JPS6148750A - ガラス壜の欠陥検査方法 - Google Patents
ガラス壜の欠陥検査方法Info
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- JPS6148750A JPS6148750A JP17080184A JP17080184A JPS6148750A JP S6148750 A JPS6148750 A JP S6148750A JP 17080184 A JP17080184 A JP 17080184A JP 17080184 A JP17080184 A JP 17080184A JP S6148750 A JPS6148750 A JP S6148750A
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- JP
- Japan
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- glass bottle
- reflected light
- defect inspection
- inspection method
- defects
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9045—Inspection of ornamented or stippled container walls
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明はガラス壜の表面に生じたクランク等の欠陥を適
確に検査することができるガラス壜の欠陥検査方法に関
するものである。
確に検査することができるガラス壜の欠陥検査方法に関
するものである。
（従来の技術）
ガラス壜の表面に生じたクラック等の欠陥はガラス壜の
強度低下、密封性低下等の種々のトラブルの原因となる
ため調理工場においては自動検査機によりその有無を検
査しており、ガラス１曇を回転させながらその表面に可
視光線、レーザ光線等を照則し、クラック等により反射
された所定レベル以上の反射光が光電式の受光器により
検出されたときにはそのガラス壜をライン上から排除す
るガラス壜の欠陥検査方法が広く採用されている。
強度低下、密封性低下等の種々のトラブルの原因となる
ため調理工場においては自動検査機によりその有無を検
査しており、ガラス１曇を回転させながらその表面に可
視光線、レーザ光線等を照則し、クラック等により反射
された所定レベル以上の反射光が光電式の受光器により
検出されたときにはそのガラス壜をライン上から排除す
るガラス壜の欠陥検査方法が広く採用されている。
（例えば、特公昭５０−３２６３５号公報）（発明が解
決しようとする問題点） ところがガラス壜の表面には成形用金型の合わせ目によ
り不可避的に生ずるシームラインと呼ばれる微ｔｍな突
起、微細な気泡、表面肌の微１１１１な凹凸等の欠陥と
されない凹凸が存在しており、これらは照射された光線
を反射してクラック等の欠陥とまぎられしい反射光を生
ずるために、上記のような従来の欠陥検査方法では欠陥
のないガラス壜をも誤って不良壜として排除する問題が
あった。
決しようとする問題点） ところがガラス壜の表面には成形用金型の合わせ目によ
り不可避的に生ずるシームラインと呼ばれる微ｔｍな突
起、微細な気泡、表面肌の微１１１１な凹凸等の欠陥と
されない凹凸が存在しており、これらは照射された光線
を反射してクラック等の欠陥とまぎられしい反射光を生
ずるために、上記のような従来の欠陥検査方法では欠陥
のないガラス壜をも誤って不良壜として排除する問題が
あった。
また、このような問題を回避するために受光器の感度を
低下させて強い反射光のみを検出するようにするとクラ
ンクの検出精度が低下し、不良壜がそのまま出荷されて
種々のトラブルを生ずるという問題があった。従ってク
ラック等の欠陥だけを精度良（適確に検査することがで
きるガラス壜の欠陥検査方法が求められていた。
低下させて強い反射光のみを検出するようにするとクラ
ンクの検出精度が低下し、不良壜がそのまま出荷されて
種々のトラブルを生ずるという問題があった。従ってク
ラック等の欠陥だけを精度良（適確に検査することがで
きるガラス壜の欠陥検査方法が求められていた。
（問題点を解決するための手段）
本発明は上記した従来の問題点を解決するために完成さ
れたもので、一定速度で回転中のガラス壜の表面に光線
を照射して欠陥により反射された反射光の有無により良
否を判定するガラス壜の欠陥検査方法において、該反射
光の継続時間を測定し、反射光が所定時間以上継続した
場合にのみ不良と判定するようにしたことを特徴とする
ものである。
れたもので、一定速度で回転中のガラス壜の表面に光線
を照射して欠陥により反射された反射光の有無により良
否を判定するガラス壜の欠陥検査方法において、該反射
光の継続時間を測定し、反射光が所定時間以上継続した
場合にのみ不良と判定するようにしたことを特徴とする
ものである。
このように本発明は従来の光学的な欠陥検査方法が専ら
反射光の強弱あるいは有無のみを問題としていたのに対
して反射光の継続時間に着目することによりなされたも
のである。即し、本発明者の測定によれば、「ロビリ」
と呼ばれる口部クランクを持つガラス壜を２００ｒｐｍ
の回転速度で回転させつつその表面に光線を照射し、ク
ラックからの反射光を受光器で検出してその平均的な継
続時間を測定すると第２図に示されるように約２０ｍ５
ｅｃであり、「口部泡」と呼ばれる欠陥とされない微細
な気泡からの反則光を同一条件で測定すると第３図に示
されるように約７ ｍ５ｅｃであり、「シームライン」
からの反射光は第４図に示されるように約１．３ｍ５ｅ
ｃとなるので、反射光の継続■、１１°間をタイマーに
より測定し、Ｍｌ ａ時間が例えば９ｍ５ｅｃ以上の場
合のみ不良と判定するようにすれば「口８１ｓ ？（＝
Ｊや「シームライン」との混同を生ずることなく「ロ
ビリ」等の欠陥のみを適確に検査することができること
になる。
反射光の強弱あるいは有無のみを問題としていたのに対
して反射光の継続時間に着目することによりなされたも
のである。即し、本発明者の測定によれば、「ロビリ」
と呼ばれる口部クランクを持つガラス壜を２００ｒｐｍ
の回転速度で回転させつつその表面に光線を照射し、ク
ラックからの反射光を受光器で検出してその平均的な継
続時間を測定すると第２図に示されるように約２０ｍ５
ｅｃであり、「口部泡」と呼ばれる欠陥とされない微細
な気泡からの反則光を同一条件で測定すると第３図に示
されるように約７ ｍ５ｅｃであり、「シームライン」
からの反射光は第４図に示されるように約１．３ｍ５ｅ
ｃとなるので、反射光の継続■、１１°間をタイマーに
より測定し、Ｍｌ ａ時間が例えば９ｍ５ｅｃ以上の場
合のみ不良と判定するようにすれば「口８１ｓ ？（＝
Ｊや「シームライン」との混同を生ずることなく「ロ
ビリ」等の欠陥のみを適確に検査することができること
になる。
このような反則光の継続時間の差は、ガラス壜の回転速
度が一定である限り照射光線の光路をクランク等の欠陥
やその他の欠陥とされない凹凸が横断するに要する時間
の差によって生じ、基本的にはクランク等の深さがシー
ムラインの幅や口部泡の大きさに比較してはるかに大き
い事実に基ずいて生ずるものと考えられる。なお、投光
器及び受光器の配置方法は従来と異なるところはなく、
照射光として例えば６０００〜９０００サイクルの変調
光を用いて外乱の影響を防止することが好ましいことも
従来と同様である。
度が一定である限り照射光線の光路をクランク等の欠陥
やその他の欠陥とされない凹凸が横断するに要する時間
の差によって生じ、基本的にはクランク等の深さがシー
ムラインの幅や口部泡の大きさに比較してはるかに大き
い事実に基ずいて生ずるものと考えられる。なお、投光
器及び受光器の配置方法は従来と異なるところはなく、
照射光として例えば６０００〜９０００サイクルの変調
光を用いて外乱の影響を防止することが好ましいことも
従来と同様である。
（実施例）
第１図に示されるように、一定速度で回転中のガラス壜
の表面の欠陥により反射された反射光を受光する光電式
の受光器（１）と、その出力波形を増幅する増幅器（２
）と、増幅された出力をスレシボールド電圧発生器（３
）により発生されるスＬ／シホールド電圧と比較して２
値化する比較器（４）とからなる従来の検出回路にタイ
マー（５）を接続し、反則光が受光器（１）に受光され
ると同時にタイマー（５）を作動させて反射光の継続時
間を？ｊｌｌｌ定し、反則光が例えば９ ｍ５ｅｃ以上
継続した場合にのみ不良信号を発するようにした。タイ
マー（５）としては受光開始後所定時間マスキング信号
を発し、マスキング信号が終了した後にも反射光が継続
するときこれを不良信号として扱うようにしたものを採
用することができる。このマスキング時間はガラス壜の
回転数に反比例させてＨＡ ｎｔｓする必要があり、ま
たガラス壜の種類や発生し易い欠陥の種類によっても調
節する必要がある。なお、タイマー（５）にはリセット
回路を組込む必要があることは言うまでもない。
の表面の欠陥により反射された反射光を受光する光電式
の受光器（１）と、その出力波形を増幅する増幅器（２
）と、増幅された出力をスレシボールド電圧発生器（３
）により発生されるスＬ／シホールド電圧と比較して２
値化する比較器（４）とからなる従来の検出回路にタイ
マー（５）を接続し、反則光が受光器（１）に受光され
ると同時にタイマー（５）を作動させて反射光の継続時
間を？ｊｌｌｌ定し、反則光が例えば９ ｍ５ｅｃ以上
継続した場合にのみ不良信号を発するようにした。タイ
マー（５）としては受光開始後所定時間マスキング信号
を発し、マスキング信号が終了した後にも反射光が継続
するときこれを不良信号として扱うようにしたものを採
用することができる。このマスキング時間はガラス壜の
回転数に反比例させてＨＡ ｎｔｓする必要があり、ま
たガラス壜の種類や発生し易い欠陥の種類によっても調
節する必要がある。なお、タイマー（５）にはリセット
回路を組込む必要があることは言うまでもない。
次に、マスキング時間を変化させた場合の欠陥検出率と
良品誤認率との実測値を示す。ここで良品誤認率は「口
部泡」や「シームライン」等のみを有するガラス壜を不
良層と誤認した割合を示すものである。
良品誤認率との実測値を示す。ここで良品誤認率は「口
部泡」や「シームライン」等のみを有するガラス壜を不
良層と誤認した割合を示すものである。
（ガラス１曇の回転速度： ２０Ｏｒｐｍ）（発明の効
果） 本発明は以上の説明及び実測値からも明らかなように、
従来着目されることのなかった反則光の継続時間を測定
し、反射光が所定時間以上にわたりＲ１，ｆくした場合
にのみ不良と判定するようにしたので、従来の反射光の
強弱あるいは有無のみを問題とする欠陥検査方法におい
ては誤認を生じ易かったシームライン、Ｉｌｌな気泡、
表面肌の微′Ｋ１１ｌな凹凸等をクラック等の欠陥と明
確に識別し、欠陥のあるガラス壜のみを確実に不良層と
して排除することができるものである。よって本発明は
従来の問題点を一掃したガラスゆの欠陥検査方法として
業界に寄与するところは極めて大きいものがある。
果） 本発明は以上の説明及び実測値からも明らかなように、
従来着目されることのなかった反則光の継続時間を測定
し、反射光が所定時間以上にわたりＲ１，ｆくした場合
にのみ不良と判定するようにしたので、従来の反射光の
強弱あるいは有無のみを問題とする欠陥検査方法におい
ては誤認を生じ易かったシームライン、Ｉｌｌな気泡、
表面肌の微′Ｋ１１ｌな凹凸等をクラック等の欠陥と明
確に識別し、欠陥のあるガラス壜のみを確実に不良層と
して排除することができるものである。よって本発明は
従来の問題点を一掃したガラスゆの欠陥検査方法として
業界に寄与するところは極めて大きいものがある。
第１図は本発明の実施に用いられるガラス壜検査装置の
検出回路を示すブロック線図、第２図、第３図、第４図
はそれぞれ「ロビリ」、「口部泡」、「シームライン」
からの反射光の波形及びその２値化波形を示すオシロ波
形図である。 （１）：受光器、（４）：比較器、（５）；タイマー。 ｌ受光器 ４：几絞姦 ｇ・タイマー 第１図 弛５ｅ’；Ｘｎ’：：Ｌ 第４図 旨Ｓｅｃ、（、瓢
検出回路を示すブロック線図、第２図、第３図、第４図
はそれぞれ「ロビリ」、「口部泡」、「シームライン」
からの反射光の波形及びその２値化波形を示すオシロ波
形図である。 （１）：受光器、（４）：比較器、（５）；タイマー。 ｌ受光器 ４：几絞姦 ｇ・タイマー 第１図 弛５ｅ’；Ｘｎ’：：Ｌ 第４図 旨Ｓｅｃ、（、瓢
Claims (1)
- 一定速度で回転中のガラス壜の表面に光線を照射して欠
陥により反射された反射光の有無により良否を判定する
ガラス壜の欠陥検査方法において、該反射光の継続時間
を測定し、反射光が所定時間以上継続した場合にのみ不
良と判定するようにしたことを特徴とするガラス壜の欠
陥検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17080184A JPS6148750A (ja) | 1984-08-16 | 1984-08-16 | ガラス壜の欠陥検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17080184A JPS6148750A (ja) | 1984-08-16 | 1984-08-16 | ガラス壜の欠陥検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6148750A true JPS6148750A (ja) | 1986-03-10 |
Family
ID=15911597
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17080184A Pending JPS6148750A (ja) | 1984-08-16 | 1984-08-16 | ガラス壜の欠陥検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6148750A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5627641A (en) * | 1979-08-14 | 1981-03-18 | Suntory Ltd | Method for inspecting glass bottle and the like |
-
1984
- 1984-08-16 JP JP17080184A patent/JPS6148750A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5627641A (en) * | 1979-08-14 | 1981-03-18 | Suntory Ltd | Method for inspecting glass bottle and the like |
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