JPS61107106A - 合板表面の欠点検出ヘツド - Google Patents
合板表面の欠点検出ヘツドInfo
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- JPS61107106A JPS61107106A JP59228759A JP22875984A JPS61107106A JP S61107106 A JPS61107106 A JP S61107106A JP 59228759 A JP59228759 A JP 59228759A JP 22875984 A JP22875984 A JP 22875984A JP S61107106 A JPS61107106 A JP S61107106A
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- Japan
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- optical fiber
- plywood
- light
- shielding plate
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- Pending
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
- G01N21/898—Irregularities in textured or patterned surfaces, e.g. textiles, wood
- G01N21/8986—Wood
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/10—Scanning
- G01N2201/108—Miscellaneous
- G01N2201/1085—Using optical fibre array and scanner
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- Wood Science & Technology (AREA)
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Veneer Processing And Manufacture Of Plywood (AREA)
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- Optical Fibers, Optical Fiber Cores, And Optical Fiber Bundles (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野コ
本発明は、合板の表面に存在する欠点、例えば、原板の
節穴、虫喰い穴、割れ・・等に起因する合板表面の凹状
欠点の検出に利用される。
節穴、虫喰い穴、割れ・・等に起因する合板表面の凹状
欠点の検出に利用される。
［従 来 技 術 ］
上記分野に於いては、専ら作業者の目視によって、前記
した欠点の検出が行なわれているのが実情である。一方
、本出願人は、先に特願昭５９−１８８６４９号におい
て、板状体表面に先端部が摺接する遮へい体と、前記遮
へい体と板状体とを相対移動させる移動機構と、前記遮
へい体の一方側に配置された光源と、前記遮へい体の他
方側に検出分解能に応じた所要の間隔をおいて配置され
た多数の受光素子と、前記遮へい体と板状体との相対移
動にともなって、該遮へい体が板状体表面における凹状
部に位置する場合には、該凹状部を介して光源からの光
が受光素子に照射される光に基づいて凹状欠点を検出す
る制御回路とにより板状体表面の凹状欠点検出装置を提
案した。
した欠点の検出が行なわれているのが実情である。一方
、本出願人は、先に特願昭５９−１８８６４９号におい
て、板状体表面に先端部が摺接する遮へい体と、前記遮
へい体と板状体とを相対移動させる移動機構と、前記遮
へい体の一方側に配置された光源と、前記遮へい体の他
方側に検出分解能に応じた所要の間隔をおいて配置され
た多数の受光素子と、前記遮へい体と板状体との相対移
動にともなって、該遮へい体が板状体表面における凹状
部に位置する場合には、該凹状部を介して光源からの光
が受光素子に照射される光に基づいて凹状欠点を検出す
る制御回路とにより板状体表面の凹状欠点検出装置を提
案した。
［発明が解決しようとする問題点］
作業者の目視による場合には、検出精度が安定しない点
、作業効率が悪い点、コスト高になる点・・等の問題が
存在していた。
、作業効率が悪い点、コスト高になる点・・等の問題が
存在していた。
また、前記特願昭５９−１８８６４９号にあっては、遮
へい体の他方側に多数の受光素子を配置し、凹状欠点を
通過した光が各受光素子に受光されることにより凹状欠
点を検出する構成であるためこ各受光素子に到達するま
でに凹状欠点を通過した光が拡散して隣設する受光素子
にも入射されることになり、凹状欠点の存在位置を高精
度に検出できないばかりか、拡散による光量の低下も伴
って各受光素子による検出を困難にしていた。
へい体の他方側に多数の受光素子を配置し、凹状欠点を
通過した光が各受光素子に受光されることにより凹状欠
点を検出する構成であるためこ各受光素子に到達するま
でに凹状欠点を通過した光が拡散して隣設する受光素子
にも入射されることになり、凹状欠点の存在位置を高精
度に検出できないばかりか、拡散による光量の低下も伴
って各受光素子による検出を困難にしていた。
［問題を解決するための手段］
この発明の目的は、上記した問題点に鑑み、前記特願昭
５９−１８８６４９号発明の問題点を解決すべく、受光
素子等光検出器に至る光の拡散を防止して板状体表面の
凹状欠点を高分解能で、かつ長期的に安定して検出し得
る合板表面の凹状欠点検出装置を提供することにある。
５９−１８８６４９号発明の問題点を解決すべく、受光
素子等光検出器に至る光の拡散を防止して板状体表面の
凹状欠点を高分解能で、かつ長期的に安定して検出し得
る合板表面の凹状欠点検出装置を提供することにある。
このため１本発明は、合板表面に先端が摺接する遮へい
板と、前記遮へい板の一方側に設けた光源と、前記遮へ
い板の他方側に設けた光ファイバーとから成り、前記光
ファイバーは、その一端が前記遮へい板とともに合板表
面に摺接するべく設け、他端は光検出器に向けて設けた
ことを特徴とする合板表面の欠点検出ヘッドを構成して
いる。
板と、前記遮へい板の一方側に設けた光源と、前記遮へ
い板の他方側に設けた光ファイバーとから成り、前記光
ファイバーは、その一端が前記遮へい板とともに合板表
面に摺接するべく設け、他端は光検出器に向けて設けた
ことを特徴とする合板表面の欠点検出ヘッドを構成して
いる。
［発 明 の 作 用 コ
本発明によれば、検出ヘッドと合板表面との相対移動に
伴って、遮へい板の先端と光ファイバーの一端とは、共
に合板表面と摺接し、合板表面に存在する凹状欠点が遮
へい板を通過する際には、光源から照射された光は、該
凹状欠点を通過し、直ちに光ファイバーの一端から該光
ファイバーに入射される。そして光ファイバーの他端は
、光検出器に向けて該光を投光する。
伴って、遮へい板の先端と光ファイバーの一端とは、共
に合板表面と摺接し、合板表面に存在する凹状欠点が遮
へい板を通過する際には、光源から照射された光は、該
凹状欠点を通過し、直ちに光ファイバーの一端から該光
ファイバーに入射される。そして光ファイバーの他端は
、光検出器に向けて該光を投光する。
［実施例コ
第１図に於いて、図中、１は矢印方向に移動する合板、
２は遮へい板、４は光源、３は光ファイバーを指し、本
例にあっては３１本備え、合板１の全幅にわたって凹状
欠点（図示せず）を所望の間隔で検出するべく構成して
いる。５はＣＯＤイメージセンナを有する光検出器で、
例えば、立石電気株式会社製、ビデオメジャー（商品名
）等公知のものを用いることができる。また、前記光フ
ァイバーとしては、ガラス系、プラスチック系、ともに
使用できるが、この発明では安価なプラスチック系で足
り、例えば、三菱レイヨン株式会社製エス力（商品名）
を用いることができる。また本例の如く多数本設ける場
合にはニス力光学シート（商品名）を用いるのが至便で
ある。一方、前記遮へい板２としては金属製板バネが適
するも、その摺動部の厚さは検出せんとする凹状欠点の
最小寸法に基づいて決める。−搬的用途からすれば、０
．１乃至４ミリ程度の厚さを有する板バネで構成すると
コスト安である。勿論、該遮へい板２は金属に限らず、
プラスチック類、ゴム類等でも良いが、好しくは、合板
１と摺接する先端が合板１の表面のうねり（波うち）に
追従すべく弾性的に変形し得る構成にする。
２は遮へい板、４は光源、３は光ファイバーを指し、本
例にあっては３１本備え、合板１の全幅にわたって凹状
欠点（図示せず）を所望の間隔で検出するべく構成して
いる。５はＣＯＤイメージセンナを有する光検出器で、
例えば、立石電気株式会社製、ビデオメジャー（商品名
）等公知のものを用いることができる。また、前記光フ
ァイバーとしては、ガラス系、プラスチック系、ともに
使用できるが、この発明では安価なプラスチック系で足
り、例えば、三菱レイヨン株式会社製エス力（商品名）
を用いることができる。また本例の如く多数本設ける場
合にはニス力光学シート（商品名）を用いるのが至便で
ある。一方、前記遮へい板２としては金属製板バネが適
するも、その摺動部の厚さは検出せんとする凹状欠点の
最小寸法に基づいて決める。−搬的用途からすれば、０
．１乃至４ミリ程度の厚さを有する板バネで構成すると
コスト安である。勿論、該遮へい板２は金属に限らず、
プラスチック類、ゴム類等でも良いが、好しくは、合板
１と摺接する先端が合板１の表面のうねり（波うち）に
追従すべく弾性的に変形し得る構成にする。
第２図に例示したものは、第１図の部分拡大図であり、
図中１ａは合板ｌの凹状欠点を指し、遮へい板２の左側
に設けた光源（図示せず、但し矢印にて光の照射方向を
示す）からの光は、該凹状欠点１ａを通過して光ファイ
バー３の一端３ａから入光している状態を示している。
図中１ａは合板ｌの凹状欠点を指し、遮へい板２の左側
に設けた光源（図示せず、但し矢印にて光の照射方向を
示す）からの光は、該凹状欠点１ａを通過して光ファイ
バー３の一端３ａから入光している状態を示している。
いま、該凹状欠点１ａが合板１の原板に存在する虫喰い
穴である場合には、第１図における３１本の光ファイバ
ー３のうち、該欠点１ａの上方に一端を有する光ファイ
バーのみが、他端３ｂから光検出器５に向けて強く投光
することになり、光検出器５は、他の光ファイバーの他
端との明暗の差によって、該虫喰い穴による凹状欠点１
ａの存在を検出、処理する。尚、原板の重なりが部分的
にある凸状欠点に対しても、該欠点の片側又は両側位置
からの光の通過によって、前記凹状欠点同様に検出する
ことも出来る。
穴である場合には、第１図における３１本の光ファイバ
ー３のうち、該欠点１ａの上方に一端を有する光ファイ
バーのみが、他端３ｂから光検出器５に向けて強く投光
することになり、光検出器５は、他の光ファイバーの他
端との明暗の差によって、該虫喰い穴による凹状欠点１
ａの存在を検出、処理する。尚、原板の重なりが部分的
にある凸状欠点に対しても、該欠点の片側又は両側位置
からの光の通過によって、前記凹状欠点同様に検出する
ことも出来る。
また、第３図に例示したものは、光ファイバー３の一端
３ａの一部が合板１の表面と摺接しない状態にある例を
図示したものであるが、他の部分が摺接しているので、
この場合も本願の実施例である。この例の場合、遮へい
板２と光ファイバー３とは共に合板１の表面と摺接する
ため、両者は除々に摩耗して、第２図の如き状態に至る
。
３ａの一部が合板１の表面と摺接しない状態にある例を
図示したものであるが、他の部分が摺接しているので、
この場合も本願の実施例である。この例の場合、遮へい
板２と光ファイバー３とは共に合板１の表面と摺接する
ため、両者は除々に摩耗して、第２図の如き状態に至る
。
また、第４図の例は、第２図の例に、光源とは反対の側
に、摩耗調整板６を付加したものを図示している。鎖板
６は矢印方向に移動する合板１の表面を、前記遮へい板
２、光ファイバー３と共に摺接する構成であるが、鎖板
６の付加によって、光ファイバー３の摩耗を適度に調整
することを可能にする。
に、摩耗調整板６を付加したものを図示している。鎖板
６は矢印方向に移動する合板１の表面を、前記遮へい板
２、光ファイバー３と共に摺接する構成であるが、鎖板
６の付加によって、光ファイバー３の摩耗を適度に調整
することを可能にする。
第５図は本願の実施例ではないが、光ファイバー３の一
端３ａが、合板表面から離隔して設けられたものを図示
している。この場合には、木粉、サンダー粉のゴミ７が
光ファイバー３の一端３ａに付着し、光の入射効率を低
下するだけでなく、凹状欠点１ａから通過した光は、拡
散した後、光ファイバー３の一端３ａに入光されるため
に隣接する他の光ファイバーにも入光され検出分解能の
低下が著しい。
端３ａが、合板表面から離隔して設けられたものを図示
している。この場合には、木粉、サンダー粉のゴミ７が
光ファイバー３の一端３ａに付着し、光の入射効率を低
下するだけでなく、凹状欠点１ａから通過した光は、拡
散した後、光ファイバー３の一端３ａに入光されるため
に隣接する他の光ファイバーにも入光され検出分解能の
低下が著しい。
また、第６図の平面図、第７図の正面図にて図示したも
のは、幅広な合板に対して本発明を実施する場合の例で
ある０図からも明らかな通り、本例では合板１の全幅を
５ケ所に分割して遮へい板２を５ケ、支点軸８に揺動自
在に設け、合板１のうねりに対して、より柔軟にその先
端が追従できるように構成している。しかも、光ファイ
バー３は、前記した如く多数本を密にして一列状にシー
ト化したものを用い、各遮へい板２の先端部に一体的に
接着して夫々を構成し、また光検出器に向って投光する
他端３ｂは、図の如く、各単位毎に折曲して配置してい
る。こうすれば、光検出器としてレンズ光学系を有する
ものを使用する場合には、必要に応じて対物距離の調整
を自在化して全領域をして良好なピント合わせが出来る
。
のは、幅広な合板に対して本発明を実施する場合の例で
ある０図からも明らかな通り、本例では合板１の全幅を
５ケ所に分割して遮へい板２を５ケ、支点軸８に揺動自
在に設け、合板１のうねりに対して、より柔軟にその先
端が追従できるように構成している。しかも、光ファイ
バー３は、前記した如く多数本を密にして一列状にシー
ト化したものを用い、各遮へい板２の先端部に一体的に
接着して夫々を構成し、また光検出器に向って投光する
他端３ｂは、図の如く、各単位毎に折曲して配置してい
る。こうすれば、光検出器としてレンズ光学系を有する
ものを使用する場合には、必要に応じて対物距離の調整
を自在化して全領域をして良好なピント合わせが出来る
。
然して、光ファイバー３の他端３ｂは、第８図の如く光
検出器５に向けて配置され、凹状欠点の通過の都度、多
数のうちの幾つかが強く投光し、凹状欠点の有無、大き
さ、位置が検出される。
検出器５に向けて配置され、凹状欠点の通過の都度、多
数のうちの幾つかが強く投光し、凹状欠点の有無、大き
さ、位置が検出される。
第９乃至第１１図には遮へい板２、光ファイバー３、並
びに光源の配置に関する変更例を図示している。第９図
の例では、矢印で図示した合板ｌの進行方向に対し、そ
の上手位置に光源を、次いで遮へい板２を、そして光フ
ァイバー３を配置している。また、第１０図の場合は、
°角度的にも変更を加えたものであり、必要ならば第２
図乃至第４図に於いて、合板１の進行方向を逆にして構
成することもある。また、第１１図の如く、光ファイバ
ー３の少なくとも光源側に塗まくを形成したり、あるい
は各種プラスチック樹脂を薄く付着して、実質的な遮へ
い板９を ４構成することもある。
びに光源の配置に関する変更例を図示している。第９図
の例では、矢印で図示した合板ｌの進行方向に対し、そ
の上手位置に光源を、次いで遮へい板２を、そして光フ
ァイバー３を配置している。また、第１０図の場合は、
°角度的にも変更を加えたものであり、必要ならば第２
図乃至第４図に於いて、合板１の進行方向を逆にして構
成することもある。また、第１１図の如く、光ファイバ
ー３の少なくとも光源側に塗まくを形成したり、あるい
は各種プラスチック樹脂を薄く付着して、実質的な遮へ
い板９を ４構成することもある。
尚、光検出器としては例示した他に種々公知であり、必
要に応じて選択することが可能であって、それに伴い、
光ファイバーの他端３ｂと光検出器との関係は、任意に
光学的に接続されるものである。
要に応じて選択することが可能であって、それに伴い、
光ファイバーの他端３ｂと光検出器との関係は、任意に
光学的に接続されるものである。
［発 明 の 効 果 ］
このように、本本例は簡単な構成でもって、合板の表面
に存在する欠点の検出を、該欠点を通過した光の拡散を
防止した状態で行なうことができ、それによって極めて
良好な検出が達成できる。加えて、光ファイバ二の一端
は合板表面と摺接する構成であるために、ゴミ類の付着
−が極めて少なく、常に良好な摩耗面（相手が木材故に
研摩面に相当する）を維持し、光の伝達効率が著しく良
い、従って、合板の検査工程、目止メ補修工程等に於け
る欠点検出を自動化するに貢献し、合板産業に寄与する
こと確かである。
に存在する欠点の検出を、該欠点を通過した光の拡散を
防止した状態で行なうことができ、それによって極めて
良好な検出が達成できる。加えて、光ファイバ二の一端
は合板表面と摺接する構成であるために、ゴミ類の付着
−が極めて少なく、常に良好な摩耗面（相手が木材故に
研摩面に相当する）を維持し、光の伝達効率が著しく良
い、従って、合板の検査工程、目止メ補修工程等に於け
る欠点検出を自動化するに貢献し、合板産業に寄与する
こと確かである。
第１図は実施例装置の斜視図、第２図乃至第４図は実施
例装置の部分拡大図、第５図は説明用に例示した装置の
部分拡大図、第６図並びに第７図は実施例装置の平面図
とその正面図、第８図は光ファイバーの端部を図示した
正面図、第９図乃至第１１図は実施例装置の部分拡大図
である。 図中、１・φ合板、２・争遮へい板、３・・光ファイバ
ー、４・・光源、５・・光検出器、６・・摩耗調整板、
７・・ゴミ、８・・支点軸、９・・遮へい板・・・・・
である。
例装置の部分拡大図、第５図は説明用に例示した装置の
部分拡大図、第６図並びに第７図は実施例装置の平面図
とその正面図、第８図は光ファイバーの端部を図示した
正面図、第９図乃至第１１図は実施例装置の部分拡大図
である。 図中、１・φ合板、２・争遮へい板、３・・光ファイバ
ー、４・・光源、５・・光検出器、６・・摩耗調整板、
７・・ゴミ、８・・支点軸、９・・遮へい板・・・・・
である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 合板表面に先端が摺接する遮へい板と、前記遮へい
板の一方側に設けた光源と、前記遮へい板の他方側に設
けた光ファイバーとから成り、前記光ファイバーは、そ
の一端が前記遮へい板とともに合板表面に摺接するべく
設け、他端は光検出器に向けて設けたことを特徴とする
合板表面の欠点検出ヘッド。 ２ 遮へい板の先端部に光ファイバーの一端を接着して
成る特許請求の範囲第１項に記載する合板表面の欠点検
出ヘッド。
Priority Applications (8)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59228759A JPS61107106A (ja) | 1984-10-30 | 1984-10-30 | 合板表面の欠点検出ヘツド |
| EP85113640A EP0183974B1 (en) | 1984-10-30 | 1985-10-26 | Plywood surface defect detecting head |
| DE8585113640T DE3567969D1 (en) | 1984-10-30 | 1985-10-26 | Plywood surface defect detecting head |
| FI854231A FI854231A7 (fi) | 1984-10-30 | 1985-10-28 | Vanerin pintavian havaitsemispää. |
| US06/792,682 US4738533A (en) | 1984-10-30 | 1985-10-29 | Plywood surface defect detecting head |
| CA000494170A CA1254969A (en) | 1984-10-30 | 1985-10-29 | Plywood surface defect detecting head |
| CN85109002A CN85109002B (zh) | 1984-10-30 | 1985-10-29 | 胶合板表面缺陷探测头 |
| KR1019850008057A KR900005643B1 (ko) | 1984-10-30 | 1985-10-30 | 합판표면 결함 검출용 헤드 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59228759A JPS61107106A (ja) | 1984-10-30 | 1984-10-30 | 合板表面の欠点検出ヘツド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61107106A true JPS61107106A (ja) | 1986-05-26 |
Family
ID=16881379
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59228759A Pending JPS61107106A (ja) | 1984-10-30 | 1984-10-30 | 合板表面の欠点検出ヘツド |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4738533A (ja) |
| EP (1) | EP0183974B1 (ja) |
| JP (1) | JPS61107106A (ja) |
| KR (1) | KR900005643B1 (ja) |
| CN (1) | CN85109002B (ja) |
| CA (1) | CA1254969A (ja) |
| DE (1) | DE3567969D1 (ja) |
| FI (1) | FI854231A7 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63181949U (ja) * | 1987-05-15 | 1988-11-24 | ||
| CN107505335A (zh) * | 2017-09-05 | 2017-12-22 | 天之域电子工业(厦门)有限公司 | 一种触摸屏贴合气泡的检测装置及方法 |
Families Citing this family (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB8718073D0 (en) * | 1987-07-30 | 1987-09-03 | King J T | Surface inspection lighting scheme |
| US4914308A (en) * | 1988-12-27 | 1990-04-03 | Eastman Kodak Company | Web defect scanning apparatus with incandescent illumination means |
| US5220617A (en) * | 1991-09-04 | 1993-06-15 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for object inspection |
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