JPS6073165U - 走査電子顕微鏡 - Google Patents

走査電子顕微鏡

Info

Publication number
JPS6073165U
JPS6073165U JP16499683U JP16499683U JPS6073165U JP S6073165 U JPS6073165 U JP S6073165U JP 16499683 U JP16499683 U JP 16499683U JP 16499683 U JP16499683 U JP 16499683U JP S6073165 U JPS6073165 U JP S6073165U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
detectors
electron microscope
scanning electron
sample
output signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP16499683U
Other languages
English (en)
Inventor
孝 島谷
御代川 俊明
誠 石田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jeol Ltd filed Critical Jeol Ltd
Priority to JP16499683U priority Critical patent/JPS6073165U/ja
Publication of JPS6073165U publication Critical patent/JPS6073165U/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は従来装置の電気的接続図、第2図は本考案の一
実施例装置の電気的接続図、第3図は自動レベル設定回
路19の一具体例である。 1:試料、2:電子ビーム、3:散乱電子、4.5:反
射電子検出器、6,7:プリアンプ、8.9:アンプ、
10:加算回路、11:減算回路、12,14:バッフ
ァアンプ、13.15:陰極線管、16:ポテンショメ
ータ、17.18:可変抵抗、19:自動レベル設定回
路、20:スイッチ。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 試料を照射する電子ビームの光軸に関し略対称な位置に
    少な(とも2個の検出器を配置し、該雨検出器からの信
    号を加算するための加算回路を設け、該加算回路よりの
    信号を表示手段に表示して試料の組成像を得る装置にお
    いて、特定期間中の前記加算回路の出力信号の内殻大出
    力信号強度が予め定めた一定値となるように前記2つの
    検出器の出力信号レベルを自動設定する手段を設けたこ
    とを特徴とする走査電子顕微鏡。
JP16499683U 1983-10-25 1983-10-25 走査電子顕微鏡 Pending JPS6073165U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16499683U JPS6073165U (ja) 1983-10-25 1983-10-25 走査電子顕微鏡

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16499683U JPS6073165U (ja) 1983-10-25 1983-10-25 走査電子顕微鏡

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6073165U true JPS6073165U (ja) 1985-05-23

Family

ID=30361588

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP16499683U Pending JPS6073165U (ja) 1983-10-25 1983-10-25 走査電子顕微鏡

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6073165U (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62183354U (ja) * 1986-05-12 1987-11-20
JPH01159953A (ja) * 1987-12-15 1989-06-22 Shimadzu Corp 定性分析装置
JP2006190554A (ja) * 2005-01-06 2006-07-20 Jeol Ltd 電子顕微鏡における複数信号の画像調整法と装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62183354U (ja) * 1986-05-12 1987-11-20
JPH01159953A (ja) * 1987-12-15 1989-06-22 Shimadzu Corp 定性分析装置
JP2006190554A (ja) * 2005-01-06 2006-07-20 Jeol Ltd 電子顕微鏡における複数信号の画像調整法と装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6073165U (ja) 走査電子顕微鏡
US4543605A (en) X-ray examination apparatus
FR2448275A1 (fr) Circuit de television radiologique
JPH0252913B2 (ja)
JPS6010048Y2 (ja) 電子線プロ−ブ装置の試料位置設定装置
JPS60121250U (ja) 分析電子顕微鏡
JP2775928B2 (ja) 表面分析装置
JPS58920Y2 (ja) 走査電子顕微鏡
JPH0326048U (ja)
JPS54100669A (en) Electron-beam unit
JPS6059398U (ja) イメ−ジ管装置
JPS58113957U (ja) 透過電子顕微鏡像のコントラスト表示装置
JPH0219682Y2 (ja)
JPS5824037U (ja) サ−モグラフイ装置
JPS58184761U (ja) 走査電子顕微鏡の自動利得レベル制御装置
JPS5912462U (ja) 電子線装置
JP2934358B2 (ja) 透過電子顕微鏡
JPH01155251A (ja) 表面分析装置
JPS58127757U (ja) テレビジヨンカメラにおける光量検出器
JPS5954160A (ja) 荷電粒子線装置
JPS6199961U (ja)
JPS60126968U (ja) 走査電子顕微鏡
JPS60105057U (ja) 走査電子顕微鏡
JPS634056U (ja)
JPH06310073A (ja) 信号処理装置