JPS613262A - 中間記憶システム - Google Patents

中間記憶システム

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JPS613262A
JPS613262A JP60102785A JP10278585A JPS613262A JP S613262 A JPS613262 A JP S613262A JP 60102785 A JP60102785 A JP 60102785A JP 10278585 A JP10278585 A JP 10278585A JP S613262 A JPS613262 A JP S613262A
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Philips Gloeilampenfabrieken NV
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    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
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    • G11INFORMATION STORAGE
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  • Time-Division Multiplex Systems (AREA)
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  • Communication Control (AREA)
  • Data Exchanges In Wide-Area Networks (AREA)
  • Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、n個(n>1)の直列−並列−直列ディジタ
ルユニットを具え、各ユニットはに個(k>1)の素子
を含み、各ユニットにおいてはそのに個の素子のうちの
r個(1≦r≦k)が不良であり、且つ各ディジタルユ
ニットは更に各チャンネルがディジクルピットのデータ
ストリームを直列転送する少くともp個(p>1)のチ
ャンネルを含むバスに接続される直列入力端子及び直列
出力端子を具えている少くとも1つの記憶機能を持つ直
列−並列−直列ディジタルシステムに関するものである
斯る直列−並列−直列ディジタルシステムは、rl、B
、M、T、D、B J Vol、22.No、1.19
79年6月。
PP、 138〜139に発表されているエフ・ジエー
・アイケルマン ジュニアの論文” Multiple
xedpartial−good chip sche
me emyploying defectivelo
ops as 5electors for all−
good chips ″により既知である。これに開
示されている直列−並列−直列ディジタルシステムは直
列−並列−直列シフトレジスタシステムであり、各メモ
リユニットは少くとも1個の不良メモリ素子を含んでい
る。
従って、情報を前記不良メモリ素子に信顧可能に記憶す
ることは不可能である。しかし、信顧できる情報記憶を
可能にするために、このシステムは不良でないメモリ素
子のみを含む追加のメモリユニットを含んでいる。そし
て斯る不良メモリ素子がアドレスされたとき、当該アド
レスは追加のメモリユニットに対するアドレスに変換さ
れて情報を追加のメモリユニットから又はへと読出す又
は書込むようにしている。
しかし、所定の環境又は所定の用途においてはシステム
の全容量が必要とされるとは限らない。
これは例えば全チャンネルが使用されない場合(例えば
ディジクルプレビジョンでは8個のバスチャンネルのう
ちの7個のみが使用される)である。更に、バスの所定
のチャンネルを経て転送されるワードのみに演算を行な
う必要があるだけのこともあり、また情報の供給にはシ
ステムの容量の一部を必要とするだけであることもある
。更に、例えば多ビツトワードを使用するときは不良素
子により信頼不能がその最下位ビットに生じ、当該ワー
ドの以後の処理に悪影響を及ぼさないこともある。この
タイプの環境及び用途に対しては1個、時には2個以上
の不良素子を含み全素子が良好なディジタルユニットよ
りも安価なディジタルユニットのみを使用するのが好適
である。
本発明の目的は、1個以上の不良素子を含むユニットを
使用し、システムの出力端子におけるデータストリーム
は不良素子の存在により軽微な影響を受けるだけとし、
不良素子により信頼不能となるデータストリームの部分
はバス上の精確に定めた位置に位置させるようにした直
列−並列−直列ディジタルシステムを提供することにあ
る。
この目的を達成するために、本発明直列−並列−直列デ
ィジタルシステムにおいては、各ディジタルユニットは
少くとも(p−r)個(1≦p−r<k)個の不良でな
い素子を具え、各ディジタルユニットの直列入力端子は
前記バスのp個のチャンネルの各々に接続されるp個の
並列接続点を具える各別のデータトラフィック制御シス
テムの各別の直列接続点に接続し、このデータトラフィ
ック制御システムは前記バスからのデータストリームを
、所定期間内に各チャンネルから複数ビットを順次フェ
ッチして再分配すると共に関連するディジタルユニット
と共働して(p−r)個の異なるチャンネルからのビッ
トを<p−r>個の不良でない素子に導くよう構成して
あり、各ディジタルユニットの直列出力端子は、前記直
列出力端子のビットを前記ノ\ス上のビットのパターン
に略々対応するパターンに再配列して前記直列出力端子
のデータストリームを再分配するようにも構成された前
記各別のデータトラフインク制御システムの各別の直列
接続点に接続してあることを特徴とする。
このようにデータトラフィック制御システムにより行な
われるバスからのデータストリームの再分配により、r
個のチャンネルを経て転送される種々のビットは種々の
ディジタルユニットに分布しているr個の不良素子に導
かれ、他の(p−r)個のチャンネルを経て転送される
ビットは各ディジタルユニットの(p−r)個の不良で
ない素子に導かれることになる。データトラフィック制
御システムは、更に、ディジタルユニットの直列出力端
子のデータストリームを再編成して不良素子に導かれた
ビットが常に同じチャンネルに供給されるようにする。
従って、本発明システムはハス内のチャンネル位置が精
密にわかっているp−r個のチャンネルに対して信頼可
能に使用することができる。
本発明直列−並列−直列ディジタルシステムの好適例に
おいては、各データトラフィック制御システムは第1及
び第2のデータトラフィック制御サブシステムを具え、
各サブシステムはそれぞれ1個の直列接続点とp個の並
列接続点を具え、第1のデータトラフィック制御サブシ
ステムの直列接続点を関連するディジタルユニットの直
列入力端子に接続し、第2のデータトラフィック制御サ
ブシステムの直列接続点を関連するディジタルユニット
の直列出力端子に接続してあることを特徴とする。第1
及び第2のデータニドラフインク制御サブシステムを使
用すると、ディジタルユニットの直列入力端子及び直列
出力端子におけるデータトラフィックがバスのアクセス
と無関係になるためシステムのデータビットの流れを最
適にすることができる。
本発明直列−並列−直列ディジタルシステムの他の好適
例においては、第1及び第2のデータトラフィックサブ
システムはそれぞれ第1及び第2スイッチングシステム
を具え、各スイッチングシステムは順次に駆動されてp
個の並列接続点の各々と1個の直列接続点との間の接続
を順次設定するp個のスイッチング位置を具え、n個の
ディジタルユニットは第1スイッチングシステムの順次
のスイッチング位置に対して、不良素子がr個の同じチ
ャンネルからのビットを受信するよう位置させてあるこ
とを特徴とする。このシステムでは不良素子が、これら
にデータビットが供給される順序に対して種々の位置に
あってもよい。しかし、ディジクルユニットはそれらの
各別のスイッチングシステムのスイッチング位置に従っ
てシステム内に含めることが重要である。
本発明直列−並列−直列ディジタルシステムの更に他の
好適例においては、各ディジタルユニソ1−の直列入力
端子に供給されるデータストリームは当該ユニットの種
々の素子に規定の順序で分配することができ、各ディジ
タルユニット内の(p−r)個の不良でない素子は前記
順序に対して同一の位置に位置しており、第1及び第2
のデータトラフィック制御サブシステムは順次に駆動さ
れてp個め並列接続点の各々と1個の入力接続点との間
の接続を順次設定するp個のスイッチング位置をそれぞ
れ具える第1及び第2のスイッチングシステムを具え、
且つ各ディジタルユニットと直列に、前記第1及び第2
スイッチングシステム間においてデータストリームを少
くとも前記所定の期間だけ遅延する少くとも1個の遅延
素子を接続してあることを特徴とする。しかし本例では
不良素子が、これらにデータビットが供給される順序に
対して常に同じ位置に位置する必要がある。しかし、こ
の場合にはスイッチングシスチームの位置との対応に関
する要件を満足させる必要はない。
図面につき本発明を説明する。
第1図は本発明直列−並列−直列ディジタルシステムの
第1の実施例を示す。この第1実施例ではディジタルシ
ステムとしてシフトレジスタメモリシステムを選択して
ある。このシフトレジスタメモリシステムは第1バス1
と第2バス22との間に接続してあり、各バスはn個の
チャンネルを具える。第1及び第2バスは本質的に同一
のものであるが、ここでは明瞭のために区別してある。
本例はn=4個のチャネルを具え、これらをA; B。
C及びDで示してある。データビットは各チャネルを経
て直列に転送される。4個のスイッチングシステム2,
3.4及び5並びに18.19.20及び21はそれぞ
れ第1バス1及び第2バス22に接続される。これらス
イッチングシステムは例えばT、I。
74LS153(T、 1. =テキサスインスツルメ
ンツ)型集積回路により構成する。各スイッチングシス
テムは4個のスイッチング位置(A、B、C,D)を有
し、各位置においてそれぞれのチャンネルへの接続が設
定される。
このシフトレジスタメモリシステムは更にn個のディジ
タルメモリユニット(10,11,12及び13)を具
え、これらは直列−並列−直列メモリユニットである。
メモリユニット10は遅延素子6(例えハT、 1.7
4Ls164 )を経てスイッチングシステム2に接続
された入力端子と、遅延素子14を経てシイッチジグシ
ステム18に接続された出力端子を有する。このスイッ
チングシステムと遅延素子は相まってデータトラフィッ
ク制御サブシステムを構成する。同様に、メモリユニッ
ト11.12及び13もそれぞれの遅延素子7,8.9
及び15.16.17を経てそれぞれのスイッチングシ
ステムにそれぞれ接続される。
各メモリユニットはk (k>1)個のメモリ素子(1
,n、 III、 IV)を具え、本例ではkは4に等
しい。各メモリユニットは更にデマルチプレクサ(D)
とマルチプレクサ(旧を具える。デマルチプレクサ(D
)は入力直列データストリームを種々のメモリ素子に並
列に分配し、マルチプレクサ(M)は種々のメモリ素子
の出力のデータビットを合成してデータワードを構成し
、これをメモリユニットの直列出力端子に直列に出力す
るものである。
同一のメモリユニットの種々のメモリ素子へのデータス
トリームの分配はメモリシステムの全てのメモリユニッ
トにおいて同一であるものとする。
しかし、本発明はこれに限定されるものではない。
複数のメモリ素子を含むメモリユニットにおいては1個
以上のメモリ素子が製造上の欠陥のために不良になって
関連する仕様を満足しないことがしばしば起る。しかし
、これはメモリユニット全体が使用不能になることを必
ずしも意味しない。
不良メモリ素子は既知の試験及び測定法により決定する
ことができる。
第1図に示す実施例においては各メモリユニット10.
11.12及び13においてメモリ素子■が不良である
ことが決定されているものとする。これらメモリ素子■
は使用できるが、これらメモリ素子■を経てメモリユニ
ットの直列出力端子に得られるデータビットの情報は信
輔不能になる。第1図に示すシフトレジスタメモリシス
テムにおいてはスイッチングシステムと遅延素子の動作
により第2データバス22に供給される信号は信願不能
情報が1つのチャンネル(本例ではチャンネルB)にの
み供給され、信顧できる情報が他の全てのチャンネルに
供給される。
スイッチングシステム2,3.4及び5は制御システム
(図示せず)により制御され、1つのチャンネルのデー
タストリームから2ビツトを通すと次の位置に切換えら
れる。スイッチングシステムは4個のスイッチング位置
を有するため、1回転後にその出力端子に8ビツトワー
ドを出力することになる。この8ビツトワードは各チャ
ンネルからの2ビツトを含むものとなる。種々のワード
の種々のビットをai+tli+cj+di (1< 
+ 、< 8 )で表わし、これら記号のa、b、c、
dはその出所   −チャンネルを示し、脚杆iはその
ビットがスイッチングシステムの出力端子に出力される
時間順序を示す。
更に、スイッチングシステ、A2,3.4及び5は第1
図に示す出発位置を有するものとする。この出発位置で
はスイッチングシステム2はチャンネルAからのビット
al及びa2を遅延素子6に通し、スイッチングシステ
ム3はチャンネルBからのビットb+及びb2を遅延素
子7に通す。同じことがスイッチングシステム4及び5
に言え、・これらは出発位置においてピッ)c+及びc
2とビットdI及びd2を遅延素子8及び9にそれぞれ
通す(後記の表参照)。次に、スイッチングシステム2
,3.4及び5は次の位置にスイッチされる。従って、
このときスイッチングシステム2はチャンネルBからの
ビットbi及びb4を遅延素子6に通し、スイッチング
素子3,4及び5はそれぞれビットCユ+C4;d3゜
d4及びaff+84を関・連する遅延素子7,8及び
9に通す。一時に1チヤンネルからの2ビツトをそれぞ
れの遅延素子に通し、次いでスイッチング素子を次の位
置ヘスイッチするこの処理がスイッチングシスムチの種
々のスイッチング位置に対し続けられる。
スイッチングシステム2.3.4及び5のスイッチがそ
れらの出発位置に再び到達するとき、これらスイッチは
1回転したことなり、各チャンネルから8ビツトが取り
出さ、れたことになる。しかし、このスイッチング動作
のために種々のチャンネルの種々のビットが4個のメモ
リユニットに分配されることになる。後記の表の第1欄
はそれぞれの遅延素子の入力端子に供給されるデータワ
ードを示す。
各チャンネルからの各ビットは各スイッチングシステム
を通過すると同時に各遅延素子に供給される。これらビ
ットは各スイッチングシステムの素子は次の遅延時間を
有するものとする。
遅延素子6:0XTb 遅延素子7:2XTb 遅延素子8:4xTb 遅延素子9:6XTl。
後記の表の第2欄はそれぞれの遅延素子により出力され
るデータワードを示す。この表の第1及び第2欄は瞬時
状態を表わしており、これは例えば遅延素子7の出力端
子にビットaI7が出力される瞬時と略々同一の瞬時に
スイッチングシステム3の出力端子にビットb1が出力
されることを意味する。アクセント記号は当該ビットが
その前のワ−ドから取り出されたものであることを示す
遅延素子6は0×T、の遅延時間を有し、これはビット
が直接メモリユニット10ニ供給されるのと同じである
。実際の例では斯かる遅延素子6は省略することができ
る。遅延素子7は2×T、の遅延時間を有する。従って
、遅延素子7の出力端子のデータストリームはその入力
データストリームに対し2ビツト遅延したものとなる。
これがため、例えばスイッチングシステム3の出力端子
にビットb+が出力されるときはビットal、が遅延素
子7の出力端子に出力される。遅延素子8及び9は後記
の表の第1及び第2欄に示すようにデータストリームを
それぞれ4ビツト及び8ビツトだけ遅延させる。これら
遅延素子6,7.8及び9の作用はメモリュニソ)10
.11.12及び13の入力端子のデータストリームが
表の第2欄から明らかなように時間的に規則正しいパタ
ーンを呈するようにすることにある。
表の第2欄に示すデータワードは次いでそれぞれのメモ
リュニソ)10.11.12及び13に供給される。デ
マルチプレクサの制御の下でメモリユニット10におい
てはビットa1及びaがメモリ素子Iに、ビットb3及
びb4がメモリ素子■、ピッ)c5及びc6がメモリ素
子■に、ビットd7及びd8がメモリ素子■にそれぞれ
供給される。メモリユニット11.12及び13のメモ
リ素子にもデータストリームが同様に供給される。種々
のメモリユニットのデマルチプレクサはメモリ素子の所
定の番号と同期して動作するものとする。
遅延素子6.7.8及び9及び種々のメモリユニットの
デマルチプレクサの動作により第1パス1のチャンネル
Bからのデータストリームの種々のビットはいつでも/
モリ素子■に供給される。□前述したように、各メモリ
ユニ・Zトのメモリ素子■は不良である。このことは種
々のメモリユニ・7トの出力データストリームにおいて
ビットb8の位置毎に信頼不能な情報が表われることを
意味する。このことを表の第3欄に示すデータワードに
おいしダッシュ記号(−)により示してある。これがた
め、この第3欄から、不良メモリ素子■のためにチャン
ネルBからのデータストリームはだいなしになって最早
信頼できる情報にならないこと明らかである。しかし、
チャンネルBからのデータストリームのみが信頼不能に
なるだけで、他の全てのチャンネルからのデータストリ
ームは信頼できる情報になる。本例の場合、即ち第1図
に示すシステムの接続ではチャンネルBを経て転送され
るデータストリームのみが信頼不能にな為だけである。
種々のビットを第2データバス22の適切なチャンネル
に導くためにはメモリユニットの出力端子に供給される
データストリームを再編成する必要がある。これは遅延
素子14.15.16及び17とスイッチングシステム
1B、 19.20及び21により達成される。遅延素
子14.15.16及び17とスイッチングシステム1
8.19.20及び21はそれぞれ相まって格別のデー
タトラフィック制御システムを構成する。
本例では、これら遅延素子は次の゛遅延時間を有する。
遅延素子14:8x’r’b 遅延素子15:6XTb 遅延素子16:4XTb 遅延素子17:0XTb ここで、T、はビット周期を表わす。後記の表の第4欄
はこれら遅延素子14.15.16及び17の出力端子
に出力されるデータストリームを示す。
スイッチングシステム18.1’l、 20及び21は
前述のスイッチングシステム2,3.4及び5と同一に
、同一の回転速度で動作する。これらスイッチングシス
テム1B、 19.20及び21は遅延素子14.15
゜16及び17の出力端子に出力されるビットを適切な
チャンネルに、即ちそれらが出たチャンネルに再び供給
する。データストリームが第1図のシステムを通ると、
メモリユニット妃より生ずる内部遅延に加えて、遅延素
子の影響により(データバスl上の)入力データストリ
ームに対し8ビツトの遅延が(データバス2i上の)出
力データストリームに導入される。このことも後記の表
から明らかである。
第2図は本発明直列−並列一直列ディジタルシステムの
第2の実施例を示す。本例ディジタルシステムも直列−
並列−直列シフトレジスタメモリシステムである。第1
図に示す部分に対応する部分は対応する符号で示してあ
る。しかし、本例システムでは不良素子がミモリュニソ
ト内のデマルチプレクサの回転に対して常に同一の位置
に位置するものではない。デマルチプレクサの回転は全
てのメモリユニットにおいて同一であるものとする。1
個の不良素子を含むこれらメモリユニットを適切に選択
することにより、本例では第1図に示すような遅延素子
を不要にしてデータトラフィック制御システムはスイッ
チングシステムを含むだけとしてある。第2図に示す実
施例では不良メモリ素子は次の位置に位置する。
メモリユニット10:メモリ素子I メモリユニット1工:メモリ素子■ メモリユニット12:メモリ素子■ メモリユニット13:メモリ素子■ スイッチングシステム2,3.4及び5の出力端子に出
力されるデータストリームを図中に示してある。メモリ
ユニット10のデマルチプレクサDの制御の下で、スイ
ッチングシステム2の出力端子に出力されたビットal
+azが不良メモリ素子Iに供給される。従って、メモ
リユニット10のメモリ素子Iから出力されるこれらビ
ットは信頼不能情報になる。しかし、他のメモリ素子は
不良でないためビットtlz+l]a、Cs+C6+d
7+d++は信軌できる情報になる。ビットa7及びa
8がメモリユニット11の不良メモリ素子■に供給され
る。従って、メモリユニット11の出力端子にはビット
a、及びa。の位置に信頼不能情報が現われる。同様に
メモリユニット12及び13においてはそれぞれビン)
as+86及びal+84が不良メモリ素子■及び■に
供給される。
これがため、第2データバス22のチャンネルAのデー
タストリームは信顧不能な情報を含み、他のチャンネル
には信頼できる情報が存在することになる。第2図に示
すシステムを通るデータストリームはメモリユニットに
より導入される内部遅延を除いて何の遅延も生じない。
本発明は第1図又は第2図に示すような直列−並列−直
列シフトレジスタメモリシステムに限定れるものではな
い。本発明は任意の直列−並列−直列ディジタルシステ
ムに使用することができ、ディジクルユニットとしては
マイクロプロセッサ、ALU並びに他の任意の直列−並
列−直列ディジタルユニットを等しく使用することがで
きる。゛ディジクルユニットの種々の素子は関連するデ
マルチプレクサにより必ずしも同一の順序で駆動する必
要はないことは既に述べた。各ユニットにおけるこの順
序は、良好な素子及び不良素子を経る経路指定が各ユニ
トのデマルチプレクサとそれぞれのデータトラフィック
制御システムの動作により行われるために原則として互
に相違させることができる。
CCO<電荷結合デバイス)やバブルメモリは直列−並
列−直列ディジタルユニットであり、これらにおいては
不良素子が規則正しく生ずる。これがため、本発明の使
用はこのようなメモリ対して魅力的な解決を与える。
【図面の簡単な説明】 第1図は本発明直列−並列−直列ディジタルシステムの
第1の実施例を示す図、 第2図は本発明直列−並列−直列ディジタルシステムの
第2の実施例を示す図である。 1・・・第1データバス 22−!第2データバスA〜
D・・・チャンネル 2〜5,18〜21・・・スイッチングシステム6〜9
,14〜17・・・遅延素子 10〜13・・・ディジタルメモリユニットD・・・デ
マルチプレクサ M・・・マルチプレクサ 1〜■・・・メモリ素子

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、n個(n>1)の直列−並列−直列ディジタルユニ
    ットを具え、各ユニットはk個(k>1)の並列接続さ
    れた素子を具え、各ユニットにおいてはそのk個の素子
    のうちのr個(1≦r≦k)の素子が不良であり、且つ
    各ディジタルユニットは各チャンネルがデータストリー
    ムをビット直列転送する少くともp個(p>1、p>r
    )のチャンネルを含むデータバスに接続される直列入力
    端子及び直列出力端子を具えている少くとも1つの記憶
    機能を持つ直列−並列−直列ディジタルシステムにおい
    て、各ディジタルユニットは少くとも(p−r)個(1
    ≦p−r<k)個の不良でない素子を具え、各ディジタ
    ルユニットの直列入力端子は前記バスのp個のチャンネ
    ルの各々と接続されるp個の並列接続点を具える各別の
    データトラフィック制御システムの各別の直列接続点に
    接続し、このデータトラフィック制御システムは前記バ
    スからのデータストリームを、所定期間内に各チャンネ
    ルから複数ビットを順次フェッチして再分配すると共に
    関連するディジタルユニットと共働して(p−r)個の
    異なるチャンネルからのビットを(p−r)個の不良で
    ない素子に導くように構成してあり、且つ各ディジタル
    ユニットの直列出力端子は前記直列出力端子のビットを
    前記バス上のビットのパターンに対応するパターンに再
    配列して前記直列出力端子のデータストリームを再分配
    するようにも構成してある前記各別のデータトラフィッ
    ク制御システムの各別の直列接続点に接続してあり、(
    p−r)個の同じチャンネルがシステムの全ての直列−
    並列−直列ディジタルユニットのために選択されるよう
    にしたことを特徴とする直列−並列−直列ディジタルシ
    ステム。 2、特許請求の範囲第1項記載のディジタルシステムに
    おいて、各データトラフィック制御システムは第1及び
    第2のデータトラフィック制御サブシステムを具え、各
    サブシステムはそれぞれ1個の直列接続点とp個の並列
    接続点を具え、第1のデータトラフィック制御サブシス
    テムの直列接続点を関連するディジタルユニットの直列
    入力端子に接続し、第2のデータトラフィック制御サブ
    システムの直列接続点を関連するディジタルユニットの
    直列出力端子に接続してあることを特徴とする直列−並
    列−直列ディジタルシステム。 3、特許請求の範囲第2項記載のディジタルシステムに
    おいて、第1及び第2のデータトラフィック制御サブシ
    ステムはそれぞれ第1及び第2スイッチングシステムを
    具え、各スイッチングシステムは順次に駆動されてp個
    の並列接続点の各々と1個の直列接続点との間の接続を
    順次設定するp個のスイッチング位置を具え、n個のデ
    ィジタルユニットは第1スイッチングシステムの順次の
    スイッチング位置に対して、それらの不良素子がr個の
    同じチャンネルからのビットを受信するよう位置させて
    あることを特徴とする直列−並列−直列ディジタルシス
    テム。 4、特許請求の範囲第2項記載のディジタルシステムに
    おいて、各ディジタルユニットの直列入力端子に供給さ
    れるデータストリームは当該ユニットの種々の素子に規
    定の順序で分配できるようにしてあり、各ディジタルユ
    ニット内の(p−r)個の不良でない素子は前記順序に
    対して同一の位置に位置しており、第1及び第2のデー
    タトラフィック制御サブシステムは順次に駆動されてp
    個の並列接続点の各々と1個の入力接続点との間の接続
    を順次設定するp個のスイッチング位置をそれぞれ具え
    る第1及び第2のスイッチングシステムを具え、且つ各
    ディジタルユニットと直列に、前記第1及び第2スイッ
    チングシステム間においてデータストリームを少くとも
    前記所定の期間だけ遅延する少くとも1個の遅延素子を
    接続してあることを特徴とする直列−並列−直列ディジ
    タルシステム。 5、特許請求の範囲第1〜4項の何れかに記載のディジ
    タルシステムにおいて、1ディジタルユニット当りの不
    良素子の個数は1個であることを特徴とする直列−並列
    −直列ディジタルシステム。 6、特許請求の範囲第1〜5項の何れかに記載のディジ
    タルシステムにおいて、当該ディジタルシステムはシフ
    トレジスタメモリシステムであることを特徴とする直列
    −並列−直列ディジタルシステム。 7、特許請求の範囲第6項記載のディジタルシステムに
    おいて、そのシフトレジスタメモリはCCD(電荷結合
    デバイス)型メモリであることを特徴とする直列−並列
    −直列ディジタルシステム。
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