JPS6151815A - 積層セラミツクコンデンサの製造方法 - Google Patents
積層セラミツクコンデンサの製造方法Info
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- JPS6151815A JPS6151815A JP17361784A JP17361784A JPS6151815A JP S6151815 A JPS6151815 A JP S6151815A JP 17361784 A JP17361784 A JP 17361784A JP 17361784 A JP17361784 A JP 17361784A JP S6151815 A JPS6151815 A JP S6151815A
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- ceramic capacitor
- internal electrodes
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- Pending
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Landscapes
- Ceramic Capacitors (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（技術分野）
本発明は積層セラミックコンデンサの製造方法に関する
ものである。
ものである。
（従来技術）
一般に従来の積層セラミックコンデンサは、まず微細化
形状に粉砕したセラミック粉末と有機バインダとを混練
した後、ドクターブレード法等によって未焼成のセラミ
ックグリーンシート（以下生シートと称す〕を作製する
。
形状に粉砕したセラミック粉末と有機バインダとを混練
した後、ドクターブレード法等によって未焼成のセラミ
ックグリーンシート（以下生シートと称す〕を作製する
。
次にこの生シートを所望の形状に切断し、その表面にス
クリーン印刷等の公知の手段によシ内部電極を被着し乾
燥する。次に第１図（ａ）〜（ｄ）に示すように、内部
電極７を片面に印刷した生シート１の複数枚を内部電極
を印刷しない生シートからなる保＠層２で上下を挾むよ
うに所定の枚数を積み重ねた後、熱圧着して積層体３を
形成し、個片状態に切断してｒＲｆｄした生チップ個片
４とする。
クリーン印刷等の公知の手段によシ内部電極を被着し乾
燥する。次に第１図（ａ）〜（ｄ）に示すように、内部
電極７を片面に印刷した生シート１の複数枚を内部電極
を印刷しない生シートからなる保＠層２で上下を挾むよ
うに所定の枚数を積み重ねた後、熱圧着して積層体３を
形成し、個片状態に切断してｒＲｆｄした生チップ個片
４とする。
この生チップ個片４を焼成し、両端に端子電極５を焼き
つけて積層セラミックコンデンサ６を作製する。
つけて積層セラミックコンデンサ６を作製する。
この積層セラミックコンデンサ６は内部電極７がセラミ
ック中に埋設し一体化されているため、第１図（ｂ）に
示すａ−ａ′方向の積層ズレに関し生チツブ個片４を１
〜数個破壊してチェックを行っていた。
ック中に埋設し一体化されているため、第１図（ｂ）に
示すａ−ａ′方向の積層ズレに関し生チツブ個片４を１
〜数個破壊してチェックを行っていた。
（発明の目的）
本発明の目的はかかる従来の欠点を除去した積層セラミ
ックコンデンサ及びその製造方法を提供することにある
。
ックコンデンサ及びその製造方法を提供することにある
。
（発明の構成）
本発明によれば、積層セラミックコンデンサの側面に、
内部電極の検査用の電極パターンを設けることによシ、
積層セラミックコンデンサ素子を破壊することなく、内
部電極構造の検査を行うことができる積層セラミックコ
ンデンサの製造方法が得られる。
内部電極の検査用の電極パターンを設けることによシ、
積層セラミックコンデンサ素子を破壊することなく、内
部電極構造の検査を行うことができる積層セラミックコ
ンデンサの製造方法が得られる。
１（実施例）
以下、本発明の実施例を第２図〜第４図によシ詳述する
。微細化形状に粉砕したセラミック粉末と有機バインダ
とを混練した後、ドクターブレード法によって、生シー
トを作製する。次にこの生シートを所定の形状に切断し
、その表面にスクリーン印刷によって内部電極を被着し
乾燥する。この時スクリーンは第２図のように内部電極
７ａと内部電極７ａからチェック用マーカー７ｂとして
方形状等に取り除いた形状をもつスクリーンを用いて印
刷する。このチェック用マーカー７ｂのａ２１方向の長
さＸは設計上のマージン長さｔから必要とする所望マー
ジン多さｔ′ を差し引いた長さの２倍すなわちｘ＝２
Ｘ（ｔ−１’）に形成する。
。微細化形状に粉砕したセラミック粉末と有機バインダ
とを混練した後、ドクターブレード法によって、生シー
トを作製する。次にこの生シートを所定の形状に切断し
、その表面にスクリーン印刷によって内部電極を被着し
乾燥する。この時スクリーンは第２図のように内部電極
７ａと内部電極７ａからチェック用マーカー７ｂとして
方形状等に取り除いた形状をもつスクリーンを用いて印
刷する。このチェック用マーカー７ｂのａ２１方向の長
さＸは設計上のマージン長さｔから必要とする所望マー
ジン多さｔ′ を差し引いた長さの２倍すなわちｘ＝２
Ｘ（ｔ−１’）に形成する。
次に、内部電極７ａ及びチェック用マーカー７ｂを片面
に印刷した生シートの複数枚を、内部電極を印刷しない
生シードからなる保護層で上下をはさむように所望枚数
を積み重ねた後、熱圧着して積層体（図示省略）を形成
し、個片状態に切断して、生チップ個片８とする（第３
図（ａ）、 （ｂ））。この時のａ−ａ’方向の積層ズ
レはチェック用マーカー７ｂの組み込まれた生チップ個
片８の一万の端面８ａ及び端面８ａと対問する端面５ｂ
ＶｃＨ出している引き出し電極のチェック用マーカーの
有無によって確認する。
に印刷した生シートの複数枚を、内部電極を印刷しない
生シードからなる保護層で上下をはさむように所望枚数
を積み重ねた後、熱圧着して積層体（図示省略）を形成
し、個片状態に切断して、生チップ個片８とする（第３
図（ａ）、 （ｂ））。この時のａ−ａ’方向の積層ズ
レはチェック用マーカー７ｂの組み込まれた生チップ個
片８の一万の端面８ａ及び端面８ａと対問する端面５ｂ
ＶｃＨ出している引き出し電極のチェック用マーカーの
有無によって確認する。
次に、生チップ個片８を焼成した後、第４図に示す如く
、両端部に端子電極５を焼き付は積層セラミックコンデ
ンサ９を得る。
、両端部に端子電極５を焼き付は積層セラミックコンデ
ンサ９を得る。
（効果）
以上、本発明によ多積層ズレの少ない積層セラミックコ
ンデンサの製造方法を提供することができる効果がある
。
ンデンサの製造方法を提供することができる効果がある
。
なお、チェック用マーカーフｂの位置の変更及び数を増
すことについても本発明の意図する目的は変わらないこ
とは勿論である。
すことについても本発明の意図する目的は変わらないこ
とは勿論である。
なお、生シートの両面に内部電極を印刷して積層体を形
成する場合、生シートの積み重ね方法が内部電極を印刷
した生シートと内部電極を印刷しない生シートを交互に
積み重ねた後内部電極を印刷しない生シートからなる保
護層で上下をはさむように所望枚数を積み重ねることに
よυ本発明の意図する目的は達せられる。
成する場合、生シートの積み重ね方法が内部電極を印刷
した生シートと内部電極を印刷しない生シートを交互に
積み重ねた後内部電極を印刷しない生シートからなる保
護層で上下をはさむように所望枚数を積み重ねることに
よυ本発明の意図する目的は達せられる。
第１図（ａ）は、従来の熱圧着時の積層構造を示す分解
斜視図。第１図中）は、第１図（ａ） ａ −ａ ’線
の熱圧着後の積層体の断面図。第１図（Ｃ）は、第１図
（ｂｌの破線で分離した生チップ個片の斜視図とそのｂ
−ｂ’線及びＣ−Ｃ’線の各断面図。第１図（ｄ）は、
第１図（ｃ）の両端に端子電極を形成した積層セラミッ
クコンデンサ。＠２図は、本発明実施例によるチェック
用マーカーを有したスクリーンによシ内部電極及びチェ
ック用マーカーを被着形成した生シート。第３図（ａ）
は、本発明実施例の生チップ個片の斜視図。第３図（ｂ
）は、第３図（ａ）のｄ−ｄ’線の断面図。第４図は、
第３図（ａ）の両端部に端子電極を形成した積層セラミ
ックコンデンサ。 １・・・・・・生シート、２・・・・・・保護層、３・
・・・・・積層体、４、 ８・・・・・・生チップ個片
、５・・・・・・端子電極、６゜９・・・・・・積層セ
ラミックコンデンサ、７’、７１・・・・・・内部電極
、７ｂ・・・・・・チェック用マーカー。 ローーゝ−一） 「−一一一一一一、 くっ 峯３回
斜視図。第１図中）は、第１図（ａ） ａ −ａ ’線
の熱圧着後の積層体の断面図。第１図（Ｃ）は、第１図
（ｂｌの破線で分離した生チップ個片の斜視図とそのｂ
−ｂ’線及びＣ−Ｃ’線の各断面図。第１図（ｄ）は、
第１図（ｃ）の両端に端子電極を形成した積層セラミッ
クコンデンサ。＠２図は、本発明実施例によるチェック
用マーカーを有したスクリーンによシ内部電極及びチェ
ック用マーカーを被着形成した生シート。第３図（ａ）
は、本発明実施例の生チップ個片の斜視図。第３図（ｂ
）は、第３図（ａ）のｄ−ｄ’線の断面図。第４図は、
第３図（ａ）の両端部に端子電極を形成した積層セラミ
ックコンデンサ。 １・・・・・・生シート、２・・・・・・保護層、３・
・・・・・積層体、４、 ８・・・・・・生チップ個片
、５・・・・・・端子電極、６゜９・・・・・・積層セ
ラミックコンデンサ、７’、７１・・・・・・内部電極
、７ｂ・・・・・・チェック用マーカー。 ローーゝ−一） 「−一一一一一一、 くっ 峯３回
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 次の工程を含むことを特徴とする積層セラミックコンデ
ンサの製造方法。 （イ）未焼成のセラミックグリーンシートの片面又は両
面に積層ズレチェック用マーカーとして、生チップ個片
の端子電極取り出し部に相当する内部電極の一部を取り
除いた内部電極を被着形成する工程と （ロ）生チップ個片状態に切断して積層ズレをチェック
する工程。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17361784A JPS6151815A (ja) | 1984-08-21 | 1984-08-21 | 積層セラミツクコンデンサの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17361784A JPS6151815A (ja) | 1984-08-21 | 1984-08-21 | 積層セラミツクコンデンサの製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6151815A true JPS6151815A (ja) | 1986-03-14 |
Family
ID=15963928
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17361784A Pending JPS6151815A (ja) | 1984-08-21 | 1984-08-21 | 積層セラミツクコンデンサの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6151815A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05325297A (ja) * | 1991-03-22 | 1993-12-10 | Hitachi Maxell Ltd | 情報の記録再生システム |
-
1984
- 1984-08-21 JP JP17361784A patent/JPS6151815A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05325297A (ja) * | 1991-03-22 | 1993-12-10 | Hitachi Maxell Ltd | 情報の記録再生システム |
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