JPS6073314A - 測距装置 - Google Patents
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- JPS6073314A JPS6073314A JP18253083A JP18253083A JPS6073314A JP S6073314 A JPS6073314 A JP S6073314A JP 18253083 A JP18253083 A JP 18253083A JP 18253083 A JP18253083 A JP 18253083A JP S6073314 A JPS6073314 A JP S6073314A
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 22
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 21
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 49
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims description 30
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims description 30
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 3
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims 2
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 abstract 1
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical group [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 20
- IERHLVCPSMICTF-XVFCMESISA-N CMP group Chemical group P(=O)(O)(O)OC[C@@H]1[C@H]([C@H]([C@@H](O1)N1C(=O)N=C(N)C=C1)O)O IERHLVCPSMICTF-XVFCMESISA-N 0.000 description 14
- 239000013317 conjugated microporous polymer Substances 0.000 description 14
- 210000003643 myeloid progenitor cell Anatomy 0.000 description 14
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 6
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 6
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 3
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 3
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 2
- 241000016649 Copaifera officinalis Species 0.000 description 1
- 239000004859 Copal Substances 0.000 description 1
- 101100464782 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) CMP2 gene Proteins 0.000 description 1
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000004080 punching Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C3/00—Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders
- G01C3/02—Details
- G01C3/06—Use of electric means to obtain final indication
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- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、カメラ等に用いられる測距装置てあって、発
光素子から発せられた光を測距えj象に向けて投則し、
その反射光を共通電極及び一対の検出用電極を有する半
導体装置検出素子で受光する三角測距方式の測距装置の
改良に関する。
光素子から発せられた光を測距えj象に向けて投則し、
その反射光を共通電極及び一対の検出用電極を有する半
導体装置検出素子で受光する三角測距方式の測距装置の
改良に関する。
従来、」二連のような方式の測「11装置としては、特
開昭57−177107号公報等により提案されている
。
開昭57−177107号公報等により提案されている
。
一般に、発光素子より投射した光の測距対象からの反射
光を受光素子で受光して測距する場合、その反射光強1
度は、測距対象の反則率、距jijfj等によって、千
倍以上の差を生じる。従って、受光素子の出力を増幅す
る増幅回路は、60dB以−にのタイナミックレンジが
必要となる。
光を受光素子で受光して測距する場合、その反射光強1
度は、測距対象の反則率、距jijfj等によって、千
倍以上の差を生じる。従って、受光素子の出力を増幅す
る増幅回路は、60dB以−にのタイナミックレンジが
必要となる。
そのクイナミソクレンジを広くする方法としては、受光
素゛r出力の対数圧縮や増幅回路の1−目すJ利得調整
が考えられるが、前者では、受光々量が太き(受光累子
間の出力差が小さい11γに、S/Nが悪くなる欠点が
あり、また後者では、フィードバック系が必要で、発振
等の不安定要素が増大する欠点があった。
素゛r出力の対数圧縮や増幅回路の1−目すJ利得調整
が考えられるが、前者では、受光々量が太き(受光累子
間の出力差が小さい11γに、S/Nが悪くなる欠点が
あり、また後者では、フィードバック系が必要で、発振
等の不安定要素が増大する欠点があった。
零或は微少値から徐々に増大させて、比較回路の判別し
易いある設定値に達した時に測距状態を判別させ、撮影
レンズを所定位置に設定する測距装置を提供するもので
ある。
易いある設定値に達した時に測距状態を判別させ、撮影
レンズを所定位置に設定する測距装置を提供するもので
ある。
以下、図面に基づいて本発明の詳細な説明する。
先ず、第1図において、■はクロックパルス発生回路(
発振周波数f O=16KHzであり、以下O8Cと記
述する)、2は時間形成回路(時間t =25ms)
、3はアンドゲート、4はトランジスタ、5は測距対象
へスポット光を投射する発光素子としての赤外線発光ダ
イオード(以下、IRDと記述する)である。
発振周波数f O=16KHzであり、以下O8Cと記
述する)、2は時間形成回路(時間t =25ms)
、3はアンドゲート、4はトランジスタ、5は測距対象
へスポット光を投射する発光素子としての赤外線発光ダ
イオード(以下、IRDと記述する)である。
6は半導体装置検出素子で、比較的大きな面をイコする
半導体基板7をもち、その半導体基板7の一方の而に該
基板7と異なる導電型の半導体層8が形成されている。
半導体基板7をもち、その半導体基板7の一方の而に該
基板7と異なる導電型の半導体層8が形成されている。
そして、半導体層8の上には抵抗層9が形成されている
と共に、該抵抗層9の両端に一対の電極(検出用)9a
、’9bが設けられ、また半導体基板7には共通電極1
0が設けられている。
と共に、該抵抗層9の両端に一対の電極(検出用)9a
、’9bが設けられ、また半導体基板7には共通電極1
0が設けられている。
11及び12は夫々交流増幅回路、13及び14は夫々
利得(増幅率)調整入力端子13a及び14aを備えた
交流増幅回路、15及び16は夫々帯域フィルター回路
(中心周波数f’o=]、6KHzであり、以下BPF
と記述する)、17及び18は夫々検波回路、19及び
20は夫々検波回路、21及び22は夫々直流増幅回路
、23はインバータ、24はトランジスタ、25は定電
流回路、26はコンデンサ、27は電流増幅回路、28
.29及び30は夫々コンパレータ回路(以−FCMP
と記述する)、31は定電流回路、32゜33及び34
は夫々CMP28の反転入力端r−(−)及びCMP2
9,30の非反転入力端子(+)に基亭電圧Vr+及び
Vr2. Vr3を与える分圧抵抗、35はアントゲー
ト、36及び37は夫々Dタイプのフリップフロップ回
路、38はR,Sタイプのフリップフロップ回路(なお
、フリップフロップ回路は、以下共通してFFと記述す
る。)であり、夫々図示の如く接続されている。
利得(増幅率)調整入力端子13a及び14aを備えた
交流増幅回路、15及び16は夫々帯域フィルター回路
(中心周波数f’o=]、6KHzであり、以下BPF
と記述する)、17及び18は夫々検波回路、19及び
20は夫々検波回路、21及び22は夫々直流増幅回路
、23はインバータ、24はトランジスタ、25は定電
流回路、26はコンデンサ、27は電流増幅回路、28
.29及び30は夫々コンパレータ回路(以−FCMP
と記述する)、31は定電流回路、32゜33及び34
は夫々CMP28の反転入力端r−(−)及びCMP2
9,30の非反転入力端子(+)に基亭電圧Vr+及び
Vr2. Vr3を与える分圧抵抗、35はアントゲー
ト、36及び37は夫々Dタイプのフリップフロップ回
路、38はR,Sタイプのフリップフロップ回路(なお
、フリップフロップ回路は、以下共通してFFと記述す
る。)であり、夫々図示の如く接続されている。
次に、第1図の動作を第2図と共に説明する。
操作の開始によって、図示していない電源スィッチが閉
成されると、回路の各部に給電が行われると共に、FF
36,37及び38はリセットが解除される。
成されると、回路の各部に給電が行われると共に、FF
36,37及び38はリセットが解除される。
そして、クロックパルス発生回路1が動作して、625
μsの周期のクロックパルスが発生すると共に、時間形
成回路2の出力がt=25msの時間だけ「l−■」レ
ベルへ反転する。
μsの周期のクロックパルスが発生すると共に、時間形
成回路2の出力がt=25msの時間だけ「l−■」レ
ベルへ反転する。
従って、その時間だけクロックパルスがアントゲート3
を通過し、それに対応してI・ランンスタ4が鶏1、通
、遮断を繰返ず結果、IRD5はパルス点灯する。
を通過し、それに対応してI・ランンスタ4が鶏1、通
、遮断を繰返ず結果、IRD5はパルス点灯する。
このIRD5の点灯による投射光は、測距対象力)ら反
射して半導体装置検出素子6で受光される。
射して半導体装置検出素子6で受光される。
こ5で、電極(検出用)9aと9bの間に反射光スポッ
トXが当ると、抵抗層9を介して入射点に次の関係が成
立する。
トXが当ると、抵抗層9を介して入射点に次の関係が成
立する。
l3=II+I2
そして、抵抗層9の抵抗を一様にしておけば、反射光ス
ポラ)Xの入射点と電極9aの間の距離をlr、入射点
と電極9bの間の距離を12とすると、11 ・I +
=+ 2 ・I2なる関係が成立する。
ポラ)Xの入射点と電極9aの間の距離をlr、入射点
と電極9bの間の距離を12とすると、11 ・I +
=+ 2 ・I2なる関係が成立する。
この条件に基づき、a及びa″点の受光出力は、■に示
す如(、自然光による直流成分に重畳されて発生する。
す如(、自然光による直流成分に重畳されて発生する。
また、交流増幅回路11及び12後のb及びb′点の出
力は、@に示す如(、増幅されて現われる。
力は、@に示す如(、増幅されて現われる。
−方、時間形成回路2の出力が25m5の111間「H
」レベルへ反転している間、インバータ23の出力が「
L」レベルへ反転し、トランジスタ24が遮断するので
、コンデンサ26は定電流回路25により定電流充電さ
れ、その定電流を1、コンデンサ26の容量をCとする
と、電流増幅回路27の出力端子C点の電圧Vは、 V−、(]/C)I 、tの関係式により、Oで示す如
く北昇する。
」レベルへ反転している間、インバータ23の出力が「
L」レベルへ反転し、トランジスタ24が遮断するので
、コンデンサ26は定電流回路25により定電流充電さ
れ、その定電流を1、コンデンサ26の容量をCとする
と、電流増幅回路27の出力端子C点の電圧Vは、 V−、(]/C)I 、tの関係式により、Oで示す如
く北昇する。
即ち、交流増幅回路13及び14は、夫々利得調整入力
端子]、3a及びi4aの電位が、低位から徐々に」−
Hし、増幅率が零或は低増幅率から高増幅率へ掃引され
、d及びd′点の出力は、@に示す波形の如くになる。
端子]、3a及びi4aの電位が、低位から徐々に」−
Hし、増幅率が零或は低増幅率から高増幅率へ掃引され
、d及びd′点の出力は、@に示す波形の如くになる。
また、B))F]5及び16後のe及びe゛点の出力は
、その中心周波数foとO3,CIの発振周波数fOと
を同し値に設定しであるので、■に示す如く、■の波形
を増幅したように現われる。更に、検波回路17及びI
8後のf及びf′点の出力波形は、θに示す如くになり
、平l(i回路J9及び20を経た直流増幅回路21及
び22後のg及びg′点の出力電圧Vg及びVg′は、
■に示す如(、所定値から徐々に上昇する。
、その中心周波数foとO3,CIの発振周波数fOと
を同し値に設定しであるので、■に示す如く、■の波形
を増幅したように現われる。更に、検波回路17及びI
8後のf及びf′点の出力波形は、θに示す如くになり
、平l(i回路J9及び20を経た直流増幅回路21及
び22後のg及びg′点の出力電圧Vg及びVg′は、
■に示す如(、所定値から徐々に上昇する。
そして、第2図に示す如く、測距対象が近距離性((9
,に存在している場合には、(a 1.) 、(a 2
)に示す如く、反射光スポットXが、半導体装置検出素
子6に対し大きく左側に片寄りII<12の状態になる
ので、g点の出力電圧Vgがg′点の出力電圧Vg゛よ
りも充分高いと共に、その出力電圧Vgが基準電圧Vr
+に達した時、CMP28の出力がl’−HJレベルへ
反転して、先の時間[の間[(Jレベルの信号が与えら
れていたアンドゲート35が開いてその出力がl’−I
−IJ レベルへ反転する。一方、その時点ては、g゛
点の出力電圧■g′が基準電圧■r3にも達していない
ので、CMP29及び30の出力は共に「H」レベルの
ま5である。
,に存在している場合には、(a 1.) 、(a 2
)に示す如く、反射光スポットXが、半導体装置検出素
子6に対し大きく左側に片寄りII<12の状態になる
ので、g点の出力電圧Vgがg′点の出力電圧Vg゛よ
りも充分高いと共に、その出力電圧Vgが基準電圧Vr
+に達した時、CMP28の出力がl’−HJレベルへ
反転して、先の時間[の間[(Jレベルの信号が与えら
れていたアンドゲート35が開いてその出力がl’−I
−IJ レベルへ反転する。一方、その時点ては、g゛
点の出力電圧■g′が基準電圧■r3にも達していない
ので、CMP29及び30の出力は共に「H」レベルの
ま5である。
従って、アンドゲート35の出力の[H,、J レベル
への立」−り信号をクロックとするFF36及び37は
、共に「H」レベルの信号を読み込み、夫夫の出力端子
Q1及びO2に「■(」レベルの信号を記憶し、またそ
の立上り信号をセットパルスとするFF38は、出力端
子Q3が[(Jレベルへ反転する。
への立」−り信号をクロックとするFF36及び37は
、共に「H」レベルの信号を読み込み、夫夫の出力端子
Q1及びO2に「■(」レベルの信号を記憶し、またそ
の立上り信号をセットパルスとするFF38は、出力端
子Q3が[(Jレベルへ反転する。
また、測距対象が中距離位置に存在している場合には、
第2図(bl)、 (b2)に示す如く、反射光スポッ
トXが、半導体装置検出素子6に対し左側に片寄ってI
I<12の状態にあり、同様の動作で出力電圧Vg”が
Vr2(V+°3の間に在るので、FF35の出力端子
Q1は「H」レベルの信号を、他方FF37の出力端子
Q2はrLJレヘレベ信号を夫々記憶し、またFF38
の出力端子Q3は[(Jレベルへ反転する。
第2図(bl)、 (b2)に示す如く、反射光スポッ
トXが、半導体装置検出素子6に対し左側に片寄ってI
I<12の状態にあり、同様の動作で出力電圧Vg”が
Vr2(V+°3の間に在るので、FF35の出力端子
Q1は「H」レベルの信号を、他方FF37の出力端子
Q2はrLJレヘレベ信号を夫々記憶し、またFF38
の出力端子Q3は[(Jレベルへ反転する。
更に、測距対象が遠距離への境界位置に存在していた場
合には、第2図(CI) 、(C2)において実線で示
す如く、反射光スポットxが半導体装置検出素−F6に
対しはゾ中央に当ってl+六12の状態にあるので、そ
の出力電圧Vg及び■g′ははド等しく、その判別時点
ては、出力電圧Vg”が基準電圧Vr2よりも高くなっ
ているのて、FF35及び37の夫々の出力端子Q1及
びO2はrLJ レベルの信号を記憶し、また、FF3
8の出力端子Q3は「II」レベル−・反転する。
合には、第2図(CI) 、(C2)において実線で示
す如く、反射光スポットxが半導体装置検出素−F6に
対しはゾ中央に当ってl+六12の状態にあるので、そ
の出力電圧Vg及び■g′ははド等しく、その判別時点
ては、出力電圧Vg”が基準電圧Vr2よりも高くなっ
ているのて、FF35及び37の夫々の出力端子Q1及
びO2はrLJ レベルの信号を記憶し、また、FF3
8の出力端子Q3は「II」レベル−・反転する。
更にまた、測ム゛1」対象が極遠距離位置に存在してい
た場合には、(c 1) 、(c 2)において鎖線て
示す如く、反射光スポットX′が、半導体装置検出素子
6に対し右側に片寄ってII>12の状態にあるが、極
遠距離のため、出力電圧Vgは先の時間を内には基準電
圧Vr+に達せず(測距対象が反射率の小さいもの\場
合も同様になることがある)、CMP28の出力がrL
Jレベルのま\てあり、その時間tが終了するとアンド
ゲート35かゲートを閉じるので、FF38はセットさ
れず、出力端子Q3がrLJレベルのま5の状態に保持
される。
た場合には、(c 1) 、(c 2)において鎖線て
示す如く、反射光スポットX′が、半導体装置検出素子
6に対し右側に片寄ってII>12の状態にあるが、極
遠距離のため、出力電圧Vgは先の時間を内には基準電
圧Vr+に達せず(測距対象が反射率の小さいもの\場
合も同様になることがある)、CMP28の出力がrL
Jレベルのま\てあり、その時間tが終了するとアンド
ゲート35かゲートを閉じるので、FF38はセットさ
れず、出力端子Q3がrLJレベルのま5の状態に保持
される。
なお、この時は、アンドゲート35の出力が[HJレベ
ルへ反転することはないのて、FF36及び37は読み
込み動作を行わない。
ルへ反転することはないのて、FF36及び37は読み
込み動作を行わない。
即ち、第3図の真理値の図表に示す如く、FF36及び
37の出力端子Q+及びO2の信号レベル状態により近
、中及びjMi’i(i’iifを判別するように設定
されているものであり、更に、FF’38の出力端子Q
3がrLJレベルの時は、FF36及び37による判別
に優先して遠alt’、 Wit、を判別するように設
定されるものである。
37の出力端子Q+及びO2の信号レベル状態により近
、中及びjMi’i(i’iifを判別するように設定
されているものであり、更に、FF’38の出力端子Q
3がrLJレベルの時は、FF36及び37による判別
に優先して遠alt’、 Wit、を判別するように設
定されるものである。
また、第1図のCMP29及び30への甚準電圧は、固
定バイアスであり、出力電圧VgPと出力電圧Vgとは
絶対値比較が行われている。
定バイアスであり、出力電圧VgPと出力電圧Vgとは
絶対値比較が行われている。
第4図の実施例は、CMP29及び30への基準電圧が
、変動する出力電圧Vgを分割する形で与えられ、従っ
て、出力電圧Vg’は、出力電圧Vgに対する割合の量
として比較が行われる。なお、分圧回路のvbは、例え
ば、IRD5を動作させていない時の半導体装置検出素
子6の受光出力回路の通常の電圧レベルがバイアスされ
ている。
、変動する出力電圧Vgを分割する形で与えられ、従っ
て、出力電圧Vg’は、出力電圧Vgに対する割合の量
として比較が行われる。なお、分圧回路のvbは、例え
ば、IRD5を動作させていない時の半導体装置検出素
子6の受光出力回路の通常の電圧レベルがバイアスされ
ている。
また、第1図の回路動作では、CMP28の出力が1ト
■]レベルへ反転した11′i、出力電圧Vg″の状態
を判別する訳けであるが、アントゲート35以下の累積
される動作遅れ時間により、その判別に精度を欠く場合
が起り得る。
■]レベルへ反転した11′i、出力電圧Vg″の状態
を判別する訳けであるが、アントゲート35以下の累積
される動作遅れ時間により、その判別に精度を欠く場合
が起り得る。
これに対し、第4図の実施例の特徴は、を述の如く、割
合の基、即ち、出力電圧■g′は出力電圧Vgに対する
比で判別されるので、前実施例よりも精度の向上が計れ
るものである。
合の基、即ち、出力電圧■g′は出力電圧Vgに対する
比で判別されるので、前実施例よりも精度の向上が計れ
るものである。
なお、上述の測距出力の段数は増減可能であり、また、
FF38により遠距離を判別した場合、併せて警報を発
するようにすることもできる。
FF38により遠距離を判別した場合、併せて警報を発
するようにすることもできる。
上述の実施例は、測距出力を、基準電圧(Vr2゜Vr
3)のレベル及び段数に応してデジタル的に得るもので
あるが、以下測距出力を更に細分割化して得られる実施
例について説明する。
3)のレベル及び段数に応してデジタル的に得るもので
あるが、以下測距出力を更に細分割化して得られる実施
例について説明する。
先ず、第5図及び第6図によりその一番1」のものを説
明する。なお、前実施例と同一の素子には同じ符号をイ
;]シている。
明する。なお、前実施例と同一の素子には同じ符号をイ
;]シている。
第5図において、41はコンパレータ回路、42及び4
3はコンパレータ回路41の反転入力端子(−)に基準
電圧Vrを与える定電流回路及び抵抗、44はアントゲ
ート、45はアナログスイッチ、46はインバータ、4
7はコンデンサ、48は電流増幅回路、49はコンパレ
ータ回路(なお、コンパレータ回路は、以下共通してC
MPと記述する。)、50及び51はCMP49の非反
転入力端子(刊に撮影レンズの可動範囲における一方の
極限位置から他方の極限位置への移動に対応した変位電
圧を与える定電流回路及びポテンショメータ、52はR
,Sタイプの7リツプフロツプ回路(以下FFと記述す
る)、53はアンドゲート、54はトランジスタ、55
は撮影レンズの操作部祠(レンズセットリング)の運動
を停止させる電磁石である。
3はコンパレータ回路41の反転入力端子(−)に基準
電圧Vrを与える定電流回路及び抵抗、44はアントゲ
ート、45はアナログスイッチ、46はインバータ、4
7はコンデンサ、48は電流増幅回路、49はコンパレ
ータ回路(なお、コンパレータ回路は、以下共通してC
MPと記述する。)、50及び51はCMP49の非反
転入力端子(刊に撮影レンズの可動範囲における一方の
極限位置から他方の極限位置への移動に対応した変位電
圧を与える定電流回路及びポテンショメータ、52はR
,Sタイプの7リツプフロツプ回路(以下FFと記述す
る)、53はアンドゲート、54はトランジスタ、55
は撮影レンズの操作部祠(レンズセットリング)の運動
を停止させる電磁石である。
次に、第6図において、56はレンズセットリングて、
光軸を中心にして回動自在に配置され、11つバネ57
により右旋性が与えられ、その右旋により撮影レンズを
無限遠位置がら至近距離位置方向へと変位移動さぜるも
のであり、また、段部56aとラチェット歯56bとを
形成している。
光軸を中心にして回動自在に配置され、11つバネ57
により右旋性が与えられ、その右旋により撮影レンズを
無限遠位置がら至近距離位置方向へと変位移動さぜるも
のであり、また、段部56aとラチェット歯56bとを
形成している。
−【旦はレンス駆動のレリーズ用の電磁石で、鉄芯58
aとコイル581〕と永久磁石58cとにより構成され
ている。59は軸6oに枢着されていると共にハネ61
により左旋性が与えられているレリーズ用の鉄片レバー
であり、レンズセントリンク56の段部56aに係合し
得るフック59aと電磁石立旦の鉄芯58aに対向する
鉄片59bとを形成している。62はピンで、鉄片レバ
ー59の左旋量を制限している。63は軸64に枢着さ
れバネ65により右旋性が与えられている0 7り用の
鉄片レバーで、レンズセラi・リング56のラチェツト
歯56bに係合し得るフック63aと、第5図における
ものと同じものである電磁石55に対向する鉄片63b
とを形成している。
aとコイル581〕と永久磁石58cとにより構成され
ている。59は軸6oに枢着されていると共にハネ61
により左旋性が与えられているレリーズ用の鉄片レバー
であり、レンズセントリンク56の段部56aに係合し
得るフック59aと電磁石立旦の鉄芯58aに対向する
鉄片59bとを形成している。62はピンで、鉄片レバ
ー59の左旋量を制限している。63は軸64に枢着さ
れバネ65により右旋性が与えられている0 7り用の
鉄片レバーで、レンズセラi・リング56のラチェツト
歯56bに係合し得るフック63aと、第5図における
ものと同じものである電磁石55に対向する鉄片63b
とを形成している。
なお、第5図におけるポテンショメータ51は、第6図
に示す如く、レンズセットリング56に支持すれたブラ
シ51aと、基板51b」−に形成すれた抵抗体51c
と導体51dとにより構成されている。
に示す如く、レンズセットリング56に支持すれたブラ
シ51aと、基板51b」−に形成すれた抵抗体51c
と導体51dとにより構成されている。
そこで、第5図及び第6図の動作を第2図(〔」内の電
圧参照)と共に説明する。
圧参照)と共に説明する。
]二連と同様に、第2図(a 1) 、(a 2)の状
態では、g点の出力電圧Vgがg″点の出力電圧Vg”
よりも充分高いと共に、g及びg”点の電位はその関係
を保ちながらt昇する。
態では、g点の出力電圧Vgがg″点の出力電圧Vg”
よりも充分高いと共に、g及びg”点の電位はその関係
を保ちながらt昇する。
また、この段階では、アンドゲート44がゲートを閉じ
ていてインバータ46の出方が「f−I Jレベルであ
るので、アナログスイッチ45が開いており、コンデン
サ47はg′点の出力電圧Vg″にょり充電されて行く
。
ていてインバータ46の出方が「f−I Jレベルであ
るので、アナログスイッチ45が開いており、コンデン
サ47はg′点の出力電圧Vg″にょり充電されて行く
。
そして、g点の出力電圧Vgが基準電圧Vrに達すると
、CMP41は出力がrHJレベルへ反転し、この結果
、先の時間tの間[HJ レベルの信号が与えられてい
るアントゲ−1・44は開いてその出力が[f(J レ
ベルへ反転し、FF52をセリトンてその出力Qを「H
Jレベルに反転保持させると共に、インバータ46の出
力をrLJレベルへ反転させてアナログスイッチ45を
閉じさせる。従って、コンデンサ47には、g点の出力
電圧Vgか基準電圧Vrに達した時のg゛点の出力型L
IEVg″(Vl)か記憶される。またその電圧V1は
、電流増幅回路48で増幅され、CMP49の反転入力
端子十−)に与えられる。
、CMP41は出力がrHJレベルへ反転し、この結果
、先の時間tの間[HJ レベルの信号が与えられてい
るアントゲ−1・44は開いてその出力が[f(J レ
ベルへ反転し、FF52をセリトンてその出力Qを「H
Jレベルに反転保持させると共に、インバータ46の出
力をrLJレベルへ反転させてアナログスイッチ45を
閉じさせる。従って、コンデンサ47には、g点の出力
電圧Vgか基準電圧Vrに達した時のg゛点の出力型L
IEVg″(Vl)か記憶される。またその電圧V1は
、電流増幅回路48で増幅され、CMP49の反転入力
端子十−)に与えられる。
なお、CMP49は、非反転入力端子(+)に入力端子
を与えるポテンショメータ51が初期状態では高電位側
に位置しているので、初期の出力状態は「F(」レベル
に置かれている。
を与えるポテンショメータ51が初期状態では高電位側
に位置しているので、初期の出力状態は「F(」レベル
に置かれている。
従って、アント′ゲート53は、ゲートを開いてトラン
ジスタ54を導通させているので、電磁石55は励磁し
ていて鉄片レバー63を吸着保持している。
ジスタ54を導通させているので、電磁石55は励磁し
ていて鉄片レバー63を吸着保持している。
そして、先の時間tの終了後に、図示していない回路動
作により電磁石58のコイルSzbが、永久磁石58’
Cの磁力を打ち消す方向にパルス駆動されると、鉄片レ
バー59はバネ61の張力により左旋し、フック59a
がレンズセットリング56の殴部56aから外れる。そ
の結果、該リング56はバネ57の張力により右旋を開
始して、撮影レンズを無限遠位置から至近距離位置方向
へ変位移動させると共に、ブラシ51aを、抵抗体5
]、 c J:1と導体51d」二とで摺動させて、ポ
テンショメータ51を高電位側から低電位側へ変位移動
させる。
作により電磁石58のコイルSzbが、永久磁石58’
Cの磁力を打ち消す方向にパルス駆動されると、鉄片レ
バー59はバネ61の張力により左旋し、フック59a
がレンズセットリング56の殴部56aから外れる。そ
の結果、該リング56はバネ57の張力により右旋を開
始して、撮影レンズを無限遠位置から至近距離位置方向
へ変位移動させると共に、ブラシ51aを、抵抗体5
]、 c J:1と導体51d」二とで摺動させて、ポ
テンショメータ51を高電位側から低電位側へ変位移動
させる。
そして、CMP49の非反転入力端子(」−)の電位が
反転入力端子(−)の電位まで低下すると、CMP49
はその出力がrLJレベルへ反転してアンドゲート53
を閉じさせる。その結果、トランジスタ54が遮断して
電磁石55が消磁するので、り(片レバー63がバネ6
5の張力により右旋し、フック63aがラチェット1i
56bの一つに噛合して、レンズセットリング56の右
旋を停止させて撮影レンズが所定位置に固定されるもの
である。
反転入力端子(−)の電位まで低下すると、CMP49
はその出力がrLJレベルへ反転してアンドゲート53
を閉じさせる。その結果、トランジスタ54が遮断して
電磁石55が消磁するので、り(片レバー63がバネ6
5の張力により右旋し、フック63aがラチェット1i
56bの一つに噛合して、レンズセットリング56の右
旋を停止させて撮影レンズが所定位置に固定されるもの
である。
また、測距対象がもう少し遠い位置に存在している場合
には、例えば第2図(b 1) 、(b 2)に示す如
くなり、」二連の記憶電圧■1に相当するものが電圧■
2に変化する。
には、例えば第2図(b 1) 、(b 2)に示す如
くなり、」二連の記憶電圧■1に相当するものが電圧■
2に変化する。
更に、測11′−嗅1象が更に遠い位置に存在している
場合には、例えば第2図1(CI)、(C2)において
実線で示す如くなり(反射光スポラ1.Xが半導体装置
検出素子6のはS中火に当った場合)、−上述の記憶電
圧V1に相当するものか電圧■3に変化する。
場合には、例えば第2図1(CI)、(C2)において
実線で示す如くなり(反射光スポラ1.Xが半導体装置
検出素子6のはS中火に当った場合)、−上述の記憶電
圧V1に相当するものか電圧■3に変化する。
更にまた、測距対象が極遠距削位置に存在していた場合
には、第2図(CI)、(C2)において鎖線で示す如
く、反則光スポラ+−X“が半導体装置検出素了6に対
し右側に片寄るか、極遠距肖11のため、出力電圧Vg
は先の時間を内てはシ(亭主JJ−V rに達せず(測
距対象が反則率の小さいものの場合も同様になることが
ある)、CMP4]の出ノJがrLJレベルのま〜てあ
り、その時間tが終了して時間形成回路2の出力がrL
J レベルへ復帰してしまうと、アントゲ−1・44の
出力はrHJレベルへ反転できなくなる。従って、FF
52は、セットされず出力Qが「I2」 レベルの状態
に保持されて、アンドゲート53を閉じさせたまトにす
る。
には、第2図(CI)、(C2)において鎖線で示す如
く、反則光スポラ+−X“が半導体装置検出素了6に対
し右側に片寄るか、極遠距肖11のため、出力電圧Vg
は先の時間を内てはシ(亭主JJ−V rに達せず(測
距対象が反則率の小さいものの場合も同様になることが
ある)、CMP4]の出ノJがrLJレベルのま〜てあ
り、その時間tが終了して時間形成回路2の出力がrL
J レベルへ復帰してしまうと、アントゲ−1・44の
出力はrHJレベルへ反転できなくなる。従って、FF
52は、セットされず出力Qが「I2」 レベルの状態
に保持されて、アンドゲート53を閉じさせたまトにす
る。
この結果、電磁石55は初期状態から4カ磁されておら
ず、鉄片レバー63を吸着していないので」二連の動作
と同様に、レンズセットリング56か右旋して、ラチェ
ツト歯56bの最初の歯がフック63aに対向した時、
鉄片レバー63は直ちに右旋し、フック63aがラチェ
ット歯56bに噛合し、レンズセットリング56の右旋
を停止させ、撮影レンスを無限遠位置に固定させるもの
である。
ず、鉄片レバー63を吸着していないので」二連の動作
と同様に、レンズセットリング56か右旋して、ラチェ
ツト歯56bの最初の歯がフック63aに対向した時、
鉄片レバー63は直ちに右旋し、フック63aがラチェ
ット歯56bに噛合し、レンズセットリング56の右旋
を停止させ、撮影レンスを無限遠位置に固定させるもの
である。
次に、第7図及び第8図により他の実施例について説明
する。なお、前実施例と同一の素子には同じ杓号をイ;
jしている。
する。なお、前実施例と同一の素子には同じ杓号をイ;
jしている。
66.67はCMP、68.69及び70は定電流回路
、抵抗及びポテンショメータ、71゜72及−び73は
ナントゲート、(なお、以北の素r−と、電流増幅回路
48の出力電圧を入力とし、ナントゲ−1−72,73
の状態を出力とする関係でウィンドコンパレータ回路を
構成している。)74はアノトゲ−1・、75はオアゲ
ート、76はイ/ハータ、77〜80はトう/ジスタ、
81はモータである。
、抵抗及びポテンショメータ、71゜72及−び73は
ナントゲート、(なお、以北の素r−と、電流増幅回路
48の出力電圧を入力とし、ナントゲ−1−72,73
の状態を出力とする関係でウィンドコンパレータ回路を
構成している。)74はアノトゲ−1・、75はオアゲ
ート、76はイ/ハータ、77〜80はトう/ジスタ、
81はモータである。
82はレンズセットリングて、光軸を中心にして回動自
在に配置され、部分ギヤ82aを形成し°Cいる。83
はピニオンて、第7図のものと同しものであるモータ8
1の回転軸に固着されている。
在に配置され、部分ギヤ82aを形成し°Cいる。83
はピニオンて、第7図のものと同しものであるモータ8
1の回転軸に固着されている。
84は中間ギヤで、ピニオン83とレンズセットリング
82の部分ギヤ82aとに噛合している。
82の部分ギヤ82aとに噛合している。
なお、第7図におけるポテンショメータ70は、第8図
に示す如く、レンズセットリング82に支持されたブラ
シ70aと、基板701) −1−に形成された抵抗体
70cと導体70dとにより構成されている。
に示す如く、レンズセットリング82に支持されたブラ
シ70aと、基板701) −1−に形成された抵抗体
70cと導体70dとにより構成されている。
一1二連の如く、電流増幅回路48の出力電圧は、極遠
距離等は別にして、測距対象が近、中、遠と遠(になる
に従って高くなるように設定されている。
距離等は別にして、測距対象が近、中、遠と遠(になる
に従って高くなるように設定されている。
そして、ウィンドコンパレータ回路である関係から、電
流増幅回路48の出力電圧(Vx)が、CMP66の非
反転入力端子(刊の電圧(Vlよりも高ければ、CMP
66の出力は「I、」 レベルで、CMP67の出力は
「■−■jレベルであるから、ナントゲート71の出力
が「H」レベルとなって、ナントゲート72の出力が「
H」レベルで、ナンドゲ−1・73の出力が1−LJ
レベルとなる。
流増幅回路48の出力電圧(Vx)が、CMP66の非
反転入力端子(刊の電圧(Vlよりも高ければ、CMP
66の出力は「I、」 レベルで、CMP67の出力は
「■−■jレベルであるから、ナントゲート71の出力
が「H」レベルとなって、ナントゲート72の出力が「
H」レベルで、ナンドゲ−1・73の出力が1−LJ
レベルとなる。
一方、出力電圧Vxが、CMP67の反転入力端子(−
)の電圧(Vz)よりも低くければ、CMP66の出ノ
Jは「■]」レベルて、CMP67の出力は「Ljレベ
ルであるから、その後の出力状態は前述とは逆の関係に
なる。
)の電圧(Vz)よりも低くければ、CMP66の出ノ
Jは「■]」レベルて、CMP67の出力は「Ljレベ
ルであるから、その後の出力状態は前述とは逆の関係に
なる。
」二連のいずれの場合も、モータ駆動回路の両人力に差
が生しているので、夫々の方向に対応してモータ81が
回転し、レンズセットリンク82を駆動する。
が生しているので、夫々の方向に対応してモータ81が
回転し、レンズセットリンク82を駆動する。
また、出力電圧Vxが、Vy)Vx)Vzの関係に置か
れた場合には、CMP66及び67の出力は共に[11
] レベルとなってナンドゲ−1・71の出力がl”L
Jレベルとなるので、ナントゲート72及び73の出力
は共に「H」レベルとなり、この時はモータ駆動回路の
両人力が同電位であるから、モータ81は回転しない。
れた場合には、CMP66及び67の出力は共に[11
] レベルとなってナンドゲ−1・71の出力がl”L
Jレベルとなるので、ナントゲート72及び73の出力
は共に「H」レベルとなり、この時はモータ駆動回路の
両人力が同電位であるから、モータ81は回転しない。
即ち、モータ81の回転により駆動されるレンズセット
リング82の運動に連動してポテンショメータ70が操
作されることにより、その時の出力電圧Vxに対して電
圧vyとVzを変化させ、Vy)Vx)Vzの関係位置
を検出させて、撮影レンズを所定位置に固定させるもの
である。
リング82の運動に連動してポテンショメータ70が操
作されることにより、その時の出力電圧Vxに対して電
圧vyとVzを変化させ、Vy)Vx)Vzの関係位置
を検出させて、撮影レンズを所定位置に固定させるもの
である。
更に、J−述の如く、F F 52がセットされず、出
力Qか[−L」レベルのまトの時は、アントゲ−1・7
4の出力がrLJ レベルで、オアゲート75の出力か
「II1 レベルに保持され、出力電圧Vxが高い時と
同じであるから、撮影レンズは極遠距離位置側へ駆動さ
れる。
力Qか[−L」レベルのまトの時は、アントゲ−1・7
4の出力がrLJ レベルで、オアゲート75の出力か
「II1 レベルに保持され、出力電圧Vxが高い時と
同じであるから、撮影レンズは極遠距離位置側へ駆動さ
れる。
なお、このII:lJは、Vy:)Vx)Vzの状態を
検出する動作は111(関係となって、モータ81には
撮影レンズを極遠距離側へ駆動する電流が流れ続けるこ
とになるので、リミッタ−を設けておくことが好ましい
。
検出する動作は111(関係となって、モータ81には
撮影レンズを極遠距離側へ駆動する電流が流れ続けるこ
とになるので、リミッタ−を設けておくことが好ましい
。
次に、第9図により他の実施例について説明する。なお
、前実施例と同一の素子には同じ符号を付している。
、前実施例と同一の素子には同じ符号を付している。
86は例えば4ビツトのA/Dコンバータ回路、87〜
90はアントゲ−1・、91は例えば4ビットのマグニ
チュードコンパレータ回!L 92 ハモータ駆動回路
、93はその回転によりレンズセットリングを駆動する
モータ、94はモータ93の回転量をデジタル化する例
えば4ヒツトのエンコータである。
90はアントゲ−1・、91は例えば4ビットのマグニ
チュードコンパレータ回!L 92 ハモータ駆動回路
、93はその回転によりレンズセットリングを駆動する
モータ、94はモータ93の回転量をデジタル化する例
えば4ヒツトのエンコータである。
電流増幅回路48の出力電圧のつ′ナログ量は、A、/
Dコンバータ回路86で四つの出力端子により、 rL
J 、「LJ 、rL」、rLjから[I−jJ。
Dコンバータ回路86で四つの出力端子により、 rL
J 、「LJ 、rL」、rLjから[I−jJ。
[HJ 、[HJ 、rHJまでの16段階のデジタル
量の一つに符号化され、その16段階は、例えば、極遠
距離位置から至近距離位置までを16分割している。
量の一つに符号化され、その16段階は、例えば、極遠
距離位置から至近距離位置までを16分割している。
従って、A/Dコンバータ回路86の出力は、アントゲ
−1・87〜90を通してマグニチュードコンパレータ
回路91に入力される。そして、モータ駆動回路92に
よりモータ93が回転させられることによってレンズセ
ットリングが駆動される。その結果、撮影レンズは無限
遠位置から至近距離位置方向へ変位移動させられる。そ
して、モータ93の回転量をデジタル量に変換するエン
コータ94の出力が該コンパレータ回路91の人力と一
致した時にモータ93が停止して、撮影レンスが所定位
置に固定されるものである。
−1・87〜90を通してマグニチュードコンパレータ
回路91に入力される。そして、モータ駆動回路92に
よりモータ93が回転させられることによってレンズセ
ットリングが駆動される。その結果、撮影レンズは無限
遠位置から至近距離位置方向へ変位移動させられる。そ
して、モータ93の回転量をデジタル量に変換するエン
コータ94の出力が該コンパレータ回路91の人力と一
致した時にモータ93が停止して、撮影レンスが所定位
置に固定されるものである。
また、L述の如く、FF52がセットされず、出力Qか
「L」レベルのまトの時は、アントゲ−1・87〜90
の出力が共に「I、」レベルに保持されて、十−述の極
遠距離状態と同しであるので、撮影レンズはjHH5眼
遠位置で固定される。
「L」レベルのまトの時は、アントゲ−1・87〜90
の出力が共に「I、」レベルに保持されて、十−述の極
遠距離状態と同しであるので、撮影レンズはjHH5眼
遠位置で固定される。
なお、夫々の実施例において、FF52かセットされず
、遠距離状態を設定する場合は、併せて警報を発するよ
うにすることもできる。
、遠距離状態を設定する場合は、併せて警報を発するよ
うにすることもできる。
以」−の如く、本発明は、受光素子出力の対数圧縮や増
幅回路の自動利得調整を行うことなく、増幅回路の増幅
率を低増幅率から高増幅率へ掃引する簡単な構成により
安定した動作て測距状態を判別することができるもので
ある。
幅回路の自動利得調整を行うことなく、増幅回路の増幅
率を低増幅率から高増幅率へ掃引する簡単な構成により
安定した動作て測距状態を判別することができるもので
ある。
第1図は本発明の一実施例を示した回路図、第2図は受
光素子に対する反射光スポットの状態と出力電圧の関係
を示した説明図、第3図は測距出力の一例を示した真理
値の図表、第4図、第5図。 第7図及び第9図は夫々本発明の他の実施例を示した部
分回路図、第6図及び第8図は夫々第5図及び第7図に
対応した撮影レンスの駆動機構の−・例を示した説明図
である。 1・・ ・・・・・・ ・・・タロツクパルス発生回路
2・・・・ ・・・・・・・・・時間形成回路5・・・
・・・・・・・・・・・・・赤外線発光ダイオード6・
・・・・・・・・ ・・・・・半導体装置検出素子9a
、9b・・・・・・・・電極(検出用)10・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・共通電極11.12
.13及び14 ・・・交流増幅回路 13a及び14a・・・・・・利得調整入力端子15及
び16・・・・・・・・帯域フィルター回路17及び1
8・・・・・・・・・・・検波回路19及び20・・・
・・・・・・・平泪回路21及び22・・・・・・・・
直流増幅回路27及び48・・・・・・・・・・電流増
幅回路51及び70・・・・・・・・ポテンショメータ
55・・・・・・・・・・ ・・・・・電磁石56及び
82・・・・・・・・・・レンズセットリング81及び
93・・ ・・・・モータ 86・・・・ ・・・・・・・・A/Dコンバータ回路
91・ ・・ ・ ・ ・ マグニチュードコンパレー
タ回路 92 ・・−・・ ・・・・モータ駆動回路94・ ・
・・・・ ・・・・・・エンコーダX及びX′・・・・
・・−・・・・・・反射光スポット特許出願人 株式会社 コ パ ル 第21シ1 6 <、二25m5) 第41り1 手続補正書(方式) 昭和58年20月81日 I 事件の表示 昭和58年特許願第182530号 2 発明の名称 測距装置 3 補正をする者 特杵出頓人 〒174 東京都板橋区志村2の16の20電話 (9
65)+111 (+22) 株式会社コ l(ル 図面全図 b 補正の内容
光素子に対する反射光スポットの状態と出力電圧の関係
を示した説明図、第3図は測距出力の一例を示した真理
値の図表、第4図、第5図。 第7図及び第9図は夫々本発明の他の実施例を示した部
分回路図、第6図及び第8図は夫々第5図及び第7図に
対応した撮影レンスの駆動機構の−・例を示した説明図
である。 1・・ ・・・・・・ ・・・タロツクパルス発生回路
2・・・・ ・・・・・・・・・時間形成回路5・・・
・・・・・・・・・・・・・赤外線発光ダイオード6・
・・・・・・・・ ・・・・・半導体装置検出素子9a
、9b・・・・・・・・電極(検出用)10・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・共通電極11.12
.13及び14 ・・・交流増幅回路 13a及び14a・・・・・・利得調整入力端子15及
び16・・・・・・・・帯域フィルター回路17及び1
8・・・・・・・・・・・検波回路19及び20・・・
・・・・・・・平泪回路21及び22・・・・・・・・
直流増幅回路27及び48・・・・・・・・・・電流増
幅回路51及び70・・・・・・・・ポテンショメータ
55・・・・・・・・・・ ・・・・・電磁石56及び
82・・・・・・・・・・レンズセットリング81及び
93・・ ・・・・モータ 86・・・・ ・・・・・・・・A/Dコンバータ回路
91・ ・・ ・ ・ ・ マグニチュードコンパレー
タ回路 92 ・・−・・ ・・・・モータ駆動回路94・ ・
・・・・ ・・・・・・エンコーダX及びX′・・・・
・・−・・・・・・反射光スポット特許出願人 株式会社 コ パ ル 第21シ1 6 <、二25m5) 第41り1 手続補正書(方式) 昭和58年20月81日 I 事件の表示 昭和58年特許願第182530号 2 発明の名称 測距装置 3 補正をする者 特杵出頓人 〒174 東京都板橋区志村2の16の20電話 (9
65)+111 (+22) 株式会社コ l(ル 図面全図 b 補正の内容
Claims (8)
- (1)発光素子から発せられた光を測距対象に向けて投
則し、その反射光を共通電極及び一対の検出用電極を有
する半導体装置検出素子で受光する三角測距方式の測距
装置において、前記半導体装置検出素子における共通電
極と夫々の検出用電極間の出力を増幅する増幅回路の増
幅率を一定++ri間内において低増幅率から高増幅率
へJ’+jf引し、共通電極と一力の検出用電極間の増
幅された出力がある設定値に達した時点て、共通電極と
他方の検出用電極間のJIILIIl+*iされた出力
の状態を判別するようにしたことを特徴とするUj:i
M−1i装(?;、。 - (2)発光素子から発せられた光を測距対象に向けて投
射し、その反射光を共通電極及び−χ・jの検出用電極
を有する半導体装置検出素子で受光する三角ll!II
距方式の測方式置において、前記半導体装置検出素子に
おける共通電極と夫々の検出用電極間の出力を増幅する
増幅回路の増幅率を一定時間内において低増幅率から高
増幅率へ掃引し、共通電極と一方の検出用電極間の増幅
された出力がある設定値に達した時の、共通電極と他方
の検出用して判別するようにしたことを特徴とする測距
装置。 - (3)共通電極と他方の検出用電極間の増幅された出力
を複数のレベルと比較することを特徴とする9、1′許
請求の範囲第一項または第二項記載の測Wli装置。 - (4)一定貼間内に共通電極と一方の検出用電極間の増
幅された出力がある設定値に達しない時は、測距出力を
遠距離として判別するようにしたことを特徴とする特許
請求の範囲第一項または第二項記載の測距装置。 - (5)発光素子から発せられた光を1liii 171
j R・J象に向けて投射し、その反射光を共通電極及
び=一対の検出用電極を有する半導体装置検出素子で受
光する三角測距方式の訓「1.I装置において、前記半
導体装置検出累了−における共通電極と夫々の検出用電
極間の出力を増幅する増幅回路の増幅率を一定時間内に
おいて低増幅率から高増幅率へ掃引し、共通電極と一方
の検出用電極間の増幅された出力がある設定値に達した
時点で、共通電極と他方の検出用電極間の増幅された出
力の状態を電圧値として記憶してコンパレータ回路の一
方の入力端子に与え、その後、撮影レンズを可動範囲の
一方の極限位置から他方の極限位置へ向けて駆動すると
共に、該j514動々作に連動して前記コンパレーク回
路の他)jの入力端子の電位を一方の極限値から他方の
極限値へ向けて掃引し、前記両入力端子の電位か一致し
た時、fiif記撮影レンズの駆動を停止させるように
したことを特徴とする訓lj1.!装置。 - (6)発光素r−から発せられた光を測「11対象に向
けて投射し、その反η・1光を共通電極及び一対の検出
用電極を有する半導体装置検出素子で受光する三角測h
゛1!方式の1llil距装置において、i11記半導
体装置検出素r・における共通電極と夫々の検出用電極
間の出力を増幅する増幅回路の増幅率を一定時間内にお
いて低増幅率から高増幅率へ掃引し、共通電極と一方の
検出用電極間の増幅された出力がある設定値に達した時
点で、共通電極と他方の検出用電極間の増幅された出力
の状態を電圧値として記憶してウィンドコンパレーク回
路の一方の入力端子に与え、また、撮影レンズの可動範
囲中の位置に対応した電位を前記ウィンドコンパレータ
回路の他方の入力端子に与え、該コンパレータ回路の出
力端子間に接続されその入力電圧の不平衡の方向に対応
して回転するサーボモータにより前記撮影レンズを駆動
し、jiir記両入力端子の電位がある幅を持つ所定の
しきい領内で一致した時、前記サーボモータの回転を停
止させて、前記撮影レンズの駆動を停止させるようにし
たことを1・1′徴とする測距装置。 - (7)発光素子から発ぜられた光を測距対象に向けて投
射し、その反射光を共通電極及び一対の検出用電極を有
する半導体装置検出素子で受光する二角測距方式の測距
装置において、1iif記半心体光位置検出素子におけ
る共通電極と夫々の検出用電極間の出力を増幅する増幅
回路の増幅率を一定時間内において低増幅率から高増幅
率へ掃引し、共通電極と一方の検出用電極間の増幅され
た出力がある設定値に達した115点て、共通電極と他
方の検出用電極間の増幅された出力の状態の電圧値をデ
ジタル値に変換して記憶し、その後、撮影レンズをi]
’動範囲の一方の極限位置から他方の極限位置へ向けて
駆動すると共に、該駆動の歩進量をエンコーダによりデ
ジタル量に変換し、該デジタル量か前記記憶デジタル値
と一致した時、前記撮影レンズの駆動を停止させるよう
にしたことを特徴とする測距装fi:i:0 - (8)・定時間内に共通電極と一方の検出用電極間の増
1i、fされた出力がある設定値に遅しない時は、撮影
レンズが優先して遠距離側の極限位置で停止されるよう
にしたことを特徴とする特許請求の範囲第五項乃至第七
項記載の測距装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18253083A JPS6073314A (ja) | 1983-09-30 | 1983-09-30 | 測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18253083A JPS6073314A (ja) | 1983-09-30 | 1983-09-30 | 測距装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6073314A true JPS6073314A (ja) | 1985-04-25 |
| JPH0342609B2 JPH0342609B2 (ja) | 1991-06-27 |
Family
ID=16119914
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18253083A Granted JPS6073314A (ja) | 1983-09-30 | 1983-09-30 | 測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6073314A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60133313A (ja) * | 1983-12-22 | 1985-07-16 | Copal Co Ltd | 測距装置 |
| JPH04199013A (ja) * | 1990-11-29 | 1992-07-20 | Fuji Photo Film Co Ltd | アクティブ式測距方法 |
-
1983
- 1983-09-30 JP JP18253083A patent/JPS6073314A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60133313A (ja) * | 1983-12-22 | 1985-07-16 | Copal Co Ltd | 測距装置 |
| JPH04199013A (ja) * | 1990-11-29 | 1992-07-20 | Fuji Photo Film Co Ltd | アクティブ式測距方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0342609B2 (ja) | 1991-06-27 |
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