JPS6073314A - Distance measuring apparatus - Google Patents
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、カメラ等に用いられる測距装置てあって、発
光素子から発せられた光を測距えj象に向けて投則し、
その反射光を共通電極及び一対の検出用電極を有する半
導体装置検出素子で受光する三角測距方式の測距装置の
改良に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a distance measuring device used in a camera, etc., which projects light emitted from a light emitting element toward an object to be measured,
The present invention relates to an improvement in a triangular distance measuring device in which the reflected light is received by a semiconductor device detection element having a common electrode and a pair of detection electrodes.
従来、」二連のような方式の測「11装置としては、特
開昭57−177107号公報等により提案されている
。Conventionally, a dual-type measuring device has been proposed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 177107/1983.
一般に、発光素子より投射した光の測距対象からの反射
光を受光素子で受光して測距する場合、その反射光強1
度は、測距対象の反則率、距jijfj等によって、千
倍以上の差を生じる。従って、受光素子の出力を増幅す
る増幅回路は、60dB以−にのタイナミックレンジが
必要となる。Generally, when distance measurement is performed by receiving reflected light from a distance measurement target of light projected from a light emitting element by a light receiving element, the intensity of the reflected light is 1
The degree of error varies by more than 1,000 times depending on the foul rate of the object to be measured, the distance jijfj, etc. Therefore, the amplifier circuit that amplifies the output of the light receiving element needs to have a dynamic range of 60 dB or more.
そのクイナミソクレンジを広くする方法としては、受光
素゛r出力の対数圧縮や増幅回路の1−目すJ利得調整
が考えられるが、前者では、受光々量が太き(受光累子
間の出力差が小さい11γに、S/Nが悪くなる欠点が
あり、また後者では、フィードバック系が必要で、発振
等の不安定要素が増大する欠点があった。Possible ways to widen the optical range are to logarithmically compress the output of the light-receiving element or to adjust the gain of the amplifier circuit, but in the former case, the amount of light received is large ( 11γ, which has a small output difference, has the disadvantage of poor S/N ratio, and the latter requires a feedback system, which has the disadvantage of increasing unstable factors such as oscillation.
零或は微少値から徐々に増大させて、比較回路の判別し
易いある設定値に達した時に測距状態を判別させ、撮影
レンズを所定位置に設定する測距装置を提供するもので
ある。To provide a distance measuring device which gradually increases the distance from zero or a very small value and determines the distance measuring state when it reaches a certain set value that is easy to determine by a comparator circuit, and sets the photographing lens at a predetermined position.
以下、図面に基づいて本発明の詳細な説明する。Hereinafter, the present invention will be explained in detail based on the drawings.
先ず、第1図において、■はクロックパルス発生回路(
発振周波数f O=16KHzであり、以下O8Cと記
述する)、2は時間形成回路(時間t =25ms)
、3はアンドゲート、4はトランジスタ、5は測距対象
へスポット光を投射する発光素子としての赤外線発光ダ
イオード(以下、IRDと記述する)である。First, in Figure 1, ■ is the clock pulse generation circuit (
Oscillation frequency f O = 16 KHz, hereinafter written as O8C), 2 is a time forming circuit (time t = 25 ms)
, 3 is an AND gate, 4 is a transistor, and 5 is an infrared light emitting diode (hereinafter referred to as IRD) as a light emitting element that projects a spot light onto the object to be measured.
6は半導体装置検出素子で、比較的大きな面をイコする
半導体基板7をもち、その半導体基板7の一方の而に該
基板7と異なる導電型の半導体層8が形成されている。Reference numeral 6 denotes a semiconductor device detection element, which has a relatively large semiconductor substrate 7 having an equal surface, and a semiconductor layer 8 of a conductivity type different from that of the substrate 7 is formed on one side of the semiconductor substrate 7.
そして、半導体層8の上には抵抗層9が形成されている
と共に、該抵抗層9の両端に一対の電極(検出用)9a
、’9bが設けられ、また半導体基板7には共通電極1
0が設けられている。A resistive layer 9 is formed on the semiconductor layer 8, and a pair of electrodes (for detection) 9a are provided at both ends of the resistive layer 9.
, '9b are provided, and a common electrode 1 is provided on the semiconductor substrate 7.
0 is set.
11及び12は夫々交流増幅回路、13及び14は夫々
利得(増幅率)調整入力端子13a及び14aを備えた
交流増幅回路、15及び16は夫々帯域フィルター回路
(中心周波数f’o=]、6KHzであり、以下BPF
と記述する)、17及び18は夫々検波回路、19及び
20は夫々検波回路、21及び22は夫々直流増幅回路
、23はインバータ、24はトランジスタ、25は定電
流回路、26はコンデンサ、27は電流増幅回路、28
.29及び30は夫々コンパレータ回路(以−FCMP
と記述する)、31は定電流回路、32゜33及び34
は夫々CMP28の反転入力端r−(−)及びCMP2
9,30の非反転入力端子(+)に基亭電圧Vr+及び
Vr2. Vr3を与える分圧抵抗、35はアントゲー
ト、36及び37は夫々Dタイプのフリップフロップ回
路、38はR,Sタイプのフリップフロップ回路(なお
、フリップフロップ回路は、以下共通してFFと記述す
る。)であり、夫々図示の如く接続されている。11 and 12 are AC amplifier circuits, respectively, 13 and 14 are AC amplifier circuits equipped with gain (amplification factor) adjustment input terminals 13a and 14a, respectively, and 15 and 16 are bandpass filter circuits (center frequency f'o=], 6 KHz, respectively). , and below BPF
), 17 and 18 are each a detection circuit, 19 and 20 are each a detection circuit, 21 and 22 are each a DC amplifier circuit, 23 is an inverter, 24 is a transistor, 25 is a constant current circuit, 26 is a capacitor, and 27 is a Current amplification circuit, 28
.. 29 and 30 are comparator circuits (FCMP
), 31 is a constant current circuit, 32° 33 and 34
are the inverting input terminal r-(-) of CMP28 and CMP2, respectively.
The basic voltages Vr+ and Vr2. 35 is an ant gate, 36 and 37 are D type flip-flop circuits, and 38 is an R and S type flip-flop circuit (the flip-flop circuits are hereinafter commonly referred to as FF). ) and are connected as shown in the figure.
次に、第1図の動作を第2図と共に説明する。Next, the operation of FIG. 1 will be explained with reference to FIG. 2.
操作の開始によって、図示していない電源スィッチが閉
成されると、回路の各部に給電が行われると共に、FF
36,37及び38はリセットが解除される。When a power switch (not shown) is closed at the start of the operation, power is supplied to each part of the circuit, and the FF
36, 37 and 38 are released from reset.
そして、クロックパルス発生回路1が動作して、625
μsの周期のクロックパルスが発生すると共に、時間形
成回路2の出力がt=25msの時間だけ「l−■」レ
ベルへ反転する。Then, the clock pulse generation circuit 1 operates, and 625
At the same time that a clock pulse with a period of .mu.s is generated, the output of the time forming circuit 2 is inverted to the "l-■" level for a time of t=25 ms.
従って、その時間だけクロックパルスがアントゲート3
を通過し、それに対応してI・ランンスタ4が鶏1、通
、遮断を繰返ず結果、IRD5はパルス点灯する。Therefore, the clock pulse is applied to the ant gate 3 for that time.
, and in response to this, the I/Run star 4 does not repeat the 1, 1, pass, and shut off cycles, and as a result, the IRD 5 lights up in pulses.
このIRD5の点灯による投射光は、測距対象力)ら反
射して半導体装置検出素子6で受光される。The projected light caused by the lighting of the IRD 5 is reflected from the distance measurement target force and is received by the semiconductor device detection element 6.
こ5で、電極(検出用)9aと9bの間に反射光スポッ
トXが当ると、抵抗層9を介して入射点に次の関係が成
立する。In this step, when the reflected light spot X hits between the electrodes (for detection) 9a and 9b, the following relationship holds true at the point of incidence via the resistance layer 9.
l3=II+I2
そして、抵抗層9の抵抗を一様にしておけば、反射光ス
ポラ)Xの入射点と電極9aの間の距離をlr、入射点
と電極9bの間の距離を12とすると、11 ・I +
=+ 2 ・I2なる関係が成立する。l3=II+I2 Then, if the resistance of the resistance layer 9 is made uniform, the distance between the incident point of the reflected light spora)X and the electrode 9a is lr, and the distance between the incident point and the electrode 9b is 12. 11 ・I +
The relationship: =+ 2 ・I2 holds true.
この条件に基づき、a及びa″点の受光出力は、■に示
す如(、自然光による直流成分に重畳されて発生する。Based on this condition, the light reception outputs at points a and a'' are generated superimposed on the DC component due to natural light, as shown in (2).
また、交流増幅回路11及び12後のb及びb′点の出
力は、@に示す如(、増幅されて現われる。Furthermore, the outputs at points b and b' after the AC amplifier circuits 11 and 12 are amplified and appear as shown at @.
−方、時間形成回路2の出力が25m5の111間「H
」レベルへ反転している間、インバータ23の出力が「
L」レベルへ反転し、トランジスタ24が遮断するので
、コンデンサ26は定電流回路25により定電流充電さ
れ、その定電流を1、コンデンサ26の容量をCとする
と、電流増幅回路27の出力端子C点の電圧Vは、
V−、(]/C)I 、tの関係式により、Oで示す如
く北昇する。- On the other hand, the output of the time forming circuit 2 is “H” for 111 of 25 m5.
” level, the output of the inverter 23 is “
Since the transistor 24 is turned off and the transistor 24 is cut off, the capacitor 26 is charged with a constant current by the constant current circuit 25. If the constant current is 1 and the capacitance of the capacitor 26 is C, then the output terminal C of the current amplifier circuit 27 The voltage V at the point rises north as shown by O due to the relational expression of V-, (]/C)I, and t.
即ち、交流増幅回路13及び14は、夫々利得調整入力
端子]、3a及びi4aの電位が、低位から徐々に」−
Hし、増幅率が零或は低増幅率から高増幅率へ掃引され
、d及びd′点の出力は、@に示す波形の如くになる。That is, in the AC amplifier circuits 13 and 14, the potentials of the gain adjustment input terminals], 3a, and i4a, respectively, gradually increase from a low level.
H, the amplification factor is swept from zero or a low amplification factor to a high amplification factor, and the outputs at points d and d' become like the waveform shown at @.
また、B))F]5及び16後のe及びe゛点の出力は
、その中心周波数foとO3,CIの発振周波数fOと
を同し値に設定しであるので、■に示す如く、■の波形
を増幅したように現われる。更に、検波回路17及びI
8後のf及びf′点の出力波形は、θに示す如くになり
、平l(i回路J9及び20を経た直流増幅回路21及
び22後のg及びg′点の出力電圧Vg及びVg′は、
■に示す如(、所定値から徐々に上昇する。Also, the outputs at points e and e after B))F]5 and 16 are obtained by setting the center frequency fo and the oscillation frequency fO of O3 and CI to the same value, so as shown in ■ It appears as if the waveform of ■ has been amplified. Furthermore, the detection circuit 17 and I
The output waveforms at points f and f' after 8 are as shown in θ, and the output voltages Vg and Vg' at points g and g' after DC amplifier circuits 21 and 22 which have passed through circuits J9 and 20 are teeth,
As shown in (2), it gradually increases from a predetermined value.
そして、第2図に示す如く、測距対象が近距離性((9
,に存在している場合には、(a 1.) 、(a 2
)に示す如く、反射光スポットXが、半導体装置検出素
子6に対し大きく左側に片寄りII<12の状態になる
ので、g点の出力電圧Vgがg′点の出力電圧Vg゛よ
りも充分高いと共に、その出力電圧Vgが基準電圧Vr
+に達した時、CMP28の出力がl’−HJレベルへ
反転して、先の時間[の間[(Jレベルの信号が与えら
れていたアンドゲート35が開いてその出力がl’−I
−IJ レベルへ反転する。一方、その時点ては、g゛
点の出力電圧■g′が基準電圧■r3にも達していない
ので、CMP29及び30の出力は共に「H」レベルの
ま5である。As shown in Fig. 2, the distance measurement target is short-range ((9
, then (a 1.) , (a 2
), the reflected light spot X is largely biased to the left with respect to the semiconductor device detection element 6, so that the output voltage Vg at point g is more than the output voltage Vg at point g'. and its output voltage Vg is higher than the reference voltage Vr.
+, the output of the CMP 28 is inverted to the l'-HJ level, and during the previous time [(the AND gate 35 to which the J level signal was applied opens and its output becomes l'-I
-Flip to IJ level. On the other hand, at that point, the output voltage g' at point g has not even reached the reference voltage r3, so the outputs of the CMPs 29 and 30 are both at the "H" level.
従って、アンドゲート35の出力の[H,、J レベル
への立」−り信号をクロックとするFF36及び37は
、共に「H」レベルの信号を読み込み、夫夫の出力端子
Q1及びO2に「■(」レベルの信号を記憶し、またそ
の立上り信号をセットパルスとするFF38は、出力端
子Q3が[(Jレベルへ反転する。Therefore, the FFs 36 and 37, which are clocked by the rising signal of the output of the AND gate 35 to the [H, J level], both read the signal of the "H" level and output the "H" level signal to the husband's output terminals Q1 and O2. (2) The FF 38 stores a signal at the ('' level and uses its rising signal as a set pulse, and the output terminal Q3 is inverted to the [(J level).
また、測距対象が中距離位置に存在している場合には、
第2図(bl)、 (b2)に示す如く、反射光スポッ
トXが、半導体装置検出素子6に対し左側に片寄ってI
I<12の状態にあり、同様の動作で出力電圧Vg”が
Vr2(V+°3の間に在るので、FF35の出力端子
Q1は「H」レベルの信号を、他方FF37の出力端子
Q2はrLJレヘレベ信号を夫々記憶し、またFF38
の出力端子Q3は[(Jレベルへ反転する。In addition, if the distance measurement target is located at a medium distance position,
As shown in FIGS. 2(bl) and (b2), the reflected light spot X is biased to the left with respect to the semiconductor device detection element 6, and
I<12, and in the same operation, the output voltage Vg" is between Vr2 (V+°3), so the output terminal Q1 of FF35 receives a "H" level signal, and the output terminal Q2 of FF37 receives a signal of "H" level. The rLJ level signal is stored respectively, and the FF38
The output terminal Q3 of is inverted to [(J level).
更に、測距対象が遠距離への境界位置に存在していた場
合には、第2図(CI) 、(C2)において実線で示
す如く、反射光スポットxが半導体装置検出素−F6に
対しはゾ中央に当ってl+六12の状態にあるので、そ
の出力電圧Vg及び■g′ははド等しく、その判別時点
ては、出力電圧Vg”が基準電圧Vr2よりも高くなっ
ているのて、FF35及び37の夫々の出力端子Q1及
びO2はrLJ レベルの信号を記憶し、また、FF3
8の出力端子Q3は「II」レベル−・反転する。Furthermore, if the object to be measured is located at a boundary position to a long distance, the reflected light spot is at the center of 2 and is in the state of l+612, so its output voltages Vg and g' are equal, and at the time of determination, the output voltage Vg' is higher than the reference voltage Vr2. , FF35 and FF37, respectively, output terminals Q1 and O2 store rLJ level signals, and FF3
The output terminal Q3 of No. 8 is inverted to "II" level.
更にまた、測ム゛1」対象が極遠距離位置に存在してい
た場合には、(c 1) 、(c 2)において鎖線て
示す如く、反射光スポットX′が、半導体装置検出素子
6に対し右側に片寄ってII>12の状態にあるが、極
遠距離のため、出力電圧Vgは先の時間を内には基準電
圧Vr+に達せず(測距対象が反射率の小さいもの\場
合も同様になることがある)、CMP28の出力がrL
Jレベルのま\てあり、その時間tが終了するとアンド
ゲート35かゲートを閉じるので、FF38はセットさ
れず、出力端子Q3がrLJレベルのま5の状態に保持
される。Furthermore, when the object of measurement 1 exists at a very far position, the reflected light spot However, due to the extremely long distance, the output voltage Vg will not reach the reference voltage Vr+ within the next hour (if the distance measurement target has a small reflectance) ), the output of CMP28 is rL
Since the AND gate 35 closes when the time t ends, the FF 38 is not set and the output terminal Q3 remains at the rLJ level.
なお、この時は、アンドゲート35の出力が[HJレベ
ルへ反転することはないのて、FF36及び37は読み
込み動作を行わない。Note that at this time, the output of the AND gate 35 is not inverted to the [HJ level, so the FFs 36 and 37 do not perform the reading operation.
即ち、第3図の真理値の図表に示す如く、FF36及び
37の出力端子Q+及びO2の信号レベル状態により近
、中及びjMi’i(i’iifを判別するように設定
されているものであり、更に、FF’38の出力端子Q
3がrLJレベルの時は、FF36及び37による判別
に優先して遠alt’、 Wit、を判別するように設
定されるものである。That is, as shown in the truth value diagram of FIG. 3, the signal level state of the output terminals Q+ and O2 of FFs 36 and 37 is set to determine near, medium, and jMi'i (i'iif). Yes, and in addition, the output terminal Q of FF'38
When 3 is at the rLJ level, it is set to discriminate far alt' and Wit in priority to the discrimination by FFs 36 and 37.
また、第1図のCMP29及び30への甚準電圧は、固
定バイアスであり、出力電圧VgPと出力電圧Vgとは
絶対値比較が行われている。Furthermore, the standard voltages applied to the CMPs 29 and 30 in FIG. 1 are fixed biases, and the absolute values of the output voltages VgP and Vg are compared.
第4図の実施例は、CMP29及び30への基準電圧が
、変動する出力電圧Vgを分割する形で与えられ、従っ
て、出力電圧Vg’は、出力電圧Vgに対する割合の量
として比較が行われる。なお、分圧回路のvbは、例え
ば、IRD5を動作させていない時の半導体装置検出素
子6の受光出力回路の通常の電圧レベルがバイアスされ
ている。In the embodiment of FIG. 4, the reference voltages to the CMPs 29 and 30 are provided in the form of dividing the varying output voltage Vg, and therefore the output voltage Vg' is compared as a proportion of the output voltage Vg. . Note that vb of the voltage dividing circuit is biased, for example, at the normal voltage level of the light receiving output circuit of the semiconductor device detection element 6 when the IRD 5 is not operating.
また、第1図の回路動作では、CMP28の出力が1ト
■]レベルへ反転した11′i、出力電圧Vg″の状態
を判別する訳けであるが、アントゲート35以下の累積
される動作遅れ時間により、その判別に精度を欠く場合
が起り得る。In addition, in the circuit operation shown in FIG. 1, the state of output voltage Vg'' is determined at 11'i when the output of CMP28 is inverted to the 1t level, but the cumulative operation of ant gate 35 and below is Due to the delay time, the determination may lack accuracy.
これに対し、第4図の実施例の特徴は、を述の如く、割
合の基、即ち、出力電圧■g′は出力電圧Vgに対する
比で判別されるので、前実施例よりも精度の向上が計れ
るものである。On the other hand, the feature of the embodiment shown in FIG. 4 is that, as described above, since the output voltage g' is determined based on the ratio, that is, the ratio of the output voltage g' to the output voltage Vg, the accuracy is improved compared to the previous embodiment. can be measured.
なお、上述の測距出力の段数は増減可能であり、また、
FF38により遠距離を判別した場合、併せて警報を発
するようにすることもできる。Note that the number of steps of the distance measurement output mentioned above can be increased or decreased, and
If the FF 38 determines a long distance, it is also possible to issue an alarm at the same time.
上述の実施例は、測距出力を、基準電圧(Vr2゜Vr
3)のレベル及び段数に応してデジタル的に得るもので
あるが、以下測距出力を更に細分割化して得られる実施
例について説明する。In the above embodiment, the distance measurement output is set to the reference voltage (Vr2°Vr
3) is obtained digitally according to the level and the number of steps, but an example will be described below in which the distance measurement output is further divided into smaller parts.
先ず、第5図及び第6図によりその一番1」のものを説
明する。なお、前実施例と同一の素子には同じ符号をイ
;]シている。First, the first one will be explained with reference to FIGS. 5 and 6. Note that the same elements as in the previous embodiment are designated by the same symbols.
第5図において、41はコンパレータ回路、42及び4
3はコンパレータ回路41の反転入力端子(−)に基準
電圧Vrを与える定電流回路及び抵抗、44はアントゲ
ート、45はアナログスイッチ、46はインバータ、4
7はコンデンサ、48は電流増幅回路、49はコンパレ
ータ回路(なお、コンパレータ回路は、以下共通してC
MPと記述する。)、50及び51はCMP49の非反
転入力端子(刊に撮影レンズの可動範囲における一方の
極限位置から他方の極限位置への移動に対応した変位電
圧を与える定電流回路及びポテンショメータ、52はR
,Sタイプの7リツプフロツプ回路(以下FFと記述す
る)、53はアンドゲート、54はトランジスタ、55
は撮影レンズの操作部祠(レンズセットリング)の運動
を停止させる電磁石である。In FIG. 5, 41 is a comparator circuit, 42 and 4
3 is a constant current circuit and a resistor that applies a reference voltage Vr to the inverting input terminal (-) of the comparator circuit 41; 44 is an ant gate; 45 is an analog switch; 46 is an inverter;
7 is a capacitor, 48 is a current amplification circuit, and 49 is a comparator circuit (the comparator circuit is hereinafter commonly referred to as C
It is written as MP. ), 50 and 51 are non-inverting input terminals of the CMP 49 (a constant current circuit and a potentiometer that provide a displacement voltage corresponding to the movement of the photographing lens from one extreme position to the other extreme position in the movable range; 52 is a potentiometer);
, S type 7 lip-flop circuit (hereinafter referred to as FF), 53 is an AND gate, 54 is a transistor, 55
is an electromagnet that stops the movement of the operating part ring (lens set ring) of the photographic lens.
次に、第6図において、56はレンズセットリングて、
光軸を中心にして回動自在に配置され、11つバネ57
により右旋性が与えられ、その右旋により撮影レンズを
無限遠位置がら至近距離位置方向へと変位移動さぜるも
のであり、また、段部56aとラチェット歯56bとを
形成している。Next, in FIG. 6, 56 is a lens set ring,
Eleven springs 57 are arranged so as to be rotatable around the optical axis.
This gives dextrorotation, and the right rotation displaces the photographing lens from an infinity position to a close distance position, and also forms a stepped portion 56a and ratchet teeth 56b.
−【旦はレンス駆動のレリーズ用の電磁石で、鉄芯58
aとコイル581〕と永久磁石58cとにより構成され
ている。59は軸6oに枢着されていると共にハネ61
により左旋性が与えられているレリーズ用の鉄片レバー
であり、レンズセントリンク56の段部56aに係合し
得るフック59aと電磁石立旦の鉄芯58aに対向する
鉄片59bとを形成している。62はピンで、鉄片レバ
ー59の左旋量を制限している。63は軸64に枢着さ
れバネ65により右旋性が与えられている0 7り用の
鉄片レバーで、レンズセラi・リング56のラチェツト
歯56bに係合し得るフック63aと、第5図における
ものと同じものである電磁石55に対向する鉄片63b
とを形成している。- [Dan is an electromagnet for the lens-driven release, with an iron core of 58
a, a coil 581] and a permanent magnet 58c. 59 is pivotally connected to the shaft 6o and the spring 61
This is an iron piece lever for the release that is given levorotatory properties by the above, and forms a hook 59a that can engage with the stepped portion 56a of the lens center link 56 and an iron piece 59b that faces the iron core 58a of the electromagnet. . 62 is a pin that limits the left rotation amount of the iron piece lever 59. Reference numeral 63 designates an iron piece lever for 07 rotation which is pivotally mounted on a shaft 64 and given dextrorotation by a spring 65, and includes a hook 63a that can engage with the ratchet teeth 56b of the lens cellar i-ring 56, and An iron piece 63b facing the electromagnet 55, which is the same as the
and is formed.
なお、第5図におけるポテンショメータ51は、第6図
に示す如く、レンズセットリング56に支持すれたブラ
シ51aと、基板51b」−に形成すれた抵抗体51c
と導体51dとにより構成されている。The potentiometer 51 in FIG. 5 includes a brush 51a supported by a lens set ring 56 and a resistor 51c formed on a substrate 51b, as shown in FIG.
and a conductor 51d.
そこで、第5図及び第6図の動作を第2図(〔」内の電
圧参照)と共に説明する。Therefore, the operations shown in FIGS. 5 and 6 will be explained together with FIG. 2 (see voltages in parentheses).
]二連と同様に、第2図(a 1) 、(a 2)の状
態では、g点の出力電圧Vgがg″点の出力電圧Vg”
よりも充分高いと共に、g及びg”点の電位はその関係
を保ちながらt昇する。] Similarly to the double series, in the states shown in Figure 2 (a 1) and (a 2), the output voltage Vg at point g is equal to the output voltage Vg at point g''
, and the potentials at points g and g'' rise by t while maintaining that relationship.
また、この段階では、アンドゲート44がゲートを閉じ
ていてインバータ46の出方が「f−I Jレベルであ
るので、アナログスイッチ45が開いており、コンデン
サ47はg′点の出力電圧Vg″にょり充電されて行く
。Also, at this stage, the AND gate 44 is closed and the output of the inverter 46 is at the f-I J level, so the analog switch 45 is open and the capacitor 47 is connected to the output voltage Vg at point g'. It's getting charged up.
そして、g点の出力電圧Vgが基準電圧Vrに達すると
、CMP41は出力がrHJレベルへ反転し、この結果
、先の時間tの間[HJ レベルの信号が与えられてい
るアントゲ−1・44は開いてその出力が[f(J レ
ベルへ反転し、FF52をセリトンてその出力Qを「H
Jレベルに反転保持させると共に、インバータ46の出
力をrLJレベルへ反転させてアナログスイッチ45を
閉じさせる。従って、コンデンサ47には、g点の出力
電圧Vgか基準電圧Vrに達した時のg゛点の出力型L
IEVg″(Vl)か記憶される。またその電圧V1は
、電流増幅回路48で増幅され、CMP49の反転入力
端子十−)に与えられる。Then, when the output voltage Vg at point g reaches the reference voltage Vr, the output of the CMP 41 is inverted to rHJ level, and as a result, during the previous time t, is opened and its output is [f(J).
At the same time, the output of the inverter 46 is inverted to the rLJ level and the analog switch 45 is closed. Therefore, the capacitor 47 has an output type L at point g when the output voltage Vg at point g or the reference voltage Vr is reached.
IEVg'' (Vl) is stored.The voltage V1 is amplified by the current amplification circuit 48 and applied to the inverting input terminal (-) of the CMP 49.
なお、CMP49は、非反転入力端子(+)に入力端子
を与えるポテンショメータ51が初期状態では高電位側
に位置しているので、初期の出力状態は「F(」レベル
に置かれている。In addition, in the CMP 49, since the potentiometer 51 which provides an input terminal to the non-inverting input terminal (+) is located on the high potential side in the initial state, the initial output state is set at the "F(" level).
従って、アント′ゲート53は、ゲートを開いてトラン
ジスタ54を導通させているので、電磁石55は励磁し
ていて鉄片レバー63を吸着保持している。Therefore, since the ant' gate 53 opens the gate and makes the transistor 54 conductive, the electromagnet 55 is energized and holds the iron piece lever 63 by attraction.
そして、先の時間tの終了後に、図示していない回路動
作により電磁石58のコイルSzbが、永久磁石58’
Cの磁力を打ち消す方向にパルス駆動されると、鉄片レ
バー59はバネ61の張力により左旋し、フック59a
がレンズセットリング56の殴部56aから外れる。そ
の結果、該リング56はバネ57の張力により右旋を開
始して、撮影レンズを無限遠位置から至近距離位置方向
へ変位移動させると共に、ブラシ51aを、抵抗体5
]、 c J:1と導体51d」二とで摺動させて、ポ
テンショメータ51を高電位側から低電位側へ変位移動
させる。Then, after the previous time t ends, the coil Szb of the electromagnet 58 is connected to the permanent magnet 58' by a circuit operation (not shown).
When pulse-driven in the direction of canceling the magnetic force of C, the iron piece lever 59 rotates to the left due to the tension of the spring 61, and the hook 59a
comes off from the punching portion 56a of the lens set ring 56. As a result, the ring 56 starts turning to the right due to the tension of the spring 57, displacing the photographing lens from the infinity position to the close distance position, and moving the brush 51a towards the resistor 5.
], c J:1 and the conductor 51d''2 are slid to move the potentiometer 51 from the high potential side to the low potential side.
そして、CMP49の非反転入力端子(」−)の電位が
反転入力端子(−)の電位まで低下すると、CMP49
はその出力がrLJレベルへ反転してアンドゲート53
を閉じさせる。その結果、トランジスタ54が遮断して
電磁石55が消磁するので、り(片レバー63がバネ6
5の張力により右旋し、フック63aがラチェット1i
56bの一つに噛合して、レンズセットリング56の右
旋を停止させて撮影レンズが所定位置に固定されるもの
である。Then, when the potential of the non-inverting input terminal ('-) of the CMP49 decreases to the potential of the inverting input terminal (-), the CMP49
The output is inverted to the rLJ level and the AND gate 53
close. As a result, the transistor 54 is cut off and the electromagnet 55 is demagnetized.
The hook 63a rotates to the right due to the tension of the ratchet 1i.
56b, the right rotation of the lens set ring 56 is stopped, and the photographing lens is fixed at a predetermined position.
また、測距対象がもう少し遠い位置に存在している場合
には、例えば第2図(b 1) 、(b 2)に示す如
くなり、」二連の記憶電圧■1に相当するものが電圧■
2に変化する。In addition, if the object to be measured is located a little further away, for example, as shown in Figure 2 (b 1) and (b 2), the voltage corresponding to ``double memory voltage ■1'' is ■
Changes to 2.
更に、測11′−嗅1象が更に遠い位置に存在している
場合には、例えば第2図1(CI)、(C2)において
実線で示す如くなり(反射光スポラ1.Xが半導体装置
検出素子6のはS中火に当った場合)、−上述の記憶電
圧V1に相当するものか電圧■3に変化する。Furthermore, if the measurement 11'-olfactory 1 phenomenon is located at a further distant position, for example, as shown by the solid line in Fig. 2 (CI) and (C2) (reflected light spoiler 1. When the voltage of the detection element 6 is hit by medium heat (S), the voltage changes to 3 which corresponds to the above-mentioned storage voltage V1.
更にまた、測距対象が極遠距削位置に存在していた場合
には、第2図(CI)、(C2)において鎖線で示す如
く、反則光スポラ+−X“が半導体装置検出素了6に対
し右側に片寄るか、極遠距肖11のため、出力電圧Vg
は先の時間を内てはシ(亭主JJ−V rに達せず(測
距対象が反則率の小さいものの場合も同様になることが
ある)、CMP4]の出ノJがrLJレベルのま〜てあ
り、その時間tが終了して時間形成回路2の出力がrL
J レベルへ復帰してしまうと、アントゲ−1・44の
出力はrHJレベルへ反転できなくなる。従って、FF
52は、セットされず出力Qが「I2」 レベルの状態
に保持されて、アンドゲート53を閉じさせたまトにす
る。Furthermore, when the object to be measured is located at a very long distance cutting position, as shown by the chain lines in FIGS. 2 (CI) and (C2), the foul light spoiler +- 6, the output voltage Vg
within the next time, the output J of CMP4] will not reach the husband JJ-V r (this may happen even if the distance measurement target has a small foul rate), and the output J will be at rLJ level. When the time t ends, the output of the time forming circuit 2 becomes rL.
Once the output returns to the J level, the output of the Antogame 1.44 cannot be inverted to the rHJ level. Therefore, F.F.
52 is not set and the output Q is held at the "I2" level, keeping the AND gate 53 closed.
この結果、電磁石55は初期状態から4カ磁されておら
ず、鉄片レバー63を吸着していないので」二連の動作
と同様に、レンズセットリング56か右旋して、ラチェ
ツト歯56bの最初の歯がフック63aに対向した時、
鉄片レバー63は直ちに右旋し、フック63aがラチェ
ット歯56bに噛合し、レンズセットリング56の右旋
を停止させ、撮影レンスを無限遠位置に固定させるもの
である。As a result, the electromagnet 55 is not magnetized from the initial state and has not attracted the iron piece lever 63, so the lens set ring 56 rotates to the right and the ratchet tooth 56b is rotated to the right, similar to the double operation. When the teeth of the hook 63a face the hook 63a,
The iron piece lever 63 immediately rotates to the right, and the hook 63a engages with the ratchet teeth 56b, stopping the right rotation of the lens set ring 56 and fixing the photographing lens at the infinity position.
次に、第7図及び第8図により他の実施例について説明
する。なお、前実施例と同一の素子には同じ杓号をイ;
jしている。Next, another embodiment will be described with reference to FIGS. 7 and 8. Note that elements that are the same as those in the previous example are designated with the same ladle numbers.
I'm doing j.
66.67はCMP、68.69及び70は定電流回路
、抵抗及びポテンショメータ、71゜72及−び73は
ナントゲート、(なお、以北の素r−と、電流増幅回路
48の出力電圧を入力とし、ナントゲ−1−72,73
の状態を出力とする関係でウィンドコンパレータ回路を
構成している。)74はアノトゲ−1・、75はオアゲ
ート、76はイ/ハータ、77〜80はトう/ジスタ、
81はモータである。66.67 is CMP, 68.69 and 70 are constant current circuits, resistors and potentiometers, 71° 72 and 73 are Nandt gates (note that the element r- to the north and the output voltage of the current amplification circuit 48 are As input, Nantogame-1-72,73
A window comparator circuit is constructed in such a way that the state of ) 74 is Anotogame-1, 75 is Orgate, 76 is I/Haata, 77-80 is Tou/Jista,
81 is a motor.
82はレンズセットリングて、光軸を中心にして回動自
在に配置され、部分ギヤ82aを形成し°Cいる。83
はピニオンて、第7図のものと同しものであるモータ8
1の回転軸に固着されている。Reference numeral 82 denotes a lens set ring, which is arranged rotatably around the optical axis and forms a partial gear 82a. 83
is a pinion, and the motor 8 is the same as that in Fig. 7.
It is fixed to the rotating shaft of 1.
84は中間ギヤで、ピニオン83とレンズセットリング
82の部分ギヤ82aとに噛合している。84 is an intermediate gear that meshes with the pinion 83 and the partial gear 82a of the lens set ring 82.
なお、第7図におけるポテンショメータ70は、第8図
に示す如く、レンズセットリング82に支持されたブラ
シ70aと、基板701) −1−に形成された抵抗体
70cと導体70dとにより構成されている。The potentiometer 70 in FIG. 7 is composed of a brush 70a supported by a lens setting ring 82, a resistor 70c and a conductor 70d formed on a substrate 701)-1-, as shown in FIG. There is.
一1二連の如く、電流増幅回路48の出力電圧は、極遠
距離等は別にして、測距対象が近、中、遠と遠(になる
に従って高くなるように設定されている。As shown in series 11 and 2, the output voltage of the current amplification circuit 48 is set to increase as the object to be measured becomes near, medium, and far, apart from extremely far distances.
そして、ウィンドコンパレータ回路である関係から、電
流増幅回路48の出力電圧(Vx)が、CMP66の非
反転入力端子(刊の電圧(Vlよりも高ければ、CMP
66の出力は「I、」 レベルで、CMP67の出力は
「■−■jレベルであるから、ナントゲート71の出力
が「H」レベルとなって、ナントゲート72の出力が「
H」レベルで、ナンドゲ−1・73の出力が1−LJ
レベルとなる。Since it is a window comparator circuit, if the output voltage (Vx) of the current amplifier circuit 48 is higher than the voltage (Vl) at the non-inverting input terminal (Vl) of the CMP 66, the CMP
Since the output of the CMP 66 is at the "I," level and the output of the CMP67 is at the "■-■j level," the output of the Nantes gate 71 becomes the "H" level, and the output of the Nantes gate 72 becomes the "I," level.
At "H" level, the output of Nandoge-1/73 is 1-LJ
level.
一方、出力電圧Vxが、CMP67の反転入力端子(−
)の電圧(Vz)よりも低くければ、CMP66の出ノ
Jは「■]」レベルて、CMP67の出力は「Ljレベ
ルであるから、その後の出力状態は前述とは逆の関係に
なる。On the other hand, the output voltage Vx is the inverting input terminal (-
), the output J of the CMP 66 is at the "■" level and the output of the CMP 67 is at the "Lj level," so the subsequent output state will be in the opposite relationship to that described above.
」二連のいずれの場合も、モータ駆動回路の両人力に差
が生しているので、夫々の方向に対応してモータ81が
回転し、レンズセットリンク82を駆動する。In both cases, there is a difference in the power of both motor drive circuits, so the motor 81 rotates in each direction to drive the lens set link 82.
また、出力電圧Vxが、Vy)Vx)Vzの関係に置か
れた場合には、CMP66及び67の出力は共に[11
] レベルとなってナンドゲ−1・71の出力がl”L
Jレベルとなるので、ナントゲート72及び73の出力
は共に「H」レベルとなり、この時はモータ駆動回路の
両人力が同電位であるから、モータ81は回転しない。Furthermore, when the output voltage Vx is placed in the relationship Vy)Vx)Vz, the outputs of CMP66 and CMP67 are both [11
] level and the output of Nandoge-1・71 is l”L
Since the output is at the J level, the outputs of the Nant gates 72 and 73 are both at the "H" level, and at this time, the motor 81 does not rotate because both motor drive circuits have the same potential.
即ち、モータ81の回転により駆動されるレンズセット
リング82の運動に連動してポテンショメータ70が操
作されることにより、その時の出力電圧Vxに対して電
圧vyとVzを変化させ、Vy)Vx)Vzの関係位置
を検出させて、撮影レンズを所定位置に固定させるもの
である。That is, by operating the potentiometer 70 in conjunction with the movement of the lens setting ring 82 driven by the rotation of the motor 81, the voltages vy and Vz are changed with respect to the output voltage Vx at that time, and Vy)Vx)Vz The photographing lens is fixed at a predetermined position by detecting the relative position of the lens.
更に、J−述の如く、F F 52がセットされず、出
力Qか[−L」レベルのまトの時は、アントゲ−1・7
4の出力がrLJ レベルで、オアゲート75の出力か
「II1 レベルに保持され、出力電圧Vxが高い時と
同じであるから、撮影レンズは極遠距離位置側へ駆動さ
れる。Furthermore, as mentioned above, when F F 52 is not set and the output Q is still at [-L] level, the
4 is at the rLJ level, and the output of the OR gate 75 is held at the II1 level, which is the same as when the output voltage Vx is high, so the photographing lens is driven to the extreme distance position.
なお、このII:lJは、Vy:)Vx)Vzの状態を
検出する動作は111(関係となって、モータ81には
撮影レンズを極遠距離側へ駆動する電流が流れ続けるこ
とになるので、リミッタ−を設けておくことが好ましい
。The operation of detecting the state of Vy:)Vx)Vz is as follows: , it is preferable to provide a limiter.
次に、第9図により他の実施例について説明する。なお
、前実施例と同一の素子には同じ符号を付している。Next, another embodiment will be described with reference to FIG. Note that the same elements as in the previous embodiment are given the same reference numerals.
86は例えば4ビツトのA/Dコンバータ回路、87〜
90はアントゲ−1・、91は例えば4ビットのマグニ
チュードコンパレータ回!L 92 ハモータ駆動回路
、93はその回転によりレンズセットリングを駆動する
モータ、94はモータ93の回転量をデジタル化する例
えば4ヒツトのエンコータである。86 is, for example, a 4-bit A/D converter circuit, 87 -
90 is an anime game-1, and 91 is a 4-bit magnitude comparator, for example! L 92 motor drive circuit; 93 is a motor that drives the lens setting ring by its rotation; 94 is, for example, a 4-hit encoder that digitizes the amount of rotation of the motor 93;
電流増幅回路48の出力電圧のつ′ナログ量は、A、/
Dコンバータ回路86で四つの出力端子により、 rL
J 、「LJ 、rL」、rLjから[I−jJ。The analog amount of the output voltage of the current amplifier circuit 48 is A, /
By the four output terminals of the D converter circuit 86, rL
J, "LJ, rL", rLj to [I-jJ.
[HJ 、[HJ 、rHJまでの16段階のデジタル
量の一つに符号化され、その16段階は、例えば、極遠
距離位置から至近距離位置までを16分割している。[HJ, [HJ, rHJ] is encoded as one of the 16 stages of digital quantities, and the 16 stages are, for example, divided into 16 from the extremely far distance position to the close distance position.
従って、A/Dコンバータ回路86の出力は、アントゲ
−1・87〜90を通してマグニチュードコンパレータ
回路91に入力される。そして、モータ駆動回路92に
よりモータ93が回転させられることによってレンズセ
ットリングが駆動される。その結果、撮影レンズは無限
遠位置から至近距離位置方向へ変位移動させられる。そ
して、モータ93の回転量をデジタル量に変換するエン
コータ94の出力が該コンパレータ回路91の人力と一
致した時にモータ93が停止して、撮影レンスが所定位
置に固定されるものである。Therefore, the output of the A/D converter circuit 86 is input to the magnitude comparator circuit 91 through the analogues 1.87 to 90. The lens setting ring is driven by the motor 93 being rotated by the motor drive circuit 92. As a result, the photographing lens is displaced from the infinity position to the close distance position. When the output of an encoder 94 that converts the amount of rotation of the motor 93 into a digital amount matches the human power of the comparator circuit 91, the motor 93 is stopped and the photographing lens is fixed at a predetermined position.
また、L述の如く、FF52がセットされず、出力Qか
「L」レベルのまトの時は、アントゲ−1・87〜90
の出力が共に「I、」レベルに保持されて、十−述の極
遠距離状態と同しであるので、撮影レンズはjHH5眼
遠位置で固定される。Also, as mentioned above, when the FF52 is not set and the output Q is still at the "L" level, the
Since the outputs of both are held at the "I," level, which is the same as the extremely long distance state described in 10, the photographing lens is fixed at the far position of jHH5 eyes.
なお、夫々の実施例において、FF52かセットされず
、遠距離状態を設定する場合は、併せて警報を発するよ
うにすることもできる。In each of the embodiments, if the FF 52 is not set and a long-distance state is set, an alarm may also be issued at the same time.
以」−の如く、本発明は、受光素子出力の対数圧縮や増
幅回路の自動利得調整を行うことなく、増幅回路の増幅
率を低増幅率から高増幅率へ掃引する簡単な構成により
安定した動作て測距状態を判別することができるもので
ある。As described above, the present invention achieves stability by using a simple configuration that sweeps the amplification factor of the amplification circuit from a low amplification factor to a high amplification factor without performing logarithmic compression of the light receiving element output or automatic gain adjustment of the amplification circuit. It is possible to determine the distance measurement state by operating the sensor.
第1図は本発明の一実施例を示した回路図、第2図は受
光素子に対する反射光スポットの状態と出力電圧の関係
を示した説明図、第3図は測距出力の一例を示した真理
値の図表、第4図、第5図。
第7図及び第9図は夫々本発明の他の実施例を示した部
分回路図、第6図及び第8図は夫々第5図及び第7図に
対応した撮影レンスの駆動機構の−・例を示した説明図
である。
1・・ ・・・・・・ ・・・タロツクパルス発生回路
2・・・・ ・・・・・・・・・時間形成回路5・・・
・・・・・・・・・・・・・赤外線発光ダイオード6・
・・・・・・・・ ・・・・・半導体装置検出素子9a
、9b・・・・・・・・電極(検出用)10・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・共通電極11.12
.13及び14
・・・交流増幅回路
13a及び14a・・・・・・利得調整入力端子15及
び16・・・・・・・・帯域フィルター回路17及び1
8・・・・・・・・・・・検波回路19及び20・・・
・・・・・・・平泪回路21及び22・・・・・・・・
直流増幅回路27及び48・・・・・・・・・・電流増
幅回路51及び70・・・・・・・・ポテンショメータ
55・・・・・・・・・・ ・・・・・電磁石56及び
82・・・・・・・・・・レンズセットリング81及び
93・・ ・・・・モータ
86・・・・ ・・・・・・・・A/Dコンバータ回路
91・ ・・ ・ ・ ・ マグニチュードコンパレー
タ回路
92 ・・−・・ ・・・・モータ駆動回路94・ ・
・・・・ ・・・・・・エンコーダX及びX′・・・・
・・−・・・・・・反射光スポット特許出願人
株式会社 コ パ ル
第21シ1
6 <、二25m5)
第41り1
手続補正書(方式)
昭和58年20月81日
I 事件の表示
昭和58年特許願第182530号
2 発明の名称
測距装置
3 補正をする者
特杵出頓人
〒174 東京都板橋区志村2の16の20電話 (9
65)+111
(+22) 株式会社コ l(ル
図面全図
b 補正の内容Fig. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of the present invention, Fig. 2 is an explanatory diagram showing the relationship between the state of the reflected light spot on the light receiving element and the output voltage, and Fig. 3 shows an example of the distance measurement output. Diagrams of truth values, Figures 4 and 5. FIGS. 7 and 9 are partial circuit diagrams showing other embodiments of the present invention, and FIGS. 6 and 8 are partial circuit diagrams of the photographing lens drive mechanism corresponding to FIGS. 5 and 7, respectively. It is an explanatory diagram showing an example. 1......Tarlock pulse generation circuit 2......Time forming circuit 5...
・・・・・・・・・・・・Infrared light emitting diode 6・
......... Semiconductor device detection element 9a
, 9b... Electrode (for detection) 10...
・・・・・・・・・・・・・・・・Common electrode 11.12
.. 13 and 14...AC amplifier circuits 13a and 14a...Gain adjustment input terminals 15 and 16...Band filter circuits 17 and 1
8...Detection circuits 19 and 20...
・・・・・・Hirayuki Circuit 21 and 22・・・・・・・・・
DC amplifier circuits 27 and 48... Current amplifier circuits 51 and 70... Potentiometer 55... Electromagnet 56 and 82... Lens set rings 81 and 93... Motor 86... A/D converter circuit 91... Magnitude Comparator circuit 92...Motor drive circuit 94...
...... Encoder X and X'...
...Reflected Light Spot Patent Applicant Co., Ltd. Copal No. 21-1 6 <, 225m5) No. 41-1 Procedural Amendment (Method) Case I of October 81, 1981 Display Patent Application No. 182530 of 1982 2 Name of the invention Distance measuring device 3 Person making the correction Tokugi Detonjin 2-16-20 Shimura, Itabashi-ku, Tokyo 174 Phone number (9)
65) +111 (+22) Co., Ltd. All drawings b Contents of amendment
Claims (8)
則し、その反射光を共通電極及び一対の検出用電極を有
する半導体装置検出素子で受光する三角測距方式の測距
装置において、前記半導体装置検出素子における共通電
極と夫々の検出用電極間の出力を増幅する増幅回路の増
幅率を一定++ri間内において低増幅率から高増幅率
へJ’+jf引し、共通電極と一力の検出用電極間の増
幅された出力がある設定値に達した時点て、共通電極と
他方の検出用電極間のJIILIIl+*iされた出力
の状態を判別するようにしたことを特徴とするUj:i
M−1i装(?;、。(1) A triangular distance measuring device that projects light emitted from a light emitting element toward a distance measurement target and receives the reflected light with a semiconductor device detection element that has a common electrode and a pair of detection electrodes. In, the amplification factor of the amplifier circuit that amplifies the output between the common electrode and each detection electrode in the semiconductor device detection element is subtracted by J'+jf from a low amplification factor to a high amplification factor within a constant ++ri, and the common electrode and When the amplified output between one detection electrode reaches a certain set value, the state of the amplified output between the common electrode and the other detection electrode is determined. Uj:i
M-1i (?;,.
射し、その反射光を共通電極及び−χ・jの検出用電極
を有する半導体装置検出素子で受光する三角ll!II
距方式の測方式置において、前記半導体装置検出素子に
おける共通電極と夫々の検出用電極間の出力を増幅する
増幅回路の増幅率を一定時間内において低増幅率から高
増幅率へ掃引し、共通電極と一方の検出用電極間の増幅
された出力がある設定値に達した時の、共通電極と他方
の検出用して判別するようにしたことを特徴とする測距
装置。(2) Triangle ll! in which the light emitted from the light emitting element is projected toward the distance measurement target, and the reflected light is received by a semiconductor device detection element having a common electrode and a detection electrode of −χ·j! II
In a distance method measuring device, the amplification factor of an amplifier circuit that amplifies the output between the common electrode and each detection electrode in the semiconductor device detection element is swept from a low amplification factor to a high amplification factor within a certain period of time, and the common A distance measuring device characterized in that when an amplified output between an electrode and one detection electrode reaches a certain set value, a common electrode and the other detection electrode are determined to be used for detection.
を複数のレベルと比較することを特徴とする9、1′許
請求の範囲第一項または第二項記載の測Wli装置。(3) The Wli measuring device according to claim 1 or 2, characterized in that the amplified output between the common electrode and the other detection electrode is compared with a plurality of levels.
幅された出力がある設定値に達しない時は、測距出力を
遠距離として判別するようにしたことを特徴とする特許
請求の範囲第一項または第二項記載の測距装置。(4) A patent characterized in that when the amplified output between the common electrode and one of the detection electrodes does not reach a certain set value within a certain distance, the distance measurement output is determined as long distance. A distance measuring device according to claim 1 or 2.
j R・J象に向けて投射し、その反射光を共通電極及
び=一対の検出用電極を有する半導体装置検出素子で受
光する三角測距方式の訓「1.I装置において、前記半
導体装置検出累了−における共通電極と夫々の検出用電
極間の出力を増幅する増幅回路の増幅率を一定時間内に
おいて低増幅率から高増幅率へ掃引し、共通電極と一方
の検出用電極間の増幅された出力がある設定値に達した
時点で、共通電極と他方の検出用電極間の増幅された出
力の状態を電圧値として記憶してコンパレータ回路の一
方の入力端子に与え、その後、撮影レンズを可動範囲の
一方の極限位置から他方の極限位置へ向けて駆動すると
共に、該j514動々作に連動して前記コンパレーク回
路の他)jの入力端子の電位を一方の極限値から他方の
極限値へ向けて掃引し、前記両入力端子の電位か一致し
た時、fiif記撮影レンズの駆動を停止させるように
したことを特徴とする訓lj1.!装置。(5) The light emitted from the light emitting element is 1liii 171
j The principle of the triangulation distance measurement method in which the reflected light is projected toward the R and J objects and is received by a semiconductor device detection element having a common electrode and a pair of detection electrodes. The amplification factor of the amplifier circuit that amplifies the output between the common electrode and each of the detection electrodes is swept from a low amplification factor to a high amplification factor within a certain period of time, and the amplification factor between the common electrode and one of the detection electrodes is When the detected output reaches a certain set value, the state of the amplified output between the common electrode and the other detection electrode is stored as a voltage value and applied to one input terminal of the comparator circuit. is driven from one extreme position of the movable range to the other extreme position, and in conjunction with the movement of said j514, the potential of the input terminal of The device is characterized in that the driving of the photographing lens is stopped when the electric potentials of both input terminals coincide with each other.
けて投射し、その反η・1光を共通電極及び一対の検出
用電極を有する半導体装置検出素子で受光する三角測h
゛1!方式の1llil距装置において、i11記半導
体装置検出素r・における共通電極と夫々の検出用電極
間の出力を増幅する増幅回路の増幅率を一定時間内にお
いて低増幅率から高増幅率へ掃引し、共通電極と一方の
検出用電極間の増幅された出力がある設定値に達した時
点で、共通電極と他方の検出用電極間の増幅された出力
の状態を電圧値として記憶してウィンドコンパレーク回
路の一方の入力端子に与え、また、撮影レンズの可動範
囲中の位置に対応した電位を前記ウィンドコンパレータ
回路の他方の入力端子に与え、該コンパレータ回路の出
力端子間に接続されその入力電圧の不平衡の方向に対応
して回転するサーボモータにより前記撮影レンズを駆動
し、jiir記両入力端子の電位がある幅を持つ所定の
しきい領内で一致した時、前記サーボモータの回転を停
止させて、前記撮影レンズの駆動を停止させるようにし
たことを1・1′徴とする測距装置。(6) Triangulation h in which the light emitted from the light-emitting element r- is projected toward a measuring object, and the reflected η·1 light is received by a semiconductor device detection element having a common electrode and a pair of detection electrodes.
゛1! In the 1llil distance device of the method, the amplification factor of the amplifier circuit that amplifies the output between the common electrode and each detection electrode in the semiconductor device detection element r.i11 is swept from a low amplification factor to a high amplification factor within a certain time When the amplified output between the common electrode and one detection electrode reaches a certain set value, the state of the amplified output between the common electrode and the other detection electrode is stored as a voltage value and the window comparator A potential corresponding to a position within the movable range of the photographic lens is applied to one input terminal of the rake circuit, and a potential corresponding to a position within the movable range of the photographic lens is applied to the other input terminal of the window comparator circuit, and the input voltage is connected between the output terminals of the comparator circuit. The photographing lens is driven by a servo motor that rotates in accordance with the direction of unbalance, and when the potentials of both input terminals of jiir coincide within a predetermined threshold area having a certain width, the rotation of the servo motor is stopped. 1.1' The distance measuring device is characterized in that the driving of the photographing lens is stopped.
射し、その反射光を共通電極及び一対の検出用電極を有
する半導体装置検出素子で受光する二角測距方式の測距
装置において、1iif記半心体光位置検出素子におけ
る共通電極と夫々の検出用電極間の出力を増幅する増幅
回路の増幅率を一定時間内において低増幅率から高増幅
率へ掃引し、共通電極と一方の検出用電極間の増幅され
た出力がある設定値に達した115点て、共通電極と他
方の検出用電極間の増幅された出力の状態の電圧値をデ
ジタル値に変換して記憶し、その後、撮影レンズをi]
’動範囲の一方の極限位置から他方の極限位置へ向けて
駆動すると共に、該駆動の歩進量をエンコーダによりデ
ジタル量に変換し、該デジタル量か前記記憶デジタル値
と一致した時、前記撮影レンズの駆動を停止させるよう
にしたことを特徴とする測距装fi:i:0(7) Distance measurement using a diagonal distance measurement method in which light emitted from a light-emitting element is projected toward a distance measurement target, and the reflected light is received by a semiconductor device detection element having a common electrode and a pair of detection electrodes. In the apparatus, the amplification factor of the amplifier circuit that amplifies the output between the common electrode and each detection electrode in the semi-centric optical position detection element described in 1iif is swept from a low amplification factor to a high amplification factor within a certain period of time, and the common electrode At 115 points where the amplified output between the common electrode and the other detection electrode reaches a certain set value, the voltage value of the amplified output state between the common electrode and the other detection electrode is converted into a digital value and stored. and then change the shooting lens to i]
'While driving from one extreme position to the other extreme position of the movement range, the step amount of the drive is converted into a digital amount by an encoder, and when the digital amount matches the stored digital value, the photographing A rangefinder fi:i:0 characterized by stopping the driving of the lens.
1i、fされた出力がある設定値に遅しない時は、撮影
レンズが優先して遠距離側の極限位置で停止されるよう
にしたことを特徴とする特許請求の範囲第五項乃至第七
項記載の測距装置。(8) If the increased output between the common electrode and one of the detection electrodes does not reach a certain set value within a certain period of time, the photographing lens will be prioritized and stopped at the extreme position on the far side. A distance measuring device according to any one of claims 5 to 7, characterized in that:
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18253083A JPS6073314A (en) | 1983-09-30 | 1983-09-30 | Distance measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18253083A JPS6073314A (en) | 1983-09-30 | 1983-09-30 | Distance measuring apparatus |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6073314A true JPS6073314A (en) | 1985-04-25 |
| JPH0342609B2 JPH0342609B2 (en) | 1991-06-27 |
Family
ID=16119914
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18253083A Granted JPS6073314A (en) | 1983-09-30 | 1983-09-30 | Distance measuring apparatus |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6073314A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60133313A (en) * | 1983-12-22 | 1985-07-16 | Copal Co Ltd | Distance measuring apparatus |
| JPH04199013A (en) * | 1990-11-29 | 1992-07-20 | Fuji Photo Film Co Ltd | Active type distance measuring method |
-
1983
- 1983-09-30 JP JP18253083A patent/JPS6073314A/en active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60133313A (en) * | 1983-12-22 | 1985-07-16 | Copal Co Ltd | Distance measuring apparatus |
| JPH04199013A (en) * | 1990-11-29 | 1992-07-20 | Fuji Photo Film Co Ltd | Active type distance measuring method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0342609B2 (en) | 1991-06-27 |
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