基本パターン
の線幅を増やすためには適当な補間操作を行なう。すな
わち、基本パターンＰ−（Ｃ，ｊ）に対して線幅を補正
したパターンをＰ’　＝　（”ｋｊ）（ｋ＝１．２．３
．　・・・、ｍｌ、ｊ＝１．２゜３、・・・、ｎ）とす
れば−例として（２）式のととくｉとｋとの対応を定め
れば良い。

Ｃ”ｋｊ−Ｃｉｊ− ・・・・・・（２） （２）式によれば、線幅ｍの基本パターンから線幅ｍｌ
に補正したパターンＰ”−（Ｃ″ｋｊ　）が得られる。

一方、この補正パターンＰ″の行部分パターンをＴ’ｒ
＝（Ｃ’１１１　（ｊ＝１．２．３、・・・、ｎ）とｌ
−だとき、このパターンＴ１量をこのまま巡回的に用い
た線パターンを翁するベクトルを第４図＜ａ）のごとく
重ねた場合には、模様線の位相はＯＨの方向に揃うため
に模様が全体に斜めに変形する。この変形を補正するた
めにはノ祐に垂直な方向すなわちほの方向に各ベクトル
の綜パターンの位相をＪｊｉｉｌえれは良い。このとき
の位相ずれ量は１番目のベクトルに対して■−１１に相
当するが、第４図（１））に拡大して示すように点■（
から点工までの単位画素故はｆ−１，Ｉの絶対値ではな
く、０°≦θく４５°の場合にはＩＩＪのＸ軸方向成分
となる。したがって１位＋１＋を進める場合を正とすれ
ば、この場合の位相ずれ僅Ｓｉは（３）式で表わされる
。

Ｓ、二Ｃ−ＩＨＩｌ＊ｃｏｓθ〕 ＝［−ｉ　φＳｉｎθ＠Ｃ０５Ｏ〕 ：　Ｃ−Ｓｉ　ｎ　２θ〕　・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・（３）し
たがって、各行の部分パターンＴＩ、の位相を８゜ずら
した部分パターンＴｌは（４）式で与えられる。

Ｔ’ｉ　＝　ｌ　（シ１ｌＪｌ、Ｃ１，、−Ｃ１【ｔ＝
＝ＭＯＤ（ｊ−１−８１、ｎ）＋１（ｊ−１，２，３、
・・・、ｎ）・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・（４）１だ、この部分パターンＴＩ、
を持つ修正パターンＰ゛は（５）式で表わされる。

Ｐ’、＝　ｌ　Ｃ’ｉ　ｊ　ｌ、Ｃ１ｉｊ＝　Ｃ″ｉｔ
ｔ＝ＭＯＤ（ｊ　−１−８Ｈ１ｎ）＋１（１＝１．２．
３、・・・、ｍ’、ｊ＝ｌ、２．３、・・・、ｎ）　・
・・−・・・・・・・・・−・・・・・・・・・・・・
・・−・・・・・・・・・・・・・・−・・・・・・・
（５）したがって、この修正パターンＰ’の部分パター
ン７を線パターンとする単位線幅のベクトルをｍ。

本平行に重ねることによシ線幅がｍで模様が線の方向に
垂直に揃った模様線が得られる。一方、他の角度におい
ても同様にして、補正線幅ｍ°と位相ずれ量Ｓ１とが定
められ、０°≦θ〈３６０°について（６）式に示す。

０°≦θく４５°、３１５°≦θく３６０°の場合、ｍ
’＝＝［ｍ＊ｓｅｃθ〕、Ｓｉ＝［−Ｈｓ＋ｎ２θ〕、
４５°≦θく１３５°　の場合 、・工〔□・Ｃ０８ｅＣθ〕、ｓ１＝〔具ｉｎ２θ〕、
１３５°≦θく２２５°の場合 ■　。

ｍ’　＝＝　Ｃ−ｍ　”　ｓｅｅθ〕、５ｉ＝（−Ｈｓ
＋ｎ２θ）、２２５°≦θく３１５°の場合 １　。

ｍ’＝＝：［−ｍ１１ｃｏｓｃｃθ〕、５ｉ＝（−ｐｓ
＋ｎ２θ）　−１６＋第５図（ａ）、（ｂｌ、（ｃｌ、
（ｄｌ、（ｅｉは本発明の方式による模様線の例を示す
図であシ、（ａ）は模様線、（ｂ）は基本パターン、（
Ｃ＞は線幅を補正したパターン、（ｄ）はさらに位相ず
れも補正した修正パターン、（ｅ）は修正パターンを用
いた模様線の描画例をそれぞれ示している。ここではｍ
−１１、ｎ　＝　８、θ＝４５゜の場合について例を示
す。基本パターンＰから修正パターンＰ′を得て模様線
を描画する方式を順に説明する。補正線幅は（６）式よ
シｍ’二〔１１・ｃｏｓｅｃ４５°〕＝１５であり、線
幅を補正したパターンＰ”は（７）式のごとくなる。

Ｐ”＝　ｌ　Ｃ”３ｉ　）、　Ｃ″ｋｊ　−Ｃ１ｊ　（
ｊ−１、２、３、・・・、ｎ） ｋ二１．２．３．４．５．６．７．８．９．１０１］、
１２．１３１４．１５ｉ　＝　１．２．３．３．４．５
．６．６．７．８．９．９．１０．１１．１１　・・・
（７）これは、ｉ二３．６．９．１１行の部分パターン
が重複して用いられることを意味しておシ、補正の結果
第５図（Ｃ）が得られる。さらに、ｉ　＝　１．２．３
、・・・、１５に対する位相ずれ量は（６）式よりＳｉ
二〇、１．１．２．２．３．３．４．４．５．５．６．
６．７．７となり、例えば部分パターンＴ”４−１０．
０．１、Ｏｌｏ、■、０、Ｏ）　（０は白、１は黒を意
味する）は５ｉ−２だけずらしてＴｌ４−（０，０，０
，０，１，０，０、■）と変換される。全体について位
相ずれを補正して第５図（ｄ）に示す修正パターンＰ′
が得られる。さらに、修正パターンＰ°の部分パターン
Ｔ’　＋−（１，１゜１、Ｏｌｏ、１．１．１）、Ｔｌ
２−（１，１，１，１，０，０、］、Ｔ１）、・・−１
Ｔ’ｔｓ＝　ｔ　１．１．１．１．１．０．０．１１　
を各々巡回的に用いた線パターンを有するベクトルをＸ
軸貴方向に平行にずらして重ねることにより第５図（ｅ
）に示すごとく線幅１１、角度４５°の模様線が得られ
る。

以上述べたように、本発明の模様線の描画方式によれば
、任意の傾きで、模様が斜めに変形した９幅が狭くなる
ということのない模様線をゝクトルと同様に容易に描画
することができる。

第６図は本発明の模様線の描画方式を実現した装置の一
実施例を示したブロック図である。図中２は補正線幅演
算部であシ、基本パターンの線幅ｍと模様線の成分ｄｘ
、ｄｙを入力して補正線幅ｍ′を出力する。３は基本パ
ターンメモリであり、特定の基本パターンＰ＝ｉ　Ｃｒ
ｊｌ　（ｉ＝１．２．３．−・・、ｍ、ｊ＝１．２，３
、・・・、ｎ）を記憶している。４はパターン変換部で
６Ｄ、基本パターンメモリ３．７２より輝度もしくは色
のコードＣｉＪを順に入力し、補正線幅ｍ１と模様線の
成分ｄｘ、ｄｙとを用いて修正パターンＰ’＝（Ｃ’ｉ
、　ｌ　（ｔ＝ｉ、２．３、・・・、ｍｏ、ｊ−１，２
，３、・・・、ｎ）に変換する。５は修正パターンメモ
リであり、パターン変換部４の出力−Ｊ−る修正パター
ンを一時記憶する。６は始点演算部であり、補正線幅Ｉ
ｎ’と模様線の成分ｄｘ、ｄｙと模様線の始点ｘ、ｙを
入力してｍ’組の始点Ｘｉ、Ｙｉ（ｌ＝１．２．３、・
・・、ｍ’）を出力する。７はベクトル発生部であり、
始点Ｘｉ、、Ｙｉど、模様線の成分ｄｘ、ｄｙと修正パ
ターンの部分パターンＴ’ｉ（ｉ　＝　ｌ、２．３．・
・・、ｍ’）を入力してベクトルを表わす点列の座標Ｘ
ｉｖ、Ｙ１ｖと各点に対応するコードＣ１ｖ（Ｖ：ｌ、
２．３、・・・、　ＭＡＸ（ｄｘ−ｄｙ））を出力する
。８はイメージメモリであり、ベクトル発生部から順次
送られて来る点列の座標Ｘｉｖ、Ｙｉｖ　に対応するア
ドレスにコードＣ１ｖを書込み記憶する。１は装置の動
作を制御する制御部である。

第６図を用いて始点ｘ、ｙ、成分ｄｘ、ｄｙ、基本パタ
ーンＰを有する模様数を描画する際の動作を説明する。

基本パターンＰはあらがじめ基本パターンメモリ３に記
憶されているものとする。補正線幅演算部２は基本パタ
ーンの線幅ｍ、ｄｘ＝　ｄｙを入力し、（６）式で示し
た演算を行ない補正線幅ｍ’を出力する。ただし、以後
の説明においてθ＝ａ　ｒ　ｃ　ｔ　３ｎ　（”’　）
、（０１θく３６０°）とする。パタｘ −ン変換部４は補正線幅ｍ°、ｄｘ、ｄｙを入力し、基
本パターンメモリ３からパターンのコードＣ１ｊを順に
入力し、（２）、（５）、（６）式に従った演算操作に
より修正パターンＰ゛のコードｃ　ｌ　１Ｊ　に変換し
て出力し、修正パターンメモリ５に一時記憶させる。

この変換の演算操作は、例えば次のように行なうことが
できる。まず（２）式に従い、基本パターンメモリ３か
ら順にコードＣ１ｊを入力しｎｌ’を用いて線幅を補正
したパターン変換部Ｉ　Ｃ”ｋＪｌ　（ｋ＝　１．２、
・・・、ｍｏ、Ｊ−１，２、・・・、ｎ）をパターン変
換部４の内部メモリー（図示せず）に一時記憶する。

次に（６）式に示す演算により模様の位相ずれ量５Ｉ（
ｉ＝１．２、・・・、ｍｌ）をめ、さらに（５）式で示
す操作により所望の修正パターンコードＣ′Ｉｊ　が得
られる。また、（６）式の操作は巡回的なｎ段のシフト
レジスタを用いて行うこともできる。始点演算部６はｍ
’、ｘ、ｙ、　ｄｘ、　ｄｙを入力し、本発明の詳細な
説明で示したようにｍ′組の始点Ｘｉ、Ｙｉ（ｉ　＝　
１．２、・・・、ｍ’）を出力する。その−例を（８）
式％式％（８ ただし、ｉ二１．２、・・・、ｍ“、ｏ０≦θ＜４５°
または正パターンメモリ５に一時記憶されている修正パ
ターンＰ１の部分パターンＴ’１＝ＩＣ’１ｊｌ（ｊ＝
ｘ、２、・・・、ｎ）と前記始点座標Ｘｉ、Ｙｉおよび
ｄｘ、ｃｔｙは、制御部１の制御のもとにｉ　＝　ｌ、
２、・・・、ｍｏの順にｒｎ’回にわたりベクトル発生
部７に送られる。ベクトル発生部７は各回毎に、部分パ
ターンＴ　Ｉ　、を巡回的に用いた線パターンを有する
単位線幅のベクトルを表わす点列の座標ＸＩＶ、Ｙｉｖ
とコードＣ１ｖ（ｖ二１．２、・・・、ＭＡＸ　（（ｌ
　Ｘ、　ｄ　ｙ　）を発生し、イメージメモリ８０対応
するアドレス位置にＣ１ｖを書込むように動作する。し
たがって、ｍ’本のベクトルがイメージメモリ８に記憶
されることになる。ディスプレイ装置あるいはノ・−ト
コピー装置（いずれも図示せず）ｄ、イメージメモリ８
に記憶されたデータを読み出し視覚化するものであり、
本発明の実施例においては本質的ではないので説明を省
略する。

以上述べたように、本発明の模様線の描画装置によれば
模様線の始点と成分と基本パターンが与えられて、成分
で定められる任意の傾きで、模様が斜めに変形したシ幅
が狭くなるということのな゛い模様線をベクトルと同様
に容易に描画することができる。

上述の本発明の幅のあるベクトルの発生方式および幅の
あるベクトルの発生装置の説明において、（６）式に示
すようにｓｅｃθ、ｃｏｓｅｃθ、５ｉｎ２θ（θ＝演
算によりｍ“　Ｓ、をめており、この演算は関数演算器
あるいはマイクロプロセッサ等により容易ＶＣ実行ｆ　
％　；ｂ。ココｆ　（１，ｓ　＝ＭＩＮ　（Ｉ　ｄｘ　
ｌ、１ａｙ＋）、ｄ　］＝ＭＡＸ（ｌ　ｄｘ　１−ｄｙ
　Ｉ　）−０１−テする。一方、０°≦θく３６０°に
おいて、θとθ１との関係は（９）式で表わされる。

θ＝θ１　（０°≦θ＜４５°） −９００−０１（４５°≦θく　９０°）二　９０°＋
０１（９０°≦θく１３５°）＝１８０°−０１（１３
５°≦θ＜１８０°）＝１８０°＋０１（１８０°≦θ
＜２２５°）＝２７０°−０１（２２５°≦θり２７０
°）＝２７００＋０１（２７０°≦θ＜３１５°）＝３
６０°−０１（３１５°≦θ＜３６０°）　・・・（９
）ここで５ｉ１＝＝［−＞５ｔｎ２θ１〕として（９）
式を用いて（６１式を書きかえると（１４式を得る。

ｍ’−（ｍｅｓｅｃθ１〕　（０°≦θ＜　３６０　’
）Ｓｉ”　５ｉｔ（０°≦θく４５°、９０°≦θく１
８０ｃ。

２２５°≦θく２７０°） ＝Ｓ口（４５°≦θり９０°、１８０°≦θり２２５°
、２７０°≦θく３６０°）　・・・・・・・・・・−
・（１嶋（１０）式に示すθの条件はｄｘ、ｄｙの正、
負および大小により容易に表現できる。したがって、−
のＪ 値に対してＯから１の間で適当な区間（例えばゾ３２単
位）Ｋよシあらかじめ（ｍ−５ｅｃ（ａｒｃｔａｎの値
で２次元のテーブルを作っておくととにより、ｍｏとＳ
ｉの値を高速にめることができ、装置の動作速度を速め
、また構成を簡単にできる。

また、上述の実施例の説明において補正始点座標Ｘｉ、
Ｙｉを（８）式で与えたが、この方法に限定するもので
（ｄなく、他の一例としてｄ＝［ｍ’／２）とすれば、 Ｘ１＝ｘ＋ｑ　＠　（ｄ　−ｉ　＋　１　）、頌＝ｙ−
Ｉ−ｒｅ（ｄ−ｉ＋１） により模様線の始点において紅！唱方向の中心を（ｘ、
ｙ）に位置させることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は模様線の一例を示した図であり、（ａ）は模様
線、（ｂ）は基本パターンを示す。第２図（ａ）、（ｂ
）は従来の模様線の実現方法を説明するだめの図である
。第３図（ａ）、（１））、（Ｃ）および第４図（ａ）
、（ｂ）１は本発明の模様線の描画方式を説明するだめ
の図である。第５図（ａ）、（ｂｌ、（Ｃ）、（ｄｌ、
（ｅ）は本発明の方式による模様線の例を示した図であ
る。第６図は本発明の模様線の描画方式を実現した装置
の一実施例を示したブロック図である。 図において、１は制御部、２は補正線幅演算部、３は基
本パターンメモリ、４はパターン変換部、５は修正パタ
ーンメモリ、６は始点演算部、７はベクトル発生部、８
はイメージメモリをそれぞれ示している。 オ　１　図 一＋→＋Ｈ升 （ａ） （ｂ） 第２図　′ 第３図 （ｂ） 第４図 第５図 （ｂ）　（ｃ） （ｄ）

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、輝度もしくは色のコードで定められた２次元格子状
   の基本パターンを巡回的に用いた模様を有するディジタ
   ル的な模様線の描画方式において、ｘ−ｙ座標系におけ
   る模様線の始点と、その成分と１．基本パターンＰ　＝
   ｌ　Ｃ１Ｊｌ　（ｉ二１．２、・・・、ｍ、ｊ二１．２
   、・・・、ｎ、）とが与えられたときに、前記模様線と
   Ｘ軸とのなす角度をθ（θ°≦θく３６０°）とすれば
   、前記基本パターンの線幅ｍと前記角度θとからめた補
   正線幅ｍ゛、および基本パターンでの線幅方向の位置１
   （ｉ＝１．２、・・・、ｍ’）と前記角度θとからめた
   模様の位相ずれ量８ｉとを用いて修正パターン””ＩＣ
   ｉ　ｊ　ｌ（ｉ＝１．２、・・・、ｍｏ、ｊ＝１．２、
   ・・・、ｎ）を作成し、該修正パターンの行部分パター
   ン’Ｉ”１＝ｆｃｉｊ　１（ｊ＝１．２、・・・、ｎ）
   を巡回的に用いた線パターンを有する単位線幅のベクト
   ルの始点を前記角度θに応じてｙ＠ｔたはＸ軸に平行に
   単位画素分ずらしながら前記補正線幅ｍ１本数分重ねて
   描画することを特徴とする模様線の描画方式。 ２　輝度もしくは色のコードで定められた２次元格子状
   の基本パターンを巡回的に用いた模様を有するディジタ
   ル的な模様線の描画装置において、基本パターンＰを記
   憶する基本パターンメモリと、Ｘ−ｙ座標系における模
   様線の始点Ｘｙとその成分ｄｘ、ｄｙ　と前記基本パタ
   ーンＰ（Ｃｉｊｔ（ｉ＝１．２、・・・、ｍ、ｊ二１．
   ２、・・・、ｎ）とが与えられたときに、基本パターン
   の線幅ｍと模様線の成分ｄｘ、ｄｙを入力して補正線幅
   □“を出力する補正線幅演算部と、前記基本パターンメ
   モリよシバターンコードＣｉ’ｊ　を入力し、前記補正
   線幅ｍ’と模様線の成分ｄｘ、ｄｙ　とを用いて修正パ
   ターンＰ’：ｌＣ’ｉｉ　）（ｉ＝１．２、・・・、ｎ
   ］’、１−１．２、・・・、ｎ）に変換し出力するパタ
   ーン変換部と、前記パターン変換部の出力する修正パタ
   ーンＰ°を一時記憶する修正パターンメモリと、前記補
   正線幅ｍ′と模様線の始点Ｘ、ｙ、成分ｄｘ、ｄｙを入
   力してｍ′組の始点Ｘ１、ｙｉに：ｉ、２、・・・、ｍ
   ’）　を出力する始点演算部と、前記始点Ｘ２、Ｙｉと
   模様線の成分ｄｘ、ｄｙと前記修正パターンの行部分パ
   ターンＩｌｌ　ｌ　。 ＝Ｃ１ｉｊ（ｊ−１，２、・・・、ｎ）を入力して該行
   部分パターンＴＩ、を巡回的に用いた線パターンを有す
   るベクトルを表わす点列の座標ＸｉＶ、Ｙｉｖと各点で
   の輝度もしくは色のコードＣ１ｙ（ｖ＝１．２、・・・
   、ＭＡＸ　（ｄｘ、　ｄｙ　）　）を出力するベクトル
   発生部と、前記点列の座標Ｘｉｖ、Ｙ１ｖに対応するア
   ドレスにコードＣｒｖを書込み記憶するイメージメモリ
   と、装置の動作を制御する制御部とから構成されること
   を特徴とする模様線の描画装置。