JPS6065349A - テストデ−タ発生方式 - Google Patents

テストデ−タ発生方式

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Publication number
JPS6065349A
JPS6065349A JP58172969A JP17296983A JPS6065349A JP S6065349 A JPS6065349 A JP S6065349A JP 58172969 A JP58172969 A JP 58172969A JP 17296983 A JP17296983 A JP 17296983A JP S6065349 A JPS6065349 A JP S6065349A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
program
input
internal processing
test data
data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58172969A
Other languages
English (en)
Inventor
Hidenori Hakamata
袴田 英則
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP58172969A priority Critical patent/JPS6065349A/ja
Publication of JPS6065349A publication Critical patent/JPS6065349A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/36Prevention of errors by analysis, debugging or testing of software
    • G06F11/3668Testing of software
    • G06F11/3672Test management
    • G06F11/3688Test management for test execution, e.g. scheduling of test suites

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明はオンラインリアルタイムシステムなどのソフト
ウェアのプログラムのテストデータを発生するテストデ
ータ発生方式に係り、特にサンフルテストデータがあっ
てテストを実行するさいその外部条件等を一部変更して
異なるテストデータを自動発生ずるに好適なテストデー
タ発生方式に関する。
〔発明の背景〕
従来のオンラインリアルタ・イムシステムなどのソフト
ウェアのプロクラムのテストは、ホストマシンによリー
チスト項目つつ手作業に近いレベルで実施されていたた
め、プログラムの全バスを確認するには多大の費用がか
かるほか、テストの作業方法に古人性が伴うなどの欠点
があった。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、上記した従来技術の欠点をなくシ、プ
ログラムのテストに必要な入力テークとしてサンフルテ
ストデ−タから異なるテストデータを発生させるデスト
データ発生方式を提供するにを)る。
〔発明の概要〕
本発明は、一般にオンラインフログラムの入力処理と内
部処理が待ちキューにより結合さオLておシ、かつ内部
処理起動用人力データが例λは同種のザービスであれは
外部条件が異なる程度であることなどに着目し、内部処
理起動用人力データを待ちキューから取シ出し、その例
えば外部条件等を異なる条件に変更した複数の内部処理
起動用入力データを異なるテストデータとして待ちキュ
ーに戻すことにより、プログラムデストを効率よく実行
可能にしたテストデータ発生力式である。
〔発明の実施例〕
以下に木兄りJの一実施例を第1図と第2図により説i
力ずろ。寸ず棺11t」、本発明によるオンラインプロ
グ2ムのテストデータ発生方式の一実施例を示す全体構
成フロック図である。第1図に卦いて、一般にオンライ
ンリアルタイムシステムなどのソフトウェアのンログラ
ムd1実行制御プログラム1と内部処理プログラム2と
入出力処理ノ1コクラム6のジノプログラムからなり、
内部処理プログラム2と入出力処理プログラムろは出力
処理プログシム起動待ちキュー4および内部処理プログ
ラム起動待ちキュー5によシ結合されている。また入出
力処理プログラム3は、ハードウェアのデータチャネル
6を介して磁気テ、イスク7とオンライン端末8と通信
制御ユニット9などと接続する。かかるオンジ・fンプ
ログラムにおいて、本発明によシテストデータ発生グロ
グシム10を設り、入力データバノンア11および12
をブ1−シ内部処理プログラム起動fi7ちキュー5と
」2(絖してテストデータ発生処理を41・i成する。
との構成で、まずシスラ゛シ、に苅してオンライン端末
8や通信制御ユニット9等の端末からデークチ−■ネル
6を介し7何らかの、要求があって、実行制御1)1」
グラム1により入出力処理プログシム6が起動σノ′し
ると、人IJ、1カ処理プログラム5はその要求を検出
して内filj処理り1コクラム起動ラーータを細隼し
咳デークを内部処理プログラム起動持ちキュー5に登録
づ−る。その後に実行制御ノログラム1により内部処理
1ンログラム2が起動されると、内部処理ンLlクラム
2は内部処理プログラム起動待ちギj−5から上記デー
タを取り出してシステムに請求さノしている動作を決定
しl咳7スアム動作に性器なハードウェアtlilJT
itll命令を編集したタスクを入出力処理プログツム
起動待ちキュー4に登録する。芒らにその後に実行グロ
グ2ノ・1により人出力処」」プログラムろが起動され
ると、入出力処〕11プログラム6は出力処理プログラ
ム起動待ちキュー4から上記タスクを取り出し、この・
・−ドウエア制御命令によpシステム動作が実行さiす
る。この」、うにして以上にfil?、明した人力処理
と内部処理と出力処理を繰り返すことによりシステムの
ザービス等の目的が達成さ1Lる。
ついで本発明によるテスI−テータ発生処理について説
明する。はじめに上記人力処理で編シ(へされる内部処
]!11起動用人カラー−りは外部条件ずなわら尚該端
末の種別・クラス・番号・収容位置等とシステムに要求
さiシたーリ°−ビス種別等から成り、このオンライン
プログラムのテストに&−1イ(11す&−1’l−貝
一一〇−−ビスf宙早11ス二4〔ゆイη−k[喜1(
〆%4Zl:を変えて行なうものと外部条件を変えずに
−リーービス種別を変えて行なうものなどがあって通常
は両者の全組合せにつき実施へれる。そこで本発明によ
れば上記プログラムの入出力処理と内部処理1が待ちキ
ューを経由して入出力データで結合されている点を利用
し、上記実行制御グログシム1により起動され/2.入
出力処理ノログラム2がシステムへの、要求を検出して
内部処理プログラム起j;I)用入力データを内部処理
プログラム起動待ちキュー5に登録し/ξ後に実行制御
ノログラム1に制御が戻ったさいにテストデータ発生プ
ログラム10に制御をγバ(−)゛手段を実行制御プロ
グラム1に組み込んでおく。こうしでテストデ−タ発生
プログラム10は実行制御フログラA 1かも制御が渡
ったさいに、内*++処理フログラム起動待ちキュー5
から内部処理グログラム起動用入力データを取り出して
入力データバソファ11に一時蓄え°Cおき、該人力デ
ータに設定されている例えば外部条件すなわち当該端末
装置の種別・クラス・番号・収容位を江等を別の夕1部
条件等に振り替えて核入力データに設定して必要に応じ
人力データバッフ112に一時蓄えた後に、この別の入
力データを異なるテストデータりとして内?S1;処理
プログラム起動待らキュー5に登録する。このさい例え
Q」、別途力えられた条件等により上記外部条件等の振
り替えを行なうことにずれは、振替え用の外部条件等を
各種揃えでおくことにより1飼の入力データをサンプル
テストデータとして該入力データから複数個の異なる入
力データをテストデータとして発生させることが可能と
なる。その後に実行制御プログラム1はテストデータ発
生ノログラム10から制御が戻ったさいに、さきにテス
トデ−タ発生プログラム10へ制御を渡した次のところ
から処理を香開するようにしでおけば、そこで内部処理
プログラム2を起動して上記テストデータによるプログ
ラムのテストを実行するとともに以後の一連のシステム
動作が正常に行なわれることになる。
次に第2図は第1図のデストデータ発生処理のアルゴリ
ズムを説明するだめの概略フローチャートである。第2
図において、第1図のテストデータ発生方式のアルゴリ
ズムを説明すれば、テストデータ発生プログラム10は
実行ffi制御プログラム1から制御金銭さノ]ると、
まず入力データ取出し処理13で入出力処理プログラム
6から内部処理プログラム起動待ちキュー5に登録さノ
′口を最新の内部処理プログラム起動用人力テークを取
り出し、つきの入カバソファ一時蓄積処刊!14でその
内容を入力テークバソファ11に一時蓄えろ。その後に
外部1z件決定処理15で別途力えられている外部く[
z件等表16から端末装置の種別・クラス・117号・
収容位置等の外部悄件等を取り出し、つき゛の外部条件
振替え処理17でその外部条件等に人力データバノンア
11に蓄えられた内部処理ノログラム起動用人カデータ
に設定さhている外部条件等を振り替えて入カデータパ
ソファ12に一時蓄える。その後に人力データ登録処理
18で人力データバッファ12に蓄えられた人力データ
葡異なるテストデータとしで内部処理プログラム起動待
ちキュー5に登録する。
さらに外部条件振替え判1tl?19で別途力えらiし
た外部条1等表16からの条件により外部介2注の振替
えを繰り返−ノーことにすり、げ、外部条I/l:等表
16によ#)1辰替え用の外部条件等を各種JIiil
えておくことにより、1個の人力データをサンプルテス
トデータとして該入力データから外部条件等の異なる゛
康数f同の人カデータ仝テストデータとして発生するこ
とが可能となる。こうして外部条1’l’等を振シ替え
た内部処理グログラム起動用人力データを異なるテスト
データとして内部処理プログラム起動待ちキュー5に登
録完了1.た後に実行制御プログラム1に制御が戻つ/
ξさい、実行制御プログラム1により内部処理プログラ
ム2を起動して上記テストデータによるプログラムのテ
ストが実行されるとともに以後の一連のシステム動作が
正常に行lわ−J+、ることになる。
なお上記実施例では主として外部条件等を一部変更する
場合について説明したが他の内容を変更しでもよい。
以上のように本実施例によれば、オンラインプログラム
の入力処理と内部処理が待ちキューにより結合されてい
るのを利用し、入力データを待ちキューから取り出して
その外部条件等を別途に力]えられた外部糸作等表など
にょシ振り替えて異なるテストデータを発生さぜ、これ
を入力データとして待ちキューに戻すことによりプログ
ラムテストを効率よく実行することができる。
〔発明の効果〕
以上の説明のように本発明によるプログラムのテストデ
ータ発生方式によれば、一度のプログラムテストで容易
に数多くの異なるテストデータを入力として内部処理を
起動させて効率よくプログラムテストを実行することが
できるため、プログラムの過負荷試験への応用をはじめ
テスト項目の抜は防止や入手の介するテスト項目の減少
による作業工数の軽減と品質面上等の効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明によるプログラムのテストデータ発生方
式の一実施しリを示す全体構成ブロック図、第2図は第
1図のテストデータ発生の概略フローチャートでろる。 1 実行tl+lJ (卸ノロクラム、2・内部処理ブ
ロク゛ラム、 3 ・入出力処理プログラム、 4 出力処理プログシム起動待らキュー、5・内部処理
プログラム起!助持しキュー、6 デークチャネル、/
 雪ぬ気デーfスジ、8・オンジ・fン端末、ソ 、1
1!えイH−i111J御ユニット、10・テストデー
タ発生フロクラム、 +1 、 +2・・・入力データバソファ、16・・外
部栄件等表。 \1− 代理人弁理」、 高 僑 し」 夫

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 入出力処理と内部処理が待ちキューにより結合されてな
    るプログラムを有するオンラインシステムにおいて、上
    記入力処理」で編集した内部処理起動用入力データを待
    ちキューから収集させ、該収集した内部処理起動用入力
    データの内容を一部変更した複数の内部処理起動用入力
    データを発生させ、該発生し/こ内部処理起動用入力デ
    ータを上記待ちキューに登録さぜるデスI・データ発生
    処理をもち、もってプログラムのテストを可能にしたこ
    とを特徴とするテストデータ発生方式。
JP58172969A 1983-09-21 1983-09-21 テストデ−タ発生方式 Pending JPS6065349A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58172969A JPS6065349A (ja) 1983-09-21 1983-09-21 テストデ−タ発生方式

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58172969A JPS6065349A (ja) 1983-09-21 1983-09-21 テストデ−タ発生方式

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6065349A true JPS6065349A (ja) 1985-04-15

Family

ID=15951711

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58172969A Pending JPS6065349A (ja) 1983-09-21 1983-09-21 テストデ−タ発生方式

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JP (1) JPS6065349A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6316343A (ja) * 1986-07-08 1988-01-23 Nec Corp 対話形式機能テスト時のバツチによるテスト方式
JPH01244551A (ja) * 1988-03-25 1989-09-28 Nec Corp ソフトウェア仕様検証方式

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6316343A (ja) * 1986-07-08 1988-01-23 Nec Corp 対話形式機能テスト時のバツチによるテスト方式
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