JPS6151802A - 厚膜抵抗による機能調整方法 - Google Patents

厚膜抵抗による機能調整方法

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Publication number
JPS6151802A
JPS6151802A JP59173697A JP17369784A JPS6151802A JP S6151802 A JPS6151802 A JP S6151802A JP 59173697 A JP59173697 A JP 59173697A JP 17369784 A JP17369784 A JP 17369784A JP S6151802 A JPS6151802 A JP S6151802A
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JP
Japan
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thick film
film resistor
trimming
resistor
signal
Prior art date
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Pending
Application number
JP59173697A
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English (en)
Inventor
寛 後藤
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本ざflrlllは回路基板上に形成した厚膜抵抗によ
る機能調整方法に関するものである。
従来例の(j11成とその問題点 第1図は増幅器と半固定ボリュームで構成した電子回路
の一例を示し、1は増幅器(入力は省略する)、2は半
固定ボリュームであり、増幅器1の出力を半固定ボリュ
ーム2で調整し、出力端子3から希望する出力レベルを
1!7る回路である。この回路を普通のベークライトプ
リント基板で構成したとぎは、半固定ボリューム2によ
って出力端子3からの出力レベルはOから1の増幅器出
力レベル1どすると、Oから1つまり1の増幅器出力の
0%から100%まで幅広い調整範囲が得られる。
このような従来の回路基板と部品実装に変って近年、回
路実装の高密度化とコストダウン等が機器の小型化、ロ
ーコスト化に伴って要望され、最近においてはこの目的
のために基板としてアルミナを材料としたアルミナ基板
が用いられている。このアルミナ基板の最も大きな特長
は、基板上に厚膜抵抗を形成でき、更にこの抵抗値のト
リミングをオンボードでできることであって、アルミナ
柾板の場合には大半は厚膜抵抗が形成されている。
この厚膜抵抗は1つは回路定数としてのある決った定数
のものが要求される場合と、もう1つ(ま厚膜抵抗を用
いて第1図の例のような半固定ボリュームに相当ザる機
能が要求される場合がある。回路定数として用いる場合
は必要な定数を1qるためのトリミング範σ■としては
形成した厚膜抵抗の毎度のばらつき範囲をカバーできる
だけのトリミング範囲をとることができれば良い。しか
し半固定ボリュームに相当する機能を持たせた場合はト
リミング範囲を広くとれることが要求される。反面トリ
ミングからみると、トリミング範囲を大きくしようとす
ると、抵抗面積を大きくとる必要があり、又トリミング
精度上からはトリミング範囲は狭い方が好ましい。第2
図は第1図に示す半固定ボリュームと同じような機能を
厚膜抵抗を用いて構成したときの図であって、4.5が
厚膜抵抗であり、出力は厚膜抵抗4.5の中点に位置す
る端子3から1!1ている。この厚膜抵抗4を具体的に
基板上に形成した例を第3図に示した。6は厚膜抵抗4
の下に形成した導体ランドである。7はレーザトリミン
グによって形成された切込みで、この切込み量を変える
ことによって抵抗値を変えることができる。この切込み
形状は第3図に示した方法以外に多くのものがあるが、
ここではその説明を省略づる。次に第2図の回路を第1
図の半固定ボリュームの代りに機能を圓ぎ換えたとする
と、出力端子3から得られる信号レベルは厚膜抵抗4又
は5をトリミングづ゛ることにJ:って変化させること
ができる。しかもここで抵抗4又は5のレーザトリミン
グ可能な;に囲はトリミング前の抵抗に対して2倍まで
としたとぎ、出力端子3での信号レベル変化範ff11
は1〜リミング前の抵抗値は厚膜抵抗4.5とも同じ抵
抗値とするとトリミング前の信号レベルが0.5である
のに対して、厚膜抵抗4を最大値までトリミングしたと
きは0.33 、又厚膜抵抗5を最大値までトリミング
したとぎは0.66となる。このように第1図の半固定
ボリュームの場合はO〜1まで変化できるのに、厚膜抵
抗トリミング範囲を2倍とすると、0.33〜0.66
の範囲しか調整できない。この範σ11を第7図(イ)
、(ロ)で示している。このトリミング範囲を2倍から
例えば4倍までトリミングできるようにすると、調整範
囲は広がるが、厚膜抵抗の面積を大幅に拡大する必要が
あり、厚膜抵抗の占有面積が大きくなり好ましくないば
かりでなくトリミングを拡大することによる困難な面も
多い。
発明の目的 本発明は上記従来の欠点を解消するもので、広い調整範
囲を簡Illに得ることができるW膜抵抗による機能調
整方法を提供することを目的とする。
発明の構成 上記目的を達成するため、本発明の厚膜抵抗による機能
調整方法は、回路基板上に形成した第1の厚膜抵抗と第
2の厚膜抵抗とを直列に接続し、前記第1の厚膜抵抗と
第2の厚膜抵抗の接続交点から信号を取出し、前記第1
の厚膜抵抗又は第2の厚Aり抵抗をトリミングしてなる
厚膜抵抗のI能調整方法において、前記第1の厚膜抵抗
と第2の厚膜抵抗間に9〕3の1g膜抵抗を形成し、通
常の機能調整にd3いては前記第3の厚膜抵抗を前記基
板上に形成した導体で短絡しこの導体から前記信号を取
出すJ:うになし、前記第1の厚膜抵抗又は第2の厚膜
抵抗の何れかをトリミングして得られるトリミング限界
以上の調整が必要なとき、前記導体の一部を切断し、ト
リミング限界までトリミングした厚膜抵抗以外の第1の
厚膜抵抗又は第2の厚膜抵抗と第3の厚Ilu抵抗との
交点から前記信号を1qるようにし、前記トリミング限
界までトリミングした厚膜抵抗以外の第1の厚膜抵抗又
は第2の厚膜抵抗と第3の厚膜抵抗の何ねかをトリミン
グするものである。
実施例の説明 以下、本発明の実施例について、図面に基づいて説明す
る。
先ず、第4図において、厚膜抵抗4.5は第3図に示す
ものと同じものとし、本実618例では史に厚膜抵抗4
.5間に厚膜抵抗8を形成し、導体9゜10で短絡した
上で出力端子3に接続している。この状態で第2図の場
合と同様に第1図に示1半固定ボリュームに置き換えた
とし、第2図と同じ条件で厚膜抵抗4又は5をトリミン
グすることによって厚膜抵抗8は短絡されているから、
信号レベルは0,33〜0.66まで変(ヒする。、調
整範囲が必要な場合1よ、vX導体又は10の一部をレ
ーザーで切断する。導体9を切断したときの等価回路を
第5図aに示し、)!)休10を切断したときの等(西
回路を第5図すで示したaPgL模抵抗8も厚膜抵抗4
.5と同じ1氏抗(l゛1とし、トリミング範囲も同様
とすると、第5 +;I aの18合においては、第4
図の状態で0.33まで調整されたものが、第7図(ロ
)の0.33から(ハ)の0.25まで不連続に変化す
る。
しかし更に厚膜抵抗5又は8をトリミングザることによ
って連続に0.2〜0.4の範囲の調整ができる。次に
第5図すの場合は第7図(ハ)の上の図で示すように0
.6〜08まで連続に調整できる。
つまり本実施例では厚膜抵抗を1周追加することによっ
て、02〜0.8の広い範囲に口って調整が可能となる
。しかも調整の正規分布の中心を0.5に近くしておけ
ば大半が033〜066の範囲で調整裏面とりることも
できる。従って調整時間も、特別片寄った調整が必要な
場合以外はトリミングスピードを非1:1に早くとるこ
とが可能で、又トリミング範囲が限られた条件の下でも
広い調整範囲を(qることができる。
次に第6図に示す実施例は第4図に示す導体9゜10間
に占有面積が小さく又比較的低抵抗の厚膜抵抗11.1
2を形成したもので、レーザー出力等の条件等で導体切
断条件が取れない場合、この厚膜抵抗を切断してやれば
第4図の場合と殆んど同じ条件のらのが得られる。
発明の効果 以上のJ、うに本発明にJ、れば、トリミング範囲が限
られた条件下でも調整範囲の広い鏝面トリミングを簡単
に15することができる1夏れた方法を提供することが
できる。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第3図は従来例を示し、第1図は増幅器と半固
定ボリュームで閏或した電子回路図、第2図は第1図の
半固定ボリュームを厚膜抵抗で構成した回路図、第3図
は19膜抵抗の具体例を示す説明図、第4図〜第6図は
本発明の実施例を示ず回路図、第7図は調整箱[[11
を示す説明図である。 3・・・出力端子、4,5.8・・・厚膜抵抗、9.1
010.導体、N、 12・・・/17II!、!抵抗
代理人   森  本  義  弘 第1図 を 第2図 第3図 第4図 第S図 (−)                      
      (bン第Δ図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.回路基板上に形成した第1の厚膜抵抗と第2の厚膜
    抵抗とを直列に接続し、前記第1の厚膜抵抗と第2の厚
    膜抵抗の接続交点から信号を取出し、前記第1の厚膜抵
    抗又は第2の厚膜抵抗をトリミングしてなる厚膜低抗の
    機能調整方法において、前記第1の厚膜抵抗と第2の厚
    膜抵抗間に第3の厚膜抵抗を形成し、通常の機能調整に
    おいては前記第3の厚膜抵抗を前記基板上に形成した導
    体で短絡しこの導体から前記信号を取出すようになし、
    前記第1の厚膜抵抗又は第2の厚膜抵抗の何れかをトリ
    ミングして得られるトリミング限界以上の調整が必要な
    とぎ、前記導体の一部を切断し、トリミング限界までト
    リミングした厚膜抵抗以外の第1の厚膜抵抗又は第2の
    厚膜抵抗と第3の厚膜抵抗との交点から前記信号を得る
    ようにし、前記トリミング限界までトリミングした厚膜
    抵抗以外の第1の厚膜抵抗又は第2の厚膜抵抗と第3の
    厚膜抵抗の何れかをトリミングする厚膜抵抗による機能
    調整方法。
  2. 2.第3の厚膜抵抗を短絡した導体間に第4、第5の厚
    膜抵抗を形成し、信号を前記第4、第5の厚膜抵抗間か
    ら取出し、第1の厚膜抵抗又は第2の厚膜抵抗の何れか
    をトリミングして得られるトリミング限界以上の調整が
    必要なとき、前記第4又は第5の厚膜抵抗を切断する特
    許請求の範囲第1項記載の厚膜低抗による機能調整方法
    。
JP59173697A 1984-08-21 1984-08-21 厚膜抵抗による機能調整方法 Pending JPS6151802A (ja)

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JPS6151802A true JPS6151802A (ja) 1986-03-14

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