JPS6122261A

JPS6122261A - パルス信号測定方法

Info

Publication number: JPS6122261A
Application number: JP14093184A
Authority: JP
Inventors: Yasuji Sakurai; 桜井　保司
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 1984-07-06
Filing date: 1984-07-06
Publication date: 1986-01-30
Also published as: JPH0450990B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】（産業上の利用分野〕本発明は、簡単な手法を用いてパルス信号の波形測定を
自動的に行い得るパルス信号測定方法に関する。

網制御装置（Ｎ　ＣＵ）を備えた装置においては、公衆
回線接続の為のダイヤルパルスを発する機能を備えてい
る。

〔従来の技術〕

従って、装置出荷前の検査工程においては、このダイヤ
ルパルス発生回路の動作試験が行われる。

従来においては、このＮＣＵ部を試験用の公衆回線網に
接続し、その出力パルスをシンクロスコープ等によって
測定するものであった。そしてシンクロスコープ上のパ
ルス波形を試験者の目視によって測定するものであった
。

〔発明が解決しようとする問題点〕

上述の如〈従来においては、ＮＣＵ部の動作試験の為の
システムが大がかりのものとなり、コスト高等を招く結
果となっていた。しかもシンクロスコープによって、通
常の回線回線と同様のレベル（例えば−４，８Ｖ）を測
定するものであり、少なからす作業者、試験者の取扱い
に十分な配慮を払う必要もある。またパルス信号の測定
は、最終的には試験者による目視に頼るものであり、測
定結果における信頼性の点でも問題があった。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明は上述した問題点を解決する手段を提供すること
を目的としている。そしてその為に、パルス信号の間隔
、即ちパルスの立下りから次のパルスの立上り時間を計
時する第１タイマと、１つのパルスの周期を計時する第
２タイマとを設けて、これらのタイマ出力に基いてパル
ス信号の波形測定を行うよう構成したものである。

〔作用〕

周知の如くパルス信号は、２値（マーク、スペース等）
のレベルを呈すものである。従って第１のタイマにて、
パルス信号のマーク（“Ｌ”）レベル期間を計時し、更
に第２のタイマにてそのパルス周期を計時することによ
って、インパルス速度及びメイク率を簡単に求めること
が可能となる。

また、測定するパルス信号が上述したＮＣＵ部における
ダイヤルパルスであれば、第１のタイマによって、各桁
間のミニマムポーズ時間をも同時に計時できるものであ
る。

以下実施例を用いて本発明を詳述する。

〔実施例〕

第１図は本発明の一実施例を示す図である。

即ち本実施例では、被測定装置のＮＣＵＩＯにＴＴＬレ
ベルの＋５■電圧源１を印加するものである。２はタイ
マ回路であり、後述の如く３つのタイマを有するプログ
ラマブルの測定回路である。

３はプロセッサ（以下ＣＰＵと称す）であって、タイマ
回路２からの計時結果を受けて、パルス信号に示される
インパルス速度、メイク率、ミニマムポーズ時間を算出
するもの、４はディスプレイ装置、５はプリンタであり
、ＣＰＵ３による算出結果が表示或いはプリント出力さ
れるものである。

第２図は第１図実施例におけるＮ００部１０とタイマ回
路２との接続形態を示す図である。即ちＮ００部１０の
回線接続端子１０’、１０’には、電圧源１からの出力
端子が接続される。尚抵抗Ｒ及びコンデンサＣにより、
出力ダイヤルパルス信号におけるチャタリングを防止す
る回路を構成している。タイマ回路２は、＋５Ｖが印加
される出力端子にインバータ６を介して接続される。

第３図はＮ００部１０より送出されるダイヤルパルスの
一般的な信号波形を示す図である。ダイヤルパルスは、
Ｎ００部１０による極性検出の後一定時間（図で３秒）
経過後に、各桁のダイヤル番号に対応したパルスが発せ
られる。このダイヤルパルスの信号波形において、パル
ス周期をｔＱ　。

メイク時間をｔｘとすると、パルス測定におけるインパ
ルス速度（ｐｐｓ）及びメイク率（％）は以下のように
表される。

１（。

更にパルス測定においては、各桁間のダイヤルパルスの
区切り時間（ミニマムポーズ時間）ｔρも測定される。

第４図は本実施例におけるパルス測定動作を示すタイム
チャート、第５図はこの測定動作を行う為の具体的構成
を示す機能ブロック図である。第５図に示す如く、プロ
セッサ３には上述したインパルス速度、メイク率を演算
するパルス測定部（ＡＰＬ）３１が設けられる。一方タ
イマ回路２には、３つのタイマエラー２５．タイマ制御
部（ＴＭＣＮＴ）２１．測定部（ＴＭＩＲＱ）２２が設
けられる。第４図において信号’ｌ’ＴＤＬＰｓはイン
バータ６（第２図）を介して得られるパルス信号である
。またＴＭＳＴＣタイマ制御部ＴＭＣＮＴの持つステッ
プカウンタのカウント値を示すものである。

監視タイマ２３は、ＡＰＬ３１からの測定要求（命令）
に応じてタイマ制御部２１によって起動されるもので、
パルス測定の為の時間監視を行うものである。タイマＴ
ｌ　　（２４）は、ダイヤルパルス信号：ＴＤＬＰＳに
おける“０″レベル間を計時する。またタイマＴ２　（
２５）は、同信号＊ＴＤＬＰＳにおけるパルス周期を計
時するものである。これら各タイマ２３．２５は、予め
定められた一定のクロックを発するクロック発生源２９
からのクロックをカウントする。

以下第６図乃至第９図のフローチャートに基いて、本実
施例の動作を説明する。第６図及び第７図は、ＣＰＵ３
のパルス測定部ＡＰＬ３１の動作を示すフローチャート
、第８図はタイマ回路２におけるタイマ制御部ＴＭＣＮ
Ｔ２１の動作をふすフローチャート第９図は同じく測定
部ＴＭＩＲＱ２２の動作フローチャートである。

まずパルス測定部ＡＰＬ３１は、ディスプレイ４の画面
上に第１）図に示す如きバイヤルパルスの測定開始メソ
セージＴＳＬＡＩＩを表示する（ステップ６０１〜６０
３）。尚第１）図において記号ＳＰはスペースを表わす
。次にＡＰＬ３１は、自己の管理するステップカウンタ
ＣＴＭＥをクリアしくステップ６０４）、メツセージ表
示行データを表示行レジスタＫＡ　Ｉ　ＳＵＵに一時格
納する。

そして、キーボード（図示せず）からのパルス測定開始
の指示入力を待つ（ステップ６０６〜６０７）。この指
示入力があれば、パルス測定部ＡＰＬ３）は、測定タイ
マ値を格納するアドレス値ＴＩＭＭＥＭをインデックス
レジスタＩＸにセットするとともにタイマ制御部ＴＭＣ
ＮＴ２１を起動するマクロ命令を発する。このマクロ命
令は、第１０図（ａｌに示す如く、測定すべき時間を指
定するパラメータＴＭＰＡＲを含む。即ちこのタイマー
回路２は、第１０図（ａ）に示す如く、各種の時間測定
が可能である。従って本実施例では、このパラメータＴ
ＭＰＡＲを４５（１６進）と設定する。

このマクロ命令に従って、タイマ制御部２１及び測定部
２２が、ダイヤルパルス波形における各種時間を測定す
る（即ち第８図、第９図にそれぞれ示す動作を行う）。

タイマ回路２による時間測定の終了は、第１０図（ｂｌ
に示す如く終了情報ＴＭＥＩＦとしてＣＰＵ３に通知さ
れる（ステップ６１０）。そして測定が正しく行われた
場合、ＣＲＵ３のパルス測定部３１は、第７図に示すサ
ブルーチンＤＬＰＳＳに移り（テップ６１））、インパ
ルス速度、メイク率、ポーズ時間を計算し、その計算結
果を順次表示データに変換する（ステップ６１２，６１
３）。尚、レジスタＭＥＭＯ５は表示データバッファ、
ＭＥＭＯ３は表示桁バッファを示す。

計算結果の表示が終了すると、パルス測定部３１はステ
ップカウンタＣＴＭＥのカウント値をカウントアツプし
、次のパルス測定に移る。即ち本実施例では、ステップ
カウンタＣＴＭＥはＯＯ〜０５までカウントアツプされ
る。そしてカウント値がＯＯ〜０２までは１０ｐｐｓの
ダイヤルパルスのインパルス速度（００）、メイク率（
０１）。

及びポーズ時間（０２）の演算を指示する。カウント値
０３〜０５は、２０ｐｐｓのインパルス速度（０３）、
メイク率（０４）、及びポーズ時間（０５）の演算を指
示する。

次に第８図及び第９図を用いてタイマ回路２の動作を説
明する。上述の如＜ＣＰＵ３からのマクロ命令（第１０
図（ａ））によってタイマ回路２は起動される。まずタ
イマ制御部ＴＭＣＮＴ２１は、自己のステップカウンタ
ＴＭＳＴＣをクリアする（ステップ８０１）とともに、
マクロ命令で与えられたパラメータＴＭＰＡＲを読込む
（ステップ８０２）。そしてこのパラメータＴＭＰＡＲ
によって指示される処理を判別する（同８０３）。尚第
８図及び第９図では、ダイヤルパルス測定が指定された
場合のみ動作を示し、他の処理についてはその説明を詳
述する。

タイマ制御部２１は、自己のステップカウンタＴＭＳＴ
Ｃの値、即ち第４図で示した値００−０６に応じて、各
タイマ動作を制御する（ステップ８０４．８０８，８０
９，８１５）。つまり、カウンタＴＭＳＴＣが値００の
もとで監視タイマ２３を起動する（ステップ８０７）。

次にパルス信号１ｋＤＬＰｓがＯレベルに落ちたか否か
をチェックする（同８１０）。極性検出の後は、最初の
ダイヤルパルスの立上りを検出する（ステップ８１））
。そしてダイヤルパルスの立下りによって、タイマＴ１
及びＴｚ　　（２４，２５）を起動する（ステップ８１
２〜８１４）。

次に、ダイヤルパルスの立上りにより測定部ＴＭＩＲＱ
２２が起動される（ステップ９０１，９０２）。そして
、ステップカウンタＴＭ−３ＴＣの値に応じて（同９０
３，９０４）各タイマＴ１゜Ｔｚの読出しが行われる（
同９０５．！３０６，９０９）、これら各タイマの読出
しは各サブルーチンＴＩＳＴＲＭ、Ｔ２ＳＴＲＭにて実
行され、インデックスレジスタｌＸ１２格納されたアド
レスに対応した領域に、そのタイマ値が格納される（同
９１７）。以上によりタイマ回路２による各時間測定が
行われる。

この結果、第１０図（Ｃ１に示す如く、メモリの所定ア
ドレス上に、メイク、周期、ポーズの各時間がカウンタ
のカウント値としてセントされＣＰＵ３に通知されるこ
とになる。ＣＰＵ３のパルス測定部３１は、上述の如く
、カウンタ回路２からの終了情報ＴＭＥ　Ｉ　Ｆにより
、各測定値を読出す。

即ち第７図に示す如く、自己のステップカウンタＣＴＭ
Ｅの値に応じて（ステップ７０１〜７０４）インパルス
速度（同７０７）、メイク率（同７Ｉ４）、ポーズ時間
（同７１））を計算し、表示データに変換することにな
る。

〔発明の効果〕以上の如く本発明によれば、簡単なカウンタ回路を用い
て、パルス信号の波形測定をより正確に且つ迅速に行う
ことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す図、第２図は実施例の
要部構成図、第３図はダイヤルパルス信号の一般的波形
を示す図、第４図は本実施例の動作タイムチャート、第
５図は機能ブロック図、第６図乃至第９図はその動作フ
ローチャート、第１０図１ａ）〜（ｆｌｔ）は動作フロ
ーチャートにおけるデータフォーマットを示す図８第１
）図は表示メソセージ例を示ず図である。２はタイマ回路、３はプロセッサ（ＣＰＵ）。４はディスプレイ、２１はタイマ制御部、２２は測定部
、２３〜２５はタイマ、３１はパルス測定部をそれぞれ
示す。

Claims

【特許請求の範囲】

（１）信号送出装置の発するパルス信号波形測定を行う
装置において、パルス信号の測定開始指示によって起動
され一定の時間を計時する監視タイマと、上記パルス信
号の立下りから立上りまでの時間を計時する第１のタイ
マと、パルス信号の周期を計時する第２のタイマとを備
え、第１及び第２のタイマの出力値に基いて上記パルス
信号の波形測定を行うことを特徴とするパルス信号測定
方法。
（２）上記信号送出装置は複数桁から成るダイヤルパル
スを発生するものであり、上記第１のタイマは、各桁に
おけるパルス間隔を計時するとともに、各桁間のミニマ
ムポーズ時間を計時する特許請求の範囲第（１）項記載
のパルス信号測定方法。