JPS6152501B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6152501B2 JPS6152501B2 JP56210706A JP21070681A JPS6152501B2 JP S6152501 B2 JPS6152501 B2 JP S6152501B2 JP 56210706 A JP56210706 A JP 56210706A JP 21070681 A JP21070681 A JP 21070681A JP S6152501 B2 JPS6152501 B2 JP S6152501B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- program
- diagnostic
- diagnosed
- circuit
- scan
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/36—Prevention of errors by analysis, debugging or testing of software
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(1)発明の技術分野
本発明はデータ処理装置におけるような被診断
装置に関する診断プログラムのチエツクを自動的
に行なうことのできる装置に関する。
装置に関する診断プログラムのチエツクを自動的
に行なうことのできる装置に関する。
(2) 技術の背景
データ処理装置におけるような被診断装置に対
する診断プログラムを有し、被診断装置の故障発
生時に該診断プログラムを走らせ、状況を診断す
ることは通常行なわれている。そのとき診断プロ
グラムそれ自体に誤りがあると正常な診断ができ
ないから、診断プログラムをテストすることが必
要であり、従来は人為的に行なうことが主であつ
た。
する診断プログラムを有し、被診断装置の故障発
生時に該診断プログラムを走らせ、状況を診断す
ることは通常行なわれている。そのとき診断プロ
グラムそれ自体に誤りがあると正常な診断ができ
ないから、診断プログラムをテストすることが必
要であり、従来は人為的に行なうことが主であつ
た。
(3) 従来技術と問題点
従来は正常に動作している被診断装置に或故障
を起させてから、診断プログラムを走らせて見
る。検出したエラーの位置が予め故障を起した位
置との一致性を見て、診断プログラムの判断を行
なつている。このとき被診断装置の各所について
故障を起させるなどして診断プログラムを十分な
範囲にチエツクすることは、スキヤンインアドレ
スの次々の設定と結果の確認、システムのリセツ
トを行なうため人為的操作が多く煩雑であつた。
を起させてから、診断プログラムを走らせて見
る。検出したエラーの位置が予め故障を起した位
置との一致性を見て、診断プログラムの判断を行
なつている。このとき被診断装置の各所について
故障を起させるなどして診断プログラムを十分な
範囲にチエツクすることは、スキヤンインアドレ
スの次々の設定と結果の確認、システムのリセツ
トを行なうため人為的操作が多く煩雑であつた。
(4) 発明の目的
本発明の目的は前述の欠点を改善し診断プログ
ラムの広範囲なチエツクを自動的に可能としたチ
エツク装置を提供することにある。
ラムの広範囲なチエツクを自動的に可能としたチ
エツク装置を提供することにある。
(5) 発明の構成
そのため本発明の主要な構成はスキヤンインア
ドレス発生回路と被診断装置への動作を制御する
ための診断性能測定プログラムと、スキヤンイン
アドレスをデコードするデコード回路と、該デコ
ード回路より得られた被診断装置内故障位置と診
断プログラム処理結果より得られた故障位置とを
比較し、その結果を診断性能測定プログラムに報
告する比較・報告回路を具備することである。
ドレス発生回路と被診断装置への動作を制御する
ための診断性能測定プログラムと、スキヤンイン
アドレスをデコードするデコード回路と、該デコ
ード回路より得られた被診断装置内故障位置と診
断プログラム処理結果より得られた故障位置とを
比較し、その結果を診断性能測定プログラムに報
告する比較・報告回路を具備することである。
(3) 発明の実施例
以下図面に示す本発明の実施例について説明す
る。第１図のブロツク構成図は被診断装置TTM
及びサービスプロセツサSVCとして一括した装
置とを含んでいる。サービスプロセツサSVCに
おては診断性能測定プログラムCMPと示したプ
ログラム設定部と動作部を有し、下記の動作を行
なう。制御レジスタCTRを介してプログラムデ
コーダＰ―DECにより診断性能測定プログラム
の当初のプログラムは被診断装置TTMにリセツ
ト信号RSを与える。次のプログラムはスキヤン
イン信号SCIをスキヤンインアドレス発生回路
SCAを介して被診断装置TTMに与え、同装置の
スキヤンイン回路SCI―Ｃにより故障個所を設定
する。スキヤンインアドレスは被診断装置TTM
内のパツケージに対応する上位アドレスと、パツ
ケージ内の個々の回路または素子に対応する下位
アドレスとで形成され、プログラムからの起動が
かかる毎に下位アドレスを＋１するようにアドレ
ス発生回路を構成しておくことが望ましい。
る。第１図のブロツク構成図は被診断装置TTM
及びサービスプロセツサSVCとして一括した装
置とを含んでいる。サービスプロセツサSVCに
おては診断性能測定プログラムCMPと示したプ
ログラム設定部と動作部を有し、下記の動作を行
なう。制御レジスタCTRを介してプログラムデ
コーダＰ―DECにより診断性能測定プログラム
の当初のプログラムは被診断装置TTMにリセツ
ト信号RSを与える。次のプログラムはスキヤン
イン信号SCIをスキヤンインアドレス発生回路
SCAを介して被診断装置TTMに与え、同装置の
スキヤンイン回路SCI―Ｃにより故障個所を設定
する。スキヤンインアドレスは被診断装置TTM
内のパツケージに対応する上位アドレスと、パツ
ケージ内の個々の回路または素子に対応する下位
アドレスとで形成され、プログラムからの起動が
かかる毎に下位アドレスを＋１するようにアドレ
ス発生回路を構成しておくことが望ましい。
次に診断性能測定プログラムはプログラムデコ
ーダＰ―DECを介して初期プログラムロ―デイ
ングIPL信号を発生する。被診断装置のIPL処理
回路IPL―Ｐにより処理され、正常走行確認プロ
グラムTMPを起動させる。TMPは被診断装置の
処理が正常であるか否かを確認するプログラムと
いう。正常走行確認プログラムTMPが１サイク
ル走行するに必要な時間を経過して後、後述の割
込制御プログラムからマシンチエツクの報告がな
いと、TMPが正常に終了したということで未検
出故障回数のカウンタを＋１する。前述のように
故障位置が設定されているとTMPの走行中マシ
ンチエツク割込信号が発生し、割込制御プログラ
ムICPに報告される。割込制御プログラムICPは
次に診断プログラムCHPに起動をかける。診断
プログラムCHPは被診断装置内の故障位置を解
析するプログラムであつて、この場合解析された
故障位置は前記スキヤンインアドレスの上位ビツ
トに対応するパツケージ位置を示している。診断
プログラムによる故障位置はこの場合パツケージ
単位で結果レジスタＲ―RGにセツトされる。次
に比較・報告回路CRCにおいて、設定した故障
パツケージの位置情報のデコード回路DECを介
したデータと、結果レジスタＲ―RGの結果とを
比較し、一致・不一致を診断性能測定プログラム
へ報告する。パツケージ単位において一致信号が
オンとなる条件は故障の設定されたパツケージが
診断プログラムから得られる被擬パツケージに含
まれているときである。更に詳しく説明すると、
第２図に示すように被診断装置TTMのパツケー
ジPCKがNo.１乃至No.６まであるとし、パツケー
ジNo.１に対し故障位置の設定を行なつた場合を考
える。比較・報告回路CRCの一例を第３図に示
すように構成すると、スキヤンインアドレス発生
回路のパツケージ内部アドレスの上位桁が001で
あるとし、デコーダDECによりデコードすると
出力１が“１”となる。一方診断プログラムによ
りセツトされる結果レジスタＲ―RGにはパツケ
ージNo.１とNo.２が故障であると指示された場合は
論理積演算回路LGCのうちＡのみに出力“１”
が現われ、一致信号を得て例えばフリツプフロツ
プFFをセツトする。したがつて診断性能測定プ
ログラムがフリツプフロツプを検索し“１”のセ
ツトされていること即ちプログラムが当該個所の
診断については正常であつたことを示す。この
“１”のセツト信号のとき診断性能測定プログラ
ムは適中故障回数を＋１し、一致信号が“０”で
あれば誤指摘故障回数を＋１する。
ーダＰ―DECを介して初期プログラムロ―デイ
ングIPL信号を発生する。被診断装置のIPL処理
回路IPL―Ｐにより処理され、正常走行確認プロ
グラムTMPを起動させる。TMPは被診断装置の
処理が正常であるか否かを確認するプログラムと
いう。正常走行確認プログラムTMPが１サイク
ル走行するに必要な時間を経過して後、後述の割
込制御プログラムからマシンチエツクの報告がな
いと、TMPが正常に終了したということで未検
出故障回数のカウンタを＋１する。前述のように
故障位置が設定されているとTMPの走行中マシ
ンチエツク割込信号が発生し、割込制御プログラ
ムICPに報告される。割込制御プログラムICPは
次に診断プログラムCHPに起動をかける。診断
プログラムCHPは被診断装置内の故障位置を解
析するプログラムであつて、この場合解析された
故障位置は前記スキヤンインアドレスの上位ビツ
トに対応するパツケージ位置を示している。診断
プログラムによる故障位置はこの場合パツケージ
単位で結果レジスタＲ―RGにセツトされる。次
に比較・報告回路CRCにおいて、設定した故障
パツケージの位置情報のデコード回路DECを介
したデータと、結果レジスタＲ―RGの結果とを
比較し、一致・不一致を診断性能測定プログラム
へ報告する。パツケージ単位において一致信号が
オンとなる条件は故障の設定されたパツケージが
診断プログラムから得られる被擬パツケージに含
まれているときである。更に詳しく説明すると、
第２図に示すように被診断装置TTMのパツケー
ジPCKがNo.１乃至No.６まであるとし、パツケー
ジNo.１に対し故障位置の設定を行なつた場合を考
える。比較・報告回路CRCの一例を第３図に示
すように構成すると、スキヤンインアドレス発生
回路のパツケージ内部アドレスの上位桁が001で
あるとし、デコーダDECによりデコードすると
出力１が“１”となる。一方診断プログラムによ
りセツトされる結果レジスタＲ―RGにはパツケ
ージNo.１とNo.２が故障であると指示された場合は
論理積演算回路LGCのうちＡのみに出力“１”
が現われ、一致信号を得て例えばフリツプフロツ
プFFをセツトする。したがつて診断性能測定プ
ログラムがフリツプフロツプを検索し“１”のセ
ツトされていること即ちプログラムが当該個所の
診断については正常であつたことを示す。この
“１”のセツト信号のとき診断性能測定プログラ
ムは適中故障回数を＋１し、一致信号が“０”で
あれば誤指摘故障回数を＋１する。
次に診断性能測定プログラムCMPは当初の被
診断装置にリセツト信号を与えることに戻り、こ
れから自動的に繰返す。
診断装置にリセツト信号を与えることに戻り、こ
れから自動的に繰返す。
以上の説明では診断プログラムCHPとしてエ
ラーについて症状分析型のものとしたが、他の形
式の診断プログラムを使用することもできる。例
えば被診断装置TTMからの割込の有無に関係な
く診断を開始するような所謂反応分析型のもので
あつても良い。その場合は第１図の割込制御プロ
グラムの存在が必要でなく正常確認プログラム
TMPの走行と同時に診断プログラムCHPを起動
する。診断プログラムが故障を検出しないときは
未検出故障回数を＋１し、故障を検出すると比
較・報告回路CMCが動作する。
ラーについて症状分析型のものとしたが、他の形
式の診断プログラムを使用することもできる。例
えば被診断装置TTMからの割込の有無に関係な
く診断を開始するような所謂反応分析型のもので
あつても良い。その場合は第１図の割込制御プロ
グラムの存在が必要でなく正常確認プログラム
TMPの走行と同時に診断プログラムCHPを起動
する。診断プログラムが故障を検出しないときは
未検出故障回数を＋１し、故障を検出すると比
較・報告回路CMCが動作する。
(7) 発明の効果
以上詳細に説明したように本発明によると診断
性能測定プログラムの制御により、故障個所の設
定とそれを検出することを自動的に繰返すことが
できるため、人手の介入が最小限となり、複雑な
被診断装置に対する診断プログラムであつても、
チエツクすることが容易で且つ有効である。
性能測定プログラムの制御により、故障個所の設
定とそれを検出することを自動的に繰返すことが
できるため、人手の介入が最小限となり、複雑な
被診断装置に対する診断プログラムであつても、
チエツクすることが容易で且つ有効である。
第１図は本発明の実施例の構成を示すブロツク
図、第２図は第１図中の被診断装置のパツケージ
の説明図、第３図は第１図中の比較・報告回路の
構成を示す図である。 CHP……診断プログラム、SVC……サービス
プロセツサ、TTM…被診断装置、RS……リセツ
ト信号、SCA……スキヤンインアドレス発生回
路、CMP……診断性能測定プログラム、DEC…
…デコード回路、CRC……比較・報告回路。
図、第２図は第１図中の被診断装置のパツケージ
の説明図、第３図は第１図中の比較・報告回路の
構成を示す図である。 CHP……診断プログラム、SVC……サービス
プロセツサ、TTM…被診断装置、RS……リセツ
ト信号、SCA……スキヤンインアドレス発生回
路、CMP……診断性能測定プログラム、DEC…
…デコード回路、CRC……比較・報告回路。
Claims (1)
- スキヤンインアドレス発生回路により被診断装
置に対し故障位置を設定し、正常確認プログラム
の走行により検出して該故障位置を診断する診断
プログラムにつき該診断プログラムの良否をチエ
ツクする装置において、スキヤンインアドレス発
生回路と被診断装置への動作を制御するための診
断性能測定プログラムと、スキヤンインアドレス
をデコードするデコード回路と・該デコード回路
より得られた被診断装置内故障位置と診断プログ
ラム処理結果より得られた故障位置とを比較しそ
の結果を診断性能測定プログラムに報告する比
較・報告回路を具備することを特徴とする診断プ
ログラムのチエツク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56210706A JPS58117058A (ja) | 1981-12-30 | 1981-12-30 | 診断プログラムのチエツク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56210706A JPS58117058A (ja) | 1981-12-30 | 1981-12-30 | 診断プログラムのチエツク装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58117058A JPS58117058A (ja) | 1983-07-12 |
| JPS6152501B2 true JPS6152501B2 (ja) | 1986-11-13 |
Family
ID=16593746
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56210706A Granted JPS58117058A (ja) | 1981-12-30 | 1981-12-30 | 診断プログラムのチエツク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58117058A (ja) |
-
1981
- 1981-12-30 JP JP56210706A patent/JPS58117058A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58117058A (ja) | 1983-07-12 |
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