JPS61267732A - フレ−ム形状測定装置 - Google Patents
フレ−ム形状測定装置Info
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- JPS61267732A JPS61267732A JP28749185A JP28749185A JPS61267732A JP S61267732 A JPS61267732 A JP S61267732A JP 28749185 A JP28749185 A JP 28749185A JP 28749185 A JP28749185 A JP 28749185A JP S61267732 A JPS61267732 A JP S61267732A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/28—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring contours or curvatures
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B9/00—Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor
- B24B9/02—Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground
- B24B9/06—Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground of non-metallic inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain
- B24B9/08—Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground of non-metallic inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain of glass
- B24B9/14—Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground of non-metallic inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain of glass of optical work, e.g. lenses, prisms
- B24B9/144—Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground of non-metallic inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain of glass of optical work, e.g. lenses, prisms the spectacles being used as a template
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はメガネフレームのレンズ枠、またはレンズ枠形
状から倣い加工された型板の形状をデジタル測定する装
置、％罠、未加工眼鏡レンズをレンズ枠または型板の形
状に係る情報によって研削加工する玉摺機と併用するに
適した装置に関する。
状から倣い加工された型板の形状をデジタル測定する装
置、％罠、未加工眼鏡レンズをレンズ枠または型板の形
状に係る情報によって研削加工する玉摺機と併用するに
適した装置に関する。
従来、メガネフレームのレンズ枠または型板を固定し、
この形状を測定する装置は知られていない。本発明者は
、玉摺機の開発と並行して、これに適したレンズ枠また
は型板の測定装置の開発を行い、本発明をなすに至った
。
この形状を測定する装置は知られていない。本発明者は
、玉摺機の開発と並行して、これに適したレンズ枠また
は型板の測定装置の開発を行い、本発明をなすに至った
。
本発明は、メガネフレームまたは該フレームのレンズ枠
から倣い加工された型板を保持するフレーム保持手段と
、該フレーム保持手段を所定の平面内で移動可能に支持
する支持手段と、前記平面と交差する鉛直軸回りに回転
するセンサーアーム及び該センサーアームの軸上を移動
するセンサー手段とからなる計測部材とから成り、前記
センサーアームの回転角及び前記センサー手段の移動量
から前記メガネフレームのレンズ枠または前記型板の形
状を動径情豐（ρｎ、θｎ ’） （ｎ＝／、コ、３…
…Ｎ）として計測することを特徴として構成される。
から倣い加工された型板を保持するフレーム保持手段と
、該フレーム保持手段を所定の平面内で移動可能に支持
する支持手段と、前記平面と交差する鉛直軸回りに回転
するセンサーアーム及び該センサーアームの軸上を移動
するセンサー手段とからなる計測部材とから成り、前記
センサーアームの回転角及び前記センサー手段の移動量
から前記メガネフレームのレンズ枠または前記型板の形
状を動径情豐（ρｎ、θｎ ’） （ｎ＝／、コ、３…
…Ｎ）として計測することを特徴として構成される。
以下本発明の実権例を図をもと（説明する。第１図は本
発明に係るレンズ枠形状測定装置を示す斜視図である。
発明に係るレンズ枠形状測定装置を示す斜視図である。
本装置は、大きく３つの部分、すなわち、フレームを保
持するフレーム保持装置部１０Ｇと、このフレーム保持
装置部１００を支持するとともに、この保持装置部の測
定面内への移送及びその測定面内での移動を司る支持装
置部ｚ００と、メガネフレームのレンズ枠または型板の
形状をデジタル計測する計測部８００とから構成されて
いる。
持するフレーム保持装置部１０Ｇと、このフレーム保持
装置部１００を支持するとともに、この保持装置部の測
定面内への移送及びその測定面内での移動を司る支持装
置部ｚ００と、メガネフレームのレンズ枠または型板の
形状をデジタル計測する計測部８００とから構成されて
いる。
支持装置部２００は筺体２０１上に縦方向（測定座榛系
のＸ軸方向）に平行に設置されたガイドレール２０ｆｆ
ｉａ、２０ｇｂを有し、このガイドレール上に移動ステ
ージ２０Ｂが摺動自在に＊ｆｔｔされている。移動ステ
ージ２０３の下面には雌ネジ部２０４が形成されておシ
、この雌ネジ部２ｏ４にはＸ軸用送りネジ２０５が螺合
されている。このＸ軸送りネジ２０５はパルスモータか
らなるＸ軸モータ９０６によシ回動される。
のＸ軸方向）に平行に設置されたガイドレール２０ｆｆ
ｉａ、２０ｇｂを有し、このガイドレール上に移動ステ
ージ２０Ｂが摺動自在に＊ｆｔｔされている。移動ステ
ージ２０３の下面には雌ネジ部２０４が形成されておシ
、この雌ネジ部２ｏ４にはＸ軸用送りネジ２０５が螺合
されている。このＸ軸送りネジ２０５はパルスモータか
らなるＸ軸モータ９０６によシ回動される。
移動ステージ２０８０両側７ランジ２０ ？ 、ａ 。
！０７ｂ間には測定操糸のＹ軸方向と平行にガイド４２
０８が渡されておシ、このガイド軸２０８はフランジ２
０？ａ忙取付けられたガイド軸モータ２０９により回転
できるよう構成されている。
０８が渡されておシ、このガイド軸２０８はフランジ２
０？ａ忙取付けられたガイド軸モータ２０９により回転
できるよう構成されている。
ガイド軸２０８は、その軸と平行に外面に一条のガイド
溝２１０が形成されている。
溝２１０が形成されている。
〃イド軸２０８にはハンド２１１，２１２が摺動可能に
支持されている。このハンドＡｌｌ。
支持されている。このハンドＡｌｌ。
２１２の軸穴２１８，２１４にはそれぞれ突起部２１８
ａ、２１４ａが形成されておシ、この突起ｗＩｈ２１８
ａ、２１４ａが前述のガイド軸２０８のガイド溝２１θ
内に係合され、ハンド２１１゜２１２のガイド軸２０８
の回ルの回転を阻止している。
ａ、２１４ａが形成されておシ、この突起ｗＩｈ２１８
ａ、２１４ａが前述のガイド軸２０８のガイド溝２１θ
内に係合され、ハンド２１１゜２１２のガイド軸２０８
の回ルの回転を阻止している。
ハンド２１１は互いに交わる二つの斜面２１５゜２１６
を持ち、他方ハンド２１２も同様に互に交わる二つの斜
面２１７，２１８を有している。ハンド２１２の両斜面
２１７，２１８が作る稜線２２０はハンド２１１の斜面
２１５，２１６の作る稜線２１９と平行でかつ同一平面
内に位ｉｔするように、また、斜面２１７，２１８のな
す角変と斜’１ＦＪＢ１５．２１６のなす角度は相等し
いように構成されている。そして両ハンド２１１，２１
２の間には第３図（Ｓ）に示すようにバネ２８０が掛は
渡されている。
を持ち、他方ハンド２１２も同様に互に交わる二つの斜
面２１７，２１８を有している。ハンド２１２の両斜面
２１７，２１８が作る稜線２２０はハンド２１１の斜面
２１５，２１６の作る稜線２１９と平行でかつ同一平面
内に位ｉｔするように、また、斜面２１７，２１８のな
す角変と斜’１ＦＪＢ１５．２１６のなす角度は相等し
いように構成されている。そして両ハンド２１１，２１
２の間には第３図（Ｓ）に示すようにバネ２８０が掛は
渡されている。
移動ステージ２０８の後側フランジ２２１の一端にはプ
ーリ−２２２が回動自在に軸支され、後側フランジ２８
１の他端にはブー！Ｊ−２２８を有するＹ軸上−ター２
２４が取付けられている。プーリー２２８．２２４には
スプＩ）７／”２２５を介在させたミニチアベルト２２
６が掛は渡されており、ミニチアベルト２２６の両端は
ハンド２１１の上面に植設されたピン２２７に固着され
ている。
ーリ−２２２が回動自在に軸支され、後側フランジ２８
１の他端にはブー！Ｊ−２２８を有するＹ軸上−ター２
２４が取付けられている。プーリー２２８．２２４には
スプＩ）７／”２２５を介在させたミニチアベルト２２
６が掛は渡されており、ミニチアベルト２２６の両端は
ハンド２１１の上面に植設されたピン２２７に固着され
ている。
他方、ハンド２１２の上面には、鍔２２８が形成されて
おシ、この鍔２２８はノ１ンド９１１の移動により移動
ステージ２０Ｂの後側フランジ２２１に植設されたビン
２２９の側面Ｋｍ接するように構成されている。
おシ、この鍔２２８はノ１ンド９１１の移動により移動
ステージ２０Ｂの後側フランジ２２１に植設されたビン
２２９の側面Ｋｍ接するように構成されている。
計測部８００は、筺体２０１の下面に取付けられたセン
サーアーム回転モータ８０１と筐体２０１の上面に回動
自在に軸支されたセンサーアーム部８０９から成る。モ
ータ８０１の回転軸に取付けられたプーリー８０８とセ
ンサーアーム部の回転軸８０４との間にはベルト８０５
が掛は渡されており、これによプモータ８０１の回転が
センサーアームに伝達される。
サーアーム回転モータ８０１と筐体２０１の上面に回動
自在に軸支されたセンサーアーム部８０９から成る。モ
ータ８０１の回転軸に取付けられたプーリー８０８とセ
ンサーアーム部の回転軸８０４との間にはベルト８０５
が掛は渡されており、これによプモータ８０１の回転が
センサーアームに伝達される。
センサーアーム部８０２はそのペース８１０の上方に渡
された２本のレール８１１．８１１を有シ、このレール
８１１．８１１上にセンサーヘッド部８１２が摺動可能
に取付けられている。センサーヘッド部８１２の一側回
には磁気スケール読み＊ｂヘッド８１８が取付けられ、
と匹によシベース８１０にレール８１１と平行に取付け
られた磁気スケール８１４を読み取り、センサーヘッド
部８１２の移動量を検出するように構成されている。ま
た、センサーヘッド部８１２の他側には、このヘッド部
８１２を常時アーム端側面へ引っばるバネ装置８１５の
ぜんまいバネ８１６の一端が回漕されている。
された２本のレール８１１．８１１を有シ、このレール
８１１．８１１上にセンサーヘッド部８１２が摺動可能
に取付けられている。センサーヘッド部８１２の一側回
には磁気スケール読み＊ｂヘッド８１８が取付けられ、
と匹によシベース８１０にレール８１１と平行に取付け
られた磁気スケール８１４を読み取り、センサーヘッド
部８１２の移動量を検出するように構成されている。ま
た、センサーヘッド部８１２の他側には、このヘッド部
８１２を常時アーム端側面へ引っばるバネ装置８１５の
ぜんまいバネ８１６の一端が回漕されている。
第９図は、このバネ装置ｌ！ｔ８１５の構成を示してい
る。センサーアーム部８０ｇのペース８１０に取り付け
られたケーシング８１？内には電磁マグネット８１８が
設けられ、スライド＠８１９がマグネット８１８の軸大
内にその軸線方向に摺動可能に嵌挿されている。このス
ライド＠８１９は、鍔８２０，８２１を有し、鍔８２０
とケーシング８１フの壁間にはバネ８２８が介在し、バ
ネ８２８によりスライド軸８１９は常時は第ダ図の左方
に移動させられている。
る。センサーアーム部８０ｇのペース８１０に取り付け
られたケーシング８１？内には電磁マグネット８１８が
設けられ、スライド＠８１９がマグネット８１８の軸大
内にその軸線方向に摺動可能に嵌挿されている。このス
ライド＠８１９は、鍔８２０，８２１を有し、鍔８２０
とケーシング８１フの壁間にはバネ８２８が介在し、バ
ネ８２８によりスライド軸８１９は常時は第ダ図の左方
に移動させられている。
スライド軸８１９の端部には、クラッチ板８２４゜８２
５が回動可能に軸支され、一方のクラッチ板８２４には
ぜんまいバネ８１６の一端が同着されている。また両ク
ラッチ板８２４．８２５間にはスライド軸８１９を嵌挿
されたバネ８２６が介在し、常時これらクラッチ板８２
１４．８２６の間隔を広げ、ぜんまいバネ８１６とクラ
ッチ板８２５との接触を妨げている。さらに、スライド
軸８１９の端部にはワッシャー８２７が取付けられてい
る。
５が回動可能に軸支され、一方のクラッチ板８２４には
ぜんまいバネ８１６の一端が同着されている。また両ク
ラッチ板８２４．８２５間にはスライド軸８１９を嵌挿
されたバネ８２６が介在し、常時これらクラッチ板８２
１４．８２６の間隔を広げ、ぜんまいバネ８１６とクラ
ッチ板８２５との接触を妨げている。さらに、スライド
軸８１９の端部にはワッシャー８２７が取付けられてい
る。
第６図はセンサーヘッド部８１２の構成を示し、レール
８１１１Ｃ支持されたスライダー８５０には鉛直方向に
軸穴８５１が形成されており、との軸穴８５１にセンサ
ー軸８５２が挿入されている。
８１１１Ｃ支持されたスライダー８５０には鉛直方向に
軸穴８５１が形成されており、との軸穴８５１にセンサ
ー軸８５２が挿入されている。
センサー軸８５２と軸穴８５１との間にはセンサー軸８
５２に保持されたが−ルベアリング８５８が介在し、こ
れによりセンサー軸８５２の鉛直軸線回りの回動及び鉛
直軸一方向の移動をスムーズにしている。
５２に保持されたが−ルベアリング８５８が介在し、こ
れによりセンサー軸８５２の鉛直軸線回りの回動及び鉛
直軸一方向の移動をスムーズにしている。
センサー軸８５２の上部には断面が半月状の切欠きを有
し、この切欠き面８５ ＋ａｆｌｊｔＭフレームのレン
ズ枠形状から倣い加工された型板の形状を計測するとき
Ｋその型板側面と当接する型板フイーラー構成する。ま
た、センサー軸８５ｇの中央にはアーム８５５が取付け
られておシ、このアーム８５５の上部にはレンズ枠のヤ
ｙｙ溝と当接されるソロパン玉形状のヤｒンフイーラー
８５６が回動可能に軸支されている。そして上記切欠き
面すなわち型板当接面３５４およびヤゲンフイーラー８
５６の円周点の両方は鉛直なセンサー軸８５２の中心線
上に位置するように構成される。
し、この切欠き面８５ ＋ａｆｌｊｔＭフレームのレン
ズ枠形状から倣い加工された型板の形状を計測するとき
Ｋその型板側面と当接する型板フイーラー構成する。ま
た、センサー軸８５ｇの中央にはアーム８５５が取付け
られておシ、このアーム８５５の上部にはレンズ枠のヤ
ｙｙ溝と当接されるソロパン玉形状のヤｒンフイーラー
８５６が回動可能に軸支されている。そして上記切欠き
面すなわち型板当接面３５４およびヤゲンフイーラー８
５６の円周点の両方は鉛直なセンサー軸８５２の中心線
上に位置するように構成される。
スライダー８５０の下方には、センサー軸の鉛直軸方向
移動量すなわちＺ軸方向の移動量を計測するための例え
ばマグネスケールからなるセンサー８５８の読み城シヘ
ッド８５９が取付けられている。一方センサー軸８５２
の下端にはセンサー８５８の磁気スケール８６０が取付
けられている。
移動量すなわちＺ軸方向の移動量を計測するための例え
ばマグネスケールからなるセンサー８５８の読み城シヘ
ッド８５９が取付けられている。一方センサー軸８５２
の下端にはセンサー８５８の磁気スケール８６０が取付
けられている。
次にフレーム保持装置部１００の構成を第２図（Ａ）及
び第３図をもとＫＦｉＭ明する。同定ペース１５０の辺
１５１ａ、１５１ａを有する両側７ランジ１５１．１５
１の中央にはフレーム保持棒１５２．１５２がネジ止め
されている。この固定ペース１５０の底板１５０ａとフ
ランジ１５１０間には辺１５８ａ、１５８ａを有する可
動ペース１５８が挿入されておシ、可動ペース１５Ｂは
固定ぺ一ス１５０の底板１５０ａに取付けられた２枚の
板バネ１５４，１５４によって支持されている。
び第３図をもとＫＦｉＭ明する。同定ペース１５０の辺
１５１ａ、１５１ａを有する両側７ランジ１５１．１５
１の中央にはフレーム保持棒１５２．１５２がネジ止め
されている。この固定ペース１５０の底板１５０ａとフ
ランジ１５１０間には辺１５８ａ、１５８ａを有する可
動ペース１５８が挿入されておシ、可動ペース１５Ｂは
固定ぺ一ス１５０の底板１５０ａに取付けられた２枚の
板バネ１５４，１５４によって支持されている。
可動ベース１５８ＫＦｉコ本の平行なｆイド溝１５５．
１５５が形成され、このガイド溝１５５゜１５５にスラ
イダー１５６．１５６の失脚１５６ ａ。
１５５が形成され、このガイド溝１５５゜１５５にスラ
イダー１５６．１５６の失脚１５６ ａ。
１５６ａが係合されて、スライダー１５６．１５６が可
動ベース１５ｇ上に摺動可能に載置されている。
動ベース１５ｇ上に摺動可能に載置されている。
一方、可動ベース１５８の中央には円形開口１５７が形
成され、その内周にはリング１５８が回動自在に嵌込ま
れている。このリング１６８の上面に唸コ本のピン１５
９，１５９が植設され、このピン１５９，１５９のそれ
ぞれはスライダー１５６．１５６の段付部１５６ｂ、ｌ
５６ｂに形成されたスロツ）１５６ｃに挿入されている
。
成され、その内周にはリング１５８が回動自在に嵌込ま
れている。このリング１６８の上面に唸コ本のピン１５
９，１５９が植設され、このピン１５９，１５９のそれ
ぞれはスライダー１５６．１５６の段付部１５６ｂ、ｌ
５６ｂに形成されたスロツ）１５６ｃに挿入されている
。
さらに、スライダー１５６，１５６の中央には縦状の切
欠部１５６ｄ、１１Ｓ６ｄ形成されており、切欠部ｌ５
６ｄ、１５６ｄ内に前述のフレーム保持棒１５２，１５
２がそれぞれ挿入可能となっている。また、スライダー
１５６．１５６の上面には、スライダー操作時に操作者
が指を挿入して操作しやすくするための穴Ｍ１５６ｅ、
１５６ｅが形成されている。
欠部１５６ｄ、１１Ｓ６ｄ形成されており、切欠部ｌ５
６ｄ、１５６ｄ内に前述のフレーム保持棒１５２，１５
２がそれぞれ挿入可能となっている。また、スライダー
１５６．１５６の上面には、スライダー操作時に操作者
が指を挿入して操作しやすくするための穴Ｍ１５６ｅ、
１５６ｅが形成されている。
次に、第２図（８１、（ＣＩ及び第３図（ＡＩ 、 （
Ｂ）をもとく上述のフレーム形状計測装置の作用を説明
する。
Ｂ）をもとく上述のフレーム形状計測装置の作用を説明
する。
まず、ｆ４ａ図（ｅ） Ｋ：示すように、スライダー１
５６．１５６の穴部１５６ ｃ％ｌ ５８ ｃＫ指を挿
入しスライダー１５６．１５６の互いの間隔を十分開き
、かつ下方に押圧し、可動ベース１５８と一緒に、板バ
ネ１５４．１５４の弾発力に抗して保持棒１５ａとスラ
イダー１５６．１５６（７）段付部１５６頃１５６ｂと
の間隔を十分開ける。
５６．１５６の穴部１５６ ｃ％ｌ ５８ ｃＫ指を挿
入しスライダー１５６．１５６の互いの間隔を十分開き
、かつ下方に押圧し、可動ベース１５８と一緒に、板バ
ネ１５４．１５４の弾発力に抗して保持棒１５ａとスラ
イダー１５６．１５６（７）段付部１５６頃１５６ｂと
の間隔を十分開ける。
その後、この間隔内にメガネフレーム５０Ｇの測定した
い方のレンズ枠５０１を挿入し、レンズ枠５０１の上側
リムと下側リムがスライダー１５６゜１５６の内壁に当
接するようにスライダー１５６．１５６の間隔を狭める
。本実施例においては、スライ〆−１５６，１５６は上
述したようにリング１５８による連結構造を有している
ため、スライダー１５６，１５６の一方の移動量がその
まま他方のスライダーに等しい移動量を与える。
い方のレンズ枠５０１を挿入し、レンズ枠５０１の上側
リムと下側リムがスライダー１５６゜１５６の内壁に当
接するようにスライダー１５６．１５６の間隔を狭める
。本実施例においては、スライ〆−１５６，１５６は上
述したようにリング１５８による連結構造を有している
ため、スライダー１５６，１５６の一方の移動量がその
まま他方のスライダーに等しい移動量を与える。
次に、レンズ枠５０１の上側リムの略中央が保持棒１５
２の下方にくるようにフレームを滑シ込ませた後、スラ
イダー１５６，１５６から操作者が手を離せば、可動ベ
ース１５８は板バネ１５４．１５４の弾発力により上昇
し、レンズ枠５０１は段付部１５６ｂ、１５６ｂと保持
棒１５２．１５２とＫより挾持され、かつフレーム５０
０がレンズ枠５０１の幾何学的略中心点とフレーム保持
装蓋１００の円形−口１５？の中心点１５７ａとをほぼ
一致させるように保持される。
２の下方にくるようにフレームを滑シ込ませた後、スラ
イダー１５６，１５６から操作者が手を離せば、可動ベ
ース１５８は板バネ１５４．１５４の弾発力により上昇
し、レンズ枠５０１は段付部１５６ｂ、１５６ｂと保持
棒１５２．１５２とＫより挾持され、かつフレーム５０
０がレンズ枠５０１の幾何学的略中心点とフレーム保持
装蓋１００の円形−口１５？の中心点１５７ａとをほぼ
一致させるように保持される。
またこのときレンズ枠６０１のヤゲン溝の頂点５０１ａ
から固定ベース１５０のフランジ１５１０辺１５１ ａ
ｔでの距離ｄと可動ベース１５８の辺１５８ａまでの距
１１１１ｄは等しい値をとるように構成されている。
から固定ベース１５０のフランジ１５１０辺１５１ ａ
ｔでの距離ｄと可動ベース１５８の辺１５８ａまでの距
１１１１ｄは等しい値をとるように構成されている。
次に、このようにしてフレーム５００を保持したフレー
ム保持装置部１００を支持＠ｔｉ！２０Ｑの予め所定の
間隔に設定したハンド２１１，２１２間に挿入した後、
Ｙ軸モータ２２４を所定角度回転させる。Ｙ軸モータ２
２４の回転によりミニチアベルト２２６が駆動され、ハ
ンド２１１が左方に一定量だけ移動され、フレーム保持
装置部１００及びハンドＢｌｆ９も左方移動を誘起され
、鍔２２８がピン２２９より外れる。
ム保持装置部１００を支持＠ｔｉ！２０Ｑの予め所定の
間隔に設定したハンド２１１，２１２間に挿入した後、
Ｙ軸モータ２２４を所定角度回転させる。Ｙ軸モータ２
２４の回転によりミニチアベルト２２６が駆動され、ハ
ンド２１１が左方に一定量だけ移動され、フレーム保持
装置部１００及びハンドＢｌｆ９も左方移動を誘起され
、鍔２２８がピン２２９より外れる。
同時に、フレーム保持装ｆｆ部１００は引張シパネ２８
θにより両ハンド２１１％２１２で挾持される。このと
き、フレーム保持装置部１００の固定ベース１５０のフ
ランジ１５１の辺１５１ ａ。
θにより両ハンド２１１％２１２で挾持される。このと
き、フレーム保持装置部１００の固定ベース１５０のフ
ランジ１５１の辺１５１ ａ。
１５２ａはそれぞれハンド２１１の斜面８１５とハンド
２１ｇの斜面ｇｌ’ｙに当接され、また可動ベース１５
８の両辺１５８ａ、１５８ａはそれぞれハンド２１１の
斜面２１６とハンド２１２の斜面２１８に当接される。
２１ｇの斜面ｇｌ’ｙに当接され、また可動ベース１５
８の両辺１５８ａ、１５８ａはそれぞれハンド２１１の
斜面２１６とハンド２１２の斜面２１８に当接される。
本実施例においては、上述したようにメガネ枠５０１の
ヤｒ７＠の頂点５０１ａから辺１５１ａと辺１５８ａそ
れぞれへの距離ｄは互いに等しいため、フレーム保持装
［１ＧＧはハンド２１１゜２１２に挾持されると、レン
ズ枠５０１のヤｒン溝頂点５０１ａが両ハンドの稜線２
１９，１２０が作る基準面Ｓ上に自動的に位置される。
ヤｒ７＠の頂点５０１ａから辺１５１ａと辺１５８ａそ
れぞれへの距離ｄは互いに等しいため、フレーム保持装
［１ＧＧはハンド２１１゜２１２に挾持されると、レン
ズ枠５０１のヤｒン溝頂点５０１ａが両ハンドの稜線２
１９，１２０が作る基準面Ｓ上に自動的に位置される。
次に、ガイド軸回転モータ２０９の所定角度の回転によ
シフレーム保持装置部１００が第５図（Ａ）の二点鎖線
で示す位置へ旋回し、この基準面Ｓは計測部８００のヤ
ゲンフイーラー８５６の初期位置と同一平面で停止する
。
シフレーム保持装置部１００が第５図（Ａ）の二点鎖線
で示す位置へ旋回し、この基準面Ｓは計測部８００のヤ
ゲンフイーラー８５６の初期位置と同一平面で停止する
。
次に％Ｙ軸モータ２８４をさらに回転させフレーム保持
装置部１００を保持したハンド２１１゜２１２をＹ軸方
向に一定量移動させ、フレーム保持装置部１０００円形
開口中心点１５９ａと計測部８０００回転軸８０４中心
とを概略一致させる。
装置部１００を保持したハンド２１１゜２１２をＹ軸方
向に一定量移動させ、フレーム保持装置部１０００円形
開口中心点１５９ａと計測部８０００回転軸８０４中心
とを概略一致させる。
この時、移動の途中でヤダンフイーラー８５６はレンズ
枠５０１のヤｆｙ ＃ｌに当接する。
枠５０１のヤｆｙ ＃ｌに当接する。
ヤｒンフイ−２−８５６の初期位置は、第３図（＾）、
（Ｂ）に図示するように、センサー軸８５２の下端に植
設されたピン８５２ａがセンサーアーム部ノヘース８１
０に取付けられたハンガー８１０ａに当接することによ
り、その方向が規制されている。これＫより、Ｙ軸モー
タ２２４の回転によってメガネフレーム５００が移動す
ると、常にフイーラー８５６はヤｒン溝に入いることが
できる。
（Ｂ）に図示するように、センサー軸８５２の下端に植
設されたピン８５２ａがセンサーアーム部ノヘース８１
０に取付けられたハンガー８１０ａに当接することによ
り、その方向が規制されている。これＫより、Ｙ軸モー
タ２２４の回転によってメガネフレーム５００が移動す
ると、常にフイーラー８５６はヤｒン溝に入いることが
できる。
続いて、モータ８０１を予め定めた単位回転／譬ルス数
毎に回転させる。このときセンサーヘッド部８１２はメ
ガネフレーム５００の形状、すなわちレンズ枠５０１の
動径にしたがってレール８１１゜８１１上を移動し、そ
の移動量は磁気スケール８１４と読み堰シヘッド８１Ｂ
忙より読み取られる。
毎に回転させる。このときセンサーヘッド部８１２はメ
ガネフレーム５００の形状、すなわちレンズ枠５０１の
動径にしたがってレール８１１゜８１１上を移動し、そ
の移動量は磁気スケール８１４と読み堰シヘッド８１Ｂ
忙より読み取られる。
モータ８０１の回転角θと読み取シヘッド８１８からの
読み破り當ρとからレンズ枠形状は（ｏｎ。
読み破り當ρとからレンズ枠形状は（ｏｎ。
ｏｎ）（ｎ＝／、コ、３−−−−−・Ｎ）として計測さ
れる。
れる。
ここで、この第１回目の計測は前述した様に、第１図に
示すように、回転軸８０４の中心Ｏはレンズ枠５０１の
幾何学中心と概略一致させて測定したものである。
示すように、回転軸８０４の中心Ｏはレンズ枠５０１の
幾何学中心と概略一致させて測定したものである。
第一回目の計測は、第１回目の計測データ（ｏｎ。
０ｎ）を極座標−直交座標変換した後のデータ（Ｘｎ。
Ｙｎ）からＸ軸方向の最大値をもつ被計測点Ｂ （Ｘｂ
。
。
ｙｂ）、Ｘ軸方向で最小値をもつ被計測点ｏ （ｘｄｅ
ｙｄ）、Ｙ軸方向で最大値をもつ被測定点＾（Ｘａ 、
ｙａ ）及びＹ軸方向で最小値をもつ被計測点Ｃ（Ｘ
ｃ、ｙｃ）を選び、レンズ枠の幾何学中心００ をと
して求めた後、とのｘｏ 、 ｙａ値にもとづいてＸ軸
モータ２０６とＹ軸モータ２２４を駆動させ、ハンド２
１１，２１２で挾持されたフレーム保持装置部１００を
移動し、これＫよシレンズ枠５０１の幾何学中心００
をセンサーアーム８０２の回転中心Ｏと一致させ、再
度レンズ枠形状を計測し、幾何学中心Ｏｏ １ｃおけ
る計測値（ｏ ｐｎ 、 ｏθｎ）（ｎ＝、／：コ：３
・・・・・・Ｎ）を求める。
ｙｄ）、Ｙ軸方向で最大値をもつ被測定点＾（Ｘａ 、
ｙａ ）及びＹ軸方向で最小値をもつ被計測点Ｃ（Ｘ
ｃ、ｙｃ）を選び、レンズ枠の幾何学中心００ をと
して求めた後、とのｘｏ 、 ｙａ値にもとづいてＸ軸
モータ２０６とＹ軸モータ２２４を駆動させ、ハンド２
１１，２１２で挾持されたフレーム保持装置部１００を
移動し、これＫよシレンズ枠５０１の幾何学中心００
をセンサーアーム８０２の回転中心Ｏと一致させ、再
度レンズ枠形状を計測し、幾何学中心Ｏｏ １ｃおけ
る計測値（ｏ ｐｎ 、 ｏθｎ）（ｎ＝、／：コ：３
・・・・・・Ｎ）を求める。
上述の幾何学中心Ｏｏ に基づくレンズ枠形状の計測
時には、センサー８５８によ６ｚ軸方向のセンサーヘッ
ド８１２の移動量も同時に計測される。
時には、センサー８５８によ６ｚ軸方向のセンサーヘッ
ド８１２の移動量も同時に計測される。
これによυ結局レンズ枠形状は（０ρｎ 、 ｏｗｎ
、 Ｚｎ）（ｎ＝７、−１３−−−−−− Ｎ ）の三
次元情報が得られることとなる。
、 Ｚｎ）（ｎ＝７、−１３−−−−−− Ｎ ）の三
次元情報が得られることとなる。
以上述べたレンズ枠５０１の動粍計測において、ヤゲン
フイ−９−８５６がレンズ枠５０１から計測途中ではず
れるようなことがあると、第１図に６で示すように、そ
の動径計測データが直前の計測データから大きくはずれ
るため、予め動径変化範囲・を定めておき、その範囲か
らずれたときはセンサーアーム部８０２０回転は停止し
、同時忙第ダ図に示したバネ装置８１５の電磁マグネッ
ト８１８を励磁し、鍔８２１を引着する。
フイ−９−８５６がレンズ枠５０１から計測途中ではず
れるようなことがあると、第１図に６で示すように、そ
の動径計測データが直前の計測データから大きくはずれ
るため、予め動径変化範囲・を定めておき、その範囲か
らずれたときはセンサーアーム部８０２０回転は停止し
、同時忙第ダ図に示したバネ装置８１５の電磁マグネッ
ト８１８を励磁し、鍔８２１を引着する。
これＫよプクラッチ板８２４，８２５がぜんまいバネ８
１６を挾持し、その巻取り作用を阻止するため、センサ
ーヘッド部８１２のアーム８５５がレンズ枠に引っ掛か
り、メガネフレーム５００をきずつけることを防止でき
る。このようなフィー７−８５６のはずれがあった後は
、再度メガネフレーム５００を初期計測位置に復帰させ
、計測をしなおす。
１６を挾持し、その巻取り作用を阻止するため、センサ
ーヘッド部８１２のアーム８５５がレンズ枠に引っ掛か
り、メガネフレーム５００をきずつけることを防止でき
る。このようなフィー７−８５６のはずれがあった後は
、再度メガネフレーム５００を初期計測位置に復帰させ
、計測をしなおす。
第３図はメガネフレーム５００のレンズ枠５０１から倣
い加工によシ型取ルされた型＆５１０の形状を計測する
ための型板保持部材１１０の構成を示している。型板保
持部材１１０は、腕部１１１とこの両端部に取付けられ
た円柱状の支柱１１２、１１８及び腕部Ｉｌｌの中央に
取付けられた保持支柱１２０とから構成される。保持支
柱１２０の先端端面には中央に太いピン１１６がその両
横に細いピン１１４．１１５が柳設され、これらピン１
１４〜１１６により型板５１０が保持支柱ＩＪＯに装着
される。
い加工によシ型取ルされた型＆５１０の形状を計測する
ための型板保持部材１１０の構成を示している。型板保
持部材１１０は、腕部１１１とこの両端部に取付けられ
た円柱状の支柱１１２、１１８及び腕部Ｉｌｌの中央に
取付けられた保持支柱１２０とから構成される。保持支
柱１２０の先端端面には中央に太いピン１１６がその両
横に細いピン１１４．１１５が柳設され、これらピン１
１４〜１１６により型板５１０が保持支柱ＩＪＯに装着
される。
型板保持部材１１０は、その支柱１１ ！ 、 ｌｉＢ
がハンド２１１，２１１ａによシ挾持される。そしてハ
ンド２１１．２１２が計測位置へ下降したとき、型板５
１０はセンサー部８１２の型板当接面８５４と同一平面
内に位置され、ハンド２１１．２１２の移動により型板
当接面８５４が型板５１０の側面に当接し、センサーア
ーム８０２の回転によシその動径（ｔｐｎ ： ｔθｎ
）が測定される。
がハンド２１１，２１１ａによシ挾持される。そしてハ
ンド２１１．２１２が計測位置へ下降したとき、型板５
１０はセンサー部８１２の型板当接面８５４と同一平面
内に位置され、ハンド２１１．２１２の移動により型板
当接面８５４が型板５１０の側面に当接し、センサーア
ーム８０２の回転によシその動径（ｔｐｎ ： ｔθｎ
）が測定される。
第９図は本願のフレーム形状測定装置の演算制御（ロ）
路を示す１ａミックである。ドライバ回路６０１ないし
６０４は、それぞれＸ軸モータ５ｏｅＹ軸モータ２２４
、センサーアーム回転モータ８０１、及びガイド軸回転
モータ２０９に接続される。ドライバ６０１ないし６０
４はシーケンス制御回路６１０の制御のもとに一母ルス
発生器６０９から供給されるパルス数に応じて上記各ノ
々ルスモークの回転駆動を制御する。
路を示す１ａミックである。ドライバ回路６０１ないし
６０４は、それぞれＸ軸モータ５ｏｅＹ軸モータ２２４
、センサーアーム回転モータ８０１、及びガイド軸回転
モータ２０９に接続される。ドライバ６０１ないし６０
４はシーケンス制御回路６１０の制御のもとに一母ルス
発生器６０９から供給されるパルス数に応じて上記各ノ
々ルスモークの回転駆動を制御する。
読み取りヘッド８１Ｂの絖み取り出力はカウンタ６０５
で計数され、比較回路６０６に入力される。比較回路６
０６は基準値発生回路６０７からの動径変化範囲ａに相
当する信号とカウンタ６０５からの計数値の変化量とを
比較し、計数値が範囲・内にあるときは、カウンタ６０
３の計数値ρｎ及びノセルス発生器６０９からの・臂ル
ス数をセンサーアーム８１５１５の回転角に変換し、そ
の値θ１ とを組として（ａｎ 、 ａｎ ）をデータ
メモリ６１１へ入力し、これを記憶させる。
次に、シーケンス制御回路６１０ｔｌ”−）回路６１ａ
を演算回路６１Ｂ側へ切換え、データメモリ６１１に記
憶されている第１回目の動径情報、 （ａｎ 、 ａｎ
）に基いてレンズ枠５０１の幾何学中心Ｏｏ を演
算させ、そのデータをシーケンス制御回路６１０へ入力
させる。シーケンス制御回路６１０は演算回路６１Ｂか
らのデータに基いて前述の（１）式からＸｏ 、 ＹＯ
−を求め、ドライバ６０１゜８０１Ｃ必要な／４ルス数
を入力してモータ２０６゜２ｉＳ４を駆動し、レンズ枠
５００の中心をセンサーアーム８０２０回・転中心に一
致させる。
で計数され、比較回路６０６に入力される。比較回路６
０６は基準値発生回路６０７からの動径変化範囲ａに相
当する信号とカウンタ６０５からの計数値の変化量とを
比較し、計数値が範囲・内にあるときは、カウンタ６０
３の計数値ρｎ及びノセルス発生器６０９からの・臂ル
ス数をセンサーアーム８１５１５の回転角に変換し、そ
の値θ１ とを組として（ａｎ 、 ａｎ ）をデータ
メモリ６１１へ入力し、これを記憶させる。
次に、シーケンス制御回路６１０ｔｌ”−）回路６１ａ
を演算回路６１Ｂ側へ切換え、データメモリ６１１に記
憶されている第１回目の動径情報、 （ａｎ 、 ａｎ
）に基いてレンズ枠５０１の幾何学中心Ｏｏ を演
算させ、そのデータをシーケンス制御回路６１０へ入力
させる。シーケンス制御回路６１０は演算回路６１Ｂか
らのデータに基いて前述の（１）式からＸｏ 、 ＹＯ
−を求め、ドライバ６０１゜８０１Ｃ必要な／４ルス数
を入力してモータ２０６゜２ｉＳ４を駆動し、レンズ枠
５００の中心をセンサーアーム８０２０回・転中心に一
致させる。
これと同時にシーケンス制御回路６１０はカウンタ回路
６１５を指令し、２軸センサー８５８からのデータを計
数するよう指令する。そして再度ｚ軸方向データを含む
レンズ枠形状情報（ｏｐｎ。
６１５を指令し、２軸センサー８５８からのデータを計
数するよう指令する。そして再度ｚ軸方向データを含む
レンズ枠形状情報（ｏｐｎ。
ｏｆＩｎ 、 ２ｎ ） を計測し、このデータをデ
ータメモリ６１１に記憶させる。ここで、もしカウンタ
６０５からの計数値ρｎ またはｏｐｎが基準値発生回
路６０７からの出力されるｗＪ径変化範囲ａより大きい
ときは、比較回路６０６はその旨をシーケンス制御回路
６１０に出力し、この出力を受けた回路６１０はドライ
バ６０８を作動させてバネ装置ｘｔ８１５の電磁マグネ
ット８１８を励磁させ、フィー、Ｆ−８５６の移動を阻
止するとともに、ドライバ６０４への／母ルスの供給を
停止し、モータ８０１の回転を防止する。
ータメモリ６１１に記憶させる。ここで、もしカウンタ
６０５からの計数値ρｎ またはｏｐｎが基準値発生回
路６０７からの出力されるｗＪ径変化範囲ａより大きい
ときは、比較回路６０６はその旨をシーケンス制御回路
６１０に出力し、この出力を受けた回路６１０はドライ
バ６０８を作動させてバネ装置ｘｔ８１５の電磁マグネ
ット８１８を励磁させ、フィー、Ｆ−８５６の移動を阻
止するとともに、ドライバ６０４への／母ルスの供給を
停止し、モータ８０１の回転を防止する。
データメモリ６１１に記憶されたレンズ枠形状情ｍｌ
（ｏｐｎ ｅ ｏθｎ 、 Ｚｎ ）は必１！’に応じ
ｆ−）回路６１２の切換えによシ、例えば本出顕人がさ
きに出願した特願昭！；ｇ−２２！；／９７で開示した
デジタル玉摺機や型取機あるいはフレームの型状が股計
値通ｆｉＫ加工されているか否かを判定する判定装置等
へ供給される。
（ｏｐｎ ｅ ｏθｎ 、 Ｚｎ ）は必１！’に応じ
ｆ−）回路６１２の切換えによシ、例えば本出顕人がさ
きに出願した特願昭！；ｇ−２２！；／９７で開示した
デジタル玉摺機や型取機あるいはフレームの型状が股計
値通ｆｉＫ加工されているか否かを判定する判定装置等
へ供給される。
データメモリ６１１に記憶され九レンズ枠形状情報（ｏ
ｐｎ、ｏθｎ 、 Ｚｎ ） のｌｎ 情報からレン
ズ枠のカー１値Ｃを必豐に応じ演算回路６１Ｂで求める
ことができる。
ｐｎ、ｏθｎ 、 Ｚｎ ） のｌｎ 情報からレン
ズ枠のカー１値Ｃを必豐に応じ演算回路６１Ｂで求める
ことができる。
ｚ８ から、レンズ枠５０１のヤｒン軌跡を含む球体ｓ
ｐの曲率半径Ｒを Ｒ２＝ｐ ２＋（ｚｏ−ｚ ）２ Ａ ＾ Ｒｐ８＋（ｚｏ−ｚＢ）２＝・・・（２）から求め、ヤ
ゲンのカーブ値Ｃは求められたＲから ｎ−／ Ｃ＝ −Ｘ １０００ ・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・（３）（ただしｎは定数でｎ＝／、左
２３） として実行される。
ｐの曲率半径Ｒを Ｒ２＝ｐ ２＋（ｚｏ−ｚ ）２ Ａ ＾ Ｒｐ８＋（ｚｏ−ｚＢ）２＝・・・（２）から求め、ヤ
ゲンのカーブ値Ｃは求められたＲから ｎ−／ Ｃ＝ −Ｘ １０００ ・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・（３）（ただしｎは定数でｎ＝／、左
２３） として実行される。
なお、シーケンス制御回路はプログラムメモリ６１４に
内蔵のプログラムによって上述の計測ステップを実行す
る。
内蔵のプログラムによって上述の計測ステップを実行す
る。
メガネフレームのレンズ枠形状やレンズ枠に倣い加工さ
れた型板の形状を高精度でデジタル計測できる。％に、
計測用のセンサーアームが鉛直軸回りに回転して形状計
測をするため計測時にセンサーヘッドに重力の影響が加
わらすよシ正確な計測ができる。
れた型板の形状を高精度でデジタル計測できる。％に、
計測用のセンサーアームが鉛直軸回りに回転して形状計
測をするため計測時にセンサーヘッドに重力の影響が加
わらすよシ正確な計測ができる。
第１図は本発明に係るフレーム形状装置を示す斜視図、
第２図（＾）は、そのフレーム保持装置を示温グ図はバ
ネ部材の構造を示す縦正中断面図、第Ｓ図（Ａ）は支持
装置部とセンサー部の関係を挙す模式図であシ、第３図
（Ｂ）はその断面図、第６図はセンサー部を示す一部切
欠断面で示した正面図、第１図はレンズ枠の計測値から
その幾何学中心を求める関係を示す模式図、第Ｓ図は型
板保持部材を示す斜視図、第９図は本発明の冥施例の演
算・制御回路の！四ツ２図、第１０図（＾）及び（Ｂｌ
はレンズ枠のカーブ値Ｃの計算原理の説明図である。 １００・・−・・フレーム保持装置 １５２・・・・・・保持枠 １５６−−−−−−スライメー ′２００・・・・・・支持装置部 ２１１．２１２・・・・・・ハンド ８００・・・・・・計測部 ８０２・・曲センサーアーム部。 第６図
第２図（＾）は、そのフレーム保持装置を示温グ図はバ
ネ部材の構造を示す縦正中断面図、第Ｓ図（Ａ）は支持
装置部とセンサー部の関係を挙す模式図であシ、第３図
（Ｂ）はその断面図、第６図はセンサー部を示す一部切
欠断面で示した正面図、第１図はレンズ枠の計測値から
その幾何学中心を求める関係を示す模式図、第Ｓ図は型
板保持部材を示す斜視図、第９図は本発明の冥施例の演
算・制御回路の！四ツ２図、第１０図（＾）及び（Ｂｌ
はレンズ枠のカーブ値Ｃの計算原理の説明図である。 １００・・−・・フレーム保持装置 １５２・・・・・・保持枠 １５６−−−−−−スライメー ′２００・・・・・・支持装置部 ２１１．２１２・・・・・・ハンド ８００・・・・・・計測部 ８０２・・曲センサーアーム部。 第６図
Claims (3)
- （１）メガネフレームまたは該フレームのレンズ枠から
倣い加工された型板を保持するフレーム保持手段と、 該フレーム保持手段を所定の平面内で移動可能に支持す
る支持手段と、 前記平面と交差する鉛直軸回りに回転するセンサーアー
ム及び該センサーアームの軸上を移動するセンサー手段
とからなる計測部材とから成り、 前記センサーアームの回転角及び前記センサー手段の移
動量から前記メガネフレームのレンズ枠または前記型板
の形状を動径情報（ρｎ、θｎ）（ｎ＝１、２、３……
Ｎ）として計測することを特徴とするフレーム形状測定
装置。 - （２）前記フレーム保持手段と前記支持手段は、前記レ
ンズ枠のヤゲン軌跡上の一点または前記型板のコバ軌跡
上の一点が前記平面と一致するように前記フレームまた
は前記形板を配置可能で、かつ前記センサー手段のフイ
ーラーは前記平面内で最初に前記一点で前記ヤゲン軌跡
または前記コバ軌跡と接触するように構成されたことを
特徴とする特許請求の範囲第１項記載のフレーム形状測
定装置。 - （３）前記センサーアームの初期回転中心における動径
情報（ρｎ、θｎ）から、前記センサーアームの所定回
転中心位置を演算する演算手段と、該所定回転中心に前
記センサーアームの回転中心が位置するように、前記支
持手段または前記計測部材を移動させる移動手段とを有
することを特徴とする特許請求の範囲第１項記載のフレ
ーム形状測定装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59-281702 | 1984-12-25 | ||
| JP28170284 | 1984-12-25 |
Related Child Applications (4)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63123593A Division JP2588423B2 (ja) | 1988-05-20 | 1988-05-20 | フレーム形状測定装置 |
| JP12359288A Division JPS64513A (en) | 1988-05-20 | 1988-05-20 | Spectacle frame supporting device |
| JP63325641A Division JP2593705B2 (ja) | 1988-12-23 | 1988-12-23 | フレーム形状測定装置 |
| JP17773793A Division JP2627048B2 (ja) | 1984-12-25 | 1993-07-19 | フレーム形状測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61267732A true JPS61267732A (ja) | 1986-11-27 |
| JPH0629725B2 JPH0629725B2 (ja) | 1994-04-20 |
Family
ID=17642785
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60287491A Expired - Fee Related JPH0629725B2 (ja) | 1984-12-25 | 1985-12-20 | フレ−ム形状測定装置 |
| JP17773793A Expired - Lifetime JP2627048B2 (ja) | 1984-12-25 | 1993-07-19 | フレーム形状測定装置 |
Family Applications After (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17773793A Expired - Lifetime JP2627048B2 (ja) | 1984-12-25 | 1993-07-19 | フレーム形状測定装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0190450B2 (ja) |
| JP (2) | JPH0629725B2 (ja) |
| DE (1) | DE3578898D1 (ja) |
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62169008A (ja) * | 1986-01-21 | 1987-07-25 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | 眼鏡フレ−ムのレンズ固定用溝形状の測定装置 |
| JPS62169009A (ja) * | 1986-01-21 | 1987-07-25 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | 眼鏡フレ−ムの玉型測定装置 |
| JPS62215814A (ja) * | 1986-03-18 | 1987-09-22 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | 眼鏡フレ−ムのレンズ玉型形状測定装置 |
| WO1988004974A1 (fr) * | 1987-01-12 | 1988-07-14 | Hoya Corporation | Procede et dispositif de traitement de la circonference de verres de lunettes |
| JPH01305307A (ja) * | 1988-06-02 | 1989-12-08 | Hoya Corp | レンズ等の形状測定装置 |
| JPH01305308A (ja) * | 1988-06-02 | 1989-12-08 | Hoya Corp | 眼鏡レンズ枠形状測定装置 |
| JPH0271224A (ja) * | 1988-12-23 | 1990-03-09 | Topcon Corp | フレーム形状測定装置 |
| WO1994003777A1 (fr) * | 1992-07-31 | 1994-02-17 | Kabushiki Kaisha Topcon | Instrument pour la mesure des contours d'une monture de lunette |
| US6163967A (en) * | 1997-05-26 | 2000-12-26 | Kabushiki Kaisha Topcon | Spectacle lens shape measuring apparatus |
| US6530156B1 (en) | 1999-08-03 | 2003-03-11 | Nidek Co., Ltd. | Target-lens-shape measuring device with eyeglass-lens processing apparatus having the same |
| US6625893B2 (en) | 2000-09-14 | 2003-09-30 | Kabushiki Kaisha Topcon | Template holder |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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