JPS6183936A - 降伏伸び検出装置 - Google Patents
降伏伸び検出装置Info
- Publication number
- JPS6183936A JPS6183936A JP20586584A JP20586584A JPS6183936A JP S6183936 A JPS6183936 A JP S6183936A JP 20586584 A JP20586584 A JP 20586584A JP 20586584 A JP20586584 A JP 20586584A JP S6183936 A JPS6183936 A JP S6183936A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- elongation
- load
- time
- differential value
- point
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N3/08—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress by applying steady tensile or compressive forces
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
本発明は引張試験において得られる応力−ひすみ曲線の
降伏伸び値を自動的に検出する降伏伸び検出装置に関す
る。
降伏伸び値を自動的に検出する降伏伸び検出装置に関す
る。
(ロ)従来技術
降伏伸び値を検出する場合、始点の検出は従来から比較
的Wi単に検出できるが、終点の検出は材料により種々
のカーブになりパターン認識が難しく、このため従来降
伏伸び値を自動的に検出する有効な方法はなく、誤差も
大きかった。このため応力−ひずみ曲線より人間がチャ
ートより読み取っていた。
的Wi単に検出できるが、終点の検出は材料により種々
のカーブになりパターン認識が難しく、このため従来降
伏伸び値を自動的に検出する有効な方法はなく、誤差も
大きかった。このため応力−ひずみ曲線より人間がチャ
ートより読み取っていた。
(ハ)目的
本発明は上記従来技術の欠点を解消し、降伏伸び値を自
動的に検出できる降伏伸び検出装置の提供を目的とする
。
動的に検出できる降伏伸び検出装置の提供を目的とする
。
(ニ)構成
本発明は、試片に加わる荷重を検出する荷重検出器と、
試片に生じる伸びを検出する伸び検出器と、これらの検
出器からの荷重信号と伸びに対応する時間信号とを一対
にして引張試験の開始から同期して順次格納してゆくバ
ッファ装置と、前記格納された荷重値を微分する微分装
置と、荷重の微分値と時間とから降伏伸びの終点を演算
する演算装置とを有し、該演算装置は荷重の一次微分値
一時間曲線を逆にさかのほる方向に微分値の変化を演算
し、微分値に一定以上の落差を生じる変曲点があるとき
はそのときの時間に対応する伸びを、また微分値に一定
以上の落差を生じないときは微分値が初めて負になると
きの時間に対応する伸びを降伏伸びの終点として算出す
ることを特徴とする降伏伸び検出装置である。
試片に生じる伸びを検出する伸び検出器と、これらの検
出器からの荷重信号と伸びに対応する時間信号とを一対
にして引張試験の開始から同期して順次格納してゆくバ
ッファ装置と、前記格納された荷重値を微分する微分装
置と、荷重の微分値と時間とから降伏伸びの終点を演算
する演算装置とを有し、該演算装置は荷重の一次微分値
一時間曲線を逆にさかのほる方向に微分値の変化を演算
し、微分値に一定以上の落差を生じる変曲点があるとき
はそのときの時間に対応する伸びを、また微分値に一定
以上の落差を生じないときは微分値が初めて負になると
きの時間に対応する伸びを降伏伸びの終点として算出す
ることを特徴とする降伏伸び検出装置である。
(ホ)実施例
第1図は降伏点Aの見られる材料の荷重−伸び曲線図で
、第2図は第1図の荷重−伸び曲線の微分図である。第
3図は実施装置の構成図、第4図は実施装置による操作
のフローチャートである。
、第2図は第1図の荷重−伸び曲線の微分図である。第
3図は実施装置の構成図、第4図は実施装置による操作
のフローチャートである。
第1図において降伏伸びはA点からB点までの伸びであ
る。
る。
この場合、A点は明瞭であるので、問題は降伏伸びの終
点であるB点の検出である。本装置においては、第3図
に示すように試片に加わる荷重を検出する荷重検出器l
、試片に生じる伸びを検出する伸び検出器21例えば5
0m5ec毎のクロック発生装置3.このクロック発生
装置3により得られた荷重信号と伸びに対応する時間信
号とをペアで同期して順次格納してゆくバッファ装置4
゜格納した荷重値を微分してその値をメモリする微分装
置5.得られた荷重の微分値と時間とから降伏伸びの終
点を演算する演算装置6.及びプリンタ7を少なくとも
有している。前記演算装置6は荷重の一次微分値と時間
のペアを時間的に逆にさかのぼる方向にサーチするよう
に構成されている。
点であるB点の検出である。本装置においては、第3図
に示すように試片に加わる荷重を検出する荷重検出器l
、試片に生じる伸びを検出する伸び検出器21例えば5
0m5ec毎のクロック発生装置3.このクロック発生
装置3により得られた荷重信号と伸びに対応する時間信
号とをペアで同期して順次格納してゆくバッファ装置4
゜格納した荷重値を微分してその値をメモリする微分装
置5.得られた荷重の微分値と時間とから降伏伸びの終
点を演算する演算装置6.及びプリンタ7を少なくとも
有している。前記演算装置6は荷重の一次微分値と時間
のペアを時間的に逆にさかのぼる方向にサーチするよう
に構成されている。
前記バッファ装置4と微分装置5によるデータの取得は
引張試験開始により発生するスタート指令から降伏現象
終了後に生じる硬化領域に十分入った点Eを検出して発
せられるストップ街令があるまで行われる。前記点Eは
予め定めてお(。
引張試験開始により発生するスタート指令から降伏現象
終了後に生じる硬化領域に十分入った点Eを検出して発
せられるストップ街令があるまで行われる。前記点Eは
予め定めてお(。
演算装置6による演算は第4図に示すフローチャートに
したがって行われる。まずE点付近の平均の荷重の微分
値を求め、これをalとする(第2図参照)。次にE点
からA点の方に向かって逆に微分値をサーチして微分値
が初めてマイナスになる点Cを求める。次にE点から0
点方向に微分値の変化al−bLをサーチする。そして
al−b〉Xであるとき、その時間工に対応する伸びを
降伏伸びの終点とする。ここで、 al:E点付近での平均微分値 bL: ある時間tにおける微分値 X: 降伏伸びの終点で予想される微分値の落差Fに対
してFより大きな値から予め定められた最低落下Hまで
順次小さく設定されてゆく変数 である。
したがって行われる。まずE点付近の平均の荷重の微分
値を求め、これをalとする(第2図参照)。次にE点
からA点の方に向かって逆に微分値をサーチして微分値
が初めてマイナスになる点Cを求める。次にE点から0
点方向に微分値の変化al−bLをサーチする。そして
al−b〉Xであるとき、その時間工に対応する伸びを
降伏伸びの終点とする。ここで、 al:E点付近での平均微分値 bL: ある時間tにおける微分値 X: 降伏伸びの終点で予想される微分値の落差Fに対
してFより大きな値から予め定められた最低落下Hまで
順次小さく設定されてゆく変数 である。
一方、E点から0点に至るまでにa)−bLの値がH以
上にならない場合には0点に相当する伸びを降伏伸びの
終点とする。
上にならない場合には0点に相当する伸びを降伏伸びの
終点とする。
このように演算によって得られる降伏伸びの終点(第1
図B点)の伸びから降伏点(第1図A点)の伸びを引算
することにより自動的に降伏伸びを検出することができ
る。
図B点)の伸びから降伏点(第1図A点)の伸びを引算
することにより自動的に降伏伸びを検出することができ
る。
(へ)効果
本発明は以上の構成よりなり、従来人間が判断していた
降伏伸び値を自動的に検出することが可能となり、人為
的誤差ないし個人差による誤差がなくなり、正確を期す
ることができる。また検出の能率もアップする。
降伏伸び値を自動的に検出することが可能となり、人為
的誤差ないし個人差による誤差がなくなり、正確を期す
ることができる。また検出の能率もアップする。
第1図は降伏点の見られる材料の荷重−伸び曲線図で、
第2図は第1図の荷重−伸び曲線の微分図である。第3
図は本発明の実施装置の構成図、第4図は実施装置によ
る操作のフローチャートである。 ■−・荷重検出器 2−伸び検出器3−クロッ
ク発生装置 4−バッファ装置5・−微分装置
6−演算装置7−・プリンタ
第2図は第1図の荷重−伸び曲線の微分図である。第3
図は本発明の実施装置の構成図、第4図は実施装置によ
る操作のフローチャートである。 ■−・荷重検出器 2−伸び検出器3−クロッ
ク発生装置 4−バッファ装置5・−微分装置
6−演算装置7−・プリンタ
Claims (1)
- 試片に加わる荷重を検出する荷重検出器と、試片に生じ
る伸びを検出する伸び検出器と、これらの検出器からの
荷重信号と伸びに対応する時間信号とを一対にして引張
試験の開始から同期して順次格納してゆくバッファ装置
と、前記格納された荷重値を微分する微分装置と、荷重
の微分値と時間とから降伏伸びの終点を演算する演算装
置とを有し、該演算装置は荷重の一次微分値−時間曲線
を逆にさかのぼる方向に微分値の変化を演算し、微分値
に一定以上の落差を生じる変曲点があるときはそのとき
の時間に対応する伸びを、また微分値に一定以上の落差
を生じないときは微分値が初めて負になるときの時間に
対応する伸びを降伏伸びの終点として算出することを特
徴とする降伏伸び検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59205865A JPH0648233B2 (ja) | 1984-10-01 | 1984-10-01 | 降伏伸び検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59205865A JPH0648233B2 (ja) | 1984-10-01 | 1984-10-01 | 降伏伸び検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6183936A true JPS6183936A (ja) | 1986-04-28 |
| JPH0648233B2 JPH0648233B2 (ja) | 1994-06-22 |
Family
ID=16513998
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59205865A Expired - Fee Related JPH0648233B2 (ja) | 1984-10-01 | 1984-10-01 | 降伏伸び検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0648233B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0566182A (ja) * | 1991-09-09 | 1993-03-19 | Shimadzu Corp | 供試体の破断点検出方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4939473A (ja) * | 1972-08-15 | 1974-04-12 |
-
1984
- 1984-10-01 JP JP59205865A patent/JPH0648233B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4939473A (ja) * | 1972-08-15 | 1974-04-12 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0566182A (ja) * | 1991-09-09 | 1993-03-19 | Shimadzu Corp | 供試体の破断点検出方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0648233B2 (ja) | 1994-06-22 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |