JPS6098359A - 超音波顕微鏡の自動焦点設定装置 - Google Patents
超音波顕微鏡の自動焦点設定装置Info
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- JPS6098359A JPS6098359A JP58207143A JP20714383A JPS6098359A JP S6098359 A JPS6098359 A JP S6098359A JP 58207143 A JP58207143 A JP 58207143A JP 20714383 A JP20714383 A JP 20714383A JP S6098359 A JPS6098359 A JP S6098359A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/22—Details, e.g. general constructional or apparatus details
- G01N29/30—Arrangements for calibrating or comparing, e.g. with standard objects
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01H—MEASUREMENT OF MECHANICAL VIBRATIONS OR ULTRASONIC, SONIC OR INFRASONIC WAVES
- G01H3/00—Measuring characteristics of vibrations by using a detector in a fluid
- G01H3/10—Amplitude; Power
- G01H3/12—Amplitude; Power by electric means
- G01H3/125—Amplitude; Power by electric means for representing acoustic field distribution
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Measurement Of Velocity Or Position Using Acoustic Or Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の技術分野]
本光明は、音響レンズと試料表面間との相対的距離を焦
点距離に自動的に設定可能とする超音波顕微鏡の自動焦
点設定装置に関づる。
点距離に自動的に設定可能とする超音波顕微鏡の自動焦
点設定装置に関づる。
[発明の技術的背景とその問題点コ
光の代りに超音波を用いて物体の微視的な構造を観察し
ようという考えが古くからあり、最近機械走査形超音波
顕微鏡が開発された。この超音波顕微鏡は、原理的には
細く絞った超高周波超音波ビームによって試r1面@機
械的に走査し、−でのaj’+籾により散乱された超音
波を集音して電気信号に変換し、その信号を陰極線管等
の表示面に二次元的に表示し、顕微!lll会を得るの
である。構成どしては超音波の検出の仕方によって、づ
なわち試オ゛31内で散乱あるいは減衰しながら透過し
てきた超音波を検出でる場合と、試料内の音響的性質の
差によって反射してきた超音波を検出づる場合とによっ
て、透過型と反射型とに分けられる。
ようという考えが古くからあり、最近機械走査形超音波
顕微鏡が開発された。この超音波顕微鏡は、原理的には
細く絞った超高周波超音波ビームによって試r1面@機
械的に走査し、−でのaj’+籾により散乱された超音
波を集音して電気信号に変換し、その信号を陰極線管等
の表示面に二次元的に表示し、顕微!lll会を得るの
である。構成どしては超音波の検出の仕方によって、づ
なわち試オ゛31内で散乱あるいは減衰しながら透過し
てきた超音波を検出でる場合と、試料内の音響的性質の
差によって反射してきた超音波を検出づる場合とによっ
て、透過型と反射型とに分けられる。
第1図1は反射型の超音波顕微鏡の原理図で、高周波発
撮器1からの信号は方向性結合器又は1ノーキユレータ
2により送受兼用の超音波]・ランスジューサ3へ供給
される。この信号は超音波に変換されてこれが一方の面
(上端面)に貼着された送受波兼用で、ザファイア等の
餡音波伝搬媒体材から成る超音波集束レンズ(音響レン
ズ)4の一面より内部に敢aJされ、他面側に送波され
る。この音響レンズ4の他面は球面状にえぐられて球面
レンズ部4aとされ、該球面レンズ部4aど対向して試
料保持板5が配置されるようになっている。
撮器1からの信号は方向性結合器又は1ノーキユレータ
2により送受兼用の超音波]・ランスジューサ3へ供給
される。この信号は超音波に変換されてこれが一方の面
(上端面)に貼着された送受波兼用で、ザファイア等の
餡音波伝搬媒体材から成る超音波集束レンズ(音響レン
ズ)4の一面より内部に敢aJされ、他面側に送波され
る。この音響レンズ4の他面は球面状にえぐられて球面
レンズ部4aとされ、該球面レンズ部4aど対向して試
料保持板5が配置されるようになっている。
音響レンズ4と前記保持板5との間には超音波伝搬媒体
である水6が介在され、前記球面レンズ部4aの焦点位
置に、試Fl 7が保持板5に取(=J 1,1できる
ようになっている。上記保持板5は走査装置8で×及び
y方向に移動され二次元的に平面を走査するようになっ
ている。勿論、保持板5の代りに音響レンズ4を×及び
y方向に移動することも可能であるし、例えば音響レン
ズ4を×方向に移動し、一方保持板5をy方向に移動す
るようにすることもできる。
である水6が介在され、前記球面レンズ部4aの焦点位
置に、試Fl 7が保持板5に取(=J 1,1できる
ようになっている。上記保持板5は走査装置8で×及び
y方向に移動され二次元的に平面を走査するようになっ
ている。勿論、保持板5の代りに音響レンズ4を×及び
y方向に移動することも可能であるし、例えば音響レン
ズ4を×方向に移動し、一方保持板5をy方向に移動す
るようにすることもできる。
上記走査装置8は走査回路9によって制御されるように
なっている。
なっている。
上記超音波トランスジューサ3より音響レンズ4に入射
された超音波は集束されて試料7へ到達する。その反射
波は再び音響レンズ4で集音され、トランスジューサ3
で電気信号に変換されて、前記方向性結合器又はサーキ
ュレータ2を通って表示装置10へ供給される。
された超音波は集束されて試料7へ到達する。その反射
波は再び音響レンズ4で集音され、トランスジューサ3
で電気信号に変換されて、前記方向性結合器又はサーキ
ュレータ2を通って表示装置10へ供給される。
ところで、上述のような超音波顕微鏡を用いて、試F1
7に対する超音波(顕微11t)#を(qる場合には、
試料7の表面(上面)と音響レンズ4との距離を一定に
保つで、2次元平面状に走査する必要があり、このよう
に一定距離に保っC走査しなければその超音波像の質が
低下してしまうことになる。つまり、音響レンズ4と試
料7間の距離が走査した場合に変動ジると、焦点位置が
試料7の上部側あるいは下部側に変動するため、受波さ
れる信号強度も変動し、観察の対象とジーる試わ17の
表面(あるいは表面より一定距Illだ【)わすかに深
い而)の状態を正しく反映しA: 音響的情報を19る
ことができなくなってしまう。
7に対する超音波(顕微11t)#を(qる場合には、
試料7の表面(上面)と音響レンズ4との距離を一定に
保つで、2次元平面状に走査する必要があり、このよう
に一定距離に保っC走査しなければその超音波像の質が
低下してしまうことになる。つまり、音響レンズ4と試
料7間の距離が走査した場合に変動ジると、焦点位置が
試料7の上部側あるいは下部側に変動するため、受波さ
れる信号強度も変動し、観察の対象とジーる試わ17の
表面(あるいは表面より一定距Illだ【)わすかに深
い而)の状態を正しく反映しA: 音響的情報を19る
ことができなくなってしまう。
上記超&波像を1qるために用いられる試料は一般に小
さく、且つ2次元的に走査される面積における各長さも
非常に小さく、殆んどが10分の故fill以下の長さ
を走査丈ると共に、その間に数1゜0点の情報を1qる
ため、その際にわずかの距離変動があっても受波される
信号レベルを大きく変動させて、各点の目的情報を正し
く反映しないようにしてしまうので、距離変動すること
なく、試料表面と平行度を保って走査できるよう設定す
る広義の平行出しの設定作業(あるいは試料表面までの
距1が常に焦点距離となるようにする焦点8す定作業)
が非常に難しく、この平行出しに多くの時間を費してし
まうという問題があった。この作業は、周波数が高くな
ると共に、益々If l、 くなる。
さく、且つ2次元的に走査される面積における各長さも
非常に小さく、殆んどが10分の故fill以下の長さ
を走査丈ると共に、その間に数1゜0点の情報を1qる
ため、その際にわずかの距離変動があっても受波される
信号レベルを大きく変動させて、各点の目的情報を正し
く反映しないようにしてしまうので、距離変動すること
なく、試料表面と平行度を保って走査できるよう設定す
る広義の平行出しの設定作業(あるいは試料表面までの
距1が常に焦点距離となるようにする焦点8す定作業)
が非常に難しく、この平行出しに多くの時間を費してし
まうという問題があった。この作業は、周波数が高くな
ると共に、益々If l、 くなる。
このため、走査の際に試料表面までの距mt一定埴に保
つ上記平行出しあるいは試f1表面までの距離を焦点位
置に保っての焦点設定を自動的に行うことのできる装置
が久しく望まれていた。
つ上記平行出しあるいは試f1表面までの距離を焦点位
置に保っての焦点設定を自動的に行うことのできる装置
が久しく望まれていた。
[発明の目的j
本発明は上述した点にかんがみてなされたもので、音響
レンズと試料表面どの相対的外Nlを焦点外記になるよ
う自動的に設定可能とプる超音波顕1紋#nの自動焦点
設定装置を提供することを目的とづ゛る。
レンズと試料表面どの相対的外Nlを焦点外記になるよ
う自動的に設定可能とプる超音波顕1紋#nの自動焦点
設定装置を提供することを目的とづ゛る。
[発明の概要]
本発明は音響レンズと試料間との相対的距離を可変可能
とする距離可変手段と、該距離の方向と垂直となる平面
内における互いに直交ないし略直交づるX及びy方向に
音響レンズと試11表面との相対的傾きを可変可能とす
る×傾斜手段及びyU斜手段と、圧電振動子で受波した
信号レベルの平均値を検出する検出回路と、前記各手段
の駆動を制御可能とする駆動制御回路とを有し、前記平
面内における略任意の方向に走査した場合の前記検出回
路の出力が前記各手段を駆動した場合に最大となる位置
に両部材間の距離及び傾きを設定することによって、音
響レンズに対して試料表面の各位置が焦点距離に自動的
に設定できるようにしである。
とする距離可変手段と、該距離の方向と垂直となる平面
内における互いに直交ないし略直交づるX及びy方向に
音響レンズと試11表面との相対的傾きを可変可能とす
る×傾斜手段及びyU斜手段と、圧電振動子で受波した
信号レベルの平均値を検出する検出回路と、前記各手段
の駆動を制御可能とする駆動制御回路とを有し、前記平
面内における略任意の方向に走査した場合の前記検出回
路の出力が前記各手段を駆動した場合に最大となる位置
に両部材間の距離及び傾きを設定することによって、音
響レンズに対して試料表面の各位置が焦点距離に自動的
に設定できるようにしである。
[発明の実施例]
以下、図面を参照して本発明を具体的に説明する。
第2図ないし第6図は本発明の1実施例に係り、第2図
は1実施例を備えた超音波顕微鏡の概略を示し、第3図
は1実施例の自動焦点設定装置の電気処理回路系を示し
、第4図は自動焦点に設定する処理過程のフローヂャ−
1・を示し、第5図は音響レンズと試r4間距離を変え
た場合にd3ける検波された信号の出力特性を示し、第
6図はX方向あるいはX方向に走査した場合における検
波された1fip3の出力を示し、同図(a )は走査
方向の各J:、!が焦点距離にある場合の出力を示し、
同図(II)は焦点距離近くあって、走査方向が距離方
向ど直角り向から傾斜している場合、同図(C)は同図
(IJ)より傾斜が小さい場合を示す。
は1実施例を備えた超音波顕微鏡の概略を示し、第3図
は1実施例の自動焦点設定装置の電気処理回路系を示し
、第4図は自動焦点に設定する処理過程のフローヂャ−
1・を示し、第5図は音響レンズと試r4間距離を変え
た場合にd3ける検波された信号の出力特性を示し、第
6図はX方向あるいはX方向に走査した場合における検
波された1fip3の出力を示し、同図(a )は走査
方向の各J:、!が焦点距離にある場合の出力を示し、
同図(II)は焦点距離近くあって、走査方向が距離方
向ど直角り向から傾斜している場合、同図(C)は同図
(IJ)より傾斜が小さい場合を示す。
1実施例の自動焦点設定装置を備えた超音′ct顕微鏡
11は、第2図に示すように加振鍬12によって該加振
11112の駆動軸13の端部に取イ」(プられた音響
レンズ14を駆動軸13の軸方向に1.1動じて試料台
15の上面に載置された試料1Gの上を例えばX方向に
走査できるようになっている。
11は、第2図に示すように加振鍬12によって該加振
11112の駆動軸13の端部に取イ」(プられた音響
レンズ14を駆動軸13の軸方向に1.1動じて試料台
15の上面に載置された試料1Gの上を例えばX方向に
走査できるようになっている。
上記試料台15に隣接して、図示しない加振間又は自動
送り装置が設(〕られており、試イ1台15を上記X方
向と直角となるX方向に走査Cきるようになっている。
送り装置が設(〕られており、試イ1台15を上記X方
向と直角となるX方向に走査Cきるようになっている。
上記音響レンズ14は、l1i1(短い)円柱状の形状
をなし、その上端面に、圧電振動子17が貼看ザる等し
て取付けてあり、該圧電振動子17の両面の電1兎に高
周波電気信号を印加して圧電振動させて音響レンズ14
側に超音波を伝播させ、該音響レンズ14の球面状に決
られた球面レンズ部14a’&経て、超音波をビーム状
に収束し、該球面レンズ部14aと試料16との間に介
在された超音波を伝達する水18を経て試料1611’
i!Iに送波てきるよ−)にな−)でいる。
をなし、その上端面に、圧電振動子17が貼看ザる等し
て取付けてあり、該圧電振動子17の両面の電1兎に高
周波電気信号を印加して圧電振動させて音響レンズ14
側に超音波を伝播させ、該音響レンズ14の球面状に決
られた球面レンズ部14a’&経て、超音波をビーム状
に収束し、該球面レンズ部14aと試料16との間に介
在された超音波を伝達する水18を経て試料1611’
i!Iに送波てきるよ−)にな−)でいる。
ところで、上記試料台15は、ゴニオメータで形成され
、y軸方向の回りに回動自在に形成された摘み15aを
回動すると、試料1Gが載置された上部側の半円柱状台
が傾き、載置された試11台15の面のx軸方向の傾き
を調節できるようになっている。この摘み15aは、X
傾斜用モータN1×によって、例えばブーり又はギA7
等介して、駆動できるようになっている。
、y軸方向の回りに回動自在に形成された摘み15aを
回動すると、試料1Gが載置された上部側の半円柱状台
が傾き、載置された試11台15の面のx軸方向の傾き
を調節できるようになっている。この摘み15aは、X
傾斜用モータN1×によって、例えばブーり又はギA7
等介して、駆動できるようになっている。
同様に、上記摘み15aが形成された側部とは異り、x
軸方向の回りに回動自在に形成された捕み151+を回
転りるど、その上部側が顛き、試オ;1台15の面のX
方向の傾きを調整できるようになっている。この摘み1
5bは、ylV斜用上用モータN1y駆動でさるように
なっている。
軸方向の回りに回動自在に形成された捕み151+を回
転りるど、その上部側が顛き、試オ;1台15の面のX
方向の傾きを調整できるようになっている。この摘み1
5bは、ylV斜用上用モータN1y駆動でさるように
なっている。
する上下方向、つまりZ方向に(3動司11ヒな台19
に載置され、該試料台15はZ移動用モータjν1)に
でl方向に移動して音響レンズ1!1との相対的距離を
調節できるようになっている。
に載置され、該試料台15はZ移動用モータjν1)に
でl方向に移動して音響レンズ1!1との相対的距離を
調節できるようになっている。
上記各モータ1〜IX 、 My 、 Mlを制御しC
試1116の表面の各点をΔ前レンズ14の焦点位置に
平行になるJ:う自動的に設定可能どづる自!lI焦点
設定装置の制m15!!1理回路系は第3図に示1」、
うに(何成されている。
試1116の表面の各点をΔ前レンズ14の焦点位置に
平行になるJ:う自動的に設定可能どづる自!lI焦点
設定装置の制m15!!1理回路系は第3図に示1」、
うに(何成されている。
即も、送信器21は、加振機12によって、音響レンズ
14が走査される間(X方向の走査の場合)、リーーキ
ュレータ22を経て圧電振動子17に高周波信号をパル
ス状に順次印加し、音響レンズ14を経て試料16に収
束された超音波ビームを送波づるJ:うになっている。
14が走査される間(X方向の走査の場合)、リーーキ
ュレータ22を経て圧電振動子17に高周波信号をパル
ス状に順次印加し、音響レンズ14を経て試料16に収
束された超音波ビームを送波づるJ:うになっている。
この試It 1 G IIIIIに送波された超音波ビ
ームにJ3いで、試1jl I Gのに面C反射された
ものが、音響レンズ14て再び集音されて圧電振動子′
17に導かれるようにな−)ている。この圧N振動子1
7にて電気11号に変換さ3で増幅され、検波器(De
t)24r:包11B11.検波され、さらに積分器2
5にて積分されて包絡線出力の平均値(あるいは積分値
)、つまり各走査方向に対する平均値(fFt分値)が
取り出される検出回路が形成されている。この平均値は
、駆動制御回路26によってメモリM1M−におけるス
イッチ28で導通された側のメモリにAD変換して平均
値データとして記憶され、これら2つのデータをOA変
換してコンパレータ28で比較し、この比較用ツノにて
モータMx 、My 、 Mzの駆動を制御して、第4
図に示す処理過程30を順次行って、焦点位置に自動的
に設定するようになっている。
ームにJ3いで、試1jl I Gのに面C反射された
ものが、音響レンズ14て再び集音されて圧電振動子′
17に導かれるようにな−)ている。この圧N振動子1
7にて電気11号に変換さ3で増幅され、検波器(De
t)24r:包11B11.検波され、さらに積分器2
5にて積分されて包絡線出力の平均値(あるいは積分値
)、つまり各走査方向に対する平均値(fFt分値)が
取り出される検出回路が形成されている。この平均値は
、駆動制御回路26によってメモリM1M−におけるス
イッチ28で導通された側のメモリにAD変換して平均
値データとして記憶され、これら2つのデータをOA変
換してコンパレータ28で比較し、この比較用ツノにて
モータMx 、My 、 Mzの駆動を制御して、第4
図に示す処理過程30を順次行って、焦点位置に自動的
に設定するようになっている。
ところで上記検波器24で検波された信号出力は、例え
ば試料16と音響レンズ14との距離を変化させた場合
にはその概略を第5図に示すように距離を次第に大きく
づると、ビーク餡の異る山をつらねたように、変化して
焦点距離すで最大となり、この焦点距離すより大きくな
ると急激に小さくなる特性を示し、本発明は焦点距離す
周辺において、該焦点距離すにて上に凸どなる最大1直
となる傾向を示づ特性を利用しており、例えは上記距離
方向lと直角となるX方向に走査した場合、試料16の
表面がその方向に傾斜していないで、且つ焦点距離にあ
れは、第6図(a)に示づように一定レベルで旦つその
レベルが最大どなる出ツノどなる。一方、試料16の表
面がX方向に関しく顛いている場合には第6図(b)に
示すように走査と共に距離が変化するため、その出力は
第5図に示づものの出力波形を走査方向のスケールを変
えて引きのばしたものに似た出力特性となる。この場合
距離方向2と直角となる方向からづ゛れるその1頃きが
大きいと出力波形レベルが大きく変化づると共に、焦点
距離すから遠ざかるため、f貞jノシたでの平均値レベ
ルは小さくなり、一方、焦点距離すに近い距離で、その
傾きが小さくなると、第6図(C)に示すように、同図
(1))のものJり出力特性は平坦となり、且つその積
分した平均116レベルが大きくなる。従って、′1実
施例に83いでは走査した場合における平均値圧力が大
きくなるように試料台15の距離を可変したり、その×
及びy方向の傾斜を調節することによって、音響レンズ
14に対し、焦点距離すにあって、且つ、平行となるよ
うに試料16表面を設定するようにしである。
ば試料16と音響レンズ14との距離を変化させた場合
にはその概略を第5図に示すように距離を次第に大きく
づると、ビーク餡の異る山をつらねたように、変化して
焦点距離すで最大となり、この焦点距離すより大きくな
ると急激に小さくなる特性を示し、本発明は焦点距離す
周辺において、該焦点距離すにて上に凸どなる最大1直
となる傾向を示づ特性を利用しており、例えは上記距離
方向lと直角となるX方向に走査した場合、試料16の
表面がその方向に傾斜していないで、且つ焦点距離にあ
れは、第6図(a)に示づように一定レベルで旦つその
レベルが最大どなる出ツノどなる。一方、試料16の表
面がX方向に関しく顛いている場合には第6図(b)に
示すように走査と共に距離が変化するため、その出力は
第5図に示づものの出力波形を走査方向のスケールを変
えて引きのばしたものに似た出力特性となる。この場合
距離方向2と直角となる方向からづ゛れるその1頃きが
大きいと出力波形レベルが大きく変化づると共に、焦点
距離すから遠ざかるため、f貞jノシたでの平均値レベ
ルは小さくなり、一方、焦点距離すに近い距離で、その
傾きが小さくなると、第6図(C)に示すように、同図
(1))のものJり出力特性は平坦となり、且つその積
分した平均116レベルが大きくなる。従って、′1実
施例に83いでは走査した場合における平均値圧力が大
きくなるように試料台15の距離を可変したり、その×
及びy方向の傾斜を調節することによって、音響レンズ
14に対し、焦点距離すにあって、且つ、平行となるよ
うに試料16表面を設定するようにしである。
1実施例においては、スタートボタンを操1′「するど
、モータMZのみが駆動可能な状態に設定され、送信器
21が高周波信号をパルス状に出力し、上述した積分器
25で積分した出力が例えばメ[すMにAD変換して平
均値データが記憶され、これに引き続いてモータMZが
駆動されて距離がわずかに変えられ、この状態でのX方
向の走査した際の積分出力が他方のメモリM−に平均値
データが記憶され、これら2つのデータはDA変換した
後、コンパレータ(Comp)28で比較され、後のデ
ータが大きい場合にはさらに上記距離のパラメータの値
を上記の方向にずらす゛ように、〈例えば後の出力が大
きい場合には正と(2る)比較出力にて駆動制御回路2
6を作動させCモータMZをさらに微小角度回転させて
、試料台15の距離を命にJ3ける積分出力のデータを
メモリ〜1に記憶し、この操作前のュータを記憶してい
るメモリ〜・1′と比較され、後のデータのが大きい場
合には、ざらにモータMzを回転させ、この場合にも後
のュータが大きいどき、常に正の比較用ツノどなるよ)
にづ−るにはコンパレータ28の出ノj側に反転回路を
設け、スイッチ等で反転回路側を通すようにJ’4Lば
良い。)後のデータが小さくなるまでモータt〜・11
を駆動するようにしである。つまり後のj゛−タが小さ
くなる最大のデータとなったところで(口の比較出力と
なって)、モータMZの駆動が171トされる。(厳密
には最大値の点かられずかにす”れるが、殆んど最大値
とみなすことができる。)このようにして第1の処理過
程30Aが終了し、試t’116の表面は焦点距離すに
近い状態に設定され、第2の処理過程30Bを行う状態
になる。第1の処理過程30Aが終了すると、試料1G
の表面は、焦点距離すに近い状態にあるが、×及び〜・
方向の傾きが存在する状態にあり、この第2の処TI+
l ’JA mW 7− v f: rh /7’l
11?i 喜んl)/1 往古9F 11111千1.
− iG定するようにされる。
、モータMZのみが駆動可能な状態に設定され、送信器
21が高周波信号をパルス状に出力し、上述した積分器
25で積分した出力が例えばメ[すMにAD変換して平
均値データが記憶され、これに引き続いてモータMZが
駆動されて距離がわずかに変えられ、この状態でのX方
向の走査した際の積分出力が他方のメモリM−に平均値
データが記憶され、これら2つのデータはDA変換した
後、コンパレータ(Comp)28で比較され、後のデ
ータが大きい場合にはさらに上記距離のパラメータの値
を上記の方向にずらす゛ように、〈例えば後の出力が大
きい場合には正と(2る)比較出力にて駆動制御回路2
6を作動させCモータMZをさらに微小角度回転させて
、試料台15の距離を命にJ3ける積分出力のデータを
メモリ〜1に記憶し、この操作前のュータを記憶してい
るメモリ〜・1′と比較され、後のデータのが大きい場
合には、ざらにモータMzを回転させ、この場合にも後
のュータが大きいどき、常に正の比較用ツノどなるよ)
にづ−るにはコンパレータ28の出ノj側に反転回路を
設け、スイッチ等で反転回路側を通すようにJ’4Lば
良い。)後のデータが小さくなるまでモータt〜・11
を駆動するようにしである。つまり後のj゛−タが小さ
くなる最大のデータとなったところで(口の比較出力と
なって)、モータMZの駆動が171トされる。(厳密
には最大値の点かられずかにす”れるが、殆んど最大値
とみなすことができる。)このようにして第1の処理過
程30Aが終了し、試t’116の表面は焦点距離すに
近い状態に設定され、第2の処理過程30Bを行う状態
になる。第1の処理過程30Aが終了すると、試料1G
の表面は、焦点距離すに近い状態にあるが、×及び〜・
方向の傾きが存在する状態にあり、この第2の処TI+
l ’JA mW 7− v f: rh /7’l
11?i 喜んl)/1 往古9F 11111千1.
− iG定するようにされる。
即ち、上記の過f!i!30Aで後のデータが小さくな
る最大点に設定されると、駆動制御回路26がその状態
を検出して(例えば比較用ツノの信号から)、該駆動制
御回路26は図示しないスイッチをオン丈る等してX傾
斜層モータM×を駆動できる状態にする。このモータM
×は、(上述の操作で)上記モータMzのみが駆動され
て距離がわずかずつ可変されてX方向に走査した場合の
積分比ツノが最大となるように設定された状態において
、摘み15bを(変化0の状態から)少しずつずらして
試料台15のX方向に対する傾斜角を少しずつずらし、
その少しずつずらした際にX方向に走査してその積分出
力が最大になる状態になるまでずらす操作が繰り返し行
われるようになっている。
る最大点に設定されると、駆動制御回路26がその状態
を検出して(例えば比較用ツノの信号から)、該駆動制
御回路26は図示しないスイッチをオン丈る等してX傾
斜層モータM×を駆動できる状態にする。このモータM
×は、(上述の操作で)上記モータMzのみが駆動され
て距離がわずかずつ可変されてX方向に走査した場合の
積分比ツノが最大となるように設定された状態において
、摘み15bを(変化0の状態から)少しずつずらして
試料台15のX方向に対する傾斜角を少しずつずらし、
その少しずつずらした際にX方向に走査してその積分出
力が最大になる状態になるまでずらす操作が繰り返し行
われるようになっている。
つまり、モータMXに短い一定時間電力が供給されて該
モータMXがわずかに駆動され、これに引きつづいて送
信器21は上述したようにパルス状の高周波信号を圧電
振動子17に印加し、試料16で反射され、受波された
超音波反削波を電気信号に変換して増幅後に検波し、さ
らに積分した積分出力を上記第1の処理過程30Aにお
(プる最大1直データが書き込まれているメモリ(例え
はN=+−どする)とは異るメモリ用に古き込み、これ
らを比較して後のデータのが大きい場合にはモータMz
を駆動して距離をわずかにずらした場合にJ3ける積分
出力をメモリM′に書き込み、上記メモリMのデータ比
較し、後のデータが小さくなるまでモータMzを駆動し
て距離を変える操作を行う。
モータMXがわずかに駆動され、これに引きつづいて送
信器21は上述したようにパルス状の高周波信号を圧電
振動子17に印加し、試料16で反射され、受波された
超音波反削波を電気信号に変換して増幅後に検波し、さ
らに積分した積分出力を上記第1の処理過程30Aにお
(プる最大1直データが書き込まれているメモリ(例え
はN=+−どする)とは異るメモリ用に古き込み、これ
らを比較して後のデータのが大きい場合にはモータMz
を駆動して距離をわずかにずらした場合にJ3ける積分
出力をメモリM′に書き込み、上記メモリMのデータ比
較し、後のデータが小さくなるまでモータMzを駆動し
て距離を変える操作を行う。
この操作によって、後のデータが小さくなる。つまり積
分出力が最大となる点に設定されるど、上記モータM×
に再び短い一定期間電極が供給されて試料台16のX方
向の傾きがわずかに変えられる。この変えられた状態で
X方向に走査した積分出力と変える前の積分出力と比較
し、後のデータか大きい場合にはざらにモータX+Zを
少しずつ駆動させ、積分出力が最大となる点に設定する
。このような操作を繰り返し行って、Xの傾斜を変えた
場合に、変える前より比較出力が小さくなるまで行い、
この変えた場合の比較出力が小さくなった信号にてモー
タM xの駆動を停止し、第2の処理過程30Bを終了
し、次にV 15向の傾きをなくしてx、X方向につい
て試1116の表面が傾きのない且つ焦点距離すにある
ようにする第3の処理過程30Cを行う。
分出力が最大となる点に設定されるど、上記モータM×
に再び短い一定期間電極が供給されて試料台16のX方
向の傾きがわずかに変えられる。この変えられた状態で
X方向に走査した積分出力と変える前の積分出力と比較
し、後のデータか大きい場合にはざらにモータX+Zを
少しずつ駆動させ、積分出力が最大となる点に設定する
。このような操作を繰り返し行って、Xの傾斜を変えた
場合に、変える前より比較出力が小さくなるまで行い、
この変えた場合の比較出力が小さくなった信号にてモー
タM xの駆動を停止し、第2の処理過程30Bを終了
し、次にV 15向の傾きをなくしてx、X方向につい
て試1116の表面が傾きのない且つ焦点距離すにある
ようにする第3の処理過程30Cを行う。
上記モータM×の駆動が停止されると、該モータM×の
代りにモータMyが駆動可能な状態に設定され、上記モ
ータMXが駆動されるのと同様の動作にて試料台15の
X方向への傾きが少しずつ順次変えられて、後に変えた
場合の積分出力が小さくなるまで、つまり(6分出力が
最大となる状態に設定される。尚、この第3の処理過程
30C1ごおいてはX方向に走査されないで、X方向に
走査された場合における積分出力にて比較が行われるよ
うになっている。
代りにモータMyが駆動可能な状態に設定され、上記モ
ータMXが駆動されるのと同様の動作にて試料台15の
X方向への傾きが少しずつ順次変えられて、後に変えた
場合の積分出力が小さくなるまで、つまり(6分出力が
最大となる状態に設定される。尚、この第3の処理過程
30C1ごおいてはX方向に走査されないで、X方向に
走査された場合における積分出力にて比較が行われるよ
うになっている。
このようにしてZ方向の調節、X方向の傾き及びX方向
の傾きの調節で、積分出力が最大になる点が試?’3!
15の表面の各点が音響レンズ14と焦点距離にある状
態となる。
の傾きの調節で、積分出力が最大になる点が試?’3!
15の表面の各点が音響レンズ14と焦点距離にある状
態となる。
このように構成及び動作する1実施例によれは、試料1
6を試料台15に載せ、音響レンズ14どの間に水18
を介在させた後に1実施例を動作させることによって、
試料16の表面の各位置は8響レンズ14に対して焦点
距離すにあるにうに自動的に設定される。
6を試料台15に載せ、音響レンズ14どの間に水18
を介在させた後に1実施例を動作させることによって、
試料16の表面の各位置は8響レンズ14に対して焦点
距離すにあるにうに自動的に設定される。
従って、従来、試料16の表面を音響レンズ14と平行
とするように多(の時間を費していた調整作業を必要と
しないと共に、試料16の表面か焦点距離すに自動的に
設定されるので、平行出しの作業の他に焦点合わせも必
要とけず大変使い易いものとなる。
とするように多(の時間を費していた調整作業を必要と
しないと共に、試料16の表面か焦点距離すに自動的に
設定されるので、平行出しの作業の他に焦点合わせも必
要とけず大変使い易いものとなる。
上記1実施例においては、音響レンズ14に対し、試料
台15側を可変して試1.116の表面の各点が焦点距
離すとなるように設定したが、本光明はこれに限定され
るものでなく、試料16又は試料台15側を固定して音
響レンズ14側(第1図においては加振機12等)を可
動するようにしCも良いことは明らかであるし、両方を
組合1つせても良く(例えば距離方向の可変は音響レン
ズ17側を、X方向の傾斜は試料側とする等)、要づる
に両方の少くとも一方を可変して相対的に可変されるよ
うにしたものは本発明に属するものである。
台15側を可変して試1.116の表面の各点が焦点距
離すとなるように設定したが、本光明はこれに限定され
るものでなく、試料16又は試料台15側を固定して音
響レンズ14側(第1図においては加振機12等)を可
動するようにしCも良いことは明らかであるし、両方を
組合1つせても良く(例えば距離方向の可変は音響レン
ズ17側を、X方向の傾斜は試料側とする等)、要づる
に両方の少くとも一方を可変して相対的に可変されるよ
うにしたものは本発明に属するものである。
尚、上述の1実施例において、傾きを調整した場合の走
査方向は×及びX方向にしであるが、本発明はこれに限
定されるものでなく、例えばX方向の傾きを可変゛する
場合にはそのX方向の走査成分を有する方向であれば略
任息の方向CあフCも良い(勿論、望ましくは上述のよ
うに一致させた方がその方向にJ3ける傾きをより有効
に検出し易いものとなる。) 又、上記×及びX方向は、外国方向に対し−(垂直とな
る面内においC1互いに直交する方向であることが望ま
しいが、互いに直交しない場合においても全く適用でき
ないものC′はない。例えは、X方向の傾きを可変して
最大となる状態にしたく傾きをなくした)場合にはX方
向についU 1.t、 ;j(平になるが、X方向がX
方向に直交しCないと、引き続いCX方向に少しずつ傾
けCX方向のill f?iをなくすように調節すると
、その際X方向にし頷きがでてくるが、1を方向の傾き
がなくなるように設定後、ざらにX方向についても再び
傾きがなくなるように繰り返すようにすれば必ずも直交
してない場合にも適用できるものであり、本発明(jこ
の場合も含むものである。
査方向は×及びX方向にしであるが、本発明はこれに限
定されるものでなく、例えばX方向の傾きを可変゛する
場合にはそのX方向の走査成分を有する方向であれば略
任息の方向CあフCも良い(勿論、望ましくは上述のよ
うに一致させた方がその方向にJ3ける傾きをより有効
に検出し易いものとなる。) 又、上記×及びX方向は、外国方向に対し−(垂直とな
る面内においC1互いに直交する方向であることが望ま
しいが、互いに直交しない場合においても全く適用でき
ないものC′はない。例えは、X方向の傾きを可変して
最大となる状態にしたく傾きをなくした)場合にはX方
向についU 1.t、 ;j(平になるが、X方向がX
方向に直交しCないと、引き続いCX方向に少しずつ傾
けCX方向のill f?iをなくすように調節すると
、その際X方向にし頷きがでてくるが、1を方向の傾き
がなくなるように設定後、ざらにX方向についても再び
傾きがなくなるように繰り返すようにすれば必ずも直交
してない場合にも適用できるものであり、本発明(jこ
の場合も含むものである。
ヌ、傾き等を可変して前のデータと後のデータとを比較
して最大値となる状態を検出でる場合、アナログデータ
の大小関係を比較乃るものに限定されるものでなく、メ
モリしたディジタルデータをディジタルコンパレータで
大小関係を比較したり、一致した状態を比較して行うよ
うにすることもできる。さらに大小関係を比較して後の
データが前のデータに一致ないしは小さくなる場合には
、反対方向にその可変した量より大きく駆動し、この場
合には後のデータが前のデータより大きくなるかを確め
るように駆動制紳するようにすることもてきる。これは
、傾き等を可変J8場合、その可変する方向が傾きをな
くす方向に行われている場合には問題ないが、反対方向
に可変したliI Oに有効なものとなる。
して最大値となる状態を検出でる場合、アナログデータ
の大小関係を比較乃るものに限定されるものでなく、メ
モリしたディジタルデータをディジタルコンパレータで
大小関係を比較したり、一致した状態を比較して行うよ
うにすることもできる。さらに大小関係を比較して後の
データが前のデータに一致ないしは小さくなる場合には
、反対方向にその可変した量より大きく駆動し、この場
合には後のデータが前のデータより大きくなるかを確め
るように駆動制紳するようにすることもてきる。これは
、傾き等を可変J8場合、その可変する方向が傾きをな
くす方向に行われている場合には問題ないが、反対方向
に可変したliI Oに有効なものとなる。
本発明は上述した処理過程あるいはこれに類似するもの
に限定されるものでなく、要するに距離方向及び×及び
X方向に傾斜した場合に対して検出した信号が最大とな
る点に設定するものは本発明に屈Jるものである。
に限定されるものでなく、要するに距離方向及び×及び
X方向に傾斜した場合に対して検出した信号が最大とな
る点に設定するものは本発明に屈Jるものである。
尚、上述において、試料表面の各点が焦点距離に自動点
に設定されるので、表面より内側に焦点を合わせて観察
することを望む場合は、上述のように設定された後、音
響レンズ側又は試料台側の高さを、観察しようとする深
さだけ距離が短くなるように調節づれば良い。又、この
調節をあらかじめ数値等で与えておき、その状態に自動
的に設定させるようにすることもできる。
に設定されるので、表面より内側に焦点を合わせて観察
することを望む場合は、上述のように設定された後、音
響レンズ側又は試料台側の高さを、観察しようとする深
さだけ距離が短くなるように調節づれば良い。又、この
調節をあらかじめ数値等で与えておき、その状態に自動
的に設定させるようにすることもできる。
尚、第1の処理過程30AでZ軸方向にずらしながら最
大値をめる場合、そのずらす苗は、あまり細かくすると
、山を連設した特性の極大の位置に設定される可能性が
あるのでこれらの山にとどまらないようやや大きく移動
するようにして最大値に近い位置く距M)に設定1゛る
ようにした方が良い。又、この設定後にさbに細かく移
動させてより、細かく最大値に近い距離に設定するよう
にしでも良い。
大値をめる場合、そのずらす苗は、あまり細かくすると
、山を連設した特性の極大の位置に設定される可能性が
あるのでこれらの山にとどまらないようやや大きく移動
するようにして最大値に近い位置く距M)に設定1゛る
ようにした方が良い。又、この設定後にさbに細かく移
動させてより、細かく最大値に近い距離に設定するよう
にしでも良い。
[光明の効果]
以上述べたように本発明によれば、距離可変手段及び×
及びX方向の傾斜覆る手段を駆動しC1検出した信号出
力が最大となる状態に、@響しンスと試料との位置及び
傾きの関係を設定づるようにしであるので、音響レンズ
に対して試料表面の各位置は焦点距離に自動的に設定で
きる。従っ゛C1平行出しとか焦点合わせの手間のかか
る調整作業を必要とすることなく観察でき、超音波顕微
鏡を非常に使い易いものにすることがCきる。
及びX方向の傾斜覆る手段を駆動しC1検出した信号出
力が最大となる状態に、@響しンスと試料との位置及び
傾きの関係を設定づるようにしであるので、音響レンズ
に対して試料表面の各位置は焦点距離に自動的に設定で
きる。従っ゛C1平行出しとか焦点合わせの手間のかか
る調整作業を必要とすることなく観察でき、超音波顕微
鏡を非常に使い易いものにすることがCきる。
第1図は超音波顕微鏡の原理を示す説明図、第2図ない
し第6図は本発明の1実施例に係り、第2図は1実施例
を備えた超音波顕微鏡の概略を示す側面図、第3図は1
実施例の自動焦点設定Finの電気処理回路系を示すブ
ロック図、第4図は1実施例で焦点設定を行う処理過程
を示すフローブレート図、第5図は音響レンズと試rF
1間の距離を変1ヒさせた場合の検波後の出力特性を示
ジ待11図、第6図(J任意の走査方向に走査した場合
の検波後の出力レベルを示し、同図(a)(ま走査方向
の各点が焦点距離にある場合の出力レベルを示づ一特性
図、同図(]))は走査方向が傾いている場合の出力レ
ベルを示す゛特性図、同図(CNJ走査方向の傾きが小
さい場合にお【プる出力レベルを示φ待1土図である。 1′1・・・超音波顕微&fl ’+2・・・加振fi
113・・・駆動軸 171・・・R響しンス′15・
・・試料台 16・・・占itl′+!17・・・圧電
振動子 18・・・水 21・・・送1n器 22・・・Cナーキュレ〜り23
・・・増幅器 24・・・検波器 25・・・積分器 26・・・駆動制御回路27・・・
スイッチ 28・・・比較器Mx 、 MY 、 Mz
−TI−夕 N、Ll〜1′・・・メモリ 1” ” 代理人 弁理士 伊 藤 ]「4 。 第1 図 第2図 3 第31’、J 、z、s 第6図 ”[□■ 第4図
し第6図は本発明の1実施例に係り、第2図は1実施例
を備えた超音波顕微鏡の概略を示す側面図、第3図は1
実施例の自動焦点設定Finの電気処理回路系を示すブ
ロック図、第4図は1実施例で焦点設定を行う処理過程
を示すフローブレート図、第5図は音響レンズと試rF
1間の距離を変1ヒさせた場合の検波後の出力特性を示
ジ待11図、第6図(J任意の走査方向に走査した場合
の検波後の出力レベルを示し、同図(a)(ま走査方向
の各点が焦点距離にある場合の出力レベルを示づ一特性
図、同図(]))は走査方向が傾いている場合の出力レ
ベルを示す゛特性図、同図(CNJ走査方向の傾きが小
さい場合にお【プる出力レベルを示φ待1土図である。 1′1・・・超音波顕微&fl ’+2・・・加振fi
113・・・駆動軸 171・・・R響しンス′15・
・・試料台 16・・・占itl′+!17・・・圧電
振動子 18・・・水 21・・・送1n器 22・・・Cナーキュレ〜り23
・・・増幅器 24・・・検波器 25・・・積分器 26・・・駆動制御回路27・・・
スイッチ 28・・・比較器Mx 、 MY 、 Mz
−TI−夕 N、Ll〜1′・・・メモリ 1” ” 代理人 弁理士 伊 藤 ]「4 。 第1 図 第2図 3 第31’、J 、z、s 第6図 ”[□■ 第4図
Claims (1)
- 圧電振動子が取付けられ、超音波を収束ないしは集音づ
る洛旨しンス及び該音響レンズに対向リ−る面に、試v
1が載置ないしは保持される試1!1台とを有し、前記
音響レンズ及び試1′31台どの少くとし一方を走査し
て、前記圧電振動子に送信器の高周波信号を印加して励
振させて、音響レンズを経て試料側に超音波ビームを送
波し、該試オ゛(側て反身1された超音波を再び音響レ
ンズを経て前記圧゛肩振動子で受波して電気信号に変換
し、前記走査に応じたlIT!引信号で音響的顕微S!
i像を表示可能とづる超音波顕微inにおいて、音響レ
ン又と試料との距離を相対的に変える距離可変手段と、
前記距8Hの方向と垂直な平面内で、互いに直交ないし
け略直交するX及びy方向に対する音響レンズとr$、
14表面どの相対的傾きを可変する×傾斜子19.1
hびy1m斜手Vど、wJ記圧電振動子で受波した信号
の(!11力値又は甲均j直を検出する信号レベルの検
出回路と、該検出回路の信号に基づいて前記各手段の駆
動を制御可能とする駆動制御手段とを設(ブ、前記X及
びy傾斜手段を駆動してそれぞれの方向に対する相対的
傾きを可変した場合に、前記平面内の略ぼ意の方向に走
査した場合にお番プる検出回路の出力を最大にすると共
に、距離可変手段を駆動した場合における検出回路の出
力を最大に設定することを特徴とする超音波顕微鏡の自
動焦点設定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58207143A JPS6098359A (ja) | 1983-11-02 | 1983-11-02 | 超音波顕微鏡の自動焦点設定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58207143A JPS6098359A (ja) | 1983-11-02 | 1983-11-02 | 超音波顕微鏡の自動焦点設定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6098359A true JPS6098359A (ja) | 1985-06-01 |
Family
ID=16534914
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58207143A Pending JPS6098359A (ja) | 1983-11-02 | 1983-11-02 | 超音波顕微鏡の自動焦点設定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6098359A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102006005449B4 (de) * | 2005-04-11 | 2010-11-25 | Pva Tepla Analytical Systems Gmbh | Akustisches Rastermikroskop und Autofokus-Verfahren |
| US9625572B2 (en) | 2011-11-18 | 2017-04-18 | Sonix, Inc. | Method and apparatus for signal path equalization in a scanning acoustic microscope |
-
1983
- 1983-11-02 JP JP58207143A patent/JPS6098359A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102006005449B4 (de) * | 2005-04-11 | 2010-11-25 | Pva Tepla Analytical Systems Gmbh | Akustisches Rastermikroskop und Autofokus-Verfahren |
| US9625572B2 (en) | 2011-11-18 | 2017-04-18 | Sonix, Inc. | Method and apparatus for signal path equalization in a scanning acoustic microscope |
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