JPS61235571A - 無電解メツキ浴 - Google Patents
無電解メツキ浴Info
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- JPS61235571A JPS61235571A JP7629085A JP7629085A JPS61235571A JP S61235571 A JPS61235571 A JP S61235571A JP 7629085 A JP7629085 A JP 7629085A JP 7629085 A JP7629085 A JP 7629085A JP S61235571 A JPS61235571 A JP S61235571A
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Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
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- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C18/00—Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
- C23C18/16—Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
- C23C18/31—Coating with metals
- C23C18/32—Coating with nickel, cobalt or mixtures thereof with phosphorus or boron
- C23C18/34—Coating with nickel, cobalt or mixtures thereof with phosphorus or boron using reducing agents
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
不発明は、磁気ディスク等の磁気記録体に用(1られる
磁気記憶媒体Cm性膜)fJ!:つ(るための無電解メ
ッキ浴に関する。
磁気記憶媒体Cm性膜)fJ!:つ(るための無電解メ
ッキ浴に関する。
磁気ディスク装置は、ファイル記憶装置としてコンピュ
ータシステムでの重要性が年々高まりつつあり、その高
速大容量比、小皺低価格化を目標として磁気記憶媒体の
高記録密度化が要望されている。
ータシステムでの重要性が年々高まりつつあり、その高
速大容量比、小皺低価格化を目標として磁気記憶媒体の
高記録密度化が要望されている。
それに応えるべ(櫨々な改良がなされてきたが。
従来のγ−Fe!0,11布の媒体では、iI6記録密
度化技術が限界に近づき、その結果、高記録密度化が容
易に得られる無電解メッキによる金属薄膜媒体な有する
磁気ディスクが開発されつつある。
度化技術が限界に近づき、その結果、高記録密度化が容
易に得られる無電解メッキによる金属薄膜媒体な有する
磁気ディスクが開発されつつある。
磁気ディスクの磁性膜な高記録密度化するためには、磁
性膜の薄膜化、高保磁力化、高角形比化および薄膜化に
伴なう出力の低下を補うための高残留磁束密度化が必要
であるが、無電解メッキ法では、これらの条件をかね臭
えたコバルト合fli!磁性膜な均一の厚さに多量生産
することが出来るとされている。しかし、製品を量産す
るためには、メン中温のPH1その他の条件の僅かの差
によって磁性膜の保持力(以下Hcという]%角形比(
以下B r / B sという]等が変化せず、高位(
Hcが高(、Br/Bsが1に近い]において安定した
磁性膜が得られることが必要である。
性膜の薄膜化、高保磁力化、高角形比化および薄膜化に
伴なう出力の低下を補うための高残留磁束密度化が必要
であるが、無電解メッキ法では、これらの条件をかね臭
えたコバルト合fli!磁性膜な均一の厚さに多量生産
することが出来るとされている。しかし、製品を量産す
るためには、メン中温のPH1その他の条件の僅かの差
によって磁性膜の保持力(以下Hcという]%角形比(
以下B r / B sという]等が変化せず、高位(
Hcが高(、Br/Bsが1に近い]において安定した
磁性膜が得られることが必要である。
一般に無電解メッキによって磁性膜の特性を安定させる
には、製造条件が微妙で浴を理の固層さがあった。
には、製造条件が微妙で浴を理の固層さがあった。
この問題を解決するものとして、Coイオン、Niイオ
ン、これら金属イオンの還元剤、pH緩衝剤を溶解した
公知の水溶液に、錯化剤としてリンゴ酸塩、コハク酸塩
、マロン酸塩の3種類(盆11表ffi技1. v o
133 、 N o 9.1982)。
ン、これら金属イオンの還元剤、pH緩衝剤を溶解した
公知の水溶液に、錯化剤としてリンゴ酸塩、コハク酸塩
、マロン酸塩の3種類(盆11表ffi技1. v o
133 、 N o 9.1982)。
或いはリンゴ酸塩、コハク酸塩の2櫨類(特開昭55−
94468)’i’添加した無電解メッキ浴が提案され
ている。
94468)’i’添加した無電解メッキ浴が提案され
ている。
ところで、上記無電解メッキ浴な用いることにより、得
られる磁性膜の特性は大幅に改良されたが、例えばHC
:600〜6500eで末だ満足なものでなかった。そ
のため、さらにHc%Br/BS等が高く、管理容易な
無電解メッキ浴が求められている。
られる磁性膜の特性は大幅に改良されたが、例えばHC
:600〜6500eで末だ満足なものでなかった。そ
のため、さらにHc%Br/BS等が高く、管理容易な
無電解メッキ浴が求められている。
本発明は上記の事情に鑑み、pH,膜厚依存性が少なく
、浴管理が容易で、Hc、Br/Bs等の特性が高位で
安定して得られる無電解メッキ浴を提供することt目的
とする。
、浴管理が容易で、Hc、Br/Bs等の特性が高位で
安定して得られる無電解メッキ浴を提供することt目的
とする。
本発明者等・は、上記の問題点を解決丁べく鋭意研究し
た結果、優れた特性の磁性膜が安定して得られる錯化剤
を発見するに至った。
た結果、優れた特性の磁性膜が安定して得られる錯化剤
を発見するに至った。
本発明は上記の発見に基づいてなされたもので。
その要旨は、コバルトイオン、ニッケルイオン、これら
の金属イオンの還元剤、pH緩衝剤および所定のpHに
保持てるpH調整剤を含む水溶液に。
の金属イオンの還元剤、pH緩衝剤および所定のpHに
保持てるpH調整剤を含む水溶液に。
上記金属イオンの錯化剤として、酒石酸塩、グルコン酸
塩およびポリエチレングリコールな同時に含有する無電
解メッキ浴にある。
塩およびポリエチレングリコールな同時に含有する無電
解メッキ浴にある。
本発明に係る無電解メッキ浴は、錯化剤を除いて公知の
処方のものが用いられる。丁なゎち、C。
処方のものが用いられる。丁なゎち、C。
イオンとしては、硫酸コバルト(Co80..7H,O
ン; 0.07〜0.09mo 1 /l、 N iイ
オンとしては、硫酸ニッケル(N i 80..7H,
0)* 0.00 s〜o、o 25mOl / l、
還元剤トシテは、次亜リン酸ナトリクA (N a H
,P O! 、H2O); 0.1〜0.3 mo l
/l、 pH緩衝剤としては。
ン; 0.07〜0.09mo 1 /l、 N iイ
オンとしては、硫酸ニッケル(N i 80..7H,
0)* 0.00 s〜o、o 25mOl / l、
還元剤トシテは、次亜リン酸ナトリクA (N a H
,P O! 、H2O); 0.1〜0.3 mo l
/l、 pH緩衝剤としては。
@酸7ンモニウA((N)I、)、804 );0.2
〜0.6mo 1/1.p)(調整剤としては、水酸化
アンモニウム(NH,OH)が適量用いられる。
〜0.6mo 1/1.p)(調整剤としては、水酸化
アンモニウム(NH,OH)が適量用いられる。
!!心、本発明の主体である錯化剤の組合わせは、撞々
探索の結果得られたもので、fi石酸塩、グルコン酸塩
、ポリエチレングリコールC以下PMG)という】の3
櫨1J14を同時に使用する。これら錯化剤は酒石酸塩
tベースとし1使用される。各成分の配合濃度S工び酒
石酸塩に対するグルコン酸塩お工びPEGの使用tf!
:@ 1表に示した。
探索の結果得られたもので、fi石酸塩、グルコン酸塩
、ポリエチレングリコールC以下PMG)という】の3
櫨1J14を同時に使用する。これら錯化剤は酒石酸塩
tベースとし1使用される。各成分の配合濃度S工び酒
石酸塩に対するグルコン酸塩お工びPEGの使用tf!
:@ 1表に示した。
第1表
丁なわち、錯化剤の配合は、酒石酸塩に対する盪お工び
配合濃度の両方に工つ工制限される。また酒石酸塩、グ
ルコン酸塩は通常Na塩又はに塩が使用され、PEGは
1分子量200−1540のものが使用されるが、その
使用量は分子量に関係がない。大き過ぎると水に溶解し
な(なる。
配合濃度の両方に工つ工制限される。また酒石酸塩、グ
ルコン酸塩は通常Na塩又はに塩が使用され、PEGは
1分子量200−1540のものが使用されるが、その
使用量は分子量に関係がない。大き過ぎると水に溶解し
な(なる。
上、記処方による無電解メッキ浴は、pf(:9.2〜
9.8、温度ニア0・ン90°Cにおいて使用される。
9.8、温度ニア0・ン90°Cにおいて使用される。
pH9,2未満ではHc、Br/Bsが共に低くなり、
9.8ft越えると不安定となる。また、膜厚は温度が
一定であれば、100OA程度までは浸漬する時間にほ
ぼ比例して厚くなるが1本発明ンCおいては750±4
5人を目標とする。温度が70’C未満ではメッキする
のに時間がかかり、90°Cを越えると半丁ぎて管理が
困難となる。
9.8ft越えると不安定となる。また、膜厚は温度が
一定であれば、100OA程度までは浸漬する時間にほ
ぼ比例して厚くなるが1本発明ンCおいては750±4
5人を目標とする。温度が70’C未満ではメッキする
のに時間がかかり、90°Cを越えると半丁ぎて管理が
困難となる。
磁気ディスクtつ(る場合には1通常非磁性体であるA
1円板に周知の無電解メッキにエリ非磁性のN1−Pメ
ッキを施し、鏡面研磨したものを基板とする。これを上
記無電解メッキ浴に浸漬することにより、特性の優れた
磁性膜が安定して得もれる。
1円板に周知の無電解メッキにエリ非磁性のN1−Pメ
ッキを施し、鏡面研磨したものを基板とする。これを上
記無電解メッキ浴に浸漬することにより、特性の優れた
磁性膜が安定して得もれる。
磁性膜のHcは高過ぎても工くなく、またBr/Bsは
当然のことながら1に近い程よいが、不発明のメッキ浴
を用いることにエリ、Hc:800±400 e 、
B r / B s :約0.8の特性の優れた磁性膜
が煩雑な浴管理を行なうことなく安定して得られる。
当然のことながら1に近い程よいが、不発明のメッキ浴
を用いることにエリ、Hc:800±400 e 、
B r / B s :約0.8の特性の優れた磁性膜
が煩雑な浴管理を行なうことなく安定して得られる。
矢に本発明による無電解メッキ浴の特徴を実施例にエリ
説明する。
説明する。
〔実施例1〕
硫酸コバルト 0.075m01/
7硫11iニアケル o、o2smo
l/l矢亜リン酸ナトリウム 0.2 m
ol/l硫酸アンモニウム 0.4 m
ol/7の水溶液に錯比剤とし【 酒石酸ナトリウム Q、3 mol/
。
7硫11iニアケル o、o2smo
l/l矢亜リン酸ナトリウム 0.2 m
ol/l硫酸アンモニウム 0.4 m
ol/7の水溶液に錯比剤とし【 酒石酸ナトリウム Q、3 mol/
。
グルコン酸ナトリウム 0.3 mol/1
PE0 10 g/l但し、PEG
は分子t: 200. 600%1.1i40のもの
をそれぞれ単独で用い%3撞類(1)メン”を浴とし、
NH,0HICよってpHを9.0〜9.8の範囲に変
化させた。
PE0 10 g/l但し、PEG
は分子t: 200. 600%1.1i40のもの
をそれぞれ単独で用い%3撞類(1)メン”を浴とし、
NH,0HICよってpHを9.0〜9.8の範囲に変
化させた。
また基板としては、非磁性体のAI成板上非磁性N1−
Pメッキを施し、説面研磨して用いた。
Pメッキを施し、説面研磨して用いた。
この基板を、温度80°Cに保持し、pHの異なる上記
メッキ浴に浸漬し、BX厚:5ooAとしてそれぞれの
Hc、Br/Bsを調べた。結果を第1図に示す。
メッキ浴に浸漬し、BX厚:5ooAとしてそれぞれの
Hc、Br/Bsを調べた。結果を第1図に示す。
図より明かな工うに、p)11.2〜9.6の範囲でH
c、Br/Bsは共に不発明の目標値に達しかつ安定し
ている。
c、Br/Bsは共に不発明の目標値に達しかつ安定し
ている。
〔実施例2〕
PH:9.5に固定し、厚さの異なる磁性gをつくった
外は、実施例1と同じにしてHc s Br / B
sの膜厚依存性を調べた。結果を$2図に示す。図工り
明かなように、膜厚が500〜1000人の範囲でHc
、Br/Bsは、高位に安定している。
外は、実施例1と同じにしてHc s Br / B
sの膜厚依存性を調べた。結果を$2図に示す。図工り
明かなように、膜厚が500〜1000人の範囲でHc
、Br/Bsは、高位に安定している。
なお、上記実施例で得ら糺た磁性膜は、いずれも、滑ら
かで光沢がよ(従来のものと比較して表面の仕上りが二
かった。また、実謹例工の処方から、酒石酸ナトリウム
を除いたメッキ浴、PGEを除いたメッキ浴によって磁
性膜tつ(つたが、Hc、Br/Bsの傭が目標、値に
達せずかつ不安定であった。
かで光沢がよ(従来のものと比較して表面の仕上りが二
かった。また、実謹例工の処方から、酒石酸ナトリウム
を除いたメッキ浴、PGEを除いたメッキ浴によって磁
性膜tつ(つたが、Hc、Br/Bsの傭が目標、値に
達せずかつ不安定であった。
以上述べたように本発明に係るメッキ浴は、従来にない
優れた特性の磁性1Kをつくることができ、かつpH,
11&厚などに対する依存性が少ない。したがって、メ
ッキ浴管理が容易となり、特性の優れた磁性膜を有する
製品が歩出りよく得られ、今後の磁気ディスクの生産に
寄与することが極めて大ぎいものである。
優れた特性の磁性1Kをつくることができ、かつpH,
11&厚などに対する依存性が少ない。したがって、メ
ッキ浴管理が容易となり、特性の優れた磁性膜を有する
製品が歩出りよく得られ、今後の磁気ディスクの生産に
寄与することが極めて大ぎいものである。
第1図および第2図は不発明に係る無電解メッキ浴の一
例にエリメッキした磁性膜のHc、Br/Bsを示すも
ので、第1図はpH依存性を示す図、第2図は膜厚依存
性を示す図である。 9.0 9.2 9.4 9.6 g、B(
pH) 膠14−(ん
例にエリメッキした磁性膜のHc、Br/Bsを示すも
ので、第1図はpH依存性を示す図、第2図は膜厚依存
性を示す図である。 9.0 9.2 9.4 9.6 g、B(
pH) 膠14−(ん
Claims (1)
- コバルトイオン、ニッケルイオン、これらの金属イオン
の還元剤、pH緩衝剤および所定のpHに保持するpH
調整剤を含む水溶液に、上記金属イオンの錯化剤として
、洒石酸塩、グルコン酸塩およびポリエチレングリコー
ルを同時に含有することを特徴とする無電解メッキ浴。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7629085A JPS61235571A (ja) | 1985-04-10 | 1985-04-10 | 無電解メツキ浴 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7629085A JPS61235571A (ja) | 1985-04-10 | 1985-04-10 | 無電解メツキ浴 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61235571A true JPS61235571A (ja) | 1986-10-20 |
Family
ID=13601197
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7629085A Pending JPS61235571A (ja) | 1985-04-10 | 1985-04-10 | 無電解メツキ浴 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61235571A (ja) |
-
1985
- 1985-04-10 JP JP7629085A patent/JPS61235571A/ja active Pending
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