JPS61284601A - 縞走査シアリング干渉測定方式におけるシア方法 - Google Patents

縞走査シアリング干渉測定方式におけるシア方法

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JPS61284601A
JPS61284601A JP60126899A JP12689985A JPS61284601A JP S61284601 A JPS61284601 A JP S61284601A JP 60126899 A JP60126899 A JP 60126899A JP 12689985 A JP12689985 A JP 12689985A JP S61284601 A JPS61284601 A JP S61284601A
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JP
Japan
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shear
light beam
light
luminous flux
incident
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Pending
Application number
JP60126899A
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English (en)
Inventor
Yoshiyuki Tsuchiya
土谷 恵進
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Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Publication date
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J9/00—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength
    • G01J9/02—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength by interferometric methods
    • G01J9/0215—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength by interferometric methods by shearing interferometric methods

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (技術分野) 本発明は、縞走査シアリング干渉測定方式におけるシア
方法に関する。
(従来技術) 物体表面から反射した光や、レンズを透過した光の波面
形状を測定して、物体の表面形状を特定したり、あるい
はレンズの性能を調べたりする方法として、縞走食シア
リング干渉測定方式が知られている。
矛6図は、従来知られている、縞走盃シアリング干渉測
定装置を要部のみ説明図的に示している。
以下、この矛6図に即して縞走査シアリング干渉測定方
式について簡単に説明し、あわせて、本発明により解決
しようとする問題点につき説明する。
矛6図の測定装置は、測定対象物100の表面形状を測
定するための装置である。
光源10(具体的には、Ne −Neレーザー等のし−
ザー元源である)から出た光はコリメーターレンズ12
により、適当な径の平行光束とされてビームスプリッタ
−14へ入射し、左方へ反射された光成分ハコンバータ
ーレンズ16により、集束性の球面波に変換されて測定
対象物100に入射し、測定対象物1000表面で反射
されると測定光となってコンバーターレンズ16’V逆
に透過し、ビームスプリッタ−14,リレーレンズ18
を介してビームスプリッタ−20に入射する。
ビームスプリッタ−20に入射した測定光は2光束に分
離され、一方はコーナーキューブプリズム24  へ入
射し、折り返されて、ビームスプリッタ−20、結像レ
ンズ26を介してエリアセンサー28上へ入射する。他
方はコーナーキー−グプリズム22に入射され、折り返
されたのち、ビームスプリッタ−20、結像レンズ26
す介してエリアセンサー28に入射する。このようにし
て、エリアセンサー28に入射する2光束は、コーナー
キューブプリズム24 0作用により、進行方向に直交
する方向へ微小距離ずれている。
さて、エリアセンサー28に入射する2光束は、いずれ
も、結はレンズ26の作用により、エリアセンサー28
上に、測定対象物100の表面の位置における測定光の
波面形状を再生する。上記2光束は互いに可干渉である
ので、互いに干渉し、エリアセンサー28上に、上記波
面形状に応じた干渉縞を生ずる。コーナーキューブプリ
ズム22を矛4図で左右方向へずらすことにより、一方
の光束の光路長を微小距離変位させ、その際の干渉縞の
変化をエリアセンサー28で読みとり、この読取データ
に所定の演算を施すことにより、上記波面形状を知るこ
とができる。
このようにして知られる波面形状は、測定対象物100
の表面形状の球面からのずれと解釈されるものであり、
従って、この波面形状を球面で補正することにより、測
定対象物100の表面形状を特定できるのである。
さて、上では、簡単に説明したが、波面、形状は。
一般には、6次元的な形状であり、実際に波面形状を算
出するには、以下の如き操作が必要である。
すなわち、測定光は、ビームスプリッタ−20cより2
元束に分離される。分離された2光束のうち、コーナー
キューブプリズム22に入射する光束は、測定の際、光
路長を変化させられるので、これを光路長変化用光束と
呼ぶ。他方、コーナーキューブプリズム24に入射する
光束は、コーナーキューブプリズム24により、光路長
変化用光束に対して横ずらしされるので、これ?シア用
光束と呼ぶ。ところで、6次元的な波面形状?知るため
には、シア用光束を、光路長変化用光束に対し、互いに
直交する2方向へ横すらし、しなければならない。この
、互いに直交する2方向を、縦方向および横方向という
。
牙6図の例でいうと、7ア用光束は、まず、コーナーキ
ューブ24によりオ6図の左右方向(仮に縦方向と呼ぶ
)へ横ずらしされ、この状態で干渉縞の変化のデータが
読とられ、つづいて、シア用光束は、矛6図の図面の直
交する方向(横方向ンへ横ずらしされ、この状態での干
渉縞の変化のデーターが読とられる。
縦方向のシアのデータ、横方向のシアのデータは、それ
ぞれ、所定の演算処理を受け、各方向の演算結果から合
成的に、5次元的な波面形状が決定されるのである。
従来、このような、縦横方向の横すらしを行なうのに、
コーナーキューブ24を、XYステージにのせ、まず原
点あわせ(ノア用光束と光路長変化用光束の光軸を合致
させた状態)を行ない、ついで縦方向の横すらしを行な
い、データ読取後、再び原点あわせを行ない、つづいて
横方向の横ずらしを行って、データを読取る、というこ
とが行なわれていた。
しかし、測定のたびに上記の如き横ずらし操作を行なう
のは面倒でもあり、XYステージの真直度や回転、ある
いは機械的な誤差のため、横すらしの精問向上が困難で
あり、測定再現性も十分でなかった。
(目  的) 本発明は、上記の如き事情Vc鑑みてなされtものであ
って、その目的とするところは、縞走査ンアリング干渉
測定方式において、縦横方向の横すらしを、極めて簡単
に、かつ精度よく行うことができ、測定再現性もよい、
新規なシア方法の提供にある。
(構  成) 以下、本発明を説明する。
本発明のシア方法においては、測定光を、光路長変化用
光束と、シア用光束とに分離したのち、少くとも、シア
用光束を、縦方向ノア用光束と、横方向シア用光束に分
離する。
縦方向シア用光束は、これを矛1の折返し反射光学系に
入射させ、入射光束に対し反射光束を、所定の縦方向・
\、所定のシア量だけ横すらしさせる。横方向シア用光
束の方は、これを才2の折返し反射光学系に入射させ、
入射光束に対し反射光束を、上記縦方向に直交する横方
向へ、所定のノア量だけ横ずらしさせる。
縦方向シア用光束の光路にはシャッターが配備され、横
方向シア用光束の光路にもシャッターが配備される。こ
れらシャッターは、上記各光路を選択的に遮断すること
ができる。
すると、シャッターによって横方向シア用光束の光路を
遮断すると、おのずから1元路長変化用光束に対し、ノ
ア用光束を縦方向へ所定のツブ量だけ横ずらしした状態
が実現し、逆に、縦方向シア用光束の光路を遮断すれば
、光路長変化用光束に対し、シア用光束を、横方向へ所
定のノア量だけ横ずらしした状態が実現する。
第1および才2の折返し反射光学系は、その位jを固定
し、常に同一のシア量が実現されるようにしてもよいし
、あるいは、これらを、それぞれ縦方向、横方向・\可
動として、ノア量を調整できるようにしてもよい。
第1、才2の折返し反射光学系としては、コーナーキュ
ーブプリズムや、これと同等の機能を有するように6枚
のミラーを組合せたもの、あるいは、直角プリズムや、
これと同等のダハミラーを用いることができる。
以下、具体的な実捲例に即して説明する。
矛1図において、符号20は、矛6図におけると同じく
、ビームスプリッタ−を示す。第1図において上下方向
を縦方向1図面に直交する方向を横方向と称する。
ビームスプリッタ−20に左方から入射する測定光りは
、ビームスプリッタ−20VCより、光路長変化用光束
LC(以下、単に光束LCという)と。
7ア用光束LOとに分離される。
光束LCは、コーナーキ二−グプリズム60に入射し、
折返し反射されて、ビームスプリッタ−20を透過し、
エリアセンサー28へ入射する。
一方、シア用光束LOは、さらに、ビームスプリッタ−
32により、縦方向ノア用光束L’l’  (以下、単
に、光束LT  という〕と、横横方向シア用光束LY
 (以下、単に光束LY  という)に分離される。
符号64は1第1の折返し反射光学系としてのコーナー
キューブ、符号66は、矛2の折返し反射光学系として
のコーナーキューブを示す。また、符号38.40はン
ヤソターを示す。
今、ンヤッタ−40を閉じて、シャッター68を開放す
ると、光束り丁は、コーナーキューブ64に入射するが
、入射光束に対するコーナー牛ユーヴ34の位置関係の
ために、反射光束LTRは、入射光束LT に対し、矛
1図で上方すなわち縦方向へ所定のシア量だけ平行的に
ずれ、ビームスプリッタ−32,20を介してエリアセ
ンサー28に入射するときは、光束LTRは、光束LC
に対し、矛1図で右方・\、上記所定のシア量だけ横ず
れした状態となる。この状態を称して、光路長変化用光
束に対し、シア用光束が、縦方向へ横ずれした状態とい
う。
この状態で、コーナーキューブ60を矛1図の上方向へ
、例えば、図示されないPZT Kより変位させ、その
際の干渉縞の変化を、エリアセンサー28で読取ること
により、縦方向シアに関するデータを得ることができる
。
また、シャッター68を閉じて、ンヤッター40す開放
すると、光束LY はコーナーキューブ66に入射する
が、入射光束LY  K対するコーナーキー−ヴ66の
位置関係により1反射元束は図面に直交する方向すなわ
ち横方向・\所定のツブ量だけずれ、ビームスプリッタ
−32,20を介してエリアセンサー28へ入射すると
きは、光束LCに対し横方向へずれている。この状態で
、コーナーキューブ60により光路長変更を行ないつつ
、干渉縞の変化をエリアセンサー28で読取ることによ
り、横方向シアに関するデータを得ることができる。
各方向シアに関するデータに所定の演算を施し、各方向
に関する演算結果を合成することにより波面形状を知る
ことができる。
第2図に示す実泡例は、実質的に3個のビームスプリッ
タ−と同じ機能を有する、複合ビームスプリッタ−42
と、4つの直角プリズム44,46.52.54、およ
び4つの7ヤツター48.50.56.58を用いる例
である。
複合ビームスプリンター42に左方から入射する測定光
は、同スプリッター42により、光路長変化用光束LC
とシア用光束LOK分離される。光路長変化用光束LC
は、さらに光束LCTとLC’Yとに分離され、シア用
光束LOの方は、さらに縦方向シア用光束LT  と横
方向シア用光束LY  に分離するO 縦方向ノアに関するデータを得るには、シャッター48
.56を開放し、シャッター50.58を閉ざす。する
と、光路長変化用光束LCは、プリズム44に入射し、
折返し反射されて、複合ビームスプリッタ−42を介し
て、エリアセンサー28に入射する。一方、光束LT 
 の方は、牙1の折返し反射光学系たるプリズム52に
入射するが、プリズム52と入射光束との位置関係によ
り、反射光は縦方向に所定のシア量だけ横ずれする。こ
れによって、光路長変化用光束に対し、シア用光束が縦
方向へ横ずれした状態が、エリアセンサー28に対して
実現される。
プリズム48を矛2図の上方向へ例えば、図示されない
PZTで段階的に変位させ、その際の干渉縞の変化をエ
リアセンサー28で読みとることにより、縦方向シアに
関するデータを得ることができる。
逆に、シャッター48.56を閉じ、シャッター50.
58を開放すれば、矛2の折返し反射光学系たるプリズ
ム540作用により、光路長変化用光束に対し、シア用
光束が、横方向へ所定のシア量だけ横ずれした状態が実
現するので、プリズム46を、矛2図の左方へ向って例
えば、図示されないPZTにより段階的に変位させて光
路長変化用光束の光路長を変化させつつ、エリアセンサ
ー28により、干渉縞の変化を読取ることによって、横
方向ノアに関するデータを得ることができる。
なお、測定の目的に応じて、ビームスプリッタ−20(
、l−1図)、複合ビームスプリッタ−42(第2図)
とエリアセンサー28との間に、結像レンズを配するこ
とができる。
(効 果) 以上、本発明によれば、縞走査シアリング干渉測定方式
における新規なシア方法を提供できる〇この方法では、
シャッターの開閉のみで、縦方向シアと横方向シアを自
動的に切換られるので、測定プロセスが簡単化され、シ
ア量も正確に定まるので測定精度が向上するとともに、
測定の再現性も向上する。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の1実砲例を説明するための図、矛2
図は、本発明の別実殉例を説明するための図、矛3図は
、従来技術とその問題点を説明するための図である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 縞走査シアリング干渉測定方式において、 測定光を、光路長変化用光束とシア用光束とに分離した
    のち、少くともシア用光束を、縦方向シア用光束と横方
    向シア用光束に分離し、 上記縦方向シア用光束を、第1の折返し反射光学系に入
    射させ、入射光束に対して反射光束を、所定の縦方向に
    、所定のシア量だけ横ずらしさせるようにし、 上記横方向シア用光束を、第2の折返し反射光学系に入
    射させ、入射光束に対して反射光束を、上記縦方向に直
    交する横方向へ、所定のシア量だけ横ずらしさせるよう
    にし、 上記縦方向および横方向シア用光束の各光路に、それぞ
    れシャッターを配し、これらシャッターにより、上記各
    光路を選択的に遮断することを、特徴とする、シア方法
    。
JP60126899A 1985-06-11 1985-06-11 縞走査シアリング干渉測定方式におけるシア方法 Pending JPS61284601A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2682761A1 (fr) * 1991-10-18 1993-04-23 Onera (Off Nat Aerospatiale) Procede et dispositif pour l'analyse d'une surface d'onde lumineuse.
CN108036737A (zh) * 2017-12-12 2018-05-15 南京信息工程大学 一种全场照明快照式检测反射面面形的装置及方法

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