JPS6113425A - 磁気記憶体およびその製造方法 - Google Patents
磁気記憶体およびその製造方法Info
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- JPS6113425A JPS6113425A JP13433684A JP13433684A JPS6113425A JP S6113425 A JPS6113425 A JP S6113425A JP 13433684 A JP13433684 A JP 13433684A JP 13433684 A JP13433684 A JP 13433684A JP S6113425 A JPS6113425 A JP S6113425A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は磁気記録装置に用いられる磁気デ″4ンク、磁
気ドラム、磁気テープ等の磁気記録体にかかる。
気ドラム、磁気テープ等の磁気記録体にかかる。
(従来技術とその問題点)
近年、高密度磁気記録体として、記録媒体(磁性層)に
磁性金属薄膜を用いた磁気ディスク等が用いられ始めた
。記録媒体に磁性金属薄膜を用いる利鳥は、飽和磁束密
度が大きいので媒体の薄膜化が可能であシ、また高保磁
力が得られるため高密度記録に適することである0磁性
金属薄膜の他の利点は、無電解メッキ、電気メッキ、ス
パッタ蒸着等の方法で薄膜作製が容易なことである。
磁性金属薄膜を用いた磁気ディスク等が用いられ始めた
。記録媒体に磁性金属薄膜を用いる利鳥は、飽和磁束密
度が大きいので媒体の薄膜化が可能であシ、また高保磁
力が得られるため高密度記録に適することである0磁性
金属薄膜の他の利点は、無電解メッキ、電気メッキ、ス
パッタ蒸着等の方法で薄膜作製が容易なことである。
ところで、磁気記録装置における高記録密度化への要請
は、年々高まりっつぁシ、これを実現するために磁気記
録体の媒体特性の改善、媒体の薄膜化および磁気ヘッド
の特性改善とともに、ヘッド−媒体分離長の減少が不可
欠となっている0磁気テープ、フロッピディスク等の磁
気記録体は記録密度を最大限に高めるために磁気ヘッド
と接触状態もしくはそれに近い状態で使用される。また
磁気ヘッドを磁気記録体から微小間隔浮上させて使用す
る磁気ディスクの場合には、磁気記録装置の高性能化に
伴ないこの浮上間隔を小さくするために磁気ヘッドの荷
重全小さくすると同時に接触始動・停止(コンタクト・
スタート・ストップ、C55)型のヘッド浮揚システム
が採用されている。このため磁気ヘッドによる磁気記録
体の損傷がしばしば生じる口これを防ぐ有効な方法とし
て磁性金属薄膜の表面に保護層を設ける方法があシ、耐
久性の改善がはられてきた。保護層としては耐摩耗性を
有するとともに、−磁性、平滑性と強固な密着力をもち
、可能な限シ薄膜化が図られねばならない。これらの目
的のために従来種々の検討が、なされたが、いづれも不
十分であった。
は、年々高まりっつぁシ、これを実現するために磁気記
録体の媒体特性の改善、媒体の薄膜化および磁気ヘッド
の特性改善とともに、ヘッド−媒体分離長の減少が不可
欠となっている0磁気テープ、フロッピディスク等の磁
気記録体は記録密度を最大限に高めるために磁気ヘッド
と接触状態もしくはそれに近い状態で使用される。また
磁気ヘッドを磁気記録体から微小間隔浮上させて使用す
る磁気ディスクの場合には、磁気記録装置の高性能化に
伴ないこの浮上間隔を小さくするために磁気ヘッドの荷
重全小さくすると同時に接触始動・停止(コンタクト・
スタート・ストップ、C55)型のヘッド浮揚システム
が採用されている。このため磁気ヘッドによる磁気記録
体の損傷がしばしば生じる口これを防ぐ有効な方法とし
て磁性金属薄膜の表面に保護層を設ける方法があシ、耐
久性の改善がはられてきた。保護層としては耐摩耗性を
有するとともに、−磁性、平滑性と強固な密着力をもち
、可能な限シ薄膜化が図られねばならない。これらの目
的のために従来種々の検討が、なされたが、いづれも不
十分であった。
従来、提案された方法としてRh、Cr等の高硬度の金
属を電気メツキ法によって媒体表面に被覆する方法があ
るが、電解液浸漬時に受ける媒体の侵食、またはそれを
避けるために設ける中間層にょる保護層の実質的な膜厚
増大という欠点がある◎別の方法としてOr、W等の金
属、8i0.、人!!0゜等の酸化物を蒸着、スパッタ
などの手段で媒体表面に被覆する方法があるが密着力が
不十分であル真空系内で作製するため生産性に問題があ
った〇耐摩耗性と密着力に優れた保護層として、C。
属を電気メツキ法によって媒体表面に被覆する方法があ
るが、電解液浸漬時に受ける媒体の侵食、またはそれを
避けるために設ける中間層にょる保護層の実質的な膜厚
増大という欠点がある◎別の方法としてOr、W等の金
属、8i0.、人!!0゜等の酸化物を蒸着、スパッタ
などの手段で媒体表面に被覆する方法があるが密着力が
不十分であル真空系内で作製するため生産性に問題があ
った〇耐摩耗性と密着力に優れた保護層として、C。
またはCo−N1の磁性金属薄膜の表面を酸化してCo
、−04の酸化膜全形成する方法が提案された。
、−04の酸化膜全形成する方法が提案された。
例えば、特公昭42−20025号では、温度および湿
度を制御した酸化雰囲気中でCof含む磁性金属の表面
に存在するCot−酸化し、保護酸化皮膜を形成する方
法が提案された。よル強固な酸化皮膜を得るために陽極
酸化による方法、酸処理による方法さらに空気中で焼成
する方法等が提案された0しかし、上記の方法で紘広い
処理面積にわたって均一なCo酸化皮膜を得ることは困
難であル、保護酸化皮膜の厚さのバラツキと残存磁性層
の厚さのパンツキによって、再生出力の均一性が損われ
、時にはビットエ2一の多発音生じるという問題がある
。このためこれを改善する方法として、米国特許4,1
24,736に示される様に記憶媒体の磁性層と保護酸
化皮膜を得るためのCof含む磁性金属層の間に酸化処
理の障壁となる中間層を形成する方法が提案された。し
かしこの方法は以下の様な問題点を含んでいる〇 第1にCoを含む磁性金属層は均一な酸化を行なわせる
ことが困難でLJ)、酸化処理を軽くすると磁性金属層
が残存し、電磁変換特性に悪影響を与える。また磁性金
属層を全て酸化させる様な強い酸化処理を行なうと、酸
化処理による磁性金属媒体への影響を防ぐために厚い中
間層が必要となシ、これは保護膜厚の実質的な増大をも
たらし、記録密度の低下を招く。第二に記録媒体、中間
層、保護層と、薄膜の積層数が増加する程、工程が複雑
化し、生産性が損なわれる口また中間層を1000x以
下に薄くすると、中間層のピンホールのために酸化処理
による磁性金属媒体への影響を完全に防ぐことは出来な
い〇 (発明の目的) 本発明の目的は、上述した従来技術の欠点を改善して、
実用的な耐久性を備えた高密度記録用の磁気記録体を提
供することにある0さらに保護酸化皮膜を有する磁気記
録体の再生出力の一様性を保持するとともに製作工程の
簡素化をはかることによシ、高品質かつ安価な磁気記録
体の製造方法を提供することにある0 (発明の構成) 本発明の磁気記憶体は下地体上に磁性媒体および非磁性
金属がこの順に被覆され、該非磁性金属の表面が該非磁
性金属の酸化物で被覆されている構造または該非磁性金
属の酸化物の上に該酸化物と固着可能な潤滑剤が被覆さ
れている構造を有していることを特徴としている。また
、本発明の方法は前記非磁性金属を熱処理によシ酸化さ
せるものである。
度を制御した酸化雰囲気中でCof含む磁性金属の表面
に存在するCot−酸化し、保護酸化皮膜を形成する方
法が提案された。よル強固な酸化皮膜を得るために陽極
酸化による方法、酸処理による方法さらに空気中で焼成
する方法等が提案された0しかし、上記の方法で紘広い
処理面積にわたって均一なCo酸化皮膜を得ることは困
難であル、保護酸化皮膜の厚さのバラツキと残存磁性層
の厚さのパンツキによって、再生出力の均一性が損われ
、時にはビットエ2一の多発音生じるという問題がある
。このためこれを改善する方法として、米国特許4,1
24,736に示される様に記憶媒体の磁性層と保護酸
化皮膜を得るためのCof含む磁性金属層の間に酸化処
理の障壁となる中間層を形成する方法が提案された。し
かしこの方法は以下の様な問題点を含んでいる〇 第1にCoを含む磁性金属層は均一な酸化を行なわせる
ことが困難でLJ)、酸化処理を軽くすると磁性金属層
が残存し、電磁変換特性に悪影響を与える。また磁性金
属層を全て酸化させる様な強い酸化処理を行なうと、酸
化処理による磁性金属媒体への影響を防ぐために厚い中
間層が必要となシ、これは保護膜厚の実質的な増大をも
たらし、記録密度の低下を招く。第二に記録媒体、中間
層、保護層と、薄膜の積層数が増加する程、工程が複雑
化し、生産性が損なわれる口また中間層を1000x以
下に薄くすると、中間層のピンホールのために酸化処理
による磁性金属媒体への影響を完全に防ぐことは出来な
い〇 (発明の目的) 本発明の目的は、上述した従来技術の欠点を改善して、
実用的な耐久性を備えた高密度記録用の磁気記録体を提
供することにある0さらに保護酸化皮膜を有する磁気記
録体の再生出力の一様性を保持するとともに製作工程の
簡素化をはかることによシ、高品質かつ安価な磁気記録
体の製造方法を提供することにある0 (発明の構成) 本発明の磁気記憶体は下地体上に磁性媒体および非磁性
金属がこの順に被覆され、該非磁性金属の表面が該非磁
性金属の酸化物で被覆されている構造または該非磁性金
属の酸化物の上に該酸化物と固着可能な潤滑剤が被覆さ
れている構造を有していることを特徴としている。また
、本発明の方法は前記非磁性金属を熱処理によシ酸化さ
せるものである。
(構成の詳細な説明)
次に図面を参照して本発明の詳細な説明する0第1図は
本発明の磁気記憶体の部分断面図で、下地体1はアルミ
合金又は、陽極酸化アルマイト。
本発明の磁気記憶体の部分断面図で、下地体1はアルミ
合金又は、陽極酸化アルマイト。
N1−Pメッキ膜、Cr、 FeN1. Mo tたは
W等を被覆のアルミ合金、又はポリエステル、ポリイミ
ド、ポリアミドイミドなどのプラスチック、又はCr、
FeNilMo、Wなどの金属、又は窒化ケイ素、ア
ルミナなどのセラミックス又はガラス板である0次にこ
の下地体1の上に磁性媒体2としてFe104 g r
−Fe 20Hなどの鉄酸化物又はCo−Ni 。
W等を被覆のアルミ合金、又はポリエステル、ポリイミ
ド、ポリアミドイミドなどのプラスチック、又はCr、
FeNilMo、Wなどの金属、又は窒化ケイ素、ア
ルミナなどのセラミックス又はガラス板である0次にこ
の下地体1の上に磁性媒体2としてFe104 g r
−Fe 20Hなどの鉄酸化物又はCo−Ni 。
Co−N1−P、 Co−Mn−P、 Co−Ni−M
n−P、 Co −ne、 Co−Mn−Re−P、
Co−Cr、 Co−V、 Co−Pt。
n−P、 Co −ne、 Co−Mn−Re−P、
Co−Cr、 Co−V、 Co−Pt。
Co−N1−Pi、 Co−Pt−Crg Co−Pt
−V、 Co−Rh。
−V、 Co−Rh。
Co−NiMo又はCo −8m などの金属又は合
金を被覆する0 該磁性媒体2の上に非磁性金属3としてRe。
金を被覆する0 該磁性媒体2の上に非磁性金属3としてRe。
Ru、 Os、 Pd、 Rh、 Ir、Mn、 Zn
、 Sn、 Cr、 Mo、 W。
、 Sn、 Cr、 Mo、 W。
Ni、CuまたはAgまたはそれらの合金(B、Pのい
ずれか一方又は両方を含む場合もおるo)io、1μm
以下に被覆した後、酸素又はオゾンなど金含む酸化性雰
囲気中で焼成することによシ表面に該非磁性金属の酸化
物被覆4が形成される0第2図は本発明の磁気記憶体の
さらに別の部分断面図で、第1図と同様に下地体l、磁
性媒体2、非磁性金属3、該非磁性金属3の酸化物被膜
4がこの順に被覆され、該酸化物被膜4の上に潤滑剤5
が被覆される。
ずれか一方又は両方を含む場合もおるo)io、1μm
以下に被覆した後、酸素又はオゾンなど金含む酸化性雰
囲気中で焼成することによシ表面に該非磁性金属の酸化
物被覆4が形成される0第2図は本発明の磁気記憶体の
さらに別の部分断面図で、第1図と同様に下地体l、磁
性媒体2、非磁性金属3、該非磁性金属3の酸化物被膜
4がこの順に被覆され、該酸化物被膜4の上に潤滑剤5
が被覆される。
潤滑剤5は非磁性金属の酸化物被膜4と固着可能なこと
が必要であシ、その様な潤滑剤としては次の様な構造の
ものが使用される0 Rf−0−%CF、−CF、−0址CFt−04Rf
。
が必要であシ、その様な潤滑剤としては次の様な構造の
ものが使用される0 Rf−0−%CF、−CF、−0址CFt−04Rf
。
G−C,F’!に−0−ecFt−CF2−0話CF、
−0端C,F、、’−G’ 。
−0端C,F、、’−G’ 。
Rf−0+CFt−cp、−o許F鵞−0揄C1F意、
=GただしRfはCI!F、+2ここでlは1以上の整
数 mおよびnは10以上の整数である。
=GただしRfはCI!F、+2ここでlは1以上の整
数 mおよびnは10以上の整数である。
kは0又は1以上の整数であるoG又はG′は−COO
H、−COOC,H,、ゆ□(jは1以上の整数)。
H、−COOC,H,、ゆ□(jは1以上の整数)。
−CiHliOH(iは0又は1以上の整数)、NH,
。
。
−CHt=CH,、−8i(C,Hth+1)gXs
= g (hは1以上の整数1gは0,1又は2、Xは
Ct又は−OH又はOCf山f+1 (’は1以上の整
数))、または−A−8i(ChH*b+1 )gXs
=g(h*geXは上記と同様。又AはC,H,N。
= g (hは1以上の整数1gは0,1又は2、Xは
Ct又は−OH又はOCf山f+1 (’は1以上の整
数))、または−A−8i(ChH*b+1 )gXs
=g(h*geXは上記と同様。又AはC,H,N。
0.8の1つ以上の元素からなる有機物)である。
例えば−C0−NH−CH2−CHt −、−NH−C
Ht −CH(0H)−CHt−CH,−、−間−CO
−CH!−CHt +、−0−CH,−α、−、−5−
−NH−C−NH−CH,−CH,−などである。
Ht −CH(0H)−CHt−CH,−、−間−CO
−CH!−CHt +、−0−CH,−α、−、−5−
−NH−C−NH−CH,−CH,−などである。
上記一般式中官能基Gは非磁性金属の酸化物被膜4の上
に強固に反応して固着するため、ヘッドの摺動によって
除去されない。
に強固に反応して固着するため、ヘッドの摺動によって
除去されない。
この効果は官能基の中でも−8@ (Ch H! h+
1) g為=g (hは1以上の整数、gは0,1又
は2、Xはct又拡−OH又はQC,H!、、(fは1
以上の整数))で表わされるシランが最も効果が有る0
さ性金属の酸化被膜5に吸着し、固着する。
1) g為=g (hは1以上の整数、gは0,1又
は2、Xはct又拡−OH又はQC,H!、、(fは1
以上の整数))で表わされるシランが最も効果が有る0
さ性金属の酸化被膜5に吸着し、固着する。
使用出来る他の潤滑剤はパー70ロカルボン酸、パーフ
ロロアルコール、パー70ロカルyy y 酸エステル
、パー70ロアルコールの脂肪酸エステル、パー70ロ
アルキルアルコキシシ2ン、フロロシリコーン、パー7
0ロアルキルスルホン酸、パー70ロアルキルスルホン
酸アンモニウム、nh肪i ゛アルキルアルコキシシ
ラン、高級脂肪酸、高級脂肪アルコール、高級脂肪酸エ
ステル、高級脂肪酸アミド、不飽和高級脂肪酸、長鎖脂
肪族炭化水素などがある〇 なお前記潤滑剤5t−被覆後50〜300℃で焼成して
も良い。
ロロアルコール、パー70ロカルyy y 酸エステル
、パー70ロアルコールの脂肪酸エステル、パー70ロ
アルキルアルコキシシ2ン、フロロシリコーン、パー7
0ロアルキルスルホン酸、パー70ロアルキルスルホン
酸アンモニウム、nh肪i ゛アルキルアルコキシシ
ラン、高級脂肪酸、高級脂肪アルコール、高級脂肪酸エ
ステル、高級脂肪酸アミド、不飽和高級脂肪酸、長鎖脂
肪族炭化水素などがある〇 なお前記潤滑剤5t−被覆後50〜300℃で焼成して
も良い。
次に実施例によル本発明の詳細な説明する。
(実施例)
機械加工によル表面を平坦かつ平滑に仕上げたアルミ合
金円板上に二、ケルー燐めりき膜が被覆され、表面粗さ
50Xに鏡面仕上げされた下地体重の上に磁性媒体2と
してコバルト−ニッケルー燐合金ro、osμmの厚さ
にめっきした。次にこの磁性媒体2の上に非磁性金属3
としてニッケルー燐合金を500芙の厚さにめっきした
。次に空気中で300℃で2時間焼成して前記非磁性金
属3として用いられているニッケルー燐合金の表面を2
00芙酸化して非磁性金属3の酸化物被膜4としてニッ
ケル酸化物を被覆して磁気ディスクを作った◎(試料1
) 実施例1と同様にして但しニッケル酸化物の上に潤滑剤
5として下記の構造を有するシ2/を含tr 直鎖ハー
フ0ロアルΦルボリエーテルvsol被覆して磁気ディ
スクを作った0(試料2)G−CtF4+0−CtFi
すO−CF、セC,F、−G但しGは−Co−NH−C
HH6−81(ocax)ap=q=37 実施例2と同様にして但し潤滑剤5として下記の構造を
有する直鎖パー70ロア〃キルポリエーテルを100X
被覆して磁気ディスクを作っ九〇(試料3) HO−CHt−CtFa(0−CtFaぜ0−CFへC
tFa −CHt−OH但し p=lO、q=100 実施例1と同様にして但し磁性媒体2の上に非磁性金属
3として銅を500Xの厚さにめっきした後、空気中で
200℃で5時間焼成して、前記非磁性金属3として用
いられている銅合金の表面を400X酸化して非磁性金
属3の酸化物被覆膜4として銅酸化物を被覆した・さら
に該銅酸化物の上に潤滑剤5として下記の構造を有する
。下記の構造を有する直鎖パーフロロアルキルポリエー
テルl5ol被覆して磁気ディスクを作った〇(試料4
) CxFi 十〇CtFa都0−CF、+qc、F、−G
但しGは一〇〇〇〇、)(、−8i(QC,H,)。
金円板上に二、ケルー燐めりき膜が被覆され、表面粗さ
50Xに鏡面仕上げされた下地体重の上に磁性媒体2と
してコバルト−ニッケルー燐合金ro、osμmの厚さ
にめっきした。次にこの磁性媒体2の上に非磁性金属3
としてニッケルー燐合金を500芙の厚さにめっきした
。次に空気中で300℃で2時間焼成して前記非磁性金
属3として用いられているニッケルー燐合金の表面を2
00芙酸化して非磁性金属3の酸化物被膜4としてニッ
ケル酸化物を被覆して磁気ディスクを作った◎(試料1
) 実施例1と同様にして但しニッケル酸化物の上に潤滑剤
5として下記の構造を有するシ2/を含tr 直鎖ハー
フ0ロアルΦルボリエーテルvsol被覆して磁気ディ
スクを作った0(試料2)G−CtF4+0−CtFi
すO−CF、セC,F、−G但しGは−Co−NH−C
HH6−81(ocax)ap=q=37 実施例2と同様にして但し潤滑剤5として下記の構造を
有する直鎖パー70ロア〃キルポリエーテルを100X
被覆して磁気ディスクを作っ九〇(試料3) HO−CHt−CtFa(0−CtFaぜ0−CFへC
tFa −CHt−OH但し p=lO、q=100 実施例1と同様にして但し磁性媒体2の上に非磁性金属
3として銅を500Xの厚さにめっきした後、空気中で
200℃で5時間焼成して、前記非磁性金属3として用
いられている銅合金の表面を400X酸化して非磁性金
属3の酸化物被覆膜4として銅酸化物を被覆した・さら
に該銅酸化物の上に潤滑剤5として下記の構造を有する
。下記の構造を有する直鎖パーフロロアルキルポリエー
テルl5ol被覆して磁気ディスクを作った〇(試料4
) CxFi 十〇CtFa都0−CF、+qc、F、−G
但しGは一〇〇〇〇、)(、−8i(QC,H,)。
p=200.q=20
実施例1と同様にして但し非磁性金属3としてニッケル
ー銅−燐合金t3001の厚さにめっきし空気中で25
0℃で3時間焼成して該非磁性金属30表面にニッケル
ー銅の酸化物1xooiの厚さに形成して、磁気ディス
クを作った。(試料5)実施例2と同様にして但し非磁
性金属3として銀1800Xの厚さにめりきし、オゾン
を含む空気中で300℃で1時間焼成して該非磁性金属
30表面に銀酸化物txooXの厚さに形成して磁気デ
ィスクを作った。(試料6) 実施例2と同様にして但し非磁性金属3としてニッケル
ークロム−燐合金を500Xの厚さにめっ゛きし、空気
中で280℃+2時間焼成して、該非磁性金属30表面
にニッケルークロムの酸化物を300Xの厚さに形成し
て磁気ディスクを作った。
ー銅−燐合金t3001の厚さにめっきし空気中で25
0℃で3時間焼成して該非磁性金属30表面にニッケル
ー銅の酸化物1xooiの厚さに形成して、磁気ディス
クを作った。(試料5)実施例2と同様にして但し非磁
性金属3として銀1800Xの厚さにめりきし、オゾン
を含む空気中で300℃で1時間焼成して該非磁性金属
30表面に銀酸化物txooXの厚さに形成して磁気デ
ィスクを作った。(試料6) 実施例2と同様にして但し非磁性金属3としてニッケル
ークロム−燐合金を500Xの厚さにめっ゛きし、空気
中で280℃+2時間焼成して、該非磁性金属30表面
にニッケルークロムの酸化物を300Xの厚さに形成し
て磁気ディスクを作った。
(試料7)
実施例2と同様にして但し非磁性金属3としてニッケル
ーモリブデン−燐合金t−5oolの厚さにめっきし、
純酸素中で260℃で6時間焼成して。
ーモリブデン−燐合金t−5oolの厚さにめっきし、
純酸素中で260℃で6時間焼成して。
該非磁性金属3の表面にニッケルーモリブデンの酸化物
t−4ooXの厚さに形成して磁気ディスクを作った。
t−4ooXの厚さに形成して磁気ディスクを作った。
(試料8)
実施例2と同様にして但し非磁性金属3としてニッケル
ーインジウム−燐合金を600裏の厚さにめっきし、空
気中で230℃で10時間焼成して該非磁性金属3の表
面にニッケルーインジウムの酸化物を300裏の厚さに
形成して磁気ディスク管作りた。(試料9) 実施例2と同様にして但し非磁性金属3としてニッケル
ータングステン−燐合金を2001の厚さにめっきし、
空気中で280℃で2時間焼成して該非磁性金属3の表
面にニッケルータングステンの酸化物を100Xの厚さ
に形成して磁気ディスクを作り木0(試料10) 実施例2と同様にして但し非磁性金属3としてニッケル
ーバナジウム−燐’17001の厚さにめっきし、空気
中で270℃で3時間焼成して該非磁性金属3の表面に
ニッケルーバナジウムの酸化物を300Xの厚さに形成
して磁気ディスクを作ったO(試料11) 実施例2と同様にして但し非磁性金属3としてカドミウ
ムを200Xの厚さにめ−)!シ、空気中で290Cで
2時間焼成して該非磁性金属30表面に酸化カドミウム
を100炉厚さに形成して磁気ディスクを作った◎(試
料12) (比較例) 実施例1で示した磁性媒体の上にコバルト−燐合金を5
00Xの厚さにめっきし、1チ硝酸水溶液中に5分浸漬
した後、水洗、乾燥後、空気中で260℃で4時間焼成
し、コバルト酸化物の層を形成させ丸後ジメチルシリコ
ーンオイルを50Xの厚さに被覆し磁気ディスクを作り
た。(比較試料l)実施例1で示した磁性媒体の上にニ
ッケルー燐合金t−400iの厚さにめっきし、その上
にコバルト−燐合金1400Xの厚さにめっきし、1%
硝酸水溶液中に5分浸漬した後、水洗、乾燥後空気中で
260℃で4時間焼成し、ニッケルー燐合金の上にコバ
fix )酸化物の層を形成させて磁気ディスクを作り
た0(比較試料2) 実施例1で示した磁性媒体の上にニッケル燐合金を50
0Xの厚さにめっきし、1%硫酸溶液中で陽極酸化を行
ない表面を100X酸化させて磁気ディスクを作った。
ーインジウム−燐合金を600裏の厚さにめっきし、空
気中で230℃で10時間焼成して該非磁性金属3の表
面にニッケルーインジウムの酸化物を300裏の厚さに
形成して磁気ディスク管作りた。(試料9) 実施例2と同様にして但し非磁性金属3としてニッケル
ータングステン−燐合金を2001の厚さにめっきし、
空気中で280℃で2時間焼成して該非磁性金属3の表
面にニッケルータングステンの酸化物を100Xの厚さ
に形成して磁気ディスクを作り木0(試料10) 実施例2と同様にして但し非磁性金属3としてニッケル
ーバナジウム−燐’17001の厚さにめっきし、空気
中で270℃で3時間焼成して該非磁性金属3の表面に
ニッケルーバナジウムの酸化物を300Xの厚さに形成
して磁気ディスクを作ったO(試料11) 実施例2と同様にして但し非磁性金属3としてカドミウ
ムを200Xの厚さにめ−)!シ、空気中で290Cで
2時間焼成して該非磁性金属30表面に酸化カドミウム
を100炉厚さに形成して磁気ディスクを作った◎(試
料12) (比較例) 実施例1で示した磁性媒体の上にコバルト−燐合金を5
00Xの厚さにめっきし、1チ硝酸水溶液中に5分浸漬
した後、水洗、乾燥後、空気中で260℃で4時間焼成
し、コバルト酸化物の層を形成させ丸後ジメチルシリコ
ーンオイルを50Xの厚さに被覆し磁気ディスクを作り
た。(比較試料l)実施例1で示した磁性媒体の上にニ
ッケルー燐合金t−400iの厚さにめっきし、その上
にコバルト−燐合金1400Xの厚さにめっきし、1%
硝酸水溶液中に5分浸漬した後、水洗、乾燥後空気中で
260℃で4時間焼成し、ニッケルー燐合金の上にコバ
fix )酸化物の層を形成させて磁気ディスクを作り
た0(比較試料2) 実施例1で示した磁性媒体の上にニッケル燐合金を50
0Xの厚さにめっきし、1%硫酸溶液中で陽極酸化を行
ない表面を100X酸化させて磁気ディスクを作った。
(比較試料3)
実施例および比較例で示した磁気ディスクと荷重15
Ji’ p AbOs・TiC焼結体からなるスライダ
を有する磁気ヘッドを用いて2万回のC88試験を行な
ったところ実施例の磁気ディスクはディスク、ヘッド共
表面に傷は全く認められなかった。
Ji’ p AbOs・TiC焼結体からなるスライダ
を有する磁気ヘッドを用いて2万回のC88試験を行な
ったところ実施例の磁気ディスクはディスク、ヘッド共
表面に傷は全く認められなかった。
さらに10万回のC88試験後、試料1および5の磁気
ディスクは摩耗粉がわずかに発生したが試料2〜3およ
び6〜12の磁気ディスクは表面の変化は全く認められ
なかった。しかし比較試料の磁気ディスクは5000回
でディスク表面が摩耗し、多量の摩耗粉が発生した口比
較例の磁気ディスクの表面を観察すると無数の欠陥が見
られ、とれが耐摩耗性を劣化させていることが分りたO
また実施例における試料1〜12および比較例の比較試
料1〜3の磁気ディスクについてエラー数を測定したと
ころ、表に示す結果となった。
ディスクは摩耗粉がわずかに発生したが試料2〜3およ
び6〜12の磁気ディスクは表面の変化は全く認められ
なかった。しかし比較試料の磁気ディスクは5000回
でディスク表面が摩耗し、多量の摩耗粉が発生した口比
較例の磁気ディスクの表面を観察すると無数の欠陥が見
られ、とれが耐摩耗性を劣化させていることが分りたO
また実施例における試料1〜12および比較例の比較試
料1〜3の磁気ディスクについてエラー数を測定したと
ころ、表に示す結果となった。
以上の様に酸素を含む雰囲中で表面に酸化膜を形成させ
た非磁性合金管保護膜として有する磁気ディスクは耐久
性に優れ、エラー数も非常に少ないことが分った。
た非磁性合金管保護膜として有する磁気ディスクは耐久
性に優れ、エラー数も非常に少ないことが分った。
表
(発明の効果)
以上述べたように本発明によれば良好な耐久性を有する
磁気記憶体得られ、また製作工程が簡素化でき高品質、
安価な磁気記憶体を作成する製造方法が得られる。
磁気記憶体得られ、また製作工程が簡素化でき高品質、
安価な磁気記憶体を作成する製造方法が得られる。
第1図及び第2図線本発明の磁気記憶体の部分断面図で
ある。 第1図、第2図において1は下地体、2は磁性媒体、3
は非磁性金属、4は非磁性金属3の酸化物、5は潤滑剤
である口 第3図及び第4図は比較例の磁気記憶体の部分断面図で
ある。 第3図、第4図においてlは下地体、2は磁性媒体、3
はコバルト酸化物、4は潤滑剤、5は非磁性金属である
。 磐 l 図 第 21り 第 3 図 上 ・−2−λ1々;辷/ト5ヒく?メニづ)へを−lr:
玲4不 −l″″F劾体
ある。 第1図、第2図において1は下地体、2は磁性媒体、3
は非磁性金属、4は非磁性金属3の酸化物、5は潤滑剤
である口 第3図及び第4図は比較例の磁気記憶体の部分断面図で
ある。 第3図、第4図においてlは下地体、2は磁性媒体、3
はコバルト酸化物、4は潤滑剤、5は非磁性金属である
。 磐 l 図 第 21り 第 3 図 上 ・−2−λ1々;辷/ト5ヒく?メニづ)へを−lr:
玲4不 −l″″F劾体
Claims (7)
- (1)下地体の上に磁性媒体、非磁性金属、該非磁性金
属の酸化物が、この順に形成されていることを特徴とす
る磁気記憶体。 - (2)非磁性金属がW、Cr、Mo、Ni、Cu、Ag
、Pe、Ru、Os、Pd、Rh、Ir、Mn、Zn、
Snから選ばれる一又は二以上の元素からなる金属、又
は当該金属にB、Pのうちの少なくとも一の元素が添加
されたものである特許請求の範囲第1項記載の磁気記憶
体。 - (3)下地体の上に磁性媒体、非磁性金属、該非磁性金
属の酸化物、潤滑剤が、この順に形成されていることを
特徴とする磁気記憶体。 - (4)非磁性金属がW、Cr、Mo、Ni、Cu、Ag
、Re、Bu、Os、Pd、Rh、Ir、Mn、Zn、
Snから選ばれる一又は二以上の元素からなる金属、又
は当該金属にB、Pのうちの少なくとも一の元素が添加
されたものである特許請求の範囲第3項記載の磁気記憶
体。 - (5)潤滑剤が直鎖パーフロロアルキルポリエーテル又
は官能基を有する直鎖パーフロロアルキルポリエーテル
である特許請求の範囲第3項又は第4項記載の磁気記憶
体。 - (6)下地体の上に磁性媒体を被覆し、さらに該媒体上
に非磁性金属を被覆した後、酸素を含む雰囲気中で熱処
理することにより表面に該非磁性金属の酸化物被膜を形
成させることを特徴とする磁気記憶体の製造方法。 - (7)非磁性金属がW、CrMo、Ni、Cu、Ag、
Re、Ru、Os、Pd、Rh、Ir、Mn、Zn、S
nから選ばれる一又は二以上の元素からなる金属、又は
当該金属にB、Pのうちの少なくとも一の元素が添加さ
れたものである特許請求の範囲第6項記載の磁気記憶体
の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13433684A JPS6113425A (ja) | 1984-06-29 | 1984-06-29 | 磁気記憶体およびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13433684A JPS6113425A (ja) | 1984-06-29 | 1984-06-29 | 磁気記憶体およびその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6113425A true JPS6113425A (ja) | 1986-01-21 |
Family
ID=15125960
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13433684A Pending JPS6113425A (ja) | 1984-06-29 | 1984-06-29 | 磁気記憶体およびその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6113425A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6369020A (ja) * | 1986-09-10 | 1988-03-29 | Hitachi Ltd | 磁気記録媒体 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51123604A (en) * | 1975-04-21 | 1976-10-28 | Nec Corp | A magnetic storage medium construction |
| JPS5525821A (en) * | 1978-08-08 | 1980-02-23 | Nec Corp | Magnetic memory substance |
| JPS56143538A (en) * | 1980-04-09 | 1981-11-09 | Nec Corp | Manufacture of magnetic storage body |
| JPS59107428A (ja) * | 1982-12-10 | 1984-06-21 | Seiko Epson Corp | 磁気記録媒体の潤滑層形成法 |
-
1984
- 1984-06-29 JP JP13433684A patent/JPS6113425A/ja active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51123604A (en) * | 1975-04-21 | 1976-10-28 | Nec Corp | A magnetic storage medium construction |
| JPS5525821A (en) * | 1978-08-08 | 1980-02-23 | Nec Corp | Magnetic memory substance |
| JPS56143538A (en) * | 1980-04-09 | 1981-11-09 | Nec Corp | Manufacture of magnetic storage body |
| JPS59107428A (ja) * | 1982-12-10 | 1984-06-21 | Seiko Epson Corp | 磁気記録媒体の潤滑層形成法 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6369020A (ja) * | 1986-09-10 | 1988-03-29 | Hitachi Ltd | 磁気記録媒体 |
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