JPS613059A - 超音波探傷における傷位置割出し方法 - Google Patents
超音波探傷における傷位置割出し方法Info
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- JPS613059A JPS613059A JP59124819A JP12481984A JPS613059A JP S613059 A JPS613059 A JP S613059A JP 59124819 A JP59124819 A JP 59124819A JP 12481984 A JP12481984 A JP 12481984A JP S613059 A JPS613059 A JP S613059A
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- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、被検材の溶接部に存在する欠陥の位置を探
触子の移動走査により算出する超音波探傷における傷位
置割出し方法に関する。
触子の移動走査により算出する超音波探傷における傷位
置割出し方法に関する。
一般に、超音波探傷においては、被検材の溶接部に沿っ
て探触子をジグザグに走行させ、この探触子からの信号
を探傷器にＣＲＴ表示し、（のエコー画像を熟視してエ
コーの高さとビーム路程とから欠陥を判断するとともＫ
、探触子を移動させながら傷のスタート点とエンド点會
見つけ出してメジャーで実測することにより欠陥の長さ
全割出し、さらにその傷のエコーの一番高い位Ｑｊ ｔ
−探触子の首振り動作させて見つけ出し、その時のエコ
ーの高さ七ビーム路程全読取って探触子の位ＩＲｋメジ
ャーで実測して記録し、これら記録内容の探触子の位置
、ビーム程度と被検材の板厚から計算により傷位置金側
出すことが行なわれている。
て探触子をジグザグに走行させ、この探触子からの信号
を探傷器にＣＲＴ表示し、（のエコー画像を熟視してエ
コーの高さとビーム路程とから欠陥を判断するとともＫ
、探触子を移動させながら傷のスタート点とエンド点會
見つけ出してメジャーで実測することにより欠陥の長さ
全割出し、さらにその傷のエコーの一番高い位Ｑｊ ｔ
−探触子の首振り動作させて見つけ出し、その時のエコ
ーの高さ七ビーム路程全読取って探触子の位ＩＲｋメジ
ャーで実測して記録し、これら記録内容の探触子の位置
、ビーム程度と被検材の板厚から計算により傷位置金側
出すことが行なわれている。
しかしながら、上記した従来の超音波探傷における傷位
置の割出し手段にあっては、ＣＲＴ表示される探傷器の
読取りに熟練全装し、個人的な読取り誤差が非常に大き
いことから、記録ミスや計算ミスなどを惹起し易く、こ
のため探傷精度が低いばかりでなく、作業性も悪いなど
、種々の問題があった。
置の割出し手段にあっては、ＣＲＴ表示される探傷器の
読取りに熟練全装し、個人的な読取り誤差が非常に大き
いことから、記録ミスや計算ミスなどを惹起し易く、こ
のため探傷精度が低いばかりでなく、作業性も悪いなど
、種々の問題があった。
また、従来、例えば０開昭４８−４０４９５号公報など
に開示されているように、探触子を被検材の溶接部に沿
って平行に自走させることにより、超音波探傷全自動的
に行ない、欠陥位置全測定し得るようにした走査装置が
周知でちるが、この種のものでは、走査装置全被検材上
の溶接線に沿って平行に設置する必要があり、その位置
決めに高い精度が要求されるなどの不都合がある。
に開示されているように、探触子を被検材の溶接部に沿
って平行に自走させることにより、超音波探傷全自動的
に行ない、欠陥位置全測定し得るようにした走査装置が
周知でちるが、この種のものでは、走査装置全被検材上
の溶接線に沿って平行に設置する必要があり、その位置
決めに高い精度が要求されるなどの不都合がある。
この発明は、上記の事情のもとになされたもので、その
目的とするところは、被検材の溶接部に対する探触子に
よる探傷データ及び位置データを自動的に取込み、かつ
この取込まれた探触子の各種データに基づき傷の位＃、
全自動的に演算処理して割出すとともに、被検材上への
走査装置の設置がランダムに行なえるようにした超音波
探傷における傷位置割出し方法全提供することにある。
目的とするところは、被検材の溶接部に対する探触子に
よる探傷データ及び位置データを自動的に取込み、かつ
この取込まれた探触子の各種データに基づき傷の位＃、
全自動的に演算処理して割出すとともに、被検材上への
走査装置の設置がランダムに行なえるようにした超音波
探傷における傷位置割出し方法全提供することにある。
上記した目的？達成させるために、この発明は、被検材
の溶接線に沿って設置されるＸ軸フレームの軸方向に可
動自在に設けたＹ軸フレームに、探触子を軸方向に可動
自在にかつ首振り回動自在に保持させた走査装置を備え
、該走査装置の探触子による探傷データ及び位置データ
をデータ収録装置の記憶媒体に収録するとともに、該記
憶媒体に収録したデータ情報をデータ処理装置に別途入
力してデータ解析処理を行々う超音波探傷手段において
、前記探触子の入射点を被検材の溶接線上の第１の基準
点に合せてＸ軸・Ｙ軸の位置座標及び首振シ角度がＯの
スケール基準点として取込み、次いで該第１の基準点か
ら前記探触子の入射点を溶接線−ヒの任意の点である第
２の基準点に合せてそのＸ軸・Ｙ軸の位置座標を取込ん
で前記第１の基準点の位置座標とにより走査装置自体の
溶接線に対する設置角度を求め、該走査装置の設置角度
に基づいて欠陥検出位置における溶接線全基準にした探
触子の入射点の位置座標を求めるとともに、予め設定さ
れた探触子の斜角と傷１でのビーム路程により探触子か
ら傷位置までの平面上の直線距離を求め、これら探触子
の入射点の溶接線を基準とした位置座標１首振り角度及
び傷位置までの平面−ヒのｗ線距離から偏位［１割出し
得るようにしてなる構成を有し、これによって被検材の
＃接部の傷位置全自動的に割出す仁とが可能になり、探
傷精度及び作業能率を高めるととも罠、走査装置が被検
材の溶接線に対して非平行なうンダムな状態に設置可能
になるといった大なる効果全期待することができるもの
である。
の溶接線に沿って設置されるＸ軸フレームの軸方向に可
動自在に設けたＹ軸フレームに、探触子を軸方向に可動
自在にかつ首振り回動自在に保持させた走査装置を備え
、該走査装置の探触子による探傷データ及び位置データ
をデータ収録装置の記憶媒体に収録するとともに、該記
憶媒体に収録したデータ情報をデータ処理装置に別途入
力してデータ解析処理を行々う超音波探傷手段において
、前記探触子の入射点を被検材の溶接線上の第１の基準
点に合せてＸ軸・Ｙ軸の位置座標及び首振シ角度がＯの
スケール基準点として取込み、次いで該第１の基準点か
ら前記探触子の入射点を溶接線−ヒの任意の点である第
２の基準点に合せてそのＸ軸・Ｙ軸の位置座標を取込ん
で前記第１の基準点の位置座標とにより走査装置自体の
溶接線に対する設置角度を求め、該走査装置の設置角度
に基づいて欠陥検出位置における溶接線全基準にした探
触子の入射点の位置座標を求めるとともに、予め設定さ
れた探触子の斜角と傷１でのビーム路程により探触子か
ら傷位置までの平面上の直線距離を求め、これら探触子
の入射点の溶接線を基準とした位置座標１首振り角度及
び傷位置までの平面−ヒのｗ線距離から偏位［１割出し
得るようにしてなる構成を有し、これによって被検材の
＃接部の傷位置全自動的に割出す仁とが可能になり、探
傷精度及び作業能率を高めるととも罠、走査装置が被検
材の溶接線に対して非平行なうンダムな状態に設置可能
になるといった大なる効果全期待することができるもの
である。
以下、この発明全図示の一実施例に基づいて詳細に説明
する。
する。
第１図に示すように、図中１は超音波探傷データ収納装
置で、後述する走査装置による被検材Ｇ上の探傷信号に
基づいて超音波探傷器２にＣＲＴ表示すると同時に出力
されるビーム路程及びエコー高さ等の探傷データと、探
触子のＸ軸・Ｙ軸及び首振り角度等の位置データを取込
み、これら各種データをカセットテープまたはフロッピ
ーデイスフ等の記憶媒体に収録し得るようになっている
とともに、この記憶媒体に収録された探傷データ及び位
置データをデータ処理装置３に入力し解析して傷の位置
あるいは等数分類等を自動的に行ないプリントアウトし
得るように構成されている。
置で、後述する走査装置による被検材Ｇ上の探傷信号に
基づいて超音波探傷器２にＣＲＴ表示すると同時に出力
されるビーム路程及びエコー高さ等の探傷データと、探
触子のＸ軸・Ｙ軸及び首振り角度等の位置データを取込
み、これら各種データをカセットテープまたはフロッピ
ーデイスフ等の記憶媒体に収録し得るようになっている
とともに、この記憶媒体に収録された探傷データ及び位
置データをデータ処理装置３に入力し解析して傷の位置
あるいは等数分類等を自動的に行ないプリントアウトし
得るように構成されている。
上記した走査装置４は、第２図に示すように、被検材Ｇ
の溶接線Ｔ’−Ｔに沿う左右方向に設置されるＸ軸フレ
ーム５と、このＸ軸フレーム５の軸方向に沿って設けた
ガイドレール６に直りするように連結されたＹ軸フレー
ム７とからなり、このＹ軸フレーム７の基端部７ａＶｉ
、、前記ガイドレール６に係合する案内ローラ８，８を
介して左右可動自在になっている。そして、前記Ｙ軸フ
レーム７には、スライドレール９が軸方向に沿う前後方
向に配設され、このスライドレール９には、スライダ１
０に固定した支持アーム１１を介して探触子用ホルダー
１２が可動自在に取付けられているとともに、前記支持
アーム１１は、被検材Ｇの鉛直面に対して水平回動自在
な第１のリンク１１０に前記ホルダー１２を左右揺動自
在に軸支させ、かつこの第１のリンク１１０に、前記ス
ライドレール９の中心軸廻りに上下回動自在な第２のリ
ンク１１１に軸着してなる構成を有し、これによって前
記ホルダー１２は、前後左右及び上下方向に揺動自在に
なっている。さらに、前記ホルダー１２には、探触子１
３が着脱自在に装着され、との探触子１３は操作杆１４
を介して前記被検材Ｇの探傷面に対して水平方向に首振
り回動自在になっている。
の溶接線Ｔ’−Ｔに沿う左右方向に設置されるＸ軸フレ
ーム５と、このＸ軸フレーム５の軸方向に沿って設けた
ガイドレール６に直りするように連結されたＹ軸フレー
ム７とからなり、このＹ軸フレーム７の基端部７ａＶｉ
、、前記ガイドレール６に係合する案内ローラ８，８を
介して左右可動自在になっている。そして、前記Ｙ軸フ
レーム７には、スライドレール９が軸方向に沿う前後方
向に配設され、このスライドレール９には、スライダ１
０に固定した支持アーム１１を介して探触子用ホルダー
１２が可動自在に取付けられているとともに、前記支持
アーム１１は、被検材Ｇの鉛直面に対して水平回動自在
な第１のリンク１１０に前記ホルダー１２を左右揺動自
在に軸支させ、かつこの第１のリンク１１０に、前記ス
ライドレール９の中心軸廻りに上下回動自在な第２のリ
ンク１１１に軸着してなる構成を有し、これによって前
記ホルダー１２は、前後左右及び上下方向に揺動自在に
なっている。さらに、前記ホルダー１２には、探触子１
３が着脱自在に装着され、との探触子１３は操作杆１４
を介して前記被検材Ｇの探傷面に対して水平方向に首振
り回動自在になっている。
すなわち、上記走査装置４は、Ｘ軸フレーム５に対する
Ｙ軸フレーム７の可動位置、Ｙ軸フレーム７に対する探
触子１３の可動位置及び探触子１３の首振り角度θとい
った位置データや被検材Ｇの欠陥検出位置におけるビー
ム路程Ｗ及びエコー高さＥといった探傷データをデータ
収録装置１に取込むための前後走査、左右走査１首振り
走査、振子走査、ジグザグ走査、平行走査及び斜め平行
走査のすべて全行なうことを可能にしてなるものである
。
Ｙ軸フレーム７の可動位置、Ｙ軸フレーム７に対する探
触子１３の可動位置及び探触子１３の首振り角度θとい
った位置データや被検材Ｇの欠陥検出位置におけるビー
ム路程Ｗ及びエコー高さＥといった探傷データをデータ
収録装置１に取込むための前後走査、左右走査１首振り
走査、振子走査、ジグザグ走査、平行走査及び斜め平行
走査のすべて全行なうことを可能にしてなるものである
。
次に、上記走査装置４による探傷走査手段及び傷位置割
出し手段について、第３図から第６図を参照しながら具
体的に説明フる。
出し手段について、第３図から第６図を参照しながら具
体的に説明フる。
咬ず、上記ホルダー１２の操作杆１４の回転軸に探触子
１３の入射点Ｐ′ｌ！ニ一致させて装着した走査装置４
を、第３図に示すように、被検材Ｇ上に設置する。この
とき、Ｘ軸フレーム５は、被検材Ｇの溶接線Ｔ−Ｔに対
して非平行なうンダムな状態に位置決めされる。次に、
第４図にフローチャートで示すように、探触子１３の入
射点Ｐ’に被検材Ｇの溶接線Ｔ−Ｔ上の第１の基準点と
なるＡ点に合せ、かつこのときの首４辰り角度θを０度
の目盛にセットした後（ＳＴＩ）、Ａ点のＹ軸・Ｙ＠の
位置座標ｆｃＡ（０，０）にしてスケール、＆単点をセ
ットする（Ｓｒ２）。次いで、探触子１３０入射点Ｐ全
溶接線Ｔ−Ｔ上の任意の点Ｂ、つまりＸ軸フレーム５の
長さ範囲の適宜の点である第２の基準点に合せて（Ｓｒ
３）、そのＹ軸・Ｙ軸の位１斤座標（ＸＢ、ＹＢ）を取
込んだ後（Ｓｒ１）、探触子１３を手動によりジグザグ
走査して探傷を開始する（Ｓｒ１）。
１３の入射点Ｐ′ｌ！ニ一致させて装着した走査装置４
を、第３図に示すように、被検材Ｇ上に設置する。この
とき、Ｘ軸フレーム５は、被検材Ｇの溶接線Ｔ−Ｔに対
して非平行なうンダムな状態に位置決めされる。次に、
第４図にフローチャートで示すように、探触子１３の入
射点Ｐ’に被検材Ｇの溶接線Ｔ−Ｔ上の第１の基準点と
なるＡ点に合せ、かつこのときの首４辰り角度θを０度
の目盛にセットした後（ＳＴＩ）、Ａ点のＹ軸・Ｙ＠の
位置座標ｆｃＡ（０，０）にしてスケール、＆単点をセ
ットする（Ｓｒ２）。次いで、探触子１３０入射点Ｐ全
溶接線Ｔ−Ｔ上の任意の点Ｂ、つまりＸ軸フレーム５の
長さ範囲の適宜の点である第２の基準点に合せて（Ｓｒ
３）、そのＹ軸・Ｙ軸の位１斤座標（ＸＢ、ＹＢ）を取
込んだ後（Ｓｒ１）、探触子１３を手動によりジグザグ
走査して探傷を開始する（Ｓｒ１）。
仁のとき、超音波探傷器２から探触子１３全介して被検
材Ｇの内部へ超音波パルスが所定の斜角（屈折角）φで
発射され（Ｓｒ１）、被検材Ｇの溶接部内の欠陥（ｗｊ
）に当った超音波エコー信号が探触子１３全介して電気
信号に変換されて超音波探傷器２に返ってくると（Ｓｒ
１）、超音波探傷器２でその傷の解析をしてＣＲＴ表示
し、データ収録装を道１にそのときのビーム路程Ｗ及び
エコー高さＥといった探傷データ全出力しく５Ｔ８）、
その探傷データが有効傷であるか否かの判断全行なう（
Ｓｒ９）。
材Ｇの内部へ超音波パルスが所定の斜角（屈折角）φで
発射され（Ｓｒ１）、被検材Ｇの溶接部内の欠陥（ｗｊ
）に当った超音波エコー信号が探触子１３全介して電気
信号に変換されて超音波探傷器２に返ってくると（Ｓｒ
１）、超音波探傷器２でその傷の解析をしてＣＲＴ表示
し、データ収録装を道１にそのときのビーム路程Ｗ及び
エコー高さＥといった探傷データ全出力しく５Ｔ８）、
その探傷データが有効傷であるか否かの判断全行なう（
Ｓｒ９）。
そして、前記傷が有効傷でなければＳｒ１の処理に戻り
、前記した各動作金縁返し行なう一方、有効傷と判断さ
れた場合には、その探傷データＷ・Ｅと走査装置４にお
けるＸ軸フレーム５及びＹ軸フレーム７上のＹ軸・Ｙ軸
の位置座標Ｎ （Ｘｏ 、Ｙｏ ）及び首振り角度θと
いった位置データｆ ｆ−夕収録装置１に取込む（ＳＴ
ＩＯ）。次いで、このような被検材Ｇの溶接部全域に亘
って行なわれたか否かを判断しく５ＴＩＩ）、終了して
いなければＳｒ１の処理に戻り、終了していればデータ
収録装置】内に取込まれた探傷データ及び位置データを
カセットテープあるいはフロッピディスタ等の記憶媒体
に収録する（ＳＴ１２）。
、前記した各動作金縁返し行なう一方、有効傷と判断さ
れた場合には、その探傷データＷ・Ｅと走査装置４にお
けるＸ軸フレーム５及びＹ軸フレーム７上のＹ軸・Ｙ軸
の位置座標Ｎ （Ｘｏ 、Ｙｏ ）及び首振り角度θと
いった位置データｆ ｆ−夕収録装置１に取込む（ＳＴ
ＩＯ）。次いで、このような被検材Ｇの溶接部全域に亘
って行なわれたか否かを判断しく５ＴＩＩ）、終了して
いなければＳｒ１の処理に戻り、終了していればデータ
収録装置】内に取込まれた探傷データ及び位置データを
カセットテープあるいはフロッピディスタ等の記憶媒体
に収録する（ＳＴ１２）。
このように探傷現場において収録さＪした被検材Ｇの探
傷データ及び位置データ鉱、データ処理装置３に別途入
力され解析処理が行なわれるもので、傷位置の割出しに
ついては、第５図にフローチャートで示すように、まず
探傷データによるビーム路程Ｗと、予めインプットされ
た探触子１３の斜角φモニタにより、第６図に示すよう
に、探触子１３の入射点Ｐから偏位［Ｑ−１での平面上
の直線距離りを求め（ＳＴ１３）； Ｌ ＝Ｗｏ ｓｉｎφ −〕 Ｗ０ °ビーム路程、
φ、斜角ここで、 Ｗ、＝ＷｘＶ／２ Ｗ：５Ｔ
１０で読込１れたビーム路程〔μｓ〕 ■＝音速（ｍ／ｓ） 次いで、Ａ点・Ｂ点における位置データにより走査装ｆ
ｔ４の被検材Ｇ上への溶接線Ｔ−Ｔに対する設置角度α
を求め（ＳＴ１４）； に＝／７７０］ζ；’ Ｋ：Ａ点・Ｂ点間の距離さら
に、この走査装置ぺ１の設置角度αと位置データＮ（Ｘ
、 、Ｙ、 ）ＶＣより溶接＠Ｔ −Ｔ（５基準とした
探触子１３の入射点Ｐの位置座標Ｎ（ＸＩ 、Ｙｌ ）
ｗ求めた後（ＳｒＩ２）； Ｙｌ ＝ （Ｙｏ −Ｘｏ ・ｔａｎａ ） −ｓａこ
れら探触子１３の首振り角度θと、溶接線を基準とした
位置座標Ｎ（Ｘ、 、Ｙ、 Ｊと平面上の直線距離りと
から下記の式を満たすような傷の位１ｉ１Ｑ（Ｘ、Ｙ）
を求め（ＳＴ１６）、 Ｙｌ ＝ （Ｙｏ −Ｘｏ ・―α）・■α−Ｌ■（θ
−α） ゛これをプリントアウトしてなるもので
ある。
傷データ及び位置データ鉱、データ処理装置３に別途入
力され解析処理が行なわれるもので、傷位置の割出しに
ついては、第５図にフローチャートで示すように、まず
探傷データによるビーム路程Ｗと、予めインプットされ
た探触子１３の斜角φモニタにより、第６図に示すよう
に、探触子１３の入射点Ｐから偏位［Ｑ−１での平面上
の直線距離りを求め（ＳＴ１３）； Ｌ ＝Ｗｏ ｓｉｎφ −〕 Ｗ０ °ビーム路程、
φ、斜角ここで、 Ｗ、＝ＷｘＶ／２ Ｗ：５Ｔ
１０で読込１れたビーム路程〔μｓ〕 ■＝音速（ｍ／ｓ） 次いで、Ａ点・Ｂ点における位置データにより走査装ｆ
ｔ４の被検材Ｇ上への溶接線Ｔ−Ｔに対する設置角度α
を求め（ＳＴ１４）； に＝／７７０］ζ；’ Ｋ：Ａ点・Ｂ点間の距離さら
に、この走査装置ぺ１の設置角度αと位置データＮ（Ｘ
、 、Ｙ、 ）ＶＣより溶接＠Ｔ −Ｔ（５基準とした
探触子１３の入射点Ｐの位置座標Ｎ（ＸＩ 、Ｙｌ ）
ｗ求めた後（ＳｒＩ２）； Ｙｌ ＝ （Ｙｏ −Ｘｏ ・ｔａｎａ ） −ｓａこ
れら探触子１３の首振り角度θと、溶接線を基準とした
位置座標Ｎ（Ｘ、 、Ｙ、 Ｊと平面上の直線距離りと
から下記の式を満たすような傷の位１ｉ１Ｑ（Ｘ、Ｙ）
を求め（ＳＴ１６）、 Ｙｌ ＝ （Ｙｏ −Ｘｏ ・―α）・■α−Ｌ■（θ
−α） ゛これをプリントアウトしてなるもので
ある。
ところで、傷の深さｄｆ求めるにおいては、第６図に示
すように、５Ｔ１３で求めた探触子１３の入射点Ｐから
傷位置Ｑ１での平面上の直線距離りの他に、スキップ点
までの距離Ｌｌを求め；Ｌ、＝ｔ、Ｘ−φ ｔ、：被検材の板厚 φ ：探触子の斜角（屈折角） さらに傷位置までのスキップ倍数Ｓ全求め；５＝ＩＮＴ
（Ｌ／Ｌ＋ ） このスキップ倍数Ｓの値が奇数の場合には、ｄ−ｔ、（
Ｓ＋１）−Ｗ（１（２）φ またスキップ倍数Ｓが偶数の場合には ｄ＝Ｗｏａｍφ−ｔ、−８ の式から求めてなるものである。
すように、５Ｔ１３で求めた探触子１３の入射点Ｐから
傷位置Ｑ１での平面上の直線距離りの他に、スキップ点
までの距離Ｌｌを求め；Ｌ、＝ｔ、Ｘ−φ ｔ、：被検材の板厚 φ ：探触子の斜角（屈折角） さらに傷位置までのスキップ倍数Ｓ全求め；５＝ＩＮＴ
（Ｌ／Ｌ＋ ） このスキップ倍数Ｓの値が奇数の場合には、ｄ−ｔ、（
Ｓ＋１）−Ｗ（１（２）φ またスキップ倍数Ｓが偶数の場合には ｄ＝Ｗｏａｍφ−ｔ、−８ の式から求めてなるものである。
したがって、上記したこの発明に係る構成によれば、Ａ
点・Ｂ点からなる溶接線Ｔ−Ｔ上の２点の基準点の設定
によって走査装置４の設置角度αを算出し、この設置角
度αに基づいて溶接線Ｔ−Ｔｔ−基準とした位置座標に
変換してなることから、走査装置４の被検材Ｇ上への設
置がランダムに行なえ、設置作業が簡便にでき、またり
動部は直線的な走行動作を採用していることから、三角
関数による計算式も簡単になり、演算処理が迅速にでき
るなどの作用・効果を奏するものである。
点・Ｂ点からなる溶接線Ｔ−Ｔ上の２点の基準点の設定
によって走査装置４の設置角度αを算出し、この設置角
度αに基づいて溶接線Ｔ−Ｔｔ−基準とした位置座標に
変換してなることから、走査装置４の被検材Ｇ上への設
置がランダムに行なえ、設置作業が簡便にでき、またり
動部は直線的な走行動作を採用していることから、三角
関数による計算式も簡単になり、演算処理が迅速にでき
るなどの作用・効果を奏するものである。
第１図はこの発明に係る走査装置を用いた超音波探傷ノ
ステムの全体構成を示す説明図、第２図は走査装置の全
体図、第３図は走査装置の被検材上への設置状態及び探
触子の探傷位置座標を示す説明図、第４図は探傷動作を
示すフローチャート、第５図は傷位置の割出し手段を示
すフローチャート、第６図は被検材上の探触子の入射点
と傷位置との関係を示す説明図である。 １・・データ収録装置、２・・・超音波探傷器、３・・
・データ処理装置、４・・・走査装置、５・・・Ｘ軸フ
レーム、７・・・Ｙ軸フレーム、１３・・探触子、Ｇ・
・・被検材、Ｔ−Ｔ・・・溶接線、Ａ・・・第１の基準
点、Ｂ・・・第２の基準点、Ｐ・・・入射点、Ｑ・・・
傷位置、（Ｘｏ 、Ｙｏ ）・・走査装置を基準とした
探触子の位置座標、（Ｘｌ。 Ｙｌ ）・・・溶接線を基準とした探触子の位置座標、
α・・・溶接線に対する走査装置の設置角度、θ・・・
探触子の首振り角度、φ・・探触子の斜角（屈折角）、
Ｌ・・探触子の入射点から傷までの平面上の直線距離、
ステムの全体構成を示す説明図、第２図は走査装置の全
体図、第３図は走査装置の被検材上への設置状態及び探
触子の探傷位置座標を示す説明図、第４図は探傷動作を
示すフローチャート、第５図は傷位置の割出し手段を示
すフローチャート、第６図は被検材上の探触子の入射点
と傷位置との関係を示す説明図である。 １・・データ収録装置、２・・・超音波探傷器、３・・
・データ処理装置、４・・・走査装置、５・・・Ｘ軸フ
レーム、７・・・Ｙ軸フレーム、１３・・探触子、Ｇ・
・・被検材、Ｔ−Ｔ・・・溶接線、Ａ・・・第１の基準
点、Ｂ・・・第２の基準点、Ｐ・・・入射点、Ｑ・・・
傷位置、（Ｘｏ 、Ｙｏ ）・・走査装置を基準とした
探触子の位置座標、（Ｘｌ。 Ｙｌ ）・・・溶接線を基準とした探触子の位置座標、
α・・・溶接線に対する走査装置の設置角度、θ・・・
探触子の首振り角度、φ・・探触子の斜角（屈折角）、
Ｌ・・探触子の入射点から傷までの平面上の直線距離、
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 被検材の溶接線に沿って設置されるＸ軸フレームの軸方
向に可動自在に設けたＹ軸フレームに、探触子を軸方向
に可動自在にかつ首振り回動自在に保持させた走査装置
を備え、該走査装置の探触子による探傷データ及び位置
データをデータ収録装置の記憶媒体に収録するとともに
、該記憶媒体に収録したデータ情報をデータ処理装置に
別途入力してデータ分析処理を行なう超音波探傷手段に
おいて、前記探触子の入射点Ｐを被検材の溶接線上の第
１の基準点Ａに合せてＸ軸・Ｙ軸の位置座標及び首振り
角度θが０のスケール基準点として取込み、次いで該第
１の基準点Ａから前記探触子の入射点を溶接線上の任意
の点である第２の基準点Ｂに合せてそのＸ軸・Ｙ軸の位
置座標を取込んで前記第１の基準点Ａの位置座標とによ
り走査装置自体の溶接線に対する設置角度αを求め、該
走査装置の設置角度αに基づいて欠陥検出位置における
溶接線を基準にした探触子の入射点の位置座標Ｎ（Ｘ＿
１、Ｙ＿１）を求めるとともに、予め設定された探触子
の斜角φと傷までのビーム路程Ｗにより探触子の入射点
から傷位置Ｑまでの平面上の直接距離Ｌを求めて該傷位
置Ｑの溶接線に対する位置座標（Ｘ＿２、Ｙ＿２）が下
記の式を満足するようにしたことを特徴とする超音波探
傷における傷位置割出し方法； Ｘ＿２＝Ｌｓｉｎ（θ−α）＋（Ｙ＿０−Ｘ＿０・ｔａ
ｎα）・ｓｉｎα＋Ｘ＿０／ｃｏｓα Ｙ＿２＝（Ｙ＿０−Ｘ＿０−ｔａｎα）・ｃｏｓα−Ｌ
ｃｏｓ（θ−α） 但し、（Ｘ＿０、Ｙ＿０）：傷位置での探触子の走査装
置を基準としたＸ軸・Ｙ軸の位置座標
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59124819A JPS613059A (ja) | 1984-06-18 | 1984-06-18 | 超音波探傷における傷位置割出し方法 |
| US07/021,576 US4742713A (en) | 1984-06-01 | 1987-03-02 | Ultrasonic flaw detecting system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59124819A JPS613059A (ja) | 1984-06-18 | 1984-06-18 | 超音波探傷における傷位置割出し方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS613059A true JPS613059A (ja) | 1986-01-09 |
Family
ID=14894892
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59124819A Pending JPS613059A (ja) | 1984-06-01 | 1984-06-18 | 超音波探傷における傷位置割出し方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS613059A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011513719A (ja) * | 2008-02-26 | 2011-04-28 | シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト | 超音波による検査対象物の非破壊材料検査装置 |
-
1984
- 1984-06-18 JP JP59124819A patent/JPS613059A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011513719A (ja) * | 2008-02-26 | 2011-04-28 | シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト | 超音波による検査対象物の非破壊材料検査装置 |
| US8418562B2 (en) | 2008-02-26 | 2013-04-16 | Siemens Aktiengesellschaft | Device for nondestructive material testing of a test subject using ultrasonic waves |
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