JPS6151452B2 - - Google Patents

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JPS6151452B2
JPS6151452B2 JP3222681A JP3222681A JPS6151452B2 JP S6151452 B2 JPS6151452 B2 JP S6151452B2 JP 3222681 A JP3222681 A JP 3222681A JP 3222681 A JP3222681 A JP 3222681A JP S6151452 B2 JPS6151452 B2 JP S6151452B2
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circuit
level
output terminal
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Hiroshi Mizuguchi
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPS57147327A publication Critical patent/JPS57147327A/ja
Publication of JPS6151452B2 publication Critical patent/JPS6151452B2/ja
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/66Digital/analogue converters
    • H03M1/82Digital/analogue converters with intermediate conversion to time interval

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は2系統のデイジタル量を、そのデイジ
タル量に応じて変化するアクテイブレベル期間を
有するパルス信号に変換したうえ、変換された2
系統のパルス信号を合成して、前記2系統のデイ
ジタル量のいずれの変化にも応じてアクテイブレ
ベル期間が変化するパルス信号を発生するデイジ
タル−アナログ変換装置を提供するものである。
従来より、2系統のデイジタル量を、そのデイ
ジタル量に応じて変化するアクテイブレベル期間
を有するパルス信号に変化したうえ、変換された
2系統のパルス信号を合成する装置として、例え
ば、Tamura et al:“Digital Signal
Processing LSI for Home VTR Servo
Circuit”IEEE Transactions on Consumer
Electronics,Vol.CE−25 PP429−438(1979)
に示されるような構成のものが多用されており、
その要部を第1図に示す。
第1図において、1はクロツクパルス入力端子
61からCL端子に印加されるクロツクパルスCL
をカウントする分周カウンタであり、その分周カ
ウンタ1の出力Q1〜Qnは第1のデイジタルコン
パレータ2の一方の入力端子群A11〜A1o第、第
2のデイジタルコンパレータ3の入力端子群A21
〜A2o、カウントスタート検出用のNORゲート回
路4の入力端子に印加される。
前記第1のデイジタルコンパレータ2の他方の
入力端子群B11〜B1oには第1のデイジタルデー
タD11〜D1oが印加され、前記第2のデイジタル
コンパレータ3の他方の入力端子群B21〜B2o
は第2のデイジタルデータD21〜D2oが印加され
る。
また、前記第1のデイジタルコンパレータの出
力端子C1は第1のRSフリツプフロツプ回路5の
リセツト端子Rxに接続され、前記第2のデイジ
タルコンパレータ3の出力端子C2は第2のRSフ
リツプフロツプ回路6のリセツト端子Ryに接続
されている。
さらに、前記第1のRSフリツプフロツプ回路
5の出力端子Qxには抵抗7とコンデンサ8から
なる第1の平滑回路が接続され、その第1の平滑
回路の出力は抵抗9と抵抗10からなる第1の減
衰回路を介して信号出力端子62に印加される。
一方、前記第2のRSフリツプフロツプ回路6の
出力端子Qyには抵抗11とコンデンサ12から
なる第2の平滑回路が接続され、その第2の平滑
回路の出力は抵抗13と前記抵抗10からなる第
2の減衰回路を介して前記信号出力端子62に印
加される。
この装置では第1の入力デイジタルデータD11
〜D1oと第2の入力デイジタルデータD21〜D2o
数値のそれぞれに対応したアクテイブレベル期間
を有するパルス信号波形、いわゆるPWM信号に
変換して、それぞれのPWM信号を別個に平滑回
路に印加して直流レベルに変換し、その後に抵抗
回路にて合成している。
したがつて信号出力端子62に現われる出力信
号OUTのレベルは前記第1、第2の入力デイジ
タルデータのいずれにも対応して変化する。
ところで、この様な装置をモノリシツクIC化
する場合、本来必要な入出力端子はクロツク端子
CLと第1、第2の入力デイジタル端子D11〜D1o
およびD21〜D2o(ただし、多くの場合、入力デ
イジタルデータに相当する信号を発生するブロツ
クも同一ICのチツプ内に収納されるため、この
端子はIC内部に入り、外部接続端子とはならな
い。)と信号出力端子62であるが、一般に平滑
用のコンデンサをIC内部に入れることは難し
く、外付部品とした方がシステムのトータルコス
トが安くなる。
したがつて、通常は第1および第2のR・Sフ
リツプフロツプ回路の出力端子Qx,Qyがそのま
ま外部端子となつて、本来必要な端子数よりも増
加してしまう。
このICの端子数は当然の事ながらICのパツケ
ージの大形化を招き、装置の小形化や、ICの製
造工程における樹脂材料の使用量の節減の妨げと
なる。
また、平滑回路や抵抗減衰回路をICの外部で
構成することによつて2系統の信号系の合成比率
を自由に、しかも連続的に調整出来る反面、抵抗
部品の抵抗値の個々のばらつきや経年変化等によ
つて合成比率が変化してしまうと言う不都合を呈
する。
本発明のデイジタル−アナログ変換装置は以上
の様な問題を解消するものである。
本発明の一実施例に係るデイジタル−アナログ
変換装置の論理回路構成図を第2図に示すが、第
1図と同様の機能を有する回路ブロツクあるいは
ゲート回路については第1図と同一の符号を付し
て表わし、それらのここで詳しい説明は省略す
る。
第2図において、第1のデイジタルコンパレー
タ2aの第1の比較用入力端子群A11,A12
A13,A14,A15は、それぞれカウンタ1の出力端
子Q3,Q4,Q5,Q6,Q7に接続され、第2のデイ
ジタルコンパレータ3aの第1の比較用入力端子
群A21,A22,A23,A24,A25は、それぞれ前記カ
ウンタ1の出力端子Q1,Q2,Q3,Q4,Q5に接続
されている。また、前記カウンタ1の出力端子
Q7にはTフリツプフロツプ回路14のクロツク
端子Tzが接続され、前記第2のデイジタルコン
パレータ3aの第2の比較用入力端子B25,B24
B23,B22,B21には、それぞれORゲート回路1
5、ANDゲート16,17,18,19の出力
端子が接続されている。前記ANDゲート回路1
9,18,17,16,ORゲート回路15の一
方の入力端子には、それぞれ第2のデイジタル入
力端子D21,D22,D23,D24,D25が接続され、前
記ORゲート回路15の他方の入力端子は前記T
フリツプフロツプ回路14の出力端子Qzに接続
され、前記ANDゲート回路16,17,18,
19の他方の入力端子はいずれも前記Tフリツプ
フロツプ回路14の反転出力端子zに接続され
ている。
また、前記カウンタ1の出力端子Q6,Q7,RS
フリツプフロツプ回路6の出力端子Qyには、そ
れぞれORゲート回路20の第1、第2、第3の
入力端子が接続され、前記ORゲート回路20の
出力端子は、一方の入力端子がRSフリツプフロ
ツプ回路5の出力端子Qzに接続されたNANDゲ
ート回路21の他方の入力端子に接続されてい
る。
さらに、前記RSフリツプフロツプ回路6の反
転出力端子yには抵抗22を介してスイツチン
グトランジスタ23のベースが接続され、前記ト
ランジスタ23のコレクタは負荷抵抗24ならび
に負荷抵抗25を介してプラス側給電端子63
(電源電圧をVc.c.とする)に接続されている。前
記NANDゲート回路21の出力端子には抵抗26
を介してスイツチングトランジスタ27のベース
が接続され、前記トランジスタ27のコレクタは
前記抵抗24と前記抵抗25の接続点に接続され
ているとともに出力端子62に接続されている。
さて、第2図において、デイジタルコンパレー
タ2a,RSフリツプフロツプ回路5は第1のデ
イジタル入力端子D11〜D15に印加される第1の入
力デイジタルデータの変化に応じてカウンタ1の
カウント周期あたりのアクテイブレベル期間(こ
の場合、出力レベルとして“1”あるいは“0”
のいずれを利用するかによつて“1”レベルがア
クテイブレベルになつたり、“0”レベルがアク
テイブレベルになつたりする。)が変化する第1
の信号を発生する第1信号発生回路100を構成
している。
また、デイジタルコンパレータ3a、RSフリ
ツプフロツプ回路6は第2のデイジタル入力端子
D21〜D2に印加される第2の入力デイジタル
データの変化に応じて前記カウンタ1のカウント
周期あたりのアクテイブレベル期間が変化する第
2の信号を発生する第2の信号発生回路200を
構成している。また、ORゲート回路20および
NANDゲート回路21は前記第1の信号と前記第
2の信号を時分割で合成して前記第1の入力デイ
ジタルデータならびに前記第2の入力デイジタル
データのいずれの変化にも応じて前記カウンタ1
のカウント周期あたりのアクテイブレベル期間が
変化する第3の信号を発生する第3信号発生回路
300を構成している。抵抗22,24,25,
26とトランジスタ23,27は前記第2の信号
と前記第3の信号を同一の出力端子62に異なる
電圧レベルで出力する電圧合成回路400を構成
している。
ここで、抵抗24と抵抗25の抵抗値が等しい
ものとして第2図堕の装置の動作の概要を、第3
図の信号波形図を参照して説明する。今、第2図
のクロツクパルス入力端子61に第3図にCLで
示す如きクロツクパルス列が印加されたとき、カ
ウンタ1の出力端子Q1,Q2,Q3,Q4,Q5,Q6
Q7,およびTフリツプフロツプ回路14の出力
端子Qzのレベルは、それぞれ第3図のQ1
QQ3,Q4,Q5,Q6,Q7,Qzに示す様に変化す
る。
いま、第1のデイジタル入力端子群D15,D14
D13,D12,D11に第1のデイジタル入力データと
してD1=〔10000〕なる数値が印加され、第2の
デイジタル入力端子群D25,D24,D23,D22,D21
に第2のデイジタル入力データとしてD2
〔00000〕なる数値が印加されているものとする
と、Tフリツプフロツプ回路14の出力端子Qz
のレベルが“0”のもとでは、カウンタ1の出力
が〔0000000〕になつた瞬間にNORゲート回路4
がRSフリツプフロツプ回路6のセツト出力を発
生するが、デイジタルコンパレータ3aが前記
RSフリツプフロツプ回路6のリセツト出力を発
生しているので、前記RSフリツプフロツプ回路
6の出力端子Qyのレベルは“0”のまま変化せ
ず(リセツト優先の構成になつているものとす
る。)、前記カウンタ1の出力端子Q6およびQ7
レベルがともに“0”になつている間(時刻t0
らt1までの間)はORゲート回路20の出力レベ
ルが“0”のまま変化せず、NANDゲート回路2
1の出力レベルが“1”となつて、トランジスタ
27はON状態となり、出力端子62のレベルに
零となる。
時刻t1において、前記ORゲート回路20の出
力レベルは“1”となるが、このときRSフリツ
プフロツプ回路5の出力端子Qx,RSフリツプフ
ロツプ回路5の出力端子Qx,RSフリツプフロツ
プ回路6の反転出力端子yのレベルは、いずれ
も“1”となつているので、トランジスタ23が
ON状態となり、トランジスタ27がOFF状態と
なつて出力端子62のレベルはVc.c./2となる。
時刻t2において、カウンタ1の出力が
〔1000000〕となると、デイジタルコンパレータ2
aがRSフリツプフロツプ回路5のリセツト出力
を発生し、前記RSフリツプフロツプ回路5の出
力端子Qxのレベルが“0”になるので、NAND
ゲート回路21の出力レベルは“0”から“1”
に移行し、トランジスタ27がON状態になつて
出力端子62のレベルは再び零になる。
時刻t3において、Tフリツプフロツプ回路14
の出力端子Qzのレベルが“1”に移行すると、
第2のデイジタル入力端子群D25〜D21に印加され
ている第2の入力デイジタルデータの数値に関係
なく、デイジタルコンパレータ3aの第2の比較
用入力端子群B25〜B21に印加されるデータは
〔10000〕に固定されるので、時刻t3においてNOR
ゲート回路4がRSフリツプフロツプ回路5およ
び6のセツト出力を発生することにより、その出
力端子Qx,Qyはともに“1”に移行し、トラン
ジスタ23,27の双方がOFF状態になつて出
力端子62のレベルはVccとなる。
時刻t4において、カウンタ1の出力が
〔0010000〕になると、デイジタルコンパレータ3
aがRSフリツプフロツプ回路6のリセツト出力
を発生するので、トランジスタ27がON状態に
移行して出力端子62のレベルは零になる。
時刻t5において、ORゲート20の出力レベル
が“0”から“1”に移行し、それまでにRSフ
リツプフロツプ回路6の反転出力端子yのレベ
ルは“1”になつているので、トランジスタ23
がON状態、トランジスタ27がOFF状態とな
り、出力端子62のレベルはVcc/2になる。
時刻t6においてカウンタ1の出力が
〔1000000〕となると、デイジタルコンパレータ2
aがRSフリツプフロツプ回路5のリセツト出力
を発生し、前記RSフリツプフロツプ回路5の出
力端子Qxのレベルが“0”になるので、NAND
ゲート回路21の出力レベルは“0”から“1”
に移行し、トランジスタ27がON状態になつて
出力端子62のレベルは再び零になる。
結局、第1の入力デイジタルデータD1
〔10000〕、第2の入力デイジタルデータD2
〔00000〕のとき、出力端子62のレベルは第3図
のA−1の様に変化する。
なお、第3図のA−1において、最高レベルは
Vccで、中間レベルがVcc/2、最低レベルは零
である。
次に、第2の入力デイジタルデータD2として
〔01111〕が印加された場合の動作について説明す
る。
時刻t0において、NORゲート回路4がRSフリ
ツプフロツプ回路5および6のセツト出力を発生
すると、トランジスタ23ならびにトランジスタ
27の双方がOFF状態になり、出力端子62の
レベルはVccとなる。
時刻t7において、カウンタ1の出力が
〔0001111〕になると、デイジタルコンパレータ3
aがRSフリツプフロツプ回路6のリセツト出力
を発生して、ORゲート回路20の出力レベルが
“0”、したがつてNANDゲート回路21の出力レ
ベルが“1”に移行し、トランジスタ27がON
状態になつて出力端子62のレベルは零となる。
時刻t1,t2,t3,t4,t5,t6においては前述のD2
=〔00000〕のときと同様の動作が行なわれ、結
局、第1の入力デイジタルデータD1
〔10000〕、第2の入力デイジタルデータD2
〔01111〕のとき、出力端子62のレベルは第3図
のA−2の様に変化する。
同様にして、第2の入力デイジタルデータD2
の数値が〔10000〕,〔10001〕,〔10010〕,
〔10100〕,〔11111〕と変化したとき、それに応じ
てデイジタルコンパレータ3aによるRSフリツ
プフロツプ回路6のリセツト出力発生時刻が変化
して、換言すれば、第2信号発生回路200の出
力信号のアクテイブレベル期間が変化して出力端
子62に現われる信号波形は前記第2の入力デイ
ジタルデータD2の数値に対応して、第3図のA
−2,A−3,A−4,A−5,A−6,A−7
に示す様に変化する。
次に、第2の入力デイジタルデータD2として
〔10000〕が与えられたもとで第1の入力デイジタ
ルデータD1の数値が種々に変化したときの動作
について第3図の信号波形図を参照して説明す
る。まず、第1の入力デイジタルデータD1とし
て〔00000〕なる数値bが印加されたとき、カウ
ンタ1の出力が〔0000000〕になつたときにNOR
ゲート回路4がRSフリツプフロツプ回路5のセ
ツト出力が発生するが、デイジタルコンパレータ
2aも前記RSフリツプフロツプ回路5のリセツ
ト出力を発生するので、出力端子Qxのレベルは
“0”のまま変化しない(リセツト優先)。
したがつて、全期間にわたつてNANDゲート回
路21の出力レベルは“1”となり、トランジス
タ27がON状態を維持して出力端子62のレベ
ルは全期間にわたつて零となる(第3図のB−1
参照)。
第1の入力デイジタルデータD1として
〔01110〕なる数値が印加されたときには、時刻t0
において、トランジスタ23ならびにトランジス
タ27の双方がOFF状態となり、出力端子62
のレベルはVccとなる。
時刻t8においてカウンタ1の出力が
〔0010000〕になると、デイジタルコンパレータ3
aがRSフリツプフロツプ回路6のリセツト出力
を発生し、その結果、ORゲート回路20の出力
レベルが“0”になり、NANDゲート回路21の
出力レベルは“1”となつてトランジスタ27が
ON状態になり、出力端子62のレベルは零とな
る。
時刻t1において、前記ORゲート回路20の出
力レベルは“1”に移行して前記トランジスタ2
7はOFF状態に移行するが、すでにRSフリツプ
フロツプ回路6のの反転出力端子yのレベルが
“1”になつていてトランジスタ23はON状態と
なつているため、出力端子63のレベルはVcc/
2となる。
時刻t9において、カウンタ1の出力が
〔0111000〕になると、デイジタルコンパレータ2
aがRSフリツプフロツプ回路5のリセツト出力
を発生し、その結果、NANDゲート回路21の出
力レベルが“1”になり、トランジスタ27が
ON状態となつて出力端子62のレベルは再び零
となる。
時刻t3において、カウンタ1の出力が
〔0000000〕になると、出力端子62のレベルは再
びVccまで上昇し、時刻t4ではデイジタルコンパ
レータ3aがRSフリツプフロツプ回路6のリセ
ツト出力を発生する。その結果、出力端子62の
レベルは零に移行し、時刻t5ではORゲート回路
20の出力レベルが“1”に移行するので、出力
端子62のレベルはVcc/2に移行し、さらに時
刻t10が到来すると、カウンタ1の出力は
〔0111100〕となつて、デイジタルコンパレータ2
aがRSフリツプフロツプ回路5のリセツト出力
を発生するので、トランジスタ27がON状態に
移行して出力端子62のレベルは零となる。
結局、第1の入力デイジタルデータD1
〔01110〕、第2の入力デイジタルデータD2
〔10000〕のもとでは出力端子62に現われる出力
信号は第3図のB−2に示す如くとなる。
全く同様の動作過程を経て、前記第1の入力デ
イジタルデータD1が〔01111〕,〔10001〕,
〔10010〕,〔10100〕,(11111〕と変化したとき、出
力端子62に現われる出力信号OUTは第3図の
B−3,B−4,B−5,B−6,B−7に示す
様に変化する。
第3図の信号波形において、それぞれの波形を
Vcc/2でリミツトした波形はNANDゲート回路
21の出力信号波形を反転したものであり、一
方、それぞれの波形をVcc/2でスライスした波
形はRSフリツプフロツプ回路6の出力信号波形
そのものである。
前記NANDゲート回路21の出力信号波形は第
1信号発生回路100の出力信号と、第2信号発
生回路200の出力信号を時分割で合成した形に
なつており、第1の入力デイジタルデータD1
らびに第2の入力デイジタルデータD2のいずれ
の変化にも応じてカウンタ1の2カウント周期あ
たりのアクテイブレベル期間が変化する。
ところで、NANDゲート回路21の出力信号波
形は第3図に示されている出力信号波形をVcc/
2でリミツトしたものであるから、前記NANDゲ
ート回路21の出力信号波形における第1の入力
デイジタルデータD1と第2の入力デイジタルデ
ータD2の単位変化(LSBの変化)あたりのゲイ
ン比率は8対1になつている。
すなわち、前記NANDゲート回路21の出力信
号波形のカウンタ1の2カウント周期におけるア
クテイブレベル期間は前記第1の入力デイジタル
データD1のLSBの変化に対しては8クロツク周
期分変化しているのに対し、前記第2の入力デイ
ジタルデータD2のLSBの変化に対しては1クロ
ツク周期分しか変化していない。
ところが、電圧合成回路400によつて前記第
2のデイジタル入力データD2の変化に対応する
出力信号分だけ、前記第1のデイジタル入力デー
タD1の変化に対応する出力信号分に対して2倍
の電圧重みづけがなされている(抵抗24および
抵抗25の抵抗値を等しくした場合)ので、出力
端子62に現われる信号波形をそのまま平滑した
場合にはゲイン比率が4対1となり、一方、出力
端子62に現われる信号波形のうち、Vcc/2以
下のレベルのみを平滑した場合にはゲイン比率が
8対1となる。
このことは第1の入力デイジタルデータD1
第2の入力デイジタルデータD2を出力信号のア
クテイブレベル期間に関して8対1で論理的に合
成して同一の出力端子に出力したにもかかわらず
外部回路によつてゲイン比率を微調出来ることを
意味する。
この様子を詳しく説明すると、まず、第4図に
示される周知のCRフイルタ回路の入力端子Jを
第2図の出力端子62に接続した場合には、その
CRフイルタ回路の出力端子Kに現われる直流電
圧には第1の入力デイジタルデータ成分と第2の
入力デイジタルデータ成分は4対1の割合で合成
されているが、第5図に示したフイルタ回路の入
力端子Jを第2図の出力端子62に接味続すると
様子が異なつてくる。すなわち、第5図のフイル
タ回路は、第2図の装置の出力端子62に現われ
る信号波形のうち、Vcc/2以下の信号成分を抵
抗28,29、トランジスタ30によつて構成さ
れたスイツチング回路によつて反転し、抵抗31
とコンデンサ32からなるフイルタに印加すると
ともに、一方では直接、抵抗33と前記コンデン
サ32からなるフイルタに印加しているので、出
力端子Kに現われる直流出力電圧におけるゲイン
比率を抵抗33あるいは抵抗31の抵抗値を変化
させることによつて微調整することが可能である
だけでなく、正相分と逆相分を加え合わせる構成
になつているので、ゲイン比率を比較的広い範囲
で可変することも出来る。
第6図は別のフイルタ回路の構成例を示したも
ので、ダイオード34,35,36と抵抗37、
コンデンサ38によるスイツチング型のフイルタ
回路によつて、高レベル成分のゲイン比率を上昇
させる様に構成されたものである。この例では、
抵抗39に対する抵抗37の抵抗比率を調整する
ことによつて、第1の入力デイジタルデータと第
2の入力デイジタルデータのゲイン比率を微調す
ることが出来る。
なお、ダイオード34〜36は他の電圧スイツ
チング素子であつてもよい。
第7図に例示したフイルタ回路は第2図の装置
の出力端子62に現われる信号波形のうち、Vcc
まで上昇する信号分だけを抵抗40,41,トラ
ンジスタ42よりなる第1のスイツチング回路に
よつて取り出し、零近傍の信号分を抵抗43,4
4、トランジスタ45よりなる第2のスイツチン
グ回路によつて取り出し、両出力を抵抗46,4
7、コンデンサ48よりなる合成フイルタによつ
て合成したもので、前記第1のスイツチング回路
の出力信号には第1の入力デイジタルデータ成分
は含まれているので、抵抗46を抵抗47の抵抗
比率を適当に調整することによつて第1の入力デ
イジタルデータと第2の入力デイジタルデータの
ゲイン比率を微調整することが出来る。
なお、第7図の構成では抵抗46の抵抗値を小
さくしていくことによつて8対1のゲイン比率よ
りも小さい比率に調整することが可能であるが、
トランジスタ42の出力信号をさらに反転してト
ランジスタ45の出力信号と合成する構成にすれ
ば、8対1のゲイン比率よりも大きい比率に調整
することが可能となる。
この様に本発明のデイジタル−アナログ変換装
置は、出力信号のアクテイブレベル期間に対する
第1の入力デイジタルデータ成分と第2の入力デ
イジタルデータ成分とを論理構成によつて定まる
合成比率で配分し、さらに前記第1の入力デイジ
タルデータ成分と前記第2の入力デイジタル成分
とを出力振幅に関して、その重みづけを異ならせ
たものであり、2系統のデイジタル量を、このデ
イジタル量に応じて変化するアクテイブレベル期
間を有するパルス信号に変換したうえ、変換され
た2系統のパルス信号を合成して、前記2系統の
デイジタル量のいずれの変化にも応じてアクテイ
ブレベル期間が変化するパルス信号を発生するだ
けでなく、この装置をモノリシツクIC化した場
合には、唯一の信号出力端子62に簡単なフイル
タ回路を接続するだけで、論理構成によつて定ま
る合成比率を中心に、その合成比率をも調整する
ことが出来、しかも、その場合、主たる合成比率
は内部の論理構成によつて決定されているため、
ICの外部に調整回路を設けたとしても、調整回
路に使用する抵抗部品の抵抗値の個々のばらつき
や経年変化等によつて合成比率が大きく変化して
しまうというおそれは解消する。
本発明のデイジタル−アナログ変換装置は前述
のIEEE論文に紹介されている様な速度制御系と
位相制御系とを含む制御装置の中心部分に使用す
るのに極めて適している。例えば家庭用VTR
(ビデオテープレコーダ)の生産台数は非常な勢
いで増加しており、今後もこの状態が持続するこ
とが予測されるが、この様な時期にあつてVTR
の生産コストを下げるべく制御回路をモノリシツ
クIC化して、ひいては品質の高い製品をより安
く市場に提供することは極めて重要なことである
が、その場合、本発明を適用して、速度制御系と
位相制御系の合成比率を最も多く生産される普及
型の機種に適合する様な値に論理構成によつて設
定しておいて、それ以外の高級型の機種や特殊用
途の機種では外部回路によつて合成比率の微調整
(一般にVTRのメカニズムは方式や機種が異なつ
ても制御系における速度制御ゲインと位相制御ゲ
インの最適合成比率が大幅に変化することはな
い。)を行なう様にすれば、少なくとも普及型の
機構では部品点数は減少し、品質も向上するの
で、市場への供給価格を低減させることが可能に
なる。
なお、第2図に示した実施例では、電圧合成回
路400は2個の負荷抵抗24,25を直列に接
続し、その接続点に出力端子62を設けて、前記
出力端子62に対する2個のスイツチングトラン
ジスタ23,27の電流重みづけを異ならしめる
様に構成されているが、必らずしもこの様な構成
のみに限定されるものではない。もちろん第2図
の他のブロツクについても同様である。
第8図は本発明で使用し得る電圧合成回路40
0の別の構成例を示したもので、スイツチングト
ランジスタ49および50のコレクタ電流を定電
流化して、負荷抵抗51において加算する様に構
成されている。
なお、第2図および第8図に示した電圧合成回
路400は抵抗24,25の抵抗値を等しくして
おくか、あるいはトランジスタ49,50のコレ
クタ電流を等しくしておくことによつて、NAND
ゲート回路21もしくはANDゲート回路21a
によつて発生される第3の信号のレベル変化に応
じて単位電圧変化(第2図の場合はVcc/2、第
8図の場合は抵抗51の抵抗値をR、定電流値を
Ioとしたとき、RxIo)を発生させる第1のスイ
ツチング手段(トランジスタ27あるいはトラン
ジスタ50)と、RSフリツプフロツプ6によつ
て発生される第2の信号のレベル変化に応じて前
記単位電圧の2倍の電圧変化を発生させる第2の
スイツチング手段(トランジスタ23あるいはト
ランジスタ49)によつて構成されていることに
なる。
以上の説明より明らかな様に本発明のデイジタ
ル−アナログ変換装置は、第1の入力デイジタル
データの変化に応じて、クロツクパルスをカウン
トするカウンタのカウント周期あたりのアクテイ
ブレベル期間が変化する第1の信号を発生する第
1信号発生手段と、第2の入力デイジタルデータ
の変化に応じて前記カウンタのカウント周期あた
りのアクテイブレベル期間が変化する第2の信号
を発生する第2信号発生手段と、前記第1の信号
と前記第2の信号を時分割で合成して前記第1の
入力デイジタルデータならびに前記第2のデイジ
タルデータのいずれの変化にも応じて前記カウン
タのカウント周期あたりのアクテイブレベル期間
が変化する第3の信号を発生する第3信号発生手
段と、前記第2の信号と前記第3の信号を同一の
出力端子に異なる電圧レベルで出力する電圧合成
手段を備え、必要に応じて前記出力端子に電圧判
別可能なフイルタ回路を接続する様に構成されて
いるので、2系統のデイジタル量を適当な合成比
率で論理的に合成した出力信号が得られるだけで
なく、前記出力端子にフイルタ回路を接続した場
合には、その定数を変化させることにより、前記
合成比率を外部から容易に微調整することが出
来、さらには、ICの端子数の削減や、信頼性の
向上も可能となるなど、多大の効果を奏するもの
である。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来例の回路構成図、第2図は本発明
の一実施例の回路構成図、第3図は同本発明の実
施例の動作を説明するための各部の信号波形図、
第4図は従来のRCフイルタ回路の一例の構成
図、第5図、第6図および第7図はいずれも本発
明の装置に使用して好適なフイルタ回路の例を示
す構成図、第8図は本発明で使用し得る電圧合成
回路の別の例を示す構成図である。 1……カウンタ、100……第1信号発生回
路、200……第2信号発生回路、300……第
3信号発生回路、400……電圧合成回路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 クロツクパルスをカウントするカウンタと、
    第1の入力デイジタルデータの変化に応じて前記
    カウンタのカウント周期あたりのアクテイブレベ
    ル期間が変化する第1の信号を発生する第1信号
    発生手段と、第2の入力デイジタルデータの変化
    に応じて前記カウンタのカウント周期あたりのア
    クテイブレベル期間が変化する第2の信号を発生
    する第2信号発生手段と、前記第1の信号と前記
    第2の信号を時分割で合成して前記第1の入力デ
    イジタルデータならびに前記第2の入力デイジタ
    ルデータのいずれの変化にも応じて前記カウンタ
    のカウント周期あたりのアクテイブレベル期間が
    変化する第3の信号を発生する第3信号発生手段
    と、前記第2の信号と前記第3の信号を同一の出
    力端子に異なる電圧レベルで出力する電圧合成手
    段を備えたことを特徴とするデイジタル−アナロ
    グ変換装置。 2 特許請求の範囲第1項の記載において、前記
    第3の信号のレベル変化に応じて単位電圧変化を
    発生させる第1のスイツチング手段と、前記第2
    の信号のレベル変化に応じて前記単位電圧の2倍
    の電圧変化を発生させる第2のスイツチング手段
    によつて前記電圧合成手段を構成したことを特徴
    とするデイジタル−アナログ変換装置。
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